JP2000216761A - Demodulation circuit - Google Patents
Demodulation circuitInfo
- Publication number
- JP2000216761A JP2000216761A JP11014670A JP1467099A JP2000216761A JP 2000216761 A JP2000216761 A JP 2000216761A JP 11014670 A JP11014670 A JP 11014670A JP 1467099 A JP1467099 A JP 1467099A JP 2000216761 A JP2000216761 A JP 2000216761A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- edge detection
- demodulation
- fifo memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は復調回路、特にバイ
フェーズ符号信号の復調回路に関する。The present invention relates to a demodulation circuit, and more particularly to a demodulation circuit for a biphase code signal.
【0002】[0002]
【従来の技術】バイフェーズ符号信号の復調回路又は復
調方法は周知である。例えば、特開平8−84161号
公報の「バイフェーズ符号を用いたシリアル通信装置用
受信検知回路装置」、特開昭64−71326号公報の
「バイフェーズ信号の復調方法」、特開昭63−268
314号公報の「復調装置」、特開平7−95188号
公報の「非同期ディジタル通信方法および装置」及び特
開昭63−104525号公報の「ディジタル変復調回
路」等に開示されている。2. Description of the Related Art A demodulation circuit or a demodulation method of a biphase code signal is well known. For example, "Reception detection circuit device for serial communication device using bi-phase code" in JP-A-8-84161, "Bi-phase signal demodulation method" in JP-A-64-71326, and JP-A-63-84161. 268
No. 314, "Demodulation device", Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-95188, "Asynchronous Digital Communication Method and Device", and Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-104525, "Digital Modulation / Demodulation Circuit".
【0003】これら従来技術は、いずれもバイフェーズ
符号信号からクロック成分を抽出し、これを復調回路側
の受信クロック信号としている。In each of these prior arts, a clock component is extracted from a biphase code signal, and this is used as a received clock signal on the demodulation circuit side.
【0004】この従来技術は、確実に受信データが再生
できるという利点を有する反面、データ伝送の際に生じ
る信号波形歪、ノイズ、ビットレートの変動があった場
合に、抽出される受信クロック信号の周波数が変動して
しまうという欠点があった。その為に、この受信クロッ
クを用いて再生するNRZ符号信号の信号幅にも変動が
生じ、復調側の信号処理が安定しない。特に、抽出した
受信クロックを復調側の動作クロックとしている同期回
路の場合には、変動する動作クロックに追従して一連の
処理が行われる為に、一定時間の信号幅のパルスを必要
とするデバイスを復調側で使用する場合等には、上述し
た現象は復調側の動作不安定を引き起こす虞れがある。This prior art has the advantage that the received data can be reliably reproduced, but on the other hand, when there is a signal waveform distortion, noise, or a change in the bit rate that occurs during data transmission, the received clock signal to be extracted is changed. There is a disadvantage that the frequency fluctuates. For this reason, the signal width of the NRZ code signal reproduced using the received clock also fluctuates, and the signal processing on the demodulation side becomes unstable. In particular, in the case of a synchronous circuit in which the extracted reception clock is used as the operation clock on the demodulation side, since a series of processing is performed following the fluctuating operation clock, a device that requires a pulse having a signal width of a certain time is required. For example, when the signal is used on the demodulation side, the above-described phenomenon may cause unstable operation on the demodulation side.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】バイフェーズ符号信号
から抽出されるクロック信号を復調側の受信クロックと
して使用する場合の受信クロックの安定度に依存する復
調側の動作を改善する必要がある。There is a need to improve the operation of the demodulation side which depends on the stability of the reception clock when the clock signal extracted from the bi-phase code signal is used as the reception clock of the demodulation side.
【0006】そこで、本発明の目的は、バイフェーズ符
号信号の復調動作速度を一定に保ち、且つ高安定度のバ
イフェーズ符号信号用の復調回路を提供することにあ
る。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a demodulation circuit for a bi-phase code signal having a high stability while keeping the demodulation operation speed of the bi-phase code signal constant.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
め、本発明による復調回路は、次のような特徴的な構成
を採用している。In order to solve the above-mentioned problems, the demodulation circuit according to the present invention employs the following characteristic configuration.
【0008】(1)入力信号レベルの変化点を検出する
エッジ検出回路と、該エッジ検出回路のエッジ検出信号
に基づき前記入力信号のサンプリングタイミングを補正
するサンプリングタイミング補正回路と、該サンプリン
グタイミング補正回路のライトパルスに基づいて前記入
力信号を格納し、一定周期で読み出すFIFOメモリ
と、を備える復調回路。(1) An edge detection circuit for detecting a change point of an input signal level, a sampling timing correction circuit for correcting a sampling timing of the input signal based on an edge detection signal of the edge detection circuit, and the sampling timing correction circuit And a FIFO memory for storing the input signal based on the write pulse and reading the input signal at a constant period.
【0009】(2)前記エッジ検出回路の前段に前記入
力信号のノイズを除去するノイズフィルタを設ける上記
(1)の復調回路。(2) The demodulation circuit according to (1), wherein a noise filter for removing noise of the input signal is provided at a stage preceding the edge detection circuit.
