JP2000258779A - 液晶装置の製造方法 - Google Patents

液晶装置の製造方法

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JP2000258779A
JP2000258779A JP11062018A JP6201899A JP2000258779A JP 2000258779 A JP2000258779 A JP 2000258779A JP 11062018 A JP11062018 A JP 11062018A JP 6201899 A JP6201899 A JP 6201899A JP 2000258779 A JP2000258779 A JP 2000258779A
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substrate
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洋一 百瀬
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来の液晶パネルの貼り合せ工程において
は、最終硬化時の加熱・加圧時にシール材中の溶剤が蒸
発したり溶剤ガスの気泡が移動することにより、シール
材内に小径のガス抜け穴が形成されたり、脱ガスが不充
分なために、シール材内に気泡が残留したりすることが
あり、水分やガス等が侵入して、表示むらや腐食による
電極、配線の断線の原因となるという問題点があった。 【解決手段】 二枚の基板を対向させ液晶を狭持させて
なる液晶装置の製造ラインにおける基板の貼り合せ工程
において、一方の基板にシール材を塗布した後、上記基
板を加熱・減圧状態で所定の時間保持し、シール材内の
溶剤および気泡を除去するプリベイク工程と、 上記基
板に他方の基板を位置合わせして接合した状態で、上記
基板を加熱・加圧状態で所定の時間保持し、シール材を
硬化させるシール硬化工程と、を少なくとも有するよう
にした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶装置の製造方
法に関し、特にガラス基板の貼り合せ工程に適用して好
適な液晶装置の製造技術に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示装置などに用いられる液晶装置
(液晶パネル)は、電極等を形成した一対のガラス基板
の間に液晶が挟持されて構成されるが、液晶を上記基板
間に封止するために、二枚の基板を貼り合せる工程が必
要である。そこで、液晶装置の製造工程には、表面にそ
れぞれ電極等が形成されたガラス基板に配向処理を施し
た後、二枚のガラス基板を貼り合せる貼り合せ工程が設
けられている。
【0003】従来の貼り合せ工程は、一方のガラス基板
上にエポキシ樹脂等のシール材をスクリーン印刷やディ
スペンサで所定のパターンに形成し(シールパターニン
グ)、シールパターニングしたガラス基板を低温処理し
てシール材中の溶剤を蒸発させ(プリベイク)、セルギ
ャップを均一に保つために一方のガラス基板に均一径を
有するプラスチックビーズ等のスペーサを散布し(スペ
ーサ散布)、上記シール形成とスペーサ散布の終ったガ
ラス基板を膜面同士を向かい合わせて貼り合せ、加圧お
よび加熱によってシール材を硬化させることによって行
われていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
貼り合わせ工程で製造された液晶装置にあっては、最終
硬化時にシール材中の溶剤が蒸発したり溶剤ガスの気泡
が移動することにより、シール材内に小径のガス抜け穴
が形成されたり、脱ガスが不充分なために、シール材内
に気泡が残留したりすることがある。そして、製品とし
て完成後に、この小径のガス抜け穴や気泡を通って水分
やガス等がシール材で囲まれた液晶内に侵入して、表示
むらや、腐食による電極・配線の断線の原因となり、液
晶パネルの品質および信頼性が低下するという問題点が
あった。
【0005】そこで、本発明者はその原因について検討
を行った。その結果、従来の液晶装置の製造ラインにお
ける貼り合せ工程では、最終硬化工程時よりも低い温度
