JP2000298862A - 液晶チルトサーボ装置 - Google Patents
液晶チルトサーボ装置Info
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1392—Means for controlling the beam wavefront, e.g. for correction of aberration
- G11B7/13925—Means for controlling the beam wavefront, e.g. for correction of aberration active, e.g. controlled by electrical or mechanical means
- G11B7/13927—Means for controlling the beam wavefront, e.g. for correction of aberration active, e.g. controlled by electrical or mechanical means during transducing, e.g. to correct for variation of the spherical aberration due to disc tilt or irregularities in the cover layer thickness
-
- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ディスクの面振れが有っても、正確で安定
したチルト補正が可能なチルトサーボ装置を提供する。 【解決手段】 光記録媒体を回転させるモータの回転に
同期した回転信号に基づいて所定回転角毎に検出信号の
包絡線信号強度のサンプリングを実行するサンプリング
手段と、サンプリングした包絡線信号強度の平均値を算
出する算出手段と、を有し、この平均値に基づいて補正
量を確定してチルト補正制御を実行する。
したチルト補正が可能なチルトサーボ装置を提供する。 【解決手段】 光記録媒体を回転させるモータの回転に
同期した回転信号に基づいて所定回転角毎に検出信号の
包絡線信号強度のサンプリングを実行するサンプリング
手段と、サンプリングした包絡線信号強度の平均値を算
出する算出手段と、を有し、この平均値に基づいて補正
量を確定してチルト補正制御を実行する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク記録再
生装置のチルトサーボ装置、特に、チルトエラーを補正
する液晶パネル素子を有する液晶チルトサーボ装置に関
する。
生装置のチルトサーボ装置、特に、チルトエラーを補正
する液晶パネル素子を有する液晶チルトサーボ装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digita
l Versatile Disc）などの光ディスクの記録再生装置で
は、一般に、光ディスクの反りなどによって光ピックア
ップから照射された光ビームの光軸と照射位置における
光ディスクの法線とにずれが生じる。このずれの角度は
チルト角と呼ばれ、主に光ディスクの半径方向（以下、
「ラジアル方向」と称する）で発生し、光学系のコマ収
差などの要因となる。従って、チルト角が生じることに
より、隣接するトラックとのクロストークやジッターな
どの信号劣化が引き起こされ、光ディスクの再生品質に
悪影響を与える。また、特にＤＶＤのように高密度記録
を行う場合では、レーザビームのスポット径を小さくす
るために、レーザ光の波長を短くし、対物レンズの開口
数ＮＡを大きくする必要があるため、チルト角に対する
マージンが小さくなる。すなわち、光ディスクが僅かに
傾いていても再生品質の大きな劣化を招く。従って、光
ディスクの再生中にはチルト角による収差を補正するた
め、反射された光ビームの検出信号強度に基づいてチル
トエラーを補正するチルトサーボ機構を設けるのが一般
的である。このようなチルトサーボ方式の１つとして、
液晶パネル素子を用いた液晶チルトサーボ装置がある。
液晶チルトサーボの動作原理は、光ピックアップに搭載
した液晶の位相を制御することによって、光ディスクの
チルトにより発生する波面収差を補償することにある。
尚、この波面収差を補償するために液晶パネル素子を用
いた液晶チルトサーボ装置については、本出願人による
特許出願である特願平第８−３４４５４０号に記載され
ている。
l Versatile Disc）などの光ディスクの記録再生装置で
は、一般に、光ディスクの反りなどによって光ピックア
ップから照射された光ビームの光軸と照射位置における
光ディスクの法線とにずれが生じる。このずれの角度は
チルト角と呼ばれ、主に光ディスクの半径方向（以下、
「ラジアル方向」と称する）で発生し、光学系のコマ収
差などの要因となる。従って、チルト角が生じることに
より、隣接するトラックとのクロストークやジッターな
どの信号劣化が引き起こされ、光ディスクの再生品質に
悪影響を与える。また、特にＤＶＤのように高密度記録
を行う場合では、レーザビームのスポット径を小さくす
るために、レーザ光の波長を短くし、対物レンズの開口
数ＮＡを大きくする必要があるため、チルト角に対する
マージンが小さくなる。すなわち、光ディスクが僅かに
傾いていても再生品質の大きな劣化を招く。従って、光
ディスクの再生中にはチルト角による収差を補正するた
