JP2000286324A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JP2000286324A
JP2000286324A JP9108799A JP9108799A JP2000286324A JP 2000286324 A JP2000286324 A JP 2000286324A JP 9108799 A JP9108799 A JP 9108799A JP 9108799 A JP9108799 A JP 9108799A JP 2000286324 A JP2000286324 A JP 2000286324A
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JP
Japan
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shaft
temperature
boat
sensor
chamber
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Pending
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JP9108799A
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English (en)
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Kazuto Ikeda
和人 池田
Kazuhiro Nakagome
和広 中込
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Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Kokusai Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】成膜処理室に近接して設置される真空チャンバ
の温度上昇の際に、被処理基板が保持されるボートを支
持するシャフトの熱膨張を補正又は抑制し、該シャフト
の上端高さ位置を一定にして、被処理基板移載機構との
高さ位置のずれによる移載ミスを防止する。 【解決手段】ボートと基板搬送機間で被処理基板の受渡
しを行う基板処理装置に於いて、少なくともボート、基
板搬送機のいずれか一方をシャフトにて支持し、前記シ
ャフトに該シャフトの温度を検出する温度センサを設け
ると共に、前記シャフトの先端位置調節機構を設け、前
記温度センサにより検出された前記シャフトの温度信号
に基づき前記シャフト先端位置調節機構を介して前記シ
ャフトの先端位置を調節する位置制御装置を備えた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は熱処理チャンバ内で
被処理基板の搬送を行う搬送手段を有する基板処理装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば、シリコンウェーハ等の被処理基
板に成膜処理等各種プロセス処理を施して半導体素子を
形成させる基板処理装置では、図6に示す様に、加熱ヒ
ータを具備する成膜処理室1の下方に真空チャンバとな
る予備室2を有し、該予備室2内で図示しない搬送機構
によりウェーハ3がボート4に多段に装填され、所定枚
数ウェーハ3が装填された前記ボート4は、前記予備室
2外部に設けられた昇降機構5により前記成膜処理室1
内に装入され、前記ウェーハ3の処理が行われる。
【0003】前記昇降機構5とボート4はシャフト6に
よって連結され、該シャフト6の前記予備室2から露出
する部分は伸縮自在なベローズ7により覆われ、該ベロ
ーズ7の上端、下端はそれぞれOリング8によって前記
予備室2、昇降機構5に気密に固着され、前記シャフト
6の貫通部は気密にシールされている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】予備室2内にボート4
が待機している場合、成膜処理室1からの放熱により予
備室2内部が高温になり、前記シャフト6も加熱され昇
温する場合がある。該予備室2内に於いて図示しない搬
送機構とボートとの相対位置調整後にこの現象が起こる
と、前記シャフト6が熱膨張により伸びてボート4の高
さ位置が高くなる方向にずれてしまう。
【0005】該予備室2の温度上昇が大きい場合には、
ウェーハ移載機構との高さ位置が許容値以上にずれて、
移載ミス等の重大事故につながる可能性がある。
【0006】本発明は斯かる従来の問題点を解決し、予
備室2の昇温時のシャフトの熱膨張によるボートの位置
変化を抑制し、高精度な位置決めを可能とした昇降機構
を有する基板処理装置の提供を目的として為したもので
ある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、ボートと基板
搬送機間で被処理基板の受渡しを行う基板処理装置に於