(例えば60℃)で5〜10分プリベイクが行われるが、こ
のプリベイク工程でシール材中の溶剤が充分に蒸発せず
に残っていたり、温度が低いためシール材が充分に軟化
せず溶剤ガスが気泡として閉じ込められていたりするこ
とが原因であることを見出した。
【0006】本発明は、液晶装置を構成する基板の貼り
合せ工程において、シール材内に気泡が残留したり、シ
ール材中に小径のガス抜け穴等の欠陥が形成したりする
のを有効に防止可能な液晶装置の製造方法を提供するこ
とを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
この発明は、二枚の基板を対向させ液晶を狭持させてな
る液晶装置の製造ラインにおける基板の貼り合せ工程に
おいて、一方の基板にシール材を塗布した後、上記基板
を加熱・減圧状態で所定の時間保持し、シール材内の溶
剤および気泡を除去するプリベイク工程と、上記基板に
他方の基板を位置合わせして接合した状態で、上記基板
を加熱・加圧状態で所定の時間保持し、シール材を硬化
させるシール硬化工程と、を少なくとも有する工程であ
るようにした。
【0008】これらの工程により、従来の貼り合せ工程
でシール材内に発生していた溶剤ガスの気泡や小径のガ
ス抜け穴等を有効に消滅させ、シール材の内側に水分や
ガス等が進入するのを防止でき、液晶装置の品質および
信頼性を向上させることができる。
【0009】上記プリベイク工程は、上記液晶基板を60
0Torr以下に減圧した状態で、所定の温度で、所定の時
間保持するようにするとよい。プリベイク工程を減圧状
態で行うことにより、容易にシール材内のガスを脱気す
ることができ、欠陥のないシール部を形成することがで
きる。
【0010】また、上記プリベイク工程は、上記液晶基
板を40℃から(シール材のガラス転移点-20℃)の温度
雰囲気中で、所定の時間保持するようにするとよい。こ
れにより、シール材を硬化させずに、シール材中の溶剤
を短時間で蒸発させることができ、シール硬化時に溶剤
蒸発による小径のガス抜け穴等が形成されなくなる。
【0011】好ましくは、上記プリベイク工程は、上記
液晶基板を40℃から(シール材のガラス転移点-20℃)
の温度雰囲気中で、約500Torrに減圧した状態で、約10
分保持するようにするとよい。これにより、シール材内
の溶剤を適当に蒸発させ、シール材内の気泡を完全に脱
泡でき、完全に欠陥のないシール部を形成することがで
きる。
【0012】または、上記液晶基板を60℃から(シール
材のガラス転移点-20℃)の温度雰囲気中で、500Torr以
下に減圧した状態で、5分以上保持するようにしてもよ
い。これにより、短時間でプリベイクを終了させること
ができ、生産性が向上する。
【0013】二枚の基板の液晶側の面に液晶の向きを制
御するための電圧を印加するための電極が形成されてな
り、上記手段により製造された液晶表示装置にあって
は、シール部に小径のガス抜け穴等の欠陥がないため、
水分やガス等の侵入による表示むらや、腐食による電極
・配線の断線等の問題は解消でき、高品質で信頼性の高
い液晶パネルを提供することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る液晶装置の製
造方法の一実施形態を説明する。
【0015】図1は、液晶装置を構成する二枚の基板の
貼り合せ工程の手順を示すフローチャートである。
【0016】まず、エポキシ系シール材等の熱硬化性シ
ール材を使用してスクリーン印刷により一方のガラス基
板上にシールパターンを形成する(S1)。
【0017】次に、シール材の硬化温度よりも低い所定
の温度で減圧しながら所定時間保持することでプリベイ
クを行なう(S2)。このような条件でプリベイクを行う
ことにより、シール材中に残留する溶剤を蒸発させると
ともに気泡を抜くことができる。
【0018】その後、一方の基板上にスペーサを散布し
てから、2枚のガラス基板を配向膜または電極を形成し
た面を対向させて接合させる(S3)。
【0019】それから、使用したシール材に好適な硬化
条件、例えば約150℃で、0.6kg/cm2で1時間保持してシ
ール材を硬化させる(S4)。
【0020】以上S1〜S4の工程により、シール材内に気
泡や小径のガス抜け穴が生じることなく基板を貼り合わ
