KR20140088789A - Inspection device for optical film - Google Patents

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KR20140088789A
KR20140088789A KR1020130000732A KR20130000732A KR20140088789A KR 20140088789 A KR20140088789 A KR 20140088789A KR 1020130000732 A KR1020130000732 A KR 1020130000732A KR 20130000732 A KR20130000732 A KR 20130000732A KR 20140088789 A KR20140088789 A KR 20140088789A
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optical film
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light
inspection apparatus
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KR1020130000732A
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홍승균
배성준
박재현
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동우 화인켐 주식회사
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Abstract

The present invention relates to an optical film inspection device and, more specifically, to an optical film inspection device including: a light quantity measurement unit having a light source to emit light to an optical film and a photographing device to photograph the optical film; a control unit to calculate light quantity calibration data by comparing light quantity data received from the light quantity measurement unit with a normal state, and to transmit the light quantity calibration data to a light quantity adjustment unit; and a light quantity adjustment unit to adjust the light quantity of the light source in accordance with the light quantity calibration data received from the control unit. The quantity of light can be measured in real-time and a user is capable of applying an appropriate amount of light to the inspection device when the occasion requires.

Description

광학 필름 검사 장치{INSPECTION DEVICE FOR OPTICAL FILM}INSPECTION DEVICE FOR OPTICAL FILM

본 발명은 광학 필름 검사 장치에 관한 것이며, 보다 상세하게는 광량을 필요에 따라 수시로 조절할 수 있는 광학 필름 검사 장치에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical film inspection apparatus, and more particularly, to an optical film inspection apparatus capable of adjusting the amount of light as needed from time to time.

편광자, TAC, 위상차 필름 등과 같은 다양한 광학 필름이 화상 표시 장치에 사용된다. 화상 표시 장치의 발전에 따라 이에 사용되는 광학 필름들에도 높은 품질이 요구된다.Various optical films such as polarizers, TAC, phase difference films and the like are used in image display devices. With the development of image display devices, optical films used therefor also require high quality.

하지만, 광학 필름의 제조 시에는 여러 가지 원인으로 불량이 발생한다. 예를 들면, 광학 필름을 형성하는 수지 조성물에 이물이 혼합되는 경우, 수지 조성물의 필름 경화 시에 기포가 발생하는 경우, 다층 구조의 필름 형성 시 층간에 이물이 삽입되는 경우, 필름 표면에 스크래치가 생기는 경우, 필름에 휨이 발생하는 경우 등 매우 다양한 원인이 있다.However, when producing an optical film, defects occur for various reasons. For example, in the case where foreign matters are mixed in the resin composition forming the optical film, bubbles are generated in the film curing of the resin composition, and foreign matter is interposed between the layers in forming a multilayered film, scratches There are a variety of causes, such as when the film is warped or when the film is warped.

불량을 야기하는 상기와 같은 다양한 원인들에 따라 다양한 형태의 결함이 발생하게 된다. 예를 들어, 이물이 삽입되거나 기포가 발생하게 되면 광학 필름의 표면이 해당 지점에서 울퉁불퉁해지는 결함을 갖게 되고, 스크래치가 발생한 경우에는 필름 표면에 직선 형태의 선 모양의 결함을 갖게 된다.Various types of defects may occur depending on various causes such as those causing defects. For example, when foreign matter is inserted or bubbles are generated, the surface of the optical film has a defect that becomes uneven at the point, and when a scratch is generated, the film surface has a linear defect in a linear shape.

광학 필름의 제조가 완료된 후에는 이러한 결함들이 발생한 부분을 제거하기 위해 결함을 검출하는 공정을 거치게 된다. 결함을 검출하는 방식 중 하나는 광학 필름의 표면을 촬영 기기로 촬영하여 그 영상을 분석하는 방법이 사용된다. 이러한 방식은 다시 광원과 촬영 기기가 광학 필름을 기준으로 서로 다른 측에 위치하는 투과 광학계 검사 및 광원과 촬영 기기가 같은 측에 위치하는 반사 광학계 검사로 나뉠 수 있다.After the production of the optical film is completed, a process of detecting defects is performed in order to remove the portion where such defects occur. One of the methods for detecting defects is a method in which the surface of the optical film is photographed by an imaging device and the image is analyzed. Such a method can be divided into a transmission optical system inspection in which the light source and the photographing apparatus are located on different sides with respect to the optical film, and a reflection optical system inspection in which the light source and the photographing apparatus are located on the same side.

