JP3939028B2 - 斜入射干渉計 - Google Patents
斜入射干渉計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3939028B2 JP3939028B2 JP18413898A JP18413898A JP3939028B2 JP 3939028 B2 JP3939028 B2 JP 3939028B2 JP 18413898 A JP18413898 A JP 18413898A JP 18413898 A JP18413898 A JP 18413898A JP 3939028 B2 JP3939028 B2 JP 3939028B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- measurement light
- light
- incident
- prism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、測定物の表面形状の測定に好適な斜入射干渉計に関する。
【０００２】
【従来技術】
斜入射干渉計としては、例えば半導体素子製造過程におけるシリコンウェハの平面度検査に利用されるものが知られている。この斜入射干渉計は、斜め方向から測定面へ光を入射させるので、比較的凹凸の大きな物でも測定可能であり、また、測定面への入射角度を変えることにより測定感度を変更できるという特徴を持つ。
【０００３】
従来、測定感度を変更する構成は、例えば図５に示すように構成したものが知られている。光源であるＨｅ−Ｎｅレーザ８から出射されたレーザ光は、レンズ７により必要な大きさに拡張された後、コリメーティングレンズ６で平行光束にされ、ロータリープリズム５を通ってプリズム１に入射する。プリズム参照面２で反射した光と、プリズム参照面２を透過して測定物の測定面３で反射した光が干渉現象を起こし、スクリーン４には干渉縞が写し出される。測定感度の変更は、ロータリープリズム５を動かしてプリズム１に対するレーザ光の入射角を変えることにより行う。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年の半導体ウエハは大型化の傾向にあり、現在ではその直径が200ｍｍになる物もある。これに対応するためには感度切替え用のロータリープリズム５もほぼそれに等しい大きさが必要となるが、このような光学部材を大きくして必要な精度を維持することはコストがかかるという欠点がある。
【０００５】
また、上記の機構では、測定感度を変えるためにロータリープリズム５を動かして調整しているので、その為の駆動装置が必要となり、大きな光学部材を動かす機構は装置的に複雑になるという欠点がある。
【０００６】
本発明は上記問題点に鑑み、測定感度切替え用の機構を簡単な構造にして、大きな測定面にも安価に対応できる干渉計を提供することを技術課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００８】
（１） 測定光源を出射した可干渉の測定光を略平行光束にするコリメーティングレンズと、被測定面に対向した参照面を持ち、該コリメーティングレンズにより略平行光束にされた可干渉光を参照面から被測定面に斜め方向から入射させるプリズムと、を有し、被測定面より反射する測定光と参照面で反射する測定光とにより干渉縞を得る斜入射干渉計において、複数の測定光源を、それを出射した測定光が前記コリメーティングレンズにより略平行光束になるとともに、異なる測定感度に対応して被測定面に入射する各測定光の入射角が変化するように、配置し、配置された測定光源を測定感度選択スイッチの選択信号の入力に応じて選択的に点灯させることにより測定光の出射位置を変化させる出射位置可変手段と、を備えることを特徴とする。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は本発明に係る斜入射干渉計の概略構成を示す図である。
【００１６】
１０は可干渉光を出射するレーザ光源が配置された光源部であり、光源部１０には測定感度を切替えるべく被測定物３０の測定面３０ａへの入射角を変更できるように５つのレーザ光源１１ａ〜１１ｅが配置されている（この配置については後述する）。レーザ光源１１ａ〜１１ｅとしては、波長６５５ｎｍの赤色光を発する半導体レーザ（以下、ＬＤと示す）を使用して、配置スペースを節約できるようにしている。ＬＤ１１ａ〜１１ｅは、コントロールパネル２１が持つ感度切替え用のスイッチ２１ａを操作することにより、制御部２０の駆動制御によって選択的に点灯される。測定感度は１〜５μｍで１μｍ毎に変更できるようにしている。
【００１７】
ＬＤ１１ａ〜１１ｅの何れかから出射されたレーザ光は、固定配置されたコリメーティングレンズ１２により平行光束にされた後、プリズム１３に入射する。プリズム１３に入射した光束は、参照面１３ａからの反射光とプリズム１３を透過して測定面３０ａへ斜め方向から入射する光束に別れる。参照面１３ａで反射した光束と測定面３０ａで反射した光束とが干渉現象を起こし、これがスクリーン１４に投影される。スクリーン１４に投影された干渉縞は、フィールドレンズ１５を介してテレビカメラ１６に撮像され、その出力信号が画像処理装置２２に入力される。画像処理装置２２では入力された画像に所定の画像処理を施し、測定面３０ａの凹凸の状態が測定される。２３はモニタで、テレビカメラ１６に撮像される干渉縞画像や測定結果が表示される。３１は、測定物３０の載置台である。
【００１８】
次に、測定感度を変更するためのＬＤ１１ａ〜１１ｅの配置について説明する。斜入射干渉計では、干渉縞の１縞分が被測定面の高低差に対してどのくらいに相当するかを示す測定感度Ｓは、図２に示すようにプリズム参照面の法線と、プリズムから出射した光線とのなす角をθとするとき、
Ｓ＝λ／２COSθ
で表される。ここで、λ＝６５５ｎｍとすると、θ＝70.9°でＳ＝1.0μｍとなる。同様に、θ＝80.6°でＳ＝2.0μｍ、θ＝83.7°でＳ＝3.0μｍ、θ＝85.3°でＳ＝4.00μｍ、θ＝86.2°でＳ＝5.0μｍとなる。
