JP2000251280A - 光ディスク用ピックアップの性能測定方法および装置 - Google Patents
光ディスク用ピックアップの性能測定方法および装置Info
- Publication number
- JP2000251280A JP2000251280A JP11046435A JP4643599A JP2000251280A JP 2000251280 A JP2000251280 A JP 2000251280A JP 11046435 A JP11046435 A JP 11046435A JP 4643599 A JP4643599 A JP 4643599A JP 2000251280 A JP2000251280 A JP 2000251280A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- peak
- error signal
- optical disk
- pickup
- tracking error
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Optical Head (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定精度を向上させしかも短時間で測定を完
了させることができる光ピックアップの性能測定方法を
提供すること。 【解決手段】 光ディスクＤからの反射光を受光してフ
ォーカシングエラー信号ＦＥおよびトラッキングエラー
信号ＴＥを得る光ディスク用センサ１０と、フォーカス
電圧に応じて対物レンズ３の位置を制御するフォーカシ
ング機構とを有する光ディスク用ピックアップ１００に
おいて、前記光ディスク用ピックアップを１トラック分
移動させた時の前記トラッキングエラー信号のピーク・
ツー・ピークＴＥp-pの大きさと前記フォーカス電圧の
オフセットとの関係を測定し、その関係を３次式で近似
する。次に、近似式に基づいて、前記トラッキングエラ
ー信号のピーク・ツー・ピークの大きさが、その最大値
より所定量小さくなる時のフォーカス電圧のオフセット
値x1およびx2を求め、さらにその２つのオフセット値x1
およびx2の差、およびその間の対物レンズの移動量に基
づいてフォーカスエラー感度ＦＥＳを求める構成とし
た。
了させることができる光ピックアップの性能測定方法を
提供すること。 【解決手段】 光ディスクＤからの反射光を受光してフ
ォーカシングエラー信号ＦＥおよびトラッキングエラー
信号ＴＥを得る光ディスク用センサ１０と、フォーカス
電圧に応じて対物レンズ３の位置を制御するフォーカシ
ング機構とを有する光ディスク用ピックアップ１００に
おいて、前記光ディスク用ピックアップを１トラック分
移動させた時の前記トラッキングエラー信号のピーク・
ツー・ピークＴＥp-pの大きさと前記フォーカス電圧の
オフセットとの関係を測定し、その関係を３次式で近似
する。次に、近似式に基づいて、前記トラッキングエラ
ー信号のピーク・ツー・ピークの大きさが、その最大値
より所定量小さくなる時のフォーカス電圧のオフセット
値x1およびx2を求め、さらにその２つのオフセット値x1
およびx2の差、およびその間の対物レンズの移動量に基
づいてフォーカスエラー感度ＦＥＳを求める構成とし
た。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、光ディスク用ピ
ックアップの性能測定方法および装置に関する。
ックアップの性能測定方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスク、光磁気ディスク等の媒体を
利用する光ディスク装置の光学系は、レーザー光源と、
光源から射出された光束を光ディスクの情報記録面上に
収束させてスポットを形成する対物レンズおよび、媒体
からの反射光を受光して記録信号、フォーカシングエラ
ー信号、トラッキングエラー信号を検出するセンサシス
テムを備えた光ピックアップを有する。フォーカシング
エラー信号に基づいて、フォーカスサーボ機構により、
光ディスクの情報記録面でレーザー光源から射出された
光束が収束するように対物レンズが光軸方向に移動され
る。また、トラッキングエラー信号に基づいて、所望の
トラック上にスポットが位置するように、光ピックアッ
プが光ディスクのラジアル方向に移動される。
利用する光ディスク装置の光学系は、レーザー光源と、
光源から射出された光束を光ディスクの情報記録面上に
収束させてスポットを形成する対物レンズおよび、媒体
からの反射光を受光して記録信号、フォーカシングエラ
ー信号、トラッキングエラー信号を検出するセンサシス
テムを備えた光ピックアップを有する。フォーカシング
エラー信号に基づいて、フォーカスサーボ機構により、
光ディスクの情報記録面でレーザー光源から射出された
光束が収束するように対物レンズが光軸方向に移動され
る。また、トラッキングエラー信号に基づいて、所望の
トラック上にスポットが位置するように、光ピックアッ
プが光ディスクのラジアル方向に移動される。
【０００３】フォーカスサーボ機構では、まずフォーカ
シングエラー信号の大きさに対応したサーボ電圧が生成
され、このフォーカスサーボ電圧に基づき、レンズ駆動
機構が対物レンズの位置を光軸に沿って変化させる。
シングエラー信号の大きさに対応したサーボ電圧が生成
され、このフォーカスサーボ電圧に基づき、レンズ駆動
機構が対物レンズの位置を光軸に沿って変化させる。