다른 방식으로는 편광필름의 직교 모드 검사와 같이 광이 투과하지 못하는 상태를 조성하고 빛샘 정도를 분석하는 방법이 있다. In another method, there is a method of forming a state in which light is not transmitted, such as an orthogonal mode inspection of a polarizing film, and analyzing the degree of light leakage.

상기와 같은 결함을 분석하는 방법의 기본적인 원리는 광을 이용하는 것이므로, 사용되는 광량이 매우 중요하다. 광량의 차이에 따라 결함의 검출력에 차이가 발생할 수 있다.
Since the basic principle of the method for analyzing such defects is to use light, the amount of light used is very important. There may be a difference in the detection capability of defects depending on the difference in light quantity.

본 발명은 광량을 실시간으로 조절할 수 있는 광학 필름의 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide an apparatus for inspecting an optical film capable of adjusting light quantity in real time.

또한, 본 발명은 검사 방법의 종류에 상관 없이 광량을 조절할 수 있는 광학 필름의 검사 장치를 제공하는 것을 다른 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide an apparatus for inspecting an optical film that can adjust the amount of light irrespective of the type of inspection method.

또한, 본 발명은 광량을 실시간으로 모니터링할 수 있는 광학 필름의 검사 장치를 제공하는 것을 또 다른 목적으로 한다.
Another object of the present invention is to provide an apparatus for inspecting an optical film capable of monitoring light quantity in real time.

1. 광학 필름에 광을 조사하는 광원 및 상기 광학 필름을 촬영하는 촬영 기기를 구비하고, 1. A light source for irradiating light onto an optical film and a photographing device for photographing the optical film,

광량 측정부; 상기 광량 측정부에서 수신한 광량 데이터를 정상 상태와 비교하여 광량 보정 데이터를 산출하고, 상기 광량 보정 데이터를 광량 조절부에 송신하는 제어부; 상기 제어부로부터 수신한 광량 보정 데이터에 따라 광원의 광량을 조절하는 광량 조절부;를 더 구비하는 광학 필름 검사 장치.A light amount measuring unit; A control unit for comparing light amount data received by the light amount measuring unit with a normal state to calculate light amount correction data and transmitting the light amount correction data to the light amount adjusting unit; And a light amount adjusting unit adjusting the light amount of the light source according to the light amount correction data received from the control unit.

2. 위 1에 있어서, 상기 광학 필름 검사 장치는 광원에서 방출되는 광이 광학 필름을 투과하여 촬영 기기에 수용되는 투과 광학계, 또는 광원에서 방출되는 광이 광학 필름에서 반사되어 촬영 기기에 수용되는 반사 광학계 검사 장치인 광학 필름 검사 장치.2. The optical film inspection apparatus according to 1 above, wherein the optical film inspection apparatus is a transmissive optical system in which light emitted from a light source is transmitted through an optical film to be received in an imaging apparatus or light reflected from a light source, Optical film inspection apparatus which is an optical system inspection apparatus.

3. 위 2에 있어서, 상기 광량 측정부는 상기 촬영 기기에서 촬영 영상을 수신하고 그 영상에서 광량을 측정하는 광학 필름 검사 장치.3. The optical film inspection apparatus of claim 2, wherein the light amount measuring unit receives the photographed image from the photographing apparatus and measures the light amount in the image.

4. 위 3에 있어서, 상기 광량 측정부는 상기 촬영 기기에서 획득된 영상에서 광학 필름의 결함을 검출하는 광학 필름 검사 장치.4. The optical film inspection apparatus according to claim 3, wherein the light amount measuring unit detects defects of the optical film in the image obtained in the photographing apparatus.

5. 위 2에 있어서, 상기 광량 측정부는 상기 제어부로부터 수신된 광량 보정 데이터를 기준으로 촬영 기기의 수광량을 조절하는 광학 필름 검사 장치.5. The optical film inspection apparatus of claim 2, wherein the light amount measuring unit adjusts the light reception amount of the photographing apparatus based on the light amount correction data received from the control unit.

