JP2000261140A - Manufacture of printed circuit board - Google Patents

Manufacture of printed circuit board

Info

Publication number
JP2000261140A
JP2000261140A JP5879299A JP5879299A JP2000261140A JP 2000261140 A JP2000261140 A JP 2000261140A JP 5879299 A JP5879299 A JP 5879299A JP 5879299 A JP5879299 A JP 5879299A JP 2000261140 A JP2000261140 A JP 2000261140A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
layer
resin filler
conductor circuit
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5879299A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhito Yamada
和仁 山田
Yoichiro Kawamura
洋一郎 川村
Hironori Tanaka
宏徳 田中
Yoshifumi Ishitani
嘉史 石谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP5879299A priority Critical patent/JP2000261140A/en
Publication of JP2000261140A publication Critical patent/JP2000261140A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a printed circuit board that assures excellent connection and reliability by forming a smooth substrate having through holes and conductive circuits and thereby forming thereon interlayer insulation layers and upper layer conductive circuits. SOLUTION: In a method of manufacturing a printed circuit board, a mask having an aperture at the area where a conductive circuit non-forming and conductor circuit external edge are overlapped is placed on the insulated substrate, where the through holes 9 and conductive circuits are formed, the through holes 9 are filled with resin filling material 10, and this mask is coated with the resin filling material 10. As a result, a layer of resin filling material 10 is formed at the external edge area of the conductor non-forming area and conductor circuit.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、スルーホールおよ
び下層導体回路を有する平坦な基板を形成することがで
きるプリント配線板の製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a printed wiring board capable of forming a flat substrate having a through hole and a lower conductive circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】いわゆる多層ビルドアップ配線基板と呼
ばれる多層プリント配線板は、セミアディティブ法等に
より製造されており、コアと呼ばれる0.5〜1.5m
m程度のガラスクロス等で補強された樹脂基板の上に、
銅等による導体回路と層間樹脂絶縁層とを交互に積層す
ることにより作製される。この多層プリント配線板の層
間樹脂絶縁層を介した導体回路間の接続は、バイアホー
ルにより行われている。
2. Description of the Related Art A multilayer printed wiring board called a so-called multilayer build-up wiring board is manufactured by a semi-additive method or the like.
m on a resin substrate reinforced with glass cloth, etc.
It is manufactured by alternately laminating a conductor circuit made of copper or the like and an interlayer resin insulating layer. The connection between the conductor circuits via the interlayer resin insulation layer of the multilayer printed wiring board is performed by via holes.

【0003】従来、ビルドアップ多層プリント配線板
は、例えば、特開平9−130050号公報等に開示さ
れた方法により製造されている。すなわち、まず、銅箔
が貼り付けられた銅貼積層板に貫通孔を形成し、続いて
無電解銅めっき処理を施すことによりスルーホールを形
成する。続いて、基板の表面をフォトリソグラフィーの
手法を用いて導体パターン状にエッチング処理して導体
回路を形成する。次に、形成された導体回路の表面に、
無電解めっきやエッチング等により粗化層を形成し、そ
の粗化層の上に絶縁樹脂の層を形成した後、露光、現像
処理を行ってバイアホール用開口を形成し、その後、U
V硬化、本硬化を経て層間樹脂絶縁層を形成する。さら
に、層間樹脂絶縁層に酸や酸化剤などにより粗化処理を
施した後、薄い無電解めっき膜を形成し、この無電解め
っき膜上にめっきレジストを形成した後、電解めっきに
より厚付けを行い、めっきレジスト剥離後にエッチング
を行って導体回路を形成する。これを繰り返すことによ
り、ビルドアップ多層プリント配線板が得られる。
Conventionally, build-up multilayer printed wiring boards have been manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-130050. That is, first, a through-hole is formed in the copper-clad laminate on which the copper foil is stuck, and then a through-hole is formed by performing an electroless copper plating process. Subsequently, the surface of the substrate is etched into a conductor pattern using a photolithography technique to form a conductor circuit. Next, on the surface of the formed conductor circuit,
After forming a roughened layer by electroless plating or etching, forming an insulating resin layer on the roughened layer, performing exposure and development processing to form a via hole opening,
After V curing and main curing, an interlayer resin insulating layer is formed. Further, after roughening the interlayer resin insulation layer with an acid or an oxidizing agent, a thin electroless plating film is formed, a plating resist is formed on the electroless plating film, and then a thick film is formed by electrolytic plating. Then, after removing the plating resist, etching is performed to form a conductor circuit. By repeating this, a build-up multilayer printed wiring board is obtained.

【0004】このような多層プリント配線板において、
銅貼基板をエッチングすることにより導体回路を形成す
ると、基板上に凹凸が形成される。また、スルーホール
が形成された直後の基板では、基板内に多数の貫通孔が
存在することになる。従って、このままの状態の基板上
に層間樹脂絶縁層を形成しようとすると、これら基板表
面の凹凸や貫通孔のために、形成される層間樹脂絶縁層
も凹凸が激しくなり、層間樹脂絶縁層に形成するバイア
ホールや接続パッドが変形し、接続不良等を引き起こす
可能性がある。そこで、通常は、導体回路が形成された
基板の表面を平坦化するために、樹脂充填材をスルーホ
ールや導体回路の非形成部に充填することが行われてい
る。
In such a multilayer printed wiring board,
When a conductive circuit is formed by etching a copper-clad substrate, irregularities are formed on the substrate. In addition, in the substrate immediately after the formation of the through hole, a large number of through holes exist in the substrate. Therefore, if an attempt is made to form an interlayer resin insulation layer on the substrate in this state, the interlayer resin insulation layer to be formed becomes severe due to the irregularities and through holes on the surface of the substrate. Via holes and connection pads may be deformed, resulting in poor connection and the like. Therefore, in order to flatten the surface of the substrate on which the conductor circuit is formed, a resin filler is usually filled in the through-holes and portions where the conductor circuit is not formed.

【0005】特開平9−191178号公報には、樹脂
充填材をスルーホールや導体回路の非形成部に充填する
方法が開示されている。この方法によると、スルーホー
ルおよび導体回路が形成された基板に、樹脂充填材を塗
布して樹脂充填材の層を形成した後、乾燥させることに
より半硬化状態とし、続いて、表面を研摩することによ
りスルーホールのランド部分および導体回路(以下、ス
ルーホールのランド部分も含めた導体層を導体回路とも
いう)を露出させ、基板全体を平坦化する。この後、平
坦化された基板上に層間樹脂絶縁層を形成することによ
り、導体回路の接続性および信頼性に優れた多層プリン
ト配線板が得られるとされている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-191178 discloses a method of filling a resin filler into a through-hole or a portion where a conductor circuit is not formed. According to this method, a resin filler is applied to the substrate on which the through-holes and the conductor circuits are formed to form a layer of the resin filler, which is then dried to a semi-cured state, and then the surface is polished. This exposes the land portion of the through hole and the conductor circuit (hereinafter, the conductor layer including the land portion of the through hole is also referred to as a conductor circuit), and planarizes the entire substrate. Thereafter, by forming an interlayer resin insulating layer on the flattened substrate, a multilayer printed wiring board excellent in the connectivity and reliability of the conductor circuit can be obtained.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この方
法では、樹脂充填材を基板の全面に塗布し、半硬化させ
た後に研摩を行っており、硬化の程度が不充分な場合に
は、研摩時の樹脂屑、銅片、研摩石等の異物が樹脂充填
材の層に刺さり、その上に層間樹脂絶縁層を形成して
も、これらの異物が起点になって剥離が発生したり、半
硬化のために樹脂が取れてしまい局部的に基板が平坦に
ならない部分が発生したりして、導体回路の接続性や信
頼性に大きな影響を与えてしまう。
However, in this method, a resin filler is applied to the entire surface of the substrate, and is polished after being semi-cured. If the degree of curing is insufficient, the polishing is carried out. Even if foreign matter such as resin dust, copper chips, grinding stones, etc. stabs into the resin filler layer and forms an interlayer resin insulation layer on it, these foreign matter may cause delamination or semi-curing. As a result, the resin is removed and a portion where the substrate does not become flat locally occurs, which greatly affects the connectivity and reliability of the conductor circuit.

【0007】また、基板の全面が樹脂充填材で覆われて
いるため、研摩を行っても、導体回路が完全に露出して
いない場合があり、この場合には、接続不良が発生す
る。さらに、導体回路を完全に露出させようとして、再
度、研摩を行うと、導体回路の一部が薄くなりすぎた
り、完全になくなってしまうという不都合も発生する。
Further, since the entire surface of the substrate is covered with the resin filler, the conductor circuit may not be completely exposed even when the polishing is performed. In this case, a connection failure occurs. Further, if the polishing is performed again in order to completely expose the conductor circuit, there is a disadvantage that a part of the conductor circuit becomes too thin or completely disappears.

【0008】本発明は、上述の問題を解決するためにな
されたものであり、その目的は、スルーホールおよび導
体回路を有する平滑な基板を形成することができ、その
結果、その上に層間樹脂絶縁層や上層導体回路を形成す
ることにより、接続性及び信頼性に優れたプリント配線
板とすることができるプリント配線板の製造方法を提案
することにある。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problem, and an object of the present invention is to form a smooth substrate having a through hole and a conductive circuit, and as a result, an interlayer resin is formed thereon. An object of the present invention is to propose a method for manufacturing a printed wiring board that can be formed into a printed wiring board having excellent connectivity and reliability by forming an insulating layer and an upper conductor circuit.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記目的
の実現に向け鋭意研究した結果、以下に示す内容を要旨
構成とする発明に到達した。即ち、第一の本発明のプリ
ント配線板の製造方法は、スルーホールおよび導体回路
が形成され、上記スルーホールに樹脂充填材が充填され
た絶縁性基板上に、導体回路非形成部および導体回路外
縁部と重なる部分に開口が設けられたマスクを載置し、
樹脂充填材を塗布することにより、導体回路非形成部お
よび導体回路の外縁部に樹脂充填材の層を形成すること
を特徴とする。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have made intensive studies for realizing the above object, and as a result, have arrived at an invention having the following content as a gist configuration. That is, the first method for manufacturing a printed wiring board of the present invention comprises the steps of: forming a through-hole and a conductive circuit on an insulating substrate in which the through-hole is filled with a resin filler; Place a mask with an opening at the part overlapping the outer edge,
By applying a resin filler, a layer of the resin filler is formed on the non-conductor-circuit-forming portion and the outer edge of the conductor circuit.