いて、少なくともボート、基板搬送機のいずれか一方を
シャフトにて支持し、前記シャフトに該シャフトの温度
を検出する温度センサを設けると共に、前記シャフトの
先端位置調節機構を設け、前記温度センサにより検出さ
れた前記シャフトの温度信号に基づき前記シャフト先端
位置調節機構を介して前記シャフトの先端位置を調節す
る位置制御装置を備えた基板処理装置に係り、又温度差
の異なるチャンバ内に外部からシャフトを挿入し、チャ
ンバ内でボート、基板搬送機のいずれか一方を支持し、
前記チャンバ内にボート、基板搬送機のいずれか他方を
設け、前記ボートと前記基板搬送機間で被処理基板の受
渡しを行う基板処理装置に於いて、前記シャフトに該シ
ャフトの温度を検出する温度センサを設けると共に、該
シャフトの先端位置調節機構を設け、前記温度センサに
より検出された該シャフトの温度信号に基づき前記シャ
フト先端位置調節機構を介して該シャフトの先端位置を
調節する位置制御装置を備えた基板処理装置に係り、又
前記シャフトが昇降機構に連結され、前記シャフト先端
位置調節機構が昇降機構である基板処理装置に係り、又
前記シャフト先端位置調節機構が、該シャフト内に設け
られた温度調節機構である基板処理装置に係り、又温度
調節機構がヒータである基板処理装置に係り、更に又温
度調節機構がシャフト内部に形成された冷却通路、該冷
却通路に冷却媒体を流通させる冷却媒体循環手段である
基板処理装置に係るものである。
【0008】シャフトの温度が温度センサにより検出さ
れ、該温度センサにより検出された温度信号により前記
シャフトの材質による熱膨張率から該シャフトの熱膨張
後の長さが計算され、該シャフトの長さが所定の長さに
なる様シャフト高さ位置調節機構が制御される。従っ
て、シャフトの高さが常に設定高さに維持され、該シャ
フトにより支持されるボートと被処理基板搬送手段との
位置決め精度が向上し、例えばウェーハ移載機構との高
さ位置がずれることなく、移載ミス等の重大事故が回避
される。
【0009】或は、被処理基板搬送手段を動かすシャフ
トの温度が温度センサにより検出され、該温度センサに
より検出された温度信号が温度制御装置に送られ、該温
度制御装置により前記シャフトが加熱又は冷却され、該
シャフトの長さが所定の長さになる様シャフト温度が制
御される。従って、シャフトの高さが常に設定高さに維
持され、同様に該シャフトにより支持されるボートの被
処理基板搬送手段との位置決め精度が向上し、例えばウ
ェーハ移載機構との高さ位置がずれることなく、移載ミ
ス等の重大事故が回避される。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態を説明する。
【0011】図1に於いて本発明の第1の実施の形態を
説明する。
【0012】尚、図1中、図6中と同等のものには同符
号を付し、説明は省略する。
【0013】昇降機構5に立設され、前記予備室2の底
部を貫通し、ボート4に連結されたシャフト6の内部
に、細孔9が該シャフト6の軸心方向に且つ該シャフト
6の上端部近傍迄穿設され、該細孔9内に温度測定用セ
ンサ10が挿入されている。
【0014】該温度測定用センサ10は制御用コントロ
ーラ11に接続され、該制御用コントローラ11では前
記温度測定用センサ10からの温度測定データに基づ
き、前記シャフト6の材質による熱膨張係数とシャフト
6の長さとから、シャフト6の伸び量が計算される。
【0015】該制御用コントローラ11からは前記シャ
フト6の伸び量分に対応したシャフト移動量信号が昇降
機構5に送られ、該シャフト6が伸び量分降下されてボ
ート4の位置補正が行われる様になっている。
【0016】予備室2内でウェーハ3が装填、払出しさ
れる際、成膜処理室1からの放射熱により該予備室2内
の温度が昇温し、ウェーハ3保持用のボート4を支持す
るシャフト6は加熱され昇温し、熱膨張し始める。
【0017】該シャフト6の温度上昇は、温度測定用セ
ンサ10により検出されており、検出された温度測定デ
ータは制御用コントローラ11に送られ、該制御用コン
トローラ11では下記数式1により、前記シャフト6の
伸び量が求められる。
【0018】
【数式1】伸び量=熱膨張係数(シャフト材質による既
定値)×温度上昇値×シャフト長さ
【0019】シャフト6の伸び量が計算され、該伸び量
分が相殺される様シャフト移動量信号が昇降機構に送ら
れ、該シャフト6がボート4と共に前記伸び量分降下さ
れ、該ボート4の位置補正が行われる。
【0020】従って、該ボート4と図示しないウェーハ
移載機構との高さ位置調整後に、前記シャフト6の熱膨
張が生じても、ウェーハ3の移載ミスは回避される。
【0021】図2及び図3に於いて本発明の第2の実施
の形態を説明する。
【0022】尚、図2及び図3中、図1中と同等のもの
には同符号を付し、説明は省略する。
【0023】シャフト26内に該シャフト26の軸心方
向に2本の細孔9,13が、前記シャフト26の上端近
傍迄穿設され、一方の細孔13には温度測定用センサ1
0が奥迄挿入され、他方の細孔13には加熱ヒータ14
