JP2000171721A - 顕微鏡装置 - Google Patents
顕微鏡装置Info
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- JP2000171721A JP2000171721A JP10341949A JP34194998A JP2000171721A JP 2000171721 A JP2000171721 A JP 2000171721A JP 10341949 A JP10341949 A JP 10341949A JP 34194998 A JP34194998 A JP 34194998A JP 2000171721 A JP2000171721 A JP 2000171721A
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Abstract
ンズより高い倍率で簡単に標本観察を行うことができる
顕微鏡装置を提供する。 【解決手段】 複数の対物レンズを保持する電動レボル
バ40と、対物レンズを介して得られる観察像を観察す
る観察光学系と、観察光学系中に配置可能であり、観察
像を拡大する変倍系70と、観察光学系に配置された対
物レンズを検出する対物レンズ検出器45と、対物レン
ズを切り換えるレボルバ回転スイッチ44とを備えた顕
微鏡装置において、制御部80がレボルバ回転スイッチ
44から対物レンズを最大倍率に切り換える回転方向信
号44a,44bを入力したとき、対物レンズ検出器4
5からの検知信号45aを参照して変倍系70を観察光
学系中に配置する。
Description
し、特に電動によって回転するレボルバを備えた顕微鏡
装置に関する。
を保持する電動レボルバと、電動レボルバを回転させて
対物レンズを切り換えるためのレボルバ回転スイッチと
を備える。
ルバが回転し、対物レンズが順次切り換わる。
後、徐々に高倍の対物レンズに切り換えて観察を行う。
倍への倍率の順序で対物レンズが保持されている。
ては検鏡者が選択したい倍率や選択したい対物レンズの
数は、レボルバに保持可能な対物レンズの数より多くな
る場合がある。
されている対物レンズの中から任意の対物レンズを外
し、観察したい倍率等を備えた他の対物レンズに付け替
えなければならない。
は、再度ピント合せと標本の観察したい範囲を視野内に
入れることが必要であるので、多くの手間と時間がかか
ってしまう。
能な顕微鏡装置の場合、レボルバには可視光用対物レン
ズの他に紫外光用対物レンズも保持されているが、それ
らの対物レンズのうち紫外光用対物レンズは高価等の理
由から通常1つか2つである。
は、倍率選択の自由度が無いか、あっても低く、更に高
倍での観察を行うときには他の紫外光対物レンズに付け
替えなければならず、多くの手間と時間がかかってしま
う。
たもので、その課題はレボルバに保持されている最大倍
率の対物レンズより高い倍率で簡単に標本観察を行うこ
とができる顕微鏡装置を提供することである。
請求項1に記載の発明は、複数の対物レンズを保持する
レボルバと、前記対物レンズを介して得られる観察像を
観察する観察光学系と、前記観察光学系の光路中に配置
可能であり、前記観察像を拡大する変倍系と、前記観察
光学系の光路中に配置された前記対物レンズを検出する
対物レンズ検出手段と、前記対物レンズを切り換える切
換手段とを備えた顕微鏡装置において、前記切換手段か
ら前記対物レンズを最大倍率に切り換える切換信号を入
力したとき、前記対物レンズ検出手段からの検知信号を
参照して前記変倍系を前記観察光学系中に配置する制御
手段を備えていることを特徴とする。
換える切換信号を入力したときには、対物レンズは切り
換わらず、観察光学系中に変倍系が配置される。
の顕微鏡装置において、前記対物レンズ検出手段は前記
レボルバの位置情報に基づいて前記観察光学系の光路中
に配置された前記対物レンズを検知することを特徴とす
る。
予め登録しておくことによって観察光学系に配置された
対物レンズを検知することができる。
ンズと紫外光用対物レンズとを保持するレボルバと、前
記対物レンズを介して得られる観察像を観察する観察光
学系と、前記観察光学系の光路中に配置可能であり、前
