JP2000195696A - 学習ベ―スの性能予測を伴う放射線透過検査システム - Google Patents

学習ベ―スの性能予測を伴う放射線透過検査システム

Info

Publication number
JP2000195696A
JP2000195696A JP11339546A JP33954699A JP2000195696A JP 2000195696 A JP2000195696 A JP 2000195696A JP 11339546 A JP11339546 A JP 11339546A JP 33954699 A JP33954699 A JP 33954699A JP 2000195696 A JP2000195696 A JP 2000195696A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gray level
average image
image gray
dose
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11339546A
Other languages
English (en)
Inventor
Shu Pin
ピン・シュ
Aufurihitigu Richard
リチャード・アウフリヒティグ
Andrew Joule Michael
マイケル・アンドリュ・ジュール
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of JP2000195696A publication Critical patent/JP2000195696A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
    • A61B6/542—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis involving control of exposure
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30—Controlling
    • H05G1/38—Exposure time
    • H05G1/42—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
    • H05G1/44—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube in which the switching instant is determined by measuring the amount of radiation directly

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 放射線透過撮像システムの性能を評価する方
法を提供する。 【解決手段】 （１）自動照射制御装置（ＡＥＣ）構成
部分を使用して平均画像グレイ・レベルを予測し、
（２）ＡＥＣ構成部分のＸ線影の中に位置するＸ線検出
器の部分から実測平均画像グレイ・レベルを得て、
（３）予測値と実測値を比較することによって、システ
ム性能の監視を実施する放射線透過撮像システムを開示
する。予測値は、連続する照射を経て学習システムによ
って変更される予測モデルによって決定され、より正確
な予測を提供する。学習システムが予測モデルを十分に
開発した後に、予測と実測とのグレイ・レベル値の誤差
をその後の照射において監視することができ、誤差が所
定のしきい値を超えた場合には誤差ルーチンを活動化す
ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、放射線透過撮像シ
ステム、より詳細には診断システムの性能監視とその報
告を行う放射線透過撮像システムについての発明に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の放射線画像すなわち「Ｘ線」画像
は、撮像しようとする対象物をＸ線発生装置とＸ線検出
器との間に配置することによって得られた。放射された
Ｘ線は対象物を通過して検出器に入射する。検出器の応
答は、その領域にわたって、入射するＸ線の強度の関数
として変化する。検出器に入射するＸ線の強度は主とし
てＸ線の経路に沿った対象物の密度の関数であるので、
検出器は対象物の影画像を受け取り、それをＸ線技師、
例えば放射線医師が観察し分析する。アナログ放射線透
過システムの場合には、検出器はＸ線フィルムによって
形成され、ディジタル放射線透過システムは、固体の検
出器部品（例えばシンチレータ／フォトダイオードアレ
