JP2000196192A - 微粒子構造体および発光素子ならびに微粒子構造体の製造方法 - Google Patents

微粒子構造体および発光素子ならびに微粒子構造体の製造方法

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JP2000196192A
JP2000196192A JP10376571A JP37657198A JP2000196192A JP 2000196192 A JP2000196192 A JP 2000196192A JP 10376571 A JP10376571 A JP 10376571A JP 37657198 A JP37657198 A JP 37657198A JP 2000196192 A JP2000196192 A JP 2000196192A
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particle structure
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light
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Katsuya Shirai
克弥 白井
Shigeru Kojima
繁 小島
Atsushi Toda
淳 戸田
Yoshifumi Mori
芳文 森
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 凝集を防止することができる微粒子構造体お
よびそれを用いた発光素子ならびに微粒子構造体の製造
方法を提供する。 【解決手段】 ZnOなどよりなる複数の微粒子11を
有しており、各微粒子11は架橋部12によりネットワ
ーク状に互いに結合されている。すなわち、粒子間に存
在する架橋部12が支持部となって各微粒子11の凝集
が防止されている。各微粒子11は結晶粒径が100n
m以下の微結晶により構成されており、バンド間発光機
能およびドナーアクセプターペア発光機能を有してい
る。このような微粒子構造体は発光素子の発光部を構成
する材料として用いられる。なお、この微粒子構造体
は、純水を電解質とし、高純度のZn板を正極とし、半
導体基板を負極として、正極と負極との間に電圧を印加
することにより製造される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の微粒子を含
む微粒子構造体およびそれを用いた発光素子ならびに微
粒子構造体の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、GaAs,GaAsP混晶,Ga
AlAs混晶またはGaPなどの半導体を用いた発光素
子が開発されている。これらの発光素子は、基板の上に
n型半導体層,発光層およびp型半導体層が順次積層さ
れた構造を有しており、順方向バイアスに電圧が印加さ
れると、発光層において電子と正孔とが再結合し発光す
るようになっている。なお、従来は、n型半導体層,発
光層およびp型半導体層を単結晶によりそれぞれ構成し
ており、基板の上にエピタキシャル成長させることによ
り形成していた。よって、基板も単結晶により構成して
いた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
発光素子ではn型半導体層,発光層およびp型半導体層
を単結晶によりそれぞれ構成していたので、良好な結晶
を得るためには、基板との格子整合や結晶構造の整合が
必要不可欠であった。また、エピタキシャル成長させる
際の条件も厳しく限定されると共に、欠陥を低減するに
は高温でエピタキシャル成長させる必要があった。よっ
て、基板を構成する材料が著しく限定されてしまい、材
料選択の自由度が小さかった。従って、石英やガラスな
どを基板に用いることができず、大面積の素子列を作成
することができないという問題があった。
【0004】また、発光層,n型半導体層およびp型半
導体層を構成する材料も基板の材料により著しく限定さ
れてしまい、それらの材料選択の自由度も小さかった。
よって、発光波長が限定されてしまうという問題もあっ
た。更に、このように欠陥を低減する工夫が成されてい
ても欠陥を全く無くすことはできず、欠陥が非発光中心
として働き、発光効率の低下や劣化の原因となってしま
うという問題もあった。
【0005】そこで、これらの問題を解決する方法とし
て、発光層を微結晶により構成することが考えられる。
これによれば、格子整合あるいは格子欠陥などの問題を
解決することができ、新たな可能性を有する発光素子を
得ることができる。しかし、従来、微結晶は蒸発固化法
あるいは湿式化学法などにより形成されているが、これ
らの方法により形成された微結晶は、加熱すると凝集し
てしまい、粒界の発生により特性が劣化してしまうとい
う問題があった。そのため、従来の微結晶では、良好な
特性を有する発光素子を得ることができなかった。
