JP2000141206A - ケミカルマシンポリッシャの研磨盤用研磨ドレッサ - Google Patents

ケミカルマシンポリッシャの研磨盤用研磨ドレッサ

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JP2000141206A
JP2000141206A JP32358398A JP32358398A JP2000141206A JP 2000141206 A JP2000141206 A JP 2000141206A JP 32358398 A JP32358398 A JP 32358398A JP 32358398 A JP32358398 A JP 32358398A JP 2000141206 A JP2000141206 A JP 2000141206A
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polishing
dresser
machine
grid
chemical
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Keiichi Fujimori
森 啓 一 藤
Junji Matsuo
尾 淳 次 松
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Fujimori Technical Laboratory Inc
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ケミカルマシンポリッシャの研磨盤用研磨ド
レッサにおいて、研磨盤との接触部において面接触とな
るようにして使用時の摩耗を軽減し長寿命化を図ると共
に、該研磨盤の研磨効率を向上する。 【解決手段】 平盤状のベース部材29の外周部を所定
幅で盛り上げ、その盛上げ部30の表面に研磨グリッド
34を略均一に分布させて固着した研磨面31の断面形
状を凸形の円弧状曲面に形成すると共に、その円弧状曲
面の頂部は平坦面36に形成したものである。これによ
り、ケミカルマシンポリッシャの研磨盤との接触部にお
いて面接触となるようにして使用時の摩耗を軽減し長寿
命化を図ると共に、該研磨盤の研磨効率を向上すること
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平坦で回転可能な
研磨盤の盤面に化学研磨剤を供給して該研磨盤上でウェ
ハ等の被研磨物の表面を研磨するケミカルマシンポリッ
シャの上記研磨盤を研磨する研磨ドレッサに関し、特
に、上記研磨盤との接触部において面接触となるように
して使用時の摩耗を軽減し長寿命化を図ると共に、該研
磨盤の研磨効率を向上することができるケミカルマシン
ポリッシャの研磨盤用研磨ドレッサに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、集積回路等の半導体製品の製造に
おいて、集積回路の容量の増大化の要求に応じて回路の
集積度が高まりつつあるが、それに伴って回路の層間の
絶縁膜も薄くなりつつある。このような要求に応じて、
図7に示すように、シリコン基板1上に配線パターンに
従って配線溝2を形成し、この状態でシリコン基板1の
全表面にアルミニウム等の金属層3を形成し、この金属
層3を研磨して上記配線溝2内にのみ金属層3を残して
平坦な配線パターンを形成し、これを多層に積層するこ
とにより集積回路を製造する技術が採用されつつある。
【0003】図8は、上記集積回路の製造においてシリ
コン基板1の全表面に形成された配線用の金属層3を研
磨する際に用いられるケミカルマシンポリッシャ(以下
「CMP」と略称する)の研磨盤4を示す断面図であ
る。図8に示すように、この研磨盤4は、平盤状の基台
5上に平坦な研磨パッド6を張り付けて構成されてい
る。そして、例えば酸等の化学研磨剤に微細な研磨材を
混ぜ、これを上記研磨盤4の研磨パッド6の表面に供給
し、該研磨盤4を回転させて保持具7に保持されたシリ
コン基板1の金属層3を上記研磨パッド6の表面に接触
させることにより、上記金属層3を化学研磨剤及び研磨
材で研磨する。
【0004】一方、上記研磨盤4の研磨パッド6も上記
金属層3の研磨時に摩耗し、研磨パッド6の平坦度を維
持できなくなるため、上記CMPには、該研磨パッド6
を研磨する研磨装置が備えられている。そして、この研
磨装置に備えられた研磨ドレッサで上記研磨パッド6を
研磨するようになっている。
【0005】図9は従来の研磨ドレッサ8を示す中央断
面図である。この研磨ドレッサ8は、例えば円形の平盤
状のベース部材9の外周部を所定幅で盛り上げ、その盛
上げ部10の表面にダイヤモンドグリッド等の研磨グリ
ッドを略均一に分布させて固着し研磨面11を形成して
成っていた。
【0006】そして、図10に示すように、上記研磨ド
レッサ8を保持具12で保持し、上記研磨盤4を回転さ
せて該保持具12に保持された研磨ドレッサ8の研磨面
