JP2000216431A - 発光素子 - Google Patents
発光素子Info
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Abstract
導体層とを備え、且つp型半導体層上に形成されたp側
電極12の側から発光が取り出されるようにされた発光
素子において、p側電極12は、p型半導体層の表面を
覆って設けられた電極膜部分12Aと、前記p型半導体
層を露出して設けられた発光取出し部12Bとを有し、
且つp側電極12における電極膜部分12Aの割合が5
0%より大きく75%以下である。
Description
導体のように抵抗の大きいp型半導体層を備えた発光素
子に係り、発光効率の優れた発光素子を提供する技術に
関する。
nGaN、AlGaN、AlGaInN等の一般式In
XAlYGa1-X-YN(0≦X<1、0≦Y<1)で表わ
される窒化物半導体を用いた発光素子が検討されてい
る。
一般にサファイアやスピネル等の絶縁性の基板上に、バ
ッファ層を介してn型半導体層、発光層及びp型半導体
層が積層されて構成されている。そして、窒化物半導体
を用いた発光素子においては絶縁性の基板を用いている
ために、他のGaAsやGaAlP等の半導体基板を用
いた発光素子のように基板側から電極を取出すことがで
きず、p側電極とn側電極とは同一面側に設けられてい
る。
素子においては、一般に上記p側電極を透光性の電極と
し、このp側電極を介して発光を取出す構成とすること
により、チップサイズを小さくすることが行なわれてい
る。このようなp側電極として、p型半導体層上に金属
膜を格子状に設け、そしてこの格子状の金属膜から露出
するp型半導体層表面より発光を取出すようにしたp側
電極の構造が知られている(特開平5−335622
号)。
おいては、金属膜により覆われる部分の面積をp型半導
体層表面の50%を越えない範囲としている。然し乍
ら、窒化物半導体からなるp型半導体層はSi等通常の
半導体からなるp型半導体層に比して抵抗が大きいため
に、金属膜を介して半導体層に流れる電流は、p型半導
体層の面方向には殆ど広がることなく膜厚方向に流れて
電極直下の領域で発光を生じさせる。従って金属膜によ
り覆われる部分の面積を50%を越えない範囲とする
と、発光が生じる領域の面積割合も素子全体の表面積の
50%を越えることがなく、素子全体としての発光量が
低下してしまう。
光効率の向上した発光素子を提供することを目的とす
る。
ために、本発明発光素子は、n型半導体層とp型半導体
層とを備え、且つ前記p型半導体層上に形成されたp側
電極の側から発光が取り出されるようにされた発光素子
において、前記p側電極は、前記p型半導体層の表面を
覆って設けられた電極膜部分と、前記p型半導体層を露
出して設けられた発光取出し部とを有し、且つ前記p側
電極における前記電極膜部分の割合が50%より大きく
75%以下であることを特徴とする。
共に、各々の発光取出し部が略均一に分散して設けられ
たこと。
膜部分の割合が、55%以上70%以下であることを特
徴とする。
部から露出する前記p型半導体層上に設けられ、且つ前
記電極膜部分と電気的に接続された透明導電層を有する
ことを特徴とする。
が、透光性を有することを特徴とする。
導電層との積層構造を有することを特徴とし、前記透明
導電層が、前記発光取出し部から露出する前記p型半導
体層上に延在して設けられたことを特徴とする。
層が透光性を有する基板の一主面上に設けられ、且つ該
基板の他主面上に反射膜を有することを特徴とする。
導体からなることを特徴とする。
発光素子を説明するための構造図であり、同図(A)は
断面図、また(B)は平面図である。
基板であり、2は厚さ約2.5nmのアンドープのAl
N層と厚さ約2.5nmのアンドープのGaN層とを交
互に4周期積層して形成された多層膜からなるバッファ
層、3はn型GaNからなる厚さ約5μmのn型コンタ
クト層である。尚、上記バッファ層2はAlN、GaN
或いはAlGaNの単層膜から構成しても良い。
nmのアンドープのGaNからなる障壁層と厚さ約3n
mのアンドープのGaInNからなる井戸層とを交互に
積層して超格子構造とされている。
る厚さ約10nmの保護層5を介してp型AlGaNか
