JP2000216885A - 加入者ル―プインタ―フェ―スを試験するための装置及び、方法 - Google Patents

加入者ル―プインタ―フェ―スを試験するための装置及び、方法

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JP2000216885A
JP2000216885A JP11350761A JP35076199A JP2000216885A JP 2000216885 A JP2000216885 A JP 2000216885A JP 11350761 A JP11350761 A JP 11350761A JP 35076199 A JP35076199 A JP 35076199A JP 2000216885 A JP2000216885 A JP 2000216885A
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Christopher Ludeman
ルードマン クリストファー
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明の目的は、試験中に加入者が、締め
出されることなく、加入者ループインターフェースを試
験するための装置及び、方法を提供することである。 【解決手段】 加入者ループインターフェース回路の
部分を内部的に試験する方法及び、装置である。試験
は、加入者ループインターフェース回路を有する半導体
回路で行われてもよい。試験される加入者ループインタ
ーフェース回路の部分は、呼出しトリップ検出器及び／
又は、フック検出回路である。試験は、加入者ループイ
ンターフェース回路の機能を中断にせずに行われ、加入
者のフック状態を監視できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、加入者ループイン
ターフェースを有する半導体集積回路に関し、特に、加
入者ループインターフェース回路の動作を内部的に試験
する回路を有する加入者ループインターフェースを有す
る半導体集積回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】加入者ループインターフェース回路（以
後ＳＬＩＣと称す。）は、住宅用電話加入者のような加
入者と加入者ネットワークとの間のインターフェースと
して採用されている。ＳＬＩＣは、２対４線変換、電池
給電、線監視又は、同相除去等の機能を提供する。
【０００３】加入者ループは、ＳＬＩＣ、加入者端末装
置（例えば、電話）、及び、ＳＬＩＣと加入者端末装置
に接続された加入者線対を有する。加入者ループの中で
ＳＬＩＣを使用する既知の技術は、切り換え局として働
く中央営業所が、各加入者に対して中央営業所として働
くＳＬＩＣを有する。中央営業所は、呼出し信号、トー
ン信号又は、入力される通信を各ＳＬＩＣに接続するリ
レーも有する。
【０００４】信頼性を高く維持するために、中央営業所
は、加入者ループの完全性を試験する目的の専用のハー
ドウェアとソフトウェアを有する。試験装置は、加入者
ループインターフェース回路の完全性を試験するハード
ウェアとソフトウェアを有しうる。試験ハードウェア
は、中央営業所にあり、幾つかの加入者ループを試験す
るのに共有される。中央営業所は、加入者ループインタ
ーフェース回路を試験ハードウェアへ接続する電気機械
的リレー又は、固体スイッチを有しても良い。
【０００５】中央営業所でＳＬＩＣを試験することは、
通常、大規模で且つ、漏洩、容量、検出、戻り損失及
び、連続試験を含む。中央営業所でＳＬＩＣを試験する
ことは、ループバック試験も含む。典型的には、ループ
バック試験は、ＳＬＩＣの２つの加入射線端末に亘って
負荷を配置し、結果の電流を測定することにより行われ
る。負荷は６００オームの抵抗であっても良い。負荷
は、典型的には、チップ外に配置され、試験中に負荷に
より発生され得る熱からＳＬＩＣ半導体を保護する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ループバック試験のこ
の技術の間、ＳＬＩＣは、加入者の受話器がはずされた
ことを示す（オフフック）信号を検出できず、それゆ
え、試験中は加入者は、締め出される。試験は、他の加