イ）を有し、画像を電子形式で提供する。
【０００３】予定したＸ線線量が対象物に送られたと
き、および／またはＸ線検出器が撮像のための最適の光
学密度／信号雑音比を達成したときにＸ線発生装置を非
活動化する自動照射制御装置（ＡＥＣ）を組み込むこと
は、アナログおよびディジタルの両放射線透過システム
において普通である。ＡＥＣは一般に、放射されるＸ線
の経路の中に線量監視装置を備え、線量センサ（例えば
電離箱）のアレイが線量監視領域に配置されている。Ｘ
線検出器と同様に、これらの線量センサは放射されたＸ
線を受け取り、入射Ｘ線の強度の関数として応答が変化
する。線量センサからの応答信号はＡＥＣ制御装置にお
いて基準測定値と比較することができ、線量センサ信号
が基準しきい値に達するかまたはこれを超えた場合に
は、ＡＥＣ制御装置はＸ線発生装置に信号を送ってＸ線
の放射を停止させる。この工程中にＡＥＣ制御装置は、
発生装置（その電圧／電流など）の設定値、位置決めパ
ラメータ（発生装置の位置、その照射フィールドの大き
さ／視準など）、および条件のための望ましい基準しき
い値を与えるようなその他の変数を考慮に入れる。
【０００４】図１は、この形式の例示的な配置をより詳
細に図示しており、撮像しようとする対象物１０はＸ線
発生装置１２とＸ線検出器１４との間に配置され、線量
監視装置１６は検出器１４の前面に置かれている（しか
し、線量監視装置を別個にではなく検出器自体の内部に
備えることもできる）。線量監視装置１６はＡＥＣ制御
装置１８と連絡され、ＡＥＣ制御装置１８は発生装置１
２およびワークステーション２０と連絡されている。ワ
ークシテーション２０は、システム制御装置、画像収集
処理装置、画像用の表示装置などを含んでいる。図２は
検出器１４と線量監視装置１６とをさらに詳しく図示し
たもので、線量監視装置１６は、いくつかの線量センサ
（電離箱セル）２２、２４、２６を有する電離箱として
図示されている。これらの線量センサの信号は、プリア
ンプ２８の中で選択的に合計されて、基準測定値と比較
するために統合された線量監視装置信号３０として出力
される。用いられる撮像アプリケーションの形式に応じ
てある一定のセンサのみを活動状態にすべきであるの
で、線量センサ信号の選択的合計が使用される。例えば
身体の背から前部にＸ線を通過させる（ＰＡ）標準的な
胸部投影撮像アプリケーションは、左センサ２２と右セ
ンサ２６とを選択して、中央センサ２４を選択から外す
一方、側方胸部検査撮像アプリケーションは中央センサ
２４のみを選択して、左センサ２２と右センサ２６とを
選択から外す。選択されないセンサは、対象領域におけ
る正確な線量測定値を提供しないので、適用されている
撮像アプリケーションにおいて適正な照射時間を決定す
るためには使用されない。
【０００５】ディジタル放射線透過システムでは、ＡＥ
Ｃ装置は所望の照射時間を単に設定する以外の目的にも
有用である。ディジタルＸ線検出器が正確に較正されて
いる場合には、画像の平均グレイ・レベルは検出器へ入
った照射線量に比例する。線量監視装置もＸ線の経路の
内部にあるので、平均画像グレイ・レベルも線量監視装
置の照射線量に比例するはずである。したがって、検出
器の平均画像グレイ・レベルを予測するために線量監視
装置の照射線量を使用できるであろう。予測された平均
グレイ・レベルを実際の平均グレイ・レベルと比較し
て、有意な予測誤差があるとわかった場合には、これ
は、撮像システムの性能が撮像チェーンに沿った（すな
わち検出器および／または線量監視装置などにおける）
どこかで低下して、再較正または他のメンテナンスが必
要であることを示すことができる。したがって、システ
ム性能のための便利な監視システムを実現するために線
量監視装置を使用できるであろう。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな性能監視システムは、線量監視装置と検出器との応
答がＸ線ビームの質の関数であるから、ほとんどの放射
線透過撮像アプリケーションにおいてうまく働かない。
異なる撮像アプリケーションが原因で、またはＸ線を照
射された対象物の質が原因で、線量監視装置と検出器と
の間でＸ線ビームの質が変化する場合には、線量監視装
置が検出器の平均画像グレイ・レベルの正確に予測でき
ないことは明らかである。一例として、異なる寸法、形
状、および材料を有するＸ線を照射される対象物はＸ線
拡散の量が異なり、その拡散したＸ線は線量監視装置と
検出器とに様々な程度で、様々な位置に入射する。さら
に、Ｘ線ビームが理想的な質（すなわちその領域全体に
わたって均一の強度）でないかぎり、異なる線量監視装
置センサは異なる量の放射線を受ける。その結果、選択
的合計法で得られる「平均化」は、平均画像グレイ・レ
