JP2000304512A - 幅測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】狭い領域に多数の長尺状被測定物があり、かつ
この長尺状被測定物が走行する際に被測定物の幅が測定
可能なテープ幅測定装置を提供し、高価なレーザ測長器
を使用することなく非接触でかつ連続して光学的に測定
する幅測定装置を提供する。 【解決手段】走行する長尺状被測定物の一方にあって、
長尺状被測定物の幅方向にこの長尺状被測定物の幅より
広い範囲でレーザ光を扇状に投光する発光体と、この長
尺状被測定物の他方にあって、発光体から投光される扇
状のレーザ光の長尺状被測定物によって遮蔽されない両
端部のレーザ光をそれぞれ受光してその光量を検出する
受光体の対と、前記発光体および前記受光体の対のうち
少なくとも前記受光体の対を固定する測定支持台と、こ
の一対の受光体が受光したそれぞれの光量から長尺状被
測定物の幅を演算する演算手段とを有する幅測定装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、高速で走行する長
尺状被測定物の幅の変動を測定する幅測定装置の技術分
野に属し、特に、幅の広いテープ素材をスリッタで裁断
する際に、裁断されたテープが所定の幅に裁断されてい
ることを測定するテープの幅測定装置の技術分野に属す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来より、テープレコーダ、ＶＴＲ等の
磁気記録再生装置に使用される磁気テープ等を幅の広い
素材から数十本ないし百数十本にスリッタで裁断して、
個々の磁気テープとして巻き取る磁気テープのスリッタ
装置が知られている。この磁気テープのスリッタ装置で
裁断された磁気テープの幅の変動を光学的に測定するテ
ープ幅測定装置は、特開平７−１８２７２４号公報、特
開平８−３２７３３０号公報およびこの特開平８−３２
７３３０号公報に従来技術として記載されている株式会
社小坂研究所製のＺＤＲ型等で公知となっていた。

【０００３】しかし、特開平７−１８２７２４号公報お
よび特開平８−３２７３３０号公報に開示されているテ
ープ幅測定装置は、スリッタ装置で裁断して巻取られた
磁気テープの幅の変動を別のテープ幅測定装置で測定す
るものであって、スリッタ装置で裁断された直後の磁気
テープの幅をインラインで裁断直後に測定するものでは
ない。

【０００４】また、株式会社小坂研究所製のＺＤＲ型
は、特開平８−３２７３３０号公報に記載されているよ
うに、「こうした従来の測定装置は、既存の磁気テープ
の幅測定装置には支障なく適用できるが、信号記録密度
がさらに高度化されたものにおいては、テープ側縁の真
直度の許容範囲が小さく、（中略）適用できない。テー
プ側縁の真直度の周期的な変動に関しても、従来装置で
は１００ｍｍ前後の周期で観察するのが限度であり、よ
り小さい周期に対しては信頼性が低い。」ものである。

【０００５】ここで、特開平７−１８２７２４号公報お
よび特開平８−３２７３３０号公報に開示されているテ
ープ幅測定装置をもう少し詳細に説明する。特開平７−
１８２７２４号公報に開示されている発明は、スリッタ
装置で裁断した直後の高速で走行する磁気テープの幅の
変動（およびテープの真直度）を測定するものではな
く、ゆっくり走行するテープのテープ幅の変動とテープ
の真直度（ウェービング）の測定に加えて、走行するテ
ープの上下変動（走行するテープの上下方向の移動）を
も測定しようとするものであって、３個の光学的な測定
器を使用してテープ幅変動とウェービングおよび上下変
動を測定するものである。

【０００６】そして、この特開平７−１８２７２４号公
報に開示されたテープ測定装置において、走行テープの
テープ幅変動とウェービング（テープの真直度）を測定
する部分の基本的な構成は、図５に示すように、２個の
測定器４０、４１の投光部４２、４３からテープの幅方
向の線状に投射されたレーザ光４４、４５は、テープＴ
によってその一部が遮断され、遮断されなかった光のみ
が受光部４６、４７で受光される。そして、この受光部
４６、４７で受光された光量を検出し、演算装置４８で
演算してテープ幅変動とウェービング（テープの真直
度）を算出するものである。

【０００７】また、特開平８−３２７３３０号公報に開
示されている発明は、固定されたテープに所定のテンシ
ョンを与え、この所定のテンションで張られて静止して
いるテープＴに平行に移動するレーザ測長器でテープ幅
変動とテープの真直度を測定するものであって、図６に
示すように、レーザ測長器５０の投光部５１から投射さ
れたレーザ光はテープＴによってその一部が遮断され、
遮断されなかった光のみが受光部５３で受光される。そ
して、この受光部５３で受光した光の位置を測定し、演
算装置５４で仮想基準位置ＰからテープＴの一方の側縁
Ｓまでの距離Ｘとテープの幅Ｂを算出して、テープ幅変
動とテープの真直度を測定するものである。

【０００８】これらの従来技術は、いずれも静止したテ
ープやゆっくり走行するテープのテープ幅変動等を測定
する場合、比較的精度の高いものであるが、スリッタ装
置で裁断された直後の高速で走行するテープの測定に
は、より適した技術が望まれている。

【０００９】また、これらの従来技術に使用されるレー
ザ測長器は、形状がかなり大きいために、幅の広い素材
から数十本ないし百数十本にスリッタで裁断された磁気
テープのように、狭い領域に多数の被測定物があるとき
には、これらの被測定物をインラインで同時に測定する
ことは困難であり、インラインで全数を連続的に測定す
ることは実質的に不可能であった。仮に、あえてインラ
インで測定しようとする場合には、裁断後の磁気テープ
の搬送経路に、その分のスペースを確保しなければなら
ず、場合によっては、スペースを確保するために磁気テ
ープの搬送経路自体を変更する必要があった。また、た
とえ裁断後の磁気テープの搬送経路に、スペースを確保
して被測定物をインラインで同時に測定することが可能
となったとしても、磁気テープの搬送を開始する際に裁
断された複数の磁気テープがロールに巻き取られるよう
に、磁気テープを搬送経路に配置する初期作業を行なう
作業スペースや偶然磁気テープが切断した場合、切断し
た部分の磁気テープを接続する等の補修処置を作業者が
行なえる作業スペースが必要であり、このような作業ス
ペースを実際確保することは困難であった。

