JP2000306378A - アドレス信号供給方法及びそれを利用した半導体記憶装置 - Google Patents
アドレス信号供給方法及びそれを利用した半導体記憶装置Info
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Abstract
費電力を削減するアドレス信号供給方法及びそれを利用
した半導体記憶装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 メモリセルに格納するデータのメモリア
ドレスに応じた第1アドレス信号を順次出力するアドレ
ス信号発生手段14を有し、第1アドレス信号を構成す
る複数のビット信号のうちデータ状態の変化が頻繁なビ
ット信号ほど負荷容量が小さくなるように、複数のビッ
ト信号をデータを読み出して再書き込みするメモリアド
レスに割り当てることにより上記課題を解決する。
Description
方法及びそれを利用した半導体記憶装置に係り、特に、
半導体記憶装置に格納されているデータの読み出し及び
再書き込み動作に利用するアドレス信号供給方法及びそ
れを利用した半導体記憶装置に関する。
等に広く利用されているDRAM(Dynamic R
andom Access Memory)は、その動
作原理上、一定周期毎に格納されているデータを読み出
して再書き込みを行なう、いわゆるリフレッシュ動作を
行なわないと格納されているデータがキャパシタのリー
ク電流により失われてしまう。したがって、半導体記憶
装置は待機時であってもリフレッシュ動作を行なってい
る。
シュ動作を行なってから一番時間が経過しているアドレ
スから順次行われる必要がある。したがって、前回のリ
フレッシュ動作を行なってから一番時間が経過している
アドレスからリフレッシュ動作が開始され、そのリフレ
ッシュ動作を行なうアドレス(以下、リフレッシュアド
レスという)を順にカウントアップすることで対応して
いた。
3ビットである場合の動作について簡単に説明する。図
1は、リフレッシュアドレスを表す一例のタイミング図
を示す。図1のタイミング図の場合、前回のリフレッシ
ュ動作を行なってから一番時間が経過しているアドレス
は(A2,A1,A0)=(0,0,0)であり、その
後リフレッシュアドレスが(A2,A1,A0)=
(0,0,1),(0,1,0),・・・・・ ,(1,1,
1),(0,0,0),・・・・・ ,の順にカウントアップ
される。
フレッシュ動作を行なってから一番時間が経過している
アドレス(A2,A1,A0)=(0,0,0)から開
始され、その後(A2,A1,A0)=(0,0,
1),(0,1,0),・・・・・ ,(1,1,1),
(0,0,0),・・・・・ ,の順に行われていた。
リフレッシュ動作では生成したリフレッシュアドレス
(An−1,An−2,・・・・・ ,A0)をメモリアドレ
ス(MAn−1,MAn−2,・・・・・ ,MA0)にその
まま対応させており、メモリアドレス側の負荷容量につ
いては何ら考慮されていない。
最上位アドレス,A0を最下位アドレスとすると、最下
位アドレスA0が最も頻繁に変化するため、その最下位
アドレスA0に接続されているメモリアドレスMA0側
の負荷容量が大きい場合に消費電流が増大するという問
題があった。本発明は、上記の点に鑑みなされたもの
で、データの読み出し及び再書き込み動作時の消費電力
を削減するアドレス信号供給方法及びそれを利用した半
導体記憶装置を提供することを目的とする。
するため、請求項1記載の本発明は、所定時間毎にメモ
リセルに格納しているデータを読み出して再書き込みす
る半導体記憶装置において、前記メモリセルに格納する
データのメモリアドレスに応じた第1アドレス信号を順
次出力するアドレス信号発生手段を有し、前記第1アド
レス信号を構成する複数のビット信号のうちデータ状態
の変化が頻繁なビット信号ほど負荷容量が小さくなるよ
うに、前記複数のビット信号を前記データを読み出して
再書き込みするメモリアドレスに割り当てることを特徴
とする。
モリセルに格納することができるデータに応じた第1ア
ドレス信号が順次出力され、その第1アドレス信号を構
