JP2000195086A - 光ピックアップ装置および光ディスク装置 - Google Patents
光ピックアップ装置および光ディスク装置Info
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Abstract
合に、低雑音で良質の再生を行うことができる光ピック
アップ装置およびこれを用いた光ディスク装置を提供す
る。 【解決手段】 光ディスク装置の光ピックアップの光源
として青色発光の半導体レーザなどの短波長の半導体レ
ーザ1を用いる場合に、半導体レーザ1の出射光10の
経路に対して出し入れ可能に強度フィルタ9を設ける。
半導体レーザ1の元パワーは、量子雑音を十分に低く抑
えることができるパワーに設定する。再生時に、半導体
レーザ1の出射光10の経路に強度フィルタ9を挿入
し、出射光10のパワーを光ディスクの劣化やデータの
消去などが起きないパワーに減衰させる。記録時には、
半導体レーザ1の出射光10の経路から強度フィルタ9
を外す。
Description
装置および光ディスク装置に関し、特に、短波長の半導
体レーザ、例えば、GaN系III−V族化合物半導体
を用いた青色発光の半導体レーザを用いた光ピックアッ
プ装置および光ディスク装置に適用して好適なものであ
る。
プの光学系の設計においては、以下の項目が重要であ
る。一つは光ディスクに照射するレーザパワー(盤面パ
ワー)およびレーザ光検出用のフォトダイオード上のレ
ーザパワーであり、もう一つはいわゆる戻り光雑音であ
る。
スク(CD)用、ミニディスク(MD)用、ディジタル
ビデオディスク(DVD)用など、時代を経る毎に高機
能化しており、それに伴って、光ピックアップも進化し
ている。現在実用化されている記録再生可能な光ディス
ク装置の典型的な光学系を図5に示す。
は、光源としての半導体レーザ101の出射光を光ディ
スク102に導くとともに、この光ディスク102によ
る反射光(信号光)を検出するための光学系、すなわ
ち、ビームスプリッタ103、コリメートレンズ10
4、ミラー105、対物レンズ106、マルチレンズ1
07および信号光検出用受光素子としてのフォトダイオ
ードIC108を備えている。
あらかじめ再生用の低いパワーに設定された半導体レー
ザ101の出射光109はビームスプリッタ103を経
てコリメートレンズ104により平行光とされ、ミラー
105で反射された後、対物レンズ106により集光さ
れて光ディスク102に入射する。そして、この光ディ
スク102で反射された信号光110が対物レンズ10
6、ミラー105、コリメートレンズ104、ビームス
プリッタ103およびマルチレンズ107を経てフォト
ダイオードIC108に入射し、ここで電気信号に変換
され、光ディスク102に書き込まれた情報が再生され
る。一方、記録時には、あらかじめ記録用の高いパワー
に設定された半導体レーザ101の出射光109はビー
ムスプリッタ103を経てコリメートレンズ104によ
り平行光とされ、ミラー105で反射された後、対物レ
ンズ106により集光されて光ディスク102に入射
し、書き込みが行われる。
て一つの大きな流れとなっているのが、光源である半導
体レーザの短波長化である。現在、そのような半導体レ
ーザとして、青色で発光する半導体レーザの研究開発が
盛んに行われており、近い将来、市場に供給される見込
みである。
ク装置の光源としてこれまでに用いられている半導体レ
ーザよりも短波長であることから、レーザ光をより小さ
なスポットに絞ることができ、このため、光ディスクの
記録密度を高め、記録容量を高めることが可能になる。
ようにレーザ光を小さなスポットに絞ることができると
いうことは、光ディスクの盤面上のスポット内部では、
単位面積当たりの照射エネルギー(照射エネルギー密
度)が高いということであり、光ディスクによっては、
温度上昇による劣化やデータの消去などの問題が起こる
ことがある。
レーザのパワーを調整して対応することが考えられる
が、半導体レーザのパワーを単純に落とすということ
は、半導体レーザ自身の持つ量子雑音(固有雑音)を大
きくし、戻り光雑音特性を悪化させる原因となるため、
望ましくない。
た次世代の高密度光ディスク装置では、読み出しに関す
るトレランスは一層厳しくなっており、戻り光雑音特性
に関する要求性能も非常に厳しくなっていることから、
盤面パワーを調整するために半導体レーザのパワーを落
として量子雑音を大きくしてしまう上記のような手法で