め、反射された光ビームの検出信号強度に基づいてチル
トエラーを補正するチルトサーボ機構を設けるのが一般
的である。このようなチルトサーボ方式の１つとして、
液晶パネル素子を用いた液晶チルトサーボ装置がある。
液晶チルトサーボの動作原理は、光ピックアップに搭載
した液晶の位相を制御することによって、光ディスクの
チルトにより発生する波面収差を補償することにある。
尚、この波面収差を補償するために液晶パネル素子を用
いた液晶チルトサーボ装置については、本出願人による
特許出願である特願平第８−３４４５４０号に記載され
ている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】一般に、光ディスク記
録再生装置においては、光ディスクの反りやターンテー
ブルの傾きなどによって、いわゆる面振れが生じるた
め、面振れの周期に応じて検出信号の強度が変動する。
しかしながら、従来のチルトサーボ装置においては、面
振れによる変動を含んだ検出信号に基づいて制御を行っ
ていたため、正確な制御を行うことができなかったり、
最適位置に制御するための収束時間が長くなるという問
題を有していた。
録再生装置においては、光ディスクの反りやターンテー
ブルの傾きなどによって、いわゆる面振れが生じるた
め、面振れの周期に応じて検出信号の強度が変動する。
しかしながら、従来のチルトサーボ装置においては、面
振れによる変動を含んだ検出信号に基づいて制御を行っ
ていたため、正確な制御を行うことができなかったり、
最適位置に制御するための収束時間が長くなるという問
題を有していた。
【０００４】本発明はかかる点に鑑みてなされたもので
あり、その目的とするところは、光ディスクの面振れに
左右されず、正確で安定したチルト補正が可能なチルト
サーボ装置を提供することにある。
あり、その目的とするところは、光ディスクの面振れに
左右されず、正確で安定したチルト補正が可能なチルト
サーボ装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明による液晶チルト
サーボ装置は、光記録媒体に照射した光ビームの反射光
を検出し検出信号を生成する光検出手段と、光記録媒体
上の光ビーム照射位置における法線と前記光ビームの光
軸とのなすチルト角により生じるチルトエラーを補正す
るチルトエラー補正手段と、チルトエラー補正手段の補
正量を制御する制御手段と、光記録媒体を回転させるモ
ータの回転に同期して回転信号を生成する回転信号生成
手段と、を有する液晶チルトサーボ装置であって、回転
信号に基づいて所定回転角毎に検出信号の包絡線信号強
度のサンプリングを実行するサンプリング手段と、サン
プリングした包絡線信号強度の平均値を算出する算出手
段と、を有し、制御手段は平均値に基づいて補正量を確
定することを特徴としている。
サーボ装置は、光記録媒体に照射した光ビームの反射光
を検出し検出信号を生成する光検出手段と、光記録媒体
上の光ビーム照射位置における法線と前記光ビームの光
軸とのなすチルト角により生じるチルトエラーを補正す
るチルトエラー補正手段と、チルトエラー補正手段の補
正量を制御する制御手段と、光記録媒体を回転させるモ
ータの回転に同期して回転信号を生成する回転信号生成
手段と、を有する液晶チルトサーボ装置であって、回転
信号に基づいて所定回転角毎に検出信号の包絡線信号強
度のサンプリングを実行するサンプリング手段と、サン
プリングした包絡線信号強度の平均値を算出する算出手
段と、を有し、制御手段は平均値に基づいて補正量を確
定することを特徴としている。
【０００６】
【発明の実施の形態】本発明の実施例を図面を参照しつ
つ詳細に説明する。尚、以下に説明する図において、実
質的に同等な部分には同一の参照符を付している。図１
は、本発明の１実施例である光ディスクプレーヤの液晶
チルトサーボ装置の構成を概略的に示す図であり、光デ
ィスク１、光ピックアップ２、ＲＦ包絡線生成器１１、
チルトサーボ制御装置１４、液晶駆動回路１５、ＦＧパ
ルス検出回路１６、及びシステム制御部１７を有してい
る。光ピックアップ２は、受光素子３、対物レンズ５、
液晶パネル素子７、及びサーミスタ８を有している。
つ詳細に説明する。尚、以下に説明する図において、実
質的に同等な部分には同一の参照符を付している。図１
は、本発明の１実施例である光ディスクプレーヤの液晶
チルトサーボ装置の構成を概略的に示す図であり、光デ
ィスク１、光ピックアップ２、ＲＦ包絡線生成器１１、
チルトサーボ制御装置１４、液晶駆動回路１５、ＦＧパ
ルス検出回路１６、及びシステム制御部１７を有してい
る。光ピックアップ２は、受光素子３、対物レンズ５、
液晶パネル素子７、及びサーミスタ８を有している。
【０００７】光ピックアップ２内のレーザ光源（図示し
ない）から照射された光ビームは光ディスク１により反
射され、反射光は受光素子３で検出される。検出された
ＲＦ信号はＲＦ包絡線生成器１１に送られる。光ピック
アップ２には光ビームの光軸に液晶パネル素子７が配置
され、光学系の収差を補正することができる。ＲＦ包絡
線生成器１１は、受光素子３から受け取ったＲＦ信号の
包絡線を検出してＲＦ包絡線信号としてチルトサーボ制
御装置１４に送出する。また、サーミスタ８から光ピッ
クアップ２の環境温度を示す出力がチルトサーボ制御装
置１４に供給される。上記したＲＦ振幅強度信号及び環
境温度に基づいて、チルトサーボ制御装置１４は、チル
