JP2022153463A - Imaging system for surface inspection - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an imaging system and a method for evaluating heterogeneity or non-uniformity in a reflective display such as assembled display modules of a type found in smartphones, tablets and the like.
SOLUTION: A system includes incoherent light such as a light-emitting diode (LED) which is polarized and collimated. A surface to be evaluated is perpendicular to the collimated light, thereby the light hits directly on the surface. Polarization of the light is altered before and after reflection, and the reflected light from the surface to be evaluated is received by a sensor. Heterogeneity or non-uniformity of the surface will appear in a sensed image as contrast variation. Because reflection from the surface to be evaluated is 180 degrees reflection, the sensed image can be in sharp focus across the entire surface to be evaluated. Optionally, the system may utilize a single collimation lens without a collection lens for efficiency and compactness.
SELECTED DRAWING: Figure 1
COPYRIGHT: (C)2023,JPO&INPIT

Description

本出願は、米国特許法第199条の下で、2019年8月7日に出願された「IMAGING SYSTEM FOR SURFACE INSPECTION」と題する米国仮特許出願第62/883,924号の利益を主張する。その開示の全ては本明細書で参照として明白に組み込まれている。 This application claims the benefit, under 35 U.S.C. The entire disclosure of which is expressly incorporated herein by reference.

本出願は、平坦な反射光学素子及びディスプレイにおける、表面不均等性の試験及び検出に関する。より詳細には、ディスプレイ及び組み立てられたディスプレイモジュールの平面性または均等性の評価に関する。 This application relates to the testing and detection of surface unevenness in flat reflective optical elements and displays. More particularly, it relates to evaluating the planarity or uniformity of displays and assembled display modules.

平坦パネルディスプレイの起伏、または平面性の欠如は、積層処理制御への見通しを提供するため、及び最終製品の品質の指標を提供するための、重要なパラメータである。ディスプレイモジュールが、一様に高い平面性(すなわち平坦性)を有することが、益々重要になってきている。平面性の不均等性(例えば起伏)が、特に特定の角度で見たとき、ディスプレイモジュールのエンドユーザによって確認される場合がある。起伏または他の不均等性は、その結果としてユーザ体験を損ねることになる。 The relief, or lack of planarity, of a flat panel display is an important parameter for providing insight into lamination process control and for providing an indication of final product quality. It is becoming increasingly important that display modules have a uniformly high planarity (ie flatness). Non-uniformities in planarity (eg, undulations) may be noticed by the end user of the display module, especially when viewed at certain angles. Any undulations or other unevenness will result in a poor user experience.

前述に対する改善が必要である。 Improvements to the above are needed.

本開示は、スマートフォン、タブレットなどに見られるタイプの、組み立てられたディスプレイモジュールなどの反射型ディスプレイの、不均一性または不均等性を評価するための撮像システム、及び方法を目的とする。このシステムは、偏光された発光ダイオード(LED)など、インコヒーレント光を含む。評価されることになる表面は、入射光に対して垂直であり、そのため光は表面上に直接突き当たる。光の偏光は、反射の前後で変えられ、評価下にある表面からの反射光はセンサによって受けられ、画像を形成する。表面の不均一性または不均等性は、感知画像にコントラスト変化として現出する。評価下にある表面からの反射は180°反射であるので、感知画像は、評価されることになる表面全体にわたって鮮明に合焦され得る。任意選択としてシステムは、効率及びコンパクトさのために、収集レンズなしで単一のコリメーションレンズを利用し得る。 The present disclosure is directed to imaging systems and methods for evaluating non-uniformity or non-uniformity in reflective displays such as assembled display modules of the type found in smart phones, tablets, and the like. This system includes incoherent light, such as a polarized light emitting diode (LED). The surface to be evaluated is perpendicular to the incident light, so the light impinges directly on the surface. The polarization of the light is changed before and after reflection and the reflected light from the surface under evaluation is received by a sensor to form an image. Surface non-uniformities or unevenness appear as contrast variations in the sensed image. Since the reflection from the surface under evaluation is a 180° reflection, the sensed image can be sharply focused over the surface to be evaluated. Optionally, the system may utilize a single collimation lens without a collection lens for efficiency and compactness.

第1のシステム及び方法において、インコヒーレント光は偏光ビームスプリッタを通過し、評価されることになる表面上で直接的に(すなわち垂直に)輝く。評価されることになる表面は、組み立てられたディスプレイモジュールであってよい。ディスプレイモジュールから反射された光は、偏光を90°切り替え、次に偏光ビームスプリッタによって90°反射される。次に光は、その経路におけるナイフエッジまたはアパーチャを通って、カメラまたは撮像センサに至る。カメラまたは撮像センサは、反射光を介してディスプレイモジュールに像を映す。任意の不均一な表面の不均等性は、ディスプレイモジュールの画像においてコントラスト変化を作り出し、それは評価される表面において任意の不均等性の可視化を容易にする。 In the first system and method, incoherent light passes through a polarizing beam splitter and shines directly (ie vertically) on the surface to be evaluated. The surface to be evaluated can be an assembled display module. The light reflected from the display module has its polarization switched 90° and then reflected 90° by the polarizing beam splitter. The light then passes through a knife edge or aperture in its path to a camera or imaging sensor. A camera or imaging sensor projects an image onto the display module via reflected light. Any uneven surface unevenness creates a contrast change in the image of the display module, which facilitates visualization of any unevenness on the evaluated surface.

第2のシステム及び方法において、インコヒーレント光は第1の直線偏光器を通過し、次に非偏光ビームスプリッタを通過し、そして評価されることになる表面上で直接的に(すなわち垂直に)輝く。評価されることになる表面は、組み立てられたディスプレイモジュールであってよい。ディスプレイモジュールから反射された光は、偏光を90°切り替え、次に非偏光ビームスプリッタによって反射される。次に光は、その経路における第2の偏光器及びナイフエッジまたはアパーチャを通って、カメラまたは撮像センサに至る。カメラまたは撮像センサは、反射光を介してディスプレイモジュールに像を映す。任意の不均一な表面の不均等性は、ディスプレイモジュールの画像においてコントラスト変化を作り出し、それは評価される表面において任意の不均等性の可視化を容易にする。 In a second system and method, the incoherent light passes through a first linear polarizer, then through a non-polarizing beam splitter, and directly (i.e., perpendicularly) onto the surface to be evaluated. Shine. The surface to be evaluated can be an assembled display module. Light reflected from the display module switches polarization by 90° and is then reflected by a non-polarizing beam splitter. The light then passes through a second polarizer and a knife edge or aperture in its path to a camera or imaging sensor. A camera or imaging sensor projects an image onto the display module via reflected light. Any uneven surface unevenness creates a contrast change in the image of the display module, which facilitates visualization of any unevenness on the evaluated surface.

第3の方法において、第2の方法と類似の配置が、コリメーションレンズの後に円筒形レンズの追加を伴って使用され、それによって1D集光波面を生成する。波面の半径が、評価されることになる湾曲した表面の半径と同一である場合、この形状は、第1及び第2の方法ならびに装置で使用される同じシュリーレンタイプ(Schlieren-type)の画像を生成することができる。なぜなら、評価される表面の反射光は、反射前及び反射後の両方が円筒形レンズを通った後に、上述の平面ディスプレイからの反射と同じ光経路を追尾することになるからである。 In a third method, an arrangement similar to the second method is used with the addition of a cylindrical lens after the collimation lens, thereby producing a 1D focused wavefront. If the radius of the wavefront is the same as the radius of the curved surface to be evaluated, this shape produces the same Schlieren-type image used in the first and second methods and apparatus. can be generated. This is because the reflected light from the surface being evaluated will follow the same light path as the reflection from the flat panel display described above after both pre-reflection and post-reflection through the cylindrical lens.