【0010】(3)前記入力信号は、バイフェーズ符号
信号である上記(1)又は(2)の復調回路。(3) The demodulation circuit according to (1) or (2), wherein the input signal is a biphase code signal.
【0011】(4)前記FIFOメモリの読み出しデー
タをNRZ符号信号に変換する符号変換回路を有する上
記(3)の復調回路。(4) The demodulation circuit according to (3), further comprising a code conversion circuit for converting the data read from the FIFO memory into an NRZ code signal.
【0012】(5)前記フィルタ回路は、縦続接続され
た複数段のDフリップフロップ、ANDゲート、インバ
ータ及びJKフリップフロップで構成する上記(2)の
復調回路。(5) The demodulation circuit according to (2), wherein the filter circuit comprises a plurality of cascade-connected D flip-flops, AND gates, inverters and JK flip-flops.
【0013】(6)前記エッジ検出回路は、Dフリップ
フロップとEX−ORゲートで構成する上記(1)及至
(5)のいずれかの復調回路。(6) The demodulation circuit according to any one of (1) to (5), wherein the edge detection circuit comprises a D flip-flop and an EX-OR gate.
【0014】(7)前記サンプリングタイミング補正回
路は、ライトパルス発生器と、カウンタとにより構成さ
れる上記(1)及至(6)のいずれかの復調回路。(7) The demodulation circuit according to any one of the above (1) to (6), wherein the sampling timing correction circuit comprises a write pulse generator and a counter.
【0015】(8)クロック信号発生器と、入力信号の
ノイズを除去するフィルタ回路と、該フィルタ回路の出
力信号のエッジを検出するエッジ検出回路と、該エッジ
検出回路のエッジ検出信号に応じてタイミング補正する
サンプリングタイミング補正回路と、該サンプリングタ
イミング補正回路の出力で前記フィルタ回路の出力デー
タを取込むFIFOメモリと、該FIFOメモリの格納
データを前記クロック信号発生器のクロック信号で周期
的に読み出す読み出し制御回路とを備える復調回路。(8) A clock signal generator, a filter circuit for removing noise of an input signal, an edge detection circuit for detecting an edge of an output signal of the filter circuit, and an edge detection signal of the edge detection circuit A sampling timing correction circuit for correcting timing, a FIFO memory for taking in output data of the filter circuit at an output of the sampling timing correction circuit, and periodically reading data stored in the FIFO memory with a clock signal of the clock signal generator A demodulation circuit including a read control circuit.
【0016】[0016]
【発明の実施の形態】以下、本発明による復調回路の好
適実施形態例を添付図を参照して詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of a demodulation circuit according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.
【0017】先ず、図1は、本発明の復調回路の好適実
施形態例のブロック図である。この復調回路は、クロッ
ク信号発生器1、フィルタ回路2、エッジ検出回路3、
サンプリングタイミング補正回路4、FIFO(先入れ
先出し)メモリ5、読み出し制御回路6及び符号変換回
路7より構成される。FIG. 1 is a block diagram of a preferred embodiment of a demodulation circuit according to the present invention. This demodulation circuit includes a clock signal generator 1, a filter circuit 2, an edge detection circuit 3,
It comprises a sampling timing correction circuit 4, a FIFO (first in first out) memory 5, a read control circuit 6, and a code conversion circuit 7.
【0018】クロック信号発生器1は、上述した各構成
素子が動作する為に必要なクロック信号を発生する。フ
ィルタ回路2は、入力されるバイフェーズ符号信号のノ
イズ除去を行う。エッジ検出回路3は、信号レベルの変
化(エッジ)を検出する。サンプリングタイミング補正
回路4は、入力信号のサンプリングタイミングを制御す
る。FIFOメモリ5は、サンプリング回路がサンプリ
ングしたデータを格納(記憶)する。読み出し制御回路
6は、FIFOメモリ5のデータ読み出しを制御する。
符号変換回路7は、NRZ(non−return−t
o−zero:非ゼロ復帰)符号変換を行う。The clock signal generator 1 generates a clock signal necessary for the above-described components to operate. The filter circuit 2 removes noise from the input biphase code signal. The edge detection circuit 3 detects a change (edge) in the signal level. The sampling timing correction circuit 4 controls the sampling timing of the input signal. The FIFO memory 5 stores (stores) data sampled by the sampling circuit. The read control circuit 6 controls data read from the FIFO memory 5.
The code conversion circuit 7 has an NRZ (non-return-t
(o-zero: non-zero return) Code conversion is performed.