【0010】また、第二の本発明のプリント配線板の製
造方法は、スルーホールおよび導体回路が形成され、上
記スルーホールに樹脂充填材が充填された絶縁性基板上
に、導体回路非形成部と重なる部分またはそれよりも狭
い範囲に開口が設けられたマスクを載置し、樹脂充填材
を塗布することにより、導体回路非形成部に樹脂充填材
の層を形成することを特徴とする。
In a second method of manufacturing a printed wiring board according to the present invention, a conductive circuit non-forming portion is formed on an insulating substrate in which a through hole and a conductive circuit are formed, and the through hole is filled with a resin filler. A mask provided with an opening in a portion overlapping with or a smaller area than the mask is placed, and a resin filler is applied to form a layer of the resin filler in a portion where the conductor circuit is not formed.

【0011】上記プリント配線板の製造方法において、
具体的には、少なくとも下記した(a)〜(e)の工程
を経て、スルーホールおよび導体回路が形成された絶縁
性基板上に樹脂絶縁層を形成する。 (a)上記スルーホールに樹脂充填材を充填し、乾燥す
る工程、(b)上記第一または第二の本発明のプリント
配線板の製造方法を用いて絶縁性基板上に樹脂充填材の
層を形成する工程、(c)上記(b)工程で形成した樹
脂充填材の層を乾燥する工程、(d)乾燥した樹脂充填
材の層を研摩する工程、および(e)研摩後の樹脂充填
材の層を硬化する工程
[0011] In the above method of manufacturing a printed wiring board,
Specifically, through at least the following steps (a) to (e), a resin insulating layer is formed on the insulating substrate on which the through holes and the conductor circuits are formed. (A) a step of filling the through hole with a resin filler and drying; and (b) a layer of the resin filler on an insulating substrate by using the first or second method of manufacturing a printed wiring board of the present invention. (C) drying the resin filler layer formed in the step (b), (d) polishing the dried resin filler layer, and (e) resin filling after polishing. The process of curing the layer of material

【0012】上記プリント配線板の製造方法において
は、上記(d)の工程の前または後において、エッチン
グにより導体回路の粗化面を平坦化することが好まし
い。また、絶縁性基板を構成する絶縁層の厚みは、0.
5〜1.5mmであることが好ましい。
In the method for manufacturing a printed wiring board, it is preferable that the roughened surface of the conductor circuit be flattened by etching before or after the step (d). Further, the thickness of the insulating layer constituting the insulating substrate is set to 0.1.
It is preferably from 5 to 1.5 mm.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】第一の本発明のプリント配線板の
製造方法は、スルーホールおよび導体回路が形成され、
上記スルーホールに樹脂充填材が充填された絶縁性基板
上に、導体回路非形成部および導体回路外縁部と重なる
部分に開口が設けられたマスクを載置し、樹脂充填材を
塗布することにより、導体回路非形成部および導体回路
の外縁部に樹脂充填材の層を形成することを特徴とす
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION According to a first method of manufacturing a printed wiring board of the present invention, a through hole and a conductive circuit are formed,
On an insulating substrate filled with a resin filler in the through hole, a mask provided with an opening at a portion overlapping the conductor circuit non-forming portion and the outer edge of the conductor circuit is placed, and the resin filler is applied. A layer of a resin filler is formed on the non-conductive circuit forming portion and the outer edge of the conductive circuit.

【0014】第二の本発明のプリント配線板の製造方法
は、スルーホールおよび導体回路が形成され、上記スル
ーホールに樹脂充填材が充填された絶縁性基板上に、導
体回路非形成部と重なる部分またはそれよりも狭い範囲
に開口が設けられたマスクを載置し、樹脂充填材を塗布
することにより、導体回路非形成部に樹脂充填材の層を
形成することを特徴とする。
According to a second method of manufacturing a printed wiring board of the present invention, a through-hole and a conductive circuit are formed, and the through-hole is filled with a resin filler, and overlaps with the non-conductive-circuit-forming portion on the insulating substrate. The method is characterized in that a mask having an opening provided in a part thereof or a narrower area is placed thereon, and a resin filler is applied to form a layer of the resin filler in the portion where the conductor circuit is not formed.

【0015】上記第一および第二の本発明のプリント配
線板の製造方法においては、最初にスルーホールに樹脂
充填材を充填するので、スルーホール充填に適した粘度
の樹脂充填材を用いて確実にスルーホールを充填するこ
とができるため、スルーホールの未充填がなくなり、樹
脂充填材の層が平坦化される。
In the first and second methods of manufacturing a printed wiring board according to the present invention, the through-hole is first filled with a resin filler, so that the resin filler having a viscosity suitable for filling the through-hole is reliably used. Since the through holes can be filled, the unfilled through holes are eliminated, and the resin filler layer is flattened.

【0016】また、絶縁性基板の全体に樹脂充填材を塗
布する場合に比べ、樹脂充填材の層を形成する面積が小
さいため、乾燥時に熱が樹脂充填材の層の全体に行き渡
り、充分に半硬化され、半硬化の不充分さに起因する樹
脂充填材の層の剥離や、研摩時に異物が突き刺さること
などに起因する層間樹脂絶縁層の剥離を防止することが
できる。
Further, since the area for forming the resin filler layer is small as compared with the case where the resin filler is applied to the entire insulating substrate, the heat spreads over the entire resin filler layer during drying, so It is possible to prevent peeling of the resin filler layer due to semi-curing and insufficient semi-curing, and peeling of the interlayer resin insulating layer due to foreign matter sticking during polishing.

【0017】また、樹脂充填材を充填した後も、導体回
路の大部分は露出しているため、樹脂充填材の研摩残り
により導体回路の未露出も発生しにくく、これに伴いそ
の上に形成する上層導体回路との接続不良を防止するこ
とができる。
Further, even after the resin filler is filled, most of the conductive circuit is exposed, so that the conductive circuit is hardly unexposed due to the residual polishing of the resin filler. Connection failure with the upper-layer conductor circuit can be prevented.

【0018】さらに、上記(a)〜(e)の工程を経て
製造された基板は、平坦化されているため、その上に形
成する上層導体回路の反りや層間樹脂絶縁層の剥離は発
生せず、プリント配線板の接続性や信頼性を確保するこ
とができる。
Further, since the substrate manufactured through the above steps (a) to (e) is flattened, warpage of the upper conductor circuit formed thereon and peeling of the interlayer resin insulating layer do not occur. Therefore, the connectivity and reliability of the printed wiring board can be ensured.

【0019】特に、上記第二の本発明においては、導体
回路上に樹脂充填材の層が全く形成されないため、導体
回路の未露出はなくなり、その上に形成する上層導体回
路との接続不良をより確実に防止することができる。ま
た、樹脂充填材の層の高さを導体回路の高さと同じにす
ることができれば、樹脂充填材の層の研摩工程を省略す
ることができる。
In particular, according to the second aspect of the present invention, since no resin filler layer is formed on the conductor circuit, the conductor circuit is not unexposed, and the connection failure with the upper conductor circuit formed thereon is reduced. It can be prevented more reliably. In addition, if the height of the resin filler layer can be made the same as the height of the conductor circuit, the polishing step of the resin filler layer can be omitted.

【0020】(1) 上記第一の本発明のプリント配線板の
製造方法においては、まず、スルーホールおよび導体回
路が形成された絶縁性基板の上記スルーホールに樹脂充
填材を充填する。
(1) In the first method of manufacturing a printed wiring board of the present invention, first, a resin filler is filled in the through hole of the insulating substrate in which the through hole and the conductive circuit are formed.

【0021】絶縁性基板としては、樹脂基板が望まし
く、具体的には、例えば、ガラスエポキシ基板、ポリイ
ミド基板、ビスマレイミド−トリアジン樹脂基板、フッ
素樹脂基板、セラミック基板、銅貼積層板などが挙げら
れる。本発明では、この絶縁性基板にドリル等で貫通孔
を設け、該貫通孔の壁面および銅箔表面に無電解めっき
を施して表面導電膜およびスルーホールを形成する。無
電解めっきとしては銅めっきが好ましい。また、絶縁性
基板を構成する絶縁層の厚みは、0.5〜1.5mmで
あることが好ましい。絶縁層の厚みが0.5mm未満で
あると、熱履歴により反りが発生しやすく、厚みが1.
5mmを超えると、熱履歴による反りは発生しにくい
が、プリント配線板が厚くなりすぎ、経済的でない。本
発明の製造方法は、絶縁層の厚みが0.8mm以上と厚
く、スルーホール内への樹脂充填材の充填と基板上への
樹脂充填材の層の形成とを同時に行うことが困難である
場合により有効であり、厚みが1.1mm以上である場
合にさらに有効である。
As the insulating substrate, a resin substrate is desirable, and specific examples thereof include a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide-triazine resin substrate, a fluororesin substrate, a ceramic substrate, and a copper-clad laminate. . In the present invention, a through hole is formed in the insulating substrate by a drill or the like, and the wall surface of the through hole and the surface of the copper foil are subjected to electroless plating to form a surface conductive film and a through hole. Copper plating is preferred as the electroless plating. Further, the thickness of the insulating layer constituting the insulating substrate is preferably 0.5 to 1.5 mm. If the thickness of the insulating layer is less than 0.5 mm, warpage is likely to occur due to heat history, and the thickness is 1.
If it exceeds 5 mm, warpage due to heat history is unlikely to occur, but the printed wiring board becomes too thick and is not economical. In the production method of the present invention, the thickness of the insulating layer is as thick as 0.8 mm or more, and it is difficult to simultaneously perform the filling of the resin filler into the through holes and the formation of the layer of the resin filler on the substrate. It is effective in some cases, and more effective when the thickness is 1.1 mm or more.

