JP2000241125A - 寸法測定装置 - Google Patents

寸法測定装置

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JP2000241125A
JP2000241125A JP11082130A JP8213099A JP2000241125A JP 2000241125 A JP2000241125 A JP 2000241125A JP 11082130 A JP11082130 A JP 11082130A JP 8213099 A JP8213099 A JP 8213099A JP 2000241125 A JP2000241125 A JP 2000241125A
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JP
Japan
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measured
imaging
dimension measuring
image pickup
measuring apparatus
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JP11082130A
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Souichirou Rikimi
総一郎 力身
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Nippon Electro Sensory Devices Corp
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Nippon Electro Sensory Devices Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来の光学系を用いた薄板等の幅寸法測定装
置においては、被測定物の高さ方向の位置が変わると測
定結果に誤差が発生するという不具合がある。本発明は
測定対象物の高さが変化しても幅寸法の測定値が変化す
ることがない幅寸法測定装置を提供する。 【解決手段】 一定方向に移動する被測定物の一方側に
直線状の形状を有する光源を配置し被測定物の他方側に
ラインセンサとセルフォックレンズとから成る撮像ユニ
ットからなる撮像手段を配置する。正立で等倍の像が撮
像されるので対象物の浮き上がりがあっても像の大きさ
が変化することがなく、一様な精度で測定することがで
きる。さらに、セルフォックレンズを用いることによっ
て光路長を短くすることが可能となり、装置の小型化が
可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】連続して搬送される被測定対
象物の幅寸法を測定する寸法測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】鋼板の製造ラインにおいて連続して生産
される鋼鈑の幅寸法を測定する装置として、ラインセン
サを用いた装置が知られており、図6はこの形式の従来
の寸法測定装置を示す説明図である。
【0003】図6において撮像装置100は被測定物W
の上方に配置され、光源103が被測定物Wの下側に配
置されており、光源103から発された光は撮像装置1
00によって撮像される。撮像装置100はCCDライ
ンセンサ101を撮像素子として採用しており、光学レ
ンズ102を介してラインセンサ101上に結像した像
を撮像している。
【0004】幅寸法を測定する対象となる被測定物Wは
所定の高さで搬送されており、被測定物Wが撮像装置1
00の視野内に入ると光源103からの光が遮られる結
果、ラインセンサに結像する被測定物の像は暗領域の像
となる。従ってラインセンサの暗領域と明領域との境界
が被測定対象物のエッジであり、被測定対称物の左右の
エッジの位置を検出することにより被測定対象物Wの幅
を算出することができる。即ち、図6において被測定対
象物Wの一端Aはラインセンサ101上のPに結像
し、他端BはPに結像する。ラインセンサのPおよ
びPの画素の位置とラインセンサと被測定物との距離
および光学レンズの焦点距離とから被測定対象物Wの幅
寸法が算出される。
【0005】ところで上記の寸法測定装置において、被
測定対象物Wに浮き上がりが発生して被測定対象物Wの
エッジの位置がそれぞれA1、B1になったとすると、
ラインセンサの結像位置はPA1およびPB1に移動し
