JP2000137247A - Active matrix liquid crystal display device - Google Patents

Active matrix liquid crystal display device

Info

Publication number
JP2000137247A
JP2000137247A JP11264762A JP26476299A JP2000137247A JP 2000137247 A JP2000137247 A JP 2000137247A JP 11264762 A JP11264762 A JP 11264762A JP 26476299 A JP26476299 A JP 26476299A JP 2000137247 A JP2000137247 A JP 2000137247A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
gate
liquid crystal
line
crystal display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11264762A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4259691B2 (en
Inventor
Hyun Chang Lee
チャン リー ヒュン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LG Display Co Ltd
Original Assignee
LG Philips LCD Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LG Philips LCD Co Ltd filed Critical LG Philips LCD Co Ltd
Publication of JP2000137247A publication Critical patent/JP2000137247A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4259691B2 publication Critical patent/JP4259691B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3696Generation of voltages supplied to electrode drivers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3674Details of drivers for scan electrodes
    • G09G3/3677Details of drivers for scan electrodes suitable for active matrices only
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00Command of the display device
    • G09G2310/02Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264Details of driving circuits
    • G09G2310/0289Details of voltage level shifters arranged for use in a driving circuit
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00Command of the display device
    • G09G2310/06Details of flat display driving waveforms
    • G09G2310/066Waveforms comprising a gently increasing or decreasing portion, e.g. ramp
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/02Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0219Reducing feedthrough effects in active matrix panels, i.e. voltage changes on the scan electrode influencing the pixel voltage due to capacitive coupling
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/02Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0223Compensation for problems related to R-C delay and attenuation in electrodes of matrix panels, e.g. in gate electrodes or on-substrate video signal electrodes
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/02Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0247Flicker reduction other than flicker reduction circuits used for single beam cathode-ray tubes
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3648Control of matrices with row and column drivers using an active matrix
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/16Modifications for eliminating interference voltages or currents
    • H03K17/161Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches
    • H03K17/162Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches without feedback from the output circuit to the control circuit
    • H03K17/163Soft switching
    • H03K17/164Soft switching using parallel switching arrangements

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make it possible to remove flicker and after-image and to simplify circuit constitution by providing a gate driver or the like capable of outputting one of a first voltage and a second voltage and allowing the first voltage to change before continued gate signal lines are activated. SOLUTION: The device has a data driver 32 for driving signal lines SL1-LSm provided on a liquid crystal panel 30 and a gate driver 34 for driving gate lines GL1-GLn provided on the liquid crystal panel 32. Further, relating to this active matrix liquid crystal display device, the falling part of scanning signal is changed in a form selected from linear, exponential and step functions by supplying a high gate voltage to a level shift of the gate driver 34 in the alternating current form. Thereby, a field through voltage is sufficiently suppressed and then formation of flicker and after-image can be avoided and, at the same time, the circuit constitution is extremely simplified.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はアクティブマトリックス
液晶表示装置に関し、特に液晶で構成された画素に接続
されたトランジスタにゲートパルスを供給する手段を具
備するアクティブマトリックス液晶表示装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an active matrix liquid crystal display device, and more particularly to an active matrix liquid crystal display device having means for supplying a gate pulse to a transistor connected to a pixel formed of liquid crystal.

【0002】[0002]