トエラーを補正するためのデータ制御信号、すなわちチ
ルト制御信号及びバイアス制御信号を液晶駆動回路１５
に送出する。これにより液晶パネル素子７は、液晶パネ
ル素子７を通過する光の位相差を可変でき収差を補正す
ることでチルトエラー補正手段として機能する。一方、
システム制御部１７は、最適なチルトサーボを行うよう
にチルトサーボ制御装置１４を制御する。チルトサーボ
制御装置１４及びシステム制御部１７は一体としてチル
トエラー補正制御手段として機能する。
ない）から照射された光ビームは光ディスク１により反
射され、反射光は受光素子３で検出される。検出された
ＲＦ信号はＲＦ包絡線生成器１１に送られる。光ピック
アップ２には光ビームの光軸に液晶パネル素子７が配置
され、光学系の収差を補正することができる。ＲＦ包絡
線生成器１１は、受光素子３から受け取ったＲＦ信号の
包絡線を検出してＲＦ包絡線信号としてチルトサーボ制
御装置１４に送出する。また、サーミスタ８から光ピッ
クアップ２の環境温度を示す出力がチルトサーボ制御装
置１４に供給される。上記したＲＦ振幅強度信号及び環
境温度に基づいて、チルトサーボ制御装置１４は、チル
トエラーを補正するためのデータ制御信号、すなわちチ
ルト制御信号及びバイアス制御信号を液晶駆動回路１５
に送出する。これにより液晶パネル素子７は、液晶パネ
ル素子７を通過する光の位相差を可変でき収差を補正す
ることでチルトエラー補正手段として機能する。一方、
システム制御部１７は、最適なチルトサーボを行うよう
にチルトサーボ制御装置１４を制御する。チルトサーボ
制御装置１４及びシステム制御部１７は一体としてチル
トエラー補正制御手段として機能する。
【０００８】図２は、従来のチルトサーボ装置における
チルトエラー補正について説明するための図である。図
２（Ａ）は、チルトエラー補正量を一定にした場合のＲ
Ｆ包絡線強度を光ディスクの回転角に対して示す図であ
る。チルトエラー補正量が一定なので面振れが無ければ
包絡線強度は一定となるはずであるが、面振れが有る場
合には図中の実線で示したように光ディスクの１回転を
周期として包絡線強度は変動する。従って、図２（Ｂ）
に示すように包絡線強度はチルトエラー補正量に対して
破線で示す変動幅内で変動する。チルトエラー補正量を
最適値に制御する方法は様々であるが、上記したような
包絡線強度の変動が有るとチルトエラー補正を正確に行
うことが困難になる。例えば、補正最適値の方向にチル
トエラー補正量を変更した（図中、点Ａから点Ｂへ）場
合、包絡線強度の変動によって変更後の包絡線強度の検
出値（点Ｂ）が変更前の包絡線強度の検出値（点Ａ）よ
りも小さくなることがある。従って、補正によって包絡
線強度の検出値は減少するため、次の補正量の変更にお
いて逆方向に、すなわち補正最適値から離れる方向に補
正量を変化させるように制御が働いてしまう。面振れが
ない場合は（Ａ’−Ｂ’間）、包絡線強度は増加してい
るので次の補正も同じ方向、つまり最適値へ向かって正
しく動作する。また、例えば、補正最適値の方向にチル
トエラー補正量を変更し（図中、点Ｃから点Ｄへ）、変
更後の包絡線強度の検出値（点Ｄ）が変更前の包絡線強
度の検出値（点Ｃ）よりも大きくなる場合であっても、
その包絡線強度の差が、面振れが無い場合（Ｃ’−Ｄ’
間）の包絡線強度変化に比べて大きいと、次の補正量の
変更において必要以上の補正を行うように制御がなされ
てしまうといったことが生じる。従って、光ディスクの
面振れによって、制御が補正最適値から大きく外れてし
まったり、補正最適値の周囲で振動したり、又は収束に
時間がかかるという問題が生じる。
チルトエラー補正について説明するための図である。図
２（Ａ）は、チルトエラー補正量を一定にした場合のＲ
Ｆ包絡線強度を光ディスクの回転角に対して示す図であ
る。チルトエラー補正量が一定なので面振れが無ければ
包絡線強度は一定となるはずであるが、面振れが有る場
合には図中の実線で示したように光ディスクの１回転を
周期として包絡線強度は変動する。従って、図２（Ｂ）
に示すように包絡線強度はチルトエラー補正量に対して
破線で示す変動幅内で変動する。チルトエラー補正量を
最適値に制御する方法は様々であるが、上記したような
包絡線強度の変動が有るとチルトエラー補正を正確に行
うことが困難になる。例えば、補正最適値の方向にチル
トエラー補正量を変更した（図中、点Ａから点Ｂへ）場
合、包絡線強度の変動によって変更後の包絡線強度の検
出値（点Ｂ）が変更前の包絡線強度の検出値（点Ａ）よ
りも小さくなることがある。従って、補正によって包絡
線強度の検出値は減少するため、次の補正量の変更にお
いて逆方向に、すなわち補正最適値から離れる方向に補
正量を変化させるように制御が働いてしまう。面振れが
ない場合は（Ａ’−Ｂ’間）、包絡線強度は増加してい
るので次の補正も同じ方向、つまり最適値へ向かって正
しく動作する。また、例えば、補正最適値の方向にチル
トエラー補正量を変更し（図中、点Ｃから点Ｄへ）、変
更後の包絡線強度の検出値（点Ｄ）が変更前の包絡線強
度の検出値（点Ｃ）よりも大きくなる場合であっても、
その包絡線強度の差が、面振れが無い場合（Ｃ’−Ｄ’
間）の包絡線強度変化に比べて大きいと、次の補正量の
変更において必要以上の補正を行うように制御がなされ
てしまうといったことが生じる。従って、光ディスクの
面振れによって、制御が補正最適値から大きく外れてし
