JPH08236414A - 基板冷却装置 - Google Patents

基板冷却装置

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JPH08236414A
JPH08236414A JP6508495A JP6508495A JPH08236414A JP H08236414 A JPH08236414 A JP H08236414A JP 6508495 A JP6508495 A JP 6508495A JP 6508495 A JP6508495 A JP 6508495A JP H08236414 A JPH08236414 A JP H08236414A
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JP
Japan
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temperature
cooling
substrate
plate
target
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Pending
Application number
JP6508495A
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English (en)
Inventor
Yasuhiro Mizohata
保▲廣▼ 溝畑
Sanenobu Matsunaga
実信 松永
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP6508495A priority Critical patent/JPH08236414A/ja
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板を高速で冷却して冷却時間を短縮するこ
とができできる基板冷却装置を提供する。 【構成】 ペルチェ素子を備えた冷却プレートに基板を
載置することにより、基板を冷却する基板冷却装置にお
いて、制御部によって、冷却プレートに基板が載置され
ると、プレート温度センサで検出されたプレート温度T
P が読み込まれ、プレート温度TP が境界温度TK より
も高くなれば、目標温度TS よりも低い温度になるよう
にペルチェ素子が最大冷却出力で制御され、次いで、プ
レート温度TP が境界温度TK よりも低くなれば、目標
温度TS になるようにペルチェ素子が切り換え制御され
る。これにより、基板を目標温度TS に高速に冷却する
ことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体ウエハ、フォト
マスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス基板、
光ディスク用の基板等の基板を、フォトリソグラフィー
工程の中で、フォトレジスト液塗布や現像工程の前後に
おいて高温に加熱処理された基板を常温付近の目標温度
に冷却するために、冷却手段を備えた冷却プレートに基
板を接触載置または近接載置することにより、基板を冷
却する基板冷却装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の基板冷却装置として、例えば、
図7に示すような装置が知られている。この装置は、処
理室100内に設けられ、伝熱プレート101とペルチ
ェ素子102と放熱板103とからなる冷却プレート1
04と、その冷却プレート104に形成した貫通孔10
4aを通じて昇降可能に設けられた複数本の基板支持ピ
ン105と、各基板支持ピン105を昇降させるエアシ
リンダ106とを備えている。高温状態の基板Wを冷却
する際には、各基板支持ピン105を上昇させた状態で
基板搬送ロボット(図示せず)により基板Wの搬入を行
い、そして、各基板支持ピン105を下降させることに
より、基板Wを冷却プレート104の上に載置して基板
Wの冷却が開始されるようになっている。この時、比例
微積分(PID)制御などによってペルチェ素子102