【０００４】図５は、上記のような光ピックアップにお
いて、スポットを１トラック分移動させて得られるトラ
ッキングエラー信号の変化を示す図である。また、図６
は、フォーカスサーボ電圧のオフセットを変化させた時
（すなわち光ディスク面でのスポットの合焦状態を変化
させたとき）の図５に示す波形のピーク・ツー・ピーク
の値ＴＥp-pを表すグラフである。
いて、スポットを１トラック分移動させて得られるトラ
ッキングエラー信号の変化を示す図である。また、図６
は、フォーカスサーボ電圧のオフセットを変化させた時
（すなわち光ディスク面でのスポットの合焦状態を変化
させたとき）の図５に示す波形のピーク・ツー・ピーク
の値ＴＥp-pを表すグラフである。
【０００５】値ＴＥp-pは、スポットが光ディスクの情
報記録面で合焦している時に最も大きくなり、デフォー
カスの度合いが大きくなるほど小さくなる。なお、図６
に示すように、オフセット電圧が０（ゼロ）の時ではな
く、ややずれたところで値ＴＥp-pは最大値を取る。こ
のオフセット電圧の値は所定の範囲に収まることが望ま
しく、値ＴＥp-pが最大値を取る時のオフセット電圧
は、ピックアップの性能を判断する指標となる。加え
て、値ＴＥp-pが最大となるオフセット電圧を基準とす
る所定のオフセット電圧範囲において、値ＴＥp-pの変
動幅はピックアップの光学的設計により定まる所定の変
動範囲内にあることが望ましく、この変動幅もピックア
ップの性能を判断する指標となる。
報記録面で合焦している時に最も大きくなり、デフォー
カスの度合いが大きくなるほど小さくなる。なお、図６
に示すように、オフセット電圧が０（ゼロ）の時ではな
く、ややずれたところで値ＴＥp-pは最大値を取る。こ
のオフセット電圧の値は所定の範囲に収まることが望ま
しく、値ＴＥp-pが最大値を取る時のオフセット電圧
は、ピックアップの性能を判断する指標となる。加え
て、値ＴＥp-pが最大となるオフセット電圧を基準とす
る所定のオフセット電圧範囲において、値ＴＥp-pの変
動幅はピックアップの光学的設計により定まる所定の変
動範囲内にあることが望ましく、この変動幅もピックア
ップの性能を判断する指標となる。
【０００６】すなわち、値ＴＥp-pが最大となるオフセ
ット電圧と、上記所定の電圧範囲を規定するオフセット
電圧の最大・最小値とに基づいて、光ピックアップの性
能を評価することができる。
ット電圧と、上記所定の電圧範囲を規定するオフセット
電圧の最大・最小値とに基づいて、光ピックアップの性
能を評価することができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来、図６に示す特
性、すなわちフォーカスサーボ電圧のオフセットとトラ
ッキングエラー信号のピーク・ツー・ピークの値ＴＥp-
pを求めるには、多数の測定点が必要であった。特に、
値ＴＥp-pが最大となるオフセット電圧を求める場合、
値ＴＥp-pの変化量が小さいためにオフセット電圧を小
刻みに変化させ、いわゆる挟み込み法により値ＴＥp-p
が最大となるオフセット電圧を求めていた。この方法で
は、精度を上げるためには、オフセット電圧の刻みを非
常に細かくする必要がある。しかし、電圧の刻みを細か
くした場合、値ＴＥp-pの変化量も小さくなるため、精
度を上げるには限界があった。しかも、測定誤差の影響
を減らすためには、図６に示すように、同様の測定作業
を何度も繰り返す必要があった。
性、すなわちフォーカスサーボ電圧のオフセットとトラ
ッキングエラー信号のピーク・ツー・ピークの値ＴＥp-
pを求めるには、多数の測定点が必要であった。特に、
値ＴＥp-pが最大となるオフセット電圧を求める場合、
値ＴＥp-pの変化量が小さいためにオフセット電圧を小
刻みに変化させ、いわゆる挟み込み法により値ＴＥp-p
が最大となるオフセット電圧を求めていた。この方法で
は、精度を上げるためには、オフセット電圧の刻みを非
常に細かくする必要がある。しかし、電圧の刻みを細か
くした場合、値ＴＥp-pの変化量も小さくなるため、精
度を上げるには限界があった。しかも、測定誤差の影響
を減らすためには、図６に示すように、同様の測定作業
を何度も繰り返す必要があった。
【０００８】以上のように、従来の光ピックアップの性
能測定方法および装置は、測定に非常に時間が掛かると
共に測定精度にも限界があり、改善が望まれていた。
能測定方法および装置は、測定に非常に時間が掛かると
共に測定精度にも限界があり、改善が望まれていた。
【０００９】この発明は、上述した従来技術の問題に鑑
みてなされたものであり、測定精度を向上させしかも短
時間で測定を完了することができる光ディスク用ピック
アップの性能測定方法および装置を提供することを目的
としている。
みてなされたものであり、測定精度を向上させしかも短
時間で測定を完了することができる光ディスク用ピック
アップの性能測定方法および装置を提供することを目的
としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、請求項１に記載の光ディスク用ピックアップの性能
測定方法は、光ディスクからの反射光を受光してフォー
カシングエラー信号およびトラッキングエラー信号を得
る光ディスク用センサと、フォーカス電圧に応じて対物
レンズの位置を制御するフォーカシング機構とを有する
光ディスク用ピックアップにおいて、前記光ディスク用
ピックアップを１トラック分移動させた時の前記トラッ