まったり、補正最適値の周囲で振動したり、又は収束に
時間がかかるという問題が生じる。
【０００９】図３は、かかる問題を解決するためになさ
れた本発明の１実施例である液晶チルトサーボ制御装置
の構成を概略的に示す図である。図３を参照しつつこの
液晶チルトサーボ制御装置１４の動作について説明す
る。ＲＦ包絡線強度検出器２１は、ＲＦ包絡線生成器１
１により生成されたＲＦ包絡線信号を受け取り、タイミ
ング信号生成器２３のタイミング信号に応答してＲＦ包
絡線信号から包絡線強度を取り込む。ＲＦ包絡線強度検
出器２１は、アナログ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換器（図
示しない）を有し、デジタル化した包絡線強度値に後述
する加算や平均化等の所定の処理を施した後、レジスタ
２５に供給する。タイミング信号生成器２３は、演算処
理部２７からの制御信号に応答して、タイミング信号を
生成し各部へ送出する。タイミング信号は、ＦＧパルス
検出回路１６から供給されたＦＧパルスに同期したサン
プリング信号、及びレジスタ２５へのデータ送出指令信
号を含んでいる。ＦＧパルスは、光ディスクを回転させ
るスピンドルモータの回転に同期した回転信号であり、
光ディスクの１回転をＮ等分（Ｎは整数）した一定回転
角を１周期とするパルス列である。レジスタ２５は、タ
イミング信号生成器２３からの送出指令信号に応答して
包絡線強度値を演算処理部２７に供給する。
れた本発明の１実施例である液晶チルトサーボ制御装置
の構成を概略的に示す図である。図３を参照しつつこの
液晶チルトサーボ制御装置１４の動作について説明す
る。ＲＦ包絡線強度検出器２１は、ＲＦ包絡線生成器１
１により生成されたＲＦ包絡線信号を受け取り、タイミ
ング信号生成器２３のタイミング信号に応答してＲＦ包
絡線信号から包絡線強度を取り込む。ＲＦ包絡線強度検
出器２１は、アナログ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換器（図
示しない）を有し、デジタル化した包絡線強度値に後述
する加算や平均化等の所定の処理を施した後、レジスタ
２５に供給する。タイミング信号生成器２３は、演算処
理部２７からの制御信号に応答して、タイミング信号を
生成し各部へ送出する。タイミング信号は、ＦＧパルス
検出回路１６から供給されたＦＧパルスに同期したサン
プリング信号、及びレジスタ２５へのデータ送出指令信
号を含んでいる。ＦＧパルスは、光ディスクを回転させ
るスピンドルモータの回転に同期した回転信号であり、
光ディスクの１回転をＮ等分（Ｎは整数）した一定回転
角を１周期とするパルス列である。レジスタ２５は、タ
イミング信号生成器２３からの送出指令信号に応答して
包絡線強度値を演算処理部２７に供給する。
【００１０】演算処理部２７は、前述のシステム制御部
１７と協働して液晶チルトサーボ制御装置１４内の各構
成要素の制御を実行する。演算処理部２７は、レジスタ
２５から供給された包絡線強度の各値を用いて演算、判
別などの処理を実行する。また、また、サーミスタ８か
ら供給され、Ａ／Ｄ変換器３１によりデジタル化された
温度信号を受け取り、この温度信号に基づいて上記した
タイミング信号生成器２３、及び温度テーブルメモリ３
３、チルト補正ＲＯＭ３５の制御及びデータの授受をな
す。温度テーブルメモリ３３には、液晶の位相特性及び
応答特性などの温度変動に対するデータが格納されてい
る。また、チルト補正ＲＯＭ３５には、液晶の温度特性
に応じた位相補正のための液晶駆動量などのデータが格
納されている。例えば、チルト補正ＲＯＭ３５には、様
々な環境温度に対して、チルト角０．１度毎の液晶駆動
量が各アドレスに順番に格納されている。演算処理部２
７は、温度テーブルメモリ３３を参照し、液晶の環境温
度に応じたタイミング信号を生成するようにタイミング
信号生成器２３を制御する。また、液晶の環境温度に応
じた液晶駆動量を指定する制御信号、例えば上述の例で
はアドレス指定信号、をチルト補正ＲＯＭ３５に送出す
る。チルト補正ＲＯＭ３５から取り出されたデータはＤ
／Ａ（ＰＷＭ）部３７により液晶駆動量（チルト、バイ
アス）を表すＤ／Ａ又はＰＷＭ（Pulse Width Modulati
on）信号に変換され液晶駆動回路１５に供給される。
１７と協働して液晶チルトサーボ制御装置１４内の各構
成要素の制御を実行する。演算処理部２７は、レジスタ
２５から供給された包絡線強度の各値を用いて演算、判
別などの処理を実行する。また、また、サーミスタ８か
ら供給され、Ａ／Ｄ変換器３１によりデジタル化された
温度信号を受け取り、この温度信号に基づいて上記した
タイミング信号生成器２３、及び温度テーブルメモリ３
３、チルト補正ＲＯＭ３５の制御及びデータの授受をな
す。温度テーブルメモリ３３には、液晶の位相特性及び
応答特性などの温度変動に対するデータが格納されてい
る。また、チルト補正ＲＯＭ３５には、液晶の温度特性
に応じた位相補正のための液晶駆動量などのデータが格
納されている。例えば、チルト補正ＲＯＭ３５には、様
々な環境温度に対して、チルト角０．１度毎の液晶駆動
量が各アドレスに順番に格納されている。演算処理部２
７は、温度テーブルメモリ３３を参照し、液晶の環境温
度に応じたタイミング信号を生成するようにタイミング
信号生成器２３を制御する。また、液晶の環境温度に応
じた液晶駆動量を指定する制御信号、例えば上述の例で