記観察像を拡大する変倍系と、前記観察光学系の光路中
に配置された前記対物レンズを検出する対物レンズ検出
手段と、前記対物レンズを切り換える切換手段とを備え
た顕微鏡装置において、前記切換手段から前記紫外光用
対物レンズの最大倍率に切り換える切換信号を入力した
とき、前記対物レンズ検出手段からの検知信号を参照し
て前記変倍系を前記観察光学系中に配置する制御手段を
備えていることを特徴とする。
率に切り換える切換信号を入力したときには、対物レン
ズは切り換わらず、観察光学系中に変倍系が配置され
る。
の顕微鏡装置において、前記対物レンズ検出手段は前記
レボルバの位置情報に基づいて前記観察光学系の光路中
に配置された前記対物レンズを検知することを特徴とす
る。
予め登録しておくことによって観察光学系に配置された
可視光用対物レンズと紫外光用対物レンズとを検知する
ことができる。
面に基づいて説明する。
である。
選択したときの状態を示し、図2は照明光として紫外光
照明系を選択したときの状態を示す図である。
筒30と、電動レボルバ(レボルバ)40と、レボルバ
回転スイッチ(切換手段)44と、ステージ50と、紫
外光用ディテクタ60と、変倍系70とを備える。
10Bと、アーム10Dとで構成される。
プ22を内蔵するランプハウス90が設けられている。
また、アーム10Dの上部には、紫外像検出ユニット1
0Cが載置されている。この紫外像検出ユニット10C
は、顕微鏡本体10に対して着脱可能である。
部に取り付けられ、接眼レンズ31を有する。
ット10Cの上部に取り付けられ、紫外光用CCD(図
示せず)を有する。
取り付けられ、電動レボルバ40には複数の対物レンズ
41,42が保持されている。対物レンズ41は可視光
用を、対物レンズ42は紫外光用をそれぞれ示す。電動
レボルバ40はモータ(図示せず)によって駆動され
る。
外光との両方において適正な収差補正をすることが困難
なために使用されている。
40の回転方向を指示するボタン式スイッチ44A,4
4Bを備え、スイッチ44A,44Bを押すことによっ
て電動レボルバ40が正転又は逆転する。
れ、対物レンズ41,42の光軸に沿って上下動する。
プ12、UVフィルタ13、紫外光用リレー光学系を構
成するリレーレンズ14,15、シャッタ16、ハーフ
ミラー17及び変倍系70が配置されている。
上に配置可能であり、変倍レンズ71,72によって観
察像を拡大する。変倍系70は変倍レンズホルダ78に
保持されている。
を転動可能に支持するコロレース機構を介して固定ガイ
ド部75に取り付けられ、固定ガイド部75に対して移
動可能である。
6Aが形成され、このラック76Aはモータ(例えばD
Cモータ)77の回転軸に固着されたピニオン77Aと
噛み合っている。モータ77は紫外像検出ユニット10
Cに固着されている。
駆動され、可視光観察を行うとき、紫外光が観察系光路
に入射しないように紫外光照明系光路に挿入される。
び可視光用リレー光学系を構成するリレーレンズ24,
25が配置されている。
間とアーム10Dの内部空間とは開口Sを介して連通し
ており、この開口Sを介して2階建て構造の中空ブロッ
ク18が両内部空間に渡って配置されている。
18Bが、第2の遮光体18Cの上部に全反射ミラー1
8Dがそれぞれ一体に形成されている。
ータ20で駆動される。
ロゲンランプ22の光路に対して直交する方向(図面を
貫通する方向)へ移動できる。
射ミラー18D及び遮光体18Bのいずれか一方を配置
することができるとともに、可視光照明系光路に対して
ハーフミラー18A及び遮光体18Cのいずれか一方を
配置することができる。
たとき、貫通孔18Fの中心軸は可視光観察光学系の光
路L1上に位置する。
配置したとき、貫通孔18Gの中心軸は紫外光観察光学
系の光路L2上に位置する。
転動可能に支持するコロレース機構を介して固定ガイド
部19に取り付けられ、固定ガイド部19に対して移動
可能である。
が形成され、このラック18Eはモータ(例えばDCモ
ータ)20の回転軸に固着されたピニオン20Aと噛み
合っている。モータ20は固定ガイド部19に固着され
ている。
ータ20が作動して中空ブロック18が移動し、ハーフ
ミラー18Aが可視光照明系光路に配置される。
は、ハーフミラー18Aによって反射され、可視光用対