入者環境でも必要とされる。ループキャリアシステムで
は、ＳＬＩＣは、遠隔局で採用されている。一般的に、
各遠隔局は、少数の加入者として働き、中央営業所と物
理的又は無線接続される。ループキャリアシステムは、
典型的には、大きさが小さく、住宅用電話システムより
コストが高い。遠隔局にＳＬＩＣ試験を供給すること
は、コストを増大し、ループキャリアシステムを構築す
るのにオーバーヘッドがかかる。しかし、遠隔局のコス
トもかかる。
【０００７】本発明の目的は、試験中に加入者が、締め
出されることなく、加入者ループインターフェースを試
験するための装置及び、方法を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、この目
的は、以下により達成される。本発明は、呼出し信号が
加入者ループにある間に、オフフック信号を検出するた
めに、加入者ループの受信信号に適用される呼出しトリ
ップ検出器を有する加入者ループインターフェース回路
を有する半導体集積回路であって、集積回路は、前記呼
出しトリップ検出器を試験するために前記呼出しトリッ
プ検出器に機能的に結合された第１の試験手段を有し、
前記第１の試験手段は、前記呼出しトリップ検出器の複
数の入力端子のうちの少なくとも１つに第１の電流信号
を供給する手段を有し、供給された電流信号は、前記呼
出しトリップ検出器にトリガをかけるのに充分な大きさ
であることを特徴とする半導体集積回路を有する。
【０００９】本発明の目的は、加入者ループインターフ
ェース回路の呼出しトリップ検出部を試験するための回
路を有する加入者ループインターフェース回路を有する
半導体集積回路を提供することである。本発明の他の目
的は、加入者ループインターフェース回路のオフフック
検出部を試験するための回路を有する加入者ループイン
ターフェース回路を有する半導体集積回路を提供するこ
とである。
【００１０】本発明は、加入者ループインターフェース
回路の部分を内部的に試験する方法であって、（ａ）加
入者ループインターフェース回路に機能的に結合した加
入者線の信号を検出するステップと、（ｂ）検出された
信号が、オフフック加入者を示す第１信号しきい値以下
の間に試験を開始するステップと、（ｃ）加入者ループ
インターフェース回路の呼出しトリップ検出器部を試験
するステップを有することを特徴とする方法を有する。
【００１１】
【発明の実施の形態】図１は、半導体回路１２の加入者
ループインターフェース回路１０を示し、加入者ループ
フィード回路１４、呼出しトリップ検出器１６、試験初
期化装置１８、第１の試験器２０、第２の試験器２２及
び、試験出力ゲート２４を有する。オフフック検出回路
２６は、加入者ループフィード回路１４の一部であって
も良い。
【００１２】動作において、呼出しトリップ検出器１６
とオフフック検出器２６の両方の試験は、単一の制御端
子２８に信号を与えることにより開始され得る。端末
は、半導体回路１２と、ＳＬＩＣ１０及び／又は、ＳＬ
ＩＣの部分の結合であると考えられる。試験は、加入者
ループインターフェース回路で受信されたディジタル命
令信号により活性化された内部ノードを使用して開始さ
れても良い。命令信号は、受信されたときに、所定の数
の他のＳＬＩＣ状態から試験状態を開始し得る。
【００１３】典型的なＳＬＩＣ設計では、中央呼出し装
置で生成された高電圧信号の呼出し信号は、通常、呼出
しトリップ検出器端子３２に与えられる。呼出しトリッ
プ検出器端子３２の入力信号はＳＬＩＣが非呼出し状態
である限り、同一である。加入者端末装置の呼出しは、
一般的に、中央営業所が、”呼出し”状態を開始し、且
つ、（例えば、加入者ループで構成される）加入者端末
装置を呼出しトリップ検出端子に接続する呼出しリレー
を活性化する制御符号をＳＬＩＣに送ることにより行わ
れる。呼出しリレーが活性化されると、呼び鈴回路のよ
うな負荷が、加入者ループの加入射線に亘って配置され
る得る。負荷は、呼出しトリップ端子の電圧又は、電流
を不均衡にする。典型的には、呼出しトリップ検出器１
６は、呼出しトリップ検出器端子３２で、呼出し中にオ
フフック状態を示す十分な大きさの差を検出するため
に、電圧又は、電流の間の差（不均衡）を監視する。呼
出し中は、電圧又は、電流の間の差は、通常、呼出しト
リップ検出器で設定されたしきい値を、開放するのに充