を駆動することにより、図8のタイムチャートに示すよ
うに、冷却プレート104のプレート温度TP を基板W
を冷却すべき目標温度TS と同じ温度に維持するように
している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな基板冷却装置では、図8に示すように、冷却開始時
刻t1 において高温の基板Wが冷却プレート104に載
置されると、基板Wの基板温度TW に引っ張られて、プ
レート温度TP が一時的に上昇する。もちろんこのと
き、冷却プレート104のペルチェ素子102は、PI
D制御により冷却の目標温度TS になるように制御され
るのであるが、しかしながらその場合でも、ペルチェ素
子102の冷却能力をいくらでも大きくすることができ
るわけではないので、冷却プレート104の温度が一時
的に冷却の目標温度TS よりも高くなってしまうことは
避けがたい。従って、プレート温度TP が目標温度TS
に戻るまでの時間tP が長くなるので、基板Wを目標温
度TS まで冷却する時間tW も長くなり、その結果、装
置全体のスループットが低下するという欠点がある。
【0004】また、基板Wをすみやかに所望の温度に安
定させるためには、所望の目標温度TS 近くの温度まで
冷却した後も、冷却プレート104と基板Wの温度差を
できるだけ大きくし、かつその両方を目標温度TS に同
時に漸近させるように制御するのが望ましい。
【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、基板を高速で冷却して冷却時間を短縮
することができる基板冷却装置を提供することを目的と
する。
【0006】また、本発明は基板を目標温度まで高速で
冷却でき、かつすみやかに所望の温度に安定させること
ができる基板冷却装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、本発明の請求項1に係る基板冷却装置は、冷却手段
を備えた冷却プレートに基板を接触載置または近接載置
することにより、基板を冷却する基板冷却装置におい
て、前記冷却プレートの温度を検出する測温手段と、基
板を冷却すべき目標温度を記憶する目標温度記憶手段
と、前記目標温度よりも高い温度に設定された境界温度
を記憶する境界温度記憶手段と、前記冷却プレートに基
板が載置されると、前記測温手段で検出された前記冷却
プレートの温度を読み込み、読み込んだ前記冷却プレー
トの温度と、前記境界温度記憶手段に記憶された境界温
度とを比較し、前記冷却プレートの温度が前記境界温度
よりも高い時には前記冷却手段を最大冷却出力で制御
し、前記冷却プレートの温度が前記境界温度よりも低い
時には、前記目標温度記憶手段から目標温度を呼び出
し、前記冷却プレートの温度が前記目標温度になるよう
に前記冷却手段を切り換え制御する制御手段と、を備え
たものである。
【0008】また、請求項2に係る基板冷却装置は、前
記測温手段の温度検出動作を前記冷却手段の制御に対し
て遅延させる遅延手段をさらに備えたものである。
【0009】
【作用】本発明の作用は次のとおりである。請求項1の
発明によれば、冷却プレートに基板が載置されると、基
板の温度は急速に下降し、一方、冷却プレートの温度
は、基板の温度に引っ張られて一次的に上昇する。この
際、制御手段によって、測温手段で検出された冷却プレ
ートの温度が読み込まれ、この冷却プレートの温度と境
界温度記憶手段に記憶された境界温度とが比較される。
そして、冷却プレートの温度が境界温度よりも高くなれ
ば、冷却手段がその最大冷却出力で制御される。これに
より、冷却プレートは冷却処理の初期においては強力に
冷却され、基板の温度に引っ張られる冷却プレートの温
度上昇が抑えられて速く回復することになる。これに伴
って基板の温度も高速に下降することになる。
【0010】そして、冷却プレートの温度が下降して境
界温度よりも低くなれば、目標温度記憶手段から目標温
度を呼び出し、冷却プレートの温度が目標温度になるよ
うに冷却手段が切り換えられる。これにより、冷却プレ
ートの温度と基板の温度とが目標温度に収束することに
なり、基板は目標温度に速やかに安定して冷却される。