は問題になってしまう場合がある。
て短波長の半導体レーザを用いた場合に、光ディスクの
盤面パワーを低く抑えて光ディスクの劣化やデータの消
去などが起きるのを防止しつつ、半導体レーザの量子雑
音を低く抑えて低雑音で良質の再生を行うことができる
光ピックアップ装置およびそのような光ピックアップ装
置を用いた光ディスク装置を提供することにある。
の半導体レーザを用いた場合に、再生時には、光ディス
クの盤面パワーを低く抑えて光ディスクの劣化やデータ
の消去などが起きるのを防止しつつ、半導体レーザの量
子雑音を低く抑えて低雑音で良質の再生を行うことがで
きるとともに、記録時には、半導体レーザの元パワーを
必要以上に上げずに記録を行うことができる光ピックア
ップ装置およびそのような光ピックアップ装置を用いた
光ディスク装置を提供することにある。
して用いられる半導体レーザの短波長化に伴う問題につ
いて改めて検討する。
NAである。ただし、λは半導体レーザの発光波長、N
Aは対物レンズの開口数である。
ズの開口数NAの組み合わせで以下の二つの場合 a. λ=780nm、NA=0.45 b. λ=400nm、NA=0.60 を考えると、aとbとのスポット面積の比は(780/
0.45)2 :(400/0.60)2 ={(780/
0.45)(0.60/400)}2 :1=6.7:1
である。したがって、同じパワーのレーザ光が照射され
るとすると、aとbとの盤面パワー密度の比は1:6.
7となる。
スクを使って書き込む場合を仮定すると、bの場合はa
の場合の6.7倍の盤面パワー密度になるため、レーザ
光照射部の周囲への熱の拡散の仕方を無視して単純計算
すると、bの場合は1/6.7のパワーで書き込みを行
うことができることになる。これより、仮にレーザ光照
射部の周囲への熱の拡散分を適当に考慮しても、書き込
み時のパワーは、bの場合はaの場合に比べて1/3〜
1/2位のパワーで済むことになる。すると、半導体レ
ーザ側の光学系のカップリング効率を等しいとした場
合、必要な盤面パワーの差は、半導体レーザの元パワー
の差となる。このため、半導体レーザの元パワーは、b
の場合は、aの場合の1/3〜1/2位のパワーで足り
ることになる。
の半導体レーザでは、書き込みパワーを低く抑えること
ができるので、その点は利点となる。ところが、記録再
生を行う光ディスクに対して、低パワーで再生を行う場
合、盤面パワーが高すぎると光ディスクの劣化やデータ
の消去などが起きてしまうため、これらの問題が生じな
いあるパワー以下に抑える必要がある。
て、例えばMDの場合には、記録時と再生時との盤面パ
ワーの差は、8〜10倍程度となっている。半導体レー
ザの元パワーで言うと、MDの場合で、例えば上記のa
の条件を想定すると、記録時は40mW、再生時は4m
Wである。これに対して、bの条件を想定すると、単純
に比例計算した場合、1/3〜1/2程度のパワーとい
うことになり、記録時は13〜20mW、再生時には
1.3〜2mW程度となる。
1.3〜2mWと非常に小さくなることである。このよ
うに低いパワーの領域では、半導体レーザの量子雑音が
かなり大きい。これを防止するために、現在使用されて
いる光ディスク装置の光源用の半導体レーザは、通常、
3mW以上の領域のパワーで使用されている。このパワ
ー以下で半導体レーザを使用すると、量子雑音が大きく
なり、雑音で検出系が成り立たなくなってしまう。
れる次世代の光ディスク装置では、これまでの光ディス
ク装置に比べてより一層低い雑音レベルが要求されるた
め、半導体レーザの量子雑音レベルを相当低く抑えるこ
とが必須である。
果、半導体レーザの短波長化に伴う以上の問題を解決す
るためには、半導体レーザの元パワーを、量子雑音を十
分に低く抑えることができ、しかも書き込みを行うのに
必要十分なパワーに設定しておき、光ディスクへの書き
込み、すなわち記録時には、そのパワーでレーザ光を光
ディスクに照射して記録を行い、光ディスクからの読み
出し、すなわち再生時には、半導体レーザの元パワーを
落とさずに盤面パワーを光ディスクの劣化やデータの消
去などが起きないように低く抑えることが最も有効であ
るという結論に至り、この発明を案出するに至ったもの
である。
の発明の第1の発明は、光源からの光の強度を減衰させ
るための強度フィルタを有することを特徴とする光ピッ
クアップ装置である。
強度を減衰させるための強度フィルタを有する光ピック
アップ装置を備えていることを特徴とする光ディスク装