成する複数のビット信号のうちデータ状態の変化(Hi
gh/Low)が頻繁なビット信号ほど負荷容量が小さ
くなるように、前記複数のビット信号を前記データを読
み出して再書き込みするメモリアドレスに割り当てるこ
とにより、データ保持のために必要なデータを読み出し
て再書き込みする動作の消費電力を削減することが可能
である。
化が頻繁なビット信号に負荷容量が大きいメモリアドレ
スが割り当てられた場合に消費電流が大きくなることに
基づいたもので、頻繁にデータ状態が変化するビット信
号に負荷容量が小さいメモリアドレスを割り当て、デー
タ状態の変化が少ないビット信号に負荷容量が大きいメ
モリアドレスを割り当てることにより、データ保持のた
めに必要なデータを読み出して再書き込みする動作の消
費電力を削減することが可能となる。
データを読み出して再書き込みする動作の消費電力を削
減することにより、半導体記憶装置を利用している例え
ば携帯用電子機器の可働時間の延長が可能となる。ま
た、請求項2記載の本発明は、ロー及びコラムに対応し
て縦横に配列されるメモリセルと、リフレッシュ時に前
記メモリセルに格納するデータのローアドレスに応じた
第1アドレス信号を順次出力するアドレス信号発生手段
と、前記第1アドレス信号を構成する複数のビット信号
のうちデータ状態の変化が頻繁なビット信号ほど負荷容
量が小さくなるように、前記複数のビット信号を前記リ
フレッシュを行なうローアドレスに割り当てるように接
続する配線パターンとを有することを特徴とする。
モリセルに格納することができるデータに応じた第1ア
ドレス信号が順次出力され、その第1アドレス信号を構
成する複数のビット信号のうちデータ状態の変化が頻繁
なビット信号ほど負荷容量が小さくなるように、前記リ
フレッシュを行なうメモリアドレスに割り当てることに
より、データ保持のために必要なリフレッシュ動作の消
費電力を削減することが可能である。
パターンは、前記第1アドレス信号を構成する複数のビ
ット信号と、前記リフレッシュを行なうローアドレスと
を、前記複数のビット信号のうちデータ状態の変化が頻
繁なビット信号ほど負荷容量が小さく,データ状態の変
化が少ないビット信号ほど負荷容量が大きくなるように
一対一に対応させることを特徴とする。
データ状態の変化が頻繁なビット信号ほど負荷容量が小
さく,データ状態の変化が少ないビット信号ほど負荷容
量が大きくなるように前記第1アドレス信号を構成する
複数のビット信号と、前記リフレッシュを行なうローア
ドレスとを一対一に対応されることにより、データ保持
のために必要なリフレッシュ動作の消費電力を削減する
ことが可能である。
毎にメモリセルに格納しているデータを読み出して再書
き込みするために利用するアドレス信号のアドレス信号
供給方法において、前記メモリセルに格納するデータの
メモリアドレスに応じた第1アドレス信号を順次出力す
る段階と、前記第1アドレス信号を構成する複数のビッ
ト信号のうちデータ状態の変化が頻繁なビット信号ほど
負荷容量が小さくなるように前記データを読み出して再
書き込みするメモリアドレスに割り当てる段階とを有す
ることを特徴とする。
モリセルに格納することができるデータに応じた第1ア
ドレス信号が順次出力され、その第1アドレス信号を構
成する複数のビット信号のうちデータ状態の変化が頻繁
なビット信号ほど負荷容量が小さくなるように、前記複
数のビット信号を前記データを読み出して再書き込みす
るメモリアドレスに割り当てることにより、データ保持
のために必要なデータを読み出して再書き込みする動作
の消費電力を削減することが可能である。
て図面に基づいて説明する。最初に、本発明の原理につ
いて図2を利用して説明する。図2は、本発明の原理を
説明する一例の説明図を示す。図2のタイミング図
(A)〜(C)は、リフレッシュ動作を行なうアドレス
(以下、リフレッシュアドレスという)を生成する例え
ばカウンタ等の出力信号である。
(A)の信号は、周期T,振幅Vであり、リフレッシュ
アドレスのA1を表す図2(B)の信号は、周期2T,
振幅Vであり、リフレッシュアドレスのA3を表す図2
(C)の信号は、周期4T,振幅Vである。例えば、リ
フレッシュアドレスのA0,A1,A2に接続されてい