【0011】また、請求項2の発明によれば、冷却手段
の冷却により冷却手段の温度が境界温度に達しても、測
温手段の温度検出動作は遅延手段により遅延されている
ので、冷却手段は境界温度よりも低温まで最大冷却出力
で駆動され、冷却プレートも境界温度よりも低温まで冷
却されることになる。そして、その冷却の間に測温手段
が境界温度よりも低い温度を検出し、冷却手段は基板を
冷却すべき目標温度を目標とした制御に切り換えられ
る。この間の冷却処理においては、冷却プレートと基板
との温度差が比較的大きくなり、また、その両方の温度
が目標温度にほぼ同時に漸近することになり、基板はす
みやかにかつ所望の温度に安定して冷却される。
【0012】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。
【0013】図1は、本発明に係る基板冷却装置の実施
例を示す全体縦断面図であり、図2はその要部の平面図
である。ハウジング1内の下方に基板冷却装置2が設け
られ、その上方に基板加熱装置3が設けられている。
【0014】基板冷却装置2は、処理室4内に冷却プレ
ート5を設けるとともに、その冷却プレート5に形成し
た貫通孔6を通じて複数本の基板支持ピン7を昇降可能
に設け、更に、図2に示すように、冷却プレート5上
に、冷却プレート5の表面と基板Wとの間に均一冷却の
ための所定の隙間(プロキシミティギャップ)を形成す
る複数個のプロキシミティボール8を設けて構成されて
いる。
【0015】各基板支持ピン7を一体的に保持した支持
部材9にエアシリンダ10が連動連結され、そのエアシ
リンダ10の伸縮によって基板支持ピン7が昇降される
ように構成されている。各基板支持ピン7を上昇させた
状態で基板搬送ロボット(図示せず)により基板Wの搬
入・搬出を行い、そして、各基板支持ピン7を下降させ
ることにより、基板Wを冷却プレート5上の各プロキシ
ミティボール8に載置して支持できるようになってい
る。
【0016】冷却プレート5は、基板Wを載置するアル
ミニウム製の伝熱プレート11と、給水管12および排
水管13を接続したアルミニウム製の水冷式の放熱板1
4と、伝熱プレート11と放熱板14との間に介在され
た冷却手段としての急冷用のペルチェ素子15とから構
成されている。放熱板14は、ペルチェ素子15の熱を
放熱するためのものである。伝熱プレート11の中央箇
所近くにペルチェ素子15によって冷却される冷却プレ
ート5のプレート温度TP を測定する測温手段としての
プレート温度センサ16が設けられている。なお、ペル
チェ素子15は、その素子に許容される最大の電流を供
給してその最大冷却出力で駆動したとき、冷却プレート
5を基板の冷却の目標温度TS よりも十分に低い温度ま
で冷却する能力を有するものが使用される。また、ペル
チェ素子15とプレート温度センサ16との位置関係は
後述する。
【0017】次に、図3のブロック図を参照して制御系
の構成を説明する。図3に示すように、プレート温度セ
ンサ16、後述する各設定値を入力する入力部20、基
板Wの送り出し信号を出力する搬送制御部21それぞれ
が制御部22に接続されるとともに、この制御部22
に、電磁弁17などを介してエアシリンダ10を駆動す
る基板昇降駆動部27と、ペルチェ素子15に対する冷
却駆動部28とが接続されている。
【0018】入力部20では、オペレータがキーボード
等から冷却プレート5の設定温度等の必要な各設定値を
入力することにより、その入力された各設定値を制御部
22に出力して設定するようになっている。各設定値に
ついては後述する。
【0019】搬送制御部21では、例えば、基板搬送ロ
ボットによって搬入されてきた基板Wが冷却プレート5
の上方に上昇された基板支持ピン7に載置されるタイミ
ングを予め時間管理しておき、そのタイミングがきた
ら、基板Wが基板支持ピン7に載置されたとみなして基
板送り出し信号を制御部22に出力するようになってい
る。
【0020】制御部22には、コントローラ23と、基
板Wを冷却すべき目標温度TS を記憶する目標温度記憶
手段としての目標温度記憶部24と、目標温度TS より
も高い温度に設定された境界温度TK を記憶する境界温