11を研磨パッド6の表面に上方から接触させることに
より、上記研磨盤4の研磨パッド6の表面を研磨してい
た。このとき、保持具12の中心部に矢印Pのように加
工圧力をかけて上記研磨ドレッサ8の研磨面11を研磨
盤4の研磨パッド6に上方から押し付けると、該研磨面
11の押圧力で上記研磨パッド6はその弾性により少し
沈んだ状態で変形する。そして、この研磨パッド6の研
磨により、該研磨パッド6の表面の平坦度を維持すると
ともに、パッド表面のクリーニングも行っていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の研磨ドレッサ8においては、図9に示すように上記
研磨面11の断面形状は平坦面に形成されていたので、
図10に示すように研磨ドレッサ8の研磨面11を研磨
盤4の研磨パッド6に上方から押し付けたときは、外周
部において所定幅でドーナツ形状に形成された研磨面1
1の全面で研磨パッド6を押圧することとなるが、この
押圧による研磨パッド6の沈み込み変形は上記研磨面1
1の最外周部において最も大きくなるものであった。し
たがって、研磨面11の研磨パッド6に対する接触圧力
は最外周部において最も大きくなり、結果的に上記最外
周部の輪郭線である円により線接触の状態となってしま
うものであった。
【0008】このことから、上記研磨面11の最外周部
に分布固着された研磨グリッドのみが研磨パッド6に強
く接触して研磨することとなり、最外周部に固着された
研磨グリッドのみが早く摩耗してしまう。しかるに、上
記研磨面11の内周部に分布固着された研磨グリッド
は、研磨パッド6に対して十分な接触圧力とならず、該
研磨パッド6の研磨にはあまり寄与できないものであっ
た。したがって、研磨面11の最外周部に固着された研
磨グリッドが摩耗した研磨ドレッサ8は、研磨パッド6
の研磨の役には立たず、新しい研磨ドレッサ8に交換し
なければならなかった。即ち、研磨ドレッサ8の寿命が
短いものであった。また、一つの研磨ドレッサ8で多く
の枚数の研磨盤4の研磨パッド6を研磨することができ
ず、研磨盤4の研磨効率が低下するものであった。
【0009】そこで、本発明は、このような問題点に対
処し、研磨盤との接触部において面接触となるようにし
て使用時の摩耗を軽減し長寿命化を図ると共に、該研磨
盤の研磨効率を向上することができるケミカルマシンポ
リッシャの研磨盤用研磨ドレッサを提供することを目的
とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によるケミカルマシンポリッシャの研磨盤用
研磨ドレッサは、平坦で回転可能な研磨盤の盤面に化学
研磨剤を供給して該研磨盤上で被研磨物の表面を研磨す
るケミカルマシンポリッシャの上記研磨盤を研磨するも
のであって、平盤状のベース部材の外周部を所定幅で盛
り上げその表面に研磨グリッドを略均一に分布させて固
着し研磨面を形成して成る研磨ドレッサにおいて、上記
研磨面の断面形状を凸形の円弧状曲面に形成すると共
に、その円弧状曲面の頂部は平坦面に形成したものであ
る。
【0011】また、上記研磨面への研磨グリッドの固着
は、金属電着により固着させたものとしてもよい。
【0012】さらに、上記研磨面への研磨グリッドの固
着は、化学研磨剤に対する耐性を有する接着剤で接着し
たものとしてもよい。
【0013】さらにまた、上記研磨グリッドは、ダイヤ
モンドグリッドで形成してもよい。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて詳細に説明する。図1は本発明によるケ
ミカルマシンポリッシャの研磨盤用研磨ドレッサを示す
中央断面図であり、図2のA−A線断面図である。ま
た、図2は上記研磨ドレッサを示す平面図である。この
研磨ドレッサ15は、平坦で回転可能な研磨盤の盤面に
化学研磨剤を供給して該研磨盤上でウェハ等の被研磨物
の表面を研磨するケミカルマシンポリッシャ(以下「C
MP」と略称する)において上記研磨盤を研磨するもの
である。
【0015】まず、上記CMP16の概要について図5
及び図6を参照して説明する。図5において、ロードス
テーション17は、ウェハカセット(図示せず)を載置
するために設けられた場所である。このウェハカセット
には、図7に示すようなシリコン基板1上に金属層3が
形成された処理前のウェハ13が収納されている。クリ
ーンステーション18は、搬送アーム19に上記ウェハ
13を渡すために設けられた場所である。上記搬送アー
ム19は、クリーンステーション18でウェハ13を吸
着等して支持し、図中、矢印方向に回転して後述の各位
置に搬送する。
【0016】プライマリプラテン20は、上記ウェハ1
3の金属層3を実際に研磨する場所であり、図8に示す
ように、平坦で回転可能な研磨盤4が設けられており、
その表面には平坦な研磨パッド6が張り付けられてい
る。また、温度上昇を抑えるための冷却装置等(図示せ
ず)が配設されている。
【0017】パッドコンディショナ21は、上記プライ
