JP2000207028A5 - - Google Patents

Description

【特許請求の範囲】
【請求項１】 画像処理される物体が回転式プラットフォーム上に載置される装置であって、
前記回転式プラットフォームに対して相対回転運動可能な画像処理システムと、
前記画像処理システムによって形成される前記物体のデジタル化された画像を回転させることができるソフトウェアを備える画像回転部と、
前記回転式プラットフォーム及び前記画像回転部に接続される制御システムとを備え、前記制御システムにより前記画像回転部が制御され、また前記画像回転部が、前記画像回転部に対する前記回転式プラットフォームの相対回転を補償し、前記デジタル化された画像内の構造の方向を保持するように、前記画像処理システムによって形成された前記物体の前記デジタル化された画像を回転させることを特徴とする装置。
【請求項２】 前記制御システムが制御信号を前記回転式プラットフォームに加え、前記物体の動きを制御し、また制御信号を前記画像回転部に加え、前記物体の前記回転を補償することを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項３】 前記画像を視認するためのモニタを含むオペレータインターフェースをさらに備えることを特徴とする請求項２に記載の装置。
【請求項４】 前記オペレータインターフェースが、前記モニタ上で視認される前記画像の所望の動きを指示するコマンドを前記制御システムに送出するために接続される制御部をさらに備えることを特徴とする請求項３に記載の装置。
【請求項５】 前記回転式プラットフォームが、前記回転式プラットフォームと前記画像処理システムとの間でそれに沿った相対線形運動が行われる線形駆動部の軸と交差する回転軸を有することを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項６】 前記画像処理システムの光軸が、前記回転式プラットフォームに対して静止しており、前記線形駆動部の軸と一致していることを特徴とする請求項５に記載の装置。
【請求項７】 前記線形駆動部の設定値が０変位位置に対する前記線形駆動部の変位を示すことを特徴とする請求項５に記載の装置。
【請求項８】 ０角度変位設定値に対する前記回転式プラットフォームの角度変位を測定する方向モニタ用システムをさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項９】 カメラ及び表示モニタをさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項１０】 前記画像回転部が、前記カメラからの前記画像を捕捉し、前記制御システムにより選択される量だけ前記画像を回転させる画像捕捉・画像処理システムを備えることを特徴とする請求項９に記載の装置。
【請求項１１】 前記画像処理システムが顕微鏡を備えることを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項１２】 前記画像処理システムが走査型プローブ顕微鏡を備えることを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項１３】 前記画像処理システムが走査型顕微鏡を備えることを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項１４】 前記走査型顕微鏡が走査型電子ビーム顕微鏡であることを特徴とする請求項１３に記載の装置。
【請求項１５】 前記走査型顕微鏡が走査型イオンビーム顕微鏡であることを特徴であることを特徴とする請求項１３に記載の装置。
【請求項１６】 前記画像処理システムが共焦点型顕微鏡を備えることを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項１７】 前記制御システムが、前記物体の画像に対する直交座標入力コマンドを極座標コマンド及び画像回転部コマンドに変換するモジュールを実行するプロセッサを備えることを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項１８】 物体を視認するための方法であって、
極座標ステージ上に前記物体を載置する過程と、
前記物体のある領域のデジタル化された画像を生成する過程と、
前記物体のある領域の前記デジタル化された画像を視認する過程と、
前記極座標ステージを用いて前記物体を移動させる過程と、
前記デジタル化された画像における構造が前記物体が回転する間に固定された方向を保持するように前記物体が移動するのに応じて前記物体の前記デジタル化された画像を回転させるべく前記デジタル化された画像を処理する過程とを有することを特徴とする方法。
【請求項２８】 測定装置であって、
サンプルを載置するための回転式プラットフォームを備えるステージと、
エッジ検出部、及び前記回転式プラットフォームが前記サンプルを回転させる間に前記エッジ検出部が受取る測定値から前記サンプルの位置を特定する処理システムを備える位置合わせシステムと、
前記ステージが測定システムの視界内に移動させた前記サンプルの一部の物理的特性を測定するための測定システムと、
前記ステージが画像処理システムの視界内に移動させた前記サンプルの一部の画像を得るための画像処理システムと、
前記回転式プラットフォームによる前記サンプルの回転を補償するべく前記画像を回転させる画像回転部とを備えることを特徴とする測定装置。
【請求項２０】 前記位置合わせシステムが、前記画像回転部により回転するのに応じて前記画像内のある構造を特定し、前記構造の特定から前記サンプルの一部を判定するパターン認識モジュールをさらに備えることを特徴とする請求項１９に記載の測定装置。
【請求項２１】 前記画像処理システムがビデオカメラを備え、前記画像回転部が前記ビデオカメラからのビデオ画像を回転させることを特徴とする請求項１９に記載の測定装置。
【請求項２２】 前記画像回転部が、前記画像を回転させるための光学素子を備えることを特徴とする請求項１９に記載の測定装置。
【請求項２３】 前記位置合わせシステムが、前記画像内の構造を特定し、前記サンプルの位置を判定するパターン認識モジュールをさらに備えることを特徴とする請求項１９に記載の測定装置。
【請求項２４】 測定方法であって、
サンプルを回転式プラットフォーム上に載置する過程であって、前記載置されるサンプルが第１の精度として知られる位置を有する、該過程と、
前記回転式プラットフォームが前記サンプルを回転させる間に前記サンプルのエッジ位置を測定する過程と、
前記エッジ位置から前記サンプルの前記位置を確定することにより前記サンプルを予備位置合わせする過程であって、前記予備位置合わせにより前記サンプルの前記位置が第２の精度に確定される、該過程と、
画像処理システムの視認領域が第１の構造を含むように、前記回転式プラットフォームを用いてサンプルを移動する過程と、
前記画像処理システムにより形成される画像を回転させ、前記回転式プラットフォームによる前記サンプルの回転を補償する過程と、
パターン認識モジュールを用いて前記回転した画像を処理し、前記第１の構造に対応する前記第１の位置を特定する過程と、
前記第１の位置に対して特定された位置を有する点で前記サンプルの特性を測定する過程とを有することを特徴とする測定方法。
【請求項２５】 前記回転式プラットフォームを用いて、前記画像処理システムの前記視認領域が第２の構造を含むように前記サンプルを移動させる過程と、
前記画像処理システムにより形成される前記画像を回転させ、前記第２の構造まで移動する間に前記回転式プラットフォームにより前記サンプルの回転を補償する過程と、
前記回転した画像上で前記パターン認識モジュールを用いて、前記第２の構造に対応する第２の位置を特定する過程と、
前記第１及び第２の位置の特定を用いて、前記サンプルの前記位置を第３の精度に確定する過程とをさらに有することを特徴とする請求項２４に記載の方法。
【請求項２６】 前記回転式プラットフォームを用いて、複数の点が、前記測定点におけるサンプルの特性の測定のために順次に配置されるように前記サンプルを移動する過程と、
前記測定点において前記サンプルの前記特性を順次測定する過程とをさらに有することを特徴とする請求項２４に記載の方法。
【請求項２７】 物体を視認するための方法であって、
カメラの下に前記物体を配置する過程と、
前記カメラにより生成された前記物体のある領域のデジタル化された画像を視認する過程と、
前記物体と前記カメラとの間の回転移動を行う過程と、
前記デジタル化された画像における構造が前記物体が回転する間に固定された方向を保持するように前記物体が移動するのに応じて前記物体の前記デジタル化された画像を回転させるべく、前記カメラによって生成されたデジタル化された画像を処理する過程とを有することを特徴とする方法。