せることができる。
【0021】以下、上記実施形態の貼り合せ工程におけ
る最適条件を導くためにエポキシ系シール材A,Bを用
いて行なった実験について説明する。用いたシール材A
はガラス転移点がTga=127℃で、シール材Bのガラス転
移点はTgb=140℃であり、溶剤はともにメチルカルビト
ールである。
【0022】(実験1)シール材Aを使用して実験を行
った。
【0023】まず、処理温度を30℃,40℃,60℃,80
℃,100℃,110℃の6点とし、圧力を大気圧(760Tor
r)、600Torr,500Torr,400Torrとし、この状態で5
分,10分,20分それぞれ保持してプリベイクを行った。
次いで、約150℃で、0.6kg/cm2で1時間保持してシール
材を硬化させた。実験結果を表1から表3に示す。○、
△、×の三段階で評価しているが、○:欠陥はほぼ完全
に消滅、△:消滅したが多少は存在、×:初期状態とあ
まり変わらない、硬化:プリベイクだけでシール材が硬
化した、ことを示す。他の実験結果に示す評価に関して
も同様である。
【0024】
【表1】
【0025】
【表2】
【0026】
【表3】
【0027】表1〜表3より、大気圧下で処理温度や処
理時間を変えても欠陥は生じるため、圧力は600Torr以
下にすることが最低条件であることがわかった。
【0028】また、処理時間に関係なく、処理温度が11
0℃だとプリベイク工程だけでシール材が硬化してしま
い基板を接合して貼り合わせるまで至らなかった。これ
は、完全に溶剤が蒸発してしまい、シール材が硬化した
考えられる。また、処理時間を20分にしても、処理温度
30℃では欠陥を完全に消去するに至らなかった。これよ
り、シール材中の溶剤を有効に蒸発させるには、処理温
度を40℃〜100℃にする必要がある。
【0029】また、圧力が低いほうが欠陥を消去するの
に有効であるが、500Torr以下では同じ結果であったこ
とから、500Torr以下に減圧すれば効果は同等であると
考えられる。
【0030】表1より、処理時間5分では、処理温度を6
0℃以上にすると、圧力を500Torr以下で欠陥を消去でき
る一方、表3より、処理時間20分では、圧力600Torrで
も処理温度40℃〜100℃の範囲で欠陥を消去することが
できる。
【0031】以上の結果から、処理温度40℃〜100℃、
圧力500Torr、処理時間10分以上保持すると、シール材
中の溶剤を適当に蒸発させることができるとともに、シ
ール材中のガスを脱泡でき、完全に欠陥を消去すること
ができる。
【0032】なお、処理時間5分で欠陥を完全に消去す
るには、処理温度100℃、圧力600Torrで保持するか、処
理温度60℃〜100℃、圧力500Torr以下に保持すれば良
い。逆に、処理時間20分で欠陥を完全に消去するには、
処理温度40℃〜120℃、圧力500Torr以下に保持すれば良
い。
【0033】処理時間を長くすれば、効果も大きくな
り、低温でも欠陥を消去できるという利点があるが、長
すぎると効果がそれ以上上がらないとともに生産性も低
下する。したがって、上記実験結果と生産効率、消費電
力等を考慮して、最適な温度、圧力、時間を決定すれば
よい。
【0034】(実験2)シール材Bを使用して実験を行
った。
【0035】まず、処理温度を30℃,40℃,60℃,100
℃,120℃,130℃の6点とし、他の条件は実験1と同じ
にしてシール材を硬化させた。実験結果を表4〜表6に
示す。
【0036】
【表4】
【0037】
【表5】
【0038】
【表6】
【0039】表4〜表6より、大気圧下で処理温度や処
理時間を変えても欠陥は生じるため、圧力は600Torr以
下にすることが最低条件であることがわかった。
【0040】また、処理時間に関係なく、処理温度が13
0℃だとプリベイク工程だけでシール材が硬化してしま
い基板を接合して貼り合わせるまで至らなかった。これ
は、完全に溶剤が蒸発してしまい、シール材が硬化した
考えられる。また、処理時間を20分にしても、処理温度
30℃では欠陥を完全に消去するに至らなかった。これよ
り、シール材中の溶剤を有効に蒸発させるには、処理温
度を40℃〜120℃にする必要がある。
【0041】また、圧力が低いほうが欠陥を消去するの