【0006】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、凝集を防止することができる微粒子
構造体およびそれを用いた発光素子ならびに微粒子構造
体の製造方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明による微粒子構造
体は、複数の微粒子を有すると共に、粒子間に凝集を防
止する支持部を有するものである。
【0008】本発明による他の微粒子構造体は、複数の
微粒子を有すると共に、各微粒子は架橋部により互いに
結合されたものである。
【0009】本発明による発光素子は、発光部を備えた
ものであって、発光部は複数の微粒子と共に粒子間に凝
集を防止する支持部を有する微粒子構造体を含むもので
ある。
【0010】本発明による他の発光素子は、発光部を備
えたものであって、発光部は複数の微粒子が架橋部によ
り互いに結合された微粒子構造体を含むものである。
【0011】本発明による微粒子構造体の製造方法は、
電極反応により本発明の微粒子構造体を形成するもので
ある。
【0012】本発明による微粒子構造体では、支持部に
より各微粒子の凝集が防止される。
【0013】本発明による他の微粒子構造体では、架橋
部により各微粒子が互いに結合されている。
【0014】本発明による発光素子は、本発明の微粒子
構造体を発光部に用いたものである。
【0015】本発明による微粒子構造体の製造方法で
は、電極反応により本発明の微粒子構造体が形成され
る。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
【0017】図1は本発明の一実施の形態に係る微粒子
構造体の構成を概念的に表すものである。なお、図1は
あくまでもこの微粒子構造体を説明するためにその構成
を概念的に表したものであり、実物を表したものではな
い。
【0018】この微粒子構造体は、例えば、酸化亜鉛
(ZnO)などの半導体よりなる複数の微粒子11を有
しており、各微粒子11は架橋部12によりネットワー
ク状に互いに結合されている。すなわち、この微粒子構
造体では、各微粒子11の粒子間に存在する架橋部12
が支持部となり、各微粒子11の凝集が防止されるよう
になっている。なお、各微粒子11は、全ての微粒子1
1が架橋部12により直接的に互いに結合されているわ
けではなく、近傍に存在する各微粒子11同士が架橋部
12により直接的に結合されており、それにより全体的
に結合されている。
【0019】各微粒子11は、少なくとも一部が微結晶
により構成されている。ここで微結晶というのは単結晶
または多結晶よりなる微小な粒子のことであり、発光可
能なものを言う。この微結晶の結晶粒径(すなわち1つ
の単結晶の結晶粒径)は100nm以下であるとが好ま
しい。100nm以下であれば欠陥が極めて少ない結晶
を得ることができるからである。また、これら微結晶
は、バンド間発光(バンドギャップ間遷移に起因する発
光)およびドナーアクセプターペア発光(ドナーアクセ
プター準位間遷移に起因する発光)をするようになって
いる。すなわち、この微結晶集合体は、バンド間発光機
能およびドナーアクセプターペア発光機能をそれぞれ有
している。
【0020】このような構成を有する微粒子構造体は、
次のようにして製造することができる。
【0021】図2は微粒子構造体の製造に用いる製造装
置の概略構成を表すものである。この製造装置は、容器
21の内部に電解液22が収納されており、この電解液
22に正極23と負極24とが浸漬されることにより接
触されている。電解液22は、例えば、抵抗率8MΩ以
上の純水、または含水性の有機溶媒により構成されてい
る。正極23は、製造する微粒子構造体の原材料となる
ものであり、例えば、製造する微粒子構造体に応じた金
属により構成されている。具体的には、例えば、ZnO
よりなる微粒子構造体を製造する場合には亜鉛(Zn)
により構成される。なお、正極23は、純度99.9%
以上の金属により構成されることが好ましく、更には純
度99.99%以上の金属により構成されることが好ま
しい。一方、負極24は、適宜な導電性基板により構成
されている。
【0022】ここでは、このような製造装置を用い、正
極23と負極24との間に電圧を印加する。これによ
り、電極反応が生じ、負極24への電着物として、また
は電解液22中の浮遊物あるいは沈殿物として本実施の
形態に係る微粒子構造体が得られる。
【0023】このようにして製造される微粒子構造体
は、次のように作用する。
【0024】この微粒子構造体では、各微粒子11に電
流がそれぞれ注入されると、各微結晶において、バンド
ギャップ間遷移およびドナーアクセプター準位間遷移に
それぞれ起因する電子−正孔再結合により発光がそれぞ
れ起こる。ここでは、各微粒子11が架橋部12により
互いに結合されているので、各微粒子11の凝集が防止
され、非発光中心の増加が防止される。
【0025】このように本実施の形態に係る微粒子構造