はアドレス指定信号、をチルト補正ＲＯＭ３５に送出す
る。チルト補正ＲＯＭ３５から取り出されたデータはＤ
／Ａ（ＰＷＭ）部３７により液晶駆動量（チルト、バイ
アス）を表すＤ／Ａ又はＰＷＭ（Pulse Width Modulati
on）信号に変換され液晶駆動回路１５に供給される。
【００１１】次に、本実施例におけるチルトエラー補正
制御について、図４及び図５に示すフローチャート、及
び図６を参照しつつ詳細に説明する。図４及び図５に示
すフローチャートに示す動作は、例えば光ディスク１の
記録又は再生中にシステム制御部１７によるチルトサー
ボ開始を指令する割り込み処理によって実行される。
制御について、図４及び図５に示すフローチャート、及
び図６を参照しつつ詳細に説明する。図４及び図５に示
すフローチャートに示す動作は、例えば光ディスク１の
記録又は再生中にシステム制御部１７によるチルトサー
ボ開始を指令する割り込み処理によって実行される。
【００１２】まず、演算処理部２７はチルト補正ＲＯＭ
に対してチルトサーボ開始時の所定のアドレスを指定す
る（ステップＳ１１）。指定されたアドレスのチルト補
正データはＤ／Ａ（ＰＷＭ）化され液晶駆動回路１５に
供給され、これに応じたチルトエラー補正量となるよう
に液晶の駆動がなされる（ステップＳ１２）。このチル
トエラー補正量を一定にした状態において、包絡線強度
を複数回サンプリングし、得られたサンプリング値を平
均化して光ディスクの面振れに起因する包絡線強度の変
動を相殺する。下記においては、図６に示すように、光
ディスクの１回転につき３回、すなわち１回転を３等分
した角度でサンプリングする場合を例に説明する。ま
ず、サンプリングを指示するサンプリング指示信号の有
無を判別し（ステップＳ１３）、サンプリング指示信号
が有った場合には、包絡線強度を表す電圧を取り込む。
ここでは、包絡線強度信号中に含まれる雑音を除去する
ために複数回、例えば５回取り込み、平均値Ｓ(１)を求
める（ステップＳ１４）。従って、Ｓ(１)は、第１回目
のサンプリング値を示す。また、前述の説明及び図６に
示すように、このサンプリング指示信号はＦＧ信号の所
定数のパルス立ち上がりを検出する毎に発せられる。次
に、サンプリングが３回終了したか否かを判別し（ステ
ップＳ１５）、終了した場合には、得られたサンプリン
グ値の平均値Ｖ１＝（Ｓ(１)＋Ｓ(２)＋Ｓ(３)）／３を
算出する（ステップＳ１６）。すなわち、この平均化さ
れた包絡線強度Ｖ１を現在のチルトエラー補正量におけ
る包絡線強度としてチルトサーボが行われる。尚、ここ
では、サンプリング値の算術平均値を用いたが、総和を
用いるようにしてもよい。
に対してチルトサーボ開始時の所定のアドレスを指定す
る（ステップＳ１１）。指定されたアドレスのチルト補
正データはＤ／Ａ（ＰＷＭ）化され液晶駆動回路１５に
供給され、これに応じたチルトエラー補正量となるよう
に液晶の駆動がなされる（ステップＳ１２）。このチル
トエラー補正量を一定にした状態において、包絡線強度
を複数回サンプリングし、得られたサンプリング値を平
均化して光ディスクの面振れに起因する包絡線強度の変
動を相殺する。下記においては、図６に示すように、光
ディスクの１回転につき３回、すなわち１回転を３等分
した角度でサンプリングする場合を例に説明する。ま
ず、サンプリングを指示するサンプリング指示信号の有
無を判別し（ステップＳ１３）、サンプリング指示信号
が有った場合には、包絡線強度を表す電圧を取り込む。
ここでは、包絡線強度信号中に含まれる雑音を除去する
ために複数回、例えば５回取り込み、平均値Ｓ(１)を求
める（ステップＳ１４）。従って、Ｓ(１)は、第１回目
のサンプリング値を示す。また、前述の説明及び図６に
示すように、このサンプリング指示信号はＦＧ信号の所
定数のパルス立ち上がりを検出する毎に発せられる。次
に、サンプリングが３回終了したか否かを判別し（ステ
ップＳ１５）、終了した場合には、得られたサンプリン
グ値の平均値Ｖ１＝（Ｓ(１)＋Ｓ(２)＋Ｓ(３)）／３を
算出する（ステップＳ１６）。すなわち、この平均化さ
れた包絡線強度Ｖ１を現在のチルトエラー補正量におけ
る包絡線強度としてチルトサーボが行われる。尚、ここ
では、サンプリング値の算術平均値を用いたが、総和を
用いるようにしてもよい。
【００１３】次に、補正量変更指示信号の有無を判別し
（ステップＳ１７）、補正量変更指示が有った場合に
は、チルト補正ＲＯＭに対して所定のチルト補正データ
（ΔＴ）により液晶を駆動する（ステップＳ１８）。更
に、サンプリング指示信号の有無を判別し（ステップＳ
１９）、ステップＳ１３ないしステップＳ１６で行った
手順と同様な手順を実行して平均値Ｖ２を算出する（ス
テップＳ１９〜Ｓ２２）。上記ステップの実行により得
られた、チルト補正量変更前後の包絡線強度Ｖ１，Ｖ２
の差の絶対値を所定の小さな値Ｅと比較する。この所定
の小さな値Ｅは包絡線強度が最大、すなわちチルト補正
が最適値であるか否かを判別するための閾値である。包
絡線強度Ｖ１，Ｖ２の差の絶対値が閾値Ｅよりも小さけ
れば制御をメインルーチンに戻し、閾値Ｅよりも大きけ
れば、更にＶ１，Ｖ２の大小を判別する（ステップＳ２
４）。Ｖ２がＶ１よりも大なる場合は、その差分及び液
晶の温度応答特性等に応じたチルト補正量を表すチルト
補正データ（ΔＴ）を確定する（ステップＳ２５）。Ｖ
２がＶ１よりも小なる場合は、その差分、液晶の温度応
