JP2000349427A - Printed wiring board, printed wiring board for surface mounting, and surface-mount wiring board - Google Patents

Printed wiring board, printed wiring board for surface mounting, and surface-mount wiring board

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JP2000349427A
JP2000349427A JP15970499A JP15970499A JP2000349427A JP 2000349427 A JP2000349427 A JP 2000349427A JP 15970499 A JP15970499 A JP 15970499A JP 15970499 A JP15970499 A JP 15970499A JP 2000349427 A JP2000349427 A JP 2000349427A
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JP
Japan
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wiring board
layer
resin layer
opening
exposure
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Naohiro Hirose
直宏 広瀬
Yoichiro Kawamura
洋一郎 川村
Kota Noda
宏太 野田
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Publication date
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve insulating property and connection reliability of an insulating resin layer such as an inter-layer insulating resin layer and a solder resist layer by preventing a pinhole from being formed in the insulating resin layer. SOLUTION: The printed wiring board is provided with a conductor circuit 3 and an insulating resin layer 2 on the conductor circuit 3 and also has an opening 1 formed in the insulating resin layer 2 so that the conductor circuit 3 is exposed through the opening 1. The insulating resin layer 2 has a land part 2a around the opening 1 and a peripheral part 2b around the land part 2a, and the peripheral part 2b is taller than the land part 2a.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、絶縁性及び信頼性
に優れるプリント配線板、表面実装用プリント配線板及
び表面実装配線板に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board, a surface-mounted printed wiring board, and a surface-mounted wiring board having excellent insulation and reliability.

【0002】[0002]

【従来の技術】ビルドアップ多層配線板は、例えば、特
開平9−130050号公報に開示されているような方
法にて製造される。
2. Description of the Related Art A build-up multilayer wiring board is manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-130050.

【0003】かかる方法では、プリント配線板の導体回
路の表面に無電解めっきやエッチングにより、粗化層を
形成させて、ロールコーターや印刷により層間絶縁樹脂
を塗布、露光、現像して、層間導通のためのバイアホー
ル開口部を形成し、UV硬化、本硬化を経て層間樹脂絶
縁層を形成する。
In such a method, a roughened layer is formed on the surface of a conductor circuit of a printed wiring board by electroless plating or etching, and an interlayer insulating resin is applied by a roll coater or printing, exposed, developed, and subjected to interlayer conduction. Is formed, and an interlayer resin insulation layer is formed through UV curing and main curing.

【0004】さらに、その層間絶縁層に酸や酸化剤等に
より粗化処理を施し、粗化面を形成し、この粗化面にパ
ラジウム等の触媒を付け、薄い無電解めっき膜を形成
し、このめっき膜上にドライフィルムにてパターンを形
成し、電解めっきで厚付けしたのち、アルカリでドライ
フィルムを剥離除去し、エッチングして導体回路を作り
出させる。これを繰り返すことにより、ビルドアップ多
層配線板が得られる。
Further, the interlayer insulating layer is subjected to a roughening treatment with an acid or an oxidizing agent to form a roughened surface, a catalyst such as palladium is applied to the roughened surface, and a thin electroless plating film is formed. A pattern is formed on this plating film with a dry film, and after thickening by electrolytic plating, the dry film is peeled off with an alkali and etched to form a conductor circuit. By repeating this, a build-up multilayer wiring board is obtained.

【0005】バイアホールの形成では、感光性樹脂を塗
布後、乾燥を経て、透光性の熱可塑性樹脂フィルム(以
下PETラミネーターと記す)を感光性樹脂層上に貼り
付けた後、ガラスマスクを載置して、UV硬化で層間導
通用の開口を形成し、PETラミネーターを剥がし、現
像、硬化(光硬化、熱硬化)を経て、バイアホールが形
成された層間絶縁層を形成させることができる。また、
ソルダーレジスト層でも、同様の方法ではんだパッド用
の開口部を形成させることができる。
In forming via holes, a photosensitive resin is applied, dried, and then a translucent thermoplastic resin film (hereinafter referred to as a PET laminator) is attached on the photosensitive resin layer. After mounting, an opening for interlayer conduction is formed by UV curing, the PET laminator is peeled off, and after development and curing (light curing, heat curing), an interlayer insulating layer having via holes formed therein can be formed. . Also,
In the solder resist layer, an opening for a solder pad can be formed in a similar manner.

【0006】開口部に露出した導体回路には、その後、
クロム酸等により粗化層を形成し、めっきによる金属層
を形成させることにより、バイアホールを介して、上層
の導体回路やはんだペーストとの接続を取ることができ
る。
[0006] After the conductor circuit exposed in the opening,
By forming a roughened layer with chromic acid or the like and forming a metal layer by plating, it is possible to establish a connection with an upper conductive circuit or a solder paste through a via hole.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、本発明
者は、絶縁樹脂層にバイアホールやはんだパッド開口以
外の孔(以下、この孔をピンホールと称する)が形成さ
れることを見出した。また、本発明者の研究によれば、
このピンホールは、かかる絶縁樹脂層を貫通し、層間絶
縁樹脂層やソルダーレジスト層の絶縁性、信頼性を著し
く低下させることを解明した。
However, the present inventor has found that holes other than via holes and solder pad openings (hereinafter referred to as pinholes) are formed in the insulating resin layer. According to the research of the present inventors,
It has been clarified that the pinhole penetrates the insulating resin layer and significantly lowers the insulation and reliability of the interlayer insulating resin layer and the solder resist layer.

【0008】本発明は、層間絶縁樹脂層やソルダーレジ
スト層等の絶縁樹脂層にピンホールが形成されるのを防
止することを課題とする。また、本発明は、かかる絶縁
樹脂層の絶縁性及び接続性を向上させたプリント配線板
を得ることを課題とする。
An object of the present invention is to prevent pinholes from being formed in an insulating resin layer such as an interlayer insulating resin layer or a solder resist layer. Another object of the present invention is to provide a printed wiring board having improved insulating properties and connectivity of the insulating resin layer.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、導体回路と前
記導体回路上の絶縁樹脂層とを備えており、前記絶縁樹
脂層に開口が設けられており、前記開口で前記導体回路
が露出している、プリント配線板において、前記絶縁樹
脂層が、前記開口の周りのランド部と、前記ランド部の
周りの周辺部とを備えており、前記周辺部が前記ランド
部よりも高い、プリント配線板、かかるプリント配線板
を用いた表面実装用プリント配線板及び表面実装配線板
に係るものである。
The present invention comprises a conductor circuit and an insulating resin layer on the conductor circuit, wherein the insulating resin layer has an opening, and the conductor circuit is exposed at the opening. In the printed wiring board, the insulating resin layer has a land portion around the opening and a peripheral portion around the land portion, and the peripheral portion is higher than the land portion. The present invention relates to a wiring board, a printed wiring board for surface mounting using the printed wiring board, and a surface mounting wiring board.

【0010】本発明者は、絶縁樹脂層にピンホールが発
生する原因について検討した。その結果、本発明者は、
かかるピンホールが、バイアホールやはんだパッド形成
のために用いるマスク上に、異物が残ることによって発
生することを突き止めた。その異物は、空気中に浮遊し
ているもの、マスクや基板に付着したもの、あるいは、
露光装置等から発生したもの等が認められた。
The present inventor has studied the cause of the occurrence of pinholes in the insulating resin layer. As a result, the inventor
It has been found that such pinholes are generated by foreign matter remaining on a mask used for forming via holes and solder pads. The foreign matter may be floating in the air, attached to a mask or substrate, or
Those generated from the exposure apparatus were observed.

【0011】かかる異物が、マスク上の、所定の大きさ
で形成された黒円以外の部分に残っている状態で、その
まま感光性樹脂の露光を行うと、その異物部分に当たる
感光性樹脂層は、描画されたマスクの黒円を介した露光
と同様に未露光となり、その未露光部分の現像を行う
と、その部分が溶出されてしまい、絶縁樹脂層にバイア
ホール形成用開口以外の孔が開き、ピンホールが形成さ
れる。
When the photosensitive resin is exposed as it is in a state in which such foreign matter remains on a portion of the mask other than the black circle formed in a predetermined size, the photosensitive resin layer hitting the foreign matter portion becomes In the same manner as the exposure through the black circle of the drawn mask, it becomes unexposed, and if the unexposed part is developed, the part is eluted, and holes other than the via hole forming opening are formed in the insulating resin layer. Open and a pinhole is formed.

【0012】本発明者の研究によれば、かかるピンホー
ルは、絶縁樹脂層の表層に形成されたり、絶縁樹脂層の
中央部分にまで達するものがあり、絶縁樹脂層の絶縁
性、信頼性を著しく低下させてしまうことがわかった。
According to the research of the present inventor, such pinholes are formed on the surface of the insulating resin layer or reach the center of the insulating resin layer, and the insulation and reliability of the insulating resin layer are reduced. It was found that the temperature was significantly reduced.

【0013】また、かかるピンホールでも、ひどいもの
になると、絶縁樹脂層としての層間絶縁樹脂層を貫通し
てしまい、めっきを施すと下層の回路と短絡して、接続
性に堪え難い悪影響を与えた。
Further, even if such pinholes are severe, they will penetrate through the interlayer insulating resin layer as an insulating resin layer, and if plated, short-circuits with the underlying circuit, which adversely affects the connectivity. Was.

【0014】さらに、絶縁樹脂層が回路を保護するソル
ダーレジスト層の場合、開口部に耐食金属めっき(ニッ
ケルめっき、金めっき等)を施し、開口部を腐食から保
護するが、この際、層間絶縁樹脂層と同様の貫通したピ
ンホールが形成されていると、そのピンホール内に耐蝕
金属めっき層が浸入してしまい、ソルダーレジスト層上
にはんだバンプ、BGAを形成すると、ピンホール内及
びピンホール上の耐蝕金属めっき層、はんだペーストを
介して、はんだバンプ同士又はBGA同士が短絡した
り、はんだバンプやBGAとソルダーレジスト層内の回
路とで短絡した。
Further, in the case where the insulating resin layer is a solder resist layer for protecting the circuit, corrosion-resistant metal plating (nickel plating, gold plating, etc.) is applied to the opening to protect the opening from corrosion. If a penetrating pinhole similar to the resin layer is formed, the corrosion-resistant metal plating layer penetrates into the pinhole, and when a solder bump or BGA is formed on the solder resist layer, the pinhole and the pinhole Solder bumps or BGAs were short-circuited via the upper corrosion-resistant metal plating layer and solder paste, or short-circuited between the solder bumps or BGA and the circuit in the solder resist layer.

【0015】かかる知見の下、鋭意研究した結果、本発
明者は、絶縁樹脂層に開口を設ける際、少なくとも2
回、異なる状態のマスクを用いて感光性樹脂層を露光
し、その後現像することにより、絶縁樹脂層を貫通する
ピンホールが形成されなくなることを見出した。
As a result of intensive studies based on such knowledge, the present inventor has found that when providing an opening in an insulating resin layer, at least two
It has been found that by exposing the photosensitive resin layer using masks in different states and then developing, the pinhole penetrating the insulating resin layer is not formed.

【0016】本発明では、導体回路上に設けられた感光
性樹脂層を、予備露光マスクを介して露光し、本露光マ
スクを介して露光した後、この感光性樹脂層を現像し、
絶縁樹脂層に開口を形成し、開口から導体回路を露出さ
せることができる。なお、本発明にかかる絶縁樹脂層に
は、層間絶縁樹脂層やソルダーレジスト層が含まれる。
In the present invention, the photosensitive resin layer provided on the conductor circuit is exposed through a pre-exposure mask, and after exposing through the main exposure mask, the photosensitive resin layer is developed.
An opening is formed in the insulating resin layer, and the conductor circuit can be exposed from the opening. The insulating resin layer according to the present invention includes an interlayer insulating resin layer and a solder resist layer.