に有効であるが、500Torr以下では同じ結果であったこ
とから、500Torr以下に減圧すれば効は同等であると考
えられる。
【0042】表4より、処理時間5分では、処理温度を6
0℃以上にすると、圧力を500Torr以下で欠陥を消去でき
る一方、表6より、処理時間20分では、圧力600Torrで
も処理温度60℃〜120℃の範囲で欠陥を消去することが
できる。
【0043】以上の結果から、処理温度40℃〜120℃、
圧力500Torr、処理時間10分以上保持すると、シール材
中の溶剤を適当に蒸発させることができるとともに、シ
ール材中のガスを脱泡でき、完全に欠陥を消去すること
ができる。
【0044】なお、処理時間5分で欠陥を完全に消去す
るには、処理温度120℃、圧力600Torrで保持するか、処
理温度60℃〜120℃、圧力500Torr以下に保持すれば良
い。逆に、処理時間20分で欠陥を完全に消去するには、
処理温度60℃〜120℃、圧力600Torrで保持するか、処理
温度40℃〜120℃、圧力500Torr以下に保持すれば良い。
【0045】処理時間を長くすれば、効果も大きくな
り、低温でも欠陥を消去できるという利点があるが、長
すぎると効果がそれ以上上がらないとともに生産性も低
下する。したがって、上記実験結果と生産効率、消費電
力等を考慮して、最適な温度、圧力、時間を決定すれば
よい。
【0046】以上の実験から、以下のことが言える。
【0047】シール材Aに関しては、処理温度が40℃〜
100℃の場合、500Torr以下で10分以上保持することによ
り、効果的にシール材内の欠陥を消滅できる。
【0048】シール材Bに関しては、処理温度が40℃〜
120℃の場合、500Torr以下で10分以上保持することによ
り、効果的にシール材内の欠陥を消滅できる。
【0049】上記の結論について、それぞれのシール材
のガラス転移点(Tg点)を考慮すると、処理温度は40℃
〜(Tg-20℃)となっている。
【0050】よって、処理温度を40℃〜(Tg-20℃)と
し、500Torrで10分保持してプリベイクを行うのが、生
産性の犠牲を最小にしつつ、シール材内の欠陥を有効に
消滅するのに最適であると考える。
【0051】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではない。例えば、上記実施例では、熱
硬化性シール材を使用した場合について説明したが、こ
の発明は紫外線硬化性シール材を使用する場合にも適用
することができる。なお、紫外線硬化性シール材を用い
る場合には、図1のS4における加熱・加圧によるシー
ル硬化工程が紫外線照射による硬化工程に代わるだけで
あり、容易に本発明を適用することができる。
【0052】図2に、本発明を適用して好適な液晶装置
の一例として、MIM(金属膜―絶縁膜―金属膜構造の
ダイオード対)をスイッチング素子とするアクティブマ
トリックス型の液晶パネルを示す。
【0053】この実施例の液晶パネル30は、Crから
なる画素電極11やこれに電圧を印加するスイッチング
素子としてのMIM(TaW層とTaOx層とCr層の
積層構造からなる)13、各画素に印加される電圧を供
給するデータ線15、Cr画素電極11上に設けられる
Al反射電極17を有する下側基板10と、透明電極
(ITO)からなる走査線21、カラーフィルタ層22
およびブラックマスク23等を有する入射側のガラス基
板(上側基板)20とが適当な間隔をおいて配置され、
周囲をシール剤31で封止された間隙内にTN(Twiste
d Nematic)型液晶またはSH(Super Homeotropic)型
液晶などの液晶32が充填されて液晶パネル30として
構成されている。また、表示装置として使用する場合に
は、入射側のガラス基板20の液晶と反対側の面(図2
では上面)には偏光板が配置される。
【0054】この実施例の液晶パネルは、本発明方法が
適用されることにより、シール材31は溶剤および気泡
の残留が少なくかつガス抜け穴がほぼ完全に消滅されて
いるため、シール材31を通って内側の液晶32内に水
分やガスが侵入しにくくなり、その結果表示品質が高く
かつ信頼性が向上するという利点がある。
【0055】なお、特に限定されるものではないが、こ