る負荷容量が夫々3C,2C,Cである場合は、以下の
式(1)により平均の消費電力P1が算出される。
されている負荷容量が夫々C,2C,3Cである場合
は、以下の式(2)により平均の消費電力P2が算出さ
れる。 P2=(C×4+2C×2+3C)V2 /4T=11CV2 /4T・・・・(2) 以上のように、リフレッシュアドレスのA0,A1,A
2に接続する負荷容量の違いにより消費電力に差が発生
することが分かる。この消費電力の差は、頻繁に振幅
(データ状態:High/Low)が変化するリフレッ
シュアドレスのA0に接続されている負荷容量の差によ
り特に発生するものである。実際に、リフレッシュアド
レスのA0,A1,A2に接続する負荷容量は半導体記
憶装置内の配線,回路構成等により異なっている。
位アドレスから順番に、負荷容量が少ないメモリアドレ
スを割り当てることにより消費電力を最小にすることが
可能となる。例えば図2の例の場合、リフレッシュアド
レスの最下位アドレスA0から順番に負荷容量が少ない
メモリアドレスを割り当てればよい。ところで、リフレ
ッシュアドレスの最下位アドレスから順番に、負荷容量
が少ないメモリアドレスを割り当てる場合、リフレッシ
ュアドレス(An−1,An−2,・・・・・ ,A0)とメ
モリアドレス(MAn−1,MAn−2,・・・・・ ,MA
0)とが対応しなくなるがリフレッシュ動作に何ら問題
がない。以下、その理由について説明する。
格納されているデータがキャパシタのリーク電流により
失われてしまうリフレッシュ時間tREF 内に全てのメモ
リアドレスに格納されているデータを読み出して再書き
込みを行なうことである。したがって、リフレッシュ動
作は小さいメモリアドレスから順番に行われる必要はな
く、リフレッシュ時間tREF 内に全てのメモリアドレス
のデータの再書き込みが終了していればよいことにな
る。
シュアドレスの最下位アドレスから順番に、負荷容量が
少ないメモリアドレスを割り当てた場合のリフレッシュ
動作について説明する。図3は、リフレッシュアドレス
とメモリアドレスとの対応関係を表す一例の説明図を示
す。また、図4は図3の対応関係に基づくリフレッシュ
動作の順番を表す一例の説明図を示す。
2,A1,A0)をメモリアドレス(MA2,MA1,
MA0)にそのまま対応させており、メモリアドレス側
の負荷容量については何ら考慮されていない。図3
(B)はリフレッシュアドレス(A2,A1,A0)を
メモリアドレス(MA2,MA1,MA0)にそのまま
対応させておらず、リフレッシュアドレスの最下位アド
レスA0から順番に負荷容量が少ないメモリアドレスを
対応させている。
1,A0)は、図1のタイミング図に表すような変化を
するものとする。また、メモリアドレス(MA2,MA
1,MA0)に接続されている負荷容量は、MA1,M
A2,MA0の順番に大きくなっている。図3(A)の
場合、リフレッシュアドレス(A2,A1,A0)をメ
モリアドレス(MA2,MA1,MA0)にそのまま対
応させているので、図4(A)に示すようなタイミング
でメモリアドレス(MA2,MA1,MA0)が変化す
る。したがって、リフレッシュ時間tREF 内にメモリア
ドレスは(MA2,MA1,MA0)=(0,0,
0),(0,0,1),・・・・・ ,(1,1,1)の順に
カウントアップされ、全てのメモリアドレスのデータの
再書き込みが終了していることになる。
ドレス(A2,A1,A0)をメモリアドレス(MA
2,MA1,MA0)にそのまま対応させておらず、リ
フレッシュアドレスの最下位アドレスA0から順番に負
荷容量が少ないメモリアドレスを対応させている。具体
的には、最下位リフレッシュアドレスA0と、接続され
ている負荷容量が一番少ないメモリアドレスMA1とを
対応させ、最上位リフレッシュアドレスA2と、接続さ
れている負荷容量が一番大きいメモリアドレスMA0と
を対応させている。
ミングでメモリアドレス(MA2,MA1,MA0)が
変化する。ここで、リフレッシュ時間tREF 内にメモリ
アドレスは(MA2,MA1,MA0)=(0,0,
0),(0,1,0),(1,0,0),(1,1,