キングエラー信号のピーク・ツー・ピークの大きさと前
記フォーカス電圧のオフセットとの関係を測定し、前記
トラッキングエラー信号のピーク・ツー・ピークの大き
さy(x)と前記フォーカス電圧のオフセットxとの関係を
表す３次式 y(x) = a1x3 + a2x2 + a3x + a4 ・・・（１） の係数a1、a2、a3、a4を決定し、前記トラッキングエラ
ー信号のピーク・ツー・ピークの大きさy(x)が、その最
大値より所定量小さくなる時のフォーカス電圧のオフセ
ット値x1およびx2を式（１）から求め、式（２）により
フォーカスエラー感度ＦＥＳを求めることを特徴として
いる。 ＦＥＳ＝｜x2−x1｜／ｄ ・・・（２） なお、ｄは上記オフセット値x1およびx2に対応する前記
対物レンズの位置の間隔である。また、フォーカスエラ
ー感度とは、対物レンズの単位移動量に対応するオフセ
ット電圧の変化量と定義することができる。ここで、上
記所定量小さいピーク・ツー・ピークの大きさは、例え
ば最大値の７５％である。また、請求項３に記載の光デ
ィスク用ピックアップの性能測定装置は、光ディスクか
らの反射光を受光してフォーカシングエラー信号および
トラッキングエラー信号を得る光ディスク用センサと、
フォーカス電圧に応じて対物レンズの位置を制御するフ
ォーカシング機構とを有する光ディスク用ピックアップ
に用いられるものであって、前記光ディスク用ピックア
ップを１トラック分移動させた時の前記トラッキングエ
ラー信号のピーク・ツー・ピークの大きさと前記フォー
カス電圧のオフセットとの関係を測定し、前記トラッキ
ングエラー信号のピーク・ツー・ピークの大きさy(x)と
前記フォーカス電圧のオフセットxとの関係を表す３次
式 y(x) = a1x3 + a2x2 + a3x + a4 ・・・（１） の係数a1、a2、a3、a4を決定する第１の演算手段手段
と、前記トラッキングエラー信号のピーク・ツー・ピー
クの大きさy(x)が、その最大値より所定量小さくなる時
のフォーカス電圧のオフセット値x1およびx2を式（１）
から求める第２の演算手段と、フォーカスエラー感度Ｆ
ＥＳを次式（２）により求める第３の演算手段と、を有
することを特徴とする光ディスク用ピックアップの性能
測定装置。 ＦＥＳ＝｜x2−x1｜／ｄ ・・・（２） なお、ｄは上記オフセット値x1およびx2に対応する前記
対物レンズの位置の間隔である。また、請求項５に記載
の光ディスク用ピックアップの性能測定装置は、フォー
カスエラー感度ＦＥＳの大きさに基づいて、前記光ディ
スク用ピックアップの性能を判定する判定手段をさらに
有することを特徴としている。
め、請求項１に記載の光ディスク用ピックアップの性能
測定方法は、光ディスクからの反射光を受光してフォー
カシングエラー信号およびトラッキングエラー信号を得
る光ディスク用センサと、フォーカス電圧に応じて対物
レンズの位置を制御するフォーカシング機構とを有する
光ディスク用ピックアップにおいて、前記光ディスク用
ピックアップを１トラック分移動させた時の前記トラッ
キングエラー信号のピーク・ツー・ピークの大きさと前
記フォーカス電圧のオフセットとの関係を測定し、前記
トラッキングエラー信号のピーク・ツー・ピークの大き
さy(x)と前記フォーカス電圧のオフセットxとの関係を
表す３次式 y(x) = a1x3 + a2x2 + a3x + a4 ・・・（１） の係数a1、a2、a3、a4を決定し、前記トラッキングエラ
ー信号のピーク・ツー・ピークの大きさy(x)が、その最
大値より所定量小さくなる時のフォーカス電圧のオフセ
ット値x1およびx2を式（１）から求め、式（２）により
フォーカスエラー感度ＦＥＳを求めることを特徴として
いる。 ＦＥＳ＝｜x2−x1｜／ｄ ・・・（２） なお、ｄは上記オフセット値x1およびx2に対応する前記
対物レンズの位置の間隔である。また、フォーカスエラ
ー感度とは、対物レンズの単位移動量に対応するオフセ
ット電圧の変化量と定義することができる。ここで、上
記所定量小さいピーク・ツー・ピークの大きさは、例え
ば最大値の７５％である。また、請求項３に記載の光デ
ィスク用ピックアップの性能測定装置は、光ディスクか
らの反射光を受光してフォーカシングエラー信号および
トラッキングエラー信号を得る光ディスク用センサと、
フォーカス電圧に応じて対物レンズの位置を制御するフ
ォーカシング機構とを有する光ディスク用ピックアップ
に用いられるものであって、前記光ディスク用ピックア
ップを１トラック分移動させた時の前記トラッキングエ
ラー信号のピーク・ツー・ピークの大きさと前記フォー
カス電圧のオフセットとの関係を測定し、前記トラッキ
ングエラー信号のピーク・ツー・ピークの大きさy(x)と
前記フォーカス電圧のオフセットxとの関係を表す３次
式 y(x) = a1x3 + a2x2 + a3x + a4 ・・・（１） の係数a1、a2、a3、a4を決定する第１の演算手段手段
と、前記トラッキングエラー信号のピーク・ツー・ピー
クの大きさy(x)が、その最大値より所定量小さくなる時
のフォーカス電圧のオフセット値x1およびx2を式（１）
から求める第２の演算手段と、フォーカスエラー感度Ｆ
ＥＳを次式（２）により求める第３の演算手段と、を有
することを特徴とする光ディスク用ピックアップの性能
測定装置。 ＦＥＳ＝｜x2−x1｜／ｄ ・・・（２） なお、ｄは上記オフセット値x1およびx2に対応する前記
対物レンズの位置の間隔である。また、請求項５に記載
の光ディスク用ピックアップの性能測定装置は、フォー