分でない。呼出し中に、加入者端末装置がオフフック状
態に置かれると、加入者線に亘る負荷が非常に増加す
る。負荷の上昇は、呼出しトリップ装置端子で、検出器
を開放するのに十分なＤＣ電流差を起こす可能性がある
（即ち、”呼出しトリップ”又は、”オフフック”状態
が示される）。ＡＣ電流差は、典型的には、キャパシタ
を使用してフィルタされる。
【００１４】従来のＳＬＩＣ設計では、呼出しトリップ
検出器端子で、電流及び、電圧差がある限り、呼出しト
リップ検出器は、ＳＬＩＣの他の部分で使用するための
ゼロクロス信号を発生する。試験が開始されると、試験
初期化器１８は、信号を、線３０を介して第１の試験器
２０へ送る。第１の試験器２０は、少なくとも１つの呼
出しトリップ検出器端子３２に接続された、電流源を有
しても良い。第１の試験器２０は、試験初期化器１８に
応じて、呼出しトリップ検出器端子３２の同一の入力信
号の均衡を崩す。入力信号を不均衡にすることの目的
は、呼出しトリップ検出器１６への入力でオフフック状
態を模擬し、線３４上に出力信号ＲＴＤのトリガをかけ
ることである。出力信号ＲＴＤの活性化は、呼出しトリ
ップ検出器１６が正しく動作していることを示す。呼出
しトリップ検出器１６は、呼出しトリップ検出器端子３
２の信号が充分に不均衡な間は、矩形波信号のようなゼ
ロクロス信号を常に発生する。ゼロクロス信号は、２倍
の呼出し周波数で発生され得る。
【００１５】出力信号ＲＴＤは、第２の試験器２２で受
信されたときに、第２の試験器２２を活性化し得る。出
力信号ＲＴＤは、模擬されたオフフック加入者状態を示
す第１信号しきい値と、実際のオフフック加入者状態を
示す（第１信号しきい値より大きい）第２信号しきい値
を選択するオフフック検出回路で受信される。活性化さ
れたときは、第２の試験器２２は、加入者ループに亘っ
て、オフフック検出回路２６を活性化するのに充分な画
定された電流源を配置しうる。第２の試験器２２は、線
４０に亘って接続された電流源を有しうる。オフフック
検出回路２６が、第１信号しきい値を検出したときに、
オフフック検出回路は、内部切り換えフック検出信号を
線３８に発生する。
【００１６】加入者ループフィード回路１４は、線４０
の電圧又は、電流信号を検出する回路を有しうる。線４
０の信号を検出する技術は、ＳＬＩＣ設計技術では、一
般的に知られている。線３８上の内部切り換えフック検
出信号は、オフフック検出回路が正しく動作しているこ
とを示しうる。内部切り換え検出信号は、ゼロクロス信
号と共に試験出力ゲート２４で受信され、試験結果の指
示として、呼出し周波数で、パルス出力信号を発生す
る。パルス出力信号は、加入者ループインターフェース
回路の単一の端子４４に配置され得る。ＳＬＩＣへ命令
信号を送る命令信号は既存の端子上に配置され、また、
出力端子４４は他のＳＬＩＣ機能と２重に使用され得る
ので、加入者ループインターフェース回路を内部で試験
するのに更なるリード線や端子は必要とされない。
【００１７】試験中は、加入者線（ＴＩＰ及び、ＲＩＮ
Ｇ）に接続された加入者端末装置はオフフック状態（即
ちオフフック加入者）に置かれ得る。オフフック検出回
路２６は、オフフック加入者を検出するために線４０を
流れる電流の所定の上昇を監視し得る。例えば、オフフ
ック検出回路は、（検出された模擬されたオフフック加
入者を示す）第１信号しきい値と、線４０上の信号の差
を決定するために、線４０上の信号を測定する。線４０
上の信号が第２信号しきい値へ達したとき、オフフック
検出回路２６は、実際のオフフック状態を示すようにト
リガをかけ得る。オフフック検出回路は、模擬されたオ
フフック加入者を示す第１信号しきい値を検出する第１
の比較器と、オフフック加入者を示す第２信号しきい値
を検出する第２の比較器を有する。信号しきい値を２つ
に分けることは、呼出しトリップ検出器１６からの出力
信号ＲＴＤを用いて選択し得る。試験中に、オフフック
加入者が検出されたときには、オフフック検出回路２６
は、線４２に、試験初期化器１８と試験出力ゲート２４
へ供給される、試験中止信号を発生する。試験中止信号
は、試験出力ゲートのパルス信号を連続して”ロー”と
する。加入者ループインターフェース回路の非試験動作
では、オフフック加入者は、オフフック検出回路２６の
第１信号しきい値の検出により認識される。２つの信号