1つに実施形態において、本開示は、インコヒーレント光信号を発するインコヒーレント光源と、インコヒーレント光信号及び第1の光信号のうちの一方を受けるよう位置付けられ、コリメート光信号を発するコリメーションレンズと、インコヒーレント光源及びセンサの間に機能的に配設された偏光器と、を含む撮像システムを提供する。上記のセンサは、光源から発せられたインコヒーレント光信号に対して実質的に垂直に位置付けられたセンサレンズ面を画定する、センサレンズを有する。上記のセンサは、コリメート光信号の反射を受けるよう位置付けられる。 In one embodiment, the present disclosure provides an incoherent light source that emits an incoherent optical signal, and a collimation lens positioned to receive one of the incoherent optical signal and the first optical signal and emits a collimated optical signal. , a polarizer operatively disposed between an incoherent light source and a sensor. The sensor has a sensor lens defining a sensor lens plane positioned substantially perpendicular to the incoherent light signal emitted from the light source. The sensor is positioned to receive reflections of the collimated optical signal.

別の実施形態において、本開示は、評価される面における不完全性を評価する方法を提供する。この方法は、インコヒーレント光信号を発するステップと、インコヒーレント光信号を、ビームスプリッタに通過させて第1の光信号及び第2の光信号を作り出すステップであって、第1の光信号は第2の光信号に対して角度が付いている、ステップと、インコヒーレント光信号の少なくとも一部をコリメーションレンズに通過させて、コリメート光信号を作り出すステップと、評価される表面上のコリメート光信号を反射させ、反射光信号を作り出すステップであって、この評価される表面は、コリメート光信号に対して実質的に垂直である評価面の平面を画定する、ステップと、センサにおいて反射光信号を感知して、感知画像を作り出すステップと、を含む。 In another embodiment, the present disclosure provides a method of evaluating imperfections in an evaluated aspect. The method includes the steps of emitting an incoherent optical signal and passing the incoherent optical signal through a beam splitter to produce a first optical signal and a second optical signal, the first optical signal being the second optical signal. passing at least a portion of the incoherent optical signal through a collimation lens to produce a collimated optical signal; reflecting to produce a reflected light signal, the surface to be evaluated defining a plane of the evaluation surface that is substantially perpendicular to the collimated light signal; and sensing the reflected light signal at a sensor. to produce a sensed image.

添付の図面と共に、本発明の実施形態における以下の説明を参照することによって、本発明の上述及び他の特徴及び目的、ならびにそれらを実現する方法は、より明確となり、本発明自体も、より良好に理解されることになる。 The above and other features and objects of the invention, as well as methods of achieving them, will become clearer and the invention itself will become better understood by reference to the following description of the embodiments of the invention in conjunction with the accompanying drawings. be understood by

2つのレンズ及び偏光ビームスプリッタを利用して、本発明によって作られた第1の表面不均等性検出システムの概略図である。1 is a schematic diagram of a first surface unevenness detection system made according to the present invention utilizing two lenses and a polarizing beam splitter; FIG. 単一のコリメーションレンズ、少なくとも1つの直線偏光器、及び非偏光ビームスプリッタを利用して、本発明によって作られた第2の表面不均等性検出システムの概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram of a second surface unevenness detection system made according to the present invention utilizing a single collimation lens, at least one linear polarizer, and a non-polarizing beam splitter; センサ及び光源が取り替えられた代替の配置を伴う、図2に示されたシステムの概略図である。3 is a schematic diagram of the system shown in FIG. 2 with an alternative arrangement in which the sensor and light source have been replaced; FIG. 円筒形レンズが湾曲したディスプレイモジュールの評価に利用された、代替の配置を伴う、図3に示されたシステムの概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram of the system shown in FIG. 3 with an alternative arrangement utilized for evaluation of a cylindrical lens curved display module; 本開示による、評価される表面の完全性を評価する方法を示すフローチャートである。4 is a flow chart illustrating a method of assessing the integrity of an assessed surface according to the present disclosure; 本開示による、ディスプレイモジュールの分解斜視図である。1 is an exploded perspective view of a display module according to the present disclosure; FIG. 図6Aに示されたディスプレイモジュールの概略図である。6B is a schematic diagram of the display module shown in FIG. 6A; FIG.

図面を通して、対応する参照記号は対応する部分を示す。本明細書で記述する例は、本発明の実施形態を示し、以下で開示される実施形態は、本発明の範囲を開示する正確な形態に限定するよう徹底すること、または解釈することは意図されない。 Corresponding reference characters indicate corresponding parts throughout the drawings. The examples described herein illustrate embodiments of the invention, and the embodiments disclosed below are not intended to be exhaustive or construed to limit the scope of the invention to the precise forms disclosed. not.

本開示は、シュリーレンタイプの撮像を使用して、ディスプレイモジュールの起伏または他の表面の不均等性を検査、及び評価するための方法に向けられる。試験対象は、直線偏光かつコリメートされた、インコヒーレント光に直接(すなわち垂直に)露出される。この条件付き光信号は、次に、試験対象の反射面または試験対象に一体化された反射面から反射される。この反射光の偏光は、ディスプレイモジュール上に積層された偏光器に一体化された、クリアな1/4波長板をダブルパスで通過することによって90°回転される。撮像カメラは、この光信号をさらなる偏光フィルタにかけた後で、この反射光信号を撮像する。試験対象の評価される表面の平面が、光信号に直接提示され、かつ撮像カメラのレンズに平行であるので、評価画像は歪んでおらず、そのため評価画像は、評価する領域の全体にわたって鮮明に合焦され得る。同様にこれは、起伏または他の不均一性の、非常に効率的かつ有効な検出及び定量化をもたらす。 The present disclosure is directed to methods for inspecting and evaluating undulations or other surface unevenness of display modules using schlieren-type imaging. The test subject is directly (ie, perpendicularly) exposed to linearly polarized, collimated, incoherent light. This conditioned light signal is then reflected from the reflective surface of the test object or a reflective surface integrated into the test object. The polarization of this reflected light is rotated 90° by a double pass through a clear quarter-wave plate integrated into the polarizer laminated onto the display module. An imaging camera images the reflected light signal after subjecting the light signal to an additional polarizing filter. Since the plane of the surface to be evaluated of the test object is presented directly to the light signal and is parallel to the lens of the imaging camera, the evaluation image is not distorted and is therefore sharp throughout the area to be evaluated. can be focused. This in turn provides very efficient and effective detection and quantification of undulations or other non-uniformities.

図1~図4は、不均等性検出システム10、110、110’、210のブロック図を示す。それらは全て、表面の不均等性、厚さのばらつき、ならびに/または透明の光学材料(例えば、スマートフォンまたはタブレットに使用されるタイプのカバーガラスまたはタッチパネル、ディスプレイカバーガラス、薄膜、光学薄膜材料など)のばらつき及び屈折性を検出するために構成される。システム10、110、110’、及び210の各々は、シュリーレン撮像原理を利用して、平坦性(または図4の場合の公称曲率)のばらつき、厚さのばらつき、及び/または透明光学材料の屈折率のばらつきによって生じる、表面の不均等性を検出する。それによって、評価される表面における、表面の起伏または不均等性の存在及び範囲を、不均等性検出システム10、110、110’、及び210を用いて、検出及び分析することができる。 1-4 show block diagrams of non-uniformity detection systems 10, 110, 110', 210. FIG. They are all subject to surface unevenness, thickness variations, and/or transparent optical materials (e.g., cover glass or touch panels of the type used in smartphones or tablets, display cover glass, thin films, optical thin film materials, etc.). is configured to detect the variation and refraction of the Each of systems 10, 110, 110′, and 210 utilizes schlieren imaging principles to detect variations in flatness (or nominal curvature in the case of FIG. 4), variations in thickness, and/or refraction of transparent optical materials. Detects surface unevenness caused by modulus variation. The presence and extent of surface relief or unevenness in the surface being evaluated can thereby be detected and analyzed using the unevenness detection system 10, 110, 110', and 210.