ベルの正確に予測できない。したがって、すべてのアプ
リケーションに対して平均検出器画像グレイ・レベルを
正確に予測するようにＡＥＣを較正することは不可能で
あり、上記のような性能監視システムは理想化された状
況においてのみ働くことになる。
【０００７】
【課題を解決するための手段】明細書の特許請求の範囲
によって定義される本発明は、Ｘ線発生装置と、中に複
数の線量センサ（例えば、複数のセルを有する電離箱）
を有する線量監視装置と、Ｘ線検出器とを含む形式の放
射線透過撮像システムの性能を評価する方法を対象とす
る。本発明の例示的なバージョンの簡単な概要をここに
挙げる。
【０００８】特定の形式の撮像アプリケーション（例え
ば胸部ＰＡ検査）を実行するためにシステムが構成され
ると、線量監視装置内のある一定の線量センサが自動照
射制御の目的で選択され、これらの選択された線量セン
サが、所定の照射線量しきい値が満たされたことを示す
と、照射が終了する。これらの線量センサを、予測モデ
ルの中で線量センサ信号を使用することによって予測さ
れた平均画像グレイ・レベルを計算するために使用する
こともでき、この予測モデルの形は、予測された平均画
像グレイ・レベルを最初に計算する前に予め決定され
る。実測平均画像グレイ・レベルも、選択された線量セ
ンサに対応する検出器上の領域（すなわち、選択された
線量センサのＸ線影の中にある検出器上の領域）から決
定される。
【０００９】予測と実測との平均画像グレイ・レベルの
差を計算して、予測の誤差を判定することができる。誤
差が所定のしきい値より大きい場合には、誤差ルーチン
を起動させる（例えば、システムを操作する技師は、診
断テストを実行またはシステム・メンテナンスを実施す
るよう指示される）。しかしながら、すぐれたシステム
性能監視特性を得るためには、システムは学習システム
を組み込んでいることが好ましく、これによって予測モ
デルは数回の照射を通じて繰り返し更新されてその精度
を向上させる。すなわち予測された平均画像グレイ・レ
ベルの誤差を減少させる。これは、誤差ルーチンが間違
って始動する確率を減らす。学習システムが予測モデル
を更新する方法の一例として、学習システムは各照射ご
とに予測と実測との平均画像グレイ・レベルの間に発生
する誤差を記憶し、回帰技法を利用して、各照射が完了
した後に予測モデルの数学的係数を変更する。代替案と
して、選択された線量センサのためのオペレーティング
・パラメータを、実測平均画像グレイ・レベルと共にル
ックアップ・テーブル／マトリクスの中に記憶すること
ができ、これにより、用意した線量センサ・パラメータ
を使用してグレイ・レベルを調べるかまたは補間するこ
とによって予測の実施を可能にする。
【００１０】予測モデルの結果が正確であると信じられ
る十分な回数だけ予測モデルが更新されると、更新を停
止して予測モデルをある固定状態に較正する。一例とし
て、予測モデルを固定する前に学習システムがある照射
回数Ｎだけ動作を続けるようにすることができる。代替
案として、１回または複数回の照射についてある所定の
しきい値以下の誤差になった後に、予測モデルを固定す
ることもできる。前述の誤差ルーチンをこの較正が生じ
るときまで動作しないようにし、予測モデルがある設定
されたしきい値以上の誤差を生じた後にのみ動作するよ
うにすることが好ましい。誤差ルーチンを動作させる前
に予測モデルが完全に発展するまで待つことによって、
システムは誤差ルーチンの間違った動作を防止する。そ
の間、平均画像グレイ・レベルを正確に予測する方法を
なおも学習している。
【００１１】本発明のさらなる利点、特徴、および目的
は、付属の図面を参照した本発明の下記の詳細な説明か
ら明らかになろう。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明の検査システムの例示的な
方法を図３の流れ図によって示す。この方法の中のいく
つかの手順は放射線透過撮像システム内で従来からあ
る。例えば、Ｘ線検出器１００は、入射Ｘ線１０２と検
出器ゲイン設定値１０４を利用してプロセッサ１０８に
画像データ１０６を提供し、自動照射制御装置（ＡＥ
Ｃ）１１０は、線量監視装置信号１１４（すなわち、選
択された線量センサからの統合信号）、発生装置位置決
めパラメータ１１６、Ｘ線発生装置設定値１１８（電圧
／電流など）、検出器ゲイン設定値１０４などの入力に
基づいて照射遮断時間１１２をプロセッサ１０８に提供
する。図１および図２に関して上に説明したように、Ａ
ＥＣ１１０によって決定された照射遮断時間１１２は、
所望の放射線量が送られたときに照射を終了するのに利
用されるが、このＡＥＣによる遮断方法は図３には図示
されていない。さらに、プロセッサ１０８は一般に、画