マリプラテン20の研磨パッド6の表面を研磨するもの
であり、ドレッサアーム22の先端には、図6に示すよ
うに位置調節具23を介して本発明の研磨ドレッサ15
が回転自在に取り付けられている。そして、上記パッド
コンディショナ21は、ドレッサアーム22の基端部を
支点として矢印B−B’方向に回動するようになってい
る。尚、パッドコンディショナ21は、上記のように矢
印B−B’方向に回動するのではなく、ドレッサアーム
22を横方向に平行移動させるような構成であってもよ
い。
【0018】スラリー供給ノズル24は、PHの高い硝
酸等の酸の化学研磨剤に研磨材を混合させたスラリーを
プライマリプラテン20上の研磨パッド6に供給するノ
ズルである。
【0019】ファイナルプラテン25は、回転可能な平
坦な定盤であり、上記プライマリプラテン20上での研
磨により処理対象のウェハ13の表面に付着した研磨剤
等を洗い落とすために設けられたものである。そして、
純水供給ノズル26は、このファイナルプラテン25の
表面に純水を供給するノズルである。
【0020】エンドステーション27は、上記ファイナ
ルプラテン25で洗滌後のウェハ13を搬送アーム19
から受け取って一旦置くための場所である。アンロード
ステーション28は、以上の処理済みのウェハ13を収
納するウェハカセットを載置するために設けられた場所
である。なお、上記クリーンステーション18とエンド
ステーション27は、ロードステーション17からアン
ロードステーション28に向かうウェハ13の搬送経路
の途中に設けられている。
【0021】次に、上記のような構成のCMP16にお
いて、プライマリプラテン20に設けられた研磨盤4の
研磨パッド6(図8参照)を研磨する研磨ドレッサ15
について、図1〜図3を参照して説明する。この研磨ド
レッサ15の全体構成は、図2に示すように例えば円形
の平盤状のベース部材29の外周部を図1に示すように
所定幅で盛り上げ、その盛上げ部30の表面にダイヤモ
ンドグリッド又はそれに相当する硬質の物質から成る研
磨グリッドを略均一に分布させて固着し、研磨面31を
形成して成る。なお、図2において、符号35は保持具
12に研磨ドレッサ15を固定するための取付用孔を示
している。
【0022】上記ベース部材29は、シリコンで形成さ
れ、或いは化学研磨剤に対する耐性に優れたベークライ
ト等のジュラコン樹脂で形成されている。また、このベ
ース部材29の中心部には、所定の内径の孔32が明け
られている。この孔32は、上記ベース部材29の全体
が変形して歪んだりしないようにするためのものであ
る。
【0023】また、上記盛上げ部30の研磨面31の円
周方向には、図2に示すように、所定間隔で放射状に走
る凹溝33,33,…が形成されている。この凹溝3
3,33,…は、前記プライマリプラテン20に設けら
れた研磨盤4の研磨パッド6を研磨ドレッサ15で研磨
する際に、図5に示すスラリー供給ノズル24で酸の化
学研磨剤に研磨材を混合させたスラリーを上記研磨パッ
ド6上に供給したとき、盛上げ部30の円周外側から中
心側にもスラリーが自然に入り込むようにして、上記研
磨ドレッサ15による研磨がスムーズに行えるようにす
るものである。
【0024】さらに、上記盛上げ部30の表面への研磨
グリッドの固着は、ニッケル等の金属を用いた金属電着
によりダイヤモンドグリッド等を略均一に分布させて固
着し、研磨面31を形成している。或いは、ガラスボン
ド又はレジンボンド等の化学研磨剤に対する耐性を有す
る接着剤を用いて、上記盛上げ部30の表面へダイヤモ
ンドグリッド等を略均一に分布させて接着してもよい。
これらにより、盛上げ部30の表面に研磨面31が形成
される。
【0025】なお、上記研磨面31への研磨グリッドの
固着を、金属電着により固着させたものにおいては、該
研磨グリッドの固着を容易に行い且つその固着を強固に
することができる。また、上記研磨面31への研磨グリ
ッドの固着を、化学研磨剤に対する耐性を有する接着剤
で接着したものにおいては、化学研磨剤による研磨グリ
ッドの剥がれ落ちを防止することができる。さらに、上
記研磨グリッドをダイヤモンドグリッドとしたものにお
いては、ダイヤモンドグリッドは材質が硬いと共に化学
研磨剤にも強いので、前記研磨盤4の研磨パッド6を研
磨するのに最も適している。
【0026】そして、本発明においては、図3に示すよ
うに、上記研磨面31の断面形状が凸形の円弧状曲面に
形成されると共に、その円弧状曲面の頂部は平坦面に形
成されている。即ち、図3において、上記盛上げ部30
の断面形状が所定の半径を有する凸形の円弧状曲面に形
成され、この凸形の円弧状曲面の頂部は平坦面36に形
成されている。そして、上記凸形の円弧状曲面及び平坦
面36を備えた盛上げ部30の表面に、上記の金属電着
又は化学研磨剤に対する耐性を有する接着剤で研磨グリ
ッド34が固着されて研磨面31が形成されている。こ
れにより、この研磨面31の断面形状も、凸形の円弧状
曲面及びその頂部が平坦面に仕上げられることとなる。