体によれば、各微粒子11が架橋部12により互いに結
合されるようにしたので、架橋部12を支持部として各
微粒子11の凝集を防止することができ、凝集による発
光効率の低下を防止することができる。よって、高い発
光効率を得ることができる。
【0026】また、本実施の形態に係る微粒子構造体の
製造方法によれば、電極反応により形成するようにした
ので、本実施の形態に係る微粒子構造体を容易に得るこ
とができ、本実施の形態に係る微粒子構造体を容易に実
現することができる。
【0027】なお、このような微粒子構造体は、例え
ば、次のような各発光素子を構成する発光材料として用
いられる。
【0028】(第1の発光素子)図3は本実施の形態に
係る微粒子構造体を用いた第1の発光素子である発光ダ
イオード(light emitting diode;LED)の構成を概
念的に表すものである。この発光ダイオードは、基板3
1の一面に、p型半導体層32,発光部である発光層3
3およびn型半導体層34が順次積層されている。
【0029】基板31は、例えば、積層方向における厚
さ(以下、単に厚さという)が0.5mmであり、石英
ガラスあるいはケイ酸塩ガラスなどの非晶質体または結
晶性の石英またはサファイアなどの透明材料により構成
されている。すなわち、このように透明材料により基板
31を構成することにより、基板31の側から光を取り
だすことができるようになっている。なお、基板31を
非晶質体により構成するようにすれば、基板31の面積
を大きくすることができるので好ましい。
【0030】p型半導体層32は、例えば、厚さが1μ
mであり、マグネシウム(Mg)などのp型不純物を添
加したp型AlGaNまたはp型GaNにより構成され
ている。また、p型半導体層32は、これらの多結晶
体,非晶質体あるいは多結晶体と非晶質体との複合体な
どの非単結晶体により構成されている。p型AlGaN
におけるアルミニウム(Al)の組成は、例えば50モ
ル%以下である。発光層33は、例えば、ZnOよりな
る本実施の形態に係る微粒子構造体により構成されてい
る。n型半導体層34は、例えば、厚さが0.5μmで
あり、炭素(C)などのn型不純物を添加したn型BN
の非単結晶体により構成されている。
【0031】これにより、この発光素子では、発光層3
3のバンドギャップがp型半導体層32およびn型半導
体層34の各バンドギャップよりもそれぞれ小さくなっ
ており、p型半導体層32とn型半導体層34との間に
おいて電流が発光層33を介して流れるようになってい
る。なお、p型半導体層32およびn型半導体層34の
各バンドギャップはそれらを構成する材料によりそれぞ
れ決定され、発光層33のバンドギャップは、発光層3
3に含まれる各微粒子11を構成する材料およびその粒
径(具体的には微結晶の結晶粒径)によって決定され
る。
【0032】また、p型半導体層32の基板31と反対
側にはp側電極35が形成されている。このp側電極3
5は、p型半導体層32の側からニッケル(Ni)層,
白金(Pt)層および金(Au)層を順次積層して加熱
処理により合金化した構造を有しており、p型半導体層
32と電気的に接続されている。更に、n型半導体層3
4の基板31と反対側にはn側電極36が形成されてい
る。このn側電極36は、n型半導体層34の側からチ
タン(Ti)層,アルミニウム層,白金層および金層を
順次積層して加熱処理により合金化した構造を有してお
り、n型半導体層34と電気的に接続されている。
【0033】このような構成を有する発光ダイオード
は、次のようにして製造することができる。
【0034】まず、石英ガラスなどよりなる基板31を
用意し、その一面に、例えば、スパッタリング法,CV
D(Chemical Vapor Deposition )法,分子線エピタキ
シー(Molecular Beam Epitaxy;MBE)法あるいはレ
ーザ堆積法を用いてp型AlGaNの非単結晶体または
p型GaNの非単結晶体よりなるp型半導体層32を形
成する。その際、基板31の温度は600℃以下とす
る。ここでは、p型半導体層32を非単結晶体により構
成するので温度をあまり高くする必要はない。よって、
基板31を非晶質体により構成しても十分耐え得る。次
いで、p型半導体層32における不純物の活性化が不十
分である場合には、例えばレーザアニール法によりその
活性化を行う。
【0035】続いて、図2に示した製造装置を用い、純
度99.9%以上の亜鉛板を正極23とし、p型半導体
層32を負極24として、p型半導体層32の表面にZ
nOよりなる微粒子構造体を電着させ、発光層33を形
成する。そののち、酸素含有雰囲気中における加熱処理
を行うと共に、更に必要に応じて水素プラズマ処理を行
うことが好ましい。これにより、発光層33の各微粒子
11に存在する酸素空孔を補完してその結晶性を向上さ
せることができるからである。酸素含有雰囲気中におけ
る加熱処理としては、酸素プラズマ処理あるいは酸素含
有雰囲気中におけるレーザアニ−ル処理などがある。な