6. 위 1에 있어서, 상기 광학 필름 검사 장치는 상기 광학 필름이 상기 광원으로부터 조사되는 광을 차단하는 정도를 상기 촬영 기기가 상기 광학 필름을 기준으로 상기 광원의 반대측에서 상기 광학 필름을 촬영하는 암흑모드 광학계 검사 장치인 광학 필름 검사 장치.6. The optical film inspection apparatus as set forth in 1 above, wherein the optical film inspecting apparatus judges whether or not the optical film shields the light irradiated from the light source based on the darkness of the optical film taken on the opposite side of the optical film Mode optical film inspection apparatus.

7. 위 6에 있어서, 상기 광량 측정부는 광원에서 출사되는 광의 광량을 측정하는 광학 필름 검사 장치.7. The optical film inspection apparatus according to claim 6, wherein the light amount measuring unit measures an amount of light emitted from the light source.

8. 위 6에 있어서, 상기 촬영 기기에서 영상을 수신하고, 상기 영상에서 광학 필름의 결함을 검출하는 영상 수집부를 더 포함하는 광학 필름 검사 장치.8. The optical film inspection apparatus of claim 6, further comprising an image collecting unit for receiving an image from the photographing apparatus and detecting a defect of the optical film in the image.

9. 위 1에 있어서, 상기 제어부로부터 광량 데이터 및 광량 보정 데이터를 수신하여 모니터링하는 모니터링부를 더 구비하는 광학 필름 검사 장치.
9. The optical film inspection apparatus according to claim 1, further comprising a monitoring unit for receiving and monitoring light amount data and light amount correction data from the control unit.

본 발명의 광학 필름의 검사 장치는 검사를 위해 촬영하는 조건에서 광량을 실시간으로 측정하고 필요에 따라 적절한 광량을 검사 장치에 적용할 수 있으므로 검사에 필요한 최적의 광량을 지속적으로 유지할 수 있다.The inspection apparatus of the optical film of the present invention can measure the quantity of light in real time under conditions of photographing for inspection and can apply an appropriate quantity of light to the inspection apparatus as necessary so that the optimum quantity of light necessary for inspection can be continuously maintained.

또한, 본 발명의 광학 필름의 검사 장치는 투과 광학계, 반사 광학계, 암흑모드 광학계 등 다양한 검사 장치에도 적용이 가능한 검사 장치이다.Further, the inspection apparatus for an optical film of the present invention is an inspection apparatus that can be applied to various inspection apparatuses such as a transmission optical system, a reflection optical system, and a dark-mode optical system.

또한, 본 발명의 광학 필름의 검사 장치는 광학 필름의 검사와 동시에 광량 조절이 가능하므로 인-라인 상에 적용이 가능하다.In addition, the inspection apparatus for an optical film of the present invention can be applied to an in-line system since the amount of light can be controlled simultaneously with the inspection of an optical film.

또한, 본 발명의 광학 필름의 검사 장치는 원거리에서도 실시간으로 광량을 모니터링할 수 있다.
Further, the inspection apparatus of the optical film of the present invention can monitor the amount of light in real time even at a long distance.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 투과 광학계 검사 장치의 개략적인 구조의 모식도이다.
도 2는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 광학 필름의 반사 광학계 검사 장치의 개략적인 구조의 모식도이다.
도 3은 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 광학 필름의 암흑모드 광학계 검사 장치의 개략적인 구조의 모식도이다.1 is a schematic diagram of a schematic structure of an apparatus for inspecting a transmission optical system of an optical film according to an embodiment of the present invention.
2 is a schematic diagram of a schematic structure of an apparatus for inspecting a reflection optical system of an optical film according to another embodiment of the present invention.
3 is a schematic diagram of a schematic structure of an apparatus for testing a dark mode optical system of an optical film according to another embodiment of the present invention.