【0017】本発明にかかる予備露光マスクと本露光マ
スクとは、それぞれが、感光性樹脂層との相対的な位置
関係で、露光時の異物の存在位置が異なっているマスク
をいう。例えば、2枚の異なる状態の下に保存されてい
たマスクや、1枚のマスクであっても、このマスクを回
転させる等によって、2回目等の露光で、1回目の露光
の載置状態とは異なる載置状態にし得るマスク等が挙げ
られる。かかる予備露光マスクと本露光マスクとを用い
て露光すれば、感光性樹脂層の未露光部分を著しく減少
させることができる。
The pre-exposure mask and the main exposure mask according to the present invention refer to masks in which the positions of foreign substances at the time of exposure differ depending on the relative positional relationship with the photosensitive resin layer. For example, even if one mask is stored under two different states or one mask, by rotating the mask or the like, the mounting state of the first exposure is changed by the second exposure or the like. Is a mask that can be placed in a different mounting state. When exposure is performed using the preliminary exposure mask and the main exposure mask, the unexposed portion of the photosensitive resin layer can be significantly reduced.

【0018】また、本発明者が更に研究したところ、予
備露光マスクと本露光マスクとに、それぞれが所定の大
きさで描画された黒色部を設け、予備露光マスクの黒色
部が本露光マスクの黒色部よりも大きいマスクを用いる
ことによって、開口の周りのランド部と、このランド部
の周りの、ランド部よりも高い周辺部とを備えた絶縁樹
脂層が形成されることを見出した。
Further, the present inventor has further studied and found that the pre-exposure mask and the main exposure mask are each provided with a black portion drawn in a predetermined size, and the black portion of the pre-exposure mask is the main exposure mask. It has been found that by using a mask larger than the black portion, an insulating resin layer having a land around the opening and a periphery around the land higher than the land is formed.

【0019】かかる知見の下、更に研究したところ、本
発明者は、かかる絶縁樹脂層を層間絶縁樹脂層として用
い、かかる層間絶縁樹脂層にランド部と周辺部との段差
が存在するバイアホール用開口を設けた場合、めっきに
よってバイアホール用開口部にバイアホール導体を浸入
させる際、段差部分の周囲からのめっき液の流れ込みが
容易になることによって、バイアホール用開口部に露出
する導体回路とバイアホール導体との密着性が十分に保
証され、電気的接続性が向上することを突き止めた。
Based on the above findings, the present inventor has further studied and found that the insulating resin layer is used as an interlayer insulating resin layer, and the interlayer insulating resin layer has a via hole having a step between a land portion and a peripheral portion. When the opening is provided, when the via-hole conductor penetrates into the via-hole opening by plating, it becomes easy for the plating solution to flow from the periphery of the step portion, so that the conductor circuit is exposed to the via-hole opening. It has been found that the adhesion to the via-hole conductor is sufficiently ensured and the electrical connectivity is improved.

【0020】また、本発明者は、かかる絶縁樹脂層をソ
ルダーレジスト層として用い、ランド部と周辺部との段
差が存在する開口にはんだバンプを設けて表面実装用プ
リント配線板を得た場合、ランド部と周辺部との段差
が、ソルダーダムとして働き得ることがわかった。
Further, the present inventor has proposed a case where a printed wiring board for surface mounting is obtained by using such an insulating resin layer as a solder resist layer and providing a solder bump in an opening having a step between a land portion and a peripheral portion. It was found that the step between the land and the periphery could work as a solder dam.

【0021】さらに、本発明者は、かかる絶縁樹脂層か
ら露出した導体回路と電子部品回路とを、はんだ層を介
して接続すれば、はんだ層が、開口内と、ランド部と周
辺部との段差部分に留まって形成され、隣り合う溶融ソ
ルダーの流れが互いに接触することなく、極めて接続信
頼性に優れた表面実装配線板が得られることを解明し、
本発明を完成させた。
Further, the present inventor can connect the conductor circuit and the electronic component circuit exposed from the insulating resin layer via a solder layer, so that the solder layer can be formed between the opening, the land portion and the peripheral portion. Elucidating that a surface-mounted wiring board with extremely excellent connection reliability can be obtained without the adjacent molten solder flows being in contact with each other and formed at the steps.
The present invention has been completed.

【0022】本発明によれば、少なくとも2回の、感光
性樹脂層の露光によって絶縁樹脂層が形成されているの
で、露光の際の、マスクの同一個所に異物の存在する可
能性が低くなり、感光性樹脂層に、マスク上に残った異
物を起点とする未露光部分が生じるのを防ぐことがで
き、これによって、形成される絶縁樹脂層のピンホール
の発生が防止され、導体回路間の短絡が防止され、プリ
ント配線板の絶縁性及び接続信頼性を向上させることが
できる。
According to the present invention, since the insulating resin layer is formed by exposing the photosensitive resin layer at least twice, the possibility of foreign matter existing in the same portion of the mask during the exposure is reduced. In addition, it is possible to prevent the photosensitive resin layer from having an unexposed portion originating from the foreign matter remaining on the mask, thereby preventing the formation of pinholes in the insulating resin layer to be formed and preventing the conductor circuit from being exposed. Can be prevented, and the insulation properties and connection reliability of the printed wiring board can be improved.

【0023】本発明のプリント配線板によれば、絶縁樹
脂層の開口の周りに、ランド部と、このランド部の周り
の、ランド部よりも高い周辺部とが形成されており、か
かる開口が、バイアホール用開口及びははんだバンプ用
開口の少なくとも一方として用いられているため、バイ
アホール導体と導体回路との優れた密着性や、隣り合う
溶融ソルダーの接触防止によって、絶縁性及び接続信頼
性が著しく向上する。
According to the printed wiring board of the present invention, the land portion and the peripheral portion higher than the land portion around the land portion are formed around the opening of the insulating resin layer. , And via holes are used as at least one of solder bump openings, so that insulation and connection reliability can be ensured by excellent adhesion between via hole conductors and conductor circuits and by preventing contact between adjacent molten solders. Is significantly improved.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】図面を参照して、本発明を詳細に
説明する。図1は、本発明の一例のプリント配線板の部
分縦断面図である。図2は、本発明の一例の表面実装用
プリント配線板の部分縦断面図である。図3は、本発明
の一例の表面実装配線板の部分縦断面図である。図4
は、図3の表面実装配線板において、ソルダーの流れを
示した部分平面図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a partial longitudinal sectional view of a printed wiring board according to an example of the present invention. FIG. 2 is a partial longitudinal sectional view of a surface-mounted printed wiring board according to an example of the present invention. FIG. 3 is a partial vertical sectional view of a surface mount wiring board according to an example of the present invention. FIG.
FIG. 4 is a partial plan view showing the flow of solder in the surface mount wiring board of FIG. 3.

【0025】本発明では、感光性樹脂層を1回目の露光
で、現像して開口することはしない。本発明では、感光
性樹脂層を少なくとも2度露光した後に、感光性樹脂層
を現像することによって、絶縁樹脂層に開口を形成す
る。
In the present invention, the photosensitive resin layer is not developed and opened in the first exposure. In the present invention, an opening is formed in the insulating resin layer by developing the photosensitive resin layer after exposing the photosensitive resin layer at least twice.

【0026】本発明では、予備露光マスクと本露光マス
クを用いて、感光性樹脂層を露光することができる。予
備露光マスクと本露光マスクとは、マスク上の異物の存
在状態が異なっている。
In the present invention, the photosensitive resin layer can be exposed using the preliminary exposure mask and the main exposure mask. The pre-exposure mask and the main exposure mask differ in the presence state of the foreign matter on the mask.

【0027】1度目に予備露光マスクを用い、2度目に
本露光マスクを用いる場合、1度目の予備露光マスクと
2度目の本露光マスクとは、異物の存在状態が異なるの
で、これによって、1度目の露光の際、マスク上に存在
していた異物により未露光となった感光性樹脂層の部分
を、2度目の露光で露光することができ、絶縁樹脂層を
貫通するピンホールが形成されなくなる。
In the case of using the pre-exposure mask for the first time and the main exposure mask for the second time, the first pre-exposure mask and the second main exposure mask have different foreign substance existence states. At the time of the second exposure, the portion of the photosensitive resin layer which has not been exposed due to the foreign matter existing on the mask can be exposed at the second exposure, and a pinhole penetrating the insulating resin layer is formed. Disappears.

【0028】このようにすれば、露光時に、感光性樹脂
層が未露光となって層間絶縁樹脂層やソルダーレジスト
層にピンホールが生じてしまうのを防止することがで
き、かかる絶縁樹脂層を介して導体回路を形成しても、
回路間の短絡を防止することができる。
By doing so, it is possible to prevent the photosensitive resin layer from being unexposed at the time of exposure, thereby preventing the formation of pinholes in the interlayer insulating resin layer and the solder resist layer. Even if a conductor circuit is formed via
Short circuits between circuits can be prevented.

【0029】また、本発明では、少なくとも2度、感光
性樹脂層を露光するので、露光量を低くすることができ
る。この場合、1回の露光では、感光性樹脂層の硬化が
十分でないが、この感光性樹脂層は2度露光されること
になるので、1回の露光で未露光となっている部分も、
少なくとも2回目で露光され、絶縁樹脂層内にピンホー
ルが貫通することはありえない。故に、ピンホールが原
因となって生じる、絶縁樹脂層の絶縁性、信頼性の問題
もなくなる。
In the present invention, since the photosensitive resin layer is exposed at least twice, the exposure amount can be reduced. In this case, one-time exposure does not sufficiently cure the photosensitive resin layer, but since the photosensitive resin layer is exposed twice, even a portion that has not been exposed by one exposure,
Exposure is performed at least for the second time, and a pinhole cannot penetrate into the insulating resin layer. Therefore, the problem of insulation and reliability of the insulating resin layer caused by the pinhole is eliminated.

【0030】さらに、本発明では、層間絶縁樹脂層のバ
イアホール、又はソルダーレジスト層のはんだパッド開
口部を、感光性樹脂層の露光、現像にて開口させると
き、樹脂層を一度に開口する方法を取らずに、所望の開
口径より、大きい黒円が描画されたマスクを用いて、露
光量も一度で行う量よりも少ない露光量により露光し
て、開口部以外の感光性樹脂層の表層を少し固めた後、
次に所望の開口径の黒円が描画されたマスクを用いて、
感光性樹脂層を露光する。
Further, according to the present invention, when the via hole of the interlayer insulating resin layer or the solder pad opening of the solder resist layer is opened by exposure and development of the photosensitive resin layer, the resin layer is opened at one time. Without taking, using a mask on which a black circle larger than the desired opening diameter is drawn, the exposure amount is also exposed with an exposure amount smaller than the amount performed at one time, and the surface layer of the photosensitive resin layer other than the opening portion After hardening a little,
Next, using a mask on which a black circle with a desired opening diameter is drawn,
The photosensitive resin layer is exposed.

【0031】かかる感光性樹脂層を、その後、現像する
場合、図1に示すような開口が絶縁樹脂層に形成され
る。開口1は、感光性樹脂層から形成された絶縁樹脂層
2に囲まれている。開口1は、その下部で、導体回路3
を露出している。絶縁樹脂層2は、開口1の周りに、ラ
ンド部2aと、ランド部2aの周りの周辺部2bとを備
えている。周辺部2bは、ランド部2aよりも高く形成
され、周辺部2bとランド部2aとには、段差4が形成
されている。導体回路3と絶縁樹脂層2とは、適切な基
材5、例えば、基板や他の絶縁樹脂層上に設けられる。
When the photosensitive resin layer is subsequently developed, an opening as shown in FIG. 1 is formed in the insulating resin layer. The opening 1 is surrounded by an insulating resin layer 2 formed from a photosensitive resin layer. The opening 1 has a conductive circuit 3
Is exposed. The insulating resin layer 2 includes a land portion 2a around the opening 1 and a peripheral portion 2b around the land portion 2a. The peripheral portion 2b is formed higher than the land portion 2a, and a step 4 is formed between the peripheral portion 2b and the land portion 2a. The conductor circuit 3 and the insulating resin layer 2 are provided on a suitable base material 5, for example, a substrate or another insulating resin layer.

【0032】開口1に設けられていた感光性樹脂層は、
1回及び2回の露光において、マスクに描画された黒円
によって、未露光の状態にあり、現像によって溶解除去
される。周辺部2bは、2回の露光を受けており、ラン
ド部2aは、1回の露光しか受けていない。かかる絶縁
樹脂層2が感光性樹脂層を現像して形成される際、ラン
ド部2aの硬化は、周辺部2bの硬化よりも弱く、ラン
ド部2aが周辺部2bよりも過剰に溶解除去され、段差
4が形成される。
The photosensitive resin layer provided in the opening 1 is
In the first and second exposures, due to the black circle drawn on the mask, it is in an unexposed state and is dissolved and removed by development. The peripheral portion 2b has received two exposures, and the land portion 2a has received only one exposure. When the insulating resin layer 2 is formed by developing the photosensitive resin layer, the curing of the land portion 2a is weaker than the curing of the peripheral portion 2b, and the land portion 2a is dissolved and removed more excessively than the peripheral portion 2b, A step 4 is formed.