置である。
ィスクの再生のみを行う場合には、光源に対して固定し
た位置に設けてもよいが、再生および記録を行う場合に
は、光源からの光の経路に対して出し入れ可能に構成さ
れる。この強度フィルタは、それを出し入れする方向に
透明板と並列配置してもよい。この場合、部品点数の削
減や取り扱いの容易さの観点からは、好適には、強度フ
ィルタは、それを出し入れする方向に透明板と一体に並
列配置される。また、場合によっては、強度フィルタ
は、それを出し入れする方向に並列配置された第1の強
度フィルタおよびこの第1の強度フィルタよりも光強度
の減衰率が小さい第2の強度フィルタにより構成しても
よい。
は、迷光による雑音の発生を抑える観点からは、好適に
は、吸収フィルタ(例えば、樹脂やガラスに特定波長の
光を吸収する染料を分散させたものなど)が用いられる
が、場合によっては、反射型フィルタ、拡散板(研磨材
によるガラスのつや消し効果を利用したフロスト型やガ
ラス内に光拡散物質を分散させたオパール型など)、メ
ッシュ状の不透明物質により光強度を減衰させるメッシ
ュフィルタ、誘電体多層膜の光の干渉を利用し、狭帯域
スペクトルを取り出す干渉フィルタ、光の偏向方向によ
る反射率の違いを利用したフィルタなどを用いてもよ
い。
青色で発光可能な半導体レーザであるが、より一般的に
は、緑色から紫外線の波長領域で発光可能な短波長の半
導体レーザであってもよい。さらに、光源が、現在実用
化されている近赤外〜赤色の領域の波長の半導体レーザ
であっても、光学系やレーザ設計によっては、この発明
は有効な手段となる。
置において、再生および記録を行う場合には、再生時に
光源からの光の経路に強度フィルタを挿入し、記録時に
光源からの光の経路から強度フィルタを外す。あるい
は、強度フィルタと透明板とを並列配置する場合には、
再生時に光源からの光の経路に強度フィルタを挿入し、
記録時に光源からの光の経路に透明板を挿入する。さら
に、第1の強度フィルタおよび第2の強度フィルタを並
列配置する場合には、再生時に光源からの光の経路に第
1の強度フィルタを挿入し、記録時に光源からの光の経
路に第2の強度フィルタを挿入する。
は、光源からの光の強度を減衰させるための強度フィル
タを有することにより、光源として短波長の半導体レー
ザを用いた場合、その半導体レーザの元パワーを、量子
雑音が十分に低くなるパワーに設定することができると
ともに、盤面パワーを光ディスクの劣化やデータの消去
などが起きない低いパワーに抑えることができる。ま
た、強度フィルタを光源からの光の経路に対して出し入
れ可能に構成した場合には、再生時には、光源からの光
の経路に強度フィルタを挿入することで、半導体レーザ
の元パワーを、量子雑音が十分に低くなるパワーに設定
しつつ、盤面パワーを光ディスクの劣化やデータの消去
などが起きない低いパワーに抑えて再生を行うことがで
き、記録時には、半導体レーザの元パワーをそのまま用
いて記録を行うことができる。
て図面を参照しながら説明する。なお、実施形態の全図
において、同一または対応する部分には同一の符号を付
す。
ディスク装置を示す。
は、光源としての半導体レーザ1の出射光を光ディスク
2に導くとともに、この光ディスク2による反射光(信
号光)を検出するための光学系、すなわち、ビームスプ
リッタ3、コリメートレンズ4、ミラー5、対物レンズ
6、マルチレンズ7および信号光検出用受光素子として
のフォトダイオードIC8を備えている。半導体レーザ
1としては、青色発光の半導体レーザ、具体的には、G
aN系の半導体レーザが用いられる。
ディスク装置と同様な上述の構成に加えて、強度フィル
タ9が、半導体レーザ1の出射光10の経路に対して出
し入れ可能に設けられている。この強度フィルタ9とし
ては、好適には、半導体レーザ1の出射光10を吸収す
る吸収フィルタが用いられる。この強度フィルタ9は、
光ディスク2への記録時の半導体レーザ1の出射光10
の元パワーを、光ディスク2の再生時の半導体レーザ1
の出射光10のパワーに減衰させることができるように
設計されている。この強度フィルタ9の両主面には、半
導体レーザ1の出射光10の反射を防止するために、好
適には、反射防止膜が設けられる。
クの記録再生方法について説明する。ここで、半導体レ
ーザ1の出射光10の元パワーは、量子雑音が十分に低
くなり、しかも光ディスクへの記録、すなわち書き込み
を行うのに必要十分なパワーにあらかじめ設定しておく
ものとする。
光10の経路に強度フィルタ9を挿入しておく。このと
き、半導体レーザ1の出射光10のパワーは、この強度
フィルタ9により、光ディスク2の再生時の半導体レー
ザ1の出射光10のパワーに減衰する。このようにして
強度フィルタ9によりパワーが調整された出射光10
は、ビームスプリッタ3を経てコリメートレンズ4によ
り平行光とされ、ミラー5で反射された後、対物レンズ
6により集光されて光ディスク2に入射する。そして、
この光ディスク2で反射された信号光11が対物レンズ
6、ミラー5、コリメートレンズ4、ビームスプリッタ
3およびマルチレンズ7を経てフォトダイオードIC8
に入射し、ここで電気信号に変換され、光ディスク2に
書き込まれた情報が再生される。
光10の経路から強度フィルタ9を外しておく。このと
き、半導体レーザ1からの出射光10はそのまま、ビー
ムスプリッタ3を経てコリメートレンズ4により平行光
とされ、ミラー5で反射された後、対物レンズ6により
集光されて光ディスク2に入射し、書き込みが行われ
る。
ば、半導体レーザ1の出射光10の経路に対して出し入
れ可能に強度フィルタ9を設け、再生時には強度フィル
タ9を出射光10の経路に挿入し、記録時には強度フィ
ルタ9を出射光10の経路から外すようにしていること
により、青色発光の半導体レーザ1を用いた場合に、盤
面パワーを光ディスクの劣化やデータの消去などが起こ
らないように低く抑えつつ、半導体レーザ1の元パワー
を再生時の量子雑音を十分に低くすることができる高い
パワーに設定することができ、低雑音で良質の再生を行
うことができる。また、半導体レーザ1の元パワーを必
要以上に上げる必要がなく、半導体レーザ1に過度の負
担をかけないで済む。しかも、従来の光ディスク装置に
強度フィルタ9を追加するだけでよいので、光ディスク
装置の構成を複雑化させることもコストを上昇させるこ
ともない。
ディスク装置を示す。
は、光源としての半導体レーザ1の出射光を光ディスク
2に導くとともに、この光ディスク2による反射光(信
号光)を検出するための光学系、すなわち、ビームスプ
リッタ3、コリメートレンズ4、ミラー5、対物レンズ
6、マルチレンズ7および信号光検出用受光素子として
のフォトダイオードIC8を備えている。半導体レーザ
1としては、青色発光の半導体レーザ、具体的には、G
aN系の半導体レーザが用いられる。
ディスク装置と同様な上述の構成に加えて、同一面上に
一体に並列配置された強度フィルタ9および透明板12
が、半導体レーザ1の出射光10の経路に対して出し入
れ可能に設けられている。この場合、これらの強度フィ
ルタ9および透明板12は、半導体レーザ1の出射光1
0の非点隔差を補正するために、半導体レーザ1の出射
光10に対して所定角度傾斜して設けられている。強度
フィルタ9としては、好適には、半導体レーザ1の出射
光10を吸収する吸収フィルタが用いられる。この強度
フィルタ9は、光ディスク2への記録時の半導体レーザ
1の出射光10のパワーを、光ディスク2の再生時の半
導体レーザ1の出射光10のパワーに減衰させることが
できるように設計されている。
な構成例を図3に示す。図3に示すように、この例で
は、透明ガラス板13の一方の主面の片側半分に例えば
CrO膜などの吸収膜14が設けられており、この吸収
膜14が設けられている部分が強度フィルタ9を構成
し、吸収膜14が設けられていない透明ガラス板13だ
けの部分が透明板12を構成する。
クの記録再生方法について説明する。ここで、半導体レ
ーザ1の出射光10の元パワーは、量子雑音が十分に低
くなり、しかも光ディスクへの記録、すなわち書き込み
を行うのに必要十分なパワーにあらかじめ設定しておく
ものとする。
光10の経路に強度フィルタ9を挿入しておく。このと
き、半導体レーザ1の出射光10のパワーは、この強度
フィルタ9により、光ディスク2の再生時の半導体レー
ザ1の出射光10のパワーに減衰する。このようにして
強度フィルタ9によりパワーが調整された出射光10
は、ビームスプリッタ3を経てコリメートレンズ4によ
り平行光とされ、ミラー5で反射された後、対物レンズ
6により集光されて光ディスク2に入射する。そして、
この光ディスク2で反射された信号光11が対物レンズ
6、ミラー5、コリメートレンズ4、ビームスプリッタ
3およびマルチレンズ7を経てフォトダイオードIC8
に入射し、ここで電気信号に変換され、光ディスク2に
書き込まれた情報が再生される。
光10の経路に透明板12を挿入しておく。このとき、