본 발명은 광학 필름에 광을 조사하는 광원 및 상기 광학 필름을 촬영하는 촬영 기기를 구비하고, 광량 측정부; 상기 광량 측정부에서 수신한 광량 데이터를 정상 상태와 비교하여 광량 보정 데이터를 산출하고, 상기 광량 보정 데이터를 광량 조절부에 송신하는 제어부; 상기 제어부로부터 수신한 광량 보정 데이터에 따라 광원의 광량을 조절하는 광량 조절부;를 더 구비함으로써, 광량을 실시간으로 측정하고 필요에 따라 적절한 광량을 검사 장치에 적용할 수 있는 광학 필름 검사 장치에 관한 것이다.
The present invention provides a light source comprising: a light source for emitting light to an optical film; and a photographing device for photographing the optical film, wherein the light amount measuring unit comprises: A control unit for comparing light amount data received by the light amount measuring unit with a normal state to calculate light amount correction data and transmitting the light amount correction data to the light amount adjusting unit; And a light amount adjusting unit for adjusting the light amount of the light source in accordance with the light amount correction data received from the control unit, so that the optical film inspecting apparatus can measure the light amount in real time and apply an appropriate amount of light to the testing apparatus, will be.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세하게 설명하도록 한다. 다만, 본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 전술한 발명의 내용과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니된다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description of the present invention are exemplary and explanatory and are intended to provide further explanation of the invention as claimed. And shall not be construed as limited to such matters.

도 1에는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 투과 광학계 검사 장치의 개략적인 구조가 도시되어 있으며, 도 2에는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 광학 필름의 반사 광학계 검사 장치의 개략적인 구조가 도시되어 있다. FIG. 1 is a schematic view of an apparatus for inspecting a transmission optical system of an optical film according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic view of an apparatus for inspecting a reflection optical system of an optical film according to another embodiment of the present invention. Are shown.

이하에서는 도 1 및 도 2에 도시된 본 발명의 실시예에 대해 설명하도록 한다.Hereinafter, an embodiment of the present invention shown in Figs. 1 and 2 will be described.

본 발명에 있어서, 투과 광학계 검사 장치란 검사 대상을 투과하는 광으로 검사를 수행하는 장치를 의미한다. 구체적으로는, 광학 필름의 일측에 광원이 위치하여 광학 필름에 광을 조사하고, 촬영 기기는 광학 필름을 기준으로 광원의 반대측에서 광학 필름을 촬영(광학 필름을 투과하는 광을 수용)하여 검사 영상을 얻는 장치이다.In the present invention, a transmission optical system inspection apparatus means an apparatus that performs inspection with light transmitted through an object to be inspected. Specifically, the light source is located on one side of the optical film, and the optical film is irradiated with light. The photographing apparatus photographs the optical film on the opposite side of the light source (receives the light transmitted through the optical film) .

본 발명에 있어서, 반사 광학계 검사 장치란 검사 대상을 반사하는 광으로 검사를 수행하는 장치를 의미한다. 구체적으로는, 광학 필름의 일측에 광원이 위치하여 광학 필름에 광을 조사하고, 촬영 기기는 광학 필름을 기준으로 상기 광원과 동일한 측에서 광학 필름을 촬영(광학 필름에서 반사하는 광을 수용)하여 검사 영상을 얻는 장치이다.In the present invention, a reflection optical system inspection apparatus means an apparatus that performs inspection with light that reflects an object to be inspected. Specifically, the light source is located on one side of the optical film, and the optical film is irradiated with light. The photographing apparatus photographs the optical film on the same side as the light source (receives light reflected from the optical film) on the basis of the optical film It is a device to obtain a test image.

광학 필름(100)은 광학계로 검사가 수행될 수 있는 필름이라면 그 종류가 특별히 제한되지 않는다. 광학 필름의 보다 구체적인 예를 들면, 편광자, 투명 보호 필름, 상기 편광자의 적어도 일면에 보호 필름이 부착된 편광판, 위상차 필름 등을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.The type of the optical film 100 is not particularly limited as long as the film can be inspected by the optical system. More specific examples of the optical film include a polarizer, a transparent protective film, a polarizing plate having a protective film on at least one side of the polarizer, a retardation film, and the like, but are not limited thereto.

광원(200)은 당분야에서 광학 필름의 검사에 사용되는 광원이 특별한 제한 없이 사용될 수 있다. 할로겐등, LED 등이 사용될 수 있다. 광원(100)의 형태는 점광원, 바 형태의 선광원, 면광원일 수 있다.The light source 200 can be used in the art without any particular limitation in the light source used for the inspection of the optical film. Halogen, LED, or the like can be used. The shape of the light source 100 may be a point light source, a bar light source, or a planar light source.