【0022】この無電解めっきの後、通常、スルーホー
ル内壁および電解めっき膜表面の粗化処理を行う。粗化
処理方法としては、例えば、黒化(酸化)−還元処理、
有機酸と第二銅錯体の混合水溶液によるスプレー処理、
Cu−Ni−P針状合金めっきによる処理などが挙げら
れる。なお、場合によっては、粗化面を形成した基板の
余分な成分(水分、溶剤分など)を除去するための熱処
理を行ってもよい。
After the electroless plating, the inner wall of the through hole and the surface of the electrolytic plating film are generally roughened. As the roughening treatment method, for example, blackening (oxidation) -reduction treatment,
Spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex,
For example, treatment by Cu-Ni-P needle-like alloy plating may be used. In some cases, heat treatment for removing extra components (moisture, solvent, and the like) of the substrate having the roughened surface may be performed.

【0023】この後、無電解めっきが施された基板上に
導体回路形状のエッチングレジストを形成し、エッチン
グを行うことにより導体回路を形成し、上記スルーホー
ル内に樹脂充填材を充填する。
Thereafter, an etching resist having a conductor circuit shape is formed on the substrate on which the electroless plating has been performed, and a conductor circuit is formed by performing etching. The resin filler is filled in the through holes.

【0024】樹脂充填材は、樹脂成分、硬化成分および
他の添加成分から構成されていることが望ましい。ま
た、この樹脂充填材は、23±1℃における粘度が30
〜100Pa・s程度になるように調整しておくことが
好ましい。
The resin filler is desirably composed of a resin component, a curing component and other additional components. This resin filler has a viscosity at 23 ± 1 ° C. of 30.
It is preferable to adjust the pressure to about 100 Pa · s.

【0025】上記樹脂成分としては、エポキシ樹脂等の
熱硬化性樹脂の原料モノマーが挙げられる。
Examples of the resin component include a raw material monomer of a thermosetting resin such as an epoxy resin.

【0026】上記硬化成分としては、イミダゾ−ル硬化
剤が望ましい。イミダゾ−ル硬化剤としては、例えば、
2−メチルイミダゾ−ル、4−メチル−2−エチルイミ
ダゾ−ル、2−フェニルイミダゾ−ル、4−メチル−2
−フェニルイミダゾ−ル、1−ベンジル−2−メチルイ
ミダゾ−ル、2−メチルイミダゾ−ル、2−イソプロピ
ルイミダゾ−ル、1−シアノエチル−2−エチル−4−
メチルイミダゾ−ル、1−シアノエチル−2−ウンデシ
ルイミダゾ−ルなどが挙げられる。
The curing component is preferably an imidazole curing agent. As the imidazole curing agent, for example,
2-methylimidazole, 4-methyl-2-ethylimidazole, 2-phenylimidazole, 4-methyl-2
-Phenylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 2-methylimidazole, 2-isopropylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-
Methyl imidazole, 1-cyanoethyl-2-undecyl imidazole and the like can be mentioned.

【0027】なかでも、25℃で液状のイミダゾ−ル硬
化剤を用いることが望ましい。このような硬化剤として
は、例えば、1−ベンジル−2−メチルイミダゾ−ル、
1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾ−
ル、4−メチル−2−エチルイミダゾ−ルなどが挙げら
れる。上記イミダゾ−ル硬化剤の樹脂充填材中の含有量
は、1〜10重量%であることが望ましい。
Among them, it is desirable to use an imidazole curing agent which is liquid at 25 ° C. Examples of such a curing agent include 1-benzyl-2-methylimidazole,
1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazo-
And 4-methyl-2-ethylimidazole. The content of the imidazole curing agent in the resin filler is desirably 1 to 10% by weight.

【0028】上記他の添加成分としては、シリカ、アル
ミナ、ムライト、ジルコニアなどの無機粒子およびレベ
リング剤などが挙げられる。上記無機粒子の平均粒子径
は、0.1〜5.0μmであることが望ましく、その配
合量は、ビスフェノ−ル型エポキシ樹脂に対して、重量
比で1.0〜2.0倍程度であることが望ましい。上記
レベリング剤としては、例えば、サンノプコ製のペレノ
ールS4などが挙げられる。
Examples of the other additional components include inorganic particles such as silica, alumina, mullite, and zirconia, and a leveling agent. The average particle diameter of the inorganic particles is desirably 0.1 to 5.0 μm, and the amount of the inorganic particles is about 1.0 to 2.0 times the weight of the bisphenol epoxy resin. Desirably. Examples of the leveling agent include Perenol S4 manufactured by San Nopco.

【0029】スルーホール内の樹脂充填材の充填は、上
記スルホールと重なる部分が開口したマスクを絶縁性基
板上に載置し、樹脂充填材を保持したスキージをマスク
上で移動させ、マスクの開口部分から樹脂充填材をスル
ーホール内に押し込むことにより行う。このときに用い
るスキージは、一般的にプリント配線板の製造に使用さ
れるものであればよく、その材質、硬度等は特に限定さ
れないが、これらのなかでは、硬度50〜90°のもの
が好ましい。上記特性を有するゴムとしては、例えば、
ポリウレタンなどが挙げられる。
To fill the resin filler in the through hole, a mask having an opening at a portion overlapping with the through hole is placed on an insulating substrate, and a squeegee holding the resin filler is moved on the mask to open the mask. This is performed by pushing the resin filler from the portion into the through hole. The squeegee used at this time is not particularly limited as long as it is generally used for manufacturing a printed wiring board, and the material, hardness and the like are not particularly limited. Among them, those having a hardness of 50 to 90 ° are preferable. . As the rubber having the above characteristics, for example,
Polyurethane.

【0030】上記硬度とは、JIS K 6301に規
定するA型硬度計で測定したときの硬度をいう。硬度5
0〜90°のものが好ましいのは、マスクの開口内へ樹
脂充填材を充填させやすく、繰り返し使用してもスキー
ジのへたりがないからである。スルーホール内に充填し
た樹脂充填材は、乾燥させて半硬化状態にしてもよい
が、乾燥させないで引き続き導体回路間に樹脂充填材を
塗布してもよい。
The above hardness refers to the hardness as measured by an A-type hardness meter specified in JIS K6301. Hardness 5
The reason why the angle is 0 to 90 ° is preferable because the resin filler is easily filled into the opening of the mask, and the squeegee does not set even when repeatedly used. The resin filler filled in the through-hole may be dried to a semi-cured state, but the resin filler may be continuously applied between the conductor circuits without drying.

【0031】(2) 上記工程の後、導体回路非形成部およ
び導体回路外縁部と重なる部分に開口が設けられたマス
クを載置し、樹脂充填材を塗布することにより、導体回
路非形成部および導体回路の外縁部に樹脂充填材の層を
形成する。
(2) After the above steps, a mask having an opening provided on a portion where the conductor circuit is not formed and a portion overlapping with the outer edge of the conductor circuit is placed, and a resin filler is applied to form a conductor circuit non-formation portion. And forming a resin filler layer on the outer edge of the conductor circuit.

【0032】このとき、樹脂充填材の組成は、粘度調整
成分の量を除いて、スルーホールを充填したものと同じ
であるのが好ましい。これは、線膨張係数などが同一の
ほうが硬化や様々な熱履歴による影響を最小限にするた
めの対策をとりやすいからである。なお、導体回路の金
属層の厚み、充填面積、塗布する温度、湿度などによっ
ては、粘度を適時変更してもよいが、この場合も同様に
固形分の組成は、変更しない方が好ましい。塗布方法
は、スルーホール充填内の樹脂充填材の充填と同じ方法
でよい。
At this time, it is preferable that the composition of the resin filler is the same as the one filled with the through holes, except for the amount of the viscosity adjusting component. This is because it is easier to take measures to minimize the effects of curing and various thermal histories when the coefficient of linear expansion is the same. The viscosity may be changed as appropriate depending on the thickness of the metal layer of the conductor circuit, the filling area, the application temperature, the humidity, and the like. In this case, however, it is preferable that the composition of the solid is not changed. The application method may be the same as the filling method of the resin filler in the through hole filling.

【0033】次に、スルーホール内、導体回路非形成
部、および、導体回路の外縁部に形成した樹脂充填材の
層を乾燥させて、半硬化状態(60〜70%程度の硬化
状態)にする。樹脂充填材の層を半硬化状態にするの
は、樹脂充填材を完全に硬化させると、研摩を行うこと
が困難となり、その一方、半硬化が不充分であると、研
摩時に、異物が樹脂充填材の層に刺さったりして層間絶
縁層が膨れたり、樹脂充填材の層が剥がれるといったこ
とを引き起こす可能性があるからである。乾燥は、例え
ば、100℃/20分の条件で行う。また、最初は、低
い温度で加熱し、序々に高い温度に上げていくステップ
硬化を行ってもよい。
Next, the resin filler layer formed in the through-hole, the portion where the conductor circuit is not formed, and the outer edge portion of the conductor circuit is dried to a semi-cured state (cured state of about 60 to 70%). I do. The reason why the resin filler layer is made to be in a semi-cured state is that when the resin filler is completely cured, it becomes difficult to perform polishing.On the other hand, when the semi-curing is insufficient, foreign substances are generated during polishing. This is because there is a possibility that the interlayer insulating layer may swell due to stabbing in the filler layer or the resin filler layer may be peeled off. Drying is performed, for example, at 100 ° C. for 20 minutes. In addition, step curing may be performed in which heating is first performed at a low temperature and gradually increased to a high temperature.