お、ここでは、発光層33に含まれる各微粒子11が架
橋部12により結合されているので、加熱処理を行って
も各微粒子11は凝集しない。
【0036】必要に応じて加熱処理を行ったのち、発光
層33を介してp型半導体層32の基板31と反対側
に、例えば、スパッタリング法,CVD法,MBE法あ
るいはレーザ堆積法を用いてn型BNの非単結晶体より
なるn型半導体層34を形成する。その際、基板31の
温度は600℃以下とする。ここでは、n型半導体層3
4も非単結晶体により構成するので温度をあまり高くす
る必要はない。よって、基板31を非晶質体により構成
しても十分耐え得る。また、この加熱によっても、発光
層33に含まれる各微粒子11は架橋部12により結合
されているので凝集しない。そののち、n型半導体層3
4における不純物の活性化が不十分である場合には、例
えばレーザアニール法によりその活性化を行う。
【0037】n型半導体層34を形成したのち、リソグ
ラフィ技術を用い、p側電極35の形成位置に対応し
て、n型半導体層34および発光層33を選択的に順次
除去し、p型半導体層32の一部を露出させる。なお、
この際、p型半導体層32の一部も選択的に除去しても
よい。p型半導体層32を露出させたのち、n型半導体
層34およびエッチングにより露出されたp型半導体層
32の全面に図示しないレジスト膜を塗布形成し、p側
電極35の形成位置に開口を形成する。そののち、その
全面に、例えば、真空蒸着法によりニッケル層,白金層
および金層を順次蒸着し、レジスト膜をその上に形成さ
れた各金属層と共に除去(リフトオフ)することにより
p側電極35を形成する。また、例えば、p側電極35
と同様にして、チタン層,アルミニウム層,白金層およ
び金層を順次蒸着し、n側電極36を選択的に形成す
る。そののち、加熱処理を行い、p側電極35およびn
側電極36をそれぞれ合金化する。これにより、図3に
示した発光ダイオードが形成される。
【0038】このようにして製造される発光ダイオード
は、次のように作用する。
【0039】この発光ダイオードでは、p側電極35と
n側電極36との間に所定の電圧が印加されると発光層
33に含まれる各微粒子11に電流が注入され、各微粒
子11においてそれぞれ電子−正孔再結合により発光が
起こる。ここでは、発光層33を本実施の形態に係る微
粒子構造体により構成しているので、発光層33に含ま
れる各微粒子11は架橋部12により結合されており、
この架橋部12が支持部となって、各微粒子11の凝集
が防止されている。よって、製造工程中における加熱に
よっても各微粒子11は凝集せず、高い発光効率を有し
ている。
【0040】なお、この発光ダイオードは、照明,ディ
スプレイあるいは殺菌灯などの光源として用いるられ
る。
【0041】このようにこの発光ダイオードによれば、
本実施の形態に係る微粒子構造体を用いて発光層33を
構成するようにしたので、製造工程中における加熱によ
っても各微粒子11の凝集を防止することができ、凝集
による結晶性の低下を防止することができる。よって、
高い発光効率を得ることができると共に、寿命を延長す
ることができる。
【0042】また、微粒子11を用いて発光層33を構
成するようにしたので、発光層33を構成する材料の選
択の幅が広がり、任意の発光波長を得ることができる。
更に、p型半導体層32およびn型半導体層34も単結
晶により構成する必要がなくなり、それらを構成する材
料の選択幅が広がると共に、低温で形成可能な非単結晶
体によりそれらを構成することもできる。よって、基板
31を構成する材料の選択幅が広がり、例えば、非晶質
体などによっても基板31を構成することができる。従
って、大面積の素子列を形成することが可能となる。
【0043】(第2の発光素子)図4は本実施の形態に
係る微粒子構造体を用いた第2の発光素子である発光ダ
イオードの構成を概念的に表すものである。この発光ダ
イオードは、基板41の一面に、p型半導体層42,発
光部である発光層43およびn型半導体よりなるn側電
極46が順次積層されている。
【0044】基板41は、例えば、第1の発光素子と同
様に、厚さが0.5mmであり、石英ガラスあるいはケ
イ酸塩ガラスなどの非晶質体または結晶性の石英または
サファイアなどの透明材料により構成されている。p型
半導体層42は、例えば、厚さが1μmであり、マグネ
シウム(Mg)などのp型不純物を添加したp型BNの
非単結晶体により構成されている。発光層43は、例え
ば、n型ZnOよりなる本実施の形態に係る微粒子構造
体により構成されている。n側電極46は、例えば、厚
さが0.3μmであり、アンチモン(Sb)などのn型
不純物を添加したn型SnO2 の非単結晶体により構成
されている。なお、このSnO2 は透明材料であり、n
側電極46の側からも光を取りだすことができるように
なっている。
【0045】これにより、この発光素子では、発光層4
3のバンドギャップがp型半導体層42およびn側電極
46の各バンドギャップよりもそれぞれ小さくなってお