【0019】図1の復調回路にあっては、入力されるバ
イフェーズ符号信号のビットレートの16倍の周波数の
クロック信号を動作クロックとしてクロック信号発生器
1で発生して使用する。入力データは、フィルタ回路2
によってノイズの除去を行った後、エッジ検出回路3に
て信号レベルの変化点が検出される。このエッジ検出回
路3により検出される信号レベルの変化を利用すること
により、入力されるデータのサンプリングタイミングを
変化させ、非同期にFIFOメモリ5に格納する。次
に、周期的にFIFOメモリ5からデータを読み出し
て、符号変換回路7で符号変換を行うことによりNRZ
符号信号を得るものである。In the demodulation circuit shown in FIG. 1, a clock signal generator 1 generates and uses a clock signal having a frequency 16 times the bit rate of the input biphase code signal as an operation clock. Input data is input to the filter circuit 2
Then, the edge detection circuit 3 detects a change point of the signal level. By utilizing the change in the signal level detected by the edge detection circuit 3, the sampling timing of the input data is changed and stored in the FIFO memory 5 asynchronously. Next, data is periodically read from the FIFO memory 5 and code conversion is performed by the code conversion circuit 7 to obtain the NRZ.
A code signal is obtained.
【0020】図2は、図1の復調回路中のサンプリング
タイミング補正回路4の詳細ブロック図である。このサ
ンプリングタイミング補正回路4は、ライト(書き込
み)パルス発生器8とカウンタ9とにより構成される。
ライトパルス発生器8とカウンタ9のクロック端子に
は、入力されるバイフェーズ符号信号のビットレートの
16倍の周波数のクロック信号S1がクロック信号発生
器1により発生されて入力される。また、ライトパルス
発生器8のED端には、エッジ検出回路3からのエッジ
検出信号S11が入力される。ライトパルス発生器8の
W(書き込み)端から書き込み制御信号S12が出力さ
れる。更に、ライトパルス発生器8のLD端からの出力
信号S20はカウンタ9のLD端に入力され、カウンタ
9のCY端からの出力信号S21は、ライトパルス発生
器8のCY端に入力される。FIG. 2 is a detailed block diagram of the sampling timing correction circuit 4 in the demodulation circuit of FIG. The sampling timing correction circuit 4 includes a write (write) pulse generator 8 and a counter 9.
To the clock terminals of the write pulse generator 8 and the counter 9, a clock signal S1 having a frequency 16 times the bit rate of the input biphase code signal is generated by the clock signal generator 1 and input. The edge detection signal S11 from the edge detection circuit 3 is input to the ED end of the write pulse generator 8. A write control signal S12 is output from the W (write) end of the write pulse generator 8. Further, the output signal S20 from the LD end of the write pulse generator 8 is input to the LD end of the counter 9, and the output signal S21 from the CY end of the counter 9 is input to the CY end of the write pulse generator 8.
【0021】次に、図1及び図2を参照して更に詳細に
説明する。フィルタ回路2は、4個のDフリップフロッ
プ、ANDゲート、インバータ(反転回路)及びJKフ
リップフロップにより構成される。入力信号S2が初段
のDフリップフロップとANDゲートに入力される。更
に、各Dフリップフロップの出力信号S3、S4、S5
及びS6もANDゲートに入力する。Next, a more detailed description will be given with reference to FIGS. The filter circuit 2 includes four D flip-flops, an AND gate, an inverter (inverting circuit), and a JK flip-flop. The input signal S2 is input to the first-stage D flip-flop and the AND gate. Further, output signals S3, S4, S5 of each D flip-flop
And S6 are also input to the AND gate.
【0022】また、最終段のDフリップフロップの出力
信号S6は、インバータで反転されてS8をJKフリッ
プフロップのK端子に入力し、ANDゲートの出力信号
S7をJKフリップフロップのJ端子に入力する。その
結果、JKフリップフロップからの出力信号S9は、入
力信号S2に重畳されるノイズを除去した信号となる。
これにより、次段に接続されるエッジ検出回路3を補助
するものであり、ノイズによるエッジの検出による誤動
作又は不安定性を防止する。The output signal S6 of the last stage D flip-flop is inverted by an inverter, and S8 is input to the K terminal of the JK flip-flop, and the output signal S7 of the AND gate is input to the J terminal of the JK flip-flop. . As a result, the output signal S9 from the JK flip-flop is a signal from which noise superimposed on the input signal S2 has been removed.
This assists the edge detection circuit 3 connected to the next stage, and prevents malfunction or instability due to edge detection due to noise.
【0023】図4は、図1のフィルタ回路2の動作を説
明する為のタイミングチャートである。図4中、
(A)、(B)、(C)、(D)、(E)、(F)、
(G)、(H)及び(I)は、夫々図1中の各回路素子
からの出力信号S1、S2、S3、S4、S5、S6、
S7、S8及びS9を示す。図4のタイミングチャート
から理解される如く、入力信号S2にノイズが含まれて
いる場合でも、出力信号S9からはノイズが除去され
る。FIG. 4 is a timing chart for explaining the operation of the filter circuit 2 of FIG. In FIG.
(A), (B), (C), (D), (E), (F),
(G), (H) and (I) show output signals S1, S2, S3, S4, S5, S6,
S7, S8 and S9 are shown. As understood from the timing chart of FIG. 4, even when the input signal S2 contains noise, the noise is removed from the output signal S9.