【0034】(3) 通常、上記したように、スルーホール
内を樹脂充填材で充填し、片面の導体回路非形成部およ
び導体回路の外縁部に樹脂充填材の層を形成した後半硬
化を行い、続いて裏面も同様に、樹脂充填材の層を形成
し、半硬化させる。
(3) Usually, as described above, the inside of the through hole is filled with a resin filler, and the second half curing in which a layer of the resin filler is formed on one side of the conductor circuit non-formed portion and the outer edge of the conductor circuit is performed. Subsequently, a layer of a resin filler is similarly formed on the back surface and semi-cured.

【0035】(4) 上記工程を経て形成した樹脂充填材の
層は、導体回路の高さよりも高くなっている部分が多い
ので、研摩を行い、樹脂充填材の層を研削するととも
に、導体回路の上部も研削し、基板の両主面を平坦化す
る。上記研摩は、研磨紙を用いるベルトサンダー、研磨
剤を用いるバフ研摩、ジェットスクラブなどによって行
われる。これらのなかでは、特にベルトサンダーなどの
研磨紙を用いる方法が望ましい。半硬化状態の樹脂充填
材の層を研磨剤などで研摩すると、剥離の原因となる場
合があるからである。なお、研磨紙の材質、素材、番手
などは特に限定されない。
(4) Since the resin filler layer formed through the above steps has many portions higher than the height of the conductor circuit, the resin filler layer is polished to grind the resin filler layer, Is also ground to flatten both main surfaces of the substrate. The polishing is performed by a belt sander using abrasive paper, buff polishing using an abrasive, jet scrub, or the like. Among these, a method using abrasive paper such as a belt sander is particularly desirable. This is because polishing the semi-cured resin filler layer with an abrasive or the like may cause peeling. The material, material, and count of the abrasive paper are not particularly limited.

【0036】この後、必要に応じて、研磨工程の前後で
導体回路表面に形成された粗化面をエッチングによって
除去してもよい。それにより、スルーホールのランド部
分および導体回路表面を平滑化することができる。
Thereafter, if necessary, the roughened surface formed on the surface of the conductor circuit before and after the polishing step may be removed by etching. Thereby, the land portion of the through hole and the surface of the conductor circuit can be smoothed.

【0037】(5) この後、樹脂充填材の層を完全硬化す
る。硬化は、温度50〜250℃の間で行うのが望まし
い。その硬化条件の一例としては、100℃で1時間加
熱した後、150℃で1時間加熱する方法が挙げられ
る。必要に応じて、順次低い温度から高い温度と温度を
変化させて硬化させるステップ硬化を行ってもよい。
(5) Thereafter, the resin filler layer is completely cured. The curing is desirably performed at a temperature of 50 to 250 ° C. As an example of the curing conditions, there is a method of heating at 100 ° C. for 1 hour and then heating at 150 ° C. for 1 hour. If necessary, step hardening may be performed by sequentially changing the temperature from a low temperature to a high temperature and then hardening.

【0038】(6) この後、導体回路の粗化処理を行う。
粗化処理方法としては、例えば、黒化(酸化)−還元処
理、有機酸と第二銅錯体の混合水溶液によるスプレー処
理、Cu−Ni−P合金めっきによる処理などが挙げら
れる。
(6) After that, a roughening process of the conductor circuit is performed.
Examples of the roughening treatment method include a blackening (oxidation) -reduction treatment, a spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, and a treatment with Cu-Ni-P alloy plating.

【0039】(7) この後、粗化処理がされた導体回路上
に層間絶縁層を設ける。層間樹脂絶縁層の材料として
は、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂の一部
を感光化した樹脂またはこれらの複合樹脂を使用するこ
とができる。層間絶縁層は、未硬化の樹脂を塗布して形
成してもよく、また、未硬化の樹脂フィルムを熱圧着し
て形成してもよい。さらに、未硬化の樹脂フィルムの片
面に銅箔などの金属層が形成された樹脂フィルムを貼付
してもよい。このような樹脂フィルムを使用する場合
は、バイアホール形成部分の金属層をエッチングした
後、レーザ光を照射して開口を設ける。金属層が形成さ
れた樹脂フィルムとしては、樹脂付き銅箔などを使用す
ることができる。
(7) Thereafter, an interlayer insulating layer is provided on the roughened conductor circuit. As a material of the interlayer resin insulating layer, a thermosetting resin, a thermoplastic resin, a resin obtained by sensitizing a part of the thermosetting resin, or a composite resin thereof can be used. The interlayer insulating layer may be formed by applying an uncured resin, or may be formed by thermocompression bonding an uncured resin film. Further, a resin film in which a metal layer such as a copper foil is formed on one surface of an uncured resin film may be attached. When such a resin film is used, an opening is formed by irradiating a laser beam after etching a metal layer in a via hole forming portion. As the resin film having the metal layer formed thereon, a resin-coated copper foil or the like can be used.

【0040】上記層間絶縁層を形成する際に、無電解め
っき用接着剤層を使用することができる。この無電解め
っき用接着剤は、硬化処理された酸あるいは酸化剤に可
溶性の耐熱性樹脂粒子が、酸あるいは酸化剤に難溶性の
未硬化の耐熱性樹脂中に分散されてなるものが最適であ
る。酸、酸化剤で処理することにより、耐熱性樹脂粒子
が溶解除去されて、表面に蛸つぼ状のアンカーからなる
粗化面を形成できるからである。
In forming the interlayer insulating layer, an adhesive layer for electroless plating can be used. The most suitable adhesive for electroless plating is one in which heat-resistant resin particles soluble in a cured acid or oxidizing agent are dispersed in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or oxidizing agent. is there. By treating with an acid or an oxidizing agent, the heat-resistant resin particles are dissolved and removed, and a roughened surface composed of an octopus pot-shaped anchor can be formed on the surface.

【0041】上記無電解めっき用接着剤において、特に
硬化処理された上記耐熱性樹脂粒子としては、(a) 平均
粒径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、(b) 平均粒径が
2μm以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、
(c) 平均粒径が2〜10μmの耐熱性粉末樹脂粉末と平
均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、(d)
平均粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒
径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末または無機粉末のいず
れか少なくとも1種を付着させてなる疑似粒子、(e) 平
均粒径が0.1〜0.8μmの耐熱性粉末樹脂粉末と平
均粒径が0.8μmを超え、2μm未満の耐熱性樹脂粉
末との混合物、(f) 平均粒径が0.1〜1.0μmの耐
熱性粉末樹脂粉末を用いることが望ましい。これらは、
より複雑なアンカーを形成することができるからであ
る。
In the above-mentioned adhesive for electroless plating, particularly as the heat-resistant resin particles cured, (a) a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 10 μm or less, and (b) an average particle diameter of 2 μm or less. Aggregated particles obtained by aggregating heat-resistant resin powder,
(c) a mixture of a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 to 10 μm and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less, (d)
Pseudo particles obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder or an inorganic powder having an average particle diameter of 2 μm or less to the surface of a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 to 10 μm, A mixture of 0.1 to 0.8 μm heat-resistant powder resin powder and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of more than 0.8 μm and less than 2 μm, (f) an average particle diameter of 0.1 to 1.0 μm It is desirable to use heat-resistant resin powder. They are,
This is because a more complicated anchor can be formed.

【0042】酸処理等により形成する粗化面の深さは、
Rmax=0.01〜20μmが望ましい。導体回路と
の密着性を確保するためである。特にセミアディティブ
法では、0.1〜5μmが望ましい。密着性を確保しつ
つ、無電解めっき膜を除去することができるからであ
る。上記酸あるいは酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂として
は、「熱硬化性樹脂および熱可塑性樹脂からなる樹脂複
合体」または「感光性樹脂および熱可塑性樹脂からなる
樹脂複合体」などが望ましい。前者については耐熱性が
高く、後者についてはバイアホール用の開口をフォトリ
ソグラフィーにより形成できるからである。
The depth of the roughened surface formed by acid treatment or the like is as follows:
Rmax = 0.01 to 20 μm is desirable. This is for ensuring adhesion to the conductor circuit. In particular, in the semi-additive method, 0.1 to 5 μm is desirable. This is because the electroless plating film can be removed while ensuring adhesion. As the heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent, a “resin composite composed of a thermosetting resin and a thermoplastic resin” or a “resin composite composed of a photosensitive resin and a thermoplastic resin” is desirable. This is because the former has high heat resistance, and the latter can form an opening for a via hole by photolithography.

【0043】上記熱硬化性樹脂としては、例えば、エポ
キシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂などを使用
することができる。また、感光化した樹脂としては、メ
タクリル酸やアクリル酸などと熱硬化基をアクリル化反
応させたものが挙げられる。特にエポキシ樹脂をアクリ
レート化したものが最適である。エポキシ樹脂として
は、フェノールノボラック型、クレゾールノボラック
型、などのノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタ
ジエン変成した脂環式エポキシ樹脂などを使用すること
ができる。
As the thermosetting resin, for example, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin and the like can be used. Examples of the photosensitized resin include those obtained by subjecting a thermosetting group to methacrylic acid or acrylic acid to undergo an acrylation reaction. In particular, an acrylated epoxy resin is most suitable. As the epoxy resin, a novolak type epoxy resin such as a phenol novolak type and a cresol novolak type, and an alicyclic epoxy resin modified with dicyclopentadiene can be used.

【0044】熱可塑性樹脂としては、ポリエーテルスル
フォン(PES)、ポリスルフォン(PSF)、ポリフ
ェニレンスルフォン(PPS)、ポリフェニレンサルフ
ァイド(PPES)、ポリフェニルエーテル(PP
E)、ポリエーテルイミド(PI)、フッ素樹脂などを
使用することができる。熱硬化性樹脂(感光性樹脂)と
熱可塑性樹脂の混合割合は、熱硬化性樹脂(感光性樹
脂)/熱可塑性樹脂=95/5〜50/50が望まし
い。耐熱性を損なうことなく、高い靱性値を確保できる
からである。
As the thermoplastic resin, polyether sulfone (PES), polysulfone (PSF), polyphenylene sulfone (PPS), polyphenylene sulfide (PPES), polyphenyl ether (PP
E), polyetherimide (PI), fluororesin and the like can be used. The mixing ratio of the thermosetting resin (photosensitive resin) and the thermoplastic resin is preferably thermosetting resin (photosensitive resin) / thermoplastic resin = 95/5 to 50/50. This is because a high toughness value can be secured without impairing the heat resistance.