り、p型半導体層42とn側電極46との間において電
流が発光層43を介して流れるようになっている。
【0046】また、p型半導体層42の基板41と反対
側にはp側電極45が形成されている。このp側電極4
5は、p型半導体層42の側からニッケル層,白金層お
よび金層を順次積層して加熱処理により合金化した構造
を有しており、p型半導体層42と電気的に接続されて
いる。
【0047】このような構成を有する発光ダイオード
は、次のようにして製造することができる。
【0048】まず、石英ガラスなどよりなる基板41を
用意し、その一面に、例えば、スパッタリング法,CV
D法,MBE法あるいはレーザ堆積法を用いてp型BN
の非単結晶体よりなるp型半導体層42を形成する。そ
の際、基板41の温度は600℃以下とする。次いで、
p型半導体層42における不純物の活性化が不十分であ
る場合には、例えばレーザアニール法によりその活性化
を行う。
【0049】続いて、図2に示した製造装置を用い、純
度99.9%以上の亜鉛板を正極23とし、p型半導体
層42を負極24として、p型半導体層42の表面にZ
nOよりなる微粒子構造体を電着させ、発光層43を形
成する。そののち、窒素プラズマ処理などの不活性ガス
含有雰囲気中における加熱処理を行う。これにより、各
微粒子11から一部の酸素が欠落して酸素空孔ができ、
各微粒子11を構成するZnOはそれぞれn型となる。
なお、ここでは、発光層43に含まれる各微粒子11が
架橋部12により結合されているので、加熱処理を行っ
ても各微粒子11は凝集しない。
【0050】不活性ガス雰囲気中における加熱処理を行
ったのち、発光層43を介してp型半導体層42の基板
41と反対側に、例えば、スパッタリング法,CVD
法,MBE法あるいはレーザ堆積法を用いてn型SnO
2 の非単結晶体よりなるn側電極46を形成する。その
際、基板41の温度は600℃以下とする。この加熱に
よっても、発光層43に含まれる各微粒子11は架橋部
12により結合されているので凝集しない。そののち、
n側電極46における不純物の活性化が不十分である場
合には、例えばレーザアニール法によりその活性化を行
う。
【0051】n側電極46を形成したのち、第1の発光
ダイオードと同様に、p側電極45の形成位置に対応し
て、n側電極46および発光層43を選択的に順次除去
し、露出させたp型半導体層42の表面に、ニッケル
層,白金層および金層を順次蒸着し、p側電極45を選
択的に形成する。そののち、加熱処理を行い、p側電極
45を合金化する。これにより、図4に示した発光ダイ
オードが形成される。
【0052】このようにして製造される発光ダイオード
は、第1の発光ダイオードと同様に作用し、同一の効果
を有する。また、第1の発光ダイオードと同様に、照
明,ディスプレイあるいは殺菌灯などの光源として用い
るられる。
【0053】(第3の発光素子)図5は本実施の形態に
係る微粒子構造体を用いた第3の発光素子である発光ダ
イオードの構成を概念的に表すものである。この発光ダ
イオードは、発光層53の構成が異なることを除き、第
1の発光ダイオードと同一の構成,作用および効果を有
している。また、第1の発光ダイオードと同様にして製
造することができる。よって、ここでは、第1の発光ダ
イオードと同一の構成要素には同一の符号を付し、その
詳細な説明を省略する。
【0054】発光層53は、本実施の形態に係る微粒子
構造体に加えて、各微粒子11の間に形成された絶縁層
53aを有している。この絶縁層53aは、例えば、S
OG(spin on glass )のように焼成処理後に絶縁膜と
なるような物質により構成されている。すなわち、この
絶縁膜53aは、例えば、p型半導体層32の表面に微
粒子構造体を電着したのち、微粒子構造体が電着された
p型半導体層32の表面にSOGを塗布し、焼成するこ
とにより形成される。
【0055】このようにこの発光ダイオードによれば、
各微粒子11の間に絶縁層53aを有するようにしたの
で、p型半導体層32とn型半導体層34との間におけ
る漏れ電流を低減することができ、各微粒子11に効率
良く電子および正孔を注入することができる。よって、
発光効率を向上させることができる。なお、ここでは詳
細に説明しないが、第2の発光ダイオードについても、
この発光ダイオードと同様に、絶縁層を有するようにし
てもよい。
【0056】(第4の発光素子)図6は本実施の形態に
係る微粒子構造体を用いた第4の発光素子である発光ダ
イオードの構成を概念的に表すものである。この発光ダ
イオードは、基板31とp型半導体層32との間に拡散
防止層67を備えたことを除き、第1の発光ダイオード
と同一の構成,作用および効果を有している。また、第
1の発光ダイオードと同様にして製造することができ
る。よって、ここでは、第1の発光ダイオードと同一の
構成要素には同一の符号を付し、その詳細な説明を省略
する。
【0057】拡散防止層67は、基板31とp型半導体
層32との間における各構成元素の拡散を防止すると共