度記憶手段としての境界温度記憶部25と、冷却プレー
ト5のプレート温度TP を制御する温度制御部26とが
備えられている。
【0021】コントローラ23は、入力部20から与え
られた目標温度TS を目標温度記憶部24に、境界温度
K を境界温度記憶部25に、それぞれ記憶させるとと
もに、目標温度TS を温度制御部26に設定する。ま
た、温度制御部26を介してプレート温度TP を読み出
し、境界温度記憶部25に記憶された境界温度TK に基
づいて温度制御部26の制御を切り換えるものである。
また、上記した搬送制御部21からの基板送り出し信号
に応答して、基板昇降駆動部27に基板支持ピン7を昇
降させるためのピン下降指令やピン上昇指令を出力する
ものである。すなわち、入力部20から入力された温度
値データ(詳細は後述する)から境界温度Tk を算出す
る算出機能と、入力された目標温度TS を目標温度記憶
部24に、算出した境界温度Tk を境界温度記憶部25
に、それぞれ記憶させる書き込み機能と、プレート温度
センサ16により検出される冷却プレート5の温度TP
を読み込んで境界温度記憶部25に記憶された境界温度
k と比較する比較機能と、その比較の結果、プレート
温度TP が境界温度Tk よりも高いときには後述する温
度制御部26に対し最大冷却出力での冷却動作を指示す
る最大出力駆動指示機能と、比較の結果、プレート温度
P が境界温度Tk 以下のときには後述する温度制御部
26に対し目標温度記憶部24に記憶されている目標温
度TS を読み出して後述する温度制御部26に対しPI
D制御の目標温度として出力してPID制御の開始を指
示するPID制御指示機能と、あらかじめ設定した冷却
処理時間tE の経過を計時する計時機能と、その計時機
能の計時結果や搬送制御部21からの基板送り出し信号
に応じて基板昇降制御部27に基板支持ピン7を昇降さ
せるためのピン下降指令、ピン上昇指令を出力するピン
制御機能とを有する。
【0022】温度制御部26も、同じくいわゆるマイク
ロコンピュータよりなる。この温度制御不26は周知の
PID制御のためのプログラムを内蔵したPID制御機
能と、そのような制御は行なわずにペルチェ素子15を
単純にその最大能力を発揮するよう最大冷却出力で連続
的に駆動する最大出力駆動機能とを有する。この2つの
機能はコントローラ23の制御により選択される。PI
D制御機能においては、プレート温度センサ16によっ
て計測される冷却プレート5のプレート温度TP を参照
し、冷却駆動部28に制御信号を出力することにより、
ペルチェ素子15を所定の目標温度にPID制御する。
この温度制御部26がペルチェ素子15をPID制御す
べき目標温度は、コントローラ23から出力される設定
温度であり、コントローラ23から目標温度TS が出力
されたときには、ペルチェ素子15は目標温度TS とな
るようにPID制御される。また、最大出力駆動機能に
おいては、最大冷却出力となるような制御信号を冷却駆
動部28に出力して、ペルチェ素子15に対しその素子
に許容される最大の電流を連続的に供給し、ペルチェ素
子15を最大冷却出力で連続的に駆動する。また、温度
制御部26はプレート温度センサ16が計測した冷却プ
レート5のプレート温度TP を常時入力し、コントロー
ラ23へも伝える。なお、本実施例では、コントローラ
23や温度制御部26はそれぞれ単一のマイクロコンピ
ュータにより各機能を実現したが、これらの機能を個別
に有する複数の回路を別個に設けても良い。
【0023】本実施例の冷却制御は、プレート温度TP
が境界温度TK を越えた時にペルチェ素子15をその最
大冷却出力で駆動し、プレート温度TP の温度上昇を抑
えることにより、基板Wを高速で冷却し、且つ目標温度
に正確に冷却するものである。以下に具体的に説明す
る。
【0024】上記構成による冷却制御動作につき、コン
トローラが実行する制御を示す図4,図5のフローチャ
ートおよび図6のタイムチャートを用いて説明する。図
6において(a)は基板支持ピン7の昇降による基板W
の搬送タイミングを示し、(b)はタイムチャートであ
り、基板Wの基板温度TW を実線で、冷却プレート5の
プレート温度TP を破線で、また従来の冷却制御による