物レンズ41を介して試料51上の所定領域に照射され
る。この可視光照明系は試料51に対してケーラー照明
を達成するように構成されている。
Aを透過した後、貫通孔18Fを通り、鏡筒30内の結
像レンズ32により結像され、接眼レンズ31により可
視光観察される。
第2の照明光選択部材18Bによって遮断されるととも
に、シャッタ16によっても遮断されるので、紫外光が
試料51や可視光観察光学系の光路L1に入射すること
はない。
き、モータ20が作動して中空ブロック18が移動し、
全反射ミラー18Dが紫外光照明系光路に配置される。
UVフィルタ13を通過することにより、可視光を含ま
ない紫外光だけの照明光となる。
5を通りハーフミラー17を透過し、全反射ミラー18
Dによって貫通孔18G及び紫外光用対物レンズ42へ
と偏光され、試料51上の所定領域に照射される。
ラー照明を達成するように構成されている。
り、全反射ミラー18Dで反射され、更にハーフミラー
17により紫外光用ディテクタ60に導かれる。
紫外光用結像レンズ74により結像され、紫外光用ディ
テクタ60の紫外光用CCDによって受光される。
は電気信号に変換され、モニタ(図示せず)によって可
視化され、観察される。
光は遮光体18Cによって遮断されるので、可視光が試
料51や紫外光観察光学系の光路L2に入射することは
ない。
すると、変倍系70が光路L2から外れているときに比
べて観察像を例えば2倍に拡大することができる。
5個の取付孔を有し、1番から4番までは倍率順に可視
光用対物レンズが取り付けられ、5番に紫外光用対物レ
ンズが取り付けられている場合を例に、対物レンズと変
倍系70との関係を説明する。
装置のブロック構成図、図4は制御部による制御の一例
を説明するフローチャートである。
ズ検出手段)45と、制御部(制御手段)80とを備え
る。
に内蔵されているフォトインタラプタである。
で構成される。
ら出力される電動レボルバ40の回転方向を指示する回
転方向信号44aと対物レンズ検出器45から出力され
る対物レンズ検出信号(検知信号)45aに基いて電動
レボルバ40、変倍系70及び中空ブロック18を制御
する。なお、対物レンズ検出器45は電動レボルバ40
の位置信号40aに基いて対物レンズを検知する。
れているとき、スイッチ44Aが押されると、制御部8
0は回転方向信号44aに基いてレボルバ回転信号80
cを出力し、第1駆動装置(モータ)46を駆動して電
動レボルバ40を正転させる。その結果、1番、2番、
3番及び4番の順序で対物レンズが光路上に配置される
(S1)。
御部80は回転方向信号(正転)44aに基いて第1駆
動装置(モータ)46を駆動してレボルバ40を正転さ
せ、5番の対物レンズを光路上に配置し(S2)、5番
の対物レンズ検出信号45aを入力する。
検出信号45aに基いてブロック移動信号80aを出力
してモータ77を駆動して中空ブロック18を移動し、
紫外光照明系に切り換える(S3)。
0bを出力してシャッタ16を開くとともに、ハロゲン
ランプ22を消灯する(S4)。
物レンズが配置されているという対物レンズ検出信号4
5aを入力している場合において、回転方向信号(正
転)44a(最大倍率に切り換える切換信号)を入力し
たとき、対物レンズ検出信号45aを参照してモータ7
7を駆動し、変倍系70を光路上に配置し(S6)、観
察像を2倍にする。
7)。
力してシャッタ16を閉じるとともに、ハロゲンランプ
22を点灯する(S8)。その結果、紫外光照明系から
可視光照明系に切り換わる。
たとき、モータ77を駆動し、変倍系70を光路上から
外す(S9)。
力し、第1駆動装置(モータ)46を駆動して電動レボ
ルバ40を正転させる(S10)。その結果、1番の対
物レンズが光路上に配置される。
44bを入力したとき、シャッタ制御信号80bを出力
してシャッタ16を閉じるとともに、ハロゲンランプ2
2を点灯する(S11)。その結果、紫外光照明系から
可視光照明系に切り換わる。
cを出力して第1駆動装置(モータ)46を駆動してレ
ボルバ40を逆転させる(S12)。その結果、4番の
対物レンズが光路上に配置される。
44bを入力したとき、モータ77を駆動し、変倍系7