【００１０】また、テープ幅の測定装置として使用する
レーザ測長器（レーザ外径測定器）は比較的高価であ
り、市販されているレーザ測長器は、４０ｍｍの幅を測
定するものの場合、１個が数十万円程度の価格となり、
数十本ないし百数十本に裁断されたテープ各々に対応し
て、インラインでテープ幅を測定するには膨大な費用を
必要とする。一方、安価なレーザー素子およびフォトダ
イオードを用いると、熱による出力電圧の熱ドリフトに
よって、測定誤差が大きくなり、安定したテープ幅の測
定が困難であった。また、レーザ測長器、特にレーザ外
径測定器は、投光されるレーザ光をテープの幅方向に走
査しているため、テープが高速で走行している場合に
は、テープ幅の測定点は、レーザ光の走査の１周期に２
回のみの点となり、実質的にサンプリング周期となって
連続的な測定はできなかった。しかも、高速走行するテ
ープの場合、テープ長手方向の測定位置がテープ左右で
異なるため、テープ幅を正確に測れなかった。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記従来技
術の問題点を解消し、例えば狭い領域に多数のテープが
あり、かつこのテープが高速で走行する磁気テープのス
リッタ装置等に適用可能であり、高価なレーザ測長器、
特にレーザ外径測定器を使用することなく、測定誤差の
少ない、非接触でかつ連続して光学的に測定することの
できる幅測定装置を提供することを第１の目的とする。
さらに、本発明は、上記従来技術の問題点を解消し、例
えば狭い領域に多数の磁気テープがあっても、作業者の
行なえる作業スペースを確保しつつ、レーザ測長器、特
にレーザ外径測定器等のような高価なものを使用するこ
となく、測定誤差が少なく製作コストを低減した、非接
触でかつ連続して光学的に測定することのできる幅測定
装置を提供することを第２の目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】前記第１の目的を達成す
るために、本発明における第１の態様は、走行する長尺
状被測定物の一方にあって、前記長尺状被測定物の幅方
向に前記長尺状被測定物の幅より広い範囲でレーザ光を
扇状に投光する発光体と、前記長尺状被測定物の他方に
あって、前記発光体から投光される扇状のレーザ光の前
記長尺状被測定物によって遮蔽されない両端部のレーザ
光をそれぞれ受光してその光量を検出する一対の受光体
と、前記発光体と前記一対の受光体とを一組として固定
する測定支持台と、この一対の受光体が受光したそれぞ
れの光量から長尺状被測定物の幅を演算する演算手段と
を有することを特徴とする幅測定装置を提供するもので
ある。

【００１３】ここで、前記発光体と前記一対の受光体
は、所定の幅を有する校正ゲージを配置した校正位置に
一体となって移動され位置決めされた後、前記発光体か
ら投光される扇状のレーザ光のうち、前記校正ゲージに
よって遮蔽されない両端部のレーザ光をそれぞれ受光し
て前記発光体および前記一対の受光体の校正を行う校正
手段が付加された幅測定装置であることが好ましく、前
記長尺状被測定物は、スリッタで裁断した直後の磁気テ
ープであることが好ましい。また、前記演算手段は、前
記一対の受光体が受光したそれぞれの光量を加算して長
尺状被測定物の幅の増減を測定することが好ましく、前
記発光体と前記一対の受光体とを固定した前記測定支持
台の前記長尺状被測定物の走行方向の前後に、走行する
前記長尺状被測定物のカッピングを除去するカッピング
除去バーを設置することが好ましい。

【００１４】さらに、前記測定支持台は、複数本並列し
て走行する前記長尺状被測定物に対応して、前記発光体
と前記一対の受光体とを一組として、複数組を並列して
固定配置することが好ましく、また、複数本並列して走
行する前記長尺状被測定物に対応して、前記発光体と前
記一対の受光体とを組にして、複数組を並列して固定配
置した測定支持台を有し、前記校正手段は、並列配置さ
れた前記発光体と前記一対の受光体との複数組に対応し
て前記測定支持台にそれぞれ配置されることが好まし
い。加えて、前記発光体は、輝度安定性のよいＡＰＣ
（Auto Power Control) 機能を具備していることが好ま
しい。

【００１５】前記第２の目的を達成するために、本発明
の第２の態様は、複数の長尺状被測定物の一方にあっ
て、前記長尺状被測定物の幅方向にレーザ光が扇状に拡
がって、前記複数の長尺状被測定物のうち、並走してい
る少なくとも２本の幅全体を投光する単一の発光体と、
前記長尺状被測定物の他方にあって、前記発光体から投
光される扇状のレーザ光の前記長尺状被測定物によって
遮蔽されない両端部のレーザ光をそれぞれ受光してその
光量を検出する前記複数の長尺状被測定物に対応した複
数の受光体の対と、この複数の受光体の対を前記長尺状
被測定物の幅方向に並列して固定する測定支持台と、前
記複数の受光体の対が受光したそれぞれの光量から前記
複数の長尺状被測定物各々の幅を演算する演算手段とを
有することを特徴とする幅測定装置を提供するものであ
る。

【００１６】その際、前記発光体は、前記長尺状被測定
物の幅方向に扇状に投光するレーザ光の輝度分布が均一
であることが好ましく、あるいは、前記演算手段は、前
記長尺状被測定物の幅を演算する際に、前記長尺状被測
定物の幅方向に扇状に拡がる前記レーザ光の前記幅方向
の輝度分布とこのレーザ光を受光する前記受光体の前記
幅方向の位置とから輝度値を得て、前記長尺状被測定物
の幅の値を補正する輝度分布補正を行なうのが好まし
い。また、前記受光体の対は、所定の幅を有する校正ゲ
ージを配置した校正位置に複数個の前記受光体の対が一
体となって移動され位置決めされた後、前記発光体から
投光される扇状のレーザ光のうち、前記校正ゲージによ
って遮蔽されない両端部のレーザ光をそれぞれ受光して
前記複数個の受光体の対の校正を行う校正手段が付加さ
れるのが好ましく、さらに前記校正ゲージによる校正の
際、前記校正ゲージを長尺状被測定物として前記輝度分
布補正を行なうのが好ましい。また、前記発光体は、前
記校正手段で受光体の対の校正を行う際、前記測定支持
台とともに一体となって移動してもよい。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の第１の態様に係る
幅測定装置について、添付の図面に示される好適実施例
をもとに詳細に説明する。なお、同一の部品や部材が複
数用いられている場合、同一の参照番号を付すととも
に、同一の部品であっても配置される位置の異なるもの
は、参照番号の後にａ，ｂ，ｃ等の添字を設けて区別す
る。図１は本発明の第１の態様に係る幅測定装置を適用
したテープ幅測定装置の一実施例を概念的に示す正面図
であり、図２は図１の平面図、図３は測定ブロックの要
部を示す図１のＡ−Ａ断面図、図４は測定ブロックの校
正方法を示す断面図である。以下においては、本発明の
第１の態様に係る幅測定装置を磁気テープなどのテープ
幅を測定するためのテープ幅測定装置に適用した例を代
表例として説明するが、本発明はこれに限定されるわけ
ではない。