【００１９】
したがって、各ＬＤ１１ａ〜１１ｅは、その出射光束がコリメーティングレンズ１２及びプリズム１３を介して測定面３０ａに上記の入射角度で入射するように設計配置しておけば良い。
【００２０】
なお、コリメーティングレンズ１２の焦点距離を短く設定すると、各ＬＤを配置すべき間隔は狭くなり、ＬＤのパッケージ同士が干渉して望みの感度を得る為のライン上の配置が難しい場合がある。この場合は図３のように各ＬＤ１１ａ〜１１ｅを互い違いにずらして配置すれば良い（図３は、各ＬＤ１１ａ〜１１ｅをコリメーティングレンズ１２の方向から見た図である）。測定感度はプリズム参照面から出射した光束が測定面へ入射する角度θによるが、光線は図1または図２の紙面内になければならないということはないので、このような配置も可能である。
【００２１】
測定感度を変更するときは、コントロールパネル２１にあるスイッチ２１ａにより所望の測定感度を選択する。制御部２０はスイッチ２１ａによる選択信号の入力に応じて光源部１０のＬＤ１１ａ〜１１ｅの何れかを点灯駆動する。測定感度の変更はＬＤの電気的な点灯駆動だけで即座に行える。また、機械的な可動部が無いので、角度ずれによる測定精度の低下や故障の心配が少ない。
【００２２】
ＬＤの点灯によりスクリーン１４には、参照面１３ａで反射した光束と測定面３０ａで反射した光束とにより所望の測定感度を持つ干渉縞が投影される。この干渉縞がテレビカメラ１６により撮像され、画像処理装置２２に入力される。画像処理装置２２は撮像された画像データに対して所定の画像解析を行う。また、画像処理装置２２にはスイッチ２１ａにより選択された測定感度の情報が制御部２０を介して入力されるので、画像解析の結果と測定感度の情報とに基づいて測定面３０ａの平坦度の測定結果を算出する。
【００２３】
以上説明した実施形態では光源を複数個設けて構成したが、図４に示すように（先の形態と同一の要素には同一の符号を付している）、１つのＬＤ１１を使用してその位置を移動装置４０により移動することにより、ＬＤ１１から出射するレーザ光の出射位置を変化させ、測定面３０ａに斜め入射するレーザ光の入射角を変えるようにしても良い。制御部２０はコントロールパネル２１からの感度変更の信号により移動装置４０を駆動し、ＬＤ１１を感度に応じた位置に移動する。この場合、測定感度は連続可変が可能である。
【００２４】
この形態の場合、測定感度を変更するための可動機構としては光源の移動だけで良く、また、光源として小型のＬＤを使用することによりその機構を大きくしなくてすむので、大きな測定面に対しても安価に構成することができる。
【００２５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、測定感度切替え用の機構を簡略化して大きな測定面にも安価に対応できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る斜入射干渉計の概略構成を示す図である。
【図２】測定感度に対応させて被測定面に斜めに入射させる光の入射角度を説明する図である。
【図３】光源を配置すべき間隔が狭い場合の配置例を示す図である。
【図４】本発明の変容例を示す図である。
【図５】従来の斜入射干渉計における測定感度の切替え機構を示す図である。
【符号の説明】
１０ 光源部
１１ａ〜１１ｂ レーザ光源
１２ コリメーティングレンズ
１３ プリズム
１３ａ 参照面
１４ スクリーン
１５ フィールドレンズ
２０ 制御部
３０ 被測定物
３０ａ 測定面
Claims (1)
- 測定光源を出射した可干渉の測定光を略平行光束にするコリメーティングレンズと、被測定面に対向した参照面を持ち、該コリメーティングレンズにより略平行光束にされた可干渉光を参照面から被測定面に斜め方向から入射させるプリズムと、を有し、被測定面より反射する測定光と参照面で反射する測定光とにより干渉縞を得る斜入射干渉計において、複数の測定光源を、それを出射した測定光が前記コリメーティングレンズにより略平行光束になるとともに、異なる測定感度に対応して被測定面に入射する各測定光の入射角が変化するように、配置し、配置された測定光源を測定感度選択スイッチの選択信号の入力に応じて選択的に点灯させることにより測定光の出射位置を変化させる出射位置可変手段と、を備えることを特徴とする斜入射干渉計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18413898A JP3939028B2 (ja) | 1998-06-30 | 1998-06-30 | 斜入射干渉計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18413898A JP3939028B2 (ja) | 1998-06-30 | 1998-06-30 | 斜入射干渉計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000018912A JP2000018912A (ja) | 2000-01-21 |
| JP3939028B2 true JP3939028B2 (ja) | 2007-06-27 |
Family
ID=16148045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18413898A Expired - Fee Related JP3939028B2 (ja) | 1998-06-30 | 1998-06-30 | 斜入射干渉計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3939028B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4213800B2 (ja) * | 1998-12-09 | 2009-01-21 | 株式会社ニデック | 斜入射干渉計 |