【0033】本発明では、かかる絶縁樹脂層2を設けた
プリント配線板1を用いて、図2に示すように、導体回
路3上にはんだバンプ6を設けて、表面実装用プリント
配線板7を製造することができる。かかる表面実装用プ
リント配線板7は、絶縁樹脂層2のランド部2aと周辺
部2bとの段差4が、ソルダーダムとして働き得る。
In the present invention, as shown in FIG. 2, a solder bump 6 is provided on a conductive circuit 3 by using a printed wiring board 1 provided with such an insulating resin layer 2 to form a printed wiring board 7 for surface mounting. Can be manufactured. In the printed wiring board 7 for surface mounting, the step 4 between the land portion 2a and the peripheral portion 2b of the insulating resin layer 2 can function as a solder dam.

【0034】また、本発明では、かかる表面実装用プリ
ント配線板7を用いて、図3に示すような表面実装配線
板8を製造することができる。表面実装配線板8では、
プリント配線板1の導体回路3と電子部品回路9とが、
はんだバンプの溶融ソルダー等からなるはんだ層10を
介して接続されている。
Further, in the present invention, the surface-mounted printed circuit board 8 as shown in FIG. 3 can be manufactured using the surface-mounted printed circuit board 7. In the surface mount wiring board 8,
The conductor circuit 3 and the electronic component circuit 9 of the printed wiring board 1
The solder bumps are connected via a solder layer 10 made of a solder for melting solder bumps or the like.

【0035】図2に示すように、表面実装配線板8で
は、はんだ層10は、開口内部分10aと、ランド部2
aと周辺部2bとの間の段差部分10bとからなる。か
かる表面実装配線板8では、溶融ソルダー等が流れ出て
形成される流出部10cがランド部2aと周辺部2bと
の段差に留まり、流れ出ることがないため、溶融ソルダ
ーがプリント配線板の導体回路と電子部品回路との接続
部で流出することによって生じる、接続部の短絡を防止
することができる。
As shown in FIG. 2, in the surface-mounted wiring board 8, the solder layer 10
a and a step portion 10b between the peripheral portion 2b. In such a surface mount wiring board 8, the outflow portion 10c formed by flowing out the molten solder or the like stays at the step between the land portion 2a and the peripheral portion 2b and does not flow out. It is possible to prevent a short circuit of the connection part caused by the outflow at the connection part with the electronic component circuit.

【0036】さらに、本発明では、バイアホール用開口
部に、かかる絶縁樹脂層のランド部と周辺部との段差が
存在する場合、めっきによってバイアホール用開口部に
バイアホール導体を浸入させる際、段差部分の周囲から
のめっき液の流れ込みが容易になることによって、バイ
アホール用開口部に露出する導体回路とバイアホール導
体との密着性が十分に保証され、電気的接続性が向上す
る。
Further, in the present invention, when a step between the land portion and the peripheral portion of the insulating resin layer exists in the via hole opening, when the via hole conductor is penetrated into the via hole opening by plating, By facilitating the flow of the plating solution from around the step, the adhesion between the conductor circuit exposed in the via hole opening and the via hole conductor is sufficiently ensured, and the electrical connectivity is improved.

【0037】本発明にかかる周辺部とランド部との高さ
の差は、0.01〜2.00μmであるのが好ましい。
0.01μm未満ではダムとしての効果が相殺され、
2.00μmを超えるとランドの形状保持が困難にな
る。
The difference in height between the peripheral portion and the land according to the present invention is preferably 0.01 to 2.00 μm.
If it is less than 0.01 μm, the effect as a dam is offset,
If it exceeds 2.00 μm, it becomes difficult to maintain the shape of the land.

【0038】本発明にかかる露光方法及び露光に用いる
マスクの設計等について説明する。まず、本発明にかか
る絶縁樹脂層(層間絶縁樹脂層及びソルダーレジスト
層)の厚みは、10〜60μmが好ましい。その際、か
かる絶縁樹脂層は、絶縁性を確保するために2層に分け
ることができる。また、この場合、下層部分で、フィラ
ー等の成分の比率を下げて、絶縁性を向上させてもよ
い。
The exposure method according to the present invention and the design of a mask used for exposure will be described. First, the thickness of the insulating resin layer (interlayer insulating resin layer and solder resist layer) according to the present invention is preferably 10 to 60 μm. At this time, the insulating resin layer can be divided into two layers in order to secure insulation. In this case, the insulating property may be improved by reducing the ratio of components such as filler in the lower layer portion.

【0039】本発明では、露光を複数回に別けて行う。
この場合、各露光において、段階的に、大きさの小さな
黒色部分が描画されたマスクを用いる。露光を2度に別
けて行う場合、1回目の露光を、所望の開口径に対し
て、105〜500%の大きさの黒円が描画されたマス
クを用いて行うのが好ましい。黒円の大きさが500%
を超えると、開口部の底部に残る樹脂の量が多くなるた
め、2回目の露光で樹脂が取れないで残り、開口部内で
の電気的接続が取れないことがある。黒円の大きさが1
05%未満では、開口の周りに形成されるランド部と周
辺部の段差部分が小さくなり、露光を2回で行うメリッ
トがなくなってしまう。
In the present invention, the exposure is performed a plurality of times.
In this case, in each exposure, a mask in which a small black portion is drawn step by step is used. When the exposure is performed twice, the first exposure is preferably performed using a mask on which a black circle having a size of 105 to 500% with respect to a desired opening diameter is drawn. The size of the black circle is 500%
Is exceeded, the amount of resin remaining at the bottom of the opening increases, so that the resin may not be removed in the second exposure and may remain, and electrical connection within the opening may not be established. The size of the black circle is 1
If it is less than 05%, the step formed between the land and the periphery formed around the opening becomes small, and the advantage of performing the exposure twice is lost.

【0040】2回に分けて露光する場合、各露光量は、
1回で開口させる露光量の60〜80%に下げたほうが
よい。この範囲の露光により一層効果的にランドが形成
される。例えば、この範囲の露光量であれば、マスク上
に異物が残っていたとしても、ピンホールが絶縁層、ソ
ルダーレジスト層を貫通することなく、必要部分の開口
を形成することができるからである。
In the case of exposing twice, each exposure amount is
It is better to lower the exposure amount to 60 to 80% of the exposure amount to be opened at one time. A land is formed more effectively by exposure in this range. For example, if the exposure amount is in this range, even if foreign matter remains on the mask, an opening in a necessary portion can be formed without penetrating the insulating layer and the solder resist layer. .

【0041】また、各露光で、露光する時間を変えても
よい。2度の露光を行うために、露光時間を短くするの
もよい。その場合の露光量、露光時間については、感光
性樹脂層の厚み、用いられている樹脂、硬化材、光硬化
材等の材料組成、開口径の大きさや、内容物、現像処理
の溶剤等によって条件は異なる。
In each exposure, the exposure time may be changed. In order to perform the exposure twice, the exposure time may be shortened. The exposure amount and exposure time in that case, depending on the thickness of the photosensitive resin layer, the resin used, the material composition of the curing agent, photo-curing material, etc., the size of the opening diameter, the contents, the solvent for development processing, etc. Conditions are different.

【0042】露光量はそのままで、露光時間を1回露光
の1/2の時間で行って露光すると、エッジ角度が均一
な開口径を形成することができる。
When the exposure is performed with the exposure time kept at half the time of one exposure, the aperture diameter having a uniform edge angle can be formed.

【0043】2回目の露光では、所望の開口径が形成で
きるように、所定の大きさの黒色部分が描画されたマス
クを用いて行う。この2回目の露光では、1回目の露光
で、層間絶縁樹脂層あるいはソルダーレジスト層となる
感光性樹脂層の表層が固められているので、マスク上
に、樹脂由来の異物が着くことがなくなる。
The second exposure is performed using a mask on which a black portion having a predetermined size is drawn so that a desired opening diameter can be formed. In the second exposure, since the surface layer of the photosensitive resin layer serving as the interlayer insulating resin layer or the solder resist layer is solidified in the first exposure, foreign matter derived from the resin does not adhere to the mask.

【0044】基板の両面に所定の導体回路、層間絶縁樹
脂層等が設けられているプリント配線板では、表面の露
光が終了したら、裏面を露光する。この時も、表面同様
に少なくとも2回の露光で行う。
In a printed wiring board in which a predetermined conductor circuit, an interlayer insulating resin layer and the like are provided on both surfaces of the substrate, the back surface is exposed after the exposure of the front surface is completed. Also at this time, the exposure is performed at least twice as in the case of the surface.

【0045】本発明では、少なくとも2度の露光後、D
MTG等の有機溶剤によって現像して、開口部分の未露
光部分を溶出させることができる。その後、光硬化、熱
硬化を経て、開口部を有する層間絶縁樹脂層、あるいは
ソルダーレジスト層を形成させる。
In the present invention, after exposure at least twice, D
By developing with an organic solvent such as MTG, an unexposed portion of the opening can be eluted. Thereafter, an interlayer insulating resin layer having an opening or a solder resist layer is formed through light curing and heat curing.

【0046】本発明のプリント配線板の製造方法を、順
を追って説明する。以下の方法は、主としてセミアディ
ティブ法によるものであるが、フルアディティブ法を採
用してもよい。
The method of manufacturing a printed wiring board according to the present invention will be described step by step. The following method is mainly based on the semi-additive method, but may use a full-additive method.

【0047】まず、基板の表面に導体回路を形成した配
線基板を作成する。基板としては、ガラスエポキシ基
板、ポリイミド基板、ビスマレイミド−トリアジン樹脂
基板等の樹脂絶縁基板、銅張り積層板、セラミック基
板、金属基板等の基板に無電解めっき用接着剤層を形成
し、この接着剤層表面を粗化して粗化面とし、この粗化
面全体に薄付けの無電解めっきを施し、めっきレジスト
を形成し、めっきレジスト非形成部分に厚付けの電解め
っきを施した後、めっきレジストを除去し、エッチング
処理して、電解めっき膜と無電解めっき膜とからなる導
体回路を形成する方法により行う。導体回路は、いずれ
も銅パターンがよい。
First, a wiring board having a conductive circuit formed on the surface of the board is prepared. As the substrate, an adhesive layer for electroless plating is formed on a resin insulating substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide-triazine resin substrate, a copper-clad laminate, a ceramic substrate, a metal substrate, and the like. The surface of the agent layer is roughened to a roughened surface, a thin electroless plating is applied to the entire roughened surface, a plating resist is formed, and a thick electrolytic plating is applied to a portion where no plating resist is formed. It is performed by a method of removing a resist, performing an etching treatment, and forming a conductor circuit including an electrolytic plating film and an electroless plating film. The conductor circuit preferably has a copper pattern.

【0048】導体回路を形成した基板には、導体回路あ
るいはスルーホールにより、凹部が形成される。その凹
部を埋めるために、樹脂充填剤を塗布し、乾燥した後、
不要な樹脂充填剤を研磨により研削して、導体回路を露
出させた後、樹脂充填剤を本硬化させる。
On the substrate on which the conductor circuit is formed, a recess is formed by the conductor circuit or through hole. To fill the recess, apply a resin filler and after drying,
Unnecessary resin filler is ground by grinding to expose the conductor circuit, and then the resin filler is fully cured.

【0049】次いで、露出した導体回路に粗化面を設け
る。形成される粗化面は、エッチング処理、研磨処理、
酸化処理、酸化還元処理により形成された銅の粗化面ま
たはめっき被膜により形成された粗化層上の粗化面が望
ましい。
Next, a roughened surface is provided on the exposed conductor circuit. The formed roughened surface is etched, polished,
A roughened surface of copper formed by oxidation treatment or oxidation-reduction treatment or a roughened surface on a roughened layer formed by a plating film is desirable.