【００１８】本発明の第１の態様に係る幅測定装置の一
実施例であるテープ幅測定装置が適用されるスリッタ装
置は、図１に示すように、テープレコーダ、ＶＴＲ等の
磁気記録再生装置に使用される磁気テープ等を幅の広い
素材として巻き取られた素材ロール１と、この素材ロー
ル１から引き出された幅の広い素材２を、たとえばＶＨ
Ｓ用のビデオテープの場合には１２．６５０ｍｍの幅の
テープＴにスリッタ３で裁断して、個々の磁気テープ４
として巻き取られて磁気テープのロール５となるように
構成されている。

【００１９】これらテープＴのテープ幅は、テープＴの
用途に応じて±数μｍの範囲で管理されており、テープ
幅測定装置６は、テープ幅の変動がこの許容誤差内にな
るように裁断されていることを確認するために使用する
ものであって、スリッタ３の直後に設けられている。

【００２０】スリッタ３で裁断された個々の磁気テープ
４は、図２に平面的に示すように、並列して走行する多
数の磁気テープ４の１本毎に上段に位置する上段の磁気
テープ４ａ、中段に位置する中段の磁気テープ４ｂおよ
び下段に位置する下段の磁気テープ４ｃに分けて搬送さ
れ、それぞれ上段のテープ幅測定装置６ａ、中段のテー
プ幅測定装置６ｂ、下段のテープ幅測定装置６ｃによっ
てテープ幅の変動が検出される。そして、これらのテー
プ幅測定装置６ａ、６ｂ、６ｃの前後には、テープ幅を
測定する際に個々の磁気テープ４ａ、４ｂ、４ｃのカッ
ピングを除去する周知のカッピング除去バー７ａ、７
ｂ、７ｃおよび８ａ、８ｂ、８ｃが設けられている。

【００２１】以下、テープ幅測定装置６を図面に基づい
て詳細に説明する。図３は測定ブロックの要部を示すも
ので、図１に示すように、テープの走行方向に直角にＡ
−Ａ線で切断した断面図である。図において、テープ幅
測定装置６は、上部に設けられた発光体であるレーザ素
子１０と下部に設けられた一対の受光体であるフォトダ
イオード１１、１２とからなっており、このレーザ素子
１０と一対のフォトダイオード１１、１２を一組として
固定して測定ブロック１４を形成し、測定支持台１７を
構成している。

【００２２】このレーザ素子１０は、発振したレーザ光
を線状に投光するように、非球面のコリメータレンズと
ロッドレンズによって扇状のレーザ光１５に変換して投
射するもので、テープＴの幅方向すなわちテープの走行
方向に直交する方向（図３の左右方向）に扇状のレーザ
光１５を投射し、投光される扇状のレーザ光１５の幅が
テープＴの幅よりわずかに広くなるように上下方向の位
置を位置決めして固定されている。

【００２３】この扇状のレーザ光１５は、レーザ素子１
０と一対のフォトダイオード１１、１２の間を走行する
テープＴによって遮断され、テープＴの外側に投射され
た光のみが一対のフォトダイオード１１、１２に到達し
て、一対のフォトダイオード１１、１２でこの光量を検
出する。この一対のフォトダイオード１１、１２で検出
された光量は、演算手段１６を有するコンピュータに伝
達されて、後述するように、テープ幅の変動および真直
度が求められ、あるいはそのデータが記憶装置に記憶さ
れる。

【００２４】図１および図２に示すように、このように
して構成された測定ブロック１４からなるテープ幅測定
装置６は、テープが複数本並列して走行する個々の磁気
テープ４のそれぞれに対応して設けられる。すなわち、
上段に位置する上段のテープ４ａには、それぞれのテー
プ４ａに対応するレーザ素子１０と一対のフォトダイオ
ード１１、１２とから形成される複数個の測定ブロック
１４が形成される。この上段のテープ幅測定装置６ａの
前後には、スリッタ装置の全幅を通して設けられたカッ
ピング除去バー７ａおよび８ａが配置されており、テー
プ幅測定装置６の位置におけるテープ４ａにカッピング
が生じることを防止している。また、カッピング除去バ
ー７ａおよび８ａは、磁気テープ４ａのテープ面に垂直
方向の変動も防止している。そして、テープ幅測定装置
６ａで測定された磁気テープ４ａは、磁気テープのロー
ル５ａとしてリールに巻き取られる。

【００２５】テープ幅測定装置６ｂおよび下段のテープ
幅測定装置６ｃにおいても、上段のテープ幅測定装置６
ａと同様に、中段に位置する中段のテープ４ｂおよび下
段に位置する下段の磁気テープ４ｃそれぞれに対応し
て、レーザ素子１０と一対のフォトダイオード１１、１
２とから複数個の測定ブロック１４が形成される。そし
て、この中段のテープ幅測定装置６ｂおよび下段のテー
プ幅測定装置６ｃの前後には、それぞれスリッタ装置の
全幅を通して設けられたカッピング除去バー７ｂ、８ｂ
および７ｃ、８ｃが配置されている。なお、テープ幅測
定装置６は、上段、中段および下段の３段構成とされる
が、本発明における幅測定装置において３段構成に限ら
れず、２段や４段等の構成であってもよい。

【００２６】図３から明らかなように、フォトダイオー
ド１１、１２にレーザ素子１０からの扇状のレーザ光１
５が投射される部分とテープＴによって遮断されてレー
ザ光１５が投射されない部分との境界線Ｌをフォトダイ
オード１１、１２の受光素子のほぼ中央に位置すること
によって、境界線Ｌの移動すなわちテープの側縁の変動
を受光量の変化として検出することができる。そして、
一対のフォトダイオード１１、１２の感度を同じにし
て、境界線Ｌの移動による受光量の変化によってフォト
ダイオード１１、１２に生じる電圧の変化が一致するよ
うに双方のフォトダイオード１１、１２の出力を調整す
ることによって、同じ量の境界線Ｌの移動すなわちテー
プの側縁の変動を同じ量の電圧の変化として正確に検出
するフォトダイオード１１、１２の対を得ることができ
る。一方、予め種々のテープ幅とフォトダイオード１
１、１２の受光量による出力電圧との関係を測定して求
め（必ずしも比例関係にあるとは限らない）、検量線を
作っておき、演算手段１６に取り込んでおく。