【従来の技術】通常のアクティブマトリックス液晶表示
装置は電界を利用して液晶の光透過率を調節することで
画像を表示する。このような液晶表示装置は図1に図示
されたように液晶パネル(10)上の信号ライン(SL
1乃至SLm)を駆動するデータドライバ(12)と、
液晶パネル(10)上のゲートライン(GL1乃至GL
n)を駆動するためのゲートドライバ(14)とを具備
する。液晶パネル(10)には信号ライン(SL)及び
ゲートライン(GL)に接続される画素(11)がアク
ティブマトリックス形態で配列される。画素(11)そ
れぞれは信号ライン(SL)からのデータ電圧信号(D
VS)に応答して透過光量を調節する液晶セル(Cl
c)と、ゲートライン(GL)からのスキャニング信号
(SCS)に応答して信号ライン(SL)から液晶セル
(Clc)に供給されるデータ電圧信号(DVS)を切
り換える薄膜トランジスタ(以下″TFT″という)
(CMN)で構成される。データドライバ(12)はゲ
ートライン(GL1乃至GLn)が順次的に駆動される
ことによって信号ライン(SL1乃至SLm)すべてに
データ電圧信号(DVS)を供給する。一方、ゲートド
ライバ(14)はスキャニング信号(SCS)をゲート
ライン(GL1乃至GLn)に順次的に供給することで
ゲートライン(GL1乃至GLn)が水平同期期間ずつ
順次駆動される。このために、制御ライン(CL)から
のゲートスタートパルス(GSP)及びゲートクロック
ライン(GCL)からのゲートスキャニングクロック
(GSL)からのゲートスキャニングクロック(GS
L)に応答するシフトレジスタ(16)と、シフトレジ
スタ(16)とゲートライン(GL1乃至GLn)の間
に接続されたレベルシフト(18)で構成される。シフ
トレジスタ(16)は制御ライン(CL)からのゲート
スタートパルス(GSP)をn個の出力端子(QT1乃
至QTn)の中のいずれか一つの出力端子側に出力する
ことと併せてゲートスキャニングクロック(GSC)に
応答してゲートスタートパルス(GSP)を第1出力端
子(QT1)から第n出力端子(QTn)側に順次的に
移動させる。レベルシフト(18)はシフトレジスタ
(16)の出力信号の電圧レベルをシフトさせることで
n個のスキャニング信号(SCS)が発生させる。この
ために、レベルシフト(18)はシフトレジスタ(1
6)のn個の出力端子(QT1乃至QTn)とn個のゲ
ートライン(GL)の間にそれぞれ接続されることと併
せて第1及び第2電圧ライン(FVL、SVL)からの
直流形態の低電位及び高電位電圧(Vgl、Vgh)の
供給を受けるn個のインバータ(19)で構成される。
インバータ(19)はシフトレジスタ(16)の出力端
子(QT)からの論理状態によって低電位及び高電位電
圧(Vgl、Vgh)の中のいずれか一つを選択的にゲ
ートライン(GL)に供給する。これによって、n個の
スキャニング信号(SCS)の中のいずれ一つだけが高
電位ゲート電圧(Vgh)を有する。この高電位ゲート
電圧(Vgh)を有するスキャニング信号(SCS)を
ゲートライン(GL)から供給されるとTFT(CM
N)が起動(Turn-On)され、TFT(CMN)が起動
される期間中液晶セル(Clc)はデータ電圧信号(D
VS)を充電する。このように液晶セル(Clc)に充
電された電圧はTFT(CMN)が起動(Turn-On)さ
れる時には下がるのでデータ電圧信号(DVS)の電圧
より低くなる。液晶セルに充電された電圧とデータ電圧
信号(DVS)との電位差に該当するフィードスルー電
圧(Feed through Voltage、ΔVp)が発生する。こ
のフィードスルー電圧(ΔVp)はTFT(CMN)の
ゲート端子と液晶セル(Clc)の間に存在する寄生容
量によって発生することで液晶セル(Clc)の光透過
量を周期的に変化させる。この結果、液晶パネル上に表
示される画素でフリッカ及び残像が発生する。
2. Description of the Related Art A conventional active matrix liquid crystal display device displays an image by adjusting the light transmittance of a liquid crystal using an electric field. Such a liquid crystal display device has a signal line (SL) on a liquid crystal panel 10 as shown in FIG.
1 to SLm), and a data driver (12)
Gate lines (GL1 to GL) on the liquid crystal panel (10)
n) for driving n). Pixels 11 connected to the signal lines SL and the gate lines GL are arranged in the liquid crystal panel 10 in an active matrix form. Each of the pixels (11) has a data voltage signal (D) from the signal line (SL).
VS), the liquid crystal cell (Cl
c) and a thin film transistor (hereinafter referred to as “TFT”) for switching a data voltage signal (DVS) supplied to the liquid crystal cell (Clc) from the signal line (SL) in response to a scanning signal (SCS) from the gate line (GL). )