答特性、及び補正方向を反転すべきことを含めてチルト
補正データ（ΔＴ）を確定する（ステップＳ２６）。次
に、チルト補正後の包絡線強度Ｖ２を新たにＶ１として
置き換え（ステップＳ２７）、ステップＳ１７に戻り、
チルト補正が最適となるまで上記したチルト補正量変更
及び包絡線強度の大小判別の手順を繰り返す。以上の手
順によってチルト補正制御が実行される。
（ステップＳ１７）、補正量変更指示が有った場合に
は、チルト補正ＲＯＭに対して所定のチルト補正データ
（ΔＴ）により液晶を駆動する（ステップＳ１８）。更
に、サンプリング指示信号の有無を判別し（ステップＳ
１９）、ステップＳ１３ないしステップＳ１６で行った
手順と同様な手順を実行して平均値Ｖ２を算出する（ス
テップＳ１９〜Ｓ２２）。上記ステップの実行により得
られた、チルト補正量変更前後の包絡線強度Ｖ１，Ｖ２
の差の絶対値を所定の小さな値Ｅと比較する。この所定
の小さな値Ｅは包絡線強度が最大、すなわちチルト補正
が最適値であるか否かを判別するための閾値である。包
絡線強度Ｖ１，Ｖ２の差の絶対値が閾値Ｅよりも小さけ
れば制御をメインルーチンに戻し、閾値Ｅよりも大きけ
れば、更にＶ１，Ｖ２の大小を判別する（ステップＳ２
４）。Ｖ２がＶ１よりも大なる場合は、その差分及び液
晶の温度応答特性等に応じたチルト補正量を表すチルト
補正データ（ΔＴ）を確定する（ステップＳ２５）。Ｖ
２がＶ１よりも小なる場合は、その差分、液晶の温度応
答特性、及び補正方向を反転すべきことを含めてチルト
補正データ（ΔＴ）を確定する（ステップＳ２６）。次
に、チルト補正後の包絡線強度Ｖ２を新たにＶ１として
置き換え（ステップＳ２７）、ステップＳ１７に戻り、
チルト補正が最適となるまで上記したチルト補正量変更
及び包絡線強度の大小判別の手順を繰り返す。以上の手
順によってチルト補正制御が実行される。
【００１４】以上、詳細に説明したように、本発明によ
れば、光ディスクの面振れを相殺するようにサンプリン
グを行っているので、面振れに拘わらず正確で安定した
チルト補正が可能なチルトサーボ装置を実現できる。ま
た、液晶の温度応答時間内であっても面振れ成分除去の
ためのサンプリングを実行できるので、サンプリングの
ために余分の応答時間を待つ必要も無い。
れば、光ディスクの面振れを相殺するようにサンプリン
グを行っているので、面振れに拘わらず正確で安定した
チルト補正が可能なチルトサーボ装置を実現できる。ま
た、液晶の温度応答時間内であっても面振れ成分除去の
ためのサンプリングを実行できるので、サンプリングの
ために余分の応答時間を待つ必要も無い。
【００１５】尚、上記した手順において、サンプリング
指示信号のタイミングは、液晶の温度応答特性に応じて
確定される。すなわち、あるチルト補正量において、Ｎ
回（Ｎは２以上の整数）のサンプリングを行い、包絡線
強度をその平均値により確定する場合において、Ｎ回か
らなるサンプリングは液晶の応答時間内に完了される。
また、Ｎ回のサンプリングの開始タイミング、すなわち
第１回目のサンプリングは液晶の温度応答特性に応じ
て、すなわち、応答遅れによる包絡線強度の算出誤差が
小さくなるように確定するようにしてもよい。例えば、
低温において液晶の応答が遅いとき（例えば、遅れ時
間、１００ミリ秒程度）は、応答が早い常温（例えば、
遅れ時間、数１０ミリ秒程度）に比べてサンプリングの
開始を遅らせることが好ましい。
指示信号のタイミングは、液晶の温度応答特性に応じて
確定される。すなわち、あるチルト補正量において、Ｎ
回（Ｎは２以上の整数）のサンプリングを行い、包絡線
強度をその平均値により確定する場合において、Ｎ回か
らなるサンプリングは液晶の応答時間内に完了される。
また、Ｎ回のサンプリングの開始タイミング、すなわち
第１回目のサンプリングは液晶の温度応答特性に応じ
て、すなわち、応答遅れによる包絡線強度の算出誤差が
小さくなるように確定するようにしてもよい。例えば、
低温において液晶の応答が遅いとき（例えば、遅れ時
間、１００ミリ秒程度）は、応答が早い常温（例えば、
遅れ時間、数１０ミリ秒程度）に比べてサンプリングの
開始を遅らせることが好ましい。
【００１６】更に、サンプリングの回数についても液晶
の温度応答特性に応じて確定するようにしてもよい。す
なわち、液晶の応答が遅いときはサンプリングの回数を
増やして応答遅れによる包絡線強度の算出誤差を低減す
るようにしてもよい。尚、上記実施例においては、チル
トサーボ制御装置をハードウエアの構成として説明した
が、例えばワンチップ化したＩＣを用いて構成してもよ
く、あるいはマイクロコンピュータのソフトウエア等に
より実現してもよい。
の温度応答特性に応じて確定するようにしてもよい。す
なわち、液晶の応答が遅いときはサンプリングの回数を
増やして応答遅れによる包絡線強度の算出誤差を低減す
るようにしてもよい。尚、上記実施例においては、チル
トサーボ制御装置をハードウエアの構成として説明した
が、例えばワンチップ化したＩＣを用いて構成してもよ
く、あるいはマイクロコンピュータのソフトウエア等に
より実現してもよい。
【００１７】
【発明の効果】上記したことから明らかなように、本発
明によれば、光ディスクの面振れを相殺するようにチル
ト検出信号をサンプリングすることによって、光ディス
クの面振れが有っても正確で安定したチルト補正が可能
なチルトサーボ装置を実現できる。
明によれば、光ディスクの面振れを相殺するようにチル