【００２７】このような場合、たとえば図３においてテ
ープＴが幅寸法が変化することなくわずかに右方向に移
動したときには、右側のフォトダイオード１１の受光量
が減少し、その出力の電圧もテープＴの移動量に対応し
て減少する。一方、左側のフォトダイオード１２の受光
量はテープＴの移動量に対応して増加するので、右側の
フォトダイオード１１で減少した受光量と同量の受光量
が増加し、その出力もテープＴの移動量に対応して増加
し、右側のフォトダイオード１１で減少した電圧と同量
の電圧が増加する。

【００２８】また、右側のテープの側縁のみが右方向に
移動してテープＴの幅寸法がその移動量だけ増加したと
きには、右側のフォトダイオード１１の出力のみが移動
量に対応して減少し、左側のフォトダイオード１２の出
力は変動しない。そこで、フォトダイオード１１、１２
の出力電圧を演算手段１６に取り込み、前述の検量線を
用いることで、テープＴのスリット後のテープ幅の実測
が可能となる。

【００２９】つまり、テープ幅測定装置６では、テープ
Ｔの幅寸法の減少量が、演算手段１６によって右側のフ
ォトダイオード１１の出力と左側のフォトダイオード１
２の出力を加算し、前述の検量線を用いることで求めら
れる。また、右側のフォトダイオード１１の出力から左
側のフォトダイオード１２の出力を減算して２分の１に
し、この値に基づいてテープＴの中央の左側への移動量
を求めることもできる。もちろん、テープＴの右側また
は左側の側縁の移動量（テープの側縁の真直度）は、テ
ープＴの中央の移動量にテープＴの幅寸法の２分の１を
加減算することによって求めることもできる。そして、
この測定値は、所定の時間間隔、たとえば２ｍｓｅｃ毎
に採取されて、演算手段１６で演算されてテープ幅およ
び真直度の実測値として出力され、あるいはコンピュー
タを通して記憶装置に記憶される。

【００３０】本実施例のテープ幅測定装置６は、上述し
たように、発光体として扇状のレーザ光を投射する半導
体レーザ素子を使用し、受光体としてフォトダイオード
を使用しているので、非常に安価に製造することができ
る。しかし、安価な部品を構成要素として使用している
ので、外部の環境によって測定値に誤差が生じることは
避けられない。特に、フォトダイオードは、温度によっ
て特性が変化するので、長時間連続運転している間に周
囲の温度に変化が生じると、測定値に誤差が生じること
になる。

【００３１】これを防止するために、本実施例のテープ
幅測定装置６では、測定値の誤差が許容範囲内にある間
に、図４に示すように、それぞれの測定ブロック１４の
測定値を一括して校正している。ここで、実線で描かれ
ているレーザ素子１０およびフォトダイオード１１、１
２の位置は、テープＴの幅および真直度を測定する位置
すなわち測定位置に描かれており、これらのレーザ素子
１０およびフォトダイオード１１、１２によって形成さ
れる測定ブロック１４は、複数本のテープＴに対応して
複数個設けられている。なお、図３では、裁断された一
本のテープＴに対して、レーザ素子１０の設置個数を一
個とし、レーザ素子１０より投光するレーザ光を扇状と
して説明したが、必ずしもこれに限られるものではな
く、レーザ光の投光形状は、例えば図５に示すような形
状であってもよいし、レーザ素子一個で、複数本のテー
プＴにレーザ光を投光させてもよい。

【００３２】この複数本のテープＴの右側には、それぞ
れの測定ブロック１４の測定値を校正するための校正ゲ
ージとなる基準ゲージ２０が固定されている。この基準
ゲージ２０は、テープの裁断される幅（基準寸法）に正
確に一致するように製作されたもので、必要に応じてそ
の誤差も図示しないコンピュータに記憶されている。測
定ブロック１４は、所定の時間間隔またはテープ１巻の
巻き取り終了毎に、あるいは数分〜１０数分の間隔で測
定ブロック１４によるテープＴの測定を中断して、測定
支持台１７の移動によって一斉に上昇し、右に移動して
想像線で描かれている校正位置に移動する。

【００３３】ここで、この校正位置は、測定支持台１７
の移動によって、発光部と一対の受光部からなる測定ブ
ロック１４からの相対位置が測定時のテープＴと同じ位
置になるように、しかもテープ幅測定時の測定値が犠牲
にならない範囲内で配置された基準ゲージ２０の設置位
置であって、テープＴの測定と同様にして基準ゲージ２
０の幅を測定して、この測定値をテープ幅の基準寸法
（誤差が記憶されているときは、誤差を補正した基準寸
法）として校正する。なお、本実施例では、校正手段と
して、校正位置へ測定支持台１７を移動することによっ
て校正を行っているが、校正時、測定支持台を固定し、
基準ゲージを搬送されるテープＴの位置へ移動させるこ
とによって校正させてもよい。これにより、発光部およ
び一対の受光部を移動させることなく校正することがで
きる。なお、この場合、テープＴが存在し、基準ゲージ
の移動によりテープＴが基準ゲージと接触することのな
いように、テープＴを移動させることが必要である。

【００３４】このような校正手段によって行われる校正
は、所定の幅を有する基準ゲージ２０に対して、レーザ
素子１０から投光される扇状のレーザ光を照射し、基準
ゲージ２０によって遮蔽されない両端部のレーザ光をそ
れぞれフォトダイオード１１、１２によって受光し、フ
ォトダイオード１１、１２からの出力電圧を加算して校
正電圧を得、演算手段１６に記憶する。この校正電圧が
基準ゲージ２０の基準寸法に対応するため、以降のテー
プ測定において得られる電圧の校正電圧からのずれが、
テープにおける基準寸法からのテープ幅のずれとされ、
テープ幅が補正されることになる。本実施例では、この
ように短い時間間隔で繰り返して校正するので、外部の
環境、特に温度の変化によってフォトダイオードの特性
に変化が生じたとしても、測定値に影響を与える前に校
正することができる。