像データ１０６を分析し、これを所望の出力フォーマッ
トで提供し、または図３にやはり図示されていない工程
であるその他の方法で操作するために使用される。
【００１３】検査システムの中で、プロセッサ１０８は
いくつかの新規の追加ステップを実施する。これらを下
記のようにまとめることができる。
【００１４】１．予測モデルにおいて線量監視装置信号
を使用して予測平均画像グレイ・レベルを計算する。図
３において工程ブロック１２０で図示されたこのステッ
プでは、ＡＥＣ１１０からの信号（例えば、その電圧／
電流１２２、計算された照射遮断時間１１２、ＡＥＣゲ
イン１２４など）を使用して、照射中に活動状態であっ
た線量センサのＸ線照射線量に基づいて、画像１０６の
ための予測平均画像グレイ・レベルを計算する。例とし
て、図２に関して、撮像アプリケーション中に線量監視
装置１６の内部で左側と右側との線量センサ２２、２６
のみが選択された場合には、線量センサ２２、２６から
の信号のみがプリアンプ２８によって平均化され、予測
平均グレイ・レベル１２６の計算における予測モデル１
２０によって使用される。下にさらに詳しく検討するよ
うに、撮像システムが先ず最初に所与の撮像アプリケー
ションのための照射し始めると、工程ブロック１２０に
よって使用される予測モデルが完全に予め定義される
（例えば、これは予め決定された係数を有することにな
る）。しかしながら、続く照射については、自己学習ル
ーチンが予測モデルを更新する（例えばその係数を訂正
し）。それによってこれはさらに正確になる。この自己
学習ルーチン機能をさらに検討する前に、工程ブロック
１２０の予測モデルをさらに検討することが有用とな
る。
【００１５】線量監視装置の選択された線量センサにお
ける照射線量レベルを検出器における照射線量レベルと
関連させる予測モデルは、放射線透過撮像の当業者が望
むいかなる数学的形式もとることができる。これは一般
に様々な撮像システムの間で、また様々な撮像アプリケ
ーションと条件の間で変化するので、プロセッサ１０８
は実際にいくつかの予測モデルを含んでもよく、また特
定の撮像アプリケーションおよび特定セットの条件が存
在することを検出したときには適切な予測モデルにアク
セスすることを考慮すべきである。どの所与の状況（な
らびにモデルの係数）にも適用しようとする予測モデル
の形式は、過去の実施によって、またはいくつかの経験
的テストを実施して、回帰（線形または非線形）を適用
してモデルの初期挙動を確立することによって、決定す
ることができる。代替案として、本発明の学習システム
が予測モデルを更新してその精度を向上させることを考
慮して、単純に係数を後の更新で改良されると期待され
る推定モデル値にすることもできる。
【００１６】２．選択された線量センサの位置における
検出器画像内の実測平均画像グレイ・レベルを計算す
る。図２に関して最もよく図示されているように、検出
器１４のいくつかのセクションは線量センサ２２、２
４、２６のＸ線影の内部に留まっている。ある一定の線
量センサ信号のみが比較の目的で予測平均画像グレイ・
レベルを計算するために使用されたので、ここでは、選
択されたセンサに対応する検出器１４の領域から実測平
均画像グレイ・レベルをプロセッサ１０８に計算させる
ことが有用になろう。これらの領域は、センサと検出器
の相対的位置が固定され、そして画像データ１０６が各
ピクセルならびにそのグレイ・レベルのための位置デー
タを含むので、容易に決定することができ、したがっ
て、センサ位置に対応する実測平均画像グレイ・レベル
の計算は単に、選択されたセンサの影の中に位置するピ
クセルのグレイ・レベルの平均を出すことである。この
ルーチンは図３で工程ブロック１２８によって示されて
おり、ここで画像データ１０６と線量センサ１３０の位
置決め／選択を使用して、画像における実測平均グレイ
・レベル１３２を計算する。
【００１７】３．実測平均グレイ・レベル１３２と予測
平均グレイ・レベル１２６の差を計算する。そして、予
測平均グレイ・レベルと実測平均グレイ・レベル１３２
との間の誤差１３４を決定する。
【００１８】４．次に続く予測における誤差を減少させ
るように予測モデルを更新する。線１３６によって示す
ように、誤差１３４は自己学習システム１２０に送ら
れ、こうして予測モデルを更新することができる。一例
としてこれを、現在誤差１３４と前の誤差に回帰を適用
し、次いで回帰の結果を使用して予測モデルの係数を変
更することによって行うことができる。
【００１９】５．Ｎ回の照射の後に、さらなる更新を止
めて予測モデルを固定状態に較正する。このオプション
・ステップの背景となる原理は、ある点では、工程ブロ
ック１２０の自己学習機能を無力にして、予測モデルの