ト検出信号をサンプリングすることによって、光ディス
クの面振れが有っても正確で安定したチルト補正が可能
なチルトサーボ装置を実現できる。
【図１】本発明の１実施例である光ディスクプレーヤの
液晶チルトサーボ装置の構成を概略的に示すブロック図
である。
液晶チルトサーボ装置の構成を概略的に示すブロック図
である。
【図２】従来のチルトサーボ装置におけるチルトエラー
補正について説明するための図である。
補正について説明するための図である。
【図３】本発明の１実施例である液晶チルトサーボ制御
装置の構成を概略的に示すブロック図である。
装置の構成を概略的に示すブロック図である。
【図４】本発明のチルトサーボ制御装置の動作手順を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図５】本発明のチルトサーボ制御装置の動作手順を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図６】本発明のチルトサーボ制御装置の実行するサン
プリングについて説明する図である。
プリングについて説明する図である。
１ 光ディスク ２ 光ピックアップ ３ 受光素子 ７ 液晶パネル素子 ８ サーミスタ １１ ＲＦ包絡線生成器 １４ チルトサーボ制御装置 １６ ＦＧパルス検出回路 １７ システム制御部 ２１ 包絡線強度検出器 ２３ タイミング信号生成器 ２５ レジスタ ２７ 演算処理部 ３３ 温度テーブルメモリ ３５ チルト補正ＲＯＭ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山崎 仁志 埼玉県川越市大字山田字西町25番地１ パ イオニア株式会社川越工場内 (72)発明者 松田 則夫 埼玉県川越市大字山田字西町25番地１ パ イオニア株式会社川越工場内 (72)発明者 野崎 司雄 埼玉県川越市大字山田字西町25番地１ パ イオニア株式会社川越工場内 Ｆターム(参考） 2H088 EA47 EA61 MA20 2H093 NC90 ND60 NG20 5D118 AA13 AA14 BA01 BB02 BF02 BF03 CA05 CD04 CD08 DC03 DC12 5D119 AA09 AA21 BA01 DA01 DA05 EA01 EC01 JA43 JA70
Claims (5)
- 【請求項１】 光記録媒体に照射した光ビームの反射光
を検出し検出信号を生成する光検出手段と、前記光記録
媒体上の光ビーム照射位置における法線と前記光ビーム
の光軸とのなすチルト角により生じるチルトエラーを補
正するチルトエラー補正手段と、前記チルトエラー補正
手段の補正量を制御する制御手段と、前記光記録媒体を
回転させるモータの回転に同期して回転信号を生成する
回転信号生成手段と、を有するチルトサーボ装置であっ
て、 前記回転信号に基づいて所定回転角毎に前記検出信号の
包絡線信号強度のサンプリングを実行するサンプリング
手段と、 該サンプリングした包絡線信号強度の平均値を算出する
算出手段と、を有し、 前記制御手段は前記平均値に基づいて前記補正量を確定
することを特徴とするチルトサーボ装置。 - 【請求項２】 前記チルトエラー補正手段は、前記光ビ
ームの光軸上に配置された収差補正用の液晶パネル素子
であり、前記制御手段の制御信号は前記液晶パネル素子
の駆動信号であることを特徴とする請求項１記載のチル
トサーボ装置。 - 【請求項３】 前記液晶パネル素子の置かれた環境の温
度を検出する温度検出手段と、 前記液晶パネル素子の温度による応答遅れ時間を記憶す
る応答特性記憶手段と、を更に有し、 前記包絡線信号強度のサンプリングは、前記液晶パネル
素子の応答遅れ時間内に実行されることを特徴とする請
求項２記載の液晶チルトサーボ装置。 - 【請求項４】 前記包絡線信号強度のサンプリングは、
前記液晶パネル素子の応答遅れ時間に基づいて開始され
ることを特徴とする請求項３記載の液晶チルトサーボ装
置。 - 【請求項５】 前記包絡線信号強度のサンプリングの回
数は、前記液晶パネル素子の応答遅れ時間に基づいて確
定されることを特徴とする請求項３又は４記載の液晶チ
ルトサーボ装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10683799A JP3859107B2 (ja) | 1999-04-14 | 1999-04-14 | 液晶チルトサーボ装置 |
| US09/548,264 US6680886B1 (en) | 1999-04-14 | 2000-04-12 | Liquid crystal tilt servo apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10683799A JP3859107B2 (ja) | 1999-04-14 | 1999-04-14 | 液晶チルトサーボ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000298862A true JP2000298862A (ja) | 2000-10-24 |
| JP3859107B2 JP3859107B2 (ja) | 2006-12-20 |
Family