【0024】次に、フィルタ回路2でノイズ除去された
バイフェーズ符号信号S9は、エッジ検出回路3とFI
FOメモリ5に入力される。図3に、バイフェーズ符号
信号の例を示す。入力されるデータの羅列がどのようで
あっても、1ビットに1度は必ず信号レベルの変化点が
生じる。換言すると、1ビットに1度のエッジが発生す
る。本発明では、この特性を利用し、入力されるデータ
のサンプリングタイミングを変化させ、非同期にFIF
Oメモリ5に格納し、また周期的にFIFOメモリ5か
らデータを読み出すことによってNRZ符号信号に復調
するものである。Next, the bi-phase code signal S9 from which noise has been removed by the filter circuit 2 is supplied to the edge detection circuit 3 and the FI
Input to the FO memory 5. FIG. 3 shows an example of a biphase code signal. Regardless of the sequence of input data, a change point in signal level always occurs once per bit. In other words, one edge occurs per bit. In the present invention, utilizing this characteristic, the sampling timing of input data is changed,
The data is stored in the O memory 5 and is periodically demodulated into an NRZ code signal by reading data from the FIFO memory 5.
【0025】フィルタ回路2でノイズが除去されたバイ
フェーズ符号信号S9は、エッジ検出回路3に入力され
ると、LレベルからHレベル、又はHレベルからLレベ
ルへ信号S9が変化するエッジ(変化点)を検出して、
エッジ検出信号S11を出力する。このエッジ検出回路
3は、DフリップフロップとEX−ORゲート(排他論
理和)とにより構成される。バイフェーズ符号信号S9
は、Dフリップフロップに入力され、出力信号S10及
び上述したバイフェーズ符号信号S9をEX−ORゲー
トに入力して、エッジ検出信号S11を得る。When the bi-phase code signal S9 from which noise has been removed by the filter circuit 2 is input to the edge detection circuit 3, the edge (change) at which the signal S9 changes from the L level to the H level or from the H level to the L level. Point)
An edge detection signal S11 is output. The edge detection circuit 3 includes a D flip-flop and an EX-OR gate (exclusive OR). Bi-phase code signal S9
Is input to a D flip-flop, and the output signal S10 and the above-described bi-phase code signal S9 are input to an EX-OR gate to obtain an edge detection signal S11.
【0026】図5は、エッジ検出回路3の動作を説明す
るタイミングチャートである。図5中、(A)、
(B)、(C)及び(D)は、夫々クロック信号S1、
バイフェーズ符号信号S9、Dフリップフロップの出力
信号S10及びエッジ検出信号S11である。FIG. 5 is a timing chart for explaining the operation of the edge detection circuit 3. In FIG. 5, (A),
(B), (C) and (D) show clock signals S1,
A bi-phase code signal S9, an output signal S10 of the D flip-flop, and an edge detection signal S11.
【0027】次に、サンプリングタイミング補正回路4
は、図2に示す構成であって、エッジ検出回路3で検出
したエッジ検出信号S11に基づいて、FIFOメモリ
5の書き込み用ライトパルスS12を発生させる。カウ
ンタ9は、ライトパルス発生器8が発生するライトパル
スS12の発生するタイミングを計るものである。Next, the sampling timing correction circuit 4
Has a configuration shown in FIG. 2 and generates a write pulse S12 for writing into the FIFO memory 5 based on the edge detection signal S11 detected by the edge detection circuit 3. The counter 9 measures the timing at which the write pulse S12 generated by the write pulse generator 8 is generated.
【0028】図6は、図1及び図2に示すサンプリング
タイミング補正回路4の動作を説明するフローチャート
である。以下、図6を参照してサンプリングタイミング
補正回路4の動作を説明する。ステップ601でエッジ
検出信号S11の有無を判断する。信号S11がなけれ
ば、発生を待つ。信号S11が検出されると、ステップ
602へ進み、信号S20を出力して、カウンタ9に
「5」を入力する。そして、ステップ603でカウント
アップする。FIG. 6 is a flow chart for explaining the operation of the sampling timing correction circuit 4 shown in FIGS. Hereinafter, the operation of the sampling timing correction circuit 4 will be described with reference to FIG. At step 601, it is determined whether or not the edge detection signal S11 exists. If there is no signal S11, it waits for generation. When the signal S11 is detected, the process proceeds to step 602, where the signal S20 is output, and "5" is input to the counter 9. Then, the count is incremented in step 603.
【0029】更に、ステップ604でエッジ検出信号S
11の有無を判断し、信号S11が検出されるとステッ
プ605で、信号S20を出力してカウンタ9に「5」
を入力する。信号S11がなければ、ステップ606で
カウンタ9のカウント値が「7」であるか否か判断す
る。「7」であれば、ステップ607で、ライトパルス
発生器8からライトパルスS12を出力させる。カウン
ト値が「7」でなければ、ステップ608へ進み、カウ
ントアップさせる。Further, in step 604, the edge detection signal S
In step 605, a signal S20 is output and the counter 9 is set to "5".
Enter If there is no signal S11, it is determined in step 606 whether or not the count value of the counter 9 is "7". If it is "7", the write pulse generator 8 outputs a write pulse S12 in step 607. If the count value is not "7", the process proceeds to step 608, where the count is incremented.