が同様に奥迄挿入されている。
【0024】前記温度測定用センサ10からの温度信号
は温度調整コントローラ21に送られ、該温度調整コン
トローラ21に於いて前記温度信号は前記シャフト26
の設定温度と比較され、該温度信号が設定温度よりも低
い場合に、前記加熱ヒータ14に電力供給され、前記シ
ャフト26の長さが一定に保たれる様になっている。
【0025】予備室2内でウェーハ3が装填、払出しさ
れる際、成膜処理室1からの放射熱により該予備室2内
の温度が上昇し、前記シャフト26が加熱されて温度が
上昇する場合は、前記加熱ヒータ14への給電を抑制
し、所定温度より上昇することを抑制する。前記予備室
2の温度が低下し、シャフト26の温度が下がった場合
は直ちに温度測定用センサ10により検出され、検出結
果は前記温度調整コントローラ21にフィードバックさ
れ、前記加熱ヒータ14に電力供給されてボートを支持
する前記シャフト26が加熱され、該シャフト26は所
定温度に維持される。
【0026】従って、シャフト26の温度が常に温度調
整コントローラ21にフィードバックされ温度コントロ
ールされるので、前記シャフト26の温度が所定温度に
維持され、前記シャフト26の長さは予備室2の温度変
化に拘わらず一定となり、該ボート4とウェーハ移載機
構との高さ位置調整後に、前記予備室2内の温度変化が
生じても、位置精度の狂いはなくなり、ウェーハ3の移
載ミスは防止される。
【0027】図4に於いて本発明の第3の実施の形態を
説明する。
【0028】尚、図4中、図1中と同等のものには同符
号を付し、説明は省略する。
【0029】図4は前述の基板処理装置のシャフト部分
を拡大したものであり、シャフト36の軸心方向に細孔
9が、該シャフト36の上端近傍迄穿設され、該細孔9
に温度測定用センサ10が挿入されている。更に、該シ
ャフト36内に該シャフト36の上端近傍迄届く冷却流
路15が形成され、該冷却流路15にオイル等の冷却媒
体を流す循環式温度調節器20が接続され、該循環式温
度調節器20には前記温度測定用センサ10が接続さ
れ、前記温度測定用センサ10によって検出された温度
に基づき冷却媒体の流量制御、流通停止の流量オンオフ
制御等を行い、前記シャフト36の冷却を行って該シャ
フト36を設定温度に維持する様になっている。尚、本
実施の形態では該シャフト36を室温(20℃)に維持
することも可能である。
【0030】本実施の形態に於いて、予備室2内でウェ
ーハ3が装填、払出しされる際、成膜処理室1からの放
射熱により前記予備室2内の温度が昇温し、ウェーハ保
持用のボート4を支持するシャフト36は熱伝導により
昇温し、熱膨張し始める。
【0031】該シャフト36の温度上昇は、温度測定用
センサ10により検出されて循環式温度調節器20に送
られ、該循環式温度調節器20では送られてきた温度信
号が前記シャフト36の設定温度例えば室温20℃と比
較され、該設定温度を越えた時、20℃以下に冷却され
た冷却媒体が該シャフト36の冷却流路15に供給され
る。
【0032】循環溶媒の供給により前記シャフト36が
冷却され、前記温度測定用センサ10からの温度信号が
設定温度の20℃になった時、前記循環式温度調節器2
0による冷却用循環溶媒の供給が中断され、或は流量が
低減され、前記シャフト36の温度が設定温度に維持さ
れる様フィードバック制御される。
【0033】従って、前記ボート4とウェーハ移載機構
との高さ位置調整後に、成膜処理室1から予備室2が放
射熱を受けても、前記シャフト36の熱膨張は抑制さ
れ、高さ位置のずれはなく、移載ミスは防止される。
【0034】図5に於いて本発明の第4の実施の形態を
説明する。
【0035】該第4の実施の形態では可動部としてボー
トの代りにシャフト上端にウェーハ移載機等の駆動機構
部が可動部として連結されている場合である。尚、図5
中、図1中と同等のものには同符号を付し、説明は省略
する。
【0036】図5で示すシャフト16は中空シャフトで
あり、シャフトの中空部12は通気路としての役割を果
たすと共に、図示しないウェーハ移載機構の駆動部の制
御に必要な電源ライン、信号ライン、センサライン等が
配線導入されている。前記シャフト16の中空部12の
内面には断熱材17が設けられ、該断熱材17により前
記配線が熱焼損しない様に保護されている。尚、前記配
線に断熱材17を巻設し、その後前記中空部12に挿通
する様にしてもよい。
【0037】該中空のシャフト16の実肉部に、該シャ
フト16の軸心方向に細孔9が穿設され、該細孔9に温
度測定用センサ10が挿入されている。該温度測定用セ
ンサ10は前記第1の実施の形態と同様に、制御用コン
トローラ11に接続され、該制御用コントローラ11で
は前記温度測定用センサ10からの温度測定データに基
づき、前記シャフト16の材質による熱膨張係数とシャ
フト16の長さとから、シャフト16の伸び量が計算さ
れる。
【0038】該制御用コントローラ11からは前記シャ
フト16の伸び量分に対応したシャフト移動量信号が昇