に、基板31とp型半導体層32との密着性を高めるた
めのものである。この拡散防止層67は、例えば、厚さ
が数nm〜数10nmであり、Ti3 4 またはSi3
4 により構成されている。なお、この拡散防止層67
は、例えば、スパッタリング法,CVD法あるいはレー
ザー堆積法などにより形成される。
【0058】このようにこの発光ダイオードによれば、
拡散防止層67を備えるようにしたので、基板31とp
型半導体層32との間における各構成元素の拡散を防止
することができると共に、基板31とp型半導体層32
との密着性を確保することができる。よって、品質を向
上させることができる。なお、ここでは詳細に説明しな
いが、第2の発光ダイオードについても、この発光ダイ
オードと同様に、拡散防止層を有するようにしてもよ
い。
【0059】(第5の発光素子)図7は本実施の形態に
係る微粒子構造体を用いた第5の発光素子である発光ダ
イオードの構成を概念的に表すものである。この発光ダ
イオードは、基板71を導電性材料により構成しp側電
極としての機能を持たせると共に、p側電極45を削除
したことを除き、第2の発光ダイオードと同一の構成,
作用および効果を有している。また、第2の発光ダイオ
ードと同様にして製造することができる。よって、ここ
では、第2の発光ダイオードと同一の構成要素には同一
の符号を付し、その詳細な説明を省略する。
【0060】基板71は、例えば、金属,半導体あるい
は炭化ケイ素(doped-SiC)などの導電性材料により
構成されている。基板71を構成する金属としては、タ
ングステン(W)あるいはタンタル(Ta)などの高融
点金属、または鉄(Fe)などが好ましく、半導体とし
てはシリコンなどが好ましい。なお、基板71を半導体
により構成する場合には、不純物(ここではp型不純
物)を添加することにより抵抗を低くしたものを用い
る。
【0061】このようにこの発光ダイオードによれば、
基板71にp側電極の機能を持たせるようにしたので、
発光層43の全面に均一に電圧を印加することができ、
発光層43の全面において均一に発光させることができ
ると共に、製造工程を簡素化することができる。なお、
ここでは詳細に説明しないが、第1の発光ダイオードに
ついても、この発光ダイオードと同様に、拡散防止層を
有するようにしてもよい。但し、その場合、n側電極3
6はn型半導体層34の一部に対して形成するようにす
るか、透明材料により形成するようにすることが好まし
い。
【0062】
【実施例】更に、本発明の具体的な実施例について詳細
に説明する。
【0063】(実施例1)まず、図2に示した製造装置
を用いて、微粒子構造体を形成した。その際、正極23
には純度99.99%以上の亜鉛板を用い、負極24に
はシリコンよりなる導電性半導体基板を用い、電解液2
2には抵抗率8MΩの純水を用いた。また、正極23と
負極24との間には、電界強度17.5V/cmの電圧
を印加し、7.5時間通電を行った。これにより、負極
24に電着物が得られると共に、電解液22中にも浮遊
物および沈殿物がそれぞれ得られた。
【0064】これらの電着物,浮遊物および沈殿物をそ
れぞれ回収し、それらについて、飛行時間型質量分析
(time of flight mass spectrometry;TOF−MS)
およびエネルギー分散型分光分析(enerty dispersiue
spectrometry;EDS)により同定をそれぞれ行った。
その結果、それらはZnOであることが確認された。
【0065】そののち、得られた電着物などを走査電子
顕微鏡(SEM;Scanning Electron Microscope)によ
り観察した。その結果を図8に示す。図8に示したよう
に、この電着物などは、平均粒径が約50nmの微粒子
を複数有しており各微粒子が架橋部によりネットワーク
状に互いに結合されていることが分かった。すなわち、
この電着物などは、架橋部により結合された微粒子構造
体であることが分かった。
【0066】また、この得られた微粒子構造体を酸素雰
囲気下において800℃で2時間加熱処理を行ったの
ち、再びSEMにより粒子の状態を観察した。その結果
を図9に示す。図9に示したように、加熱処理によって
も各微粒子の凝集は認められず、各微粒子の形状に変化
がないことが分かった。
【0067】更に、この加熱処理後の微粒子構造体につ
いてHe−Cdレーザの325nmの光を室温において
照射し、発光スペクトルの測定を行った。その結果を図
10に示す。図10に示したように、バンドギャップ間
遷移に起因する波長380nmの発光と、ドナーアクセ
プター準位間遷移に起因する可視領域の発光が観測され
た。
【0068】(実施例2)電解液22を異ならせたこと
を除き、実施例1と同様にして微粒子構造体を形成し
た。電解液22には1%程度の水を含有するメチルアル
コールを用いた。その結果、実施例1と同様に、負極2
4に電着物が得られた。この得られた電着物について、
実施例1と同様に、同定、SEMによる観察、加熱処理