촬영 기기(300)는 당분야에서 광학 필름의 검사에 사용되는 광학 기기가 특별한 제한 없이 사용될 수 있다. 촬영 기기(300)는 단수 또는 복수로 사용될 수 있다.The photographing apparatus 300 can be used without any particular limitation in an optical apparatus used in inspection of an optical film in the art. The photographing apparatus 300 can be used singly or in plural.

광량 측정부(400)는 촬영 기기(300)로부터 광학 필름(100)을 촬영한 영상을 수신하고, 상기 영상에서 밝기 등을 평가하여 촬영 기기(300)가 수용하는 광량(수광량)을 측정한다. The light amount measuring unit 400 receives an image of the optical film 100 taken by the image capturing apparatus 300 and evaluates the brightness or the like in the image to measure the amount of light received by the image capturing apparatus 300 (light receiving amount).

또한, 광량 측정부(400)는 상기 촬영 기기(300)에서 획득된 영상에서 광학 필름(100)의 결함을 검출한다. 광학 필름(100)의 결함은 다양한 형태를 가지며, 각 형태에 따라 촬영된 영상에서 컴퓨터 프로그램 등을 통해 결함 부위를 인식하여 검출될 수 있다.In addition, the light amount measuring unit 400 detects a defect of the optical film 100 in the image acquired by the photographing apparatus 300. [ Defects of the optical film 100 have various forms, and defective portions can be recognized and detected in a photographed image according to each type through a computer program or the like.

필요에 따라, 광량 측정부(400)는 제어부(500)로부터 광량 보정 데이터를 수신하고, 이를 기준으로 촬영 기기(300)의 수광량을 조절할 수 있다. 촬영 기기(300)에서의 수광량 조절은 촬영 기기(300)에 따라 미세한 범위의 조절이 가능하다. 따라서 광학 필름의 결함 검출에 필요한 가장 최적화된 광량을 유지할 수 있다.If necessary, the light amount measuring unit 400 may receive the light amount correction data from the control unit 500 and adjust the amount of light received by the photographing apparatus 300 based on the received light amount correction data. Adjustment of the received light amount in the photographing apparatus 300 can be controlled in a fine range according to the photographing apparatus 300. Therefore, it is possible to maintain the most optimized amount of light necessary for defect detection of the optical film.

제어부(500)는 광량 측정부(400)에서 수신한 광량 데이터를 정상 상태와 비교하여 광량 보정 데이터를 산출한다. 광량 데이터가 정상 상태의 범위에 포함될 경우에는 광량 보정 데이터는 "0"이거나 null 값일 수 있고, 그에 따라 광원의 광량은 조절되지 않게 된다. 정상 상태는 검사 조건에서 결함 인식률이 가장 높게 되는 광량의 범위이다. 정상 상태는 요구되는 광학 필름의 품질에 따라 적절하게 조절될 수 있다.The control unit 500 compares the light amount data received by the light amount measuring unit 400 with the normal state to calculate light amount correction data. When the light amount data is included in the range of the normal state, the light amount correction data may be "0" or a null value, so that the light amount of the light source is not adjusted. The steady state is the range of light intensity at which the defect recognition rate becomes the highest in the inspection condition. The steady state can be appropriately adjusted according to the quality of the required optical film.

제어부(500)는 광량 보정 데이터가 산출되면 이를 광량 조절부(600)에 송신한다.When the light amount correction data is calculated, the controller 500 transmits the light amount correction data to the light amount controller 600.

광량 조절부(600)는 광원(200)과 연결되어 수신한 광량 보정 데이터에 따라 광원(200)의 광량을 조절한다. 이러한 광량 조절에 의해 광원(200)은 최적의 광량을 유지할 수 있다.The light amount adjusting unit 600 is connected to the light source 200 and adjusts the light amount of the light source 200 according to the received light amount correction data. The light source 200 can maintain an optimal amount of light by adjusting the light amount.