| JP4897572B2 (ja) | 2006-06-30 | 2012-03-14 | 株式会社ミツトヨ | 斜入射干渉計 |
| JP5208681B2 (ja) * | 2008-11-06 | 2013-06-12 | 株式会社ミツトヨ | 斜入射干渉計における測定感度の校正方法 |
| JP2012145377A (ja) * | 2011-01-07 | 2012-08-02 | Mitsutoyo Corp | 斜入射干渉計 |
-
1998
- 1998-06-30 JP JP18413898A patent/JP3939028B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000018912A (ja) | 2000-01-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4644707B2 (ja) | 特にマイクロシステム技術における幾何構成の干渉と画像化の組合せに基づく検出のための装置 | |
| TWI568991B (zh) | 編碼器干涉術系統、微影系統，以及編碼器干涉術方法 | |
| TWI427265B (zh) | 測量裝置 | |
| US4900940A (en) | Optical system for measuring a surface profile of an object using a converged, inclined light beam and movable converging lens | |
| JP3296239B2 (ja) | 間隙設定機構を備えたプロキシミティ露光装置 | |
| US20050185193A1 (en) | System and method of using a side-mounted interferometer to acquire position information | |
| JP2006317454A (ja) | 少なくとも１つの方向に運動可能に配された位置決めテーブルの相対位置を求めるための測定装置及び方法 | |
| KR20110016400A (ko) | 측정 장치, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 | |
| JPH10221064A (ja) | 光学式測距装置 | |
| US5059022A (en) | Device for measuring radius of curvature and a method thereof | |
| JP3939028B2 (ja) | 斜入射干渉計 | |
| JP2003035510A (ja) | 位置検出装置 | |
| TW202235815A (zh) | 測量裝置 | |
| JP4376624B2 (ja) | 複数経路干渉分光法 | |
| JPH01235807A (ja) | 深さ測定装置 | |
| JP2010223775A (ja) | 干渉計 | |
| JP2005326192A (ja) | ３次元形状測定装置 | |
| JPH10142078A (ja) | 非接触温度測定装置 | |
| JPH10103917A (ja) | 位置計測装置 | |
| JP2001124532A (ja) | 試料検査装置及び試料検査方法 | |
| JPH074909A (ja) | レーザセンサ装置 | |
| JPH06294638A (ja) | 表面形状測定装置 | |
| JPH05141965A (ja) | スペツクルノイズの除去装置 | |
| JP5777068B2 (ja) | マスク評価装置 | |
| JPH0426685B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050810 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051206 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060206 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060905 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061106 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061121 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070307 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070327 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100406 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110406 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120406 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120406 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130406 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130406 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140406 Year of fee payment: 7 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |