JP2000166909A - X線制御装置 - Google Patents

X線制御装置

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JP2000166909A
JP2000166909A JP10346261A JP34626198A JP2000166909A JP 2000166909 A JP2000166909 A JP 2000166909A JP 10346261 A JP10346261 A JP 10346261A JP 34626198 A JP34626198 A JP 34626198A JP 2000166909 A JP2000166909 A JP 2000166909A
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JP
Japan
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tomographic
ray
apr
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setting
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JP10346261A
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English (en)
Inventor
Hideki Fujii
英樹 藤井
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 アナトミカルプログラム(APR)を選択す
ればマニュアル操作なしにX線断層撮影装置における断
層角度や断層速度の自動的な設定ができるようにする。 【解決手段】 APR記憶用EEPROM15には、そ
の記憶領域16にkV、mA等のX線撮影条件が、記憶
領域17には断層情報がそれぞれAPRごとに記憶され
ており、APR選択キー14でその一つを選択するとそ
の対応する記憶が読み出され、X線撮影条件の自動設定
がなされるばかりでなく、読み出された断層情報が出力
ポート19を経てX線断層撮影装置20に送られてその
断層情報通りの断層角度・断層速度の設定が自動的にな
される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、X線制御装置に
関し、とくにX線断層撮影装置と組み合わせるX線制御
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】X線制御装置をX線断層撮影装置と組み
合わせて断層撮影を行う場合、通常、操作者がX線断層
撮影装置において断層速度や断層角度を設定し、操作者
がこの設定条件から撮影時間を計算し、X線制御装置に
おいてこの撮影時間を設定するようにしている。また、
X線断層撮影装置で断層速度や断層角度の設定がなされ
ると、この設定情報がX線制御装置に取り込まれて自動
的に撮影時間が求められ自動的な設定がなされるように
なっているものもある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来で
は、せっかくX線制御装置にX線撮影条件等を部位や目
的に応じて記憶するためのアナトミカルプログラムが備
えられているのに、これが有効に活用されていないとい
う問題がある。すなわち、必要なアナトミカルプログラ
ムを選択した後、これとは別個にわざわざX線断層撮影
装置において断層角度や断層速度をマニュアルで設定す
る必要があり、X線撮影条件等を記憶するためのアナト
ミカルプログラムの機能が生かされていない。
【0004】この発明は、上記に鑑み、アナトミカルプ
ログラムを選択すればX線断層撮影装置においてマニュ
アルで断層角度や断層速度を設定する必要なく、自動的
な設定ができるように改善した、X線制御装置を提供す
ることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明によるX線制御装置においては、断層情報
をも含めたアナトミカルプログラムを記憶する記憶手段
と、アナトミカルプログラムを選択して上記記憶手段か
ら読み出す手段と、該読み出されたアナトミカルプログ
ラムに含まれる断層情報をX線断層撮影装置に出力する
出力手段と、X線断層撮影装置からの断層情報を入力す
る入力手段と、該入力された断層情報から撮影時間を計
算しその設定を行う手段とが備えられている。
【0006】断層角度や断層速度等の断層情報をも含め
たアナトミカルプログラムが記憶されているので、アナ
トミカルプログラムを選択すれば、断層情報も読み出す
ことができる。この読み出された断層情報はX線断層撮
影装置に出力され、X線断層撮影装置においてその断層
情報通りに断層角度や断層速度等を自動設定することが
できる。X線断層撮影装置において断層角度や断層速度
等が設定されると、その断層情報がX線制御装置に入力
され、その入力された断層情報から撮影時間が計算さ
れ、X線制御装置においてその撮影時間が自動的に設定
される。そのため、操作者はアナトミカルプログラムを
選択するだけでよく、これによって断層角度や断層速度
のX線断層撮影装置での自動設定およびX線制御装置で
の撮影時間設定等を自動的に行うことができ、きわめて
便利になるとともに操作ミスなどもなくすことができ
る。
【0007】
【発明の実施の形態】つぎに、この発明の実施の形態に
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。図1におい
て、X線制御装置10はX線断層撮影装置20と組み合
わされる。X線制御装置10には、全体をコントロール
しかつ演算等を行うCPU11と、各種の設定や表示を
行う表示・設定器12と、アナトミカルプログラム(A