次に図1を参照すると、不均等性検出システム10は、折り畳まれたシュリーレン撮像システムを利用する。シュリーレン撮像システムにおいて、偏光ビームスプリッタ16は光経路を分割し、偏光の切り替えを実施して、ディスプレイモジュール50などの対象の照射プロファイルを撮像する。 Referring now to FIG. 1, non-uniformity detection system 10 utilizes a folded schlieren imaging system. In a schlieren imaging system, the polarizing beam splitter 16 splits the light path and performs polarization switching to image the illumination profile of an object, such as the display module 50 .

詳細には、例えばLED器具であってもよい非コリメート光源またはインコヒーレント光源12は、インコヒーレント光信号30を発し、それは次にコリメーションレンズ14によってコリメートされる。得られたコリメート光信号32は、偏光ビームスプリッタを通過して、P偏光の光信号34を生成する。 Specifically, a non-collimated or incoherent light source 12 , which may be, for example, an LED fixture, emits an incoherent light signal 30 , which is then collimated by collimation lens 14 . The resulting collimated optical signal 32 is passed through a polarizing beam splitter to produce a P-polarized optical signal 34 .

P偏光の光信号34は、次にディスプレイモジュール50によって180°反射され、1/4波長板及び直線偏光器を含むダブルパスの円偏光器18を作る。直線偏光器から反射された光は、1/4波長板をダブルパスで通過する。示された実施形態において、円偏光器18は、ディスプレイモジュール50に一体化されている。ディスプレイモジュール50から反射して得られた信号はS偏光の光信号36であり、それは偏光ビームスプリッタ16に再び入り、今回は90°だけ再び反射され、S偏光のままの反射光信号38となる。 The P-polarized light signal 34 is then reflected 180° by the display module 50 to create a double-pass circular polarizer 18 that includes a quarter-wave plate and a linear polarizer. Light reflected from the linear polarizer makes a double pass through the quarter-wave plate. In the illustrated embodiment, circular polarizer 18 is integrated into display module 50 . The resulting signal reflected from the display module 50 is the S-polarized light signal 36, which re-enters the polarizing beam splitter 16 and is again reflected, this time by 90°, resulting in the reflected light signal 38, which remains S-polarized. .

次に反射光信号38は、収集レンズ20を通過し、S偏光の信号構成を保つ。得られた収集光40は、次に撮像レンズ22に向けられる。撮像レンズは、収集光信号40の焦点に位置付けられたアパーチャ停止部を有する。代替として、撮像レンズにおけるアパーチャ停止部は、焦点で収集光信号40をフィルタにかけるよう位置付けられたナイフエッジ22と、交換され得る。フィルタにかけられて得られた光信号42は、次にセンサ24によって受けられる。センサ24は、評価されることになる反射面の表面の均等性を示す画像を収集し、提示し得る。示された実施形態において、評価される表面は、本明細書で示されかつ説明されるように、ディスプレイモジュール50からのものである。 The reflected light signal 38 then passes through the collection lens 20, preserving the S-polarized signal configuration. The resulting collected light 40 is then directed to the imaging lens 22 . The imaging lens has an aperture stop positioned at the focal point of the collected light signal 40 . Alternatively, the aperture stop in the imaging lens can be replaced with a knife edge 22 positioned to filter the collected light signal 40 at the focal point. The resulting filtered optical signal 42 is then received by the sensor 24 . Sensor 24 may collect and present an image indicative of the surface uniformity of the reflective surface to be evaluated. In the illustrated embodiment, the surface being evaluated is from the display module 50 as shown and described herein.

評価される表面において起伏または他の不均等性が存在する場合、検出システム10は収集光信号40の入射光を、アパーチャ停止部またはナイフエッジの不透明部分によって遮断させる。その一方ではっきりと反射した光は、アパーチャ停止部またはナイフエッジを通過する。このように、システム10は、センサ24によって(例えばモニタまたは他のディスプレイモジュールに)集められて出力される際に、評価される表面の反射像におけるコントラスト変化を作り出す。このコントラスト変化は、評価される表面の起伏または不均等性の存在及び範囲の表示であり、より大きいコントラストの変化は、起伏または他の不均等性の、より大きい範囲及び/または規模に相当し、その逆も同じである。 If undulations or other non-uniformities exist in the surface being evaluated, detection system 10 causes the incident light of collected optical signal 40 to be blocked by an aperture stop or knife-edge opaque portion. Clearly reflected light, on the other hand, passes through the aperture stop or knife edge. Thus, system 10 produces contrast variations in the reflected image of the evaluated surface as collected and output by sensor 24 (eg, to a monitor or other display module). This contrast change is an indication of the presence and extent of the surface relief or unevenness being evaluated, with greater contrast changes corresponding to greater extent and/or magnitude of the relief or other unevenness. and vice versa.

次に図2を参照すると、上述のシステム10と類似の方法で、起伏または他の不均等性の検出及び定量化を容易にする、第2の不均等検出システム110が示される。システム110は、上述のシステム10に実質的に類似する。システム110の参照番号は、システム10の参照番号に100を加えたものに相当する。システム110の要素は、別途注記しない限り、対応するシステム10の参照番号によって表わした類似の要素に対応する。 Referring now to FIG. 2, a second unevenness detection system 110 is shown that facilitates the detection and quantification of undulations or other unevennesses in a manner similar to system 10 described above. System 110 is substantially similar to system 10 described above. The reference number for system 110 corresponds to the reference number for system 10 plus one hundred. Elements of system 110 correspond to similar elements represented by corresponding system 10 reference numerals, unless otherwise noted.

しかしシステム110は、収集レンズ20を除いて再構成され、それによってシステム100を物理的により小型に、かつ廉価とすることができる。 However, system 110 can be reconfigured without collecting lens 20, thereby making system 100 physically smaller and less expensive.

システム110において、インコヒーレント光源112はインコヒーレント光信号130を発し、それは第1の直線偏光器126を通過して、P偏光の光信号134を作り出す。次に光信号134は、非偏光ビームスプリッタ116及びコリメーションレンズ114を通過して、ディスプレイモジュール50に直角に向けられたコリメート光信号132を作り出す。すなわち、コリメート光信号132は、ディスプレイモジュール50の評価される表面の平面に対して垂直である。信号132は、円偏光器118の一部として含まれた1/4波長板をダブルパスで通過する。円偏光器118は、上述の偏光器18と類似して構成され得る。 In system 110 , an incoherent light source 112 emits an incoherent optical signal 130 that passes through a first linear polarizer 126 to produce a P-polarized optical signal 134 . Optical signal 134 then passes through non-polarizing beam splitter 116 and collimating lens 114 to produce collimated optical signal 132 directed orthogonally to display module 50 . That is, collimated light signal 132 is perpendicular to the plane of the evaluated surface of display module 50 . Signal 132 passes through a quarter-wave plate included as part of circular polarizer 118 in a double pass. Circular polarizer 118 may be constructed similarly to polarizer 18 described above.