基板温度T’W とプレート温度T’P とを二点鎖線で図
示している。なお、冷却開始時刻t1 において、基板W
が冷却プレート5に載置されて冷却が開始されるが、そ
の直後は基板温度TW は高温であるため、図6の(b)
では、その直後の基板温度TW ,T’Wの記載を省略し
ている。
【0025】ステップ1:先ず、入力部20から各設定
値を入力する。各設定値としては、基板Wを冷却すべき
目標温度TS 、目標温度TS に応じた境界温度TK を設
定するためのオフセット値m、基板Wの冷却開始時刻t
1 から冷却終了時刻t2 までの基板冷却時間tE 等があ
り、これらは基板Wの種類やペルチェ素子15の能力な
どに応じて予め実験的に決定されるものである。なお、
基板冷却時間tE はコントローラ23の内部のメモリに
記憶される。
【0026】コントローラ23は、各設定値のうち目標
温度TS を目標温度記憶部24に記憶させる。また、目
標温度TS とオフセット値mとから境界温度TK を算
出、すなわち、境界温度TK =TS +mを算出し、算出
された境界温度TK を境界温度記憶部25に記憶させ
る。例えば、目標温度TS :20℃、オフセット値m:
0.5℃とすると、境界温度TK は目標温度TS よりも少
し高い温度である20.5℃と設定される。このように、入
力された目標温度TS にオフセット値mを加える計算に
より境界温度Tk を算出する方法で境界温度を設定して
いるので、目標温度を変更した場合でも、境界温度はそ
の目標温度に対応した値が自動的に算出されることにな
り、装置の使い勝手に優れている。なお、オフセット値
mは、例えば、周囲温度の変化などの通常の外乱影響を
受けて冷却プレート5のプレート温度TP がゆらぎ得る
温度変化量よりも高くなるように設定される。これによ
り、目標温度TS 近傍の通常の温度領域においては、す
なわち高温の基板が搬入されたとき以外においては、コ
ントローラ23による制御がPID制御から外れること
はなく、冷却プレート5の温度はPID制御によって目
標温度TS に良好に調整制御される。また、高温の基板
が搬入されたときには、ペルチェ素子15を最大冷却出
力で連続的に駆動することになり、基板を高速で冷却で
きる。なお、冷却速度の面では、最大冷却出力での冷却
動作の時間を長く続けることができるよう、オフセット
値mが小さく、境界温度Tk が目標温度TS に近いほど
望ましい。
【0027】ステップ2:次に、コントローラ23は、
基板Wが冷却プレート5上に載置される以前、すなわち
基板Wの冷却開始時刻t1 以前に温度制御部26に対し
PID制御の目標温度として目標温度TS を設定し、図
6(b)に示すように、冷却プレート5のプレート温度
P が目標温度TS になるように、PID制御によって
ペルチェ素子15を駆動する。その結果、基板Wが冷却
プレート5に載置される以前では、冷却プレート5のプ
レート温度TP が予め基板を冷却すべき目標温度TS
保たれていることになる。
【0028】ステップ3,4,5:次に、コントローラ
23は、搬送制御部21から基板送り出し信号が出され
たかどうかを判断する。すなわち、基板Wが基板支持ピ
ン7に搬入されたかどうかを判断する。基板Wが基板支
持ピン7上に搬入されると、コントローラ23は、基板
昇降駆動部27にピン下降指令を出し、エアシリンダ1
0の収縮によって基板支持ピン7が下降されて基板Wが
冷却プレート5上の各プロキシミティボール8に載置さ
れる。これにより、基板W1 は冷却プレート5上に近接
載置され、このときから基板W1 の冷却動作が開始され
る(時刻t1 )。コントローラ23は、ピン下降が完了
したかどうかを判断し、完了すると次のステップ6に移
行する。
【0029】ステップ6,7:基板Wの冷却が開始され
ると、コントローラ23は、温度制御部26を介してプ
レート温度センサ16で計測される冷却プレート5のプ
レート温度TP を順次読み込む。冷却プレート5に基板
Wが載置されると、図6(b)に示すように、基板Wの
基板温度TW は急速に下降し始めるが、プレート温度T
P は基板温度TW に引っ張られて一時的に上昇すること
になる。そこで、コントローラ23は、上昇するプレー