PR)を記憶するためのEEPROM15と、入力ポー
ト18と、出力ポート19とが備えられている。X線断
層撮影装置20には、図示しないがX線管およびX線受
像系(フィルム等)とこれらを相対的に移動させる機構
等とともに、断層角度の設定器21および断層速度の設
定器22が備えられている。
【0008】まず、APRの書き込み動作について説明
する。X線制御装置10において、表示・設定器12に
より、必要なX線撮影条件(管電圧;kV、管電流;m
A等)をマニュアル設定する。ついで、X線断層撮影装
置20において、マニュアルで断層角度設定器21およ
び断層速度設定器22を操作して、これらの角度及び速
度の設定を行う。この断層角度・速度の設定情報が入力
ポート18を介してCPU11に取り込まれ、これと上
記の設定されたX線撮影条件とにより、CPU11が撮
影時間(Sec)を計算して、その設定を行う。
【0009】その後、操作者が、表示・設定器12に設
けられたAPR書き込みキー13を押し、書き込みたい
APR選択キー14の一つを選択して押し、再度APR
書き込みキー13を押すと、現在設定中の撮影条件(k
V、mA、Sec等)がEEPROM15の撮影条件用
の領域16に書き込まれるとともに、入力ポート18を
介してX線断層撮影装置20から入力されている断層条
件の設定情報がEEPROM15の断層条件用の領域1
7に書き込まれる。
【0010】つぎに、APRの選択および断層撮影の実
行について説明する。操作者がAPR選択キー14の一
つを押すと、CPU11によりその押されたキー14に
対応する撮影条件(kV、mA等)がEEPROM15
の領域16から読み出されるとともに、押されたキー1
4に対応する断層情報(断層角度・速度等)が読み出さ
れる。これにより、X線制御装置10において読み出さ
れた撮影条件への設定がなされるとともに、断層情報が
出力ポート19を介してX線断層撮影装置20に対して
パルス状に出力される。
【0011】これは、X線断層撮影装置20に上記の断
層情報通りの断層条件への設定を行えという断層条件設
定要求信号として与えられ、X線断層撮影装置20にお
いてはその通りの断層条件の設定がなされる。こうして
X線断層撮影装置20において断層条件の設定がなされ
ると、その設定された断層情報が入力ポート18を介し
てX線制御装置10のCPU11に取り込まれ、CPU
11が自動的に撮影時間(Sec)の計算を行い、その
撮影時間の設定を行う。これにより、X線制御装置10
におけるX線撮影条件の設定と、X線断層撮影装置20
における断層角度・速度の自動設定がなされることにな
り、その後その設定通りの断層撮影が自動的に実行され
る。
【0012】したがって、APR選択キーを押して一つ
のAPRを選択すれば、X線制御装置10におけるX線
撮影条件(kV、mA、Sec等)の設定が自動でなさ
れるとともに、X線断層撮影装置20における断層角度
・時間の設定も自動的になされることになる。そのた
め、各種の検査目的・検査部位等に応じて断層撮影のた
めのAPRをいったん記憶させてしまえば、その記憶さ
れたAPRには断層情報も含まれるため、APR選択キ
ー14を押して一つのAPRを選択しさえすれば、X線
断層撮影装置20においていちいち断層角度や断層速度
をマニュアル設定する必要なくなり、操作者の負担が軽
減されるとともに、設定ミスなどによる無駄な撮影が行
われないようにすることができる。
【0013】なお、上記において、X線制御装置10か
らX線断層撮影装置20に入力された断層情報通りの断
層角度・速度の設定がなされるものとして説明したが、
断層角度設定器21および断層速度設定器22をマニュ
アル操作してその設定を修正するようにすることもで
き、その場合はその修正後の設定条件が入力ポート18
を介してCPU11に取り込まれることになる。また、
具体的な構成などは、図示のものに限定されず、種々に
変更できることはもちろんである。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、この発明のX線制
御装置によれば、各種の検査目的・検査部位に応じてA
PRとして断層条件をも記憶させ、以後そのAPRの一
つを選択するだけでX線撮影条件のみならず、X線断層
撮影装置での断層角度・速度の設定までも自動的に行う
ことができる。そのため、X線断層撮影装置においてい
ちいち断層角度や断層速度をマニュアル設定する必要な
くなって便利になり、操作者の負担が軽減されるととも
に、設定ミスなどによる無駄な撮影を防止することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の形態を示すブロック図。
【符号の説明】
10 X線制御装置 11 CPU 12 表示・設定器 13 APR書き込みキー 14 APR選択キー 15 APR記憶用EEPROM 16 X線撮影条件用の記憶領域 17 断層情報用の記憶領域 18 入力ポート 19 出力ポート 20 X線断層撮影装置 21 断層角度設定器 22 断層速度設定器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 断層情報をも含めたアナトミカルプログ
    ラムを記憶する記憶手段と、アナトミカルプログラムを
    選択して上記記憶手段から読み出す手段と、該読み出さ
    れたアナトミカルプログラムに含まれる断層情報をX線
    断層撮影装置に出力する出力手段と、X線断層撮影装置
    からの断層情報を入力する入力手段と、該入力された断
    層情報から撮影時間を計算しその設定を行う手段とを備
    えることを特徴とするX線制御装置。
JP10346261A 1998-12-07 1998-12-07 X線制御装置 Pending JP2000166909A (ja)

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