ディスプレイモジュール50から発せられて、得られた反射光信号は、S偏光の光信号136であり、P偏光のコリメート光信号132から180°で配向される。信号136は、後ろ向きで非偏光ビームスプリッタ116に向けられ、信号136は90°反射される。得られた反射光信号138は、次に第2の直線偏光器128を通過し、得られたS偏光の信号は、焦点に位置付けられたアパーチャ停止部を有する撮像レンズ122にぶつかる。システム10について上述したように、焦点におけるこのアパーチャ停止部(またはナイフエッジ)は、ディスプレイモジュール50の反射面の非平坦部によって反射された任意の光線を、アパーチャ停止部の不透明部によって遮断させる。それによって、平坦表面部から反射された光線に対するコントラストを作り出す。したがって、光信号142を介してセンサ124によって集められた画像は、ディスプレイモジュール50の評価される表面における、起伏または他の表面の不均等性の存在、位置、及び規模の、コントラスト表示を提供する。 Emanating from display module 50 , the resulting reflected light signal is S-polarized light signal 136 oriented at 180° from P-polarized collimated light signal 132 . The signal 136 is directed backwards to the non-polarizing beamsplitter 116 and the signal 136 is reflected 90°. The resulting reflected light signal 138 then passes through a second linear polarizer 128 and the resulting S-polarized signal strikes an imaging lens 122 having an aperture stop positioned at the focal point. As described above for system 10, this aperture stop (or knife edge) at the focal point causes any light rays reflected by the non-flat portion of the reflective surface of display module 50 to be blocked by the opaque portion of the aperture stop. This creates contrast for light rays reflected from flat surfaces. Accordingly, the image collected by sensor 124 via light signal 142 provides a contrast indication of the presence, location, and magnitude of relief or other surface unevenness on the evaluated surface of display module 50. .

図3は、上記で詳細に説明した不均等性検出システム110の構造及び機能と全体的に類似する、不均等性検出システム110’を示す。システム110及び110’は互いに実質的に類似し、示されるように同じ構成の構造から成る。 FIG. 3 shows an inequality detection system 110' that is generally similar in structure and function to the inequality detection system 110 described in detail above. Systems 110 and 110' are substantially similar to each other and are of the same configuration of construction as shown.

しかし検出システム110’は、ビームスプリッタ116に対する光源112及びセンサ124の位置を、他の関連構成要素(アパーチャ停止部及び直線偏光器126及び128など)と共に入れ替える。図3に表わされるように、インコヒーレント光源112はインコヒーレント光信号130を発し、それは直線偏光器126を通過して、P偏光の光信号134を作り出す。信号134は、次に非偏光ビームスプリッタ116によって90°反射される。得られた反射信号138は、コリメート光信号132を作り出すコリメーションレンズ114を通過して、システム110について上述したものと同じ方法で、円偏光器118を介してディスプレイモジュール50から反射される。 However, detection system 110' interchanges the positions of light source 112 and sensor 124 relative to beamsplitter 116, along with other associated components (such as aperture stops and linear polarizers 126 and 128). As represented in FIG. 3, an incoherent light source 112 emits an incoherent optical signal 130 that passes through a linear polarizer 126 to produce a P-polarized optical signal 134 . Signal 134 is then reflected 90° by non-polarizing beamsplitter 116 . The resulting reflected signal 138 passes through collimation lens 114 which produces collimated light signal 132 and is reflected from display module 50 through circular polarizer 118 in the same manner as described above for system 110 .

ディスプレイモジュール50の評価される表面によって発せられる、反射したS偏光の光信号は、次に非偏光ビームスプリッタ116及び第2の直線偏光器128を通過する。撮像レンズ(またはナイフエッジ)122は、S偏光の光信号136をフィルタにかけ、得られた光信号142はセンサ124によって受けられる。センサ124によって感知されて得られた画像は、上述のような表面の不均等性の存在及び範囲のコントラスト表示を有する。 The reflected S-polarized light signal emitted by the evaluated surface of display module 50 then passes through non-polarizing beam splitter 116 and second linear polarizer 128 . An imaging lens (or knife edge) 122 filters the S-polarized light signal 136 and the resulting light signal 142 is received by sensor 124 . The resulting image sensed by sensor 124 has a contrast indication of the presence and extent of surface unevenness as described above.

次に図4を参照すると、不均等性検出システム210は、上述のシステム110’に全体的に類似の構成を有する。さらにシステム210は、上述のシステム110及び110’に実質的に類似し、システム210の参照番号は、システム110及び110’の参照番号に100を加えたものに相当する。システム210の要素は、別途注記しない限り、対応するシステム110の参照番号によって表わした類似の要素に相当する。 Referring now to FIG. 4, non-uniformity detection system 210 has a configuration generally similar to system 110' described above. Further, system 210 is substantially similar to systems 110 and 110' described above, and the reference number for system 210 corresponds to the reference number for systems 110 and 110' plus one hundred. Elements of system 210 correspond to similar elements represented by corresponding reference numbers in system 110 unless otherwise noted.

しかし、不均等性検出システム210は、コリメーションレンズ214からのコリメート光信号232を受ける円筒形レンズ215を、さらに含む。円筒形レンズ215は、P偏光の収束光信号240を、円偏光218を含む湾曲したディスプレイモジュール250に向けて通過させる。偏光器218を介した反射及びダブルパスの後、光信号236は、湾曲した評価される表面から反射し、円筒形レンズ215及びコリメーションレンズ214を戻って通過し、反射光信号238を生成する。 However, nonuniformity detection system 210 further includes cylindrical lens 215 that receives collimated optical signal 232 from collimation lens 214 . Cylindrical lens 215 passes the P-polarized converging optical signal 240 towards a curved display module 250 containing circularly polarized light 218 . After reflection and double pass through polarizer 218 , optical signal 236 reflects off the curved surface being evaluated and passes back through cylindrical lens 215 and collimation lens 214 to produce reflected optical signal 238 .

収束光信号240は、一次元湾曲の(すなわち焦点の)波面であり、ディスプレイ250の対応する凸状に湾曲した反射面に入射する。この焦点波面の曲率半径は、ディスプレイモジュール250の湾曲した凸状ディスプレイ表面の意図された半径と等しい。そのため、モジュール250の評価される表面によって反射したS偏光の光信号236は、円筒形レンズ215を通過して戻り、再びコリメートされる。次にコリメーションレンズ214を通って戻り、反射光信号238としてセンサ224に向けて再び合焦される。それによって、円筒形レンズは、湾曲したディスプレイモジュール250の、湾曲した表面からの反射光信号238を作り出すよう動作する。湾曲したディスプレイモジュール250は、上記で詳述した平坦面の評価のために設計されたシステム10、110、及び110’と同じシュリーレン画像構成である。このように、湾曲した評価される表面の不均等性の存在、及び範囲は、平坦面(すなわち平面)と同じように調査することができる。 The converging optical signal 240 is a one-dimensional curved (ie, focal) wavefront that is incident on a corresponding convexly curved reflective surface of the display 250 . The radius of curvature of this focal wavefront is equal to the intended radius of the curved convex display surface of display module 250 . As such, the S-polarized optical signal 236 reflected by the evaluated surface of the module 250 passes back through the cylindrical lens 215 and is re-collimated. It then returns through collimation lens 214 and is refocused as reflected light signal 238 onto sensor 224 . The cylindrical lens thereby operates to create a reflected light signal 238 from the curved surface of the curved display module 250 . Curved display module 250 is of the same schlieren image configuration as systems 10, 110, and 110' designed for evaluation of flat surfaces detailed above. In this way, the presence and extent of non-uniformities in curved evaluated surfaces can be investigated in the same way as for flat surfaces (ie, planes).