【0030】図6のフローチャートで示す如く、サンプ
リングタイミング補正回路4は動作する。即ち、エッジ
検出回路3からのエッジ検出信号S11は、サンプリン
グタイミング補正回路4のライトパルス発生器8に入力
される。このエッジ検出信号S11を受取ると、ライト
パルス発生器8は、カウンタ9にLD信号S20を出力
する。カウンタ9は、この特定例では0及至7を計数す
る3ビットカウンタである。LD信号S20を受け取る
と、カウンタ9のプリセット値として「5」を入力す
る。その後1クロック毎にカウントアップする。LD信
号S20を受信して3クロック後である0.5ビットの
信号幅の中心点で、信号レベルが最も安定している時刻
である「7」のカウント値のとき、カウンタ9は、CY
信号S21をライトパルス発生器8に送る。As shown in the flowchart of FIG. 6, the sampling timing correction circuit 4 operates. That is, the edge detection signal S11 from the edge detection circuit 3 is input to the write pulse generator 8 of the sampling timing correction circuit 4. Upon receiving the edge detection signal S11, the write pulse generator 8 outputs an LD signal S20 to the counter 9. The counter 9 is a 3-bit counter for counting 0 to 7 in this specific example. When receiving the LD signal S20, "5" is input as the preset value of the counter 9. Thereafter, the count is incremented every clock. At the center point of the 0.5-bit signal width three clocks after receiving the LD signal S20, when the count value is “7”, which is the time when the signal level is most stable, the counter 9 sets the CY
The signal S21 is sent to the write pulse generator 8.
【0031】カウンタ9は、その後も同様に1クロック
毎にカウントアップし、「7」から「0」、「1」、
「2」…と変化し、カウント値が「7」になる毎にCY
信号S21を出力する。ライトパルス発生器8は、CY
信号S21を受取る毎にライトパルスS12を発生さ
せ、この信号S12をFIFOメモリ5に送って、入力
信号の書き込みを行う。即ち、サンプリングタイミング
補正回路4は、エッジ検出回路3からエッジ検出信号S
11を受取ると、3クロック後にライトパルスS12を
発生させ、そのとき送られて来るフィルタ回路2からの
バイフェーズ符号信号S9をFIFOメモリ5に取込
む。バイフェーズ符号信号S9は、図3に示した如く、
1ビットに対して必ず1度は信号レベルが変化するの
で、1ビットに最低1回はサンプリングするタイミング
を補正し、1ビットに2回データを取込むこととなる。After that, the counter 9 similarly counts up every clock, and from "7" to "0", "1",
"2" ... and every time the count value becomes "7", CY
The signal S21 is output. The write pulse generator 8 uses CY
Each time the signal S21 is received, a write pulse S12 is generated, and the signal S12 is sent to the FIFO memory 5 to write an input signal. That is, the sampling timing correction circuit 4 outputs the edge detection signal S from the edge detection circuit 3.
When receiving 11, the write pulse S12 is generated three clocks later, and the bi-phase code signal S9 sent from the filter circuit 2 at that time is taken into the FIFO memory 5. The bi-phase code signal S9 is, as shown in FIG.
Since the signal level always changes at least once for one bit, the sampling timing is corrected at least once for one bit, and data is taken in two times for one bit.
【0032】図7のタイミングチャートを参照して、N
RZ符号で示した場合の「0」及び「1」が反復する入
力データS2が入力された場合には、1ビットに2回の
データ変化点があるので、サンプリングのタイミング補
正は0.5ビット毎に行われることになる。Referring to the timing chart of FIG.
When the input data S2 in which “0” and “1” are repeated in the case of the RZ code is input, since there are two data change points in one bit, the sampling timing correction is 0.5 bit. It will be performed every time.
【0033】従って、伝送中の波形歪によりHレベルと
Lレベルとの信号幅に差が生じてしまう如きジッタが含
まれるバイフェーズ符号信号が入力されても、エッジ信
号S11の発生を基準にして一定時間後にサンプリング
を行っているので、常に0.5ビットに1回だけ、FI
FOメモリ5にデータが取込まれることとなる。これに
より、入力信号S2の一時的な周波数の変動やジッタ等
により変形する信号レベルの変化のタイミングに追従し
てデータが取込まれることを示している。そして、デー
タを出力する際には、FIFOメモリ5の読み出し速度
を、読み出しパルスS13で決まる一定速度とすること
により、FIFOメモリ5の出力データS16は、ジッ
タ等が除去された一定周波数の波形となる。Therefore, even if a bi-phase code signal containing a jitter that causes a difference in signal width between the H level and the L level due to waveform distortion during transmission is input, the generation of the edge signal S11 is used as a reference. Since sampling is performed after a certain period of time, the FI
The data is taken into the FO memory 5. This indicates that the data is taken in following the timing of the change of the signal level deformed due to the temporary frequency fluctuation or jitter of the input signal S2. When outputting data, the read speed of the FIFO memory 5 is set to a constant speed determined by the read pulse S13, so that the output data S16 of the FIFO memory 5 has a constant frequency waveform from which jitter and the like have been removed. Become.