の実施例の液晶パネルにおいては、下側基板10の液晶
側の面に形成されるデータ線15は基板の一方向(図2
では紙面と直交する方向)に沿って互いにほぼ平行に配
設されるとともに、入射側のガラス基板(上側基板)2
0の液晶側の面に形成される走査線21は前記データ線
と交差する方向に沿って互いにほぼ平行に配設される。
また、前記Al反射電極17の表面は入射した光を乱反
射させるため凹凸が形成されている。Cr層からなる画
素電極11の上にAl層からなる反射電極17を設けて
いるのは、クロムよりもアルミニウムの方が反射率が高
いことと、下地層となるCr層を省略してAl層のみと
するとアルミニウムは表面が酸化され易く所望の特性が
得られにくいことの2つの理由からである。
【0056】なお、図2の実施例では、Cr層からなる
画素電極11の上にAl層からなる反射電極17を設け
ているが、Cr画素電極11を省略して基板の表面に直
接Al反射電極17を形成しても良い。
【0057】図3には前記実施例の液晶パネルを、携帯
電話器200または携帯情報端末300の表示装置とし
て応用した場合の構成例が示されている。
【0058】図3(a)において、201は内部にCP
UやメモリなどのLSI、電源装置、スピーカ等を内蔵
した本体、202は本体201に対して回動可能に装着
された音声入力部兼用蓋、203は前記実施例の液晶パ
ネルを使用した液晶表示装置であり、本体201の内面
に表示面(入射面)が来るように装着されている。
【0059】図3(b)において、301は内部にCP
UやメモリなどのLSI、電源装置等を内蔵した本体、
302は本体301の上面に設けられたキー入力装置、
303は前記実施例の液晶パネルを使用した液晶表示装
置であり、本体301に対して回動可能に取り付けられ
た蓋の部分の内面に表示面(入射面)が来るように装着
されている。
【0060】前記実施例の液晶パネルを表示装置として
使用した電子機器においては、バックライトが不要で消
費電力が少ないためバッテリによる長時間駆動が可能に
なるとともに、反射電極表面に凹凸が形成されているた
め表示内容が見やすく、しかも本発明を適用して製造さ
れた液晶パネルはシール材の内側の液晶内に水分やガス
が侵入しにくいため表示品質が高くかつ信頼性に優れて
いるという利点がある。
【0061】なお、本発明を適用した液晶パネルは、前
記のような携帯情報端末の他、携帯電話などの携帯用電
子機器あるいはラップトップ型やデスクトップ型のパソ
コンの表示装置として使用できるとともに、液晶パネル
をライトバルブとして応用したビデオプロジェクタのよ
うな投射型表示装置にも利用することができる。
【0062】
【発明の効果】以上説明したように、本発明にかかる液
晶装置の製造方法は、二枚の基板を対向させ液晶を狭持
させてなる液晶装置の製造課程における基板の貼り合せ
工程において、上記基板を加熱・減圧状態で所定の時間
保持し、シール材内の溶剤および気泡を除去するプリベ
イク工程と、上記基板を加熱・加圧状態で所定の時間保
持し、シール材内に形成された欠陥を消滅させるシール
硬化工程と、を少なくとも有するようにしたので、貼り
合せ工程でシール材内に発生していた溶剤ガスの気泡や
小径のガス抜け穴等を有効に消滅させ、シール材の内側
に水分やガス等が進入するのを防止でき、液晶装置の品
質および信頼性を向上させることができるという効果が
ある。
【0063】具体的には、上記プリベイク工程は、上記
液晶基板を40℃から(ガラス転移点-20℃)の温度範囲
で、500Torr以下の圧力に10分以上保持する工程である
ようにしたので、シール材の材料に応じた最適の条件で
溶剤の蒸発および脱ガス処理を行なうことができ、これ
によってシール材内の溶剤および気泡をほぼ完全に除去
することができる。
【0064】さらに、本発明にかかる製造方法により製
造される液晶表示装置にあっては、上記二枚の基板の液
晶側の面に液晶の向きを制御するための電圧を印加する
ための電極が形成されてなる液晶表示装置であるので、
シール材の内側の液晶内に水分やガスが侵入しにくくな
り、これによって表示品質が高くかつ信頼性の高い液晶
表示装置が得られるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る液晶装置の製造方法の一実施形態