(CMN). The data driver 12 supplies the data voltage signal (DVS) to all the signal lines (SL1 to SLm) by sequentially driving the gate lines (GL1 to GLn). On the other hand, the gate driver (14) sequentially supplies the scanning signal (SCS) to the gate lines (GL1 to GLn), so that the gate lines (GL1 to GLn) are sequentially driven for each horizontal synchronization period. For this purpose, the gate start pulse (GSP) from the control line (CL) and the gate scanning clock (GS) from the gate scanning clock (GSL) from the gate clock line (GCL) are used.
L), and a level shift (18) connected between the shift register (16) and the gate lines (GL1 to GLn). The shift register (16) outputs the gate start pulse (GSP) from the control line (CL) to any one of the n output terminals (QT1 to QTn), and outputs a gate scanning clock. The gate start pulse (GSP) is sequentially moved from the first output terminal (QT1) to the n-th output terminal (QTn) in response to (GSC). The level shift (18) shifts the voltage level of the output signal of the shift register (16) to generate n scanning signals (SCS). For this purpose, the level shift (18) uses the shift register (1).
6) connected between the n output terminals (QT1 to QTn) and the n gate lines (GL), respectively, and in the form of DC from the first and second voltage lines (FVL, SVL). It is composed of n inverters (19) receiving supply of low potential and high potential voltages (Vgl, Vgh).
The inverter (19) selectively supplies one of the low potential and the high potential voltage (Vgl, Vgh) to the gate line (GL) according to the logic state from the output terminal (QT) of the shift register (16). I do. Thus, only one of the n scanning signals (SCS) has the high potential gate voltage (Vgh). When the scanning signal (SCS) having the high potential gate voltage (Vgh) is supplied from the gate line (GL), the TFT (CM)
N) is turned on (Turn-On), and the liquid crystal cell (Clc) applies the data voltage signal (D) during the period when the TFT (CMN) is started.
VS). Thus, the voltage charged in the liquid crystal cell (Clc) decreases when the TFT (CMN) is turned on (Turn-On), so that it becomes lower than the voltage of the data voltage signal (DVS). A feedthrough voltage (ΔVp) corresponding to a potential difference between the voltage charged in the liquid crystal cell and the data voltage signal (DVS) is generated. The feedthrough voltage (ΔVp) is generated by a parasitic capacitance existing between the gate terminal of the TFT (CMN) and the liquid crystal cell (Clc), and periodically changes the light transmission amount of the liquid crystal cell (Clc). As a result, flicker and an afterimage occur in pixels displayed on the liquid crystal panel.

【0003】このようなフィードスルー電圧(ΔVp)
を抑制するための方法として、補助容量(Cst)が図
1でのように液晶セル(Clc)に並列に接続する。こ
の補助容量(Cst)はTFT(CMN)がターンオフ
されるときに減少する液晶セル電圧を補充することでフ
ィードスルー電圧(ΔVp)が数1のように抑圧され
る。
[0003] Such a feed-through voltage (ΔVp)
As a method for suppressing this, the storage capacitor (Cst) is connected in parallel to the liquid crystal cell (Clc) as shown in FIG. The auxiliary capacitance (Cst) suppresses the feedthrough voltage (ΔVp) as shown in Equation 1 by supplementing the liquid crystal cell voltage that decreases when the TFT (CMN) is turned off.

【数1】 式1において、VonはTFT(CMN)の起動時のゲ
ートライン(GL)上の電圧であり、VoffはTFT
(CMN)のターンオフ時のゲートライン(GL)上の
電圧であり、CgsはTFT(CMN)のゲート端子と
液晶セルの間に存在する寄生容量の容量である。式1の
ように、フィードスルー電圧(ΔVp)はTFT(CM
N)の起動及びターンオフの時のゲートライン(GL)
上の電圧差にしたがって大きくなる。このようなフィー
ドスルー電圧(ΔVp)を充分に抑圧するためには補助
容量(Cst)の容量が大きくならなければならない。
これは表示領域の開口率(Aperture Ratio)が小さく
なるので充分な表示コントラストが得られなくなる。こ
れによって、補助容量(Cst)によってはフィードス
ルー電圧(ΔVp)を充分に抑圧することができない。
(Equation 1) In Equation 1, Von is the voltage on the gate line (GL) when the TFT (CMN) is activated, and Voff is the TFT (CMN).
(CMN) is the voltage on the gate line (GL) at the time of turning off, and Cgs is the capacitance of the parasitic capacitance existing between the gate terminal of the TFT (CMN) and the liquid crystal cell. As shown in Equation 1, the feedthrough voltage (ΔVp) is equal to the TFT (CM
N) Gate line at start-up and turn-off (GL)
It increases with the above voltage difference. In order to sufficiently suppress such a feedthrough voltage (ΔVp), the capacity of the auxiliary capacitor (Cst) must be increased.
Since the aperture ratio (Aperture Ratio) of the display area becomes small, sufficient display contrast cannot be obtained. As a result, the feedthrough voltage (ΔVp) cannot be sufficiently suppressed depending on the auxiliary capacitance (Cst).

【0004】フィードスルー電圧(ΔVp)を抑制する
ための方法として、スキャニング信号(SCS)の立下
がり部を緩やかにするスキャニング信号制御方式の液晶
表示装置が提案されている。スキャニング信号制御方式
の液晶表示装置では、スキャニング信号(SCS)の立
下がり部が図2aのように線形関数、図2bでのような
指数関数、または図2cでのような階段関数形態で変化
する。このようなスキャニング信号制御方式の液晶表示
装置は特開平6-110035号及び特開平9−258
174号とアメリカ特許第5,587,722号に開示
されている。しかし、これらのスキャニング信号制御方
式の液晶表示装置ではゲートドライバの回路変形または
ゲートドライバと液晶パネル上の各ゲートラインとの間
に位置される新しい波形変形回路が必要である。また、
アメリカ特許第5,587,722号に開示されたゲー
トドライバはスキャニング信号の立下がり部をステップ
ワイズ(Stepwise)するようにする機能を有する回路が
一つのゲートドライバチップ内に形成されるので回路が
複雑になり更に電力消費が大きい。
As a method for suppressing the feedthrough voltage (ΔVp), there has been proposed a scanning signal control type liquid crystal display device in which the falling portion of the scanning signal (SCS) is made gentle. In the scanning signal control type liquid crystal display device, the falling portion of the scanning signal (SCS) changes in the form of a linear function as shown in FIG. 2A, an exponential function as shown in FIG. 2B, or a step function as shown in FIG. 2C. . Such a scanning signal control type liquid crystal display device is disclosed in JP-A-6-110035 and JP-A-9-258.
174 and U.S. Pat. No. 5,587,722. However, these scanning signal control type liquid crystal display devices require a gate driver circuit modification or a new waveform modification circuit located between the gate driver and each gate line on the liquid crystal panel. Also,
In the gate driver disclosed in U.S. Pat. No. 5,587,722, a circuit having a function of making a falling portion of a scanning signal stepwise is formed in one gate driver chip, so that the circuit is formed. It becomes complicated and consumes much power.