【００３５】このようなテープ幅測定装置６を用いて、
スリッタ装置で模擬的に裁断した磁気テープの幅を測定
し、その後同一の裁断された磁気テープのテープ幅を従
来のレーザ測長器５０を用いて測定した。具体的には、
広幅の磁気テープをスリッタ装置で１／２インチテープ
幅で複数本に裁断し、上段、中段および下段に順次振り
分けた。その結果、この模擬裁断では、各段の磁気テー
プは３／２インチ間隔毎に走行することになり、この３
／２インチ毎に走行する磁気テープの間に１／２インチ
幅の基準ゲージ２０が配置された。レーザ素子１０は、
レーザ光を扇状に投光する市販のレーザ素子を用い、フ
ォトダイオード１１、１２も市販のものを用いた。レー
ザ素子１０と磁気テープの間隔は３０ｍｍであり、磁気
テープとレーザ素子１０、１１の間隔は１５ｍｍであっ
た。テープ幅測定装置６の幅測定のサンプリング周期を
２ｍＳｅｃとし、測定データは演算手段１６であるコン
ピュータに送られた。一方、この裁断された磁気テープ
の同一の場所のテープ幅を従来のレーザ測長器５０を用
いて測定した。

【００３６】その結果、テープ幅測定装置６で測定され
た磁気テープのテープ幅の平均値は１２．６４６ｍｍ、
幅変動は０．００３４ｍｍであり、一方、従来のレーザ
測長器５０で測定された磁気テープのテープ幅の平均値
は１２．６４６ｍｍ、幅変動は０．００３６ｍｍであ
り、テープ幅の平均値および幅変動はほぼ一致し、いず
れもテープ幅が許容範囲内にあると判断された。また、
磁気テープのテープ幅の変動が許容範囲外となるように
模擬的に裁断した磁気テープは、テープ幅測定装置６で
測定した場合、テープ幅の平均値は１２．６４５ｍｍ、
幅変動は０．００７９ｍｍとなり、一方、従来のレーザ
測長器５０で測定した場合、テープ幅の平均値は１２．
６４４ｍｍ、幅変動は０．００８４ｍｍとなり、テープ
幅の平均値および幅変動はほぼ一致し、いずれも許容範
囲外と判断された。これより、テープ幅測定装置を用い
てテープ幅の変動を従来のレーザ測長器と同程度に測定
できることは明らかである。

【００３７】次に本発明の第２の態様に係る幅測定装置
について、添付の図面に示される好適実施例をもとに詳
細に説明する。なお、同一の部品や部材が複数用いられ
ている場合、同一の参照番号を付すとともに、同一の部
品であっても配置される位置の異なるものは、参照番号
の後にａ，ｂ，ｃ等の添字を設けて区別する。

【００３８】図７は、本発明の第２の態様に係る幅測定
装置を適用したテープ幅測定装置の一実施例を示す斜視
図、図８は、図７に示すテープ幅測定装置の断面図、図
９は受光部の対の要部を示す断面図、図１０は受光体の
対の校正方法を示す断面図である。なお、本発明の第２
の態様に係る幅測定装置は、第１の態様の幅測定装置と
同様に、磁気テープなどのテープ幅を測定するためのテ
ープ幅測定装置に適用した例を代表例として説明する
が、本発明はこれに限定されるわけではない。なお、本
発明の第２の態様に係る幅測定装置の一実施例であるテ
ープ幅測定装置において、本発明の第１の態様に係る幅
測定装置のテープ幅測定装置６と同一の構成や機能を有
する構成部分や構成部品については、同一の参照符号を
付する。

【００３９】図７に示されるテープ幅測定装置４６の適
用されるスリッタ装置は、磁気テープ等を幅の広い素材
として巻き取られた素材ロールから引き出された幅の広
い素材２を、たとえばＶＨＳ用のビデオテープの場合に
は１２．６５０ｍｍの幅のテープＴにスリッタ３で裁断
して、個々の磁気テープ４として巻き取られて磁気テー
プのロールとなるように構成される。図７に示されるス
リッタ装置は、図１や図２に示されるスリッタ装置と異
なり上段の磁気テープ４ａと下段の磁気テープ４ｂの２
段に分けて搬送しているが、上段、中段および下段の３
段をはじめ４段等の多段に分けても構わない。

【００４０】テープ幅測定装置４６は、スリッタ３によ
って裁断された並走する複数の磁気テープ４の一方にあ
って、磁気テープ４の幅方向に磁気テープ４の幅より広
い範囲でレーザ光を扇状に投光するレーザ素子５０と、
磁気テープ４の他方にあって、レーザ素子５０から投光
される扇状のレーザ光の磁気テープ４によって遮蔽され
ない両端部のレーザ光をそれぞれ受光してその光量を検
出する複数の磁気テープ４のそれぞれに対応したフォト
ダイオード１１および１２からなる複数のフォトダイオ
ードの対と、この複数のフォトダイオードの対を磁気テ
ープ４の幅方向に並列して固定する測定支持台５７と、
このフォトダイオードの対が受光したそれぞれの光量か
ら磁気テープ４の幅を演算する演算手段５６とを有して
構成される。

【００４１】図７に示されるテープ幅測定装置４６と図
１に示されるテープ幅測定装置６との構成上の相違は、
レーザ素子５０、演算手段５６および測定支持台５７に
あり、他の構成部分や構成部品については、テープ幅測
定装置６の構成部分や構成部品と同一であるため、その
構成および機能の説明を省略する。

【００４２】図７に示されるレーザ素子５０ａは、発光
するレーザ光が帯状で扇状に拡がるもので、磁気テープ
４ａの上方に配置され，扇状にレーザ光を投光し、スリ
ッタ３で切断されて上段に分けられ並走する複数の磁気
テープ４ａの幅全体にレーザ光が均一に投光するため
に、図８に示すように磁気テープ４ａから一定の距離例
えば数１０ｃｍ離間させて構成される。スリッタ３で切
断されて下段に分けられ並走する複数の磁気テープ４ｂ
についても、レーザ素子５０ｂより投光されたレーザ光
が磁気テープ４ｂの幅全体にわたって均一に投光するよ
うに、レーザ素子５０ｂは、図８に示すように、磁気テ
ープ４ｂから一定の距離例えば数１０ｃｍ離間させて磁
気テープ４ｂの下方に配置される。