カスエラー感度ＦＥＳの大きさに基づいて、前記光ディ
スク用ピックアップの性能を判定する判定手段をさらに
有することを特徴としている。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、この発明に係る光ディスク
用ピックアップの性能測定方法および装置について説明
する。
用ピックアップの性能測定方法および装置について説明
する。
【００１２】図１は光ディスク装置の光学系の概略を示
す図である。光ディスク装置は、レーザー光源１と、レ
ーザー光源１から発した光束を平行光束にするコリメー
トレンズ２と、この光束を光ディスクＤ上に収束させて
スポットを形成する対物レンズ３とを備えると共に、光
ディスクＤからの反射光を入射光路から分離するビーム
スプリッター４と、ビームスプリッター４で反射された
光ディスクからの反射光を受光して記録信号、フォーカ
シングエラー信号、トラッキングエラー信号を検出する
センサシステム１０を備えている。また、対物レンズ３
は、フォーカシング機構２０により光軸方向（図中左右
方向）に駆動される。対物レンズ３を含むヘッド部５
は、トラッキング機構３０によりラジアル方向（図中上
下方向）に駆動される。
す図である。光ディスク装置は、レーザー光源１と、レ
ーザー光源１から発した光束を平行光束にするコリメー
トレンズ２と、この光束を光ディスクＤ上に収束させて
スポットを形成する対物レンズ３とを備えると共に、光
ディスクＤからの反射光を入射光路から分離するビーム
スプリッター４と、ビームスプリッター４で反射された
光ディスクからの反射光を受光して記録信号、フォーカ
シングエラー信号、トラッキングエラー信号を検出する
センサシステム１０を備えている。また、対物レンズ３
は、フォーカシング機構２０により光軸方向（図中左右
方向）に駆動される。対物レンズ３を含むヘッド部５
は、トラッキング機構３０によりラジアル方向（図中上
下方向）に駆動される。
【００１３】なお、ヘッド部５、ビームスプリッタ４、
センサシステム１０がピックアップ１００を構成してい
る。
センサシステム１０がピックアップ１００を構成してい
る。
【００１４】光磁気ディスク等の光ディスクＤは、ラジ
アル方向の断面において山形のグルーブと、グルーブ間
に位置する情報記録用のランドとを有している。情報の
記録／再生時には、対物レンズ３はランドのラジアル方
向中央にスポットが形成されるよう位置決めされる。
アル方向の断面において山形のグルーブと、グルーブ間
に位置する情報記録用のランドとを有している。情報の
記録／再生時には、対物レンズ３はランドのラジアル方
向中央にスポットが形成されるよう位置決めされる。
【００１５】センサシステム１０は、例えば、公知のス
ポットサイズ法によりフォーカシングエラー信号ＦＥを
検出し出力すると共に、公知のプッシュプル法によりト
ラッキングエラー信号ＴＥを検出し出力するよう構成さ
れている。
ポットサイズ法によりフォーカシングエラー信号ＦＥを
検出し出力すると共に、公知のプッシュプル法によりト
ラッキングエラー信号ＴＥを検出し出力するよう構成さ
れている。
【００１６】図２は、図１の光ディスク装置の制御系の
構成の概略を示すブロック図である。センサシステム１
０から出力されたトラッキングエラー信号ＴＥ、フォー
カシングエラー信号ＦＥは共にＣＰＵ４０に入力され
る。ＣＰＵ４０は、トラッキングエラー信号ＴＥに基づ
いてトラッキング機構３０を制御し、スポットのディス
ク上の位置を調整すると共に、フォーカシングエラー信
号ＦＥに基づいて生成されるフォーカシング電圧により
フォーカシング機構２０を制御し、スポットがディスク
Ｄの記録面で合焦するように対物レンズ３を駆動する。
構成の概略を示すブロック図である。センサシステム１
０から出力されたトラッキングエラー信号ＴＥ、フォー
カシングエラー信号ＦＥは共にＣＰＵ４０に入力され
る。ＣＰＵ４０は、トラッキングエラー信号ＴＥに基づ
いてトラッキング機構３０を制御し、スポットのディス
ク上の位置を調整すると共に、フォーカシングエラー信
号ＦＥに基づいて生成されるフォーカシング電圧により
フォーカシング機構２０を制御し、スポットがディスク
Ｄの記録面で合焦するように対物レンズ３を駆動する。
【００１７】検査装置５０および表示装置６０は、光ピ
ックアップの性能検査の際に接続される。検査装置５０
は、ＣＰＵ４０からトラッキングエラー信号ＴＥおよび
フォーカシングエラー信号ＦＥを取り込むと共に、フォ
ーカシング機構２０を制御して検査に必要なフォーカシ
ングオフセット電圧を変化させることができる。
ックアップの性能検査の際に接続される。検査装置５０
は、ＣＰＵ４０からトラッキングエラー信号ＴＥおよび
フォーカシングエラー信号ＦＥを取り込むと共に、フォ
ーカシング機構２０を制御して検査に必要なフォーカシ
ングオフセット電圧を変化させることができる。
【００１８】次に、上記の光ディスク装置おける光ディ
スク用ピックアップ３の性能の測定方法について説明す
る。
スク用ピックアップ３の性能の測定方法について説明す
る。
【００１９】図３は、図６と同様、フォーカシング機構
に印加される駆動電圧のオフセット値と、スポットを１
トラック分移動させた時のトラッキングエラー信号のピ
ーク・ツー・ピークの値ＴＥp-pとの関係を示すグラフ
である。
に印加される駆動電圧のオフセット値と、スポットを１
トラック分移動させた時のトラッキングエラー信号のピ
ーク・ツー・ピークの値ＴＥp-pとの関係を示すグラフ