図4に示された実施形態において、円筒形レンズ215は、上記のように凸状に湾曲したディスプレイに使用するために設計された、ポジティブ(すなわち合焦する)円筒形レンズである。しかし、類似で形成されるネガティブな円筒形レンズも、湾曲した凸状のディスプレイパネルの不均等性の正確な計測のために設計され、同様に一次元で広がる波面を生成するために使用され得る。 In the embodiment shown in FIG. 4, cylindrical lens 215 is a positive (ie, focusing) cylindrical lens designed for use with convexly curved displays as described above. However, a similarly formed negative cylindrical lens can also be designed for accurate measurement of the unevenness of curved convex display panels and can be used to generate a wavefront spreading in one dimension as well. .

図4は、直線偏光器226を介して非偏光ビームスプリッタ216の反射面に向けてP偏光の光信号234を発する、光源212を示す。その一方で反射光信号238は、ビームスプリッタ216を通ってセンサ224に向かう。この構成は、円筒形レンズ215及びシステム210を加えた以外は、図3に示し、上記で詳細に説明したシステム110’と類似する。しかし、図2に示されたシステム110の構成は、湾曲したディスプレイモジュール250の評価のための円筒形レンズ215の追加を伴い、同様に変更され得る。すなわち、光源212及びセンサ224は、ビームスプリッタ216に対して、それらの関連の構成要素と共に取り替えられ得る。 FIG. 4 shows a light source 212 emitting a P-polarized optical signal 234 through a linear polarizer 226 toward a reflective surface of a non-polarizing beamsplitter 216 . Meanwhile, reflected light signal 238 passes through beam splitter 216 to sensor 224 . This configuration is similar to system 110' shown in FIG. 3 and described in detail above, except that cylindrical lens 215 and system 210 are added. However, the configuration of system 110 shown in FIG. 2 may be similarly modified with the addition of cylindrical lens 215 for curved display module 250 evaluation. That is, light source 212 and sensor 224 can be replaced with their associated components relative to beamsplitter 216 .

図1及び図2それぞれに示されたシステム10及び110の場合、光源12、112はディスプレイモジュール50上で直接輝く。すなわち、光源12、112から導出されたコリメートビームは、ディスプレイモジュール50の評価されることになる表面によって画定された平面に対して、垂直である。本開示の目的のための「実質的に垂直」は、約90°を指し、少なくとも89.5°、89.7°、もしくは89.9°、または多くとも90.1°、90.3°、もしくは90.5°であり、ちょうど90°を含む。または前述の値の任意の対によって定義された任意の角度範囲である。 For the systems 10 and 110 shown in FIGS. 1 and 2 respectively, the light sources 12 , 112 shine directly on the display module 50 . That is, the collimated beams derived from the light sources 12, 112 are perpendicular to the plane defined by the surface of the display module 50 to be evaluated. "Substantially perpendicular" for the purposes of this disclosure refers to about 90°, at least 89.5°, 89.7°, or 89.9°, or at most 90.1°, 90.3° , or 90.5°, including exactly 90°. or any angular range defined by any pair of the aforementioned values.

反対に、図3及び図4に示されたシステム110’及び210の場合、インコヒーレント光源112、212はインコヒーレント光信号130、230を発する。それらは、ディスプレイモジュール50及び250それぞれの評価される表面に対して、名目上は平行であるが、非偏光ビームスプリッタ116、216、及びコリメーションから反射した後に、コリメート光ビームは、評価される表面によって画定された平面上で直接(すなわち垂直に)輝く。 Conversely, for the systems 110' and 210 shown in FIGS. 3 and 4, the incoherent light sources 112,212 emit incoherent optical signals 130,230. Although they are nominally parallel to the surface being evaluated of display modules 50 and 250, respectively, after reflection from the non-polarizing beam splitters 116, 216 and collimation, the collimated light beams are directed to the surface being evaluated. shines directly (i.e. vertically) on the plane defined by

このように、システム10、110、110’、及び210の全ては、センサ24、124、及び224のそれぞれのレンズによって画定された平面が、フィルタにかけられた入射する信号42、142、242のそれぞれに対して垂直になるよう、配置される。この入射する信号は、ディスプレイモジュール50または250の反射面の直接反射である。したがって、センサ24、124、及び224は、反射したコリメート光信号を受けるよう位置付けられる。反射したコリメート光信号は、ディスプレイモジュール50、250の評価される表面の平面における、直接の180°反射である。したがって、センサ24、124、及び224によって生成されて得られた画像は、完全またはほぼ完全に合焦している。反対に、センサによって受けられた反射像が、センサレンズに対して角度が付けられたディスプレイモジュールからくるシステムにおいて、完全な合焦は、反射像の細いストリップを越えることによってのみ可能である。 Thus, all of systems 10, 110, 110', and 210 ensure that the planes defined by the lenses of sensors 24, 124, and 224, respectively, are filtered incident signals 42, 142, 242, respectively. positioned perpendicular to the This incident signal is a direct reflection of the reflective surface of display module 50 or 250 . Accordingly, sensors 24, 124, and 224 are positioned to receive the reflected collimated optical signal. The reflected collimated light signal is a direct 180° reflection in the plane of the evaluated surface of the display module 50,250. Accordingly, the resulting images produced by sensors 24, 124, and 224 are perfectly or nearly perfectly in focus. Conversely, in systems where the reflected image received by the sensor comes from a display module angled with respect to the sensor lens, perfect focus is only possible over a narrow strip of reflected image.

システム10、110、及び110’の場合、評価される表面は実質的に平面であり、ディスプレイモジュール50は、名目上は平面のディスプレイをユーザに提示する。本開示の目的のための、携帯電話及びハンドヘルド式タブレットデバイスの文脈における「実質的に平面」は、平坦性から100μm以下の名目上のばらつきを伴う表面を意味し得る。これらのシステムのため、センサ24または124によって受けられた画像におけるコントラストは、評価される表面の非平坦性または他の不均等性を表わす。 For systems 10, 110, and 110', the surface being evaluated is substantially planar, and display module 50 presents a nominally planar display to the user. For the purposes of this disclosure, "substantially planar" in the context of mobile phones and handheld tablet devices may mean a surface with a nominal variation of 100 μm or less from flatness. For these systems, the contrast in the image received by sensor 24 or 124 represents unevenness or other unevenness of the surface being evaluated.

他方で、図4は、上述のようにディスプレイモジュール250の湾曲した表面の評価のために設計されたシステム210を示す。この湾曲した表面は、ディスプレイモジュール50の平坦面に類似した検査の平面を画定するものとされ得る。本開示の目的のために、湾曲したモジュール250の評価される表面の平面は、湾曲した表面によって画定され、かつ評価されることになる表面の領域を二分する、曲率半径に対して垂直な平面である。それによって、湾曲した表面の半分は、平面の一方の側にあり、湾曲した表面の他方の半分は、平面の他方の側にある。図4のシステム210において、センサ224によって感知された画像は、評価される表面の曲率の不完全性を表わす。「完全な」面は、望ましい丸みを付けられた(例えば円筒形または球形)面に完全に適合した面を表わし、不完全性は、その完全な面からの逸脱を表わす。 FIG. 4, on the other hand, shows a system 210 designed for evaluation of curved surfaces of a display module 250 as described above. This curved surface may define a plane of inspection similar to the flat surface of display module 50 . For the purposes of this disclosure, the plane of the evaluated surface of the curved module 250 is the plane perpendicular to the radius of curvature defined by the curved surface and bisecting the area of the surface to be evaluated. is. Thereby half of the curved surface lies on one side of the plane and the other half of the curved surface lies on the other side of the plane. In system 210 of FIG. 4, the image sensed by sensor 224 represents the curvature imperfections of the evaluated surface. A "perfect" surface refers to a surface that perfectly fits the desired rounded (eg, cylindrical or spherical) surface, and imperfections refer to deviations from that perfect surface.