본 발명의 광학 필름 검사 장치는, 필요에 따라 제어부(500)로부터 광량 데이터 및 광량 보정 데이터를 수신하여 모니터링하는 모니터링부를 더 구비할 수 있다. 모니터링부는 광량 데이터 및 광량 보정 데이터의 추이를 기록함으로써 검사 장치의 광량 및 수광량 변화를 알 수 있게 한다. 모니터링부는 검사 장치와 인접하여 구비될 수도 있으며, 네트워크를 이용하여 원거리 상에 구비될 수도 있다. The optical film inspection apparatus of the present invention may further include a monitoring unit for receiving and monitoring light amount data and light amount correction data from the control unit 500 as needed. The monitoring unit records changes in the light amount data and the light amount correction data so that the light amount and the light amount change of the inspection apparatus can be known. The monitoring unit may be provided adjacent to the inspection apparatus or may be provided over a long distance using a network.

본 발명의 또 다른 실시예로서, 도 3에는 암흑모드 광학계 검사 장치의 개략적인 구조가 도시되어 있다. 이하에서는 도 3에 도시된 본 발명의 실시예에 대해 설명하도록 한다.As another embodiment of the present invention, FIG. 3 shows a schematic structure of a dark-mode optical system inspection apparatus. Hereinafter, the embodiment of the present invention shown in FIG. 3 will be described.

본 발명에 있어서, 암흑모드 광학계 검사 장치란 검사 대상이 광원에서 조사되는 광을 차단하는 정도를 검사하는 장치를 의미한다. 편광 필름의 경우를 예로 들면, 암실에서 검사하고자 하는 편광 필름의 흡수축과 수직인 흡수축을 갖는 제2의 편광 필름을 순차적으로 배치한 후, 상기 편광 필름의 일측에 광원이 위치하여 편광 필름에 광을 조사하고, 촬영 기기는 편광 필름을 기준으로 상기 광원과 반대편 측에서 광학 필름을 촬영하여 검사 영상을 얻는 장치이다. In the present invention, the dark-mode optical system inspection apparatus means an apparatus for inspecting the degree to which an object to be inspected blocks light emitted from a light source. For example, in the case of a polarizing film, a second polarizing film having an absorption axis perpendicular to an absorption axis of a polarizing film to be inspected in a dark room is sequentially arranged, and then a light source is positioned on one side of the polarizing film, And the photographing device photographs the optical film on the side opposite to the light source on the basis of the polarizing film to obtain a test image.

본 실시예에 있어서, 편광 필름의 경우와 같이 광 차단 효과를 나타내기 위해 흡수축이 직교하는 제2의 편광 필름이 필요한 것처럼, 광학 필름(100) 외에 암흑모드용 필름(110)을 더 구비할 수 있다.In this embodiment, in addition to the optical film 100, a film for dark mode 110 is further provided as in the case of the polarizing film, as in the case of a second polarizing film in which the absorption axis is orthogonal to exhibit a light blocking effect .

본 실시예에 있어서, 광학 필름(100), 광원(200), 촬영 기기(300) 및 광량 조절부(600)는 전술한 실시예에서 사용되는 것들이 특별한 제한 없이 본 실시예에서도 사용될 수 있으므로 구체적인 설명은 생략한다.In this embodiment, the optical film 100, the light source 200, the photographing device 300, and the light amount control unit 600 can be used in the present embodiment without being limited to particular ones used in the above-described embodiments. Is omitted.

본 실시예에 있어서, 촬영 기기(300)의 수광량은 투과 광학계 및 반사 광학계에 비하여 매우 적으므로, 광량 측정부(400)는 광원에서 출사되는 광의 광량을 직접 측정한다. 따라서, 본 실시예에서 광량 측정부(400)는 광원의 광량을 측정할 수 있는 조도계 등을 사용할 수 있다.In the present embodiment, since the amount of light received by the photographing apparatus 300 is much smaller than that of the transmission optical system and the reflection optical system, the light amount measuring unit 400 directly measures the light amount of light emitted from the light source. Therefore, in this embodiment, the light amount measuring unit 400 may use an illuminometer or the like capable of measuring the light amount of the light source.