降機構に送られ、該シャフト16が伸び量分降下されて
ボート4の位置補正が行われる。
【0039】本実施の形態に於いても、予備室2内でウ
ェーハ3が装填、払出しされる際、成膜処理室1からの
放射熱により前記予備室2内の温度が昇温し、ウェーハ
移載機等の駆動機構部を支持するシャフト16は熱伝導
により昇温し、熱膨張し始める。
【0040】該シャフト16の温度上昇は、温度測定用
センサ10により検出されて制御用コントローラ11に
送られ、該制御用コントローラ11では前記数式1によ
り、シャフト16の伸び量が計算され、該伸び量分が相
殺される様シャフト移動量信号が昇降機構に送られ、該
シャフト16が前記伸び量分降下され、該シャフト16
の上端の位置補正が行われる。
【0041】従って、ウェーハ移載機構とボート4との
高さ位置調整後に、前記シャフト16の熱膨張が生じて
も、移載ミスは防止される。
【0042】尚、上記実施の形態に於いて、シャフトの
温度測定箇所は上端に限ることはない。例えば、シャフ
トの上端部と下端部とでは温度差が生じると考えられる
が、その場合シャフトの平均温度となる部分の温度を検
出する様にしてもよく、更に複数点を温度検出し、熱膨
張によるシャフトの伸びを更に精度よく演算してもよ
い。又、上記実施の形態では気密な予備室の外部に設け
られた昇降機構との関連を述べたが、気密室に限られる
ことはなく、更に昇降機構に限られるものではなく、温
度差のある2室間に掛渡って設けられる水平移動機構に
実施してもよく、或は同室内での移動機構であっても、
シャフトに経時的な温度差が生じる場合にも実施可能で
あることは勿論である。
【0043】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、ウェー
ハ等の被処理基板を保持するボートを支持するシャフト
に、温度測定用センサーが設けられ、位置制御装置を介
して該シャフトの上端高さ位置が一定に調節されるの
で、前記ボートと真空チャンバ内の被処理基板搬送手段
との間の位置決めが、該真空チャンバ内が昇温しても誤
差が補正され、高精度な位置決めが維持され、ウェーハ
等の被処理物の移載ミスが防止される等種々の優れた効
果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態を示す説明図であ
る。
【図2】本発明の第2の実施の形態を示す説明図であ
る。
【図3】該実施の形態に於けるシャフト部分を示す説明
図である。
【図4】本発明の第3の実施の形態に於けるシャフト部
分を示す説明図である。
【図5】本発明の第4の実施の形態に於けるシャフト部
分を示す説明図である。
【図6】従来の基板処理装置の説明図である
【符号の説明】
1 成膜処理室 2 予備室 3 ウェーハ 4 ボート 5 昇降機構 6 シャフト 9 細孔 10 温度測定用センサ 11 制御用コントローラ 12 中空部 13 細孔 14 加熱ヒータ 15 冷却流路 16 シャフト 26 シャフト 36 シャフト
フロントページの続き Fターム(参考) 5F031 FA03 FA19 HA67 JA13 JA46 KA02 KA20 5F045 DP19 EB08 EB10 EM10 EN04 EN05 GB05 GB15

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ボートと基板搬送機間で被処理基板の受
    渡しを行う基板処理装置に於いて、少なくともボート、
    基板搬送機のいずれか一方をシャフトにて支持し、前記
    シャフトに該シャフトの温度を検出する温度センサを設
    けると共に、前記シャフトの先端位置調節機構を設け、
    前記温度センサにより検出された前記シャフトの温度信
    号に基づき前記シャフト先端位置調節機構を介して前記
    シャフトの先端位置を調節する位置制御装置を備えたこ
    とを特徴とする基板処理装置。
  2. 【請求項2】 前記シャフトが昇降機構に連結され、前
    記シャフト先端位置調節機構が昇降機構である請求項1
    の基板処理装置。
  3. 【請求項3】 前記シャフト先端位置調節機構が、該シ
    ャフト内に設けられた温度調節機構である請求項1の基
    板処理装置。
JP9108799A 1999-03-31 1999-03-31 基板処理装置 Pending JP2000286324A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008147483A (ja) * 2006-12-12 2008-06-26 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置および基板搬送方法、ならびにコンピュータプログラム
KR101927340B1 (ko) 2018-06-08 2018-12-10 주식회사 저스템 웨이퍼 맵핑 검사 장치
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