【0045】上記耐熱性樹脂粒子の混合重量比は、耐熱
性樹脂マトリックスの固形分に対して5〜50重量%が
望ましく、10〜40重量%がさらに望ましい。耐熱性
樹脂粒子は、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グ
アナミン樹脂)、エポキシ樹脂などが望ましい。
The mixing weight ratio of the heat-resistant resin particles is preferably 5 to 50% by weight, more preferably 10 to 40% by weight, based on the solid content of the heat-resistant resin matrix. As the heat-resistant resin particles, an amino resin (a melamine resin, a urea resin, a guanamine resin), an epoxy resin, or the like is desirable.

【0046】(8) 次に、層間絶縁樹脂層を硬化する一方
で、その層間樹脂樹脂層にはバイアホ−ル形成用の開口
を設ける。層間絶縁樹脂層の開口は、無電解めっき用接
着剤の樹脂マトリックスが熱硬化樹脂である場合は、レ
−ザ−光や酸素プラズマ等を用いて行い、感光性樹脂で
ある場合には、露光現像処理にて行う。なお、露光現像
処理は、バイアホ−ル形成のための円パタ−ンが描画さ
れたフォトマスク(ガラス基板がよい)を、円パタ−ン
側を感光性の層間樹脂絶縁層の上に密着させて載置した
後、露光し、現像処理液に浸漬するか、現像処理液をス
プレーすることにより行う。
(8) Next, while the interlayer insulating resin layer is cured, an opening for forming a via hole is provided in the interlayer resin layer. Opening of the interlayer insulating resin layer is performed using laser light or oxygen plasma when the resin matrix of the adhesive for electroless plating is a thermosetting resin, and exposed when the resin matrix is a photosensitive resin. Performed by development processing. In the exposure and development process, a photomask (preferably a glass substrate) on which a circular pattern for forming a via hole is drawn is brought into close contact with the photosensitive interlayer resin insulating layer on the circular pattern side. After mounting, the substrate is exposed and immersed in a developing solution or sprayed with the developing solution.

【0047】(9) 次に、バイアホ−ル用開口を設けた層
間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層)の表面を粗化
する。通常、粗化は、無電解めっき用接着剤層の表面に
存在する耐熱性樹脂粒子を酸又は酸化剤で溶解除去する
ことにより行う。上記酸処理を行う際には、リン酸、塩
酸、硫酸、又は蟻酸や酢酸などの有機酸を用いることが
でき、特に有機酸を用いるのが望ましい。粗化処理した
場合に、バイアホ−ルから露出する金属導体層を腐食さ
せにくいからである。上記酸化処理は、クロム酸、過マ
ンガン酸塩(過マンガン酸カリウム等)を用いることが
望ましい。(10)次に、粗化した層間絶縁樹脂上の全面に
薄付けの無電解めっき膜を形成する。この無電解めっき
膜は、無電解銅めっきがよく、その厚みは、1〜5μ
m、より望ましくは2〜3μmである。
(9) Next, the surface of the interlayer resin insulating layer (the adhesive layer for electroless plating) having the via hole opening is roughened. Usually, roughening is performed by dissolving and removing heat-resistant resin particles present on the surface of the adhesive layer for electroless plating with an acid or an oxidizing agent. When performing the above acid treatment, phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, or an organic acid such as formic acid or acetic acid can be used, and it is particularly preferable to use an organic acid. This is because the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded when the roughening treatment is performed. For the above oxidation treatment, it is desirable to use chromic acid or permanganate (such as potassium permanganate). (10) Next, a thin electroless plating film is formed on the entire surface of the roughened interlayer insulating resin. This electroless plating film is preferably formed by electroless copper plating and has a thickness of 1 to 5 μm.
m, more preferably 2-3 μm.

【0048】(11)さらに、この上にめっきレジストを配
設する。めっきレジストとしては、市販の感光性ドライ
フィルムや液状レジストを使用することができる。そし
て、感光性ドライフィルムを貼り付けたり、液状レジス
トを塗布した後、紫外線露光処理を行い、アルカリ水溶
液で現像処理する。
(11) Further, a plating resist is provided thereon. As the plating resist, a commercially available photosensitive dry film or liquid resist can be used. Then, after applying a photosensitive dry film or applying a liquid resist, an ultraviolet exposure process is performed, and a developing process is performed with an alkaline aqueous solution.

【0049】(12)ついで、上記処理を行った基板を電気
めっき液に浸漬した後、無電解めっき層をカソードと
し、めっき被着金属をアノードとして直流電気めっきを
行い、バイアホール用開口をめっき充填するとともに、
上層導体回路を形成する。
(12) Next, after the substrate subjected to the above treatment is immersed in an electroplating solution, direct current electroplating is performed using the electroless plating layer as a cathode and the metal to be plated as an anode, and plating the openings for via holes. While filling
An upper conductor circuit is formed.

【0050】(13)ついで、めっきレジストを強アリカリ
水溶液で剥離した後にエッチングを行い、無電解めっき
層を除去することにより、上層導体回路およびバイアホ
ールを独立パターンとする。上記エッチング液として
は、硫酸/過酸化水素水溶液、塩化第二鉄、塩化第二
銅、過硫酸アンモニウムなどの過硫酸塩の水溶液が使用
される。
(13) Next, the plating resist is peeled off with a strong aqueous alkali solution, and etching is performed to remove the electroless plating layer, thereby forming the upper conductor circuit and the via hole into independent patterns. As the etching solution, a sulfuric acid / hydrogen peroxide aqueous solution, an aqueous solution of a persulfate such as ferric chloride, cupric chloride, or ammonium persulfate is used.

【0051】(14)この後、必要により、(6) 〜(13)の工
程を繰り返し、最後にソルダーレジスト層およびハンダ
バンプ等を形成することにより、プリント配線板の製造
を終了する。なお、以下の方法は、セミアディティブ法
によるものであるが、フルアディティブ法を採用しても
よい。
(14) Thereafter, if necessary, the steps (6) to (13) are repeated, and finally, a solder resist layer and solder bumps are formed, thereby completing the manufacture of the printed wiring board. Although the following method is based on the semi-additive method, a full additive method may be adopted.

【0052】第二の本発明のプリント配線板の製造方法
においては、上記(2) の工程において、導体回路非形成
部と重なる部分またはそれよりも狭い範囲に開口が設け
られたマスクを載置し、樹脂充填材を塗布することによ
り、導体回路非形成部に樹脂充填材の層を形成する以外
は、上記第一の本発明のプリント配線板の製造方法と全
く同様の方法により、プリント配線板を製造する。
In the method of manufacturing a printed wiring board according to the second aspect of the present invention, in the above step (2), a mask having an opening provided in a portion overlapping with the portion where the conductive circuit is not formed or in a narrower range than the portion is placed. Then, except that a layer of the resin filler is formed in the portion where the conductive circuit is not formed by applying the resin filler, the printed wiring board is manufactured in exactly the same manner as the method of manufacturing the printed wiring board of the first present invention. Manufacture boards.

【0053】導体回路との間に隙間があくように、導体
回路非形成部のより狭い領域に樹脂充填材の層を形成し
た場合には、その後、例えば、樹脂充填材の層が広がる
ような条件で加熱を行い、導体回路の隙間がなくなるよ
うにする。
When a layer of the resin filler is formed in a narrower area of the non-conductor-circuit-forming portion so that a gap is formed between the layer and the conductor circuit, then, for example, the resin filler layer is spread. Heating is performed under the conditions so that the gap between the conductor circuits is eliminated.

【0054】[0054]

【実施例】以下、本発明をさらに詳細に説明する。 (実施例1) A.無電解めっき用接着剤の調製(上層用接着剤) 1)クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液35重量部、感光性モ
ノマー(東亜合成社製、アロニックスM315)3.1
5重量部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)0.5
重量部およびN−メチルピロリドン(NMP)3.6重
量部を容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物
を調製した。
The present invention will be described in more detail below. Example 1 A. Preparation of Adhesive for Electroless Plating (Adhesive for Upper Layer) 1) 25% acrylate of cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) at a concentration of 80% by weight in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) 35 parts by weight of dissolved resin solution, photosensitive monomer (Aronix M315, manufactured by Toagosei Co., Ltd.) 3.1
5 parts by weight, antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco) 0.5
Parts by weight and 3.6 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) were placed in a container and mixed by stirring to prepare a mixed composition.

【0055】2)ポリエーテルスルフォン(PES)12
重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポリマーポ
ール)の平均粒径1.0μmのもの7.2重量部および
平均粒径0.5μmのもの3.09重量部を別の容器に
とり、攪拌混合した後、さらにNMP30重量部を添加
し、ビーズミルで攪拌混合し、別の混合組成物を調製し
た。
2) Polyether sulfone (PES) 12
Parts by weight, 7.2 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Kasei Co., polymer pole) having an average particle size of 1.0 μm and 3.09 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle size of 0.5 μm were placed in another container and stirred. After mixing, 30 parts by weight of NMP was further added and stirred and mixed by a bead mill to prepare another mixed composition.

【0056】3)イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2
E4MZ−CN)2重量部、光重合開始剤(チバガイギ
ー社製、イルガキュアー I−907)2重量部、光増
感剤(日本化薬社製、DETX−S)0.2重量部およ
びNMP1.5重量部をさらに別の容器にとり、攪拌混
合することにより混合組成物を調製した。そして、1)、
2)および3)で調製した混合組成物を混合することにより
無電解めっき用接着剤を得た。
3) Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, 2
E4MZ-CN), 2 parts by weight of a photopolymerization initiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba-Geigy), 0.2 parts by weight of a photosensitizer (DETX-S, manufactured by Nippon Kayaku) and NMP1. 5 parts by weight were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. And 1),
An adhesive for electroless plating was obtained by mixing the mixed compositions prepared in 2) and 3).