てしまう。即ち、被測定物の高さ方向の位置が変わると
同一の被測定物であっても幅寸法の測定値が異なること
になり、測定結果に誤差が発生するという不具合があ
る。
【0006】上記の被測定対象物に浮き上がりによる誤
差を補正するには、2つの撮像手段をその設置位置が異
なるように配置して2つの撮像装置から得られたデータ
を計算処理することにより補正する方法が採られるが、
この方法では装置の構成要素が増え、かつ補正手段とし
て演算装置が必要となるので、装置の構成が複雑なもの
となる結果、装置の価格が高価なものとなるという問題
がある。
【0007】また、上記の寸法測定装置に使用する光学
レンズにおいては、測定に充分な解像度を得るには画角
を所定角度以下にする必要があり、その結果所要範囲の
視野を確保しようとすると光路長が長くなるために、装
置が大型化するという問題がある。
【0008】さらに上記の寸法測定装置において1個の
撮像手段でカバーする視野の範囲が被測定対象物の全幅
に足りない場合には、複数個の撮像手段を設ける必要が
あるが、隣接する撮像手段と位置調整やのデータを関連
づける演算処理が複雑になり、かつ測定値の校正作業に
手間がかかるという問題がある。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記問題を鑑み、本発
明の寸法測定装置は、被測定物の上下方向の位置に起因
する測定誤差を無くするとともに、構造が簡単でかつコ
ンパクトな寸法測定装置を提供することを目的としてい
る。
【0010】さらに、被測定物が幅の広いものであって
も測定精度が一定に維持できるとともに、視野の範囲を
拡張することが容易であり、かつ実際の生産ラインへの
設置が容易である寸法測定装置を提供することを目的と
している。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の寸法測定装置
は、一定方向に移動する被測定物の一方側に直線状の形
状を有する光源を配置し被測定物の他方側に撮像手段を
配置する寸法測定装置であって、前記撮像手段はライン
センサとセルフォックレンズアレイとからなる撮像ユニ
ットであることを特徴としている。
【0012】また、本発明の寸法測定装置は、複数個の
前記撮像ユニットを各撮像ユニットの撮像範囲が連続す
るように配列することによって、一定方向に移動する被
測定物の幅方向の撮像範囲を拡げることを特徴としてい
る。
【0013】また、本発明の寸法測定装置の前記撮像ユ
ニットはラインセンサとセルフォックレンズアレイとが
樹脂等により一体化されているものとすることができ
る。
【0014】さらに、本発明の寸法測定装置の前記光源
は撮像ユニットの撮像情報に基づいて光量を自動的に調
整する調光手段を備えるものとすることができる。
【0015】
【作用】本発明の寸法測定装置は、撮像手段としてライ
ンセンサとセルフォックレンズアレイからなる撮像ユニ
ットを用いているため、正立で等倍の像が撮像される。
その結果従来の光学レンズの場合と異なり、対象物の浮
き上がりがあっても像の大きさが変化することがなく、
一様な精度で測定することができる。さらに、セルフォ
ックレンズアレイを用いることによって光路長を短くす
ることが可能となり、装置の小型化が可能となる。
【0016】また、複数個の撮像ユニットを並べること
により容易に視野範囲を拡大することが可能であり、大
型の被測定対象物に対応することができる。
【0017】また、ラインセンサとセルフォックレンズ
アレイとを予め焦点距離を考慮して基体に一体化して組
み込んでおくことによって、光学系の調整が不要にな
り、寸法測定装置への取り付けが容易になる。とくに、
樹脂成型によってラインセンサとセルフォックレンズア
レイとが一体に組み込まれた撮像ユニットであれば、そ
の取扱が容易である。
【0018】また、セルフォックレンズアレイには、光
量を調整する絞り手段を取り付けることが困難である
が、セルフォクレンズで受光した像の情報から光源の光
量を自動的に調整する調光手段を備えることによって適
切な撮像を行うことができる。
【0019】
【発明の実施の形態】図をもって本発明の実施例につい
て説明する。いうまでもなく、本発明はこの実施例に限
定されるものではない。
【0020】図1は本発明にかかる寸法測定装置の一実
施例を示す外観図であり、寸法測定装置1はレール8上
を移動可能に設けられているC型フレーム2を機体とし
ている。C型フレーム2は上部フレーム21と下部フレ
ーム22と両者を繋ぐフレーム支柱23とからなり、上
部フレーム21と下部フレーム22との間は被測定物で