ト温度TP を読み込んで、このプレート温度TP と、境
界温度記憶部25に記憶させた境界温度TK とを比較す
ることにより、プレート温度TP が境界温度TK を越え
たかどうかを判断している。そして、プレート温度TP
が境界温度TK を越えると、すなわち、プレート温度T
P が境界温度TK よりも高くなれば、次のステップ8に
移行する。
【0030】ステップ8:コントローラ23は、ペルチ
ェ素子15をその最大冷却出力で駆動するように、温度
制御部26の制御を切り換える。すなわち、図6(b)
に示すように、プレート温度TP が境界温度TK に達し
た時点tK1を越えると、温度制御部26は、ペルチェ素
子15をその最大冷却出力で駆動する。これにより、ペ
ルチェ素子15は冷却プレート5を強力に冷却し、高温
である基板温度TW に引っ張られるプレート温度TP
上昇温度TH が抑えられることになり、tH 点にて、プ
レート温度TP は再び下降を開始する。このように、プ
レート温度TPの上昇が、プレート温度T’P の温度上
昇に比べて低く抑えられるので、プレート温度TP が速
く回復することになり、これに伴って基板温度TW も、
基板温度T’W に比べて高速に冷却される。
【0031】この間もステップ6に戻り、冷却プレート
5の下降するプレート温度TP を順次読み込み、プレー
ト温度TP が境界温度TK に達すると、すなわち、プレ
ート温度TP が境界温度TK 以下になれば、次のステッ
プ9に移行する。
【0032】ステップ9:ステップ2と同様に、コント
ローラ23は、温度制御部26に目標温度TS を設定す
る。すなわち、図6(b)に示すように、プレート温度
Pが境界温度TK に達した時刻tK2において、温度制
御部26は冷却プレート5のプレート温度TP が目標温
度TS になるように、PID制御によってペルチェ素子
15を駆動する。
【0033】プレート温度センサ16で計測されるプレ
ート温度TP が境界温度TK に達した時刻tK2で、ペル
チェ素子15の駆動が目標温度TS を目標としたPID
制御に切り換えられるが、プレート温度センサ16の設
置位置は、その温度検出動作がペルチェ素子15に対し
て温度制御に適度の遅れが生じるように設定されてい
る。すなわち、図6(b)に示すように、プレート温度
P が、目標温度TS を過ぎてそれよりも低い温度TL
まで下降した後、再び上昇して目標温度TS になるよう
に、上記したプレート温度センサ16は、ペルチェ素子
15から離れた位置で、冷却プレート5の表面に近い位
置に配置されている。この位置は予め実験的に決定され
るものである。すなわち、このペルチェ素子15とプレ
ート温度センサ16との間に存する冷却プレート5自体
が遅延手段に相当する。ペルチェ素子15の冷却により
ペルチェ素子15の温度が境界温度Tk に達しても、プ
レート温度センサ16の温度検出動作はその配置位置の
ために遅延されているので、ペルチェ素子15は境界温
度Tk よりも低温まで最大冷却出力で駆動され、冷却プ
レート5の表面も若干遅れても境界温度よりも低温まで
冷却される。そして、その冷却の間にプレート温度セン
サ16が境界温度Tk よりも低い温度を検出し、ペルチ
ェ素子15は目標温度TS を目標とした制御に切り換え
られる。なお、図6中で、Pはペルチェ素子15の温度
変化を示し、tD はプレート温度センサ16の設置位置
による制御遅れの遅延時間を示す。
【0034】そして、このようなペルチェ素子15の最
大冷却出力での連続的駆動とプレート温度センサ16の
設置位置による適度の制御遅れにより、冷却プレート5
のプレート温度TP は目標温度TS よりも一時的に低く
なるが、基板温度TW は、基板Wと冷却プレート5との
間の熱伝達の遅れにより、目標温度TS にまでは低下し
ていない。そして、その後、目標温度TS よりも低くな
っていたプレート温度TP がPID制御により下方から
目標温度TS に漸近し、それとほぼ同時に、低下してき
た基板温度TW も目標温度TS に収束し、冷却時刻t2
において、プレート温度TP と基板温度TW とが互いに
目標温度に収束することになり、基板温度TW が目標温