【0057】B.無電解めっき用接着剤の調製(下層用
接着剤) 1)クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液35重量部、感光性モ
ノマー(東亜合成社製、アロニックスM315)4重量
部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)0.5重量部
およびN−メチルピロリドン(NMP)3.6重量部を
容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製
した。
B. Preparation of adhesive for electroless plating (adhesive for lower layer) 1) 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) is added to diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) at a concentration of 80% by weight. 35 parts by weight of a dissolved resin solution, 4 parts by weight of a photosensitive monomer (manufactured by Toa Gosei Co., Aronix M315), 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65 manufactured by San Nopco) and N-methylpyrrolidone (NMP) 3 A mixed composition was prepared by placing 0.6 parts by weight in a container and mixing with stirring.

【0058】2)ポリエーテルスルフォン(PES)12
重量部、および、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポ
リマーポール)の平均粒径0.5μmのもの14.49
重量部を別の容器にとり、攪拌混合した後、さらにNM
P30重量部を添加し、ビーズミルで攪拌混合し、別の
混合組成物を調製した。
2) Polyether sulfone (PES) 12
14.49 parts by weight and epoxy resin particles (Polymer Pole, manufactured by Sanyo Kasei Co., Ltd.) having an average particle size of 0.5 μm
Transfer the parts by weight to another container, stir and mix.
30 parts by weight of P was added, and the mixture was stirred and mixed by a bead mill to prepare another mixed composition.

【0059】3)イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2
E4MZ−CN)2重量部、光重合開始剤(チバガイギ
ー社製、イルガキュアー I−907)2重量部、光増
感剤(日本化薬社製、DETX−S)0.2重量部およ
びNMP1.5重量部をさらに別の容器にとり、攪拌混
合することにより混合組成物を調製した。そして、1)、
2)および3)で調製した混合組成物を混合することにより
無電解めっき用接着剤を得た。
3) Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, 2
E4MZ-CN), 2 parts by weight of a photopolymerization initiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba-Geigy), 0.2 parts by weight of a photosensitizer (DETX-S, manufactured by Nippon Kayaku) and NMP1. 5 parts by weight were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. And 1),
An adhesive for electroless plating was obtained by mixing the mixed compositions prepared in 2) and 3).

【0060】C.樹脂充填材の調製 1)ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル社
製、分子量:310、YL983U)100重量部、表
面にシランカップリング剤がコーティングされた平均粒
径が1.6μmで、最大粒子の直径が15μm以下のS
iO2 球状粒子(アドマテックス社製、CRS 110
1−CE)170重量部およびレベリング剤(サンノプ
コ社製 ペレノールS4)1.5重量部を容器にとり、
攪拌混合することにより、その粘度が23±1℃で40
〜50Pa・sの樹脂充填材を調製した。なお、硬化剤
として、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E4M
Z−CN)6.5重量部を用いた。
C. Preparation of Resin Filler 1) 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell Co., molecular weight: 310, YL983U), silane coupling agent coated on the surface, average particle size is 1.6 μm, maximum particle size Having a diameter of 15 μm or less
iO 2 spherical particles (manufactured by Admatechs, CRS 110)
1-CE) 170 parts by weight and 1.5 parts by weight of a leveling agent (Perenol S4 manufactured by San Nopco) are placed in a container,
By stirring and mixing, the viscosity becomes 40 at 23 ± 1 ° C.
A resin filler of 5050 Pa · s was prepared. In addition, as a curing agent, an imidazole curing agent (2E4M manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.)
(Z-CN) 6.5 parts by weight.

【0061】D.プリント配線板の製造方法 (1) 〜(4) の工程について、図1(a)〜(f)を参照
しながら説明する。 (1) 厚さ1mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビス
マレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両面に1
8μmの銅箔8がラミネートされている銅貼積層板を出
発材料とした(図1(a)参照)。まず、この銅貼積層
板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パターン
状にエッチングすることにより、基板1の両面に下層導
体回路4とスルーホール9を形成した。このときの、平
均のスルーホールの長さは、1.2mmであった。
D. The steps (1) to (4) of the method for manufacturing a printed wiring board will be described with reference to FIGS. (1) 1 mm thick glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin
A copper-clad laminate on which an 8 μm copper foil 8 was laminated was used as a starting material (see FIG. 1A). First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to electroless plating, and etched in a pattern to form a lower conductor circuit 4 and through holes 9 on both surfaces of the substrate 1. At this time, the average length of the through hole was 1.2 mm.

【0062】(2) スルーホール9および下層導体回路4
を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(1
0g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO
4 (6g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする
黒化処理、および、NaOH(10g/l)、NaBH
4 (6g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理を
行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路4の全表
面に粗化面4a、9aを形成した(図1(b)参照)。
(2) Through-hole 9 and lower conductor circuit 4
After the substrate on which was formed was washed with water and dried, NaOH (1
0 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO
4 A blackening treatment using an aqueous solution containing (6 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), NaOH (10 g / l), NaBH
4 A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing (6 g / l) as a reduction bath, and roughened surfaces 4a and 9a were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 including the through holes 9 (see FIG. 1 (b)). .

【0063】(3) 上記Cに記載した樹脂充填材を調製し
た後、下記の方法により調製後24時間以内に、スルー
ホール9内、および、基板1の片面の導体回路非形成部
と導体回路4の外縁部とに樹脂充填材10の層を形成し
た。すなわち、スルーホール9と重なる部分が開口した
マスクを基板上に載置し、硬度80°のゴム製スキージ
を用いてスルーホール内に樹脂充填材を押し込んで充填
し、100℃、20分の条件で乾燥させた(図1(c)
参照)。次に、導体回路非形成部および導体回路4の外
縁部と重なる部分が開口したマスクを基板上に載置し、
硬度80°のゴム製スキージを用いて導体回路非形成部
および導体回路4の外縁部に樹脂充填材10の層を形成
し、100℃、20分の条件で乾燥させた(図1(d)
参照)。なお、上記硬度は、古里精機製作所製のHAR
DNESS TESTER(A型硬度計)を用い、JI
S K 6301に準じた方法により測定した。次に、
残された基板の片面の導体回路非形成部および導体回路
4の外縁部へも樹脂充填材10の層を形成した(図1
(e)参照)。
(3) After preparing the resin filler described in the above C, within 24 hours after the preparation by the following method, the conductive circuit non-formed portion in the through hole 9 and on one side of the substrate 1 and the conductive circuit A layer of the resin filler 10 was formed on the outer edge portion of No. 4. That is, a mask having an opening at a portion overlapping with the through-hole 9 is placed on the substrate, and a resin filler is pressed into the through-hole using a rubber squeegee having a hardness of 80 ° to be filled therein. (FIG. 1C)
reference). Next, a mask having an opening at a portion overlapping with the conductor circuit non-formed portion and the outer edge portion of the conductor circuit 4 is placed on a substrate,
Using a rubber squeegee having a hardness of 80 °, a layer of the resin filler 10 was formed on the non-conductive portion and the outer edge of the conductive circuit 4, and dried at 100 ° C. for 20 minutes (FIG. 1D).
reference). The above hardness is measured by HAR made by Furisato Seiki Seisakusho
Using DNESS TESTER (A type hardness tester), JI
It was measured by a method according to SK6301. next,
A layer of the resin filler 10 was also formed on the conductor circuit non-formed portion on one side of the remaining substrate and on the outer edge of the conductor circuit 4 (FIG. 1).
(E)).

【0064】(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600のベルト研磨紙(三共理化学社製)を用い
たベルトサンダー研磨により、導体回路外縁部に形成さ
れた樹脂充填材10の層や導体回路非形成部に形成され
た樹脂充填材10の層の上部を研磨し、ついで、上記ベ
ルトサンダー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を
行った。このような一連の研磨を基板の他方の面につい
ても同様に行った。なお、必要に応じて、研摩の前後に
エッチングを行い、スルーホール9のランド9aおよび
下層導体回路4に形成された粗化面4aを平坦化しても
よい。この後、100℃で1時間、150℃で1時間の
加熱処理を行い、樹脂充填材の層を完全に硬化させた。
(4) One side of the substrate after the treatment of the above (3) was subjected to belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd.) to fill the resin formed on the outer periphery of the conductor circuit. The upper portion of the layer of the material 10 and the layer of the resin filler 10 formed on the portion where the conductive circuit was not formed were polished, and then buffing was performed to remove the scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. If necessary, the lands 9a of the through holes 9 and the roughened surface 4a formed in the lower conductor circuit 4 may be planarized by etching before and after polishing. Thereafter, a heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 1 hour to completely cure the resin filler layer.

【0065】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図1(f)参照)。
In this way, the surface portion of the resin filler 10 formed in the through hole 9 and the portion where the conductor circuit is not formed and the surface of the lower conductor circuit 4 are flattened, and the resin filler 10 and the side surfaces of the lower conductor circuit 4 are flattened. 4a is firmly adhered through the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10
Was firmly adhered through the roughened surface to obtain an insulating substrate (see FIG. 1 (f)).

【0066】(5) 次に、基板をアルカリ脱脂してソフト
エッチングし、次いで、塩化パラジウムと有機酸とから
なる触媒溶液で処理して、Pd触媒を付与し、この触媒
を活性化した。
(5) Next, the substrate was alkali-degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid to provide a Pd catalyst and activate the catalyst.