係数を一定レベルに固定することが望ましいこともあり
うることである。一例として、ある回数Ｎの照射の後
に、予測モデルをこれ以上の更新は必要ないという最低
誤差によって十分に「確定された」と考えることができ
る。これを図３において、照射回数１４０を計数してあ
る所定の照射回数Ｎに達した後にブロック１２０の自己
学習機能を無力にする（すなわち、更新を止める）イン
クリメンタ１３８によって示す。代替案として、図３の
インクリメンタ１３８は、予測モデル１２０の精度がさ
らなる更新は必要ないほど十分に上がったことを示す、
誤差１３４がある所定のしきい値以下になると、自己学
習機能を無力にするように動作する。
【００２０】６．システム性能の報告 誤差１３４は性能決定ルーチン１４２に供給され、性能
決定ルーチン１４２は誤差、誤差履歴／傾向などを報告
し、誤差１３４がある所定のしきい値を超えると、ある
種の性能報告または誤差ルーチン１４４を発行する。予
測モデル１２０の係数が比較的少ない更新を経たときに
誤差１３４が初期の照射中に高くなるので、ある一定の
試行回数Ｎ１４０が発生したことを性能決定ルーチン１
４２が決定するまで（例えば、予測モデルが上述のよう
に較正されて、ある固定状態になるまで）、誤差報告／
ルーチン１４４の開始を防ぐことが有利である。
【００２１】本発明の様々な可能な特徴を例示するため
に本発明の好ましい実施形態を上に説明し、これらの特
徴を様々な方法で組み合せることができることを理解さ
れたい。様々な方法で上述の実施形態のいろいろな特徴
を組み合わせる他に、別の変形も本発明の範囲内に入る
と考えられる。このような変形の例示的列挙を下記に示
す。
【００２２】第１に、自己学習予測モデル１２０では、
ある所与の撮像アプリケーションと条件セットについ
て、初期モデル係数を有するいくつかの異なる予測モデ
ルで工程ブロック１２０をまず開始することも可能であ
る。例えば、ある一定の撮像条件の下で行われるＰＡ胸
部検査のために、ブロック１２０は異なる形を有するい
くつかの異なる予測モデルで開始することができる。次
に続く照射が行われると、本発明の自己学習機能は異な
る予測モデルの各々の係数を更新することができ、場合
によっては精度の低いモデルを除去して最も正確な１つ
のモデル（または複数のモデル）のみを残す。それから
最も精度の高いモデルを、同じ一般撮像条件の下で行わ
れる後の照射で使用するために固定する。
【００２３】第２に、複数の予測モデルが上述のように
競合すると、自己学習システム内で「最良の」予測モデ
ルがいったん固定されても、新しい照射が行われる度に
他の提案予測モデルが固定予測モデルと並行してテスト
されることも可能である。提案予測モデルの１つが後で
固定予測モデルよりも長時間にわたって低い誤差を示す
場合には、固定モデルを取り換えることができる。
【００２４】本発明を上述の好ましい実施形態に限定す
る意図はなく、別に記載した特許請求の範囲によっての
み本発明が限定されることを意図する。したがって本発
明は、これらの特許請求の範囲の中に字義的または等価
的に含まれるすべての代替実施形態を包含するものであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】自動照射制御装置（ＡＥＣ）を備えたディジタ
ル放射線透過撮像システムを示す概略線図である。
【図２】図１の線量監視装置とＸ線検出器の前面斜視図
である。
【図３】撮像チェーンに沿って放射線透過撮像システム
の性能を監視し報告するためのＡＥＣ構成部分の使用を
例示する、本発明の工程の流れ図である。
【符号の説明】
１００ Ｘ線検出器 １０２ 入射Ｘ線 １０４ 検出器ゲイン設定値 １０６ 画像データ １０８ プロセッサ １１０ 自動照射制御装置（ＡＥＣ） １１２ 照射遮断時間 １１４ 線量監視装置信号 １１６ 発生装置位置決めパラメータ １１８ Ｘ線発生装置設定値 １２０ 工程ブロック：自己学習予測モデル １２２ 電圧／電流 １２４ ＡＥＣゲイン １２６ 予測平均グレイ・レベル １３０ 線量センサ １３２ 実測平均グレイ・レベル １３４ 誤差 １３６ 誤差を自己学習システムに送ることを示す線 １３８ インクリメンタ １４０ 照射回数 １４２ 性能決定ルーチン １４４ 誤差報告／ルーチン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 リチャード・アウフリヒティグ アメリカ合衆国・53226・ウイスコンシン 州・ワウエトサ・105番・ノース 124ティ エイチ ストリート・2500 (72)発明者 マイケル・アンドリュ・ジュール アメリカ合衆国・53056・ウイスコンシン 州・メルトン・メイン ストリート・ 7083・ピイオーボクス 604