図5は、平面(システム10、110、もしくは110’の場合)または湾曲(システム210の場合)のいずれかで、評価される表面の不完全性を評価するための、例示的な方法を示す。この方法300は、本開示によって作られたシステムのユーザによって実施され得るか、またはコンピュータもしくは制御器の使用を介して自動化され得る。 FIG. 5 shows an exemplary method for assessing imperfections in the evaluated surface, either planar (for system 10, 110, or 110′) or curved (for system 210). . This method 300 can be performed by a user of a system made according to the present disclosure or can be automated through the use of a computer or controller.

実施形態において、センサ24、124、または224によって検出された画像は、制御器によって評価される。実施形態において、制御器はマイクロプロセッサベースであり、非一時的コンピュータ可読媒体を含む。非一時的コンピュータ可読媒体は、その中に記憶された処理命令を含み、それらの処理命令は、制御器のマイクロプロセッサによって実行可能であり、検出した画像を評価して、試験下におけるディスプレイ面の不完全性のレベルを判定する。非一時的コンピュータ可読媒体、またはメモリは、ランダムアクセスメモリ(RAM)、読み取り専用メモリ(ROM)、消去可能プログラマブル読み取り専用メモリ(EPROM、EEPROM、もしくはフラッシュメモリなど)、または情報を記憶できる任意の他の有形的表現媒体を含み得る。 In embodiments, images detected by sensors 24, 124, or 224 are evaluated by the controller. In embodiments, the controller is microprocessor-based and includes a non-transitory computer-readable medium. The non-transitory computer readable medium includes processing instructions stored therein, the processing instructions being executable by the microprocessor of the controller to evaluate the detected image and display surface under test. Determine the level of imperfection. A non-transitory computer-readable medium, or memory, may be random access memory (RAM), read-only memory (ROM), erasable programmable read-only memory (such as EPROM, EEPROM, or flash memory), or any other capable of storing information. tangible medium of expression.

画像は、コントラスト変化を検出かつ評価するよう設計されたソフトウェアによって処理されることになり、欠陥サイズを判定して、ディスプレイ全体の品質のための点数を生成する。従来の画像処理及び機械学習技法の両方を使用して、このソフトウェアを実行することができる。 The image will be processed by software designed to detect and evaluate contrast changes to determine defect size and generate a score for overall display quality. Both conventional image processing and machine learning techniques can be used to implement this software.

ステップ310において、インコヒーレント光信号が、例えば電力を光源に加えることによって、発せられる。例示的な実施形態において、光信号は、光源12、112、または212のうちの1つから来るLED信号である。ステップ320において、インコヒーレント光信号は、偏光ビームスプリッタ16、または非偏光ビームスプリッタ116もしくは216などのビームスプリッタを通過し、互いに対して角度が付けられた第1の光信号及び第2の光信号を作り出す。1つの例示的な実施形態において、第1及び第2の光信号は、互いに対して90°角度が付けられてもよく、約50対50で分かれ、それによって第1及び第2の光信号の各々は、等しいか実質的に等しい強度となる。偏光ビームスプリッタをまっすぐ通過する光は、第1の方向で直線偏光され、本明細書ではP偏光と称する。非偏光ビームスプリッタの場合、光はビームスプリッタによって偏光されない。 At step 310, an incoherent optical signal is emitted, for example by applying electrical power to the light source. In the exemplary embodiment, the light signal is an LED signal coming from one of light sources 12, 112, or 212. FIG. At step 320, the incoherent optical signal passes through a beam splitter, such as polarizing beam splitter 16, or non-polarizing beam splitter 116 or 216, to produce a first optical signal and a second optical signal angled with respect to each other. produce. In one exemplary embodiment, the first and second optical signals may be angled 90° with respect to each other and split approximately 50/50, thereby Each will be of equal or substantially equal intensity. Light passing straight through a polarizing beam splitter is linearly polarized in a first direction and is referred to herein as P-polarized light. In the case of non-polarizing beamsplitters, the light is not polarized by the beamsplitter.

ステップ330において、インコヒーレント光信号の少なくとも一部はコリメーションレンズを通過し、コリメート光信号を作り出す。システム10など、本開示によって作られたいくつかのシステムにおいて、このコリメーションステップは、インコヒーレント光信号がビームスプリッタに入る前に生じ得る。システム110、110’、及び210など、本開示によって作られた他のシステムにおいて、このステップは、光信号がビームスプリッタを通過した後、またはビームスプリッタによって反射された後に生じ得る。したがって、いくつかの場合、インコヒーレント光信号の一部のみが、コリメーションレンズを通過し得る。 At step 330, at least a portion of the incoherent optical signal passes through a collimation lens to create a collimated optical signal. In some systems made according to the present disclosure, such as system 10, this collimation step may occur before the incoherent optical signal enters the beamsplitter. In other systems made according to the present disclosure, such as systems 110, 110', and 210, this step may occur after the optical signal has passed through or been reflected by the beam splitter. Therefore, in some cases only a portion of the incoherent optical signal may pass through the collimation lens.

ステップ340において、インコヒーレント光信号の少なくとも一部は偏光される。このような偏光は、システム10における偏光ビームスプリッタ16、システム110、110’における直線偏光器126、128、またはシステム210における直線偏光器226及び228を含む、1つまたは複数の構造によって影響され得る。加えて、システム10、110、110’、及び210の各々は、円偏光器18、118、または218それぞれを介して、コリメーションの前または後のいずれかで、コヒーレント光信号の少なくとも一部の偏光に影響し得る。 At step 340, at least a portion of the incoherent optical signal is polarized. Such polarization can be affected by one or more structures, including polarizing beamsplitter 16 in system 10, linear polarizers 126, 128 in systems 110, 110', or linear polarizers 226 and 228 in system 210. . In addition, each of the systems 10, 110, 110', and 210 polarizes at least a portion of the coherent optical signal either before or after collimation via a circular polarizer 18, 118, or 218, respectively. can affect

ステップ350において、コリメート光信号は、ディスプレイモジュール50または250の反射面などの、評価される表面で反射して、反射光信号を作り出す。この反射光信号は、感知画像を作り出すために、センサ24、124、または224などのセンサなどによって感知される。ステップ370において、この感知画像はコントラストの評価のために使用され、評価される表面の不均等性の存在及び規模を判定する。 At step 350, the collimated light signal reflects off a surface to be evaluated, such as a reflective surface of display module 50 or 250, to produce a reflected light signal. This reflected light signal is sensed, such as by a sensor such as sensor 24, 124, or 224, to produce a sensed image. In step 370, this sensed image is used for contrast evaluation to determine the presence and magnitude of unevenness in the surface being evaluated.

1つの実施形態において、ディスプレイモジュール50、250は携帯電話、タブレット、または他のハンドヘルド式ディスプレイデバイスであってよく、システム10、110、110’、または210は、携帯電話またはタブレットのオペレータインターフェースを評価するために使用される。例えば、図6A及び図6Bは、ディスプレイモジュール50または250(電話400が名目上平坦であるか、名目上湾曲したユーザインターフェースを有するかに依拠する)に代わり得る携帯電話400を示す。 In one embodiment, display module 50, 250 may be a mobile phone, tablet, or other handheld display device, and system 10, 110, 110', or 210 evaluates the operator interface of the mobile phone or tablet. used to For example, FIGS. 6A and 6B show a mobile phone 400 that can be substituted for display module 50 or 250 (depending on whether phone 400 has a nominally flat or nominally curved user interface).