である。
【００２０】従来は、オフセット電圧を小刻みに変えな
がら、各オフセット電圧に対応するピーク・ツー・ピー
クの値ＴＥp-pを計測していた。本実施の形態では、図
３の関係が３次式により精度良く近似できることに着目
し、前記トラッキングエラー信号のピーク・ツー・ピー
クの大きさをy(x)、前記フォーカス電圧のオフセット値
をxとして３次式 y(x) = a1x3 + a2x2 + a3x + a4 ・・・（１） により近似するようにしている。
がら、各オフセット電圧に対応するピーク・ツー・ピー
クの値ＴＥp-pを計測していた。本実施の形態では、図
３の関係が３次式により精度良く近似できることに着目
し、前記トラッキングエラー信号のピーク・ツー・ピー
クの大きさをy(x)、前記フォーカス電圧のオフセット値
をxとして３次式 y(x) = a1x3 + a2x2 + a3x + a4 ・・・（１） により近似するようにしている。
【００２１】まず、４種類のオフセット電圧V1、V2、V
3、V4に対するピーク・ツー・ピーク電圧ＴＥを計測
し、その４つのオフセット値とピーク・ツー・ピーク電
圧との組み合わせに基づいて、式（１）の係数a1、a2、
a3、a4を決定する。次に、前記トラッキングエラー信号
のピーク・ツー・ピークの大きさy(x)が最大となるオフ
セット値x0を式（１）から求める。次いで、ピーク・ツ
ー・ピークの値が、最大値y(x0)より所定量小さい値
（本実施形態では最大値の75％）になる時の２つのオフ
セット値x1とx2（x1＜x0＜x2）を式（１）から求める。
上記x1およびx2から、式（２）によりフォーカスエラー
感度ＦＥＳを求める。 ＦＥＳ＝｜x2−x1｜／ｄ ・・・（２） なお、ｄは上記オフセット値x1およびx2に対応する前記
対物レンズの２つの位置の間隔である。上記フォーカス
エラー感度ＦＥＳが所定の範囲内にあるか否かにより、
ピックアップの性能を評価することができる。なお、フ
ォーカスエラー感度とは、対物レンズの単位移動量に対
応するオフセット電圧の変化量を意味する。
3、V4に対するピーク・ツー・ピーク電圧ＴＥを計測
し、その４つのオフセット値とピーク・ツー・ピーク電
圧との組み合わせに基づいて、式（１）の係数a1、a2、
a3、a4を決定する。次に、前記トラッキングエラー信号
のピーク・ツー・ピークの大きさy(x)が最大となるオフ
セット値x0を式（１）から求める。次いで、ピーク・ツ
ー・ピークの値が、最大値y(x0)より所定量小さい値
（本実施形態では最大値の75％）になる時の２つのオフ
セット値x1とx2（x1＜x0＜x2）を式（１）から求める。
上記x1およびx2から、式（２）によりフォーカスエラー
感度ＦＥＳを求める。 ＦＥＳ＝｜x2−x1｜／ｄ ・・・（２） なお、ｄは上記オフセット値x1およびx2に対応する前記
対物レンズの２つの位置の間隔である。上記フォーカス
エラー感度ＦＥＳが所定の範囲内にあるか否かにより、
ピックアップの性能を評価することができる。なお、フ
ォーカスエラー感度とは、対物レンズの単位移動量に対
応するオフセット電圧の変化量を意味する。
【００２２】図４は、検査装置４０により実行される、
光ピックアップ性能検査処理のフローチャートである。
光ピックアップ性能検査処理のフローチャートである。
【００２３】処理が開始されると、フォーカシングオフ
セット電圧V1、V2、V3、V4のそれぞれの場合にについ
て、ヘッド５を１トラック分移動させて、ピーク・ツー
・ピーク電圧TE1、TE2、TE3、TE4を得る（Ｓ１）。次
に、電圧V1〜V4、TE1〜TE4を用いて式（１）の係数a1〜
a4を計算する（Ｓ３）。なお、ここでは最も簡単な例と
して４つのフォーカシングオフセット電圧に対し４つの
ピーク・ツー・ピーク電圧を求める場合について説明す
るが、種々の近似の方法により精度を上げることができ
る。例えば、各フォーカシングオフセット電圧に対して
ピーク・ツー・ピーク電圧を複数回計測し、平均値を取
るようにすることもできる。
セット電圧V1、V2、V3、V4のそれぞれの場合にについ
て、ヘッド５を１トラック分移動させて、ピーク・ツー
・ピーク電圧TE1、TE2、TE3、TE4を得る（Ｓ１）。次
に、電圧V1〜V4、TE1〜TE4を用いて式（１）の係数a1〜
a4を計算する（Ｓ３）。なお、ここでは最も簡単な例と
して４つのフォーカシングオフセット電圧に対し４つの
ピーク・ツー・ピーク電圧を求める場合について説明す
るが、種々の近似の方法により精度を上げることができ
る。例えば、各フォーカシングオフセット電圧に対して
ピーク・ツー・ピーク電圧を複数回計測し、平均値を取
るようにすることもできる。
【００２４】式（１）の係数が定まると、図３の曲線を
表す関数が決定される。次に、この関数が極大となるｘ
とｙ、即ちオフセット電圧x0とその時のピーク・ツー・
ピーク電圧y(x0)を計算により求める（Ｓ５）。
表す関数が決定される。次に、この関数が極大となるｘ
とｙ、即ちオフセット電圧x0とその時のピーク・ツー・
ピーク電圧y(x0)を計算により求める（Ｓ５）。
【００２５】Ｓ７では、オフセット電圧x0を挟む両側の
区間、即ち、上記関数y(x)が単調増加するx<x0の区間お
よび、上記関数y(x)が単調減少するx>x0の区間それぞれ
において、関数y(x)の値が最大値y(x0)の７５％となる
オフセット電圧の値x1、x2を求める。即ち、 0.75・y(x0)＝y(x1)＝y(x2) となるx1およびx2を求める（ｘ1＜ｘ0＜ｘ2）。