0を光路上から外し(S13)、S5に戻る。
れると、制御部80は回転方向信号44b(逆転)に基
いて電動レボルバ40を逆転させるとともに、モータ7
7を駆動させて変倍系70を光路上に配置させる(S1
4)。
力してモータ77を駆動して中空ブロック18を移動さ
せ、紫外光照明系に切り換える(S15)。
力してシャッタ16を開くとともに、ハロゲンランプ2
2を消灯し(S16)、S7へ進む。
に保持されている対物レンズよりも高い倍率で標本を観
察でき、しかも倍率の変更に当り、対物レンズを付け替
えたときのように、再度のピント合せと試料の観察した
い範囲を視野内に入れる作業が必要ないので、多くの手
間と時間が節約される。
は、紫外光用対物レンズは通常1つか2つしか用意され
ないが、このようなの場合に2種類以上の倍率で紫外光
による観察を行えるので、倍率選択の自由度が高くな
り、特に有用である。
イッチ44を用いて電動レボルバ40を回転させて対物
レンズを切り換えているが、電動レボルバ40の番地に
対応する個数より1個多いスイッチを設け、このスイッ
チを押すことによって電動レボルバ40を回転させて所
望の対物レンズを選択する構成としてもよい。
して水銀ランプ12を用いたが、水銀ランプ12では、
特に極紫外(DUV)と呼ばれる非常に波長の短い波長
の場合、観察に必要な十分な光量を得ることが難しいた
め、水銀ランプ12の代わりに紫外光又は極紫外光を出
射するレーザを光源を用いてもよい。
で収差補正された共用の対物レンズを用いても、可視光
用の対物レンズだけとしてもよい。
形成する必要はなく、中空ブロック18を2分割して紫
外像検出ユニット10Cとアーム10Dとに独立に設け
てもよい。
を用いた場合で説明したが、乾燥系の対物レンズと油や
水等の液体を用いた液浸系の対物レンズとをレボルバ4
0に保持させ、両方の対物レンズを切り換える顕微鏡に
本発明を適用することもできる。
10Dとを分離可能な構成としたが、可視光と紫外光と
を完全に分けることができれば一体的に構成してもよ
い。
記載の発明の顕微鏡装置によれば、レボルバに保持され
ている最大倍率の対物レンズより高い倍率で簡単に標本
観察を行うことができ、しかも対物レンズを付け替えた
ときのように、再度のピント合せと試料の観察したい範
囲を視野内に入れる作業が必要ないので、多くの手間と
時間が節約される。
によれば、レボルバに保持されている最大倍率の対物レ
ンズより高い倍率で簡単に標本観察を行うことができ、
しかも対物レンズを付け替えたときのように、再度のピ
ント合せと試料の観察したい範囲を視野内に入れる作業
が必要ないので、多くの手間と時間が節約される。ま
た、可視光と紫外光の両方で観察を行うときのように紫
外光用対物レンズが1つか2つしか用意されないときで
あっても、2種類以上の倍率で紫外光による観察を行え
るので、倍率選択の自由度が高くなる。更に、高価な紫
外光用対物レンズを別に用意する必要がないので、顕微
鏡装置を安価に構成することができる。
光として可視光照明系を選択したときの状態を示す図で
ある。
光として紫外光照明系を選択したときの状態を示す図で
ある。
のブロック構成図である。
ーチャートである。
Claims (4)
- 【請求項1】 複数の対物レンズを保持するレボルバ
と、 前記対物レンズを介して得られる観察像を観察する観察
光学系と、 前記観察光学系の光路中に配置可能であり、前記観察像
を拡大する変倍系と、 前記観察光学系の光路中に配置された前記対物レンズを
検出する対物レンズ検出手段と、 前記対物レンズを切り換える切換手段とを備えた顕微鏡
装置において、 前記切換手段から前記対物レンズを最大倍率に切り換え
る切換信号を入力したとき、前記対物レンズ検出手段か
らの検知信号を参照して前記変倍系を前記観察光学系中
に配置する制御手段を備えていることを特徴とする顕微
鏡装置。 - 【請求項2】 前記対物レンズ検出手段は前記レボルバ
の位置情報に基づいて前記観察光学系の光路中に配置さ
れた前記対物レンズを検知することを特徴とする請求項
1に記載の顕微鏡装置。 - 【請求項3】 可視光用対物レンズと紫外光用対物レン
ズとを保持するレボルバと、 前記対物レンズを介して得られる観察像を観察する観察
光学系と、 前記観察光学系の光路中に配置可能であり、前記観察像