【００４３】このように上段や下段等に並走する複数の
磁気テープ４ａや４ｂに均一にレーザ光を投光すること
のできるレーザ素子５０ａや５０ｂは、扇状に拡がり、
この拡がる方向に輝度が均一なレーザ光を投光するレー
ザ素子であれば何であってもよい。

【００４４】このように、レーザ素子５０は、磁気テー
プ４から例えば数１０ｃｍの距離をあけて配置されるの
で、磁気テープ４ａの上方には十分な作業スペースが確
保され、また磁気テープ４ｂの下方にも十分な作業スペ
ースが確保される。これによって、磁気テープが切断し
た場合でも、切断した部分の磁気テープを繋げる等の補
修処置を作業者が行なえる。、また、従来幅測定のため
に必要であった磁気テープの搬送経路自体の変更が不要
となる。

【００４５】図７や図８に示される測定支持台５７ａに
は、図９に示されるように、レーザ素子５０ａによって
投光された均一のレーザ光のうち、並走する複数の磁気
テープ４によって遮蔽されないレーザ光を受光して、各
々の磁気テープ４ａのテープ幅の出力電圧を得、この出
力電圧を演算手段５６に送るフォトダイオード１１およ
び１２の複数の対が、並走する複数の磁気テープ４ａの
各々に対応して配置される。測定支持台５７ｂも測定支
持台５７ａと同じようにフォトダイオード１１および１
２の複数の対が並走する複数の磁気テープ４ｂの各々に
対応して配置される。

【００４６】すなわち、テープ幅測定装置４６は、スリ
ッタ３によって裁断して振り分けた磁気テープ４の上段
や下段の各段にレーザ素子５０を一つずつ配置して、各
段の磁気テープ４の幅方向に均一にレーザ光を投光する
のに対し、テープ幅測定装置６では、レーザ素子１０と
一対のフォトダイオード１１および１２を一組とした複
数の組を、並走する複数の磁気テープ４の各々に対応し
て、測定支持台１７上に並列して固定する。そのため、
スリッタ３で百数十本の磁気テープ４に裁断しつつ裁断
した全本数の磁気テープのテープ幅の測定を行なう場
合、テープ幅測定装置４６は上段や下段の各段に例えば
一つのレーザ素子５０を設ければよく、レーザ素子５０
の使用個数が圧倒的に少なく、より一層の製作コストの
低減が可能となり、装置の簡素化も図ることができる。

【００４７】また、図９に示される演算手段５６は、演
算手段１６と同様の構成および機能を有し、演算手段５
６によって右側のフォトダイオード１１の出力電圧と左
側のフォトダイオード１２の出力電圧を加算し、テープ
幅測定装置６と同様にして予め得られている検量線を用
いることでテープＴのテープ幅を求めることができる
が、演算手段５６はさらに、テープＴが同一のテープ幅
であっても、レーザ光の輝度の僅かな不均一な分布によ
ってフォトダイオード１１および１２から得られる出力
電圧がばらつくが、このばらつきを補正するための輝度
分布補正が、フォトダイオード１１および１２から送ら
れた出力電圧に対して行なわれる。

【００４８】すなわち、レーザ素子５０から投光される
レーザ光の輝度分布は、図１１の輝度分布Ｂのように、
両端部を除き均一であることが望ましいが、輝度分布Ｃ
のようにわずかに不均一の場合もある。この場合、磁気
テープの幅が同一であっても、フォトダーオード１１や
１２の出力電圧は輝度分布に対応して変化する。そこ
で、この輝度分布と測定したフォトダイオード１１およ
び１２の位置を知り、輝度値を得、これに基づいて出力
電圧を補正するのである。

【００４９】本発明の第１の態様の実施例であるテープ
幅測定装置６では、磁気テープ４の各々に対応して、レ
ーザ素子１０およびフォトダイオード１１および１２の
対を固定して設置し、その位置関係は変化しないので、
レーザ光の輝度分布が図１１に示す輝度分布Ａのように
レーザ光の中心部分で輝度が高く周辺では低い、いわゆ
るガウス型の分布をしても、レーザ光の輝度分布を考慮
する必要はなく、予め得られている前述の検量線を直接
用いて磁気テープ４のテープ幅を求めることができる。

【００５０】しかし、本発明の第２の態様の一実施例で
あるテープ幅測定装置４６では、レーザ素子５０によっ
て投光されるレーザ光の輝度分布が、輝度分布Ｃのよう
に僅かに不均一となると、フォトダイオード１１および
１２の対は磁気テープ４の各々に対応して測定支持台５
７上の所定の位置に配置されるが、レーザ素子５０はフ
ォトダイオード１１および１２の対一つずつに配置され
ず、複数のフォトダイオード１１および１２の対に一つ
配置されるので、レーザ素子５０に対するフォトダイオ
ード１１および１２の位置によって、投光されるレーザ
光の輝度が変わる。そのため、フォトダイオード１１や
１２に投光するレーザ光の投光面の面積が同じであって
も、輝度が異なるためフォトダイオード１１や１２から
出力される出力電圧が変化し、その結果、同一のテープ
幅であっても異なるテープ幅として測定されてしまう。
このような理由から、レーザ光の輝度分布の不均一さに
よって生じるフォトダーオード１１や１２の出力電圧を
補正するのである。なお、レーザ素子５０から投光され
るレーザ光の輝度分布が輝度分布Ｃのように均一である
場合、この輝度分布補正を省略することができ、演算手
段５６を簡素化することができる。

【００５１】また、測定支持台５７には、外部の環境、
例えば外部の温度等によって測定値に誤差が生じること
を防止するために、テープ幅測定装置６と同様にフォト
ダイオード１１および１２の対の校正を行う校正手段が
設けられる。すなわち、テープ幅測定装置４６では、測
定値の誤差が許容範囲内にある間に、図１０に示すよう
に、並列配置された複数のフォトダイオード１１および
１２の対の測定値を一括して校正する。この複数本並列
して走行するテープＴの右側には、それぞれのフォトダ
イオード１１および１２の対の測定値を校正するための
校正ゲージとなる基準ゲージ２０がテープ幅測定装置６
と同様に固定され、測定支持台５７の移動によって一斉
に上昇し、図１０に示す矢印方向に移動して校正位置に
位置決めされ、テープＴの測定と同様に基準ゲージ２０
の幅を測定して、この測定値をテープ幅の基準寸法とし
て校正するように構成される。