図6Aに示されるように、携帯電話400はバックカバー410を含む。底部シェル420は、フェースシェル430と接続され、携帯電話400に機能を提供するよう構成された回路ボード425を保護する。底部シェル420は、電池415を支持するよう構成され、さらに、バックカバー410と接続するよう構成される。フェースシェル430は、ディスプレイモジュール440と接続するよう、かつディスプレイモジュール440を支持するよう構成される。完全に組み立てられたとき、ディスプレイモジュール440は、ディスプレイ層470及びカバーガラス/タッチパネル450aを含む。カバーガラス/タッチパネル450aは、透明材料または透明光学材料450として構成される。様々な構成要素の全てが接続されたとき、携帯電話400は、人の手によって取り扱うのに好適な、使いやすい容器内に構成される。タブレットは、全体寸法がより大きいこと以外、電話400と類似して構成され得る。 As shown in FIG. 6A, mobile phone 400 includes back cover 410 . The bottom shell 420 protects a circuit board 425 that is connected with the face shell 430 and configured to provide functionality to the mobile phone 400 . Bottom shell 420 is configured to support battery 415 and is further configured to connect with back cover 410 . Face shell 430 is configured to connect with and support display module 440 . When fully assembled, display module 440 includes display layer 470 and cover glass/touch panel 450a. The cover glass/touch panel 450a is configured as a transparent material or transparent optical material 450. As shown in FIG. When all of the various components are connected, the mobile phone 400 is configured in a convenient container suitable for manual handling. A tablet may be configured similar to phone 400, except for larger overall dimensions.

ディスプレイモジュール440は、液晶ディスプレイ(LCD)、円偏光器460、及び光学透明カバーガラス/タッチパネル450aなどの、ディスプレイ層470を含む。いくつかの構成において、円偏光器460は、ディスプレイ層470及び円偏光器460の両方を囲む点線輪郭によって示されるように、ディスプレイ層470に一体化され得る。ディスプレイ層470は、ユーザによって視認可能な画像を表示することにより、対応するユーザにビジュアルインターフェースを提供するよう構成される。ディスプレイ層470は、特定の用途のための必要性または要望に応じて、1つまたは複数の追加の層を含み得る。様々な技術が使用され、ディスプレイ層470を構築する。通常、ディスプレイ層470は、ユーザによって視認可能なカラー光を提供するピクセルとして構成される。これらの技術として、液晶ディスプレイ(LCD)、発光ダイオード(LED)、有機発光ダイオード(OLED)などが挙げられる。カバーガラス/タッチパネル450aは、ディスプレイ層470、またはディスプレイ層470に関連した円偏光器460に隣接して位置される。カバーガラス/タッチパネル450aは、ユーザインターフェースとして構成される。ユーザは携帯電話400と相互に作用し、及び/または、スタイラスもしくは1つもしくは複数の指を使用して、ガラスもしくはパネル450aに触れることで、入力制御を提供し得る。 Display module 440 includes a display layer 470, such as a liquid crystal display (LCD), a circular polarizer 460, and an optically transparent cover glass/touch panel 450a. In some configurations, circular polarizer 460 may be integrated into display layer 470 , as indicated by the dashed outline surrounding both display layer 470 and circular polarizer 460 . The display layer 470 is configured to provide a visual interface to a corresponding user by displaying images viewable by the user. Display layer 470 may include one or more additional layers as needed or desired for a particular application. Various techniques are used to construct the display layer 470 . Display layer 470 is typically configured as pixels that provide colored light that is visible to a user. These technologies include liquid crystal displays (LCDs), light emitting diodes (LEDs), organic light emitting diodes (OLEDs), and the like. Cover glass/touch panel 450 a is positioned adjacent to display layer 470 or circular polarizer 460 associated with display layer 470 . The cover glass/touch panel 450a is configured as a user interface. A user may interact with mobile phone 400 and/or provide input control by using a stylus or one or more fingers to touch glass or panel 450a.

ディスプレイスクリーン、テレビスクリーン、コンピュータモニタ、タブレットデバイス、一体型ディスプレイスクリーン(例えば車両のダッシュ、デスク面、パネルなどに一体化)、ポータブル通信デバイスなど、ディスプレイモジュール440及び/または透明光学材料450の他の使用が企図される。 Other displays of display module 440 and/or transparent optical material 450, such as display screens, television screens, computer monitors, tablet devices, integrated display screens (e.g., integrated into vehicle dashes, desk surfaces, panels, etc.), portable communication devices, etc. use is contemplated.

特に、カバーガラス/タッチパネル450aの上面451、及びディスプレイ層470の上面471の均一性は、ユーザの最適な視覚体験のために望ましい。上記で詳細に説明したシステム10、110、110’、及び210を含む、本開示の実施形態は、カバーガラス450aまたは他の透明材料の上面451における平坦性、及びディスプレイ層470または他の反射材料の上面471における平坦性を、検出及び/または計測するよう構成される。 In particular, uniformity of top surface 451 of cover glass/touch panel 450a and top surface 471 of display layer 470 is desirable for an optimal visual experience for the user. Embodiments of the present disclosure, including the systems 10, 110, 110′, and 210 described in detail above, provide for flatness on the top surface 451 of the cover glass 450a or other transparent material and display layer 470 or other reflective material. is configured to detect and/or measure flatness at the top surface 471 of the .

本発明を例示的な設計を有するよう説明してきたが、本発明は、本開示の趣旨及び範囲内で、さらに変更され得る。したがって本出願は、一般的な原理を使用して、本発明の任意の変形、使用、または適合を網羅するよう意図される。さらに、本出願は、本発明が関連する技術分野の公知または通例の実施内となるような、本開示からの逸脱を網羅するよう意図され、それらは添付した特許請求の範囲の制限内にある。 While this invention has been described as having exemplary designs, the present invention can be further modified within the spirit and scope of this disclosure. This application is therefore intended to cover any variations, uses, or adaptations of the invention using its general principles. Further, this application is intended to cover such departures from this disclosure as are within the known or customary practice of the art to which this invention pertains, and which fall within the scope of the appended claims. .

Claims (19)