【0034】図8は、ジッタ波形の入力及び入力信号の
ビットレートの変動が発生している入力信号S2が入力
され、FIFOメモリ5にデータが取込まれる際の動作
を示すタイミングチャートである。FIG. 8 is a timing chart showing the operation when the input of the jitter waveform and the input signal S 2 in which the bit rate of the input signal fluctuates are input and the data is taken into the FIFO memory 5.
【0035】図8中、(A)はクロック信号発生器1か
らのクロック信号S1である。(B)は、バイフェーズ
符号信号入力S2である。(C)及至(I)は、フィル
タ回路2内の各部の信号である。(J)及び(K)は、
エッジ検出回路3のDフリップフロップの出力信号S1
0及びエッジ検出信号S11である。(L)は、サンプ
リングタイミング補正回路4のライトパルス発生器から
カウンタ9に入力されるLD(ロード)信号S20であ
る。(M)は、このカウンタ9の計数(カウント)値で
ある。(N)は、カウンタ9からライトパルス発生器8
へのCY信号S21である。最後に、(O)は、サンプ
リングタイミング補正回路4のライトパルス発生器8が
出力するライトパルスS12である。FIG. 8A shows a clock signal S 1 from the clock signal generator 1. (B) is a biphase code signal input S2. (C) to (I) are signals of each unit in the filter circuit 2. (J) and (K)
Output signal S1 of D flip-flop of edge detection circuit 3
0 and the edge detection signal S11. (L) is an LD (load) signal S20 input to the counter 9 from the write pulse generator of the sampling timing correction circuit 4. (M) is a count value of the counter 9. (N) indicates that the counter 9 outputs the write pulse generator 8
Is the CY signal S21. Finally, (O) is a write pulse S12 output by the write pulse generator 8 of the sampling timing correction circuit 4.
【0036】次に、読み出し制御回路6につき説明す
る。この読み出し制御回路6は、FIFOメモリ5のH
F信号S14を受信すると、8クロックに1回の割合で
読み出し信号S13を発生させる。この読み出し信号S
13に基づいて、FIFOメモリ5は、これに取込まれ
格納されているデータを、取込み順に読み出す。FIF
Oメモリ5は、データの書き込みと読み出しとが別々に
行える。その為に、このFIFOメモリ5へのデータの
取り込み速度と読み出し速度とに差が生じても、FIF
Oメモリ5の格納容量が十分であれば、その速度差(特
に一時的な速度変動)があっても、FIFOメモリ5が
一杯(オーバーフロー)又は空状態になるまでには時間
があるので、この時間内に収めることにより適正動作を
させることが可能である。また、読み出し制御回路6
は、読み出し信号S13を2回発生させるうち、1回だ
けENB(イネーブル)信号S15を発生させる。この
ENB信号S15は、符号変換回路7へ送られて、バイ
フェーズ符号信号からNRZ符号信号への変換に使用さ
れる。Next, the read control circuit 6 will be described. The read control circuit 6 stores the H
When the F signal S14 is received, the read signal S13 is generated once every eight clocks. This read signal S
13, the FIFO memory 5 reads out the data fetched and stored therein in the fetching order. FIF
The O memory 5 can write and read data separately. Therefore, even if there is a difference between the speed at which data is loaded into the FIFO memory 5 and the speed at which the data is read, the FIFO
If the storage capacity of the O memory 5 is sufficient, there is time until the FIFO memory 5 becomes full (overflow) or becomes empty even if there is a speed difference (particularly a temporary speed change). The proper operation can be performed by keeping the time within the time. Also, the read control circuit 6
Generates the ENB (enable) signal S15 only once among the two generations of the read signal S13. The ENB signal S15 is sent to the code conversion circuit 7, and is used for conversion from a biphase code signal to an NRZ code signal.
【0037】最後に、符号変換回路7は、FIFOメモ
リ5から出力される読み出しデータS16と、読み出し
制御回路6からの上述したENB信号S15を受け、読
み出しデータS16を、バイフェーズ符号信号からNR
Z符号信号S19に変換する。この符号変換回路7は、
1対のANDゲートと、インバータと、JKフリップフ
ロップで構成可能である。Finally, the code conversion circuit 7 receives the read data S16 output from the FIFO memory 5 and the above-described ENB signal S15 from the read control circuit 6, and converts the read data S16 from the bi-phase code signal into NR signals.
The signal is converted into a Z-code signal S19. This code conversion circuit 7
It can be composed of a pair of AND gates, an inverter, and a JK flip-flop.
【0038】図9は、符号変換回路7の動作を説明する
為のタイミングチャートである。図9中、(A)はクロ
ック信号S1である。(B)は、読み出し制御回路6か
らの読み出し信号S13である。(C)は、FIFOメ
モリ5からの読み出しデータS16である。(D)は、
読み出し制御回路6からのENB信号S15である。
(E)及び(F)は、符号変換回路7の1対のANDゲ
ートの出力信号S17及びS18である。また、(G)
は、JKフリップフロップからの符号変換されたNRZ
符号信号S19である。FIG. 9 is a timing chart for explaining the operation of the code conversion circuit 7. FIG. 9A shows the clock signal S1. (B) is a read signal S13 from the read control circuit 6. (C) is the read data S16 from the FIFO memory 5. (D)
This is the ENB signal S15 from the read control circuit 6.