【0027】このように構成された研磨ドレッサ15を
用いて図5及び図6に示すプライマリプラテン20に設
けられた研磨盤4の研磨パッド6を研磨するには、図4
に示すように、上記研磨ドレッサ15を図6に示すドレ
ッサアーム22の先端に設けられた位置調節具23の保
持具12で保持し、上記研磨盤4を回転させて該保持具
12に保持された研磨ドレッサ15の研磨面31を研磨
パッド6の表面に上方から接触させることにより、該研
磨パッド6の表面を研磨する。
【0028】このとき、保持具12の中心部に矢印Pの
ように加工圧力をかけて上記研磨ドレッサ15の研磨面
31を研磨盤4の研磨パッド6に上方から押し付ける
と、該研磨面31の押圧力で上記研磨パッド6はその弾
性により少し沈んだ状態で変形する。本発明において
は、上記研磨面31の断面形状が凸形の円弧状曲面に形
成されると共にその円弧状曲面の頂部が平坦面36に形
成されているので、図4に示すように、まずその円弧状
曲面の頂部の平坦面36だけで研磨パッド6の表面に接
触し、さらに押圧力が大きくなるに従って研磨パッド6
が変形して研磨面31と研磨パッド6との接触が深まる
と共に、接触部分が上記頂部の平坦面36の両側方に広
がって行き円弧状曲面の部分も接触する。
【0029】そして、上記研磨面31が所定の押圧力で
研磨パッド6の表面に押し付けられた状態では、該研磨
パッド6の表面は研磨面31の凸形の円弧状曲面及びそ
の頂部の平坦面36に倣った形で変形し、該円弧状曲面
の頂部の平坦面36を中心とした或る広がりのある幅で
接触して、結果的に研磨面31と研磨パッド6との接触
において上記頂部の平坦面36及びその両側方の円弧状
曲面で面接触の状態が得られる。このとき、上記頂部の
平坦面36の最外周部の輪郭線により線接触となる状態
は、その外方に隣接する円弧状曲面の押圧で逃げること
ができる。これにより、上記頂部の平坦面36では、研
磨パッド6の表面を均一に押圧することができる。
【0030】このことから、上記研磨面31に分布固着
された研磨グリッド34は、或る広がりのある幅で分布
固着されたものが研磨パッド6に面として接触して研磨
することとなり、一部分のみが早く摩耗してしまうこと
を防止することができ、研磨ドレッサ15の寿命を長く
することができる。このことから、該研磨ドレッサ15
の交換間隔を延長することができ、一つの研磨ドレッサ
15で多くの枚数の研磨盤4の研磨パッド6を研磨し
て、研磨盤4の研磨効率を向上することができる。
【0031】
【発明の効果】本発明は以上のように構成されたので、
平盤状のベース部材の外周部を所定幅で盛り上げその表
面に研磨グリッドを略均一に分布させて固着した研磨面
の断面形状を凸形の円弧状曲面に形成すると共に、その
円弧状曲面の頂部は平坦面に形成したことにより、CM
Pの研磨盤との接触部において結果的に面接触となるよ
うにすることができる。特に、上記円弧状曲面の頂部の
平坦面では、研磨盤の表面を均一に押圧することができ
る。したがって、研磨ドレッサの使用時に研磨面の一部
分のみが早く摩耗してしまうことを防止することがで
き、研磨ドレッサの長寿命化を図ることができる。この
ことから、研磨ドレッサの交換間隔を延長することがで
き、一つの研磨ドレッサで多くの枚数の研磨盤を研磨し
て研磨盤の研磨効率を向上することができる。また、上
記研磨盤との面接触により該研磨盤の研磨が良く行える
ので、研磨盤自体の平坦度の向上及び目づまりを防止し
て、その研磨盤の寿命を延長することができる。
【0032】また、上記研磨面への研磨グリッドの固着
を、金属電着により固着させたものにおいては、該研磨
グリッドの固着を容易に行い且つその固着を強固にする
ことができる。
【0033】さらに、上記研磨面への研磨グリッドの固
着を、化学研磨剤に対する耐性を有する接着剤で接着し
たものにおいては、化学研磨剤による研磨グリッドの剥
がれ落ちを防止することができる。
【0034】さらにまた、上記研磨グリッドをダイヤモ
ンドグリッドとしたものにおいては、ダイヤモンドグリ
ッドは材質が硬いと共に化学研磨剤にも強いので、前記
研磨盤を研磨するのに最適である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるケミカルマシンポリッシャの研磨
盤用研磨ドレッサを示す中央断面図であり、図2のA−
A線断面図である。
【図2】上記研磨ドレッサを示す平面図である。
【図3】上記研磨ドレッサの盛上げ部及び研磨面を示す
拡大断面図である。
【図4】上記研磨ドレッサの使用状態を示す断面説明図
である。
【図5】上記研磨ドレッサを備えたCMPを示す平面図
である。
【図6】上記CMPの要部を示す斜視図である。
【図7】CMPによって研磨されるシリコン基板を示す
断面図である。
【図8】CMPによってシリコン基板を研磨する状態を
示す断面説明図である。
【図9】従来の研磨ドレッサを示す中央断面図である。
【図10】従来の研磨ドレッサの使用状態を示す断面説
明図である。
【符号の説明】