区間、即ち、上記関数y(x)が単調増加するx<x0の区間お
よび、上記関数y(x)が単調減少するx>x0の区間それぞれ
において、関数y(x)の値が最大値y(x0)の７５％となる
オフセット電圧の値x1、x2を求める。即ち、 0.75・y(x0)＝y(x1)＝y(x2) となるx1およびx2を求める（ｘ1＜ｘ0＜ｘ2）。
【００２６】Ｓ９では、式（２）により定義されるフォ
ーカスエラー感度ＦＥＳを求める。 ＦＥＳ＝｜x2−x1｜／ｄ ・・・（２） なお、ｄは上記オフセット値x1およびx2に対応する前記
対物レンズの位置の間隔である。本実施の形態において
は、ｄ＝1.4μmなので、フォーカスエラー感度ＦＥＳ
は、 ＦＥＳ＝｜x2−x1｜／1.4 ［mV／μm］ となる。
ーカスエラー感度ＦＥＳを求める。 ＦＥＳ＝｜x2−x1｜／ｄ ・・・（２） なお、ｄは上記オフセット値x1およびx2に対応する前記
対物レンズの位置の間隔である。本実施の形態において
は、ｄ＝1.4μmなので、フォーカスエラー感度ＦＥＳ
は、 ＦＥＳ＝｜x2−x1｜／1.4 ［mV／μm］ となる。
【００２７】Ｓ１１では、Ｓ９で求めたフォーカスエラ
ー感度ＦＥＳが所定範囲内の値であるかどうかが判定さ
れる（Ｓ１１）。もしも、フォーカスエラー感度が所定
範囲外の値であれば、表示装置６０にはエラーメッセー
ジが表示される（Ｓ１３）。また、フォーカスエラー感
度ＦＥＳが許容範囲内の値であれば、その旨のメッセー
ジ（ＯＫ表示）が表示装置６０に表示される（Ｓ１
５）。
ー感度ＦＥＳが所定範囲内の値であるかどうかが判定さ
れる（Ｓ１１）。もしも、フォーカスエラー感度が所定
範囲外の値であれば、表示装置６０にはエラーメッセー
ジが表示される（Ｓ１３）。また、フォーカスエラー感
度ＦＥＳが許容範囲内の値であれば、その旨のメッセー
ジ（ＯＫ表示）が表示装置６０に表示される（Ｓ１
５）。
【００２８】なお、ＣＰＵ４０により実行されるＳ３の
処理が本発明の光ディスク用ピックアップの性能測定装
置における第１の演算手段に該当し、Ｓ５およびＳ７の
処理が第２の演算手段に該当し、Ｓ９の処理が第３の演
算手段に該当する。また、ＣＰＵ４０により実行される
Ｓ１１の処理が判定手段に該当する。
処理が本発明の光ディスク用ピックアップの性能測定装
置における第１の演算手段に該当し、Ｓ５およびＳ７の
処理が第２の演算手段に該当し、Ｓ９の処理が第３の演
算手段に該当する。また、ＣＰＵ４０により実行される
Ｓ１１の処理が判定手段に該当する。
【００２９】従って、式（１）の係数を決定するために
必要な情報が入力されれば、当該ピックアップのフォー
カスエラー感度が自動的に演算され、表示装置６０にメ
ッセージが表示される。表示装置６０に表示されたメッ
セージにより、その光ピックアップの性能に問題がある
か否かを判定することができる。
必要な情報が入力されれば、当該ピックアップのフォー
カスエラー感度が自動的に演算され、表示装置６０にメ
ッセージが表示される。表示装置６０に表示されたメッ
セージにより、その光ピックアップの性能に問題がある
か否かを判定することができる。
【００３０】なお、本実施の形態では、フォーカスエラ
ー感度がある許容範囲に入っているか否かのみで、エラ
ーの判定を行っているが、本実施形態の変形として、許
容範囲を細分化することにより、単に良否の判定をする
だけでなく、性能にランク付けする構成とする事もでき
る。
ー感度がある許容範囲に入っているか否かのみで、エラ
ーの判定を行っているが、本実施形態の変形として、許
容範囲を細分化することにより、単に良否の判定をする
だけでなく、性能にランク付けする構成とする事もでき
る。
【００３１】以上説明したように、本発明の光ディスク
用ピックアップの性能測定方法および装置によれば、光
ディスク用ピックアップの性能の測定精度を向上させ、
しかも短時間で測定を完了させ、ピックアップの性能を
評価することができる。
用ピックアップの性能測定方法および装置によれば、光
ディスク用ピックアップの性能の測定精度を向上させ、
しかも短時間で測定を完了させ、ピックアップの性能を
評価することができる。
【図１】光ディスク装置の概略構成を示す説明図であ
る。
る。
【図２】光ディスク装置の主要部およびピックアップの
性能を検査する検査システムのブロック図である。
性能を検査する検査システムのブロック図である。
【図３】フォーカスオフセット電圧とピーク・ツー・ピ
ーク電圧との関係を示すグラフである。
ーク電圧との関係を示すグラフである。
【図４】性能検査の処理を示すフローチャートである。
【図５】トラッキングエラー信号のピーク・ツー・ピー
ク電圧を説明する波形図である。
ク電圧を説明する波形図である。
【図６】実測値によるフォーカスオフセット電圧とピー
ク・ツー・ピーク電圧との関係を示すグラフである。
ク・ツー・ピーク電圧との関係を示すグラフである。
３ 対物レンズ ５ ヘッド １０ センサシステム ２０ フォーカシング機構 ３０ トラッキング機構 ４０ ＣＰＵ ５０ 検査装置 ６０ 表示装置 １００ ピックアップ
Claims (5)
- 【請求項１】 光ディスクからの反射光を受光してフォ
ーカシングエラー信号およびトラッキングエラー信号を
得る光ディスク用センサと、フォーカス電圧に応じて対
物レンズの位置を制御するフォーカシング機構とを有す
る光ディスク用ピックアップにおいて、 前記光ディスク用ピックアップを１トラック分移動させ