【0050】無電解めっき用接着剤は、層間絶縁樹脂と
しても用いることができる。かかる無電解めっき用接着
剤は、硬化処理された、酸又は酸化剤に可溶性の耐熱性
樹脂粒子が、酸又は酸化剤に難溶性の未硬化の耐熱性樹
脂中に分散されてなるものが最適である。酸又は酸化剤
で処理することにより、耐熱性樹脂粒子が溶解除去され
て、表面に蛸つぼ状のアンカーからなる粗化面を形成で
きる。
The adhesive for electroless plating can also be used as an interlayer insulating resin. Such an adhesive for electroless plating is optimally prepared by dispersing cured heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent. It is. By treating with an acid or an oxidizing agent, the heat-resistant resin particles are dissolved and removed, and a roughened surface composed of an octopus pot-shaped anchor can be formed on the surface.

【0051】上記無電解めっき用接着剤において、特に
硬化処理された前記耐熱性樹脂粒子としては、平均粒
径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、平均粒径が2μm
以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、平均粒
径が2〜10μmの耐熱性粉末樹脂粉末と平均粒径が2μ
m以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、平均粒径が2〜
10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒径が2μm以下
の耐熱性樹脂粉末または無機粉末のいずれか少なくとも
1種を付着させてなる疑似粒子、平均粒径が0.1〜
0.8μmの耐熱性粉末樹脂粉末と平均粒径が0.8μ
mを越え、2μm未満の耐熱性樹脂粉末との混合物、
平均粒径が0.1〜1.0μmの耐熱性粉末樹脂粉末を
用いることが望ましい。これらは、より複雑なアンカー
を形成できるからである。
In the above-mentioned adhesive for electroless plating, particularly as the heat-resistant resin particles subjected to the curing treatment, a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 10 μm or less, an average particle diameter of 2 μm
Aggregated particles obtained by aggregating the following heat-resistant resin powder, a heat-resistant powder resin powder having an average particle size of 2 to 10 μm and an average particle size of 2 μm
m and a mixture with a heat-resistant resin powder having a mean particle size of 2 or less.
Pseudo particles obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder or an inorganic powder having an average particle diameter of 2 μm or less to the surface of a 10 μm heat-resistant resin powder, and an average particle diameter of 0.1 to
0.8μm heat resistant resin powder and average particle size 0.8μ
m, and a mixture with a heat-resistant resin powder of less than 2 μm,
It is desirable to use a heat-resistant resin powder having an average particle size of 0.1 to 1.0 μm. This is because they can form more complex anchors.

【0052】前記酸又は酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂と
しては、「熱硬化性樹脂および熱可塑性樹脂からなる樹
脂複合体」又は「感光性樹脂および熱可塑性樹脂からな
る樹脂複合体」からなることが望ましい。前者について
は耐熱性が高く、後者についてはバイアホール用開口を
フォトリソグラフィーにより形成できるからである。
The heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent is a “resin composite composed of a thermosetting resin and a thermoplastic resin” or a “resin composite composed of a photosensitive resin and a thermoplastic resin”. It is desirable. This is because the former has high heat resistance, and the latter can form a via hole opening by photolithography.

【0053】前記熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹
脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂等を使用できる。
また、感光化する場合は、メタクリル酸やアクリル酸等
と熱硬化基をアクリル化反応させる。特にエポキシ樹脂
のアクリレートが最適である。
As the thermosetting resin, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin and the like can be used.
In the case of photosensitization, methacrylic acid, acrylic acid or the like is reacted with a thermosetting group for acrylation. Particularly, acrylate of epoxy resin is most suitable.

【0054】エポキシ樹脂としては、フェノールノボラ
ック型、クレゾールノボラック型等のノボラック型エポ
キシ樹脂、ジシクロペンタジエン変成した脂環式エポキ
シ樹脂等を使用することができる。
As the epoxy resin, novolak type epoxy resins such as phenol novolak type and cresol novolak type, and alicyclic epoxy resins modified with dicyclopentadiene can be used.

【0055】熱可塑性樹脂としては、ポリエーテルスル
フォン(PES)、ポリスルホォン(PSF)、ポリフ
ェニレンスルフォン(PPS)、ポリフェニレンサルフ
ァイド(PPES)、ポリフェニルエーテル(PP
E)、ポリエーテルイミド(PI)等を使用できる。
As the thermoplastic resin, polyether sulfone (PES), polysulfone (PSF), polyphenylene sulfone (PPS), polyphenylene sulfide (PPES), polyphenyl ether (PP
E), polyetherimide (PI) and the like can be used.

【0056】熱硬化性樹脂(感光性樹脂)と熱可塑性樹
脂の混合割合は、熱硬化性樹脂(感光性樹脂)/熱可塑
性樹脂=95/5〜50/50がよい。耐熱性を損なう
ことなく、高い靭性値を確保できる。
The mixing ratio of the thermosetting resin (photosensitive resin) and the thermoplastic resin is preferably thermosetting resin (photosensitive resin) / thermoplastic resin = 95/5 to 50/50. High toughness value can be secured without impairing heat resistance.

【0057】前記耐熱性樹脂粒子の混合比は、耐熱性樹
脂マトリックスの固形分に対して5〜50重量%、望ま
しくは10〜40重量%がよい。
The mixing ratio of the heat-resistant resin particles is 5 to 50% by weight, preferably 10 to 40% by weight, based on the solid content of the heat-resistant resin matrix.

【0058】耐熱性粒子は、アミノ樹脂(メラミン樹
脂、尿素樹脂、グアナミン樹脂)、エポキシ樹脂等がよ
い。
The heat-resistant particles are preferably amino resins (melamine resins, urea resins, guanamine resins), epoxy resins and the like.

【0059】なお、接着剤は、組成の異なる2層により
構成してもよい。
The adhesive may be composed of two layers having different compositions.

【0060】次に、層間絶縁樹脂層を硬化する一方で、
その層間樹脂樹脂層にはバイアホール形成用の開口を設
ける。
Next, while the interlayer insulating resin layer is cured,
An opening for forming a via hole is provided in the interlayer resin layer.

【0061】本発明では、層間絶縁樹脂層に開口、硬化
処理を施す。この場合、無電解めっき用接着剤の樹脂マ
トリックスとして感光性樹脂を用いるか、無電解めっき
用接着剤を適切な手段によって感光性化することによっ
て、無電解めっき用接着剤を露光現像処理して削孔する
ことができる。
In the present invention, the interlayer insulating resin layer is subjected to an opening and a curing treatment. In this case, a photosensitive resin is used as a resin matrix of the adhesive for electroless plating, or the adhesive for electroless plating is exposed and developed by sensitizing the adhesive for electroless plating by appropriate means. Can be drilled.

【0062】本発明では、このとき、露光を少なくとも
2回に分けて行う。1回目の露光現像処理は、バイアホ
ール形成のための円パターンが、所望の開口径に対し
て、105〜500%の大きさのものが描画されたフォ
トマスク(ガラス基板がよい)を、円パターン側を感光
性の層間樹脂絶縁層の上に密着させて載置した後、露光
することができる。
In the present invention, the exposure is performed at least twice at this time. In the first exposure and development processing, a photomask (preferably a glass substrate) on which a circular pattern for forming a via hole is drawn with a size of 105 to 500% with respect to a desired opening diameter is drawn. After the pattern side is placed in close contact with the photosensitive interlayer resin insulating layer, exposure can be performed.

【0063】露光量は、1回で形成させた場合の60〜
80%の露光量を用いることができる。1回で開口する
場合、100mJ/cm必要だとすると、露光を2回
に分けたときは、60〜80mJ/cmである。次に
2回目の露光現像処理は。バイアホール形成のための開
口径に対応する、所望の大きさの黒円が描画されたフォ
トマスクを1回目と同様に密着させて、露光を行った
後、現像処理、硬化を行うことができる。
The exposure amount is 60 to 60 when formed once.
An exposure of 80% can be used. When opening at once, when it 100 mJ / cm 2 must, when the divided exposure of the two is 60~80mJ / cm 2. Next is the second exposure and development process. A photomask on which a black circle having a desired size corresponding to the opening diameter for forming a via hole is drawn in close contact with the photomask in the same manner as in the first time, and after performing exposure, development processing and curing can be performed. .

【0064】次に、バイアホール形成用開口を設けた層
間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層)の表面を粗化
する。特に、無電解めっき用接着剤層の表面に存在する
耐熱性樹脂粒子を酸又は酸化剤で溶解除去することによ
り、接着剤層表面を粗化処理する。このとき、層間絶縁
樹脂層に粗化面が形成される。
Next, the surface of the interlayer resin insulating layer (adhesive layer for electroless plating) provided with openings for forming via holes is roughened. In particular, the surface of the adhesive layer is roughened by dissolving and removing the heat-resistant resin particles present on the surface of the adhesive layer for electroless plating with an acid or an oxidizing agent. At this time, a roughened surface is formed on the interlayer insulating resin layer.

【0065】前記酸処理としては、リン酸、塩酸、硫
酸、又は蟻酸や酢酸等の有機酸を用いることができる。
特に有機酸を用いるのが望ましい。粗化処理した場合
に、バイアホールから露出する金属導体層を腐食させ難
いからである。
For the acid treatment, phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, or an organic acid such as formic acid or acetic acid can be used.
In particular, it is desirable to use an organic acid. This is because it is difficult to corrode the metal conductor layer exposed from the via hole when the roughening treatment is performed.

【0066】前記酸化処理は、クロム酸、過マンガン酸
塩(過マンガン酸カリウム等)を用いることが望まし
い。
For the oxidation treatment, it is desirable to use chromic acid or permanganate (such as potassium permanganate).

【0067】前記粗化面は、最大粗度Rmax0.1〜
20μmがよい。厚すぎると粗面自体が損傷、剥離しや
すく、薄すぎると密着性が低下するからである。特に、
セミアディティブ法では、0.1〜5μmがよい。密着
性を確保しつつ、無電解めっき膜を除去できるからであ
る。
The roughened surface has a maximum roughness Rmax of 0.1 to
20 μm is preferred. If the thickness is too large, the rough surface itself is likely to be damaged and peeled off, and if the thickness is too small, the adhesion is reduced. In particular,
In the semi-additive method, the thickness is preferably 0.1 to 5 μm. This is because the electroless plating film can be removed while ensuring adhesion.

【0068】次に、粗化し触媒核を付与した層間絶縁樹
脂上の全面に薄付けの無電解めっき膜を形成する。この
無電解めっき膜は、無電解銅めっきがよく、その厚み
は、1〜5μm、より望ましくは2〜3μmとする。な
お、無電解銅めっき液としては、常法で採用される液組
成のものを使用でき、例えば、硫酸銅:29g/l、炭酸
ナトリウム:25g/l、EDTA:140 g/l、水酸化
ナトリウム:40g/l、37%ホルムアルデヒド: 150m
l、(pH=11.5)からなる液組成のものがよい。
Next, a thin electroless plating film is formed on the entire surface of the interlayer insulating resin provided with the roughened catalyst nuclei. This electroless plating film is preferably formed by electroless copper plating, and has a thickness of 1 to 5 μm, more preferably 2 to 3 μm. As the electroless copper plating solution, those having a liquid composition employed in a usual manner can be used. For example, copper sulfate: 29 g / l, sodium carbonate: 25 g / l, EDTA: 140 g / l, sodium hydroxide : 40g / l, 37% formaldehyde: 150m
1 (pH = 11.5).

【0069】次に、このように形成した無電解めっき膜
上に感光性樹脂フィルム(ドライフィルム)をラミネー
トし、この感光性樹脂フィルム上に、めっきレジストパ
ターンが描画されたフォトマスク(ガラス基板がよい)
を密着させて載置し、露光し、現像処理することによ
り、めっきレジストパターンを配設した非導体部分を形
成する。
Next, a photosensitive resin film (dry film) is laminated on the electroless plating film thus formed, and a photomask (glass substrate is formed) on which a plating resist pattern is drawn is formed on the photosensitive resin film. Good)
Are placed in close contact with each other, exposed, and developed to form a non-conductive portion on which a plating resist pattern is provided.

【0070】次に、無電解銅めっき膜上の非導体部分以
外に電解めっき膜を形成し、導体回路とバイアホールと
なる導体部を設ける。電解めっきとしては、電解銅めっ
きを用いることが望ましく、その厚みは、10〜20μ
mがよい。
Next, an electrolytic plating film is formed on a portion other than the non-conductor portion on the electroless copper plating film to provide a conductor circuit and a conductor portion serving as a via hole. As the electrolytic plating, it is desirable to use electrolytic copper plating, the thickness of which is 10 to 20 μm.
m is good.