4…研磨盤 5…基台 6…研磨パッド 12…保持具 15…研磨ドレッサ 16…CMP 20…プライマリプラテン 21…パッドコンディショナ 22…ドレッサアーム 29…ベース部材 30…盛上げ部 31…研磨面 34…研磨グリッド 36…平坦面
【手続補正書】
【提出日】平成12年2月24日(2000.2.2
4)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明 細 書
【発明の名称】ケミカルマシンポリッシャの研磨盤用研
磨ドレッサ
【特許請求の範囲】
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平坦で回転可能な
研磨盤の盤面に化学研磨剤を供給して該研磨盤上でウェ
ハ等の被研磨物の表面を研磨するケミカルマシンポリッ
シャの上記研磨盤を研磨する研磨ドレッサに関し、特
に、上記研磨盤との接触部において面接触となるように
して使用時の摩耗を軽減し長寿命化を図ると共に、該研
磨盤の研磨効率を向上することができるケミカルマシン
ポリッシャの研磨盤用研磨ドレッサに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、集積回路等の半導体製品の製造に
おいて、集積回路の容量の増大化の要求に応じて回路の
集積度が高まりつつあるが、それに伴って回路の層間の
絶縁膜も薄くなりつつある。このような要求に応じて、
図7に示すように、シリコン基板1上に配線パターンに
従って配線溝2を形成し、この状態でシリコン基板1の
全表面にアルミニウム等の金属層3を形成し、この金属
層3を研磨して上記配線溝2内にのみ金属層3を残して
平坦な配線パターンを形成し、これを多層に積層するこ
とにより集積回路を製造する技術が採用されつつある。
【0003】図8は、上記集積回路の製造においてシリ
コン基板1の全表面に形成された配線用の金属層3を研
磨する際に用いられるケミカルマシンポリッシャ(以下
「CMP」と略称する)の研磨盤4を示す断面図であ
る。図8に示すように、この研磨盤4は、平盤状の基台
5上に平坦な研磨パッド6を張り付けて構成されてい
る。そして、例えば酸等の化学研磨剤に微細な研磨材を
混ぜ、これを上記研磨盤4の研磨パッド6の表面に供給
し、該研磨盤4を回転させて保持具7に保持されたシリ
コン基板1の金属層3を上記研磨パッド6の表面に接触
させることにより、上記金属層3を化学研磨剤及び研磨
材で研磨する。
【0004】一方、上記研磨盤4の研磨パッド6も上記
金属層3の研磨時に摩耗し、研磨パッド6の平坦度を維
持できなくなるため、上記CMPには、該研磨パッド6
を研磨する研磨装置が備えられている。そして、この研
磨装置に備えられた研磨ドレッサで上記研磨パッド6を
研磨するようになっている。
【0005】図9は従来の研磨ドレッサ8を示す中央断
面図である。この研磨ドレッサ8は、例えば円形の平盤
状のベース部材9の外周部を所定幅で盛り上げ、その盛
上げ部10の表面にダイヤモンドグリッド等の研磨グリ
ッドを略均一に分布させて固着し研磨面11を形成して
成っていた。
【0006】そして、図10に示すように、上記研磨ド
レッサ8を保持具12で保持し、上記研磨盤4を回転さ
せて該保持具12に保持された研磨ドレッサ8の研磨面
11を研磨パッド6の表面に上方から接触させることに
より、上記研磨盤4の研磨パッド6の表面を研磨してい
た。このとき、保持具12の中心部に矢印Pのように加
工圧力をかけて上記研磨ドレッサ8の研磨面11を研磨
盤4の研磨パッド6に上方から押し付けると、該研磨面
11の押圧力で上記研磨パッド6はその弾性により少し
沈んだ状態で変形する。そして、この研磨パッド6の研
磨により、該研磨パッド6の表面の平坦度を維持すると
ともに、パッド表面のクリーニングも行っていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の研磨ドレッサ8においては、図9に示すように上記
研磨面11の断面形状は平坦面に形成されていたので、
図10に示すように研磨ドレッサ8の研磨面11を研磨
盤4の研磨パッド6に上方から押し付けたときは、外周
部において所定幅でドーナツ形状に形成された研磨面1
1の全面で研磨パッド6を押圧することとなるが、この
押圧による研磨パッド6の沈み込み変形は上記研磨面1
1の最外周部において最も大きくなるものであった。し
たがって、研磨面11の研磨パッド6に対する接触圧力
は最外周部において最も大きくなり、結果的に上記最外
周部の輪郭線である円により線接触の状態となってしま
うものであった。
【0008】このことから、上記研磨面11の最外周部
に分布固着された研磨グリッドのみが研磨パッド6に強
く接触して研磨することとなり、最外周部に固着された
研磨グリッドのみが早く摩耗してしまう。しかるに、上
記研磨面11の内周部に分布固着された研磨グリッド
は、研磨パッド6に対して十分な接触圧力とならず、該
研磨パッド6の研磨にはあまり寄与できないものであっ