た時の前記トラッキングエラー信号のピーク・ツー・ピ
ークの大きさと前記フォーカス電圧のオフセットとの関
係を測定し、 前記トラッキングエラー信号のピーク・ツー・ピークの
大きさy(x)と前記フォーカス電圧のオフセットxとの関
係を表す３次式 y(x) = a1x3 + a2x2 + a3x + a4 ・・・（１） の係数a1、a2、a3、a4を決定し、 前記トラッキングエラー信号のピーク・ツー・ピークの
大きさy(x)が、その最大値より所定量小さくなる時のフ
ォーカス電圧のオフセット値x1およびx2を式（１）から
求め、 フォーカスエラー感度ＦＥＳを次式（２）により求める
ことを特徴とする光ディスク用ピックアップの性能測定
方法。 ＦＥＳ＝｜x2−x1｜／ｄ ・・・（２） なお、ｄは上記オフセット値x1およびx2に対応する前記
対物レンズの位置の間隔である。 - 【請求項２】 前記所定量小さいピーク・ツー・ピーク
の大きさは、前記トラッキングエラー信号のピーク・ツ
ー・ピークの大きさy(x)の最大値の７５％であることを
特徴とする請求項１に記載の光ディスク用ピックアップ
の性能測定方法。 - 【請求項３】 光ディスクからの反射光を受光してフォ
ーカシングエラー信号およびトラッキングエラー信号を
得る光ディスク用センサと、フォーカス電圧に応じて対
物レンズの位置を制御するフォーカシング機構とを有す
る光ディスク用ピックアップの性能測定装置であって、 前記光ディスク用ピックアップを１トラック分移動させ
た時の前記トラッキングエラー信号のピーク・ツー・ピ
ークの大きさと前記フォーカス電圧のオフセットとの関
係を測定し、前記トラッキングエラー信号のピーク・ツ
ー・ピークの大きさy(x)と前記フォーカス電圧のオフセ
ットxとの関係を表す３次式 y(x) = a1x3 + a2x2 + a3x + a4 ・・・（１） の係数a1、a2、a3、a4を決定する第１の演算手段手段
と、 前記トラッキングエラー信号のピーク・ツー・ピークの
大きさy(x)が、その最大値より所定量小さくなる時のフ
ォーカス電圧のオフセット値x1およびx2を式（１）から
求める第２の演算手段と、 フォーカスエラー感度ＦＥＳを次式（２）により求める
第３の演算手段と、を有することを特徴とする光ディス
ク用ピックアップの性能測定装置。 ＦＥＳ＝｜x2−x1｜／ｄ ・・・（２） なお、ｄは上記オフセット値x1およびx2に対応する前記
対物レンズの位置の間隔である。 - 【請求項４】 前記所定量小さいピーク・ツー・ピーク
の大きさは、前記トラッキングエラー信号のピーク・ツ
ー・ピークの大きさy(x)の最大値の７５％であることを
特徴とする請求項３に記載の光ディスク用ピックアップ
の性能測定装置。 - 【請求項５】 前記フォーカスエラー感度ＦＥＳの大き
さに基づいて、前記光ディスク用ピックアップの性能を
判定する判定手段をさらに有することを特徴とする、請
求項３に記載の光ディスク用ピックアップの性能測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11046435A JP2000251280A (ja) | 1999-02-24 | 1999-02-24 | 光ディスク用ピックアップの性能測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11046435A JP2000251280A (ja) | 1999-02-24 | 1999-02-24 | 光ディスク用ピックアップの性能測定方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000251280A true JP2000251280A (ja) | 2000-09-14 |
Family
ID=12747090
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11046435A Pending JP2000251280A (ja) | 1999-02-24 | 1999-02-24 | 光ディスク用ピックアップの性能測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000251280A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7092322B2 (en) * | 2001-01-25 | 2006-08-15 | Dphi Acquisitions, Inc. | Calibration of focus error signal offset in a focus servo system |
| CN100367367C (zh) * | 2004-05-25 | 2008-02-06 | 威盛电子股份有限公司 | 数字多功能光碟种类判断方法 |
| US8416651B2 (en) | 2001-01-25 | 2013-04-09 | Od Servo Technologies, Llc | Servo control using digital signal processing for optical disk drive |
| JP2015015067A (ja) * | 2013-07-05 | 2015-01-22 | クラリオン株式会社 | 光ピックアップの制御装置及び光ディスク装置 |
-
1999