しきい値を使用した第１の試験器２０と第２の試験器２
２は、試験中に、加入者ループインターフェース回路を
無効にすること無しに、オフフック検出回路と呼出しト
リップ検出器の連続した試験を可能とする。
【００１８】出力信号ＲＴＤは、加入者ループインター
フェース回路のＤＣ給電回路部（図示していない）でも
受信される。出力信号ＲＴＤの受信に応じて、ＤＣ給電
回路は、加入者ループインターフェース回路の加入者線
端子（ＴＩＰ及び、ＲＩＮＧ端子）３６に供給される電
圧を制御する。それにより、試験中に端子３６に亘って
一定の所定値が維持される。加入射線端子３６を亘った
電圧は、試験中は一定電圧が画定され、それによって、
ループに給電する完全なループ電圧が利用できる。試験
中にループ電圧を一定に維持することは、加入者ループ
インターフェース回路が非試験時と同じオフフック検出
性能を有することを許す。
【００１９】加入者ループインターフェース回路のルー
プフィード特性は、試験中に第２信号しきい値が検出さ
れるまでＳＬＩＣが一定電圧モードの場合を除いて、試
験中及び、他のＳＬＩＣ動作中で同じである。加入者ル
ープインターフェース回路の部分を内部的に試験する方
法及び、装置である。試験は、加入者ループインターフ
ェース回路を有する半導体回路で行われてもよい。試験
される加入者ループインターフェース回路の部分は、呼
出しトリップ検出器及び／又は、フック検出回路であ
る。試験は、加入者ループインターフェース回路の機能
を中断にせずに行われ、加入者のフック状態を監視でき
る。
【００２０】
【発明の効果】本発明によれば、試験中に加入者が、締
め出されることなく、加入者ループインターフェースを
試験するための装置及び、方法をを提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の加入者ループインターフェース回路を
有する半導体回路の実施例の機能ブロック図を示す図で
ある。
【符号の説明】
１０ 加入者ループインターフェース回路 １２ 半導体回路 １４ 加入者ループフィード回路 １６ 呼出しトリップ検出器 １８ 試験初期化装置 ２０ 第１の試験器 ２２ 第２の試験器 ２４ 試験出力ゲート ２６ オフフック検出回路
【手続補正書】
【提出日】平成１２年２月１５日（２０００．２．１
５）
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図１】

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 呼出し信号が加入者ループにある間に、
    オフフック信号を検出するために、加入者ループの受信
    信号に適用される呼出しトリップ検出器を有する加入者
    ループインターフェース回路を有する半導体集積回路で
    あって、 集積回路は、前記呼出しトリップ検出器を試験するため
    に前記呼出しトリップ検出器に機能的に結合された第１
    の試験手段を有し、 前記第１の試験手段は、前記呼出しトリップ検出器の複
    数の入力端子のうちの少なくとも１つに第１の電流信号
    を供給する手段を有し、 供給された電流信号は、前記呼出しトリップ検出器にト
    リガをかけるのに充分な大きさであることを特徴とする
    半導体集積回路。
  2. 【請求項２】 加入者ループインターフェース回路は、
    加入者ループ上のオフフック信号を検出するためのオフ
    フック検出部を有し、 前記第１の手段に応答し、且つ、前記オフフック検出部
    を内部的に試験する前記オフフック検出部に機能的に結
    合した第２の試験手段を更に有する請求項１記載の半導
    体集積回路。
  3. 【請求項３】 前記第２の試験手段は、第２の電流信号
    を、前記オフフック検出部の両方の入力端子へ供給する
    手段を有することを特徴とする請求項２記載の回路。
  4. 【請求項４】 前記第２の試験手段は、前記オフフック
    検出部に、第１及び、第２信号しきい値を検出する手段
    を有することを特徴とする請求項３記載の回路。
  5. 【請求項５】 加入者ループのオフフック信号を検出す
    るオフフック検出回路を有する加入者ループインターフ
    ェース回路を有する半導体集積回路であって、 集積回路は、前記オフフック検出部を内部的に試験する