【0071】次に、非導体回路部分のめっきレジストを
除去した後、さらに、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫
酸ナトリウム、過硫酸アンモニウム、塩化第二鉄、塩化
第二銅等のエッチング液にて無電解めっき膜を除去し、
無電解めっき膜と電解めっき膜の2層からなる独立した
導体回路とバイアホールを得る。なお、非導体部分に露
出した粗化面上のパラジウム触媒核は、クロム酸、硫酸
過水等により溶解除去する。
Next, after removing the plating resist of the non-conductive circuit portion, the mixture is further treated with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or an etching solution such as sodium persulfate, ammonium persulfate, ferric chloride and cupric chloride. To remove the electroless plating film,
Independent conductor circuits and via holes are obtained, which are composed of two layers, an electroless plating film and an electrolytic plating film. The palladium catalyst nuclei on the roughened surface exposed to the non-conductive portion are dissolved and removed with chromic acid, sulfuric acid and hydrogen peroxide.

【0072】次いで、表層の導体回路に粗化面を形成す
る。形成される粗化面は、エッチング処理、研磨処理、
酸化処理、酸化還元処理により形成された銅の粗化面又
はめっき被膜により形成された粗化層表面の粗化面であ
ることが望ましい。
Next, a roughened surface is formed on the surface conductor circuit. The formed roughened surface is etched, polished,
It is desirable that the surface be a roughened surface of copper formed by an oxidation treatment or a redox treatment or a roughened surface of a roughened layer formed by a plating film.

【0073】次いで、前記導体回路上にソルダーレジス
ト層を形成することができる。ソルダーレジスト層の厚
さは、5〜40μmがよい。薄過ぎると、はんだバンプ
形成用開口部が機能せず、厚過ぎると、開口し難くなる
上、はんだ体と接触し、はんだ体に生じるクラックの原
因となるからである。
Next, a solder resist layer can be formed on the conductor circuit. The thickness of the solder resist layer is preferably 5 to 40 μm. If the thickness is too small, the opening for forming a solder bump does not function. If the thickness is too large, the opening is difficult, and the solder bumps come into contact with the solder body and cause cracks in the solder body.

【0074】ソルダーレジスト層としては、種々の樹脂
を使用でき、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹
脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂のアクリレート、
ノボラック型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂
のアクリレートをアミン系硬化剤やイミダゾール硬化剤
等で硬化させた樹脂を使用できる。
As the solder resist layer, various resins can be used. For example, bisphenol A epoxy resin, acrylate of bisphenol A epoxy resin,
A novolak epoxy resin or a resin obtained by curing an acrylate of a novolak epoxy resin with an amine curing agent or an imidazole curing agent can be used.

【0075】特に、ソルダーレジスト層に開口を設けて
はんだバンプを形成する場合には、「ノボラック型エポ
キシ樹脂もしくはノボラック型エポキシ樹脂のアクリレ
ート」からなり、「イミダゾール硬化剤」を硬化剤とし
て含むものが好ましい。
In particular, when an opening is formed in the solder resist layer to form a solder bump, a solder bump made of "novolak epoxy resin or acrylate of novolak epoxy resin" and containing "imidazole hardener" as a hardener is used. preferable.

【0076】このような構成のソルダーレジスト層は、
鉛のマイグレーション(鉛イオンがソルダーレジスト層
内を拡散する現象)が少ないという利点を持つ。しか
も、このソルダーレジスト層は、ノボラック型エポキシ
樹脂のアクリレートをイミダゾール硬化剤で硬化した樹
脂層であり、耐熱性、耐アルカリ性に優れ、はんだが溶
融する温度(200 ℃前後)でも劣化しないし、ニッケル
めっきや金めっきのような強塩基性のめっき液で分解す
ることもない。
The solder resist layer having such a structure is
There is an advantage that migration of lead (phenomenon in which lead ions diffuse in the solder resist layer) is small. Moreover, this solder resist layer is a resin layer obtained by curing an acrylate of a novolak type epoxy resin with an imidazole curing agent, has excellent heat resistance and alkali resistance, does not deteriorate even at a temperature at which solder is melted (around 200 ° C.), and does not deteriorate. It is not decomposed by a strongly basic plating solution such as plating or gold plating.

【0077】しかしながら、このようなソルダーレジス
ト層は、剛直骨格を持つ樹脂で構成されるので剥離が生
じやすい。そのため、導体回路上の粗化面は、このよう
な剥離を防止できるため有利である。
However, since such a solder resist layer is made of a resin having a rigid skeleton, peeling is likely to occur. Therefore, the roughened surface on the conductor circuit is advantageous because such peeling can be prevented.

【0078】ここで、上記ノボラック型エポキシ樹脂の
アクリレートとしては、フェノールノボラックやクレゾ
ールノボラックのグリシジルエーテルを、アクリル酸や
メタクリル酸等と反応させたエポキシ樹脂等を用いるこ
とができる。
Here, as the acrylate of the novolak type epoxy resin, an epoxy resin obtained by reacting glycidyl ether of phenol novolak or cresol novolak with acrylic acid, methacrylic acid or the like can be used.

【0079】上記イミダゾール硬化剤は、25℃で液状で
あることが望ましい。液状であれば均一混合できるから
である。
The above imidazole curing agent is desirably liquid at 25 ° C. This is because a liquid can be uniformly mixed.

【0080】このような液状イミダゾール硬化剤として
は、1-ベンジル−2-メチルイミダゾール(品名:1B2MZ
)、1-シアノエチル−2-エチル−4-メチルイミダゾー
ル(品名:2E4MZ-CN)、4-メチル−2-エチルイミダゾー
ル(品名:2E4MZ )を用いることができる。
As such a liquid imidazole curing agent, 1-benzyl-2-methylimidazole (product name: 1B2MZ
), 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole (product name: 2E4MZ-CN), and 4-methyl-2-ethylimidazole (product name: 2E4MZ).

【0081】このイミダゾール硬化剤の添加量は、上記
ソルダーレジスト組成物の総固形分に対して1〜10重量
%とすることが望ましい。この理由は、添加量がこの範
囲内にあれば均一混合がしやすいからである。
The addition amount of the imidazole curing agent is desirably 1 to 10% by weight based on the total solid content of the solder resist composition. The reason for this is that if the added amount is within this range, uniform mixing is easy.

【0082】上記ソルダーレジストの硬化前組成物は、
溶媒としてグリコールエーテル系の溶剤を使用すること
が望ましい。
The composition before curing of the solder resist is as follows:
It is desirable to use a glycol ether-based solvent as the solvent.

【0083】このような組成物を用いたソルダーレジス
ト層は、遊離酸素が発生せず、銅パッド表面を酸化させ
ない。また、人体に対する有害性も少ない。
A solder resist layer using such a composition does not generate free oxygen and does not oxidize the copper pad surface. It is also less harmful to the human body.

【0084】このようなグリコールエーテル系溶媒とし
ては、下記構造式のもの、特に望ましくは、ジエチレン
グリコールジメチルエーテル(DMDG)およびトリエ
チレングリコールジメチルエーテル(DMTG)から選
ばれるいずれか少なくとも1種を用いる。これらの溶剤
は、30〜50℃程度の加温により反応開始剤であるベンゾ
フェノンやミヒラーケトンを完全に溶解させることがで
きるからである。CHO-(CH CH O) −C
(n=1〜5)このグリコールエーテル系の溶媒
は、ソルダーレジスト組成物の全重量に対して10〜40重
量%がよい。
As such a glycol ether-based solvent, one having the following structural formula, particularly preferably at least one selected from diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) and triethylene glycol dimethyl ether (DMTG) is used. This is because these solvents can completely dissolve benzophenone and Michler's ketone as reaction initiators by heating at about 30 to 50 ° C. CH 3 O— (CH 2 CH 2 O) n -C
H 3 (N = 1-5) The amount of the glycol ether solvent is preferably 10-40% by weight based on the total weight of the solder resist composition.

【0085】以上説明したようなソルダーレジスト組成
物には、その他に、各種消泡剤やレベリング剤、耐熱性
や耐塩基性の改善と可撓性付与のために熱硬化性樹脂、
解像度改善のために感光性モノマー等を添加することが
できる。
The solder resist composition as described above may further include various antifoaming agents and leveling agents, thermosetting resins for improving heat resistance and base resistance and imparting flexibility.
A photosensitive monomer or the like can be added to improve the resolution.

【0086】例えば、レベリング剤としては、アクリル
酸エステルの重合体からなるものがよい。また、開始剤
には、チバガイギー製のイルガキュアI907、光増感
剤には、日本化薬製のDETX−Sがよい。
For example, as the leveling agent, one made of a polymer of an acrylate ester is preferable. The initiator is preferably Irgacure I907 manufactured by Ciba Geigy, and the photosensitizer is preferably DETX-S manufactured by Nippon Kayaku.

【0087】さらに、ソルダーレジスト組成物には、色
素や顔料を添加してもよい。配線パターンを隠蔽できる
からである。この色素としてはフタロシアニングリーン
を用いることが望ましい。
Further, a dye or a pigment may be added to the solder resist composition. This is because the wiring pattern can be hidden. It is desirable to use phthalocyanine green as this dye.

【0088】添加成分としての上記熱硬化性樹脂として
は、ビスフェノール型エポキシ樹脂を用いることができ
る。このビスフェノール型エポキシ樹脂には、ビスフェ
ノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ
樹脂があり、耐塩基性を重視する場合には前者が、低粘
度化が要求される場合(塗布性を重視する場合)には後
者がよい。
As the thermosetting resin as an additional component, a bisphenol-type epoxy resin can be used. This bisphenol type epoxy resin includes a bisphenol A type epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin, and when importance is attached to base resistance, the former is required to reduce viscosity (when importance is attached to coating properties). The latter is better.

【0089】添加成分としての上記感光性モノマーとし
ては、多価アクリル系モノマーを用いることができる。
多価アクリル系モノマーは、解像度を向上させることが
できるからである。例えば、日本化薬製のDPE−6A
や、共栄社化学製のR−604等の、多価アクリル系モ
ノマーが望ましい。
As the photosensitive monomer as an additional component, a polyacrylic monomer can be used.
This is because the polyvalent acrylic monomer can improve the resolution. For example, Nippon Kayaku's DPE-6A
Polyacrylic monomers such as R-604 manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd. are desirable.

【0090】また、これらのソルダーレジスト組成物
は、25℃で0.5〜10Pa・s、より望ましくは1
〜10Pa・sがよい。ロールコータで塗布しやすい粘
度だからである。ソルダーレジスト樹脂層を形成後、は
んだパッド用の開口部を形成する。
These solder resist compositions may be used at a temperature of 25 ° C. in a range of 0.5 to 10 Pa · s, more preferably, 1 to 10 Pa · s.
-10 Pa · s is preferred. This is because the viscosity is easy to apply with a roll coater. After forming the solder resist resin layer, an opening for a solder pad is formed.

【0091】本発明では、その開口は、少なくとも2回
の露光処理により形成する。1回目の露光現像処理は、
はんだパッドの開口に必要な所望の開口径に対して、1
05〜500%の大きさの黒円パターンが描画されたフ
ォトマスク(ガラス基板がよい)を、円パターン側を感
光性のソルダーレジスト樹脂層の上に密着させて載置し
た後、露光することができる。
In the present invention, the opening is formed by at least two exposure processes. The first exposure and development process
For the desired opening diameter required for opening the solder pad, 1
A photomask (preferably a glass substrate) on which a black circle pattern having a size of from 0.05 to 500% is drawn is placed on the photosensitive solder resist resin layer with the circle pattern side in close contact, and then exposed. Can be.

【0092】露光量は、1回で形成させた場合の60〜
80%の露光量で行える。1回で開口する場合、100
mJ/cmの露光量が必要だとすると、露光を2回に
分けたときは、60〜80mJ/cmである。
The amount of exposure is 60 to 60 when formed once.
It can be performed with an exposure of 80%. 100% when opening one time
When the exposure amount of mJ / cm 2 is that it is necessary, when the divided exposure to 2 times, a 60~80mJ / cm 2.

【0093】次に、2回目の露光現像処理では、はんだ
パッドの開口に必要な所望の大きさの黒色部が描画され
たフォトマスクを、1回目と同様に密着させて、露光を
行った後、現像処理し、ソルダーレジスト樹脂層を硬化
させる。
Next, in the second exposure and development process, a photomask in which a black portion of a desired size required for the opening of the solder pad is drawn is brought into close contact with the photomask in the same manner as in the first exposure, and the exposure is performed. Developing and curing the solder resist resin layer.