0),(0,0,1),(0,1,1),(1,0,
1),(1,1,1)の順に変化し、全てのメモリアド
レスのデータの再書き込みが終了していることになる。
レッシュアドレスの最下位アドレスA0から順番に負荷
容量が少ないメモリアドレスを対応させたとしても、リ
フレッシュ時間tREF 内に全てのメモリアドレスのデー
タの再書き込みが終了しており、リフレッシュアドレス
(An−1,An−2,・・・・・ ,A0)とメモリアドレ
ス(MAn−1,MAn−2,・・・・・ ,MA0)とが対
応しなくなったとしてもリフレッシュ動作に何ら問題が
ない。
レスから順番に負荷容量が少ないメモリアドレスを対応
させた半導体記憶装置について説明する。図5は、本発
明の半導体記憶装置の一実施例の構成図を示す。図5の
半導体記憶装置1は、外部から制御信号を供給されるバ
ッファ10と、外部からアドレス信号を供給されるバッ
ファ12と、リフレッシュアドレス信号を出力するカウ
ンタ14と、選択器16と、メモリセルアレイ20と、
メモリセルアレイ20から供給されたデータを外部に出
力又は外部から入力されたデータをメモリセルアレイ2
0に供給するバッファ22とを含む構成である。なお、
半導体記憶装置1のリフレッシュ動作以外は従来のもの
と同様であり説明を省略する。
なう場合、選択器16を制御してカウンタ14から供給
されるリフレッシュアドレス信号をメモリセルアレイ2
0に供給する。本願発明の半導体記憶装置1は、設計段
階で各メモリアドレスの負荷容量を検出しておき、その
検出結果に基づいてリフレッシュアドレスの最下位アド
レスから順番に負荷容量が少ないメモリアドレスを対応
させた構造となっている。例えば、図3(B)に示すよ
うな構造である。
最も変化が頻繁に起こる最下位アドレスから順番に負荷
容量が少ないメモリアドレスを対応させた構造となって
おり、消費電流を最小とすることができる。図6は、本
発明の半導体記憶装置に含まれるカウンタの一例の構成
図を示す。図6のカウンタ14は、分周器30−0〜3
0−(n−1)を含む構成であり、入力端子REF からリ
フレッシュ動作を行なう毎にパルス信号が入力される。
そのパルス信号は最初に分周器30−0に供給され分周
された後、分周器30−1に供給される。そのあと、3
0−1に供給されたパルス信号は更に分周された後、分
周器30−2に供給される。以下同様に、分周器30−
2〜30−(n−1)に次々に供給され順次分周された
信号が出力される。
1)からの出力信号Out0〜Outn−1はリフレッ
シュアドレスA0〜An−1に対応しており、リフレッ
シュアドレスの最下位アドレスA0がOut0に対応
し、リフレッシュアドレスの最上位アドレスAn−1が
Outn−1に対応する。なお、分周器30−0〜30
−(n−1)の一例の構成図を図中に示しておく。
0〜Outn−1をリフレッシュアドレスA0〜An−
1として利用する場合について説明すると、設計段階で
検出してある各メモリアドレスの負荷容量に基づいて、
出力信号Out0から順番に負荷容量が少ないメモリア
ドレスを対応させる。以上のように、頻繁に振幅(デー
タ状態:High/Low)が変化するリフレッシュア
ドレスの最下位アドレスから順番に、負荷容量が少ない
メモリアドレスを割り当てることにより消費電力を最小
にすることが可能となる。なお、本実施例ではリフレッ
シュアドレス及びメモリアドレスが3ビットの例につい
て動作の説明をしたが、これに限ることなく様々な形態
が可能である。
れば、アドレス信号発生手段からメモリセルに格納する
ことができるデータに応じた第1アドレス信号が順次出
力され、その第1アドレス信号を構成する複数のビット
信号のうちデータ状態の変化(High/Low)が頻
繁なビット信号ほど負荷容量が小さくなるように、前記
複数のビット信号を前記データを読み出して再書き込み
するメモリアドレスに割り当てることにより、データ保
持のために必要なデータを読み出して再書き込みする動
作の消費電力を削減することが可能である。
化が頻繁なビット信号に負荷容量が大きいメモリアドレ
スが割り当てられた場合に消費電流が大きくなることに
基づいたもので、頻繁にデータ状態が変化するビット信