【００５２】このような校正を行なう際、テープ幅の測
定と同様に、出力電圧である校正電圧に対して上述の輝
度分布補正を行なってもよく、この場合、校正位置で光
量を検出するフォトダーオード１１や１２の校正位置で
の輝度値を用いて行なう。

【００５３】テープ幅測定装置４６は、テープ幅測定装
置６と以上の点が異なって構成される。以下、テープ幅
測定装置４６の作用がテープ幅測定装置６と異なる点に
ついて説明する。

【００５４】テープ幅測定装置４６は、基本的に複数の
並走する磁気テープ４によって遮蔽されない各々の磁気
テープ４の両端部から投光される光量を各々の磁気テー
プ４に対応して設けられたフォトダイオード１１および
１２の対によって出力電圧を得、この出力電圧から予め
得られている前述の検量線を用いて、テープ幅を得ると
ともに、一定時間間隔ごとに、測定支持台５７を校正位
置に移動して校正手段によって、フォトダイオード１１
および１２の対を校正する。

【００５５】ここにおいて、磁気テープ４に対応して設
けられるフォトダイオード１１および１２の対によって
得られた出力電圧は、図１１に示す輝度分布Ｃのように
僅かに不均一な輝度分布の場合、輝度分布から得られる
輝度値を用いて出力信号を補正する。すなわち、テープ
幅測定装置４６に用いるレーザ素子５０の発光するレー
ザ光の輝度分布を、例えば市販される輝度計で計測し予
めその分布を知り、演算手段５６に予め記憶しておく。
受光した光量から出力電圧を出力するフォトダイオード
１１や１２のレーザ素子５０に対する磁気テープ４の幅
方向の位置から、このフォトダイオード１１や１２の輝
度分布の輝度値を得、この輝度値に対する所定の輝度値
の変化分を演算により補正する。その後、右側のフォト
ダイオード１１の出力と左側のフォトダイオード１２の
出力を加算し、テープ幅測定装置６の場合と同様にして
求めた検量線を用いることでテープ幅を測定値として求
める。このような輝度分布補正は、テープ幅の測定の際
のみならず、校正ゲージ２０の測定を行なう校正の際に
も行なう。

【００５６】テープ幅測定装置４６では、フォトダイオ
ード１１や１２の校正の際、レーザ素子５０を移動する
ことなく、測定支持台５７のみを校正位置に移動して校
正するが、測定支持台５７の移動と一体となってレーザ
素子５０を校正位置に移動させてもよい。この場合、測
定支持台５７と一緒にレーザ素子５０が移動するので、
校正の際の出力電圧は、フォトダイオード１１や１２の
校正位置でのレーザ光の輝度値を用いることなく、テー
プＴの測定時に用いる輝度値を用いて輝度分布補正を行
なうことができ、輝度分布補正時の煩雑さが解消され
る。

【００５７】また、テープ幅計測装置４６では、磁気テ
ープ４を上段および下段に振り分け、各段ごとにそれぞ
れ１個ずつのレーザ素子５を配置するが、必ずしも各段
のレーザ素子５０の個数は１個である必要はなく、複数
個であってもよい。例えば裁断前の素材の幅が広い場
合、各段毎に２個や３個等の複数個のレーザ素子５０を
磁気テープ４の幅方向に並列配置してもよい。この場
合、レーザ素子５０の使用個数は増えるが、配置される
個数はせいぜい１０個程度であり、依然製作コストの低
減が可能となる。

【００５８】また、図１２には、テープ幅測定装置４６
を裁断後の磁気テープ４の搬送を上段、中段および下段
の３段に分けたスリッタ装置に適用した際のスリッタ装
置の断面図が示されている。ここで、中段の磁気テープ
４ｃに用いられるレーザ素子５０ｃは、磁気テープ４ａ
と磁気テープ４ｃの間に挟まれ、図１２上の上下方向に
十分な距離を得ることができないが、図１２に示すよう
に、測定支持台５７ｃから磁気テープ４ｃの走行する方
向（図面左側方向）に離し、磁気テープ４ｃに対して斜
め方向にレーザ光を投光するように配置することができ
る。このように、レーザ素子５０ｃによって斜め方向に
レーザ光を投光できるのは、磁気テープ４の走行方向に
拡がるレーザ光の太さは細く、例えば数十マイクロメー
タであり、磁気テープの幅方向に扇状に拡がるレーザ光
の幅、例えば３０センチメートルに比べて圧倒的に小さ
く、斜め方向に投光しても、フォトダイオード１１や１
２が検出する光量は変化しないからである。

【００５９】このように、レーザ素子５０ｃを測定支持
体５７ｃから磁気テープ４ｃの走行する方向（図面左側
方向）の後方に配置させることで、磁気テープ４ａおよ
び４ｃの間に作業スペースを確保することができ、磁気
テープ４ｃが裁断中切断した場合でも、作業者は磁気テ
ープ４ｃの接続等所定の補修処置をすることができる。
また、従来、幅測定のために磁気テープの走行経路自体
を変更する必要があったが、この変更も不要となる。

【００６０】上記実施例においては、本発明の幅測定装
置の測定対象物である長尺状被測定物として、磁気テー
プなどのテープ状物を代表例として説明したが、本発明
はこれに限定されず、長尺状被測定物として、磁気テー
プの他、発光体の発するレーザ光の波長を適切に選択す
ることにより、例えば感光しない波長のレーザ光を選択
することにより、感光性フィルムなどを含む各種のフィ
ルムやテープ状物、また帯状の織物や紙や鋼条や鋼体
（ストリップス）などの帯状物、また鋼線や銅線などの
線材などであってもよく、また、このような長尺状被測
定物の測定対象としては、幅の他、太さ（直径）や厚み
であってもよい。また、発光体と測定対象物との間に扇
状のレーザ光を平行光に修正するような光学系を設置し
てもよい。平行光であれば、発光体と測定対象物間の距
離間隔に関して、設計の際の自由度が増し、また扇状に
拡がるレーザ光に起因する斜め方向からの不要な光が受
光体に入射することもない。

【００６１】以上、本発明の幅測定装置についてテープ
幅測定装置を用いて詳細に説明したが、本発明は上記実
施例に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲にお
いて、各種の改良および変更を行なってよいのはもちろ
んである。