た。したがって、研磨面11の最外周部に固着された研
磨グリッドが摩耗した研磨ドレッサ8は、研磨パッド6
の研磨の役には立たず、新しい研磨ドレッサ8に交換し
なければならなかった。即ち、研磨ドレッサ8の寿命が
短いものであった。また、一つの研磨ドレッサ8で多く
の枚数の研磨盤4の研磨パッド6を研磨することができ
ず、研磨盤4の研磨効率が低下するものであった。
【0009】そこで、本発明は、このような問題点に対
処し、研磨盤との接触部において面接触となるようにし
て使用時の摩耗を軽減し長寿命化を図ると共に、該研磨
盤の研磨効率を向上することができるケミカルマシンポ
リッシャの研磨盤用研磨ドレッサを提供することを目的
とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によるケミカルマシンポリッシャの研磨盤用
研磨ドレッサは、平坦で回転可能な研磨盤の盤面に化学
研磨剤を供給して該研磨盤上で被研磨物の表面を研磨す
るケミカルマシンポリッシャの上記研磨盤を研磨するも
のであって、平盤状のベース部材の外周部を所定幅で盛
り上げその表面にダイヤモンドグリッドから成る研磨グ
リッドを略均一に分布させて固着し研磨面を形成して成
る研磨ドレッサにおいて、上記研磨面の断面形状を所定
の半径を有する凸形の円弧状曲面に形成すると共に、そ
の円弧状曲面の頂部は平坦面に形成したものである。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて詳細に説明する。図1は本発明によるケ
ミカルマシンポリッシャの研磨盤用研磨ドレッサを示す
中央断面図であり、図2のA−A線断面図である。ま
た、図2は上記研磨ドレッサを示す平面図である。この
研磨ドレッサ15は、平坦で回転可能な研磨盤の盤面に
化学研磨剤を供給して該研磨盤上でウェハ等の被研磨物
の表面を研磨するケミカルマシンポリッシャ(以下「C
MP」と略称する)において上記研磨盤を研磨するもの
である。
【0012】まず、上記CMP16の概要について図5
及び図6を参照して説明する。図5において、ロードス
テーション17は、ウェハカセット(図示せず)を載置
するために設けられた場所である。このウェハカセット
には、図7に示すようなシリコン基板1上に金属層3が
形成された処理前のウェハ13が収納されている。クリ
ーンステーション18は、搬送アーム19に上記ウェハ
13を渡すために設けられた場所である。上記搬送アー
ム19は、クリーンステーション18でウェハ13を吸
着等して支持し、図中、矢印方向に回転して後述の各位
置に搬送する。
【0013】プライマリプラテン20は、上記ウェハ1
3の金属層3を実際に研磨する場所であり、図8に示す
ように、平坦で回転可能な研磨盤4が設けられており、
その表面には平坦な研磨パッド6が張り付けられてい
る。また、温度上昇を抑えるための冷却装置等(図示せ
ず)が配設されている。
【0014】パッドコンディショナ21は、上記プライ
マリプラテン20の研磨パッド6の表面を研磨するもの
であり、ドレッサアーム22の先端には、図6に示すよ
うに位置調節具23を介して本発明の研磨ドレッサ15
が回転自在に取り付けられている。そして、上記パッド
コンディショナ21は、ドレッサアーム22の基端部を
支点として矢印B−B’方向に回動するようになってい
る。尚、パッドコンディショナ21は、上記のように矢
印B−B’方向に回動するのではなく、ドレッサアーム
22を横方向に平行移動させるような構成であってもよ
い。
【0015】スラリー供給ノズル24は、PHの高い硝
酸等の酸の化学研磨剤に研磨材を混合させたスラリーを
プライマリプラテン20上の研磨パッド6に供給するノ
ズルである。
【0016】ファイナルプラテン25は、回転可能な平
坦な定盤であり、上記プライマリプラテン20上での研
磨により処理対象のウェハ13の表面に付着した研磨剤
等を洗い落とすために設けられたものである。そして、
純水供給ノズル26は、このファイナルプラテン25の
表面に純水を供給するノズルである。
【0017】エンドステーション27は、上記ファイナ
ルプラテン25で洗滌後のウェハ13を搬送アーム19
から受け取って一旦置くための場所である。アンロード
ステーション28は、以上の処理済みのウェハ13を収
納するウェハカセットを載置するために設けられた場所
である。なお、上記クリーンステーション18とエンド
ステーション27は、ロードステーション17からアン
ロードステーション28に向かうウェハ13の搬送経路
の途中に設けられている。
【0018】次に、上記のような構成のCMP16にお
いて、プライマリプラテン20に設けられた研磨盤4の
研磨パッド6(図8参照)を研磨する研磨ドレッサ15
について、図1〜図3を参照して説明する。この研磨ド
レッサ15の全体構成は、図2に示すように例えば円形
の平盤状のベース部材29の外周部を図1に示すように
所定幅で盛り上げ、その盛上げ部30の表面にダイヤモ
ンドグリッド又はそれに相当する硬質の物質から成る研