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 Ｘ線発生装置と、複数の線量センサを有
    する線量監視装置と、Ｘ線検出器とを含む放射線透過撮
    像システムの性能を評価する方法であって、各線量セン
    サに同時入射するＸ線が検出器上の対応する領域に同時
    に入射し、 ａ．１つまたは複数の線量センサを選択するステップ
    と、 ｂ．Ｘ線発生装置を動作させるステップと、 ｃ．平均画像グレイ・レベルが選択された線量センサに
    対応する検出器の領域から計算される、平均画像グレイ
    ・レベルを計算するステップとを含む方法。
  2. 【請求項２】 照射線量が所定のしきい値に達したこと
    を選択された線量センサが示すとＸ線発生装置を非活動
    化させるステップをさらに含む請求項１に記載の方法。
  3. 【請求項３】 予測平均画像グレイ・レベルが選択され
    た線量センサから所定の予測モデルにしたがって計算さ
    れる、予測平均画像グレイ・レベルを計算するステップ
    をさらに含む請求項１に記載の方法。
  4. 【請求項４】 平均画像グレイ・レベルと予測平均画像
    グレイ・レベルの差を計算するステップをさらに含む請
    求項３に記載の方法。
  5. 【請求項５】 予測モデルを更新して差を減少させるス
    テップをさらに含む請求項４に記載の方法。
  6. 【請求項６】 ａ．請求項５に記載の方法をＮ回（ただ
    しＮは２以上の整数）繰り返して実行するステップと、 ｂ．次に予測モデルを更新することなく請求項５に記載
    の方法を実施し、これによって予測モデルを固定状態に
    較正するステップとを含む方法。
  7. 【請求項７】 Ｎが所定の値である請求項６に記載の方
    法。
  8. 【請求項８】 平均画像グレイ・レベルと予測平均画像
    グレイ・レベルの差が所定のしきい値以下にあるときに
    Ｎに到達する請求項６に記載の方法。
  9. 【請求項９】 ａ．Ｘ線発生装置を動作させるステッ
    プ、 ｂ．平均画像グレイ・レベルが選択された線量センサに
    対応する検出器上の領域から計算される、平均画像グレ
    イ・レベルを計算するステップ、 ｃ．予測平均画像グレイ・レベルが選択された線量セン
    サから較正された予測モデルにしたがって計算される、
    予測平均画像グレイ・レベルを計算するステップ、 ｄ．平均画像グレイ・レベルと予測平均画像グレイ・レ
    ベルの差を計算するステップ、 ｅ．前記の差が所定のしきい値を超えたときに誤差ルー
    チンを始動させるステップをさらに含む請求項６に記載
    の方法。
  10. 【請求項１０】 放射線透過撮像システムは、Ｘ線検出
    器と中に複数の線量センサを有する線量監視装置とを含
    み、各線量センサに一致するＸ線はまた検出器上の対応
    する領域とも一致し、 ａ．予測平均画像グレイ・レベルが選択された線量セン
    サから計算される、予測平均画像グレイ・レベルを計算
    するステップと、 ｂ．平均画像グレイ・レベルが選択された線量センサに
    対応する検出器上の領域から計算される、平均画像グレ
    イ・レベルを計算するステップと、 ｃ．予測平均画像グレイ・レベルと平均画像グレイ・レ
    ベルの差を計算するステップとを含む、放射線透過撮像
    システムの性能を評価する方法。
  11. 【請求項１１】 前記の差が所定のしきい値を超えたと
    きに誤差ルーチンを始動させるステップをさらに含む請
    求項１０に記載の方法。
  12. 【請求項１２】 予測平均画像グレイ・レベルの計算は
    所定の予測モデルを利用し、 予測モデルは更新されて、差が計算された後に差を減少
    させる請求項１０に記載の方法。
  13. 【請求項１３】 ａ．請求項１２に記載の方法をＮ回
    （ただしＮは２以上の整数）繰り返して実行すること、
    および ｂ．次に予測モデルを更新することなく請求項１２に記
    載の方法を実施し、これによって予測モデルを固定状態
    に較正することを含む方法。
  14. 【請求項１４】 Ｎが所定の値である請求項１３に記載
    の方法。
  15. 【請求項１５】 平均画像グレイ・レベルと予測平均画
    像グレイ・レベルの差が所定のしきい値以下にあるとき
    にＮに到達する請求項１３に記載の方法。
JP11339546A 1998-12-30 1999-11-30 学習ベ―スの性能予測を伴う放射線透過検査システム Pending JP2000195696A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/224242 1998-12-30
US09/224,242 US6151383A (en) 1998-12-30 1998-12-30 Radiographic testing system with learning-based performance prediction