【００６２】

【発明の効果】本発明の第１の態様に係る幅測定装置
は、以上のように構成されているので、発光体および一
対の受光体からなる測定ブロックを小さくすることが可
能であり、例えばスリッタで裁断された直後の磁気テー
プのように狭い領域に多数のテープがあり、かつこのテ
ープが高速で走行する個所においても適用可能であり、
インラインで全数を連続的に測定して、磁気テープの全
数の幅の変動を連続して測定することを可能にしたもの
である。

【００６３】また、本発明の第１の態様に係る幅測定装
置は、高価なレーザ測長器、特にレーザ外径測定器を使
用することなく安価な幅測定装置、特にテープ幅測定装
置を提供することができる。さらに、従来のテープ幅測
定装置のように、レーザ光を走査することによってテー
プなどの長尺状被測定物の幅を測定するものではないの
で、連続測定が可能であり、連続測定や高速のサンプリ
ング測定を自由に選択することができる。また、温度の
変化による発光体や受光体の測定値の誤差を補償する校
正手段を有するので、長時間にわたり測定誤差の少ない
安定したテープなどの長尺状被測定物の幅の測定が可能
となる。

【００６４】また、本発明の第２の態様に係る幅測定装
置は、並走する複数の長尺状被測定物の数に比べて少な
い発光体を用いることができるので、製作コストを低減
した非接触でかつ連続して光学的に測定する幅計測測定
装置を提供することができる。また、扇状に拡がる発光
体を受光体から十分に離してレーザ光を投光することが
できるので、例えば、磁気テープのスリッタ装置のよう
に磁気テープを各段に分けた際の磁気テープの各段のス
ペースを確保でき、磁気テープの切断時の接続等の補修
作業の行なえる作業スペースを得ることができるほか、
テープ幅の測定のためのスペースを得るために従来必要
であった磁気テープの搬送経路自体の変更が不要とな
る。また、受光体の受光した光量から長尺状被測定物の
幅を算出する際、レーザ光の輝度の不均一による輝度分
布補正を行なうため、レーザ光の輝度の不均一による測
定誤差を少なくすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の第１の態様に係る幅測定装置が適用
されたテープ幅測定装置の一実施例を概念的に示す正面
図である。

【図２】 図１に示すテープ幅測定装置の平面図であ
る。

【図３】 測定ブロックの要部を示す図１のＡ−Ａ断面
図である。

【図４】 本発明に係る第１の態様に係る幅測定装置の
測定ブロックの校正方法の一例を示す断面図である。

【図５】 従来技術の測定方法の一例を示す断面図であ
る。

【図６】 従来技術の測定方法の他の例を示す断面図で
ある。

【図７】 本発明の第２の態様に係る幅測定装置が適用
されたテープ幅測定装置の一実施例を概念的に示す斜視
図である。

【図８】 図７に示されるテープ幅測定装置の断面図で
ある。

【図９】 図７に示されるテープ幅測定装置の受光体の
対の要部を示す断面図である。

【図１０】 本発明に係る第２の態様に係る幅測定装置
の測定ブロックの校正方法の一例を示す断面図である。

【図１１】 本発明の第２の態様に係る幅測定装置に用
いられる扇状に拡がるレーザ光の輝度分布を説明する説
明図である。

【図１２】 本発明の第２の態様に係る幅測定装置が適
用されたテープ幅測定装置の他の実施例を概念的に示す
断面図である。

【符号の説明】

１ 素材ロール ２ （幅の広い）素材 ３ スリッタ ４ （個々の）磁気テープ ５ 磁気テープのロール ６、４６、６６ テープ幅測定装置 ７、８ カッピング除去バー １０、５０ レーザ素子 １１、１２ フォトダイオード １４ 測定ブロック １５ 扇状のレーザ光 １６ 演算手段 １７、５７ 測定支持台 ２０ 基準ゲージ Ｔ テープ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 橋本 明裕 神奈川県小田原市扇町２丁目12番１号 富 士写真フイルム株式会社内 Ｆターム(参考） 2F065 AA22 AA47 BB12 BB13 BB15 CC02 CC06 DD06 EE00 EE01 EE04 FF02 FF61 GG04 GG13 HH05 HH15 JJ02 JJ05 JJ18 LL04 LL08 NN17 PP16 QQ23 QQ25 QQ27 5D112 AA22 GA19 JJ01 JJ09 KK03

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】走行する長尺状被測定物の一方にあって、
   前記長尺状被測定物の幅方向に前記長尺状被測定物の幅
   より広い範囲でレーザ光を扇状に投光する発光体と、 前記長尺状被測定物の他方にあって、前記発光体から投
   光される扇状のレーザ光の前記長尺状被測定物によって
   遮蔽されない両端部のレーザ光をそれぞれ受光してその
   光量を検出する一対の受光体と、 前記発光体と前記一対の受光体とを一組として固定する
   測定支持台と、 この一対の受光体が受光したそれぞれの光量から長尺状
   被測定物の幅を演算する演算手段とを有することを特徴
   とする幅測定装置。
2. 【請求項２】前記発光体と前記一対の受光体は、所定の
   幅を有する校正ゲージを配置した校正位置に一体となっ
   て移動され位置決めされた後、前記発光体から投光され
   る扇状のレーザ光のうち、前記校正ゲージによって遮蔽
   されない両端部のレーザ光をそれぞれ受光して前記発光
   体および前記一対の受光体の校正を行う校正手段が付加
   された請求項１に記載の幅測定装置。
3. 【請求項３】複数の長尺状被測定物の一方にあって、前
   記長尺状被測定物の幅方向にレーザ光が扇状に拡がっ
   て、前記複数の長尺状被測定物のうち、並走している少
   なくとも２本の幅全体を投光する単一の発光体と、 前記長尺状被測定物の他方にあって、前記発光体から投
   光される扇状のレーザ光の前記長尺状被測定物によって
   遮蔽されない両端部のレーザ光をそれぞれ受光してその
   光量を検出する前記複数の長尺状被測定物に対応した複
   数の受光体の対と、 この複数の受光体の対を前記長尺状被測定物の幅方向に
   並列して固定する測定支持台と、 前記複数の受光体の対が受光したそれぞれの光量から前
   記複数の長尺状被測定物各々の幅を演算する演算手段と
   を有することを特徴とする幅測定装置。
4. 【請求項４】前記発光体は、前記複数の長尺状被測定物
   の幅方向に扇状に投光するレーザ光の輝度分布が均一で
   ある請求項３に記載の幅測定装置。