における液晶装置を構成する二枚の基板の貼り合せ工程
の手順を示すフローチャートである。
【図2】本発明をMIMをスイッチング素子とするアク
ティブマトリックス型の液晶パネルに適用した実施例を
示す断面図。
【図3】実施例の液晶パネルを表示装置として応用した
電子機器の例としての携帯電話器および携帯情報端末器
の概略構成を示す斜視図。
【符号の説明】
10 下側ガラス基板 11 データ線 13 MIM素子 15 画素電極 17 反射電極 20 入射側ガラス基板 21 走査線 22 カラーフィルタ層 23 ブラックマスク 30 液晶パネル 31 シール材 32 液晶

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 2枚の基板を対向させ液晶を挟持させて
    なる液晶装置の製造ラインにおける基板の貼り合わせ工
    程は、 一方の基板にシール材を塗布した後、上記基板を加熱・
    減圧状態で所定の時間保持し、シール材内の溶剤および
    気泡を除去するプリベイク工程と、 上記基板に他方の基板を位置合わせして接合した状態
    で、上記基板を加熱・加圧状態で所定の時間保持し、シ
    ール材を硬化させるシール硬化工程と、を少なくとも有
    することを特徴とする液晶装置の製造方法。
  2. 【請求項2】 上記プリベイク工程は、上記液晶基板を
    600Torr以下に減圧した状態で、所定の温度で、所定の
    時間保持する工程であることを特徴とする請求項1に記
    載の液晶装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 上記プリベイク工程は、上記液晶基板を
    40℃から(シール材のガラス転移点-20℃)の温度雰囲
    気中で、所定の時間保持する工程であることを特徴とす
    る請求項1に記載の液晶装置の製造方法。
  4. 【請求項4】 上記プリベイク工程は、上記液晶基板を
    40℃から(シール材のガラス転移点-20℃)の温度雰囲
    気中で、500Torr以下に減圧した状態で、10分以上保持
    する工程であることを特徴とする請求項1に記載の液晶
    装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 上記プリベイク工程は、上記液晶基板を
    60℃から(シール材のガラス転移点-20℃)の温度雰囲
    気中で、500Torr以下に減圧した状態で、5分以上保持す
    る工程であることを特徴とする請求項1に記載の液晶装
    置の製造方法。
  6. 【請求項6】 上記液晶装置は、上記二枚の基板の液晶
    側の面に液晶の向きを制御するための電圧を印加するた
    めの電極が形成されてなる液晶表示装置であることを特
    徴とする請求項1から請求項5に記載の液晶装置の製造
    方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009163980A (ja) * 2008-01-07 2009-07-23 Ulvac Japan Ltd 封着パネルの製造方法及びそれを用いたプラズマディスプレイパネルの製造方法、紫外線硬化性樹脂
JP2009224217A (ja) * 2008-03-17 2009-10-01 Ulvac Japan Ltd 封着パネルの製造方法及びそれを用いたプラズマディスプレイパネルの製造方法、紫外線硬化性樹脂

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009163980A (ja) * 2008-01-07 2009-07-23 Ulvac Japan Ltd 封着パネルの製造方法及びそれを用いたプラズマディスプレイパネルの製造方法、紫外線硬化性樹脂
JP2009224217A (ja) * 2008-03-17 2009-10-01 Ulvac Japan Ltd 封着パネルの製造方法及びそれを用いたプラズマディスプレイパネルの製造方法、紫外線硬化性樹脂

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