らなる厚さ約0.15μmのp型クラッド層6が形成さ
れ、そして該p型クラッド層6上にはp型GaNからな
る厚さ約0.3μmのp型コンタクト層7が設けられて
いる。
構成に限定されるものではなく、p型半導体層として窒
化物半導体のような抵抗の大きい半導体を用いた発光素
子であれば、他の構成のものであっても良い。
ンタクト層3に到るまでの領域の一部が除去されてお
り、露出したn型コンタクト層3の表面にはn側電極1
1が設けられ、またp型コンタクト層7の略全面にp側
電極12が設けられている。
12が、前記p型コンタクト層7上に格子状に設けられ
た金属膜からなる電極膜部分12Aと、前記p型コンタ
クト層7の表面を露出して設けられた複数個の発光取出
し部12Bとを有している。この電極膜部分12Aはp
型コンタクト層7上の略全面にわたって設けられてお
り、各々の発光取出し部12Bは、電極膜部分12Aが
設けられた領域内において略均一に分散して設けられて
いる。
における前記電極膜部分12Aの割合が50%より大き
く75%以下であることを特徴としている。
7とのオーミック性の良好な金属から構成され、本実施
形態の如くp型コンタクト層がp型GaNからなる場合
には、Pd,Pt,Niを用いることが好ましい。ま
た、本実施形態にあっては電極膜部分12Aを厚膜とす
ることにより低抵抗としている。
図であり、同図(A)が本発明に係る発光素子の、また
(B)は従来の発光素子の説明図である。
導体層52が形成されており、そしてp型半導体層52
上の略全面にわたって、電極膜部分53A及び発光取出
し部53Bを有するp側電極53が形成されている。
尚、電極膜部分53Aの幅は、本発明と従来とで同一と
している。
型半導体層はその抵抗率が0.1〜10Ω・cm程度で
あり、Si等通常用いられる半導体材料からなるp型半
導体層より抵抗が大きい。このように抵抗率が0.1Ω
・cm以上の抵抗の大きいp型半導体層を有する発光素
子にあっては、p側電極53を介してp型半導体層52
に流れる電流は、p型半導体層52中において面方向に
殆ど広がることなく膜厚方向に流れて発光層51に達
し、そして電極膜部分53Aの略直下の位置にある発光
領域Aで発光する。
うに、電極53の直下では発光強度が大きく、その周辺
では流れる電流が少なくなることから発光強度が小さく
なるような分布を有している。尚、Bの縦軸は発光強度
の強さを示しており、横軸は位置を示している。そし
て、発光取出し部53Bに対応する位置で発光した光
が、矢印で示す如く外部に取出される。
ように、本発明の発光素子によれば電極膜部分12Aの
直下に存在する発光領域Aの面積を従来素子よりも増大
させることができる。
51において、全く発光しない無発光領域Cの占める割
合を従来の発光素子よりも小さくすることができる。こ
のため、従来にあっては発光取出し部53Bのうち端部
に位置する一部の領域からしか光を外部に取出すことが
できなかったのに対し、本発明によれば発光取出し部5
3Bの略全面から光を外部に取出すことが可能となる。
としての発光強度を従来よりも向上させることができ
る。
て、p側電極12における電極膜部分12Aの割合を変
化させたときの発光出力の変化を相対値で示した特性図
であり、従来の値を破線で示している。尚、電極膜部分
12Aは約50μmの幅を有するライン状の金属膜を格
子状に組合わせた格子状の形状を有するものとし、そし
てライン間の間隔を調整することにより、p側電極12
における電極膜部分12Aの占める面積割合を変化させ
ている。
の割合を50%より大きく75%以下、好ましくは55
%以上70%以下とすることにより、従来よりも発光出
力を向上させることができる。
%よりも大きくする方法としては、電極膜部分12Aの
形状を上記の格子状とした場合、ライン幅を小さくして
ラインの本数を増加させる方法と、ライン幅を大きくし
てラインの本数を少なくする方法の2通りが考えられ
る。
取出し部12Bの数が減少することとなるために発光が
離散的となると共に、素子から取出せる発光量が減少し
てしまう。これを防止し、素子としての発光分布を見か
け上均一とするためには、幅が約50μm以下のライン
を格子状に組合わせた格子状の形状とすることが好まし
い。