ある板状体が通過できるように十分な距離を確保してあ
る。
【0021】また、C型フレーム2は、直動案内軸受9
で保持されており、レール8上を移動することによって
寸法測定装置1を任意の測定位置に移動することができ
る。
【0022】C型フレーム2の上部フレーム21の中央
部には2本の直管タイプの蛍光灯4a、4bを水平方向
に並べて配置することによって照明として用いる。上部
フレーム21の下側に設けてある開口部には埃やごみ等
の侵入を防ぐためにガラス板24を取り付けてある。
【0023】C型フレーム2の下部フレーム22には複
数個の撮像ユニット3a〜3fが配置され、埃、ごみ等
の侵入を防ぐガラス板25が撮像ユニット3a〜3fの
上側に設けられている。本実施例では撮像ユニット3a
〜3fはその撮像有効長が300mmのものを使用して
おり、さらに長い視野を確保するために図2に示すよう
に撮像ユニットの撮像有効部の一部が重なるようにして
2列に配置する。図2の例では、撮像有効長が300m
mの撮像ユニット3を3個配列することによって840
mmの撮像有効長を実現している。さらに長い撮像有効
長が必要な場合には、同様にして撮像ユニット3を追加
することによって撮像有効長を延長することが可能であ
る。
【0024】図2に示すように、中央に400mmの不
感帯7を挟んで撮像有効長840mmの左エッジ検出部
5と右エッジ検出部6が設けられる。この結果、実施例
に示す寸法測定装置は、最短で400mmから最長で2
080mmまでの板状体の幅寸法を測定することが可能
である。なお、この不感帯7は必ずしも設ける必要はな
い。
【0025】図3は装置を側方から見た断面図であり、
撮像ユニット3a,3c,3d,3fの真上に蛍光灯4
aを配置し、撮像ユニット3b,3eの真上に蛍光灯4
bを配置することによって、照明光の光量が各々の撮像
ユニットにおいて均一になるように配慮されている。さ
らに、撮像ユニット3a〜3fの上側には埃、ごみ等の
侵入を防ぐガラス板25が取り付けられている。
【0026】次に撮像ユニット3の構造について説明す
る。撮像ユニット3は図4で示すように撮像ユニット基
体33の一方の端部にセルフォックレンズアレイ31を
配置し、もう一方の端部にCCDラインセンサ32を配
置して、セルフォックレンズアレイ31を通る光線がC
CDラインセンサ32上に像を結ぶように光軸が調整さ
れている。セルフォックレンズアレイ31は1mm程度
の径の筒状のセルフォックレンズを一直線上にすき間な
く並べてユニットとしたものであり、個々のセルフォッ
クレンズは正立で等倍の像を結ぶ性質を有するので、セ
ルフォックレンズを複数個配列したセルフォックレンズ
アレイ31は図5に示すように正立で等倍のライン画像
を得ることができる。
【0027】撮像ユニット3は図示しない制御装置に接
続されており、連続して移動する非測定物の画像を取り
込み、データの処理が行われる。また、蛍光灯4の照度
は、撮像ユニット3の画像およびその処理データから適
切な照度が判断されて、図示しない制御装置によって自
動的に光量調整が行われる。
【0028】次に実際の測定手順について説明する。板
状の被測定物が寸法測定装置の撮像ユニット3の上を通
過するときに、蛍光灯4の光は遮られて暗領域の画像と
なるが、このときの明領域と暗領域の境界が被測定物の
エッジの位置であり、この位置情報を板状の被測定物の
両端について正確に検出することによって被測定物の幅
寸法を検出することができる。
【0029】従って、板状の測定物が測定装置の上部フ
レーム21と下部フレーム22との間を通過する際に、
被測定物の右端が右エッジ測定部内にあり、被測定物の
左端が左エッジ測定部内にあるように測定装置1をレー
ル8上を移動させて調整する。次いで、寸法測定装置1
を図示しないクランプ手段によってずれ等が発生しない
ように固定する。被測定物は連続的に搬送されてくる
が、蛍光灯4の光量とCCDラインセンサ32の感度と
から適当なCCDラインセンサ32のスキャン速度を設
定する。
【0030】スキャンによって得られた画素データのう
ち、明領域と暗領域の境界が即ち非測定物のエッジであ
るので、左エッジ検出部5から得られた左エッジ位置デ
ータと右エッジ検出部6から得られた右エッジ位置デー
タとから、被測定物の幅寸法を算出する。撮像される画
像は等倍の画像であるので、幅寸法は容易に算出するこ
とが可能である。
【0031】本測定装置の撮像ユニット3に用いるセル
フォックレンズアレイ31は1mm程度の径の筒状のセ
ルフォックレンズを一直線上にすき間なく並べてユニッ
トとしたものであり、個々のセルフォックレンズは正立