後のSEMによる観察および発光スペクトルの測定をそ
れぞれ行った。その結果、実施例1と同様に、この電着
物はZnOであること、および平均粒径が約50nmの
複数の微粒子が架橋部により結合された微粒子構造体で
あることが分かった。また、加熱処理によっても各微粒
子の凝集は認められなかった。更に、バンドギャップ間
遷移に起因する波長380nmの発光と、ドナーアクセ
プター準位間遷移に起因する可視領域の発光が観測され
た。
【0069】(比較例)シーアイ化成製の平均粒径30
nmのZnO微粒子について粒子の状態をSEMにより
観察した。その結果を図11に示す。図11に示したよ
うに、本実施例とは異なり、各微粒子を結合する架橋部
は存在しなかった。そののち、この微粒子について、実
施例1と同様にして加熱処理を行い、再び加熱処理後の
粒子の状態をSEMにより観察した。その結果を図12
に示す。図12に示したように、この微粒子は、加熱処
理により互いに凝集し、各微粒子は粒径が大きくなって
しまっていた。
【0070】また、加熱処理後の微粒子に実施例1と同
様にHe−Cdレーザの325nmの光を室温において
照射し、発光スペクトルの測定を行った。その結果を図
13に示す。図13に示したように、ドナ−アクセプタ
ペア結合に起因すると思われる波長536nm程度の発
光が観測された。すなわち、微粒子の凝集によりドナ−
密度が増加していることが分かった。また、発光強度の
低下も見られた。
【0071】以上の結果から、本実施例によれば、加熱
処理によっても各微粒子が凝集せず、バンドギャップ間
遷移による紫外発光の低下が起こらないことが分かっ
た。すなわち、品質を保持できることが分かった。
【0072】以上、実施の形態および各実施例を挙げて
本発明を説明したが、本発明は上記実施の形態および各
実施例に限定されるものではなく、種々の変形が可能で
ある。例えば、上記実施の形態においては、微粒子11
の少なくとも一部が微結晶により構成される場合につい
てのみ説明したが、本発明は、微粒子が微結晶以外の粒
子により構成される場合についても適用することができ
る。
【0073】また、上記実施の形態においては、発光素
子の具体的な構成例を挙げて説明したが、本発明は、本
発明の微粒子構造体を含む発光部を備えた発光素子につ
いて広く適用することができる。例えば、上記実施の形
態では、基板にp型半導体層,発光層およびn型半導体
層を順次積層する場合について説明したが、基板にn型
半導体層,発光層およびp型半導体層を順次積層するよ
うにしてもよい。また、基板にp型半導体層,発光層お
よびn型半導体よりなるn側電極を順次積層する場合に
ついて説明したが、n型半導体層,発光層およびp型半
導体よりなるp側電極を順次積層するようにしてもよ
い。
【0074】更に、上記実施の形態では、発光素子とし
て発光ダイオードについてのみ説明したが、半導体レー
ザなどの他の発光素子についても適用することができ
る。
【0075】加えて、上記実施の形態では、p型半導体
層,n型半導体層およびn型半導体よりなるn側電極な
どをそれぞれ構成する半導体材料について具体的な例を
挙げて説明したが、本発明は、他の半導体材料によりそ
れらを構成することもできる。例えば、亜鉛,マグネシ
ウム,カドミウム(Cd),マンガン(Mn),水銀
(Hg)およびベリリウム(Be)からなる群より選ば
れた少なくとも1種のII族元素と、酸素,セレン(S
e),硫黄(S)およびテルル(Te)からなる群より
選ばれた少なくとも1種のVI族元素とを含む他のII
−VI族化合物半導体、あるいはホウ素,アルミニウ
ム,ガリウムおよびインジウム(In)からなる群より
選ばれた少なくとも1種のIII族元素と、窒素,燐
(P),ヒ素(As),アンチモンおよびビスマス(B
i)からなる群より選ばれた少なくとも1種のV族元素
とを含む他のIII−V族化合物半導体により構成する
こともできる。
【0076】更にまた、上記実施の形態においては、p
型半導体層,n型半導体層およびn型半導体よりなるn
側電極を非単結晶体によりそれぞれ構成する場合につい
て説明したが、それらを単結晶体によりそれぞれ構成す
るようにしてもよい。
【0077】
【発明の効果】以上説明したように請求項1または請求
項2乃至7のいずれか1に記載の微粒子構造体によれ
ば、粒子間に凝集を防止する支持部を有するようにした
ので、または各微粒子が架橋部により互いに結合される
ようにしたので、各微粒子の凝集を防止することがで
き、凝集による発光効率の低下を防止することができ
る。よって、高い発光効率を得ることができるという効
果を奏する。
【0078】また、請求項8または9記載の発光素子に
よれば、粒子間に凝集を防止する支持部を有する微粒子
構造体または各微粒子が架橋部により互いに結合された
微粒子構造体を含む発光部を備えるようにしたので、製
造工程中における加熱によっても各微粒子の凝集を防止
することができ、凝集による結晶性の低下を防止するこ
とができる。よって、高い発光効率を得ることができる