での均一性を向上させるために、複数の発光取出し部1
2Bの面積は互いに同程度とし、略均一に分散して設け
ることが好ましい。尚、ここで略均一とは、完全に均一
であることも含む。
るための素子構造断面図である。
p側電極12が、発光取出し部12Bから露出するp型
コンタクト層7上に設けられ、且つ電極膜部分12Aと
電気的に接続された透明導電層12Cを有している。
ては、同図(A)に示す如く電極膜部分12Aの形成後
に透明導電層12Cを形成すれば良く、或いは同図
(B)に示す如くp型コンタクト層7上に透明導電層1
2Cを形成後、電極膜12Aを形成しても良い。
に対応する位置のp型コンタクト層7中にも透明導電層
12Cを介して電流が流れ、発光層4で発光することと
なるので、第1の実施の形態よりもさらに発光量を増加
させることができる。
ては、SnO2,ITO,MgO或いはZnO等の金属
酸化物を用いることができる。
体を用いた場合にあっては、p型コンタクト層7上にま
ず電極膜部分12Aを形成した方が良好なオーミック性
接触を得られやすく、図4(A)の構造の方が図4
(B)の構造よりも好ましい。
における電極膜部分12Aを薄膜の金属膜から構成して
透光性を持たせると、電極膜部分12Aを介しても発光
を取出すことができるのでさらに好ましい。
Aの占める割合を従来よりも向上することができ、この
ため素子全体で発光する発光の量を従来よりも増大させ
ることができる。従って、p側電極12における電極膜
部分12Aを透光性とし、この透光性の電極膜部分12
Aを介しても光を外部に取出すことにより、発光出力を
大幅に向上することができる。
とするためには、薄膜の金属膜を用いる、或いは前述の
透明な金属酸化物を用いる、という方法がある。然し乍
ら、このように薄膜の金属膜を用いた場合には電極膜部
分12Aの抵抗が大きくなる。特に、p型半導体層とし
て窒化物半導体を用いた場合にあっては、透明な金属酸
化物では良好なオーミック性接触を得られにくく、薄膜
の金属膜を用いる必要があるために、電極膜部分12A
の抵抗が大きくなる。
Aを薄膜の金属層と透明導電層との積層構造とすれば良
い。斯かる構成によれば、金属層の厚みを薄くしたこと
による抵抗の増大を透明導電層により抑制することがで
きる。
2Aにおける金属層上に設けるだけでも良いが、図4に
示す如く発光取出し部12Bから露出するp型コンタク
ト層7上に延在して設けるようにすると、前記のように
さらに発光量を増大させることができる。 (実施例1)実施例1として図1に示す構造の発光素子
を製造した。尚、p側電極12の電極膜部分12Aには
厚さ10nmのNi膜と厚さ約800nmのAu膜との
積層膜を用いている。また、素子を構成する各窒化物半
導体層はいずれもMOVPE法を用いて形成しており、
p型半導体層を形成する際のドーパントガスとしてはC
p2Mgを、n型半導体層を形成する際のドーパントガ
スとしてはSiH4,H 2Se或いはGeH4を用いてい
る。さらに、実際の素子形成にあたっては、サファイア
からなる厚さ約300μmの基板1上に発光素子を形成
後、基板1の厚さが約100μm以下となる様裏面側に
研磨を施し、次いでスクライブ、ダイシング、ブレーキ
ング等の方法を用いて1辺が約400μmの略正方形状
の素子を製造した。また、p側電極12のうちp型コン
タクト層7を覆う部分の割合は60%とした。
p型コンタクト層の表面を覆う面積割合を40%とした
従来の発光素子と比較したところ、20mAの電流を流
したときの発光強度は従来の約1.3倍であった。 (実施例2)p側電極12の電極膜部分12Aを厚さ約
1nmのNi膜と、厚さ約2nmのAu膜との薄膜の多
層膜から構成して透光性を持たせ、さらにp側電極12
上の一隅部にワイヤボンディングのためのパッド電極を
設けた以外は実施例1と同様にして発光素子を形成し
た。その結果、20mAの電流を流したときの発光強度
は従来の約1.6倍であった。 (実施例3)p側電極12の電極膜部分12Aを厚さ約
2nmの薄膜のPd膜と、厚さ約200nmのITO膜
との多層膜から構成して透光性を持たせた以外は実施例
2と同様にして発光素子を形成した。尚、本実施例にお
いては薄膜のPd膜形成後に、Pd膜上にITO膜を発