【0094】ソルダーレジスト層形成後に開口部に無電
解めっきにてニッケルめっき層を形成させる。ニッケル
めっき液の組成の例としては、硫酸ニッケル4.5g/
l、次亜リン酸ナトリウム25g/l、クエン酸ナトリ
ウム40g/l、ホウ酸12g/l、チオ尿素0.1g
/l(pH=11)がある。脱脂液により、ソルダーレ
ジスト層開口部、表面を洗浄し、パラジウム等の触媒を
開口部に露出した導体部分に付与し、活性化させた後、
めっき液に浸漬し、ニッケルめっき層を形成させること
ができる。
After the formation of the solder resist layer, a nickel plating layer is formed in the opening by electroless plating. As an example of the composition of the nickel plating solution, nickel sulfate 4.5 g /
l, sodium hypophosphite 25 g / l, sodium citrate 40 g / l, boric acid 12 g / l, thiourea 0.1 g
/ L (pH = 11). With the degreasing solution, the opening of the solder resist layer, the surface is washed, and a catalyst such as palladium is applied to the conductor portion exposed in the opening, and after activation,
It can be immersed in a plating solution to form a nickel plating layer.

【0095】ニッケルめっき層の厚みは、0.5〜20
μmで、特に3〜10μmの厚みが望ましい。0.5μ
m未満では、はんだバンプとニッケルめっき層の接続が
取れ難い、20μmを超えると、開口部に形成するはん
だバンプが収まりきれず、剥がれたりする。
The thickness of the nickel plating layer is 0.5 to 20.
In particular, a thickness of 3 to 10 μm is desirable. 0.5μ
If it is less than m, it is difficult to make a connection between the solder bump and the nickel plating layer, and if it exceeds 20 μm, the solder bump formed in the opening cannot be completely accommodated and peels off.

【0096】ニッケルめっき層形成後、金めっきにて金
めっき層を形成させる。厚みは、0.03μmが好まし
い。
After forming the nickel plating layer, a gold plating layer is formed by gold plating. The thickness is preferably 0.03 μm.

【0097】開口部に金属層を施した後、はんだペース
トを印刷により設け、開口部内にはんだバンプを形成さ
せる。その後、温度250℃にした窒素リフローを通
し、はんだバンプを開口部内に固定させる。
After applying the metal layer to the opening, a solder paste is provided by printing to form a solder bump in the opening. Thereafter, the solder bumps are fixed in the openings by passing through nitrogen reflow at a temperature of 250 ° C.

【0098】[0098]

【実施例】図面を参照して、本発明を、実施例及び比較
例に基づいて、より一層詳細に説明する。 (実施例1) A.無電解めっき用接着剤調製用の原料組成物(上層用
接着剤) 〔樹脂組成物〕クレゾールノボラック型エポキシ樹脂
(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でDMDGに溶解させた樹脂液35重量部、感
光性モノマー(東亜合成製、アロニックスM315 )3.15
重量部、消泡剤(サンノプコ製、S−65)0.5 重量部、
NMP 3.6重量部を攪拌混合して得た。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in more detail with reference to the drawings based on examples and comparative examples. Example 1 A. Raw material composition for preparation of adhesive for electroless plating (adhesive for upper layer) [Resin composition] 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (Nippon Kayaku, molecular weight 2500) at a concentration of 80% by weight DMDG 35 parts by weight of a resin solution dissolved in water, photosensitive monomer (Aronix M315, manufactured by Toagosei Co., Ltd.) 3.15
Parts by weight, 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (manufactured by San Nopco, S-65)
3.6 parts by weight of NMP were obtained by stirring and mixing.

【0099】〔樹脂組成物〕ポリエーテルスルフォン
(PES)12重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成製、
ポリマーポール)の平均粒径 1.0μmのもの 7.2重量
部、平均粒径 0.5μmのもの3.09重量部を混合した後、
さらにNMP30重量部を添加し、ビーズミルで攪拌混合
して得た。
[Resin composition] 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Co., Ltd.)
After mixing 7.2 parts by weight of an average particle diameter of 1.0 μm and 3.09 parts by weight of an average particle diameter of 0.5 μm,
Further, 30 parts by weight of NMP was added and the mixture was stirred and mixed by a bead mill.

【0100】〔硬化剤組成物〕イミダゾール硬化剤
(四国化成製、2E4MZ-CN)2重量部、光開始剤(チバガ
イギー製、イルガキュア I−907 )2重量部、光増感
剤(日本化薬製、DETX-S)0.2 重量部、NMP 1.5重量
部を攪拌混合して得た。
[Curing Agent Composition] 2 parts by weight of imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 2 parts by weight of photoinitiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba Geigy), photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku) , DETX-S) 0.2 parts by weight and NMP 1.5 parts by weight.

【0101】B.層間樹脂絶縁剤調製用の原料組成物
(下層用接着剤) 〔樹脂組成物〕クレゾールノボラック型エポキシ樹脂
(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル化物80重量
%の濃度でDMDGに溶解させた樹脂液35重量部、感光
性モノマー(東亜合成製、アロニックスM315 )4重量
部、消泡剤(サンノプコ製、S−65)0.5 重量部、NM
P 3.6重量部を攪拌混合して得た。
B. Raw material composition for preparing interlayer resin insulation agent (adhesive for lower layer) [Resin composition] Dissolved in DMDG at a concentration of 80% by weight of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (Nippon Kayaku, molecular weight 2500) 35 parts by weight of a resin solution, 4 parts by weight of a photosensitive monomer (manufactured by Toagosei Co., Aronix M315), 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (manufactured by San Nopco, S-65), NM
P 3.6 parts by weight were obtained by stirring and mixing.

【0102】〔樹脂組成物〕ポリエーテルスルフォン
(PES)12重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成製、
ポリマーポール)の平均粒径 0.5μmのもの 14.49重量
部を混合した後、さらにNMP30重量部を添加し、ビー
ズミルで攪拌混合して得た。
[Resin Composition] 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Industries, Ltd.)
After mixing 14.49 parts by weight of a polymer pole having an average particle size of 0.5 μm, 30 parts by weight of NMP was further added, and the mixture was stirred and mixed with a bead mill.

【0103】〔硬化剤組成物〕イミダゾール硬化剤
(四国化成製、2E4MZ-CN)2重量部、光開始剤(チバガ
イギー製、イルガキュア I−907 )2重量部、光増感
剤(日本化薬製、DETX-S)0.2 重量部、NMP1.5 重量
部を攪拌混合して得た。
[Curing agent composition] 2 parts by weight of imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 2 parts by weight of photoinitiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba Geigy), photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku) , DETX-S) 0.2 parts by weight and NMP 1.5 parts by weight with stirring.

【0104】C.樹脂充填剤調製用の原料組成物 〔樹脂組成物〕ビスフェノールF型エポキシモノマー
(油化シェル製、分子量310 、YL983U)100重量部、表
面にシランカップリング剤がコーティングされた平均粒
径 1.6μmのSi0 球状粒子(アドマテック製、CRS 1
101−CE、ここで、最大粒子の大きさは後述する内層銅
パターンの厚み(15μm)以下とする) 170重量部、レ
ベリング剤(サンノプコ製、ペレノールS4)1.5 重量
部を攪拌混合することにより、その混合物の粘度を23±
1℃で45,000〜49,000cps に調整して得た。
C. Raw material composition for resin filler preparation [Resin composition] 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell, molecular weight 310, YL983U), having an average particle diameter of 1.6 μm coated with a silane coupling agent on the surface Si0 2 Spherical particles (Admatech, CRS 1
101-CE, where the maximum particle size is 170 parts by weight of a later-described inner layer copper pattern thickness (15 μm or less) and 1.5 parts by weight of a leveling agent (manufactured by San Nopco, Perenol S4) by stirring and mixing. The viscosity of the mixture is 23 ±
It was obtained by adjusting to 45,000 to 49,000 cps at 1 ° C.

【0105】〔硬化剤組成物〕イミダゾール硬化剤
(四国化成製、2E4MZ-CN)6.5 重量部。
[Curing agent composition] 6.5 parts by weight of imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals).

【0106】D.プリント配線板の製造 (1) 厚さ1mmのガラスエポキシ樹脂又はBT(ビスマレ
イミドトリアジン)樹脂からなる基板の両面に18μmの
銅箔がラミネートされている銅張積層板を出発材料とし
た。まず、この銅張積層板をドリル削孔し、無電解めっ
き処理を施し、パターン状にエッチングすることによ
り、基板の両面に内層銅パターンとスルーホールを形成
した。
D. Production of Printed Wiring Board (1) A copper-clad laminate in which 18 μm copper foil was laminated on both sides of a substrate made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 1 mm was used as a starting material. First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to an electroless plating treatment, and etched in a pattern to form an inner copper pattern and through holes on both surfaces of the substrate.

【0107】(2) 内層銅パターンおよびスルーホールを
形成した基板を水洗いし、乾燥した後、酸化浴(黒化
浴)として、NaOH(10g/l),NaCl0 (40g/
l), Na3PO4(6g/l)、還元浴として、NaOH(10
g/l),NaBH4 (6g/l)を用いた酸化−還元処
理により、内層銅パターンおよびスルーホールの表面に
粗化面を設けた。
(2) The substrate on which the inner layer copper pattern and the through hole were formed was washed with water and dried, and then used as an oxidation bath (blackening bath) as NaOH (10 g / l) and NaClO 2. (40g /
l), Na 3 PO 4 (6 g / l), NaOH (10
g / l), NaBH 4 (6 g / l), a roughened surface was provided on the surface of the inner layer copper pattern and the through-hole by the oxidation-reduction treatment.

【0108】(3) Cの樹脂充填剤調製用の原料組成物を
混合混練して、樹脂充填剤を得た。 (4) 前記(3) で得た樹脂充填剤を、調製後24時間以内に
導体回路間又はスルーホール内に塗布、充填した。
(3) The raw material composition for preparing the resin filler C was mixed and kneaded to obtain a resin filler. (4) The resin filler obtained in (3) was applied and filled between conductor circuits or through holes within 24 hours after preparation.

【0109】塗布方法として、スキージを用いた印刷法
で行った。1回目の印刷塗布は、主にスルホール内を充
填して、100 ℃の温度の乾燥炉内で、20分間乾燥させ
た。
The coating method was a printing method using a squeegee. For the first printing application, the inside of the through hole was mainly filled and dried in a drying oven at a temperature of 100 ° C. for 20 minutes.

【0110】また、2回目の印刷塗布は、主に導体回路
の形成で生じた凹部を充填して、導体回路間及びスルー
ホール内に充填させた後、前述の乾燥条件で乾燥させ
た。
In the second printing application, the recesses mainly formed in the formation of the conductor circuits were filled and filled between the conductor circuits and in the through holes, and then dried under the aforementioned drying conditions.

【0111】(5) 前記(4) の処理を終えた基板の片面
を、#600 のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いたベ
ルトサンダー研磨により、内層銅パターンの表面やスル
ーホールのランド表面に樹脂充填剤が残らないように研
磨し、次いで、前記ベルトサンダー研磨による傷を取り
除くためのバフ研磨を行った。このような一連の研磨を
基板の他方の面についても同様に行った。
(5) One surface of the substrate after the treatment of (4) is subjected to belt sanding using # 600 belt abrasive paper (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd.) to form the surface of the inner layer copper pattern and the land surface of the through hole. Was polished so that no resin filler remained, and then buffed to remove scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate.

【0112】次いで、100 ℃で1時間、 150℃で1時
間、の加熱処理を行って樹脂充填剤を硬化した。
Next, heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 1 hour to cure the resin filler.

【0113】このようにして、スルーホール等に充填さ
れた樹脂充填剤の表層部及び内層導体回路上面の粗化層
を除去して、基板両面を平滑化し、樹脂充填剤と内層導
体回路の側面とが粗化面を介して強固に密着し、またス
ルーホールの内壁面と樹脂充填剤とが粗化面を介して強
固に密着した配線基板を得た。即ち、この工程により、
樹脂充填剤の表面と内層銅パターンの表面が同一平面と
なる。
In this manner, the surface layer of the resin filler filled in the through holes and the roughened layer on the upper surface of the inner conductor circuit are removed, the both surfaces of the substrate are smoothed, and the resin filler and the side surface of the inner conductor circuit are removed. Were firmly adhered through the roughened surface, and a wiring board in which the inner wall surface of the through hole and the resin filler were firmly adhered through the roughened surface was obtained. That is, by this process,
The surface of the resin filler and the surface of the inner layer copper pattern are flush with each other.