と共に、寿命を延長することができるという効果を奏す
る。
【0079】更に、請求項10または請求項11乃至1
4のいずれか1に記載の微粒子構造体の製造方法によれ
ば、電極反応により形成するようにしたので、本発明に
係る微粒子構造体を容易に得ることができ、本発明に係
る微粒子構造体を実現することができるという効果を奏
する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態に係る微粒子構造体の構
成を表す概念図である。
【図2】図1に示した微粒子構造体の製造に用いる製造
装置の概略構成図である。
【図3】図1に示した微粒子構造体を用いた第1の発光
素子の構成を表す概念図である。
【図4】図1に示した微粒子構造体を用いた第2の発光
素子の構成を表す概念図である。
【図5】図1に示した微粒子構造体を用いた第3の発光
素子の構成を表す概念図である。
【図6】図1に示した微粒子構造体を用いた第4の発光
素子の構成を表す概念図である。
【図7】図1に示した微粒子構造体を用いた第5の発光
素子の構成を表す概念図である。
【図8】本発明の第1の実施例に係る微粒子構造体の構
造を表すSEM写真である。
【図9】図8に示した微粒子構造体の加熱処理後の構造
を表すSEM写真である。
【図10】図8に示した微粒子構造体の発光特性を表す
特性図である。
【図11】比較例に係る微粒子構造体の構造を表すSE
M写真である。
【図12】図11に示した微粒子構造体の加熱処理後の
構造を表すSEM写真である。
【図13】図11に示した微粒子構造体の発光特性を表
す特性図である。
【符号の説明】
11…微粒子、12…架橋部(支持部)、21…容器、
22…電解液、23…正極、24…負極、31,41,
71…基板、32,42…p型半導体層、33,43,
53…発光層(発光部)、34…n型半導体層、35,
45…p側電極、36,46…n側電極、53a…絶縁
層、67…拡散防止層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 戸田 淳 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 森 芳文 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 Fターム(参考) 5F073 CA22 CB05 DA05 DA06 DA07 DA17

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の微粒子を有すると共に、粒子間に
    凝集を防止する支持部を有することを特徴とする微粒子
    構造体。
  2. 【請求項2】 複数の微粒子を有すると共に、各微粒子
    は架橋部により互いに結合されたことを特徴とする微粒
    子構造体。
  3. 【請求項3】 各微粒子はネットワーク状に結合された
    ことを特徴とする請求項2記載の微粒子構造体。
  4. 【請求項4】 微粒子の少なくとも一部は微結晶により
    構成されたことを特徴とする請求項2記載の微粒子構造
    体。
  5. 【請求項5】 微結晶の結晶粒径は100nm以下であ
    ることを特徴とする請求項4記載の微粒子構造体。
  6. 【請求項6】 バンド間発光機能を有することを特徴と
    する請求項2記載の微粒子構造体。
  7. 【請求項7】 ドナーアクセプターペア発光機能を有す
    ることを特徴とする請求項2記載の微粒子構造体。
  8. 【請求項8】 発光部を備えた発光素子であって、 前記発光部は、複数の微粒子と共に粒子間に凝集を防止
    する支持部を有する微粒子構造体を含むことを特徴とす
    る発光素子。
  9. 【請求項9】 発光部を備えた発光素子であって、 前記発光部は、複数の微粒子が架橋部により互いに結合
    された微粒子構造体を含むことを特徴とする発光素子。
  10. 【請求項10】 電極反応により、複数の微粒子と共に
    粒子間に凝集を防止する支持部を有する微粒子構造体を
    形成することを特徴とする微粒子構造体の製造方法。
  11. 【請求項11】 電極反応により、複数の微粒子が架橋
    部により互いに結合された微粒子構造体を形成すること
    を特徴とする微粒子構造体の製造方法。
  12. 【請求項12】 電極反応に用いる1つの電極を純度9
    9.9%以上の金属材料により構成することを特徴とす
    る請求項11記載の微粒子構造体の製造方法。
  13. 【請求項13】 電極反応に用いる電極を純水よりなる
    電解液に接触させることを特徴とする請求項11記載の
    微粒子構造体の製造方法。
  14. 【請求項14】 電極反応に用いる電極を含水性有機溶
    媒よりなる電解液に接触させることを特徴とする請求項
    11記載の微粒子構造体の製造方法。
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