【0005】実際に、特開平6-110035号に開示
されたスキャニング信号制御方式の液晶表示装置は図3
に示したようにスキャニングドライバセル(20)とゲ
ートライン(GL)の間に接続された積分器(22)を
有する。積分器(22)はスキャニングドライバセル
(20)とゲートライン(GL)の間に接続された抵抗
(R1)と、ゲートライン(GL)及び基底電圧ライン
(GVL)の間に接続された容量(C1)で構成され
る。このように構成された積分器(22)はゲートドラ
イバセル(20)からゲートライン(GL)側に供給さ
れるスキャニング信号を積分することでスキャニング信
号(SCS)の立下がり部が指数関数的に変化する。画
素(11)に含まれたTFT(CMN)はゲートライン
(GL)からのスキャニング信号(SCS)の電圧が自
分の臨界電圧以下に下がるときまで起動される。この
時、液晶セル(Clc)に充電された電荷が寄生容量
(Cgs)を経由してゲートライン(GL)側にポンピ
ングされるので電荷量は極めて少なくなる。この結果、
フィードスルー電圧(ΔVp)が充分に抑圧される。
In fact, a scanning signal control type liquid crystal display device disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 6-110035 is shown in FIG.
Has an integrator (22) connected between the scanning driver cell (20) and the gate line (GL). The integrator (22) includes a resistor (R1) connected between the scanning driver cell (20) and the gate line (GL), and a capacitor (R1) connected between the gate line (GL) and the ground voltage line (GVL). C1). The integrator (22) configured as described above integrates the scanning signal supplied from the gate driver cell (20) to the gate line (GL) side so that the falling portion of the scanning signal (SCS) exponentially functions. Change. The TFT (CMN) included in the pixel (11) is activated until the voltage of the scanning signal (SCS) from the gate line (GL) drops below its own critical voltage. At this time, the charge charged in the liquid crystal cell (Clc) is pumped to the gate line (GL) side via the parasitic capacitance (Cgs), so that the charge amount is extremely small. As a result,
The feedthrough voltage (ΔVp) is sufficiently suppressed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】以上のようなスキャニ
ング信号制御方式の液晶表示装置では、フィードスルー
電圧(ΔVp)が充分に抑圧されることでフリッカ及び
残像が著しく減るが、各ゲートライン毎に積分器のよう
な波形変形回路が付加されなければならないので回路構
成が大変複雑になる。これと併せて、波形変形回路によ
ってスキャニング信号の立上がり部までの緩やかに変化
するので液晶セルの充電開始の時点が遅延される。
In the above-described scanning signal control type liquid crystal display device, the flicker and the afterimage are significantly reduced by sufficiently suppressing the feedthrough voltage (ΔVp). Since a waveform transformation circuit such as an integrator must be added, the circuit configuration becomes very complicated. At the same time, the waveform changing circuit gradually changes the scanning signal up to the rising portion, so that the charging start time of the liquid crystal cell is delayed.

【0007】一方、アメリカ特許第5,587,722
号は図4に図示されたように電源供給電圧(VVDD及
びVVDD・R1/(R1+R2))を選択的に入力す
るシフトレジスタ(3)を開示する。シフトレジスタ
(3)は電源供給電圧(VVDD及びVVDD・R1/
(R1+R2))に応答して階段形パルスを発生する。
しかし、シフトレジスタ(3)は電源供給電圧が液晶パ
ネル上のゲートラインに供給される高レベルゲート電圧
と同じなので高電圧で駆動されなければならない。即
ち、シフトレジスタに含まれるインパータ(5、6、
9)がTFTを起動させるための最大電圧が2.5Vで
ある場合に大略25Vの駆動電圧で動作する。これによ
って、アメリカ特許第5,587,722号に開示され
たアクティブマトリックス液晶表示装置は大電力を消耗
する。
On the other hand, US Pat. No. 5,587,722
No. 3 discloses a shift register (3) for selectively inputting power supply voltages (VVDD and VVDD.R1 / (R1 + R2)) as shown in FIG. The shift register (3) is provided with a power supply voltage (VVDD and VVDD ・ R1 /
A staircase pulse is generated in response to (R1 + R2)).
However, the shift register (3) must be driven at a high voltage because the power supply voltage is the same as the high-level gate voltage supplied to the gate lines on the liquid crystal panel. That is, the inverters (5, 6,
9) operates with a drive voltage of about 25 V when the maximum voltage for starting the TFT is 2.5 V. Accordingly, the active matrix liquid crystal display device disclosed in US Pat. No. 5,587,722 consumes a large amount of power.