を拡大する変倍系と、 前記観察光学系の光路中に配置された前記対物レンズを
検出する対物レンズ検出手段と、 前記対物レンズを切り換える切換手段とを備えた顕微鏡
装置において、 前記切換手段から前記紫外光用対物レンズの最大倍率に
切り換える切換信号を入力したとき、前記対物レンズ検
出手段からの検知信号を参照して前記変倍系を前記観察
光学系中に配置する制御手段を備えていることを特徴と
する顕微鏡装置。 - 【請求項4】 前記対物レンズ検出手段は前記レボルバ
の位置情報に基づいて前記観察光学系の光路中に配置さ
れた前記対物レンズを検知することを特徴とする請求項
3に記載の顕微鏡装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34194998A JP4304548B2 (ja) | 1998-12-01 | 1998-12-01 | 顕微鏡装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34194998A JP4304548B2 (ja) | 1998-12-01 | 1998-12-01 | 顕微鏡装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000171721A true JP2000171721A (ja) | 2000-06-23 |
JP2000171721A5 JP2000171721A5 (ja) | 2006-01-12 |
JP4304548B2 JP4304548B2 (ja) | 2009-07-29 |
Family
ID=18350018
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34194998A Expired - Lifetime JP4304548B2 (ja) | 1998-12-01 | 1998-12-01 | 顕微鏡装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4304548B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7245425B2 (en) | 2002-11-28 | 2007-07-17 | Nikon Corporation | Microscope optical system and microscope objective lens |
JP2009025303A (ja) * | 2002-09-30 | 2009-02-05 | Applied Materials Israel Ltd | 斜めのビュー角度をもつ検査システム |
JP2009192895A (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-27 | Olympus Corp | 観察装置 |
-
1998
- 1998-12-01 JP JP34194998A patent/JP4304548B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009025303A (ja) * | 2002-09-30 | 2009-02-05 | Applied Materials Israel Ltd | 斜めのビュー角度をもつ検査システム |
US7245425B2 (en) | 2002-11-28 | 2007-07-17 | Nikon Corporation | Microscope optical system and microscope objective lens |
JP2009192895A (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-27 | Olympus Corp | 観察装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4304548B2 (ja) | 2009-07-29 |
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