【0067】次に、硫酸銅(3.9×10-2mol/
l)、硫酸ニッケル(3.8×10-3mol/l)、ク
エン酸ナトリウム(7.8×10-3mol/l)、次亜
リン酸ナトリウム(2.3×10-1 mol/l)、界
面活性剤(日信化学工業社製、サーフィノール465)
(1.0g/l)を含む水溶液からなるpH=9の無電
解銅めっき浴に基板を浸漬し、浸漬1分後に、4秒あた
りに1回の割合で縦および横方向に振動させて、下層導
体回路およびスルーホールのランドの表面に、Cu−N
i−Pからなる針状合金の粗化層を設けた。さらに、ホ
ウフッ化スズ(0.1mol/l)、チオ尿素(1.0
mol/l)を含む温度35℃、pH=1.2のめっき
浴を用い、Cu−Sn置換反応させ、粗化層の表面に厚
さ0.3μmのSn層を設けた。
Next, copper sulfate (3.9 × 10 -2 mol /
l), nickel sulfate (3.8 × 10 -3 mol / l), sodium citrate (7.8 × 10 -3 mol / l), sodium hypophosphite (2.3 × 10 -1 mol / l) ), Surfactant (Sufinol 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.)
(1.0 g / l), the substrate was immersed in an electroless copper plating bath of pH = 9 consisting of an aqueous solution containing 1 g of an aqueous solution, and after 1 minute of immersion, vibrated in the vertical and horizontal directions at a rate of once per 4 seconds. Cu-N on the surface of the land of the lower conductor circuit and the through hole
A roughened layer of a needle-shaped alloy made of iP was provided. Further, tin borofluoride (0.1 mol / l), thiourea (1.0 mol / l)
(mol / l) using a plating bath at a temperature of 35 ° C. and a pH of 1.2, and a Cu—Sn substitution reaction was performed to form a 0.3 μm thick Sn layer on the surface of the roughened layer.

【0068】(6) 基板の両面に、上記Bにおいて記載し
た下層用の無電解めっき用接着剤(粘度:1.5Pa・
s)を調製後24時間以内にロールコータを用いて塗布
し、水平状態で20分間放置してから、60℃で30分
の乾燥を行った。次いで、上記Aにおいて記載した上層
用の無電解めっき用接着剤(粘度:7Pa・s)を調製
後24時間以内にロールコータを用いて塗布し、同様に
水平状態で20分間放置してから、60℃で30分の乾
燥を行い、厚さ35μmの無電解めっき用接着剤の層を
形成した。
(6) The adhesive for electroless plating for the lower layer described in B above (viscosity: 1.5 Pa ·
s) was applied using a roll coater within 24 hours after preparation, allowed to stand in a horizontal state for 20 minutes, and then dried at 60 ° C. for 30 minutes. Next, the adhesive for electroless plating (viscosity: 7 Pa · s) for the upper layer described in the above A was applied using a roll coater within 24 hours after preparation, and similarly left for 20 minutes in a horizontal state, Drying was performed at 60 ° C. for 30 minutes to form a 35 μm-thick electroless plating adhesive layer.

【0069】(7) 上記(6) で無電解めっき用接着剤の層
を形成した基板の両面に、直径85μmの黒円が印刷さ
れたフォトマスクフィルムを密着させ、超高圧水銀灯に
より500mJ/cm2 強度で露光した後、DMDG溶
液でスプレー現像した。この後、さらに、この基板を超
高圧水銀灯により3000mJ/cm2 強度で露光し、
100℃で1時間、120℃で1時間、150℃で3時
間の加熱処理を施し、フォトマスクフィルムに相当する
寸法精度に優れた直径85μmのバイアホール用開口を
有する厚さ35μmの層間樹脂絶縁層を形成した。な
お、バイアホールとなる開口には、スズめっき層を部分
的に露出させた。
(7) A photomask film on which a black circle having a diameter of 85 μm is printed is brought into close contact with both surfaces of the substrate on which the adhesive layer for electroless plating is formed in the above (6), and 500 mJ / cm is applied by an ultra-high pressure mercury lamp. After exposure at two intensities, it was spray-developed with a DMDG solution. Thereafter, the substrate was further exposed at 3000 mJ / cm 2 intensity using an ultra-high pressure mercury lamp,
Heat treatment at 100 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 1 hour, and 150 ° C. for 3 hours. 35 μm thick interlayer resin insulation with 85 μm diameter via hole openings with excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film. A layer was formed. Note that the tin plating layer was partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0070】(8) バイアホール用開口を形成した基板
を、クロム酸水溶液(7500g/l)に19分間浸漬
し、層間樹脂絶縁層の表面に存在するエポキシ樹脂粒子
を溶解除去してその表面を粗化し、粗化面を得た。その
後、中和溶液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いし
た。さらに、粗面化処理した該基板の表面に、パラジウ
ム触媒(アトテック社製)を付与することにより、層間
絶縁材層の表面およびバイアホール用開口の内壁面に触
媒核を付着させた。
(8) The substrate in which the via hole opening is formed is immersed in a chromic acid aqueous solution (7500 g / l) for 19 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulating layer, thereby removing the surface. It was roughened to obtain a roughened surface. Then, it was immersed in a neutralization solution (manufactured by Shipley) and washed with water. Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment, catalyst nuclei were attached to the surface of the interlayer insulating material layer and the inner wall surface of the via hole opening.

【0071】(9) 次に、以下の組成の無電解銅めっき水
溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.6〜1.
2μmの無電解銅めっき膜を形成した。 〔無電解めっき水溶液〕 EDTA 0.08 mol/l 硫酸銅 0.03 mol/l HCHO 0.05 mol/l NaOH 0.05 mol/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.10 g/l (ポリエチレングリコール) 〔無電解めっき条件〕65℃の液温度で20分
(9) Next, the substrate is immersed in an aqueous solution of electroless copper plating having the following composition, and has a thickness of 0.6 to 1.
An electroless copper plating film of 2 μm was formed. [Electroless plating aqueous solution] EDTA 0.08 mol / l Copper sulfate 0.03 mol / l HCHO 0.05 mol / l NaOH 0.05 mol / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.10 g / L (polyethylene glycol) [Electroless plating conditions] at a liquid temperature of 65 ° C for 20 minutes

【0072】(10)市販の感光性ドライフィルムを無電解
銅めっき膜に貼り付け、マスクを載置して、100mJ
/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム水溶液で現
像処理することにより、厚さ15μmのめっきレジスト
を設けた。
(10) A commercially available photosensitive dry film was attached to the electroless copper plating film, a mask was placed, and 100 mJ
/ Cm 2 and developed with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution to provide a plating resist having a thickness of 15 μm.

【0073】(11)ついで、レジスト非形成部に以下の条
件で電気めっきを施し、厚さ15μmの電気めっき膜を
形成した。 〔電気めっき水溶液〕 硫酸 2.24 mol/l 硫酸銅 0.26 mol/l 添加剤 19.5 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドHL) 〔電気めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 65 分 温度 22±2 ℃
(11) Then, electroplating was performed on the non-resist-formed portions under the following conditions to form an electroplated film having a thickness of 15 μm. [Electroplating aqueous solution] sulfuric acid 2.24 mol / l copper sulfate 0.26 mol / l additive 19.5 ml / l (manufactured by Atotech Japan, capparaside HL) [electroplating conditions] current density 1 A / dm 2 hours 65 minutes Temperature 22 ± 2 ℃

【0074】(12)さらにめっきレジストを5%KOH水
溶液で剥離除去した後、そのめっきレジスト下の無電解
めっき膜を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処理
して溶解除去し、独立の上層導体回路とした。
(12) Further, after the plating resist is stripped and removed with a 5% KOH aqueous solution, the electroless plating film under the plating resist is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, and the independent upper layer is removed. It was a conductor circuit.

【0075】(13)導体回路を形成した基板に対し、上記
(5) と同様の処理を行い、導体回路の表面に厚さ2μm
のCu−Ni−Pからなる合金粗化層を形成した。 (14)上記 (5)〜(13)の工程を、繰り返すことにより、さ
らに上層の導体回路を形成し、この後、ソルダーレジス
ト層およびハンダバンプを形成することにより多層プリ
ント配線板を得た。図2は、完成後のプリント配線板を
模式的に示した断面図であり、2(2a、2b)は層間
樹脂絶縁層、5は上層導体回路、7はバイアホール、1
1は粗化層、14はソルダーレジスト層、15はニッケ
ルめっき膜、16は金めっき膜、17はハンダバンプを
示す。なお、図2は、上層導体回路5を1層だけ形成し
た場合を示している。
(13) With respect to the substrate on which the conductor circuit is formed,
Perform the same treatment as in (5), and apply a 2 μm thick
An alloy roughened layer made of Cu-Ni-P was formed. (14) By repeating the above steps (5) to (13), a further upper conductive circuit was formed, and thereafter, a solder resist layer and solder bumps were formed to obtain a multilayer printed wiring board. FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing a printed wiring board after completion. 2 (2a, 2b) is an interlayer resin insulating layer, 5 is an upper conductor circuit, 7 is a via hole,
Reference numeral 1 denotes a roughened layer, 14 denotes a solder resist layer, 15 denotes a nickel plating film, 16 denotes a gold plating film, and 17 denotes a solder bump. FIG. 2 shows a case where only one upper-layer conductor circuit 5 is formed.

【0076】(比較例1)スルーホール、導体回路非形
成部および導体回路外縁部と重なる部分が開口したマス
クを基板上に載置し、硬度80°のゴム製スキージを用
い、一度にスルーホール、導体回路非形成部および導体
回路外縁部に樹脂充填材の層を形成し、乾燥させたほか
は、実施例1と同様にして、プリント配線板を得た。
(Comparative Example 1) A mask having a through hole, a portion where a conductor circuit is not formed and a portion overlapping with the outer edge of the conductor circuit was placed on a substrate, and a through hole was formed at once using a rubber squeegee having a hardness of 80 °. A printed wiring board was obtained in the same manner as in Example 1, except that a layer of a resin filler was formed on the non-formed portion of the conductive circuit and the outer peripheral portion of the conductive circuit, and dried.