【0008】従って、本発明の目的はフリッカ及び残像
を除去することと併せて回路構成を簡素化するのに適合
したアクティブマトリックス液晶表示装置及びその駆動
方法を提供することにある。
Accordingly, an object of the present invention is to provide an active matrix liquid crystal display device which is adapted to eliminate flicker and afterimages and to simplify the circuit configuration, and a driving method thereof.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明によるアクティブマトリックス液晶表示装置
はゲート電極及び第1電極と画素電極に接続された第2
電極を有するスイッチトランジスタをそれぞれ含むこと
とともにマトリックス形態で配列された多数の画素と;
多数のトランジスタの中の一つに対応する第1電極にそ
れぞれ接続される多数のデータ信号ラインと;多数のト
ランジスタの中の一つに対応するゲート電極に接続され
た多数のゲート信号ラインと;多数のゲート信号ライン
と接続されて、第1及び第2電圧を入力して、そしてゲ
ート信号ラインが順次駆動されるように第1及び第2電
圧の中のいずれかの一つを出力するゲートドライバとを
具備する。第1電圧が連続されたゲート信号ラインが活
性化される前に変化する。
In order to achieve the above object, an active matrix liquid crystal display device according to the present invention comprises a gate electrode, a second electrode connected to a first electrode and a pixel electrode.
A plurality of pixels arranged in a matrix with each including a switch transistor having an electrode;
A plurality of data signal lines respectively connected to a first electrode corresponding to one of the plurality of transistors; a plurality of gate signal lines connected to a gate electrode corresponding to one of the plurality of transistors; A gate connected to the plurality of gate signal lines, receiving first and second voltages, and outputting one of the first and second voltages so that the gate signal lines are sequentially driven; And a driver. The first voltage changes before the continuous gate signal line is activated.

【0010】本発明によるアクティブマトリックス液晶
表示装置の駆動方法は第1電圧と周期的に変化する第2
電圧を入力する段階と;スイッチ素子を経由してゲート
ラインに第2電圧を供給する段階と;スイッチを経由し
てゲートラインに前記第1電圧を供給する段階を含む。
スイッチ素子はシフトレジスタによって制御されて併せ
て第2電圧の最小値が前記第1電圧の最大値より高く設
定される。
A method of driving an active matrix liquid crystal display according to the present invention includes a second method which periodically changes with a first voltage.
Inputting a voltage; supplying a second voltage to the gate line via a switch element; and supplying the first voltage to the gate line via a switch.
The switch element is controlled by the shift register, and the minimum value of the second voltage is set higher than the maximum value of the first voltage.

【0011】[0011]

【作用】前記の構成によって、本発明によるアクティブ
マトリックス液晶表示装置ではゲートドライバのレベル
シフトに高電位ゲート電圧が交流形態で供給されること
でスキャニング信号の立下がり部が線形、指数または階
段関数の中のいずれか一つの形態で変化する。これによ
って、本発明によるアクティブマトリックス液晶表示装
置ではフィードスルー電圧(ΔVp)が充分に抑圧され
るようになり、更にフリッカ及び残像が発生しなくな
る。併せて、本発明によるアクティブマトリックス液晶
表示装置では高電位ゲート電圧の立下がり部が立上がり
部より緩やかに変化することでゲートラインに供給され
るスキャニング信号の立下がり部が立上がり部より緩や
かに変化する。これによって、本発明によるアクティブ
マトリックス液晶表示装置ではフリッカ及び残像が発生
されなくなることは勿論であり応答速度が早くなる。
With the above arrangement, in the active matrix liquid crystal display device according to the present invention, the falling portion of the scanning signal has a linear, exponential or step function when the high potential gate voltage is supplied in an alternating current mode to the level shift of the gate driver. It changes in any one of the forms. As a result, in the active matrix liquid crystal display device according to the present invention, the feedthrough voltage (ΔVp) is sufficiently suppressed, and flicker and afterimages do not occur. In addition, in the active matrix liquid crystal display device according to the present invention, the falling portion of the high potential gate voltage changes more gently than the rising portion, so that the falling portion of the scanning signal supplied to the gate line changes more gently than the rising portion. . Accordingly, in the active matrix liquid crystal display device according to the present invention, the flicker and the afterimage are not generated, and the response speed is increased.