度TS 以下に冷やされ過ぎることなく精度良く冷却され
る。この際、tL 時点において、プレート温度TP と基
板温度TW の温度差ΔTS2が、従来の目標温度TS と基
板温度TW との温度差ΔTS1に比べて大きいので、熱が
速く移動することになり、これに伴って基板温度TW
目標温度TS に速く到達することになる。従って、従っ
て、基板Wを目標温度TS まで冷却する時間を短縮で
き、装置全体のスループットを向上させることができ、
また、基板温度TW を早く目標温度TS に安定させるこ
とができる。なお、本実施例ては、基板Wと冷却プレー
ト5との間の熱伝達の遅れが、両者の間にプロキシミテ
ィギャップが形成されていることもあって比較的大き
く、その熱伝達の遅れの間にプレート温度TP を目標温
度TS よりも低くさせることで、冷却の高速化を実現し
ており、プレート温度TP と基板温度TW の両者がほぼ
同時に目標温度TS に収束して早く安定するようにPI
D制御の各種パラメータを設定していた。なお、基板W
を冷却プレート5に直接載置して両者を密着させて冷却
する場合でも、両者の間に熱伝達の遅れがあれば、同様
の制御を行なうことができる。
【0035】図4,図5のフローチャートに戻る。 ステップ10,11,12:次に、コントローラ23
は、予め設定された基板冷却時間tE がタイムアップし
たか否か判断する。なお、基板冷却時間tE は、基板W
の初期温度のバラツキ等を考慮して少し長めに設定され
る。基板冷却時間tE がタイムアップすると、冷却終了
時刻t2 において、コントローラ23は、基板昇降駆動
部28にピン上昇指令を出し、エアシリンダ10の伸長
によって基板支持ピン7を上昇させる。これにより、基
板Wは冷却プレート5の上方に持ち上げられて冷却が終
了する。そして、ステップ3に戻って、次の基板Wが冷
却プレート5に載置されるまで、冷却プレート5のプレ
ート温度TP を目標温度TSに保持しておく。これらの
動作を繰り返すことにより、複数枚の基板Wに対して、
目標温度TS 例えば20℃の常温まで冷却してから次の処
理工程へと移載していくのである。
【0036】なお、上記実施例では、基板Wが冷却プレ
ート5に載置される前に、目標温度TS になるように制
御しているが、本発明はこれに限定されるものではな
く、例えば、プレート温度TP が目標温度TS よりも低
い温度になるようにしても良い。すなわち、冷却プレー
ト5を、基板Wを冷却すべき目標温度よりも低い温度に
なるように設定することにより、基板Wの冷却開始時に
おいて、基板温度TW とプレート温度TP との温度差が
大きく、基板温度TW は目標温度よりも低い温度に向か
ってより高速に冷却される。
【0037】また、上記実施例では、プレート温度TP
が境界温度TK よりも低い場合にはペルチェ素子15を
PID制御で駆動しているが、本発明はこれに限定され
るものではなく、例えば、オン・オフ制御するものでも
良く、要するに、冷却プレート5をそのプレート温度T
P が目標温度TS になるように、それらの設定温度を目
標として駆動するものであれば良い。
【0038】また、上記実施例では、搬送制御部21か
らの基板送り出し信号を判別することにより、基板Wが
冷却プレート5上に搬入されたかどうかを検出している
が、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、
プレート温度センサ16を用いて所定の設定温度と比較
して基板Wが冷却プレート5上に搬入されたかどうかを
検出するようにしても良い。すなわち、基板Wが搬入さ
れると冷却プレート5も少なからず昇温するので、その
ことにより搬入を検知するようにしても良い。
【0039】また、上記実施例では、基板Wを冷却プレ
ート5上の各プロキシミティボール8に載置している
が、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、
プロキシミティボール8を設けずに基板Wを冷却プレー
ト5上に直接載置するようにしてもよい。
【0040】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1の発明によれば、冷却プレートの温度が境界温度より