磨グリッドを略均一に分布させて固着し、研磨面31を
形成して成る。なお、図2において、符号35は保持具
12に研磨ドレッサ15を固定するための取付用孔を示
している。
【0019】上記ベース部材29は、シリコンで形成さ
れ、或いは化学研磨剤に対する耐性に優れたベークライ
ト等のジュラコン樹脂で形成されている。また、このベ
ース部材29の中心部には、所定の内径の孔32が明け
られている。この孔32は、上記ベース部材29の全体
が変形して歪んだりしないようにするためのものであ
る。
【0020】また、上記盛上げ部30の研磨面31の円
周方向には、図2に示すように、所定間隔で放射状に走
る凹溝33,33,…が形成されている。この凹溝3
3,33,…は、前記プライマリプラテン20に設けら
れた研磨盤4の研磨パッド6を研磨ドレッサ15で研磨
する際に、図5に示すスラリー供給ノズル24で酸の化
学研磨剤に研磨材を混合させたスラリーを上記研磨パッ
ド6上に供給したとき、盛上げ部30の円周外側から中
心側にもスラリーが自然に入り込むようにして、上記研
磨ドレッサ15による研磨がスムーズに行えるようにす
るものである。
【0021】さらに、上記盛上げ部30の表面への研磨
グリッドの固着は、ニッケル等の金属を用いた金属電着
によりダイヤモンドグリッド等を略均一に分布させて固
着し、研磨面31を形成している。或いは、ガラスボン
ド又はレジンボンド等の化学研磨剤に対する耐性を有す
る接着剤を用いて、上記盛上げ部30の表面へダイヤモ
ンドグリッド等を略均一に分布させて接着してもよい。
これらにより、盛上げ部30の表面に研磨面31が形成
される。
【0022】なお、上記研磨面31への研磨グリッドの
固着を、金属電着により固着させたものにおいては、該
研磨グリッドの固着を容易に行い且つその固着を強固に
することができる。また、上記研磨面31への研磨グリ
ッドの固着を、化学研磨剤に対する耐性を有する接着剤
で接着したものにおいては、化学研磨剤による研磨グリ
ッドの剥がれ落ちを防止することができる。さらに、上
記研磨グリッドをダイヤモンドグリッドとしたものにお
いては、ダイヤモンドグリッドは材質が硬いと共に化学
研磨剤にも強いので、前記研磨盤4の研磨パッド6を研
磨するのに最も適している。
【0023】そして、本発明においては、図3に示すよ
うに、上記研磨面31の断面形状が所定の半径を有する
凸形の円弧状曲面に形成されると共に、その円弧状曲面
の頂部は平坦面に形成されている。即ち、図3におい
て、上記盛上げ部30の断面形状が所定の半径を有する
凸形の円弧状曲面に形成され、この凸形の円弧状曲面の
頂部は平坦面36に形成されている。そして、上記凸形
の円弧状曲面及び平坦面36を備えた盛上げ部30の表
面に、上記の金属電着又は化学研磨剤に対する耐性を有
する接着剤で研磨グリッド34が固着されて研磨面31
が形成されている。これにより、この研磨面31の断面
形状も、所定の半径を有する凸形の円弧状曲面及びその
頂部が平坦面に仕上げられることとなる。
【0024】このように構成された研磨ドレッサ15を
用いて図5及び図6に示すプライマリプラテン20に設
けられた研磨盤4の研磨パッド6を研磨するには、図4
に示すように、上記研磨ドレッサ15を図6に示すドレ
ッサアーム22の先端に設けられた位置調節具23の保
持具12で保持し、上記研磨盤4を回転させて該保持具
12に保持された研磨ドレッサ15の研磨面31を研磨
パッド6の表面に上方から接触させることにより、該研
磨パッド6の表面を研磨する。
【0025】このとき、保持具12の中心部に矢印Pの
ように加工圧力をかけて上記研磨ドレッサ15の研磨面
31を研磨盤4の研磨パッド6に上方から押し付ける
と、該研磨面31の押圧力で上記研磨パッド6はその弾
性により少し沈んだ状態で変形する。本発明において
は、上記研磨面31の断面形状が凸形の円弧状曲面に形
成されると共にその円弧状曲面の頂部が平坦面36に形
成されているので、図4に示すように、まずその円弧状
曲面の頂部の平坦面36だけで研磨パッド6の表面に接
触し、さらに押圧力が大きくなるに従って研磨パッド6
が変形して研磨面31と研磨パッド6との接触が深まる
と共に、接触部分が上記頂部の平坦面36の両側方に広
がって行き円弧状曲面の部分も接触する。
【0026】そして、上記研磨面31が所定の押圧力で
研磨パッド6の表面に押し付けられた状態では、該研磨
パッド6の表面は研磨面31の凸形の円弧状曲面及びそ
の頂部の平坦面36に倣った形で変形し、該円弧状曲面
の頂部の平坦面36を中心とした或る広がりのある幅で
接触して、結果的に研磨面31と研磨パッド6との接触
において上記頂部の平坦面36及びその両側方の円弧状
曲面で面接触の状態が得られる。このとき、上記頂部の
平坦面36の最外周部の輪郭線により線接触となる状態
は、その外方に隣接する円弧状曲面の押圧で逃げること
ができる。これにより、上記頂部の平坦面36では、研
磨パッド6の表面を均一に押圧することができる。