    試験手段を有し、 前記試験手段は、前記オフフック検出回路の両方の入力
    端子へ電流信号を供給する手段を有し、 前記試験手段は、前記オフフック検出回路に、第１及
    び、第２信号しきい値を検出する手段を有することを特
    徴とする半導体集積回路。
  6. 【請求項６】 （ｉ）加入者ループに呼出し信号がある
    間にオフフック信号を検出する、加入者ループの信号を
    受信するのに適用される呼出しトリップ検出器と、 （ｉｉ）加入者端末装置とオフフック通信を確立するた
    めの、加入者ループの加入者端末装置からの信号を受信
    するのに適用される、加入者ループのオフフック信号を
    検出するオフフック検出部を有する加入者ループフィー
    ド回路を有する加入者ループインターフェース回路を有
    する半導体集積回路であって、 集積回路は、前記呼出しトリップ検出器を試験するため
    に前記呼出しトリップ検出器に機能的に結合された第１
    の試験手段と、 前記第１の手段に応答し、且つ、前記オフフック検出部
    を内部的に試験する前記加入者ループフィード回路に機
    能的に結合した第２の検査手段とを有することを特徴と
    する半導体集積回路。
  7. 【請求項７】 加入者ループに機能的に結合し、オフフ
    ック加入者を示す第１信号しきい値を検出するオフフッ
    ク検出回路と、呼出し信号が加入者ループにある間にオ
    フフック信号を検出する呼出しトリップ検出器とを有す
    る加入者ループインターフェース回路であって、 オフフック検出回路は、第１信号しきい値よりも大きい
    第２信号しきい値を検出する手段と、 試験を開始する命令信号を受信するのに適用され、前記
    呼出しトリップ検出器と前記オフフック検出回路の内部
    試験を開始する初期化手段と、 前記初期化手段に応答し、前記呼出しトリップ検出器を
    試験する、前記呼出しトリップ検出器に機能的に結合し
    た第１の試験手段と、 前記第１の試験手段に応答し、オフフック加入者を示す
    第２信号しきい値と、模擬オフフック加入者を示す第１
    のしきい値とを選択する、前記呼出しオフフック検出器
    に機能的に結合したしきい値選択手段と、 第１信号しきい値を検出するオフフック検出回路を試験
    する前記第１の試験手段に応答する第２の試験手段と、 第２信号しきい値を検出する前記オフフック検出回路に
    応答して、加入者ループインターフェース回路の内部的
    な試験を中断する、中断手段とを有することを特徴とす
    る加入者ループインターフェース回路。
  8. 【請求項８】 前記第１の試験手段は、前記呼出しトリ
    ップ検出器の入力端子の少なくとも１つに電流信号を供
    給する手段を有し、 前記第２の試験手段は、前記オフフック検出回路の両方
    の入力端子へ電流信号を供給する手段を有することを特
    徴とする請求項７記載の加入者ループインターフェース
    回路。
  9. 【請求項９】 加入者ループインターフェース回路の部
    分を内部的に試験する方法であって、 （ａ）加入者ループインターフェース回路に機能的に結
    合した加入者線の信号を検出するステップと、 （ｂ）検出された信号が、オフフック加入者を示す第１
    信号しきい値以下の間に試験を開始するステップと、 （ｃ）加入者ループインターフェース回路の呼出しトリ
    ップ検出器部を試験するステップを有することを特徴と
    する方法。
  10. 【請求項１０】 呼出しトリップ検出器の試験に応答し
    て、オフフック加入者を示す第２信号しきい値と、模擬
    されたオフフック加入者を示す第１信号しきい値とを選
    択するステップと、 第１信号しきい値を検出する、加入者ループインターフ
    ェース回路のオフフック検出部を試験するステップと、 第２信号しきい値を検出するステップと、 第２信号しきい値の検出に応じて加入者ループインター
    フェース回路の全ての試験を中断するステップとを有す
    ることを特徴と請求項９記載の方法。
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