(E) and (F) are output signals S17 and S18 of a pair of AND gates of the code conversion circuit 7. Also, (G)
Is the sign-converted NRZ from the JK flip-flop
This is the code signal S19.
【0039】以上、本発明の復調回路の好適実施形態例
の構成及び動作を添付図を参照して詳述した。しかし、
これらの例は、単なる例示にすぎず、本発明の要旨を逸
脱することなく種々の変形変更が可能であることが当業
者には容易に理解できよう。The configuration and operation of the preferred embodiment of the demodulation circuit of the present invention have been described in detail with reference to the accompanying drawings. But,
These examples are merely examples, and those skilled in the art can easily understand that various modifications can be made without departing from the gist of the present invention.
【0040】[0040]
【発明の効果】以上説明した本発明による復調回路は次
のような効果を奏する。第1の効果は、入力されるバイ
フェーズ符号信号の状態に左右されず、復調側は常に一
定の動作速度で処理が可能となる。その理由は、入力さ
れるバイフェーズ符号信号のデータ成分をFIFOメモ
リに非同期に取り込むため、FIFOメモリのデータの
取り出し以降は、自身が持つクロックで復調処理が行う
ことができる。つまり、FIFOメモリに緩衝効果を持
たせることにより、入力される信号波形の状態に左右さ
れることなく復調側の動作を一定速度に保つことができ
る。The demodulation circuit according to the present invention described above has the following effects. The first effect is that the demodulation side can always perform processing at a constant operation speed regardless of the state of the input biphase code signal. The reason is that the data component of the input bi-phase code signal is asynchronously fetched into the FIFO memory, so that after the data is fetched from the FIFO memory, the demodulation process can be performed using the own clock. That is, by giving the FIFO memory a buffering effect, the operation on the demodulation side can be maintained at a constant speed regardless of the state of the input signal waveform.
【0041】また、第2の効果は、入力バイフェーズ符
号信号の波形整形機能が実現できる。その理由は、FI
FOメモリには、状態値(信号レベル)のみが取り込ま
れており、ジッタ等のタイミングの情報は含まれていな
い。そのため、FIFOメモリの読み出し周期を一定に
することによって、信号波形の整形機能が可能となる。The second effect is that the function of shaping the waveform of the input biphase code signal can be realized. The reason is FI
The FO memory fetches only the state value (signal level) and does not include timing information such as jitter. Therefore, by making the read cycle of the FIFO memory constant, a signal waveform shaping function becomes possible.
【図1】本発明による復調回路の好適実施形態例の構成
を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a preferred embodiment of a demodulation circuit according to the present invention.
【図2】図1に示す復調回路のサンプリングタイミング
補正回路の詳細構成図である。FIG. 2 is a detailed configuration diagram of a sampling timing correction circuit of the demodulation circuit shown in FIG.
【図3】入力信号の変化点(エッジ)説明する図であ
る。FIG. 3 is a diagram illustrating a change point (edge) of an input signal.
【図4】図1に示す復調回路のフィルタ回路の動作を説
明するタイミングチャートである。FIG. 4 is a timing chart for explaining the operation of the filter circuit of the demodulation circuit shown in FIG.
【図5】図1に示す復調回路のエッジ検出回路の動作を
説明するタイミングチャートである。FIG. 5 is a timing chart illustrating the operation of the edge detection circuit of the demodulation circuit shown in FIG.
【図6】図1に示す復調回路のサンプリングタイミング
補正回路の動作を説明するフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart illustrating an operation of a sampling timing correction circuit of the demodulation circuit illustrated in FIG. 1;
【図7】バイフェーズ符号信号を説明する波形図であ
る。FIG. 7 is a waveform diagram illustrating a bi-phase code signal.
【図8】図1に示す復調回路の主要部の動作を説明する
タイミングチャートである。FIG. 8 is a timing chart illustrating an operation of a main part of the demodulation circuit illustrated in FIG. 1;
【図9】図1に示す復調回路のFIFOメモリ、読み出
し制御回路及び符号変換回路の動作説明用タイミングチ
ャートである。9 is a timing chart for explaining the operation of a FIFO memory, a read control circuit, and a code conversion circuit of the demodulation circuit shown in FIG. 1;
1 クロック信号発生器 2 フィルタ回路 3 エッジ検出回路 4 サンプリングタイミング補正回路 5 FIFOメモリ 6 読み出し制御回路 7 符号変換回路 8 ライトパルス発生器 9 カウンタ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Clock signal generator 2 Filter circuit 3 Edge detection circuit 4 Sampling timing correction circuit 5 FIFO memory 6 Read control circuit 7 Code conversion circuit 8 Write pulse generator 9 Counter
Claims (8)
検出回路と、該エッジ検出回路のエッジ検出信号に基づ
き前記入力信号のサンプリングタイミングを補正するサ
ンプリングタイミング補正回路と、該サンプリングタイ
ミング補正回路のライトパルスに基づいて前記入力信号
を格納し、一定周期で読み出すFIFOメモリと、を備
えることを特徴とする復調回路。An edge detection circuit for detecting a change point of an input signal level; a sampling timing correction circuit for correcting a sampling timing of the input signal based on an edge detection signal of the edge detection circuit; A FIFO memory for storing the input signal based on a write pulse and reading the input signal at a constant period.