ID=14443831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10683799A Expired - Fee Related JP3859107B2 (ja) | 1999-04-14 | 1999-04-14 | 液晶チルトサーボ装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6680886B1 (ja) |
| JP (1) | JP3859107B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7075863B2 (en) | 2001-02-26 | 2006-07-11 | Teac Corporation | Method of determining optimum tracking offset value during optimum power control (OPC) for optical disk drive |
| JP2015096830A (ja) * | 2013-11-15 | 2015-05-21 | 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス | 基板処理装置および基板処理方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100613611B1 (ko) * | 2004-07-07 | 2006-08-21 | 삼성전자주식회사 | 고주파 신호의 인벨롭을 이용하여 틸트/스큐를 보정하는 광디스크 재생장치 및 방법 |
| JP2007234157A (ja) * | 2006-03-02 | 2007-09-13 | Funai Electric Co Ltd | 光ディスク装置 |
| JP4487972B2 (ja) * | 2006-04-26 | 2010-06-23 | パナソニック株式会社 | 光ディスクドライブ装置 |
| JPWO2012140832A1 (ja) * | 2011-04-13 | 2014-07-28 | パナソニック株式会社 | 光ディスク装置とその制御方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3691188B2 (ja) * | 1996-12-09 | 2005-08-31 | パイオニア株式会社 | チルトサーボシステム |
| JPH113531A (ja) | 1997-04-18 | 1999-01-06 | Pioneer Electron Corp | チルトサーボ制御装置 |
| JPH10302285A (ja) | 1997-04-23 | 1998-11-13 | Pioneer Electron Corp | サーチ方法 |
| JP3968151B2 (ja) | 1997-05-27 | 2007-08-29 | パイオニア株式会社 | 液晶駆動信号生成装置、ディスク再生装置及びディスク記録装置 |
| JP3114661B2 (ja) | 1997-07-15 | 2000-12-04 | ヤマハ株式会社 | 光ディスク装置のチルト制御装置 |
| DE19748188A1 (de) | 1997-10-31 | 1999-05-06 | Thomson Brandt Gmbh | Gerät zum Lesen oder Beschreiben optischer Aufzeichnungsträger |
| US6151154A (en) | 1998-03-12 | 2000-11-21 | Pioneer Electronic Corporation | Optical pickup, aberration correction unit and astigmatism measurement method |
| JP3545196B2 (ja) * | 1998-03-20 | 2004-07-21 | パイオニア株式会社 | チルトサーボ制御装置 |
-
1999
- 1999-04-14 JP JP10683799A patent/JP3859107B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-04-12 US US09/548,264 patent/US6680886B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7075863B2 (en) | 2001-02-26 | 2006-07-11 | Teac Corporation | Method of determining optimum tracking offset value during optimum power control (OPC) for optical disk drive |
| JP2015096830A (ja) * | 2013-11-15 | 2015-05-21 | 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス | 基板処理装置および基板処理方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6680886B1 (en) | 2004-01-20 |
| JP3859107B2 (ja) | 2006-12-20 |
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