光取出し部12Bから露出するp型コンタクト層7上に
も延在させて形成した。その結果、20mAの電流を流
したときの発光強度は従来の約2.7倍であった。ま
た、この場合にはITO膜が薄膜のPd膜を保護する役
割も果たす。
向上した発光素子を提供することができる。
なる発光素子について説明したが、これに限らず、窒化
物半導体のように高い抵抗を有するp型半導体層を用い
た発光素子について本発明を適用することができる。
成する電極膜部分12Aの形状は上述したような格子状
の形状に限定されるものではなく、例えば櫛状、渦巻
状、ミアンダ状、樹枝状、放射状、波状等の他の形状で
あっても良いことは言うまでもない。そして、電極膜部
分12Aを櫛状、渦巻状等の形状とする場合にあって
は、連続する1つの発光取出し部12Bを有することと
なる。
用い、この基板の背面側に金属膜或いはホログラム素子
による反射膜を設けるとより好ましい。斯かる構成によ
れば、発光領域で発光した光のうち基板側へ放射された
光を上記反射膜により反射させてp側電極側から外部に
取出すことができるため、より高い発光強度を得ること
ができる。
側電極が、p型半導体層の表面を覆って設けられた電極
膜部分と、前記p型半導体層を露出して設けられた発光
取出し部とを有し、且つp側電極における電極膜部分の
割合が50%より大きく75%以下であるとすることに
より、発光強度の向上した窒化物半導体発光素子を提供
することができる。
ある。
部分の割合を変化させた場合の発光出力の変化を示す特
性図である。
構造断面図である。
…発光層、5…保護層、6…p型クラッド層、7…p型
コンタクト層、11…n側電極、12…p側電極、12
A…電極膜部分、12B…発光取出し部
Claims (9)
- 【請求項1】 n型半導体層とp型半導体層とを備え、
且つ前記p型半導体層上に形成されたp側電極の側から
発光が取り出されるようにされた発光素子において、前
記p側電極は、前記p型半導体層の表面を覆って設けら
れた電極膜部分と、前記p型半導体層を露出して設けら
れた発光取出し部とを有し、且つ前記p側電極における
前記電極膜部分の割合が50%より大きく75%以下で
あることを特徴とする発光素子。 - 【請求項2】 前記発光取出し部を複数個有すると共
に、各々の発光取出し部が略均一に分散して設けられた
ことを特徴とする請求項1記載の発光素子。 - 【請求項3】 前記p側電極における前記電極膜部分の
割合が、55%以上70%以下であることを特徴とする
請求項1又は2に記載の発光素子。 - 【請求項4】 前記p側電極が、前記発光取出し部から
露出する前記p型半導体層上に設けられ、且つ前記電極
膜部分と電気的に接続された透明導電層を有することを
特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の発光素
子。 - 【請求項5】 前記電極膜部分が、透光性を有すること
を特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の発光素
子。 - 【請求項6】 前記電極膜部分が、金属層と透明導電層
との積層構造を有することを特徴とする請求項5記載の
発光素子。 - 【請求項7】 前記透明導電層が、前記発光取出し部か
ら露出する前記p型半導体層上に延在して設けられたこ
とを特徴とする請求項6記載の発光素子。 - 【請求項8】 前記n型半導体層及びp型半導体層が透
光性を有する基板の一主面上に設けられ、且つ該基板の
他主面上に反射膜を有することを特徴とする請求項1乃
至7のいずれかに記載の発光素子。 - 【請求項9】 前記p型半導体層が、窒化物半導体から
なることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載
の発光素子。
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JP32955598 | 1998-11-19 | ||
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Publications (1)
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