で等倍の像を結ぶ性質を有する。したがって撮像した画
像から個々のセルフォックレンズの位置情報から複数個
配置された撮像ユニット3の位置決め作業と撮像範囲の
調整を容易に行うことができる。
【0032】
【発明の効果】倒立像が得られる従来の光学系では、撮
像する際の画角の影響で被測定対象物とレンズとの距離
が変化幅寸法の測定精度に影響を与えるという問題があ
る。また、従来の光学系では光路長を短くすることが困
難であるという問題がある。その結果、従来の寸法測定
装置では、測定精度を一定精度に維持することが困難で
あるとともに、装置を小型化することが困難であるとい
う問題があった。
【0033】本発明の寸法測定装置は、セルフォックレ
ンズアレイとCCDセンサとを組み合わせた光学系を採
用しているため、正立で等倍の像が解像度で得られると
ともに、光路長は従来の光学系に比較して遥かに短く、
また全領域で均一な解像度を得ることができる。その結
果、従来の光学系の持つ欠点である被測定物の浮き上が
りによる精度のばらつきが発生せず、さらに装置が小型
化されるとともに、撮像全領域にわたって均一な解像度
の像を得ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示す外観図である。
【図2】本発明の撮像ユニット部を示す平面図である。
【図3】本発明の断面でもって示した側面図である。
【図4】撮像ユニットの構造を示す説明図である。
【図5】セルフォックレンズアレイの光学系を説明する
説明図である。
【図6】従来の寸法装置の概要を説明する説明図であ
る。
【符号の説明】
1 寸法測定装置 2 C型フレーム 3、3a、3b、3c、3d、3e、3f 撮像ユニッ
ト 4、4a、4b 蛍光灯 5 左エッジ検出部 6 右エッジ検出部 7 不感帯 8 レール 9 直動案内軸受 21 上部フレーム 22 下部フレーム 23 フレーム支柱 24 ガラス板 25 ガラス板 31 セルフォックレンズアレイ 32 CCDラインセンサ 33 撮像ユニット基体 100 撮像装置 101 CCDラインセンサ 102 光学レンズ 103 光源 W 被測定対象物

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一定方向に移動する被測定物の一方側に
    直線状の形状を有する光源を配置し被測定物の他方側に
    前記光源に対向させて撮像手段を配置する寸法測定装置
    であって、前記撮像手段はラインセンサとセルフォック
    レンズアレイとからなる撮像ユニットであることを特徴
    とする寸法測定装置。
  2. 【請求項2】 複数個の前記撮像ユニットを各撮像ユニ
    ットの撮像範囲が連続するように配列することによっ
    て、一定方向に移動する被測定物の幅方向の撮像範囲を
    拡げることを特徴とする請求項1に記載の寸法測定装
    置。
  3. 【請求項3】 前記撮像ユニットはラインセンサとセル
    フォックレンズアレイとが樹脂等により一体化されてい
    ることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の寸
    法測定装置。
  4. 【請求項4】 前記光源は撮像ユニットの撮像情報に基
    づいて光量を自動的に調整する調光手段を備えることを
    特徴とする請求項1ないし請求項3に記載の寸法測定装
    置。
JP11082130A 1999-02-19 1999-02-19 寸法測定装置 Pending JP2000241125A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030057156A (ko) * 2001-12-28 2003-07-04 주식회사 크레텍 원단의 폭 검출 장치 및 그의 제어방법
EP1300354A3 (de) * 2001-10-06 2004-06-23 Koenig & Bauer Aktiengesellschaft Einrichtung zum Erfassen der Lage einer Kante eines Verarbeitungsgutes
JP2009168581A (ja) * 2008-01-15 2009-07-30 Saki Corp:Kk 被検査体の検査装置
WO2023210154A1 (ja) * 2022-04-27 2023-11-02 浜松ホトニクス株式会社 厚み分布計測装置および厚み分布計測方法

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