半導体レーザ1の出射光10は、この透明板12を透過
し、ビームスプリッタ3を経てコリメートレンズ4によ
り平行光とされ、ミラー5で反射された後、対物レンズ
6により集光されて光ディスク2に入射し、書き込みが
行われる。
ば、半導体レーザ1の出射光10の経路に対して出し入
れ可能に強度フィルタ9および透明板12を設け、再生
時には強度フィルタ9を出射光10の経路に挿入し、記
録時には透明板12を出射光10の経路に挿入するよう
にしていることにより、青色発光の半導体レーザ1を用
いた場合に、盤面パワーを光ディスクの劣化やデータの
消去などが起こらないように十分に低く抑えつつ、半導
体レーザ1の元パワーを再生時の量子雑音を十分に低く
することができる高いパワーに設定することができ、低
雑音で良質な再生を行うことができる。また、半導体レ
ーザ1の元パワーを必要以上に上げる必要がなく、半導
体レーザ1に過度の負担をかけないで済む。さらに、強
度フィルタ9および透明板12は、半導体レーザ1の出
射光10に対して所定角度傾斜して設けているので、半
導体レーザ1の出射光10の非点隔差を補正することが
でき、書き込みおよび読み出し特性の向上を図ることが
できる。しかも、従来の光ディスク装置に強度フィルタ
9および透明板12を追加するだけでよいので、光ディ
スク装置の構成を複雑化させることもコストを上昇させ
ることもない。
に説明したが、この発明は、上述の実施形態に限定され
るものではなく、この発明の技術的思想に基づく各種の
変形が可能である。
値や光学系の構成などはあくまでも例に過ぎず、必要に
応じて、これらと異なる数値や光学系の構成などを用い
てもよい。
ける強度フィルタ9および透明板12の代わりに、図4
に示すようなものを用いてもよい。図4に示すように、
この例では、透明ガラス板13の一方の主面の片側半分
には膜厚が大きいCrO膜などの吸収膜14aが設けら
れ、他の半分には膜厚が小さいCrO膜などの吸収膜1
4bが設けられており、吸収膜14aが設けられた部分
が第1の強度フィルタ15を構成し、吸収膜14bが設
けられた部分が第2の強度フィルタ16を構成する。こ
こで、膜厚が大きい方の吸収膜14aの膜厚は、半導体
レーザ1の元パワーを再生時に用いるパワーに落とすこ
とができる膜厚に設定され、膜厚が小さい方の吸収膜1
4bの膜厚は、この吸収膜14bを通った後の出射光1
0のパワーが書き込み時に用いるパワーとなる膜厚に設
定される。この場合、再生時には、厚い吸収膜14aが
設けられた第1の強度フィルタ15が半導体レーザ1の
出射光10の経路に挿入され、記録時には、薄い吸収膜
14bが設けられた第2の強度フィルタ16が半導体レ
ーザ1の出射光10の経路に挿入される。
ピックアップ装置および光ディスク装置によれば、光源
からの光の強度を減衰させるための強度フィルタを有す
ることにより、光源として短波長の半導体レーザを用い
た場合、光ディスクの盤面パワーを低く抑えて光ディス
クの劣化やデータの消去などが起きるのを防止しつつ、
半導体レーザの量子雑音を低く抑えて低雑音で良質の再
生を行うことができる。あるいは、再生時には、光ディ
スクの盤面パワーを低く抑えて光ディスクの劣化やデー
タの消去などが起きるのを防止しつつ、半導体レーザの
量子雑音を低く抑えて低雑音で良質の再生を行うことが
できるとともに、記録時には、半導体レーザの元パワー
を必要以上に上げずに記録を行うことができる。
置の光学系を示す略線図である。
置の光学系を示す略線図である。
置において用いられる強度フィルタおよび透明板の構成
例を示す断面図である。
ための断面図である。
ある。
対物レンズ、8・・・フォトダイオードIC、9・・・
強度フィルタ、10・・・出射光、11・・・信号光、
12・・・透明板、13・・・透明ガラス板、14、1
4a、14b・・・吸収膜、15・・・第1の強度フィ
ルタ、16・・・第2の強度フィルタ
Claims (19)
- 【請求項1】 光源からの光の強度を減衰させるための
強度フィルタを有することを特徴とする光ピックアップ
装置。 - 【請求項2】 上記強度フィルタは上記光源からの光の
経路に対して出し入れ可能に構成されていることを特徴
とする請求項1記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項3】 上記強度フィルタは上記出し入れする方
向に透明板と並列配置されていることを特徴とする請求