【0114】(6) 導体回路を形成したプリント配線板
を、アルカリ脱脂してソフトエッチングして、次いで、
塩化パラジウウムと有機酸からなる触媒溶液で処理し
て、Pd触媒を付与し、この触媒を活性化した後、硫酸
銅3.9×10−2モル/l、硫酸ニッケル3.8×1
−3モル/l、クエン酸ナトリウム7.8×10−3
モル/l、次亜リン酸ナトリウム2.3×10−1モル
/l、界面活性剤(日信化学工業製、サーフィール46
5)1.1×10−4モル/l、pH=9からなる無電
解めっき液に浸積し、浸漬1分後に、4秒当たり1回に
割合で縦、及び横振動させて、導体回路及びスルーホー
ルのランドの表面にCu−Ni−Pからなる針状合金の
被覆層と粗化面を設けた。
(6) The printed wiring board on which the conductive circuit is formed is degreased with alkali and soft-etched.
After treatment with a catalyst solution composed of palladium chloride and an organic acid to give a Pd catalyst and activate the catalyst, copper sulfate 3.9 × 10 −2 mol / l, nickel sulfate 3.8 × 1
0 −3 mol / l, sodium citrate 7.8 × 10 −3
Mol / l, sodium hypophosphite 2.3 × 10 −1 mol / l, surfactant (Surfir 46, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.)
5) Immersion in an electroless plating solution consisting of 1.1 × 10 −4 mol / l, pH = 9, and one minute after immersion, vertical and horizontal vibrations were performed once every 4 seconds to obtain a conductor circuit. Further, a coating layer of a needle-shaped alloy made of Cu-Ni-P and a roughened surface were provided on the surface of the land of the through hole.

【0115】さらに、ホウフッ化スズ0.1モル/l、
チオ尿素1.0モル/l、温度35℃、pH=1.2の
条件でCu−Sn置換反応させ、粗化層の表面に厚さ
0.3μmSn層を設けた。
Further, tin borofluoride 0.1 mol / l,
A Cu—Sn substitution reaction was performed under the conditions of thiourea 1.0 mol / l, temperature 35 ° C., and pH = 1.2, and a 0.3 μm thick Sn layer was provided on the surface of the roughened layer.

【0116】(7) Bの層間樹脂絶縁剤調製用の原料組成
物を攪拌混合し、粘度1.5 Pa・sに調整して層間樹脂絶
縁剤(下層用)を得た。
(7) The raw material composition for preparing the interlayer resin insulating agent B was stirred and mixed, and the viscosity was adjusted to 1.5 Pa · s to obtain an interlayer resin insulating agent (for lower layer).

【0117】次いで、Aの無電解めっき用接着剤調製用
の原料組成物を攪拌混合し、粘度7Pa・sに調整して無
電解めっき用接着剤溶液(上層用)を得た。
Next, the raw material composition for preparing the adhesive for electroless plating of A was mixed by stirring, and the viscosity was adjusted to 7 Pa · s to obtain an adhesive solution for electroless plating (for the upper layer).

【0118】(8) 前記(6) の基板の両面に、前記(7) で
得られた粘度 1.5Pa・sの層間樹脂絶縁剤(下層用)を
調製後24時間以内にロールコータで塗布し、水平状態で
20分間放置してから、60℃で30分の乾燥(プリベーク)
を行い、次いで、前記(7) で得られた粘度7Pa・sの感
光性の接着剤溶液(上層用)を調製後24時間以内に塗布
し、水平状態で20分間放置してから、60℃で30分の乾燥
(プリベーク)を行い、厚さ35μmの接着剤層を形成し
た。
(8) The interlayer resin insulating material (for lower layer) having a viscosity of 1.5 Pa · s obtained in the above (7) was applied to both surfaces of the substrate of the above (6) by a roll coater within 24 hours after preparation. In a horizontal position
Leave for 20 minutes, then dry at 60 ° C for 30 minutes (pre-bake)
Then, apply the photosensitive adhesive solution (for upper layer) having a viscosity of 7 Pa · s obtained in the above (7) within 24 hours after preparation, leave it in a horizontal state for 20 minutes, For 30 minutes (prebaking) to form an adhesive layer having a thickness of 35 μm.

【0119】(9) 前記(8) で接着剤層を形成した基板の
両面に、120μmφの黒円が印刷されたフォトマスク
フィルムを密着させ、超高圧水銀灯により 75mJ/cm
で1回目の露光を施し、その後、85μmφの黒円が印刷
されたフォトマスクフィルムを密着させ、超高圧水銀灯
により 75mJ/cm2で2回目の露光した。これをDMTG
溶液でスプレー現像し、さらに、当該基板を超高圧水銀
灯により3000mJ/cm2で露光し、100 ℃で1時間、120
℃で1時間、その後 150℃で3時間の加熱処理をするこ
とにより、図1に示すような、フォトマスクフィルムに
相当する寸法精度に優れた85μmφの開口(バイアホー
ル形成用開口)を有する厚さ35μmの層間樹脂絶縁層
(2層構造)を形成した。ランド部と周辺部の間には、
0.05μmの高さの段差が形成された。なお、バイアホー
ルとなる開口には、スズめっき層を部分的に露出させ
た。
(9) A photomask film on which a black circle having a diameter of 120 μm is printed is brought into close contact with both surfaces of the substrate on which the adhesive layer has been formed in the above (8), and is subjected to 75 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp.
, And then a photomask film on which a black circle of 85 μmφ was printed was brought into close contact with the photomask film, and the second exposure was performed at 75 mJ / cm 2 using an ultra-high pressure mercury lamp. This is DMTG
The substrate was exposed to light at 3,000 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp, and the substrate was exposed to light at 100 ° C. for 1 hour for 120 hours.
After heating for 1 hour at 150 ° C and then for 3 hours at 150 ° C, the thickness with an 85 μmφ opening (via hole forming opening) with excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film as shown in Fig. 1 An interlayer resin insulation layer (two-layer structure) having a thickness of 35 μm was formed. Between the land and the periphery,
A step having a height of 0.05 μm was formed. Note that the tin plating layer was partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0120】(10)開口が形成された基板を、クロム酸に
19分間浸漬し、層間樹脂絶縁層の表面に存在するエポキ
シ樹脂粒子を溶解除去することにより、層間樹脂絶縁層
の表面を粗化し、その後、中和溶液(シプレイ社製)に
浸漬してから水洗いした。
(10) The substrate having the openings formed is treated with chromic acid.
The surface of the interlayer resin insulating layer is roughened by immersing for 19 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulating layer, and then immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and then washed with water did.

【0121】さらに、粗面化処理(粗化深さ6μm)し
た該基板の表面に、パラジウム触媒(アトテック製)を
付与することにより、層間樹脂絶縁層の表面及びバイア
ホール用開口の内壁面に触媒核を付けた。
Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate which has been subjected to the surface roughening treatment (roughening depth: 6 μm), the surface of the interlayer resin insulating layer and the inner wall surface of the via hole opening are formed. The catalyst core was attached.

【0122】(11)以下に示す組成の無電解銅めっき水溶
液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.6 〜1.2 μm
の無電解銅めっき膜を形成した。 〔無電解めっき水溶液〕 EDTA 0.08 モル/l 硫酸銅 0.03 モル/l HCHO 0.05 モル/l NaOH 0.05 モル/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.10 g/l 〔無電解めっき条件〕65℃の液温度で20分
(11) The substrate was immersed in an aqueous electroless copper plating solution having the following composition to form a 0.6-1.2 μm
An electroless copper plating film was formed. [Electroless plating aqueous solution] EDTA 0.08 mol / l Copper sulfate 0.03 mol / l HCHO 0.05 mol / l NaOH 0.05 mol / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.10 g / l [Electroless plating conditions] 65 ° C 20 minutes at liquid temperature

【0123】(12)前記(11)で形成した無電解銅めっき膜
上に市販の感光性ドライフィルムを張り付け、マスクを
載置して、100 mJ/cm2で露光、0.8 %炭酸ナトリウム
で現像処理し、厚さ15μmのめっきレジストを設けた。
(12) A commercially available photosensitive dry film is stuck on the electroless copper plating film formed in the above (11), a mask is placed, exposure is performed at 100 mJ / cm 2 , and development is performed with 0.8% sodium carbonate. After processing, a plating resist having a thickness of 15 μm was provided.

【0124】(13)次いで、レジスト非形成部分に以下の
条件で電解銅めっきを施し、厚さ15μmの電解銅めっき
膜を形成した。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 2.24 モル/l 硫酸銅 0.26 モル/l 添加剤(アトテックジャパン製、カパラシドHL) 19.5 ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 65 分 温度 22±2 ℃
(13) Next, electrolytic copper plating was applied to the non-resist-formed portion under the following conditions to form a 15 μm thick electrolytic copper plating film. [Electrolytic plating aqueous solution] Sulfuric acid 2.24 mol / l Copper sulfate 0.26 mol / l Additive (Atotech Japan, Capparaside HL) 19.5 ml / l [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 65 minutes Temperature 22 ± 2 ° C.

【0125】(16)前記(7) 〜(15)の工程を繰り返すこと
により、さらに上層の導体回路を形成し、多層配線基板
を得た。但し、表層の粗化面には、Sn置換は行わなかっ
た。
(16) By repeating the above steps (7) to (15), a conductor circuit of a further upper layer was formed, and a multilayer wiring board was obtained. However, Sn substitution was not performed on the roughened surface of the surface layer.

【0126】(17)一方、DMDGに溶解させた60重量%
のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)
のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴ
マー(分子量4000)を 46.67g、メチルエチルケトンに
溶解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂
(油化シェル製、エピコート1001)15.0g、イミダゾー
ル硬化剤(四国化成製、2E4MZ-CN)1.6 g、感光性モノ
マーである多価アクリルモノマー(日本化薬製、R604
)3g、同じく多価アクリルモノマー(共栄社化学
製、DPE6A ) 1.5g、分散系消泡剤(サンノプコ社製、
S−65)0.71gを混合し、さらにこの混合物に対して光
開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学製)を2g、
光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学製)を 0.2
g加えて、粘度を25℃で 2.0Pa・sに調整したソルダー
レジスト組成物を得た。なお、粘度測定は、B型粘度計
(東京計器、 DVL-B型)で 60rpmの場合はローターNo.
4、6rpm の場合はローターNo.3によった。
(17) On the other hand, 60% by weight dissolved in DMDG
Cresol novolak epoxy resin (Nippon Kayaku)
46.67 g of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylizing 50% of the epoxy groups of epoxy resin, 15.0 g of an 80 wt% bisphenol A type epoxy resin (made by Yuka Shell, Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone, imidazole curing 1.6 g of an agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) and a polyacrylic monomer (R604, manufactured by Nippon Kayaku, a photosensitive monomer)
3 g), 1.5 g of polyvalent acrylic monomer (Kyoeisha Chemical, DPE6A), and a dispersion defoaming agent (San Nopco,
S-65) of 0.71 g, and 2 g of benzophenone (Kanto Chemical) as a photoinitiator was added to the mixture.
0.2 of Michler's ketone (Kanto Chemical) as photosensitizer
g was added to obtain a solder resist composition whose viscosity was adjusted to 2.0 Pa · s at 25 ° C. The viscosity was measured using a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B type) at 60 rpm and the rotor No.
In the case of 4, 6 rpm, the rotor No. 3 was used.