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000195696A true JP2000195696A (ja) 2000-07-14

Family

ID=22839845

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11339546A Pending JP2000195696A (ja) 1998-12-30 1999-11-30 学習ベ―スの性能予測を伴う放射線透過検査システム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6151383A (ja)
JP (1) JP2000195696A (ja)
DE (1) DE19962326A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008091159A (ja) * 2006-09-29 2008-04-17 Fujifilm Corp 放射線画像撮像装置及びその制御方法、並びに、放射線量検出器調整装置及びその調整方法
JP2008517693A (ja) * 2004-10-29 2008-05-29 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 携帯型のｘ線検出器装置
JP2020127598A (ja) * 2019-02-08 2020-08-27 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 Ｘ線照射制御装置、ｘ線診断装置、およびｘ線照射制御プログラム
US11056241B2 (en) 2016-12-28 2021-07-06 Canon Medical Systems Corporation Radiotherapy planning apparatus and clinical model comparison method

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19880390D2 (de) * 1997-06-18 2000-05-18 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Messung der bildgebenden Dosis im Rahmen der Aufnahme eines Strahlungsbildes eines Objekts
FI113897B (fi) * 2001-11-23 2004-06-30 Planmed Oy Automaattivalotusmenetelmä ja automaattivalotusjärjestelmä
US6785633B2 (en) * 2001-12-28 2004-08-31 General Electric Company Method and apparatus for assessing performance of combined cycle power-plants
JP2004167075A (ja) * 2002-11-21 2004-06-17 Canon Inc 放射線撮像装置及び放射線撮像方法
US7431500B2 (en) * 2003-04-01 2008-10-07 Analogic Corporation Dynamic exposure control in radiography
US7286641B2 (en) * 2003-05-16 2007-10-23 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Method and device for exposing x-ray images
JP2005124868A (ja) * 2003-10-24 2005-05-19 Fuji Photo Film Co Ltd Ｘ線撮影装置
DE102004017180B4 (de) * 2004-04-07 2007-08-02 Siemens Ag Röntgendiagnostikeinrichtung zur digitalen Radiographie
US7313224B1 (en) * 2006-06-22 2007-12-25 General Electric Co. Wireless integrated automatic exposure control module
DE102006037740B4 (de) * 2006-08-11 2008-07-10 Siemens Ag Röntgendiagnostikeinrichtung zur Erstellung einer Serie von Röntgenbildern
JP4875523B2 (ja) * 2007-03-16 2012-02-15 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影装置の異常検出方法
DE102008008475B4 (de) * 2008-02-08 2011-06-16 Carl Zeiss Surgical Gmbh Verfahren und Vorrichtung sowie korrespondierende Gegenstände zur Bestimmung der Beleuchtungsstrahlendosis bei der Operationsfeldbeleuchtung
WO2012011376A1 (ja) * 2010-07-23 2012-01-26 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置、及び放射線撮影システム
US8527817B2 (en) 2010-11-19 2013-09-03 International Business Machines Corporation Detecting system component failures in a computing system
US20120131393A1 (en) * 2010-11-19 2012-05-24 International Business Machines Corporation Detecting System Component Failures In A Computing System
JP5749609B2 (ja) * 2011-09-05 2015-07-15 富士フイルム株式会社 放射線撮影システム、並びに線源制御装置
JP2013070866A (ja) * 2011-09-28 2013-04-22 Fujifilm Corp 撮影条件初期設定支援装置、方法及びプログラム、並びに放射線撮影装置及びシステム
CN105095614A (zh) * 2014-04-18 2015-11-25 国际商业机器公司 更新预测模型的方法和装置
KR102120867B1 (ko) * 2014-08-22 2020-06-09 삼성전자주식회사 엑스선 영상 장치 및 그에 따른 엑스선 영상 장치 제어방법
CN105411614B (zh) * 2015-12-11 2019-03-19 沈阳东软医疗系统有限公司 平板探测器的曝光剂量的确定方法、装置及设备
CN105361898B (zh) * 2015-12-11 2019-04-12 沈阳东软医疗系统有限公司 校正参数确定方法、装置及设备
WO2017214761A1 (en) * 2016-06-12 2017-12-21 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. Methods fordetermining misalignment of x-ray detectors
KR102592905B1 (ko) * 2016-12-21 2023-10-23 삼성전자주식회사 엑스선 영상 촬영 장치 및 제어방법
EP3852632A4 (en) * 2018-09-19 2022-04-20 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. AUTOMATIC EXPOSURE CONTROL RADIATION DETECTOR AND AUTOMATIC EXPOSURE CONTROL METHOD
IT201900001225A1 (it) * 2019-01-28 2020-07-28 General Medical Merate S P A Metodo predittivo per controllare un'apparecchiatura radiologica e apparecchiatura radiologica che lo implementa

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6134900A (ja) * 1984-07-27 1986-02-19 Hitachi Medical Corp Ｘ線断層撮影装置における自動露出制御装置
JPH02123699A (ja) * 1988-10-31 1990-05-11 Shimadzu Corp Ｘ線自動露出制御装置
JPH07201490A (ja) * 1993-12-29 1995-08-04 Toshiba Medical Eng Co Ltd Ｘ線診断装置
JPH0955298A (ja) * 1995-08-15 1997-02-25 Ge Yokogawa Medical Syst Ltd Ｘ線透視撮影方法及びｘ線透視撮影装置
JPH103998A (ja) * 1996-06-14 1998-01-06 Hitachi Medical Corp Ｘ線管の管電圧制御方法及び装置
JPH10284289A (ja) * 1996-12-20 1998-10-23 General Electric Co <Ge> Ｘ線システム
JP2000065943A (ja) * 1998-08-07 2000-03-03 General Electric Co <Ge> 照射線量又は空気カ―マ並びに（照射線量又は空気カ―マ）×（面積）値を予測するための方法及びモデル