も高くなれば、制御手段によって冷却手段が最大冷却出
力で駆動制御されるので、冷却プレートの温度上昇が抑
えられて速く回復することになり、基板を高速に冷却す
ることができる。従って、基板を目標温度まで冷却する
時間を短縮でき、装置全体のスループットを向上させる
ことができる。
【0041】また、請求項2の発明によれば、測温手段
の温度検出動作は遅延手段より遅延されているので、冷
却手段は境界温度よりも低温まで最大冷却出力で駆動さ
れ、冷却プレートも境界温度よりも低温まで冷却され、
その後、冷却手段は目標温度を目標とした制御に切り換
えられるので、この間、冷却プレートと基板との温度差
が比較的大きくなり、また、その両方の温度が目標温度
にほぼ同時に漸近することになり、基板をすみやかにか
つ所望の温度に安定して冷却することができる。
【0042】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る基板冷却装置の実施例を示す全体
縦断面図である。
【図2】図1の要部の平面図である。
【図3】ブロック図である。
【図4】制御動作のフローチャートである。
【図5】制御動作のフローチャートである。
【図6】タイムチャートである。
【図7】従来装置の概略縦断面図である。
【図8】従来装置のタイムチャートである。
【符号の説明】
2…基板冷却装置 4…処理室 5…冷却プレート 7…基板支持ピン 13…エアシリンダ 14…放熱板 15…ペルチェ素子(冷却手段) 16…プレート温度センサ(測温手段) 18…放熱水温度センサ 20…入力部 21…搬送制御部 22…制御部(制御手段) 23…コントローラ 24…目標温度記憶部(目標温度記憶手段) 25…境界温度記憶部(境界温度記憶手段) 26…温度制御部 27…冷却駆動部 28…基板昇降駆動部 W…基板

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 冷却手段を備えた冷却プレートに基板を
    接触載置または近接載置することにより、基板を冷却す
    る基板冷却装置において、 前記冷却プレートの温度を検出する測温手段と、 基板を冷却すべき目標温度を記憶する目標温度記憶手段
    と、 前記目標温度よりも高い温度に設定された境界温度を記
    憶する境界温度記憶手段と、 前記冷却プレートに基板が載置されると、前記測温手段
    で検出された前記冷却プレートの温度を読み込み、読み
    込んだ前記冷却プレートの温度と、前記境界温度記憶手
    段に記憶された境界温度とを比較し、前記冷却プレート
    の温度が前記境界温度よりも高い時には前記冷却手段を
    最大冷却出力で制御し、前記冷却プレートの温度が前記
    境界温度よりも低い時には、前記目標温度記憶手段から
    目標温度を呼び出し、前記冷却プレートの温度が前記目
    標温度になるように前記冷却手段を切り換え制御する制
    御手段と、 を備えたことを特徴する基板冷却装置。
  2. 【請求項2】 前記測温手段の温度検出動作を前記冷却
    手段の制御に対して遅延させる遅延手段をさらに備えた
    請求項1に記載の基板冷却装置。
JP6508495A 1995-02-27 1995-02-27 基板冷却装置 Pending JPH08236414A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016072509A (ja) * 2014-09-30 2016-05-09 ブラザー工業株式会社 温度制御装置、半導体モジュール、およびレーザ加工装置
JP2016072510A (ja) * 2014-09-30 2016-05-09 ブラザー工業株式会社 温度制御装置、およびレーザ加工装置
KR20170120151A (ko) * 2015-03-26 2017-10-30 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 열처리 장치 및 열처리 방법

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