【0127】(18)前記(16)で得られた多層プリント配線
基板の両面に、上記ソルダーレジスト組成物を20μmの
厚さで塗布した。次いで、70℃で20分間、70℃で30分間
の乾燥処理を行った後、直径300μmの円パターン
(マスクパターン)が描画された厚さ5mmのフォトマス
クフィルムを密着させて載置し、100mJ/cm2の紫外線で
1回目の露光を施し、直径200μmの円パターン(マス
クパターン)が描画された厚さ5mmのフォトマスクフィ
ルムを密着させて載置し、100mJ/cm2の紫外線で2回目
の露光を施した後、DMTG現像処理した。
(18) The solder resist composition was applied to both sides of the multilayer printed wiring board obtained in the above (16) in a thickness of 20 μm. Next, after performing a drying process at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes, a 5 mm-thick photomask film on which a circular pattern (mask pattern) having a diameter of 300 μm is drawn is placed in close contact with the substrate, and 100 mJ / Cm 2 UV-light, a 200 μm-diameter circular pattern (mask pattern) on which a 5 mm-thick photomask film is drawn in close contact, and a second exposure with 100 mJ / cm 2 UV-light , And then subjected to DMTG development processing.

【0128】そしてさらに、80℃で1時間、 100℃で1
時間、 120℃で1時間、 150℃で3時間の条件で加熱処
理し、図1に示すような、はんだパッド部分(バイアホ
ールとそのランド部分を含む)を開口した(開口径 200
μm)ソルダーレジスト層(厚み20μm)を形成した。
ランド部と周辺部の間には、0.05μmの高さの段差が形
成された。
Further, at 80 ° C. for 1 hour and at 100 ° C. for 1 hour,
1 hour at 120 ° C. and 3 hours at 150 ° C. to open a solder pad portion (including a via hole and its land portion) as shown in FIG.
μm) A solder resist layer (thickness: 20 μm) was formed.
A step having a height of 0.05 μm was formed between the land and the periphery.

【0129】(19)その後、塩化ニッケル2.3 ×10-1モル
/l、次亜リン酸ナトリウム2.8 ×10 -1モル/l、クエ
ン酸ナトリウム1.6 ×10-1モル/l、からなるpH=
4.5の無電解ニッケルめっき液に、20分間浸漬して、
開口部に厚さ5μmのニッケルめっき層を形成した。さ
らに、その基板を、シアン化金カリウム7.6 ×10-3モル
/l、塩化アンモニウム1.9 ×10-1モル/l、クエン酸
ナトリウム1.2 ×10-1モル/l、次亜リン酸ナトリウム
1.7 ×10-1モル/lからなる無電解金めっき液に80℃の
条件で7.5分間浸漬して、ニッケルめっき層上に厚さ
0.03μmの金めっき層を形成した。
(19) Then, nickel chloride 2.3 × 10-1Mole
/ L, sodium hypophosphite 2.8 × 10 -1Mol / l, que
Sodium phosphate 1.6 × 10-1PH consisting of mol / l =
Immerse in the electroless nickel plating solution of 4.5 for 20 minutes,
A nickel plating layer having a thickness of 5 μm was formed in the opening. Sa
In addition, the substrate is placed on potassium potassium cyanide 7.6 × 10-3Mole
/ L, ammonium chloride 1.9 × 10-1Mol / l, citric acid
Sodium 1.2 × 10-1Mol / l, sodium hypophosphite
1.7 × 10-1Mol / l of electroless gold plating solution of 80 ° C
Immerse for 7.5 minutes under the conditions
A 0.03 μm gold plating layer was formed.

【0130】(20)そして、ソルダーレジスト層の開口部
に、はんだペーストを印刷して、200℃でリフローする
ことにより、はんだバンプ(はんだ体)を形成し、表面
実装用プリント配線板を製造した。
(20) Then, a solder paste was printed on the opening of the solder resist layer and reflowed at 200 ° C. to form a solder bump (solder body), thereby producing a printed wiring board for surface mounting. .

【0131】(比較例1)実施例とほぼ同様であるが、
層間絶縁樹脂層にバイアホールを形成する際、100mJ/c
mの露光量で、1回露光し、ソルダーレジスト層には
んだパッドの開口部を形成する際にも、150mJ/cm
露光量で、1回露光した。
(Comparative Example 1) This is almost the same as the example, except that
100mJ / c when forming via holes in interlayer insulating resin layer
an exposure amount of m 2, were exposed once, even when forming the opening portion of the solder pads on the solder resist layer with an exposure dose of 150 mJ / cm 2, were exposed once.

【0132】以上、実施例1及び比較例1で製造された
プリント配線板について、層間絶縁樹脂層とソルダーレ
ジスト層の開口部以外での、ピンホールの発生率及び貫
通ピンホールの発生率、信頼性試験の有無による導通検
査の結果の計4項目について比較検討した。結果を表1
に示す。
As described above, in the printed wiring boards manufactured in Example 1 and Comparative Example 1, the pinhole occurrence rate, the penetration pinhole occurrence rate, and the reliability other than the openings of the interlayer insulating resin layer and the solder resist layer. A comparison was made on a total of four results of the continuity test depending on the presence or absence of the sex test. Table 1 shows the results
Shown in

【0133】表1に示すように、実施例の2回露光を行
ったものは、ピンホール及び貫通ピンホールの形成もな
く、信頼性試験を行っても特に問題は起きなかった。
As shown in Table 1, in the case of performing the exposure twice in the example, there was no formation of pinholes and through-holes, and no particular problem occurred in the reliability test.

【0134】[0134]

【表1】 [Table 1]

【0135】[0135]

【発明の効果】本発明によれば、少なくとも2回、感光
性樹脂層を露光することで、マスクの同一個所に異物が
存在する可能性を低くなり、感光性樹脂層に、マスク上
に残った異物を起点とする未露光部分が生じるのを防ぐ
ことができ、これによって、絶縁樹脂層のピンホールの
形成が防止され、導体回路間の短絡が防止され、絶縁性
及び接続信頼性に優れるプリント配線板、表面実装用プ
リント配線板、表面実装配線板を得ることができる。
According to the present invention, by exposing the photosensitive resin layer at least twice, the possibility of the presence of foreign matter in the same portion of the mask is reduced, and the photosensitive resin layer remains on the mask. It is possible to prevent the occurrence of an unexposed portion originating from the foreign material, thereby preventing the formation of pinholes in the insulating resin layer, preventing a short circuit between conductor circuits, and providing excellent insulation and connection reliability. A printed wiring board, a printed wiring board for surface mounting, and a surface mounting wiring board can be obtained.

【0136】また、本発明のプリント配線板によれば、
絶縁樹脂層の開口の周りに、ランド部と、このランド部
の周りの、ランド部よりも高い周辺部とが形成されてお
り、かかる開口が、バイアホール用開口及びははんだバ
ンプ用開口の少なくとも一方として用いられているた
め、バイアホール導体と導体回路との優れた密着性や、
隣り合う溶融ソルダーの接触防止によって、絶縁性及び
接続信頼性が著しく向上する。
Further, according to the printed wiring board of the present invention,
Around the opening of the insulating resin layer, a land portion and a peripheral portion around the land portion, which is higher than the land portion, are formed, and such an opening is at least one of a via hole opening and a solder bump opening. Because it is used as one side, excellent adhesion between via-hole conductor and conductor circuit,
The prevention of contact between the adjacent molten solders significantly improves insulation properties and connection reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一例のプリント配線板の部分縦断面
図である。
FIG. 1 is a partial longitudinal sectional view of a printed wiring board according to an example of the present invention.

【図2】 本発明の一例の表面実装用プリント配線板の
部分縦断面図である。
FIG. 2 is a partial vertical cross-sectional view of a printed wiring board for surface mounting according to an example of the present invention.

【図3】 本発明の一例の表面実装配線板の部分縦断面
図である。
FIG. 3 is a partial vertical sectional view of a surface mount wiring board according to an example of the present invention;

【図4】 図3の表面実装配線板において、ソルダーの
流れを示した部分平面図である。
FIG. 4 is a partial plan view showing a flow of solder in the surface mount wiring board of FIG. 3;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 開口 2 絶縁樹脂層 2a ランド部 2b 周辺部 3 導体回路 4 段差 5 基材 6 はんだバンプ 7 表面実装用プリント配線板 8 表面実装配線板 9 電子部品回路 10 はんだ層 10a 開口内部分 10b 段差部分 10c 流出部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Opening 2 Insulating resin layer 2a Land part 2b Peripheral part 3 Conductor circuit 4 Step 5 Base material 6 Solder bump 7 Surface mount printed wiring board 8 Surface mount wiring board 9 Electronic component circuit 10 Solder layer 10a Opening portion 10b Step portion 10c Outflow section

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野田 宏太 岐阜県揖斐郡揖斐川町北方1−1 イビデ ン株式会社大垣北工場内 Fターム(参考) 5E319 AA03 AC13 AC17 BB05 CD29 GG05 5E346 AA12 AA43 CC08 CC09 CC32 DD03 DD12 DD23 DD32 EE39 FF19 GG15 HH08  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Kota Noda 1-1, Ibigawa-cho, Ibi-gun, Gifu, Japan F-term in the Ogaki-Kita Plant (reference) 5E319 AA03 AC13 AC17 BB05 CD29 GG05 5E346 AA12 AA43 CC08 CC09 CC32 DD03 DD12 DD23 DD32 EE39 FF19 GG15 HH08

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導体回路と前記導体回路上の絶縁樹脂層
とを備えており、前記絶縁樹脂層に開口が設けられてお
り、前記開口で前記導体回路が露出している、プリント
配線板において、 前記絶縁樹脂層が、前記開口の周りのランド部と、前記
ランド部の周りの周辺部とを備えており、前記周辺部が
前記ランド部よりも高いことを特徴とする、プリント配
線板。
1. A printed wiring board, comprising: a conductive circuit; and an insulating resin layer on the conductive circuit, wherein the insulating resin layer has an opening, and the conductive circuit is exposed at the opening. The printed wiring board, wherein the insulating resin layer includes a land portion around the opening and a peripheral portion around the land portion, and the peripheral portion is higher than the land portion.
【請求項2】 前記周辺部と前記ランド部との高さの差
が、0.01〜2.00μmであることを特徴とする、
請求項1記載のプリント配線板。
2. A height difference between the peripheral portion and the land portion is 0.01 to 2.00 μm.
The printed wiring board according to claim 1.
【請求項3】 請求項1又は2記載のプリント配線板の
前記導体回路上に、はんだバンプが設けられている、表
面実装用プリント配線板において、 前記ランド部と前記周辺部との段差が、ソルダダムとし
て働き得ることを特徴とする、表面実装用プリント配線
板。
3. A printed wiring board for surface mounting, wherein a solder bump is provided on the conductive circuit of the printed wiring board according to claim 1, wherein a step between the land portion and the peripheral portion is: A printed wiring board for surface mounting, which can function as a solder dam.
【請求項4】 請求項1又は2記載のプリント配線板の
前記導体回路と電子部品回路とが、はんだ層を介して接
続されている、表面実装配線板において、 前記はんだ層が、前記開口内及び前記ランド部と前記周
辺部との段差部分に形成されていることを特徴とする、
表面実装配線板。
4. The surface-mounted wiring board according to claim 1, wherein the conductor circuit and the electronic component circuit of the printed wiring board are connected via a solder layer. And is formed at a step portion between the land portion and the peripheral portion,
Surface mount wiring board.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002204076A (en) * 2000-12-28 2002-07-19 Ibiden Co Ltd Multilayer printed wiring board and method of manufacture the same
WO2009104506A1 (en) * 2008-02-19 2009-08-27 日本電気株式会社 Printed wiring board, electronic device and method for manufacturing electronic device
JP2012074660A (en) * 2010-09-30 2012-04-12 Toppan Printing Co Ltd Semiconductor package substrate, and method of manufacturing the same
WO2012169497A1 (en) * 2011-06-06 2012-12-13 デクセリアルズ株式会社 Connection method, connected-body production method and connected body

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002204076A (en) * 2000-12-28 2002-07-19 Ibiden Co Ltd Multilayer printed wiring board and method of manufacture the same
WO2009104506A1 (en) * 2008-02-19 2009-08-27 日本電気株式会社 Printed wiring board, electronic device and method for manufacturing electronic device
JP2012074660A (en) * 2010-09-30 2012-04-12 Toppan Printing Co Ltd Semiconductor package substrate, and method of manufacturing the same
WO2012169497A1 (en) * 2011-06-06 2012-12-13 デクセリアルズ株式会社 Connection method, connected-body production method and connected body
JP2012253282A (en) * 2011-06-06 2012-12-20 Sony Chemical & Information Device Corp Connection method, connected-body production method and connected body
CN103563497A (en) * 2011-06-06 2014-02-05 迪睿合电子材料有限公司 Connection method, connected-body production method and connected body

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