【0077】(比較例2)従来の方法を用い、(3) の工
程で導体回路が形成された基板の全面に、樹脂充填材の
層を形成したほかは、実施例1と同様にして、プリント
配線板を得た。以上、実施例1および比較例1〜2で得
られた多層プリント配線板について、導体回路上の樹脂
残りの有無および異物の付着の有無を目視により判断し
た。また、ハンダバンプを形成した後、基板の両面のハ
ンダバンプに導通検査用の端子を接触させ、ハンダバン
プ間における導通の有無を測定した。さらに、125℃
で3分、−55℃で3分の条件によるヒートサイクル試
験を1000回実施した後、プリント配線板を切断し、
100倍の光学顕微鏡を用いて断面を観察し、層間樹脂
絶縁層の剥離や導体回路の破壊の有無を調べた。その結
果を下記の表1に示した。
(Comparative Example 2) A resin filler layer was formed on the entire surface of the substrate on which the conductive circuit was formed in the step (3) by using the conventional method. A printed wiring board was obtained. As described above, for the multilayer printed wiring boards obtained in Example 1 and Comparative Examples 1 and 2, the presence or absence of the resin residue on the conductive circuit and the presence or absence of the adhesion of foreign matter were visually determined. After the formation of the solder bumps, the terminals for continuity inspection were brought into contact with the solder bumps on both surfaces of the substrate, and the presence or absence of continuity between the solder bumps was measured. In addition, 125 ° C
After performing a heat cycle test under conditions of 3 minutes at −55 ° C. for 3 minutes 1000 times, the printed wiring board is cut,
The cross section was observed using a 100 × optical microscope, and the presence or absence of peeling of the interlayer resin insulating layer and destruction of the conductor circuit was examined. The results are shown in Table 1 below.

【0078】[0078]

【表1】 [Table 1]

【0079】上記表1に示した結果より明らかなよう
に、実施例1においては、いずれの評価項目も良好であ
るのに対し、比較例1〜2では、樹脂残りや異物の付着
が観察され、層間樹脂絶縁層や導体回路の剥離が発生し
ている。
As is clear from the results shown in Table 1, in Example 1, all the evaluation items were good, while in Comparative Examples 1 and 2, resin residue and adhesion of foreign matter were observed. In addition, peeling of the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit has occurred.

【0080】[0080]

【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、スルーホールおよび導体回路を有する平滑な基板を
形成することができ、その上に層間樹脂絶縁層や上層導
体回路を形成することにより、接続性及び信頼性に優れ
たプリント配線板とすることができるプリント配線板の
製造方法を提供することができる。
As described above, according to the present invention, a smooth substrate having a through hole and a conductor circuit can be formed, and an interlayer resin insulation layer and an upper layer conductor circuit can be formed thereon. Accordingly, it is possible to provide a method for manufacturing a printed wiring board that can be a printed wiring board having excellent connectivity and reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)〜(e)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 1A to 1E are cross-sectional views showing a part of a manufacturing process of a printed wiring board according to the present invention.

【図2】本発明のプリント配線板の一例を模式的に示す
断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing one example of the printed wiring board of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 層間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層) 4 下層導体回路 4a 粗化面 5 上層導体回路 7 バイアホール 8 銅箔 9 スルーホール 9a 粗化面 10 樹脂充填材 11 粗化層 14 ソルダーレジスト層 15 ニッケルめっき膜 16 金めっき膜 17 ハンダバンプ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Interlayer resin insulation layer (adhesive layer for electroless plating) 4 Lower-layer conductor circuit 4a Roughened surface 5 Upper-layer conductor circuit 7 Via hole 8 Copper foil 9 Through hole 9a Roughened surface 10 Resin filler 11 Roughened layer 14 Solder resist layer 15 Nickel plating film 16 Gold plating film 17 Solder bump

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田中 宏徳 岐阜県揖斐郡揖斐川町北方1−1 イビデ ン株式会社大垣北工場内 (72)発明者 石谷 嘉史 岐阜県大垣市木戸町905番地 イビデン株 式会社大垣工場内 Fターム(参考) 5E346 AA06 AA12 AA15 AA32 AA38 AA41 AA43 BB01 BB16 CC08 CC31 DD03 DD22 DD33 DD47 EE31 EE35 EE38 EE39 FF02 FF15 GG01 GG02 GG15 GG19 GG22 GG23 GG27 GG28 HH07 HH11  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing from the front page (72) Inventor Hironori Tanaka 1-1, Ibigawa-cho, Ibi-gun, Gifu Prefecture Inside the Ogaki-Kita Plant F-term in the Ogaki Plant of Shikisha Co., Ltd. (reference)

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 スルーホールおよび導体回路が形成さ
れ、前記スルーホールに樹脂充填材が充填された絶縁性
基板上に、導体回路非形成部および導体回路外縁部と重
なる部分に開口が設けられたマスクを載置し、樹脂充填
材を塗布することにより、導体回路非形成部および導体
回路の外縁部に樹脂充填材の層を形成することを特徴と
するプリント配線板の製造方法。
1. A through hole and a conductor circuit are formed, and an opening is provided in a portion overlapping a conductor circuit non-formed portion and a conductor circuit outer edge portion on an insulating substrate in which the through hole is filled with a resin filler. A method for manufacturing a printed wiring board, comprising: placing a mask and applying a resin filler to form a layer of a resin filler on a non-conductive-circuit-forming portion and an outer edge of the conductive circuit.
【請求項2】 スルーホールおよび導体回路が形成さ
れ、前記スルーホールに樹脂充填材が充填された絶縁性
基板上に、導体回路非形成部と重なる部分またはそれよ
りも狭い範囲に開口が設けられたマスクを載置し、樹脂
充填材を塗布することにより、導体回路非形成部に樹脂
充填材の層を形成することを特徴とするプリント配線板
の製造方法。
2. A through-hole and a conductor circuit are formed, and an opening is provided on a portion of the insulating substrate in which the through-hole is filled with a resin filler, at a portion overlapping with a portion where a conductor circuit is not formed or in a narrower range than the portion. A method for manufacturing a printed wiring board, comprising: forming a layer of a resin filler in a portion where a conductive circuit is not formed by placing a mask that has been placed and applying a resin filler.
【請求項3】 少なくとも下記した(a)〜(e)の工
程を経て、スルーホールおよび導体回路が形成された絶
縁性基板上に樹脂絶縁層を形成することを特徴とするプ
リント配線板の製造方法。 (a)前記スルーホールに樹脂充填材を充填し、乾燥す
る工程、(b)請求項1または請求項2記載の方法を用
いて絶縁性基板上に樹脂充填材の層を形成する工程、
(c)前記(b)工程で形成した樹脂充填材の層を乾燥
する工程、(d)乾燥した樹脂充填材の層を研摩する工
程、および(e)研摩後の樹脂充填材の層を硬化する工
3. A method for manufacturing a printed wiring board, comprising: forming a resin insulating layer on an insulating substrate on which a through hole and a conductive circuit are formed, through at least the following steps (a) to (e). Method. (A) a step of filling the through hole with a resin filler and drying; (b) a step of forming a layer of the resin filler on an insulating substrate using the method according to claim 1 or 2;
(C) drying the resin filler layer formed in the step (b), (d) polishing the dried resin filler layer, and (e) curing the polished resin filler layer. Process
【請求項4】 前記(d)の工程の前または後におい
て、エッチングにより導体回路の粗化面を平坦化する請
求項3に記載のプリント配線板の製造方法。
4. The method according to claim 3, wherein a roughened surface of the conductive circuit is flattened by etching before or after the step (d).
【請求項5】 絶縁性基板を構成する絶縁層の厚みは、
0.5〜1.5mmである請求項1、2、3または4に
記載のプリント配線板の製造方法。
5. The thickness of an insulating layer constituting an insulating substrate is as follows:
The method for producing a printed wiring board according to claim 1, 2, 3, or 4, wherein the thickness is 0.5 to 1.5 mm.
JP5879299A 1999-03-05 1999-03-05 Manufacture of printed circuit board Pending JP2000261140A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5879299A JP2000261140A (en) 1999-03-05 1999-03-05 Manufacture of printed circuit board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5879299A JP2000261140A (en) 1999-03-05 1999-03-05 Manufacture of printed circuit board

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000261140A true JP2000261140A (en) 2000-09-22

Family

ID=13094436

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5879299A Pending JP2000261140A (en) 1999-03-05 1999-03-05 Manufacture of printed circuit board

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000261140A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7337535B2 (en) 2001-06-07 2008-03-04 Lg Electronics Inc. Hole plugging method for printed circuit boards, and hole plugging device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7337535B2 (en) 2001-06-07 2008-03-04 Lg Electronics Inc. Hole plugging method for printed circuit boards, and hole plugging device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003008228A (en) Multilayer printed wiring board and method of manufacturing the same
JP2003023252A (en) Multilayered printed wiring board
JP2003023253A (en) Multilayered printed wiring board
JP2001121053A (en) Roll coater for coating and production method of printed circuit board using the same
JP2000165046A (en) Multilayer built-up wiring board
JP2003023251A (en) Multilayered printed wiring board
JP2001053448A (en) Printed wiring board, solder resist resin composition, and method for manufacturing printed wiring board
JP3437451B2 (en) Printed wiring board for mounting IC chip and method of manufacturing the same
JP2000068650A (en) Multi-layered printed wiring board
JP2000022318A (en) Printed wiring board and manufacture thereof
JP2002271040A (en) Method for manufacturing multilayer printed wiring board
JP2000307024A (en) Production of printed wiring board
JPH10126040A (en) Manufacture of printed wiring board
JP3259906B2 (en) Adhesive for electroless plating and printed wiring board
JP2000077851A (en) Manufacture of multilayer printed wiring board
JP2002271027A (en) Multi-layer printed board
JP2000261140A (en) Manufacture of printed circuit board
JPH11307936A (en) Multi-layer printed circuit board
JP2000133941A (en) Multilayer build-up wiring board
JP2000261148A (en) Manufacture of printed wiring board
JP2001060765A (en) Method for manufacturing multilayer printed-wiring board
JP2000349427A (en) Printed wiring board, printed wiring board for surface mounting, and surface-mount wiring board
JP2008118162A (en) Printed wiring board
JP2001024322A (en) Printed wiring board and manufacture thereof
JP2000101246A (en) Multilayer built-up wiring board and its manufacture

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20040305

A621 Written request for application examination

Effective date: 20060208

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090217

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090623