号に負荷容量が小さいメモリアドレスを割り当て、デー
タ状態の変化が少ないビット信号に負荷容量が大きいメ
モリアドレスを割り当てることにより、データ保持のた
めに必要なデータを読み出して再書き込みする動作の消
費電力を削減することが可能となる。
データを読み出して再書き込みする動作の消費電力を削
減することにより、半導体記憶装置を利用している例え
ば携帯用電子機器の可働時間の延長が可能となる。ま
た、請求項2記載の本発明によれば、アドレス信号発生
手段からメモリセルに格納することができるデータに応
じた第1アドレス信号が順次出力され、その第1アドレ
ス信号を構成する複数のビット信号のうちデータ状態の
変化が頻繁なビット信号ほど負荷容量が小さくなるよう
に、前記リフレッシュを行なうメモリアドレスに割り当
てることにより、データ保持のために必要なリフレッシ
ュ動作の消費電力を削減することが可能である。
記複数のビット信号のうちデータ状態の変化が頻繁なビ
ット信号ほど負荷容量が小さく,データ状態の変化が少
ないビット信号ほど負荷容量が大きくなるように前記第
1アドレス信号を構成する複数のビット信号と、前記リ
フレッシュを行なうローアドレスとを一対一に対応され
ることにより、データ保持のために必要なリフレッシュ
動作の消費電力を削減することが可能である。
ドレス信号発生手段からメモリセルに格納することがで
きるデータに応じた第1アドレス信号が順次出力され、
その第1アドレス信号を構成する複数のビット信号のう
ちデータ状態の変化が頻繁なビット信号ほど負荷容量が
小さくなるように、前記複数のビット信号を前記データ
を読み出して再書き込みするメモリアドレスに割り当て
ることにより、データ保持のために必要なデータを読み
出して再書き込みする動作の消費電力を削減することが
可能である。
図である。
応関係を表す一例の説明図である。
番を表す一例の説明図である。
ある。
一例の構成図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 所定時間毎にメモリセルに格納している
データを読み出して再書き込みする半導体記憶装置にお
いて、 前記メモリセルに格納するデータのメモリアドレスに応
じた第1アドレス信号を順次出力するアドレス信号発生
手段を有し、 前記第1アドレス信号を構成する複数のビット信号のう
ちデータ状態の変化が頻繁なビット信号ほど負荷容量が
小さくなるように、前記複数のビット信号を前記データ
を読み出して再書き込みするメモリアドレスに割り当て
ることを特徴とする半導体記憶装置。 - 【請求項2】 ロー及びコラムに対応して縦横に配列さ
れるメモリセルと、 リフレッシュ時に前記メモリセルに格納するデータのロ
ーアドレスに応じた第1アドレス信号を順次出力するア
ドレス信号発生手段と、 前記第1アドレス信号を構成する複数のビット信号のう
ちデータ状態の変化が頻繁なビット信号ほど負荷容量が
小さくなるように、前記複数のビット信号を前記リフレ
ッシュを行なうローアドレスに割り当てるように接続す
る配線パターンとを有することを特徴とする半導体記憶
装置。 - 【請求項3】 前記配線パターンは、 前記第1アドレス信号を構成する複数のビット信号と、 前記リフレッシュを行なうローアドレスとを、前記複数
のビット信号のうちデータ状態の変化が頻繁なビット信
号ほど負荷容量が小さく,データ状態の変化が少ないビ
ット信号ほど負荷容量が大きくなるように一対一に対応
させることを特徴とする請求項2記載の半導体記憶装
置。 - 【請求項4】 所定時間毎にメモリセルに格納している
データを読み出して再書き込みするために利用するアド
レス信号のアドレス信号供給方法において、 前記メモリセルに格納するデータのメモリアドレスに応
じた第1アドレス信号を順次出力する段階と、 前記第1アドレス信号を構成する複数のビット信号のう
ちデータ状態の変化が頻繁なビット信号ほど負荷容量が
小さくなるように前記データを読み出して再書き込みす
るメモリアドレスに割り当てる段階とを有することを特
徴とするアドレス信号供給方法。
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