- 1999-02-24 JP JP11046435A patent/JP2000251280A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7092322B2 (en) * | 2001-01-25 | 2006-08-15 | Dphi Acquisitions, Inc. | Calibration of focus error signal offset in a focus servo system |
| US8416651B2 (en) | 2001-01-25 | 2013-04-09 | Od Servo Technologies, Llc | Servo control using digital signal processing for optical disk drive |
| US8937854B2 (en) | 2001-01-25 | 2015-01-20 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
| US9105281B2 (en) | 2001-01-25 | 2015-08-11 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
| US9245569B1 (en) | 2001-01-25 | 2016-01-26 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
| US9514777B2 (en) | 2001-01-25 | 2016-12-06 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
| CN100367367C (zh) * | 2004-05-25 | 2008-02-06 | 威盛电子股份有限公司 | 数字多功能光碟种类判断方法 |
| JP2015015067A (ja) * | 2013-07-05 | 2015-01-22 | クラリオン株式会社 | 光ピックアップの制御装置及び光ディスク装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0981941A (ja) | 光ディスク記録再生装置 | |
| JP4145593B2 (ja) | 球面収差補正装置及び球面収差補正方法 | |
| JP2002222523A (ja) | 記録状態検出指数の算出方法並びにこれを用いた光ディスク記録方法及び光ディスク記録装置 | |
| US7187632B2 (en) | Optical disk device and method of adjusting tilt control amount | |
| JP2000251280A (ja) | 光ディスク用ピックアップの性能測定方法および装置 | |
| CN100382166C (zh) | 光学拾取装置及其控制方法 | |
| EP1609140B1 (en) | Method and device for measuring the tilt of an optical disc. | |
| WO2004051635A1 (ja) | 光ヘッド装置、光記録装置及び光記録方法 | |
| JP2751493B2 (ja) | 焦点制御装置 | |
| US7310290B2 (en) | Tracking learning/adjusting method and optical disk device | |
| EP1930888A1 (en) | Optical disk apparatus with tilt correction mechanism | |
| US7460455B2 (en) | Method for determining relationship between difference of object lens location and driving control effort in optical storage device and apparatus thereof | |
| CN118111669A (zh) | 光学头力矩器特性参数的检测方法 | |
| JP4419666B2 (ja) | 光情報記録再生装置 | |
| JP2004022077A (ja) | 光ディスク記録再生装置 | |
| JPH10162401A (ja) | 光ディスク装置およびそのレーザダイオードの発光パワーの基準値補正方法 | |
| JPH0528525A (ja) | 光デイスク装置のトラツク位置ずれ信号生成装置およびトラツキング制御装置 | |
| KR100948145B1 (ko) | 포커스 서보 제어 방법 및 장치와 이를 이용한 광 디스크드라이브 | |
| JPS6132225A (ja) | 光方式記録再生装置 | |
| JP3722670B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPH1173652A (ja) | 光ディスク装置 | |
| JPH0428020A (ja) | フォーカス位置の調整方法および調整装置 | |
| JPS6040534A (ja) | トラツキング制御方法及び装置 | |
| CN101133446A (zh) | 光盘装置 | |
| KR20060099124A (ko) | 광 기록 디스크의 기록 품질 향상을 위한 포커스 밸런스측정방법 및 이를 이용한 기록방법 |