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5949848A (en) * 1996-07-19 1999-09-07 Varian Assocaites, Inc. X-ray imaging apparatus and method using a flat amorphous silicon imaging panel

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6134900A (ja) * 1984-07-27 1986-02-19 Hitachi Medical Corp Ｘ線断層撮影装置における自動露出制御装置
JPH02123699A (ja) * 1988-10-31 1990-05-11 Shimadzu Corp Ｘ線自動露出制御装置
JPH07201490A (ja) * 1993-12-29 1995-08-04 Toshiba Medical Eng Co Ltd Ｘ線診断装置
JPH0955298A (ja) * 1995-08-15 1997-02-25 Ge Yokogawa Medical Syst Ltd Ｘ線透視撮影方法及びｘ線透視撮影装置
JPH103998A (ja) * 1996-06-14 1998-01-06 Hitachi Medical Corp Ｘ線管の管電圧制御方法及び装置
JPH10284289A (ja) * 1996-12-20 1998-10-23 General Electric Co <Ge> Ｘ線システム
JP2000065943A (ja) * 1998-08-07 2000-03-03 General Electric Co <Ge> 照射線量又は空気カ―マ並びに（照射線量又は空気カ―マ）×（面積）値を予測するための方法及びモデル

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008517693A (ja) * 2004-10-29 2008-05-29 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 携帯型のｘ線検出器装置
JP2008091159A (ja) * 2006-09-29 2008-04-17 Fujifilm Corp 放射線画像撮像装置及びその制御方法、並びに、放射線量検出器調整装置及びその調整方法
US11056241B2 (en) 2016-12-28 2021-07-06 Canon Medical Systems Corporation Radiotherapy planning apparatus and clinical model comparison method
JP2020127598A (ja) * 2019-02-08 2020-08-27 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 Ｘ線照射制御装置、ｘ線診断装置、およびｘ線照射制御プログラム
JP7182488B2 (ja) 2019-02-08 2022-12-02 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 Ｘ線照射制御装置、ｘ線診断装置、およびｘ線照射制御プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
DE19962326A1 (de) 2000-07-06
US6151383A (en) 2000-11-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000195696A (ja) 学習ベ―スの性能予測を伴う放射線透過検査システム
EP1420618B1 (en) X-Ray imaging apparatus
US7632016B1 (en) Digital detector calibration with known exposure
US6819786B2 (en) Image processing apparatus
KR101850871B1 (ko) 방사선 영상의 처리방법 및 방사선 촬영시스템
US20050069086A1 (en) Dynamic exposure control in radiography
US20050238140A1 (en) X-ray imaging system with automatic image resolution enhancement
US5774521A (en) Regularization technique for densitometric correction
EP0358268B1 (en) Method of and device for correcting scattered-radiation effects in X-ray images
US7003071B2 (en) X-ray CT apparatus, x-ray CT apparatus afterglow correction method, and afterglow correction program
US6850596B2 (en) Collimation device, radiology apparatus, test kit and method of testing a radiology apparatus
US7362844B2 (en) Tomography appliance, and method for a tomography appliance
US6521886B2 (en) Method of monitoring changes in the detective quantum efficiency of an x-ray detector
US7006599B2 (en) Radiographic apparatus
Freedman et al. Potential for unnecessary patient exposure from the use of storage phosphor imaging systems
JPH05217689A (ja) Ｘ線撮影装置およびｘ線撮影方法
JPH10213667A (ja) Ｘ線撮像装置
US11666300B2 (en) Method for the real-time control of exposure to an X-ray dose
JP6777556B2 (ja) Ｘ線ｃｔ装置
JP4746808B2 (ja) 露光制御付きｘ線診断装置
EP0426842A1 (en) Quantitative imaging employing scanning equalization radiography
JP2001346795A (ja) Ｘ線源と散乱線除去グリッドの位置合わせ評価方法およびフィードバック方法、フィードバック装置、ｘ線撮影方法及びｘ線撮影装置
US6728333B2 (en) Film density template and method for comparison of film exposure
JP2023157887A (ja) 光子計数型ｃｔ装置、光子計数型ｃｔ方法及びプログラム
JP4159698B2 (ja) ラジオグラフィー装置の検査方法およびそのための装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061115

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091013

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100316