촬영 기기(300)에서 촬영한 영상은 영상 수집부(410)로 전송된다. 영상 수집부(410)는 수신한 영상에서 광학 필름의 결함을 검출한다. 결함 검출 방식은 앞선 실시예와 마찬가지로 컴퓨터 프로그램 등을 통해 결함 부위를 인식하여 검출될 수 있다.The image photographed by the photographing device 300 is transmitted to the image collecting unit 410. The image capturing unit 410 detects a defect of the optical film in the received image. The defect detection method can be detected by recognizing a defective part through a computer program or the like as in the previous embodiment.

본 발명에 있어서, 제어부(500)는 광량 측정부(400)에서 측정한 광원의 광량 데이터와 영상 수집부(410)에서 산출되는 결함 분석 데이터를 수신한다. 광량 측정부(400)에서 수신한 광량 데이터는 앞선 실시예와 마찬가지로 정상 상태와 비교하여 광량 보정 데이터를 산출하고, 산출된 광량 보정 데이터를 광량 조절부(600)에 송신한다.In the present invention, the control unit 500 receives the light amount data of the light source measured by the light amount measuring unit 400 and the defect analysis data calculated by the image collecting unit 410. The light amount data received by the light amount measuring unit 400 is compared with the normal state in the same manner as in the previous embodiment to calculate light amount correction data and transmits the calculated light amount correction data to the light amount control unit 600. [

이상과 같은 구성을 포함하는 본 발명의 광학 필름 검사 장치는 광량을 효과적으로 조절할 수 있으므로 구체적인 검사 환경 및 광학계 조건에 따라 최적의 광량 조건을 제공할 수 있다.
The optical film inspection apparatus according to the present invention including the above configuration can effectively control the amount of light, and thus can provide an optimal light amount condition according to a specific inspection environment and an optical system condition.

100: 광학 필름 110: 암흑모드용 필름
200: 광원 300: 촬영 기기
400: 광량 측정부 410: 영상 수집부
500: 제어부 600: 광량 조절부100: Optical film 110: Film for dark mode
200: Light source 300:
400: light amount measuring unit 410: image collecting unit
500: control unit 600: light amount control unit

Claims (9)