項2記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項4】 上記強度フィルタは上記出し入れする方
向に透明板と一体に並列配置されていることを特徴とす
る請求項2記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項5】 上記強度フィルタは上記出し入れする方
向に並列配置された第1の強度フィルタおよびこの第1
の強度フィルタよりも光強度の減衰率が小さい第2の強
度フィルタからなることを特徴とする請求項2記載の光
ピックアップ装置。 - 【請求項6】 上記強度フィルタは吸収フィルタである
ことを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項7】 上記光源は緑色から紫外線の波長領域で
発光可能な半導体レーザであることを特徴とする請求項
1記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項8】 上記光源は青色で発光可能な半導体レー
ザであることを特徴とする請求項1記載の光ピックアッ
プ装置。 - 【請求項9】 光源からの光の強度を減衰させるための
強度フィルタを有する光ピックアップ装置を備えている
ことを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項10】 上記強度フィルタは上記光源からの光
の経路に対して出し入れ可能に構成されていることを特
徴とする請求項9記載の光ディスク装置。 - 【請求項11】 上記強度フィルタは上記出し入れする
方向に透明板と並列配置されていることを特徴とする請
求項10記載の光ディスク装置。 - 【請求項12】 上記強度フィルタは上記出し入れする
方向に透明板と一体に並列配置されていることを特徴と
する請求項10記載の光ディスク装置。 - 【請求項13】 上記強度フィルタは上記出し入れする
方向に並列配置された第1の強度フィルタおよびこの第
1の強度フィルタよりも光強度の減衰率が小さい第2の
強度フィルタからなることを特徴とする請求項10記載
の光ディスク装置。 - 【請求項14】 再生時に上記光源からの光の経路に上
記強度フィルタを挿入し、記録時に上記光源からの光の
経路から上記強度フィルタを外すようにしたことを特徴
とする請求項11記載の光ディスク装置。 - 【請求項15】 再生時に上記光源からの光の経路に上
記強度フィルタを挿入し、記録時に上記光源からの光の
経路に上記透明板を挿入するようにしたことを特徴とす
る請求項12記載の光ディスク装置。 - 【請求項16】 再生時に上記光源からの光の経路に上
記第1の強度フィルタを挿入し、記録時に上記光源から
の光の経路に上記第2の強度フィルタを挿入するように
したことを特徴とする請求項13記載の光ディスク装
置。 - 【請求項17】 上記強度フィルタは吸収フィルタであ
ることを特徴とする請求項9記載の光ディスク装置。 - 【請求項18】 上記光源は緑色から紫外線の波長領域
で発光可能な半導体レーザであることを特徴とする請求
項9記載の光ディスク装置。 - 【請求項19】 上記光源は青色で発光可能な半導体レ
ーザであることを特徴とする請求項9記載の光ディスク
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36722898A JP4258049B2 (ja) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | 光ピックアップ装置および光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36722898A JP4258049B2 (ja) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | 光ピックアップ装置および光ディスク装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000195086A true JP2000195086A (ja) | 2000-07-14 |
JP4258049B2 JP4258049B2 (ja) | 2009-04-30 |
Family
ID=18488797
Family Applications (1)
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