撮像システムであって、
インコヒーレント光信号を発するインコヒーレント光源と、
前記インコヒーレント光信号を受けるよう位置付けられ、コリメート光信号を発する、コリメーションレンズと、
前記インコヒーレント光源から発せられた前記インコヒーレント光信号の進行方向に対して、実質的に垂直に位置付けられたセンサレンズ面を画定するセンサレンズを有し、前記コリメート光信号の反射を受けるよう位置付けられた、センサと、
前記インコヒーレント光源と前記センサとの間に配設された、偏光器と、
評価面の平面を画定する、評価される表面を有し、前記評価面の平面が前記コリメート光信号の進行方向に対して実質的に垂直になるよう位置付けられた、ディスプレイモジュールと、を備える、撮像システム。
An imaging system,
an incoherent light source that emits an incoherent optical signal;
a collimation lens positioned to receive the incoherent light signal and emitting a collimated light signal;
a sensor lens defining a sensor lens plane positioned substantially perpendicular to a direction of travel of the incoherent light signal emitted from the incoherent light source and positioned to receive reflections of the collimated light signal; a sensor, and
a polarizer disposed between the incoherent light source and the sensor;
a display module having a surface to be evaluated defining a plane of the evaluation surface and positioned such that the plane of the evaluation surface is substantially perpendicular to the direction of travel of the collimated light signal; imaging system.
前記センサレンズ面は、前記評価面の平面に実質的に平行であり、前記インコヒーレント光信号の進行方向の進行方向は、前記評価面の平面に実質的に平行である、請求項1に記載の撮像システム。 2. The sensor lens plane of claim 1, wherein the sensor lens plane is substantially parallel to the plane of the evaluation plane and the direction of travel of the incoherent optical signal is substantially parallel to the plane of the evaluation plane. imaging system. 前記センサレンズ面は、前記評価面の平面に対して実質的に垂直であり、前記インコヒーレント光信号の進行方向は、前記評価面の平面に対して実質的に垂直である、請求項1に記載の撮像システム。 2. The sensor lens plane of claim 1, wherein the sensor lens plane is substantially perpendicular to the plane of the evaluation plane and the direction of travel of the incoherent optical signal is substantially perpendicular to the plane of the evaluation plane. The imaging system described. 前記評価される表面は実質的に平坦な面であり、それによって前記センサによって感知された画像は、前記評価される表面の非平坦性のコントラスト表示を含む、請求項1に記載の撮像システム。 2. The imaging system of claim 1, wherein the evaluated surface is a substantially flat surface, whereby the image sensed by the sensor includes a contrast indication of the non-flatness of the evaluated surface. 前記評価される表面は湾曲した面であり、前記湾曲した面に対応した曲率を有する円筒形レンズをさらに備え、それによって前記センサによって感知された画像は、前記評価される表面の曲率における不完全性のコントラスト表示を含む、請求項1に記載の撮像システム。 The evaluated surface is a curved surface, further comprising a cylindrical lens having a curvature corresponding to the curved surface, whereby the image sensed by the sensor is an imperfection in the curvature of the evaluated surface. 3. The imaging system of claim 1, including a gender contrast display. 前記センサレンズはアパーチャを備える、請求項1に記載の撮像システム。 2. The imaging system of Claim 1, wherein the sensor lens comprises an aperture. 前記インコヒーレント光信号を、第1の光信号及び第2の光信号に分割するよう位置付けられたビームスプリッタをさらに備え、前記第1の光信号は、前記第2の光信号に対して角度が付けられている、請求項1に記載の撮像システム。 further comprising a beam splitter positioned to split the incoherent optical signal into a first optical signal and a second optical signal, the first optical signal being angled with respect to the second optical signal; 10. The imaging system of claim 1, attached. 前記偏光器は、
前記インコヒーレント光源と前記ビームスプリッタとの間に配設された、第1の直線偏光器であって、前記ビームスプリッタは非偏光ビームスプリッタを備える、第1の直線偏光器と、
前記センサと前記ビームスプリッタとの間に配設された、第2の直線偏光器と
を備える、請求項7に記載の撮像システム。
The polarizer is
a first linear polarizer disposed between the incoherent light source and the beam splitter, the beam splitter comprising a non-polarizing beam splitter;
8. The imaging system of claim 7, comprising a second linear polarizer disposed between said sensor and said beamsplitter.
前記ビームスプリッタ及び前記偏光器は、偏光ビームスプリッタとして組み合わされる、請求項7に記載の撮像システム。 8. The imaging system of claim 7, wherein said beam splitter and said polarizer are combined as a polarizing beam splitter. 前記偏光ビームスプリッタと前記センサとの間に配設された、収集レンズをさらに備える、請求項9に記載の撮像システム。 10. The imaging system of Claim 9, further comprising a collection lens disposed between said polarizing beam splitter and said sensor. 前記センサレンズは、アパーチャ及びナイフエッジのうちの一方を備える、請求項10に記載の撮像システム。 11. The imaging system of Claim 10, wherein the sensor lens comprises one of an aperture and a knife edge. 前記インコヒーレント光信号は、発光ダイオードによって発せられる、請求項1に記載の撮像システム。 2. The imaging system of Claim 1, wherein the incoherent light signal is emitted by a light emitting diode. ディスプレイモジュールの評価される表面における不完全性を評価するための方法であって、
インコヒーレント光信号を発するステップと、
前記インコヒーレント光信号をビームスプリッタに通過させ、第1の光信号及び第2の光信号を作り出すステップであって、前記第1の光信号は前記第2の光信号に対して角度が付けられている、ステップと、
前記インコヒーレント光信号の少なくとも一部をコリメーションレンズに通過させ、コリメート光信号を作り出すステップと、
前記コリメート光信号を前記ディスプレイモジュールの前記評価される表面に反射させ、反射光信号を作り出すステップであって、前記評価される表面は、前記コリメート光信号の進行方向に対して実質的に垂直である評価面の平面を画定する、ステップと、
センサにおける反射光信号を感知し、感知画像を作り出すステップと
を含む方法。
A method for evaluating imperfections in an evaluated surface of a display module, comprising:
emitting an incoherent optical signal;
passing the incoherent optical signal through a beam splitter to produce a first optical signal and a second optical signal, the first optical signal being angled with respect to the second optical signal; are, steps and
passing at least a portion of the incoherent optical signal through a collimation lens to produce a collimated optical signal;
reflecting the collimated light signal off the evaluated surface of the display module to produce a reflected light signal, the evaluated surface being substantially perpendicular to the direction of travel of the collimated light signal; defining a plane of an evaluation plane;
and C. sensing a reflected light signal at a sensor to produce a sensed image.
前記感知画像におけるコントラストを評価し、前記評価される表面の表面不均等性の存在及び規模を判定するステップをさらに含む、請求項13に記載の方法。 14. The method of claim 13, further comprising evaluating contrast in the sensed image to determine the presence and magnitude of surface unevenness in the evaluated surface. 前記評価される面は湾曲した面であり、前記方法は、
前記コリメート光信号を円筒形レンズに通過させ、変更された前記コリメート光信号を作り出すステップをさらに含み、
反射させるステップは、変更された前記コリメート光信号を、湾曲した前記評価される表面に反射させるステップを含み、
コントラストを評価するステップは、湾曲した前記評価される表面の曲率における不完全性の存在及び範囲を判定するステップを含む、請求項14に記載の方法。
The surface to be evaluated is a curved surface, and the method comprises:
further comprising passing the collimated light signal through a cylindrical lens to produce the modified collimated light signal;
reflecting comprises reflecting the modified collimated optical signal off the curved surface to be evaluated;
15. The method of claim 14, wherein assessing contrast comprises determining the presence and extent of imperfections in curvature of the curved assessed surface.
前記評価される表面は実質的に平坦な面であり、
コントラストを評価するステップは、前記実質的に平坦な面における、非平坦性の存在及び範囲を判定するステップを含む、請求項14に記載の方法。
the surface to be evaluated is a substantially flat surface;
15. The method of claim 14, wherein assessing contrast comprises determining the presence and extent of non-planarity in the substantially planar surface.
前記インコヒーレント光信号、前記インコヒーレント光信号の一部、及び前記コリメート光信号、のうちの少なくとも1つを偏光させるステップをさらに含む、請求項13に記載の方法。 14. The method of claim 13, further comprising polarizing at least one of the incoherent optical signal, a portion of the incoherent optical signal, and the collimated optical signal. 前記反射光信号を感知するステップは、
前記反射光信号をアパーチャの1つに通過させるステップと、
前記反射光信号を、ナイフエッジを越えて通すステップと
のうちの一方を含む、請求項13に記載の方法。
Sensing the reflected light signal comprises:
passing the reflected optical signal through one of the apertures;
and passing the reflected light signal over a knife edge.
前記コリメーションレンズを、前記インコヒーレント光信号の少なくとも一部に対して実質的に垂直に位置付けるステップと、
前記評価される表面を、前記コリメーションレンズに実質的に平行に位置付けるステップと
をさらに含む、請求項13に記載の方法。
positioning the collimation lens substantially perpendicular to at least a portion of the incoherent optical signal;
14. The method of claim 13, further comprising positioning the surface to be evaluated substantially parallel to the collimation lens.
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