광학 필름에 광을 조사하는 광원 및 상기 광학 필름을 촬영하는 촬영 기기를 구비하고,
광량 측정부;
상기 광량 측정부에서 수신한 광량 데이터를 정상 상태와 비교하여 광량 보정 데이터를 산출하고, 상기 광량 보정 데이터를 광량 조절부에 송신하는 제어부;
상기 제어부로부터 수신한 광량 보정 데이터에 따라 광원의 광량을 조절하는 광량 조절부;
를 더 구비하는 광학 필름 검사 장치.
A light source for irradiating light onto the optical film, and a photographing device for photographing the optical film,
A light amount measuring unit;
A control unit for comparing light amount data received by the light amount measuring unit with a normal state to calculate light amount correction data and transmitting the light amount correction data to the light amount adjusting unit;
A light amount adjusting unit for adjusting the light amount of the light source according to the light amount correction data received from the control unit;
And an optical film inspecting device.
청구항 1에 있어서, 상기 광학 필름 검사 장치는 광원에서 방출되는 광이 광학 필름을 투과하여 촬영 기기에 수용되는 투과 광학계, 또는 광원에서 방출되는 광이 광학 필름에서 반사되어 촬영 기기에 수용되는 반사 광학계 검사 장치인 광학 필름 검사 장치.
The optical film inspection apparatus according to claim 1, wherein the optical film inspection apparatus comprises: a transmission optical system in which light emitted from a light source is transmitted through an optical film to be received in an imaging apparatus, or a reflection optical system Wherein the device is an optical film inspection apparatus.
청구항 2에 있어서, 상기 광량 측정부는 상기 촬영 기기에서 촬영 영상을 수신하고 그 영상에서 광량을 측정하는 광학 필름 검사 장치.
The optical film inspection apparatus according to claim 2, wherein the light amount measuring unit receives the photographed image from the photographing apparatus and measures the light amount on the image.
청구항 3에 있어서, 상기 광량 측정부는 상기 촬영 기기에서 획득된 영상에서 광학 필름의 결함을 검출하는 광학 필름 검사 장치.
4. The optical film inspection apparatus according to claim 3, wherein the light amount measuring unit detects a defect of the optical film in the image acquired by the photographing apparatus.
청구항 2에 있어서, 상기 광량 측정부는 상기 제어부로부터 수신된 광량 보정 데이터를 기준으로 촬영 기기의 수광량을 조절하는 광학 필름 검사 장치.
The optical film inspection apparatus according to claim 2, wherein the light amount measuring unit adjusts the light reception amount of the photographing apparatus based on the light amount correction data received from the control unit.
청구항 1에 있어서, 상기 광학 필름 검사 장치는 상기 광학 필름이 상기 광원으로부터 조사되는 광을 차단하는 정도를 상기 촬영 기기가 상기 광학 필름을 기준으로 상기 광원의 반대측에서 상기 광학 필름을 촬영하는 암흑모드 광학계 검사 장치인 광학 필름 검사 장치.
The optical film inspection apparatus according to claim 1, wherein the optical film inspecting apparatus further comprises a dark mode optical system for taking an image of the optical film on the opposite side of the light source with respect to the optical film, An optical film inspection apparatus which is an inspection apparatus.
청구항 6에 있어서, 상기 광량 측정부는 광원에서 출사되는 광의 광량을 측정하는 광학 필름 검사 장치.
The optical film inspection apparatus according to claim 6, wherein the light amount measuring unit measures the light amount of light emitted from the light source.
청구항 6에 있어서, 상기 촬영 기기에서 영상을 수신하고, 상기 영상에서 광학 필름의 결함을 검출하는 영상 수집부를 더 포함하는 광학 필름 검사 장치.
The optical film inspection apparatus according to claim 6, further comprising an image collecting section for receiving an image from the photographing apparatus and detecting a defect of the optical film in the image.
청구항 1에 있어서, 상기 제어부로부터 광량 데이터 및 광량 보정 데이터를 수신하여 모니터링하는 모니터링부를 더 구비하는 광학 필름 검사 장치.The optical film inspection apparatus according to claim 1, further comprising a monitoring section for receiving and monitoring light amount data and light amount correction data from the control section.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017213356A1 (en) * 2016-06-08 2017-12-14 삼성에스디아이 주식회사 Apparatus and method for processing film
KR20180136421A (en) * 2018-12-14 2018-12-24 동우 화인켐 주식회사 System and method for defect detection
KR20190011419A (en) * 2017-07-25 2019-02-07 주식회사 레이 Calibration Method of 3D Printer

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0821805A (en) * 1994-07-08 1996-01-23 Datsuku Eng Kk Appearance inspecting method and device thereof
JP2000008787A (en) * 1998-06-24 2000-01-11 Sekisui Jushi Co Ltd Tile work method and work instrument
KR20040055593A (en) * 2002-12-17 2004-06-26 스미또모 가가꾸 고오교오 가부시끼가이샤 The method for inspecting defects of polarized plate adhered with protected film
JP2010044004A (en) * 2008-08-18 2010-02-25 Nec Corp Apparatus, method and program for detecting transmitted light, and method of manufacturing sheet material
JP2012002792A (en) * 2010-06-18 2012-01-05 Micro Brain:Kk Transparent film inspection device and defect detection method

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0821805A (en) * 1994-07-08 1996-01-23 Datsuku Eng Kk Appearance inspecting method and device thereof
JP2000008787A (en) * 1998-06-24 2000-01-11 Sekisui Jushi Co Ltd Tile work method and work instrument
KR20040055593A (en) * 2002-12-17 2004-06-26 스미또모 가가꾸 고오교오 가부시끼가이샤 The method for inspecting defects of polarized plate adhered with protected film
JP2010044004A (en) * 2008-08-18 2010-02-25 Nec Corp Apparatus, method and program for detecting transmitted light, and method of manufacturing sheet material
JP2012002792A (en) * 2010-06-18 2012-01-05 Micro Brain:Kk Transparent film inspection device and defect detection method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017213356A1 (en) * 2016-06-08 2017-12-14 삼성에스디아이 주식회사 Apparatus and method for processing film
KR20190011419A (en) * 2017-07-25 2019-02-07 주식회사 레이 Calibration Method of 3D Printer
KR20180136421A (en) * 2018-12-14 2018-12-24 동우 화인켐 주식회사 System and method for defect detection

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