【0027】このことから、上記研磨面31に分布固着
された研磨グリッド34は、或る広がりのある幅で分布
固着されたものが研磨パッド6に面として接触して研磨
することとなり、一部分のみが早く摩耗してしまうこと
を防止することができ、研磨ドレッサ15の寿命を長く
することができる。このことから、該研磨ドレッサ15
の交換間隔を延長することができ、一つの研磨ドレッサ
15で多くの枚数の研磨盤4の研磨パッド6を研磨し
て、研磨盤4の研磨効率を向上することができる。
【0028】
【発明の効果】本発明は以上のように構成されたので、
平盤状のベース部材の外周部を所定幅で盛り上げその表
面にダイヤモンドグリッドから成る研磨グリッドを略均
一に分布させて固着した研磨面の断面形状を所定の半径
を有する凸形の円弧状曲面に形成すると共に、その円弧
状曲面の頂部は平坦面に形成したことにより、CMPの
研磨盤との接触部において上記頂部の平坦面及びその両
側方の円弧状曲面で結果的に面接触となるようにするこ
とができる。特に、上記円弧状曲面の頂部の平坦面で
は、研磨盤の表面を均一に押圧することができる。した
がって、研磨ドレッサの使用時に研磨面の一部分のみが
早く摩耗してしまうことを防止することができ、研磨ド
レッサの長寿命化を図ることができる。このことから、
研磨ドレッサの交換間隔を延長することができ、一つの
研磨ドレッサで多くの枚数の研磨盤を研磨して研磨盤の
研磨効率を向上することができる。また、上記研磨盤と
の面接触により該研磨盤の研磨が良く行えるので、研磨
盤自体の平坦度の向上及び目づまりを防止して、その研
磨盤の寿命を延長することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるケミカルマシンポリッシャの研磨
盤用研磨ドレッサを示す中央断面図であり、図2のA−
A線断面図である。
【図2】上記研磨ドレッサを示す平面図である。
【図3】上記研磨ドレッサの盛上げ部及び研磨面を示す
拡大断面図である。
【図4】上記研磨ドレッサの使用状態を示す断面説明図
である。
【図5】上記研磨ドレッサを備えたCMPを示す平面図
である。
【図6】上記CMPの要部を示す斜視図である。
【図7】CMPによって研磨されるシリコン基板を示す
断面図である。
【図8】CMPによってシリコン基板を研磨する状態を
示す断面説明図である。
【図9】従来の研磨ドレッサを示す中央断面図である。
【図10】従来の研磨ドレッサの使用状態を示す断面説
明図である。
【符号の説明】 4…研磨盤 5…基台 6…研磨パッド 12…保持具 15…研磨ドレッサ 16…CMP 20…プライマリプラテン 21…パッドコンディショナ 22…ドレッサアーム 29…ベース部材 30…盛上げ部 31…研磨面 34…研磨グリッド 36…平坦面

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 平坦で回転可能な研磨盤の盤面に化学研
    磨剤を供給して該研磨盤上で被研磨物の表面を研磨する
    ケミカルマシンポリッシャの上記研磨盤を研磨するもの
    であって、平盤状のベース部材の外周部を所定幅で盛り
    上げその表面に研磨グリッドを略均一に分布させて固着
    し研磨面を形成して成る研磨ドレッサにおいて、上記研
    磨面の断面形状を凸形の円弧状曲面に形成すると共に、
    その円弧状曲面の頂部は平坦面に形成したことを特徴と
    するケミカルマシンポリッシャの研磨盤用研磨ドレッ
    サ。
  2. 【請求項2】 上記研磨面への研磨グリッドの固着は、
    金属電着により固着させたものであることを特徴とする
    請求項1記載のケミカルマシンポリッシャの研磨盤用研
    磨ドレッサ。
  3. 【請求項3】 上記研磨面への研磨グリッドの固着は、
    化学研磨剤に対する耐性を有する接着剤で接着したもの
    であることを特徴とする請求項1記載のケミカルマシン
    ポリッシャの研磨盤用研磨ドレッサ。
  4. 【請求項4】 上記研磨グリッドは、ダイヤモンドグリ
    ッドであることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1
    項に記載のケミカルマシンポリッシャの研磨盤用研磨ド
    レッサ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002273649A (ja) * 2001-03-15 2002-09-25 Oki Electric Ind Co Ltd ドレッサ−を有する研磨装置
JP2014233830A (ja) * 2013-06-03 2014-12-15 コンフーン マテリアルズ インターナショナル カンパニー リミテッド 研磨パッドドレッサおよびその製造方法、研磨パッドドレッシング装置、ならびに、研磨システム

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