のノイズを除去するノイズフィルタを設けることを特徴
とする請求項1に記載の復調回路。2. The demodulation circuit according to claim 1, wherein a noise filter for removing noise of the input signal is provided at a stage preceding the edge detection circuit.
あることを特徴とする請求項1又は2に記載の復調回
路。3. The demodulation circuit according to claim 1, wherein the input signal is a bi-phase code signal.
RZ符号信号に変換する符号変換回路を有することを特
徴とする請求項3に記載の復調回路。4. The method according to claim 1, wherein the read data of said FIFO memory is N
The demodulation circuit according to claim 3, further comprising a code conversion circuit that converts the signal into an RZ code signal.
段のDフリップフロップ、ANDゲート、インバータ及
びJKフリップフロップで構成することを特徴とする請
求項2に記載の復調回路。5. The demodulation circuit according to claim 2, wherein said filter circuit comprises a plurality of cascade-connected D flip-flops, AND gates, inverters, and JK flip-flops.
プとEX−ORゲートで構成することを特徴とする請求
項1及至5のいずれかに記載の復調回路。6. The demodulation circuit according to claim 1, wherein said edge detection circuit comprises a D flip-flop and an EX-OR gate.
ライトパルス発生器と、カウンタとにより構成されるこ
とを特徴とする請求項1及至6に記載のいずれかの復調
回路。7. The sampling timing correction circuit according to claim 1,
7. The demodulation circuit according to claim 1, comprising a write pulse generator and a counter.
を除去するフィルタ回路と、該フィルタ回路の出力信号
のエッジを検出するエッジ検出回路と、該エッジ検出回
路のエッジ検出信号に応じてタイミング補正するサンプ
リングタイミング補正回路と、該サンプリングタイミン
グ補正回路の出力で前記フィルタ回路の出力データを取
込むFIFOメモリと、該FIFOメモリの格納データ
を前記クロック信号発生器のクロック信号で周期的に読
み出す読み出し制御回路とを備えることを特徴とする復
調回路。8. A clock signal generator, a filter circuit for removing noise of an input signal, an edge detection circuit for detecting an edge of an output signal of the filter circuit, and a timing according to an edge detection signal of the edge detection circuit. A sampling timing correction circuit for correcting, a FIFO memory for taking in output data of the filter circuit with an output of the sampling timing correction circuit, and a readout for periodically reading data stored in the FIFO memory by a clock signal of the clock signal generator A demodulation circuit comprising a control circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11014670A JP2000216761A (en) | 1999-01-22 | 1999-01-22 | Demodulation circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11014670A JP2000216761A (en) | 1999-01-22 | 1999-01-22 | Demodulation circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000216761A true JP2000216761A (en) | 2000-08-04 |
Family
ID=11867663
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11014670A Pending JP2000216761A (en) | 1999-01-22 | 1999-01-22 | Demodulation circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000216761A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006135471A (en) * | 2004-11-04 | 2006-05-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Audio signal delay unit |
-
1999
- 1999-01-22 JP JP11014670A patent/JP2000216761A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006135471A (en) * | 2004-11-04 | 2006-05-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Audio signal delay unit |
JP4665486B2 (en) * | 2004-11-04 | 2011-04-06 | パナソニック株式会社 | Audio signal delay device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5553103A (en) | Circuit including a subtractor, an adder, and first and second clocked registers connected in series | |
JP3532992B2 (en) | Method and apparatus for receiving input digital data signal | |
JPS63153920A (en) | Clock regeneration circuit | |
JP2937529B2 (en) | Clock recovery circuit | |
JPH04227142A (en) | Circuit arrangement for regulating bit speeds of two digital signals | |
US7692564B2 (en) | Serial-to-parallel conversion circuit and method of designing the same | |
US8000429B2 (en) | Jitter correction method and circuit | |
JP2000216761A (en) | Demodulation circuit | |
JPS62276925A (en) | Digital counter circuit | |
JPH08249822A (en) | Sync detection method and sync detection circuit | |
US4612508A (en) | Modified Miller data demodulator | |
JP3001414B2 (en) | Code error correction device | |
JP3826530B2 (en) | Bit synchronization circuit | |
KR950004542Y1 (en) | Sub-code interface circuit | |
JPH05342772A (en) | Synchronism detection method | |
JPH0410776B2 (en) | ||
JP4014164B2 (en) | Pulse regeneration circuit | |
KR0172459B1 (en) | Method and device for reproducing clock signal | |
JP3458782B2 (en) | DUTY correction circuit | |
JPH0744538B2 (en) | Frame synchronization detection circuit | |
JPH11195963A (en) | Digital filter circuit | |
JPH0138244B2 (en) | ||
JPS5925416A (en) | Waiting circuit | |
JPH05122206A (en) | Synchronization clock signal reproduction method | |
JPH08139762A (en) | Bipolar/unipolar converter circuit |