【0012】[0012]

【好ましい実施例の詳細な説明】以下、本発明の実施例
を添付した図5乃至図26を参照して詳細に説明する。
図5を参照すると、液晶パネル(30)上の信号ライン
(SL1乃至SLm)を駆動するデータドライバ(3
2)と、液晶パネル(30)上のゲートライン(GL1
乃至GLn)を駆動するためのゲートドライバ(34)
とを具備する本発明の第1実施例によるアクティブマト
リックス液晶表示装置が図示されている。液晶パネル
(30)では信号ライン(SL)及びゲートライン(G
L)に接続される画素(31)がアクティブマトリック
ス形態で配列される。画素(31)それぞれは信号ライ
ン(SL)からのデータ電圧信号(DVS)に応答して
透過光量を調節する液晶セル(Clc)と、ゲートライ
ン(GL)からのスキャニング信号(SCS)に応答し
て信号ライン(SL)から液晶セル(CLc)に供給さ
れるデータ電圧信号(DVS)を切り換えるTFT(C
MN)で構成される。また、画素(31)それぞれでは
補助容量(Cst)が液晶セル(Clc)に並列に接続
される。この補助容量(Cst)は液晶セル(Clc)
に充電された電圧を緩衝する。データドライバ(32)
はゲートライン(GL1乃至GLn)すべてにデータ電
圧信号(DVS)を供給する。ゲートドライバ(34)
がスキャニング信号(SCS)をゲートライン(GL1
乃至GLn)に順次供給することでゲートライン(GL
1乃至GLn)が水平同期期間ずつ順次使用可能にされ
る。このために、ゲートドライバ(34)は制御ライン
(CL)からのゲートスタートパルス(GSP)及びゲ
ートクロックライン(GCL)からのゲートスキャニン
グクロック(GSC)に応答するシフトレジスタ(3
6)と、シフトレジスタ(36)とゲートライン(GL
1乃至GLn)の間に接続されたレベルシフト(38)
で構成される。シフトレジスタ(36)は制御ライン
(CL)からのゲートスタートパルス(GSP)をn個
の出力端子(QT1乃至QTn)の中いずれか一つの出
力端子側に出力されるようにすることと併せてゲートス
キャニングクロック(GSC)に応答してゲートスター
トパルス(GSP)を第1出力端子(QT1)から第n
出力端子(QTn)側に順次移動させる。また、シフト
レジスタ(36)はロジック電圧レベルに該当する5V
を有する集積回路駆動電圧で動作する。レベルシフトレ
ジスタ(36)のn個の出力端子(QT1乃至QTn)
とn個のゲートライン(GL)間にそれぞれ接続される
ことと併せて第1及び第2電圧ライン(FVL、SV
L)からの低電位及び高電位ゲート電圧(Vgl、Vg
h)を切り換えるためのn個の制御用スイッチ(39)
とを具備する。制御用スイッチ(39)はシフトレジス
タ(36)の出力端子(QT)からの論理状態によって
低電位及び高電位ゲート電圧(Vgl、Vgh)の中の
いずれか一つを選択的にゲートライン(GL)に供給す
る。これによって、n個のスキャニング信号(SCS)
の中いずれか一つだけが高電位ゲート電圧(Vgh)を
有する。この高電位ゲート電圧(Vgh)が印可される
ゲートライン(GL)上のTFT(CMN)が起動(Tu
rn-On)されるようになり、TFT(CMN)が起動さ
れる期間の間液晶セル(Clc)はデータ電圧信号(D
VS)を充電する。制御用スイッチ(39)それぞれは
低電位及び高電位ゲート電圧(Vgl、Vgh)を動作
電圧とするバーパと対置されることもある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.
Referring to FIG. 5, a data driver (3) for driving signal lines (SL1 to SLm) on the liquid crystal panel (30).
2) and a gate line (GL1) on the liquid crystal panel (30).
To GLn) (34)
An active matrix liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention, comprising: In the liquid crystal panel (30), the signal line (SL) and the gate line (G
The pixels (31) connected to L) are arranged in an active matrix form. Each of the pixels (31) responds to a liquid crystal cell (Clc) for adjusting the amount of transmitted light in response to a data voltage signal (DVS) from a signal line (SL) and a scanning signal (SCS) from a gate line (GL). TFT (C) for switching the data voltage signal (DVS) supplied from the signal line (SL) to the liquid crystal cell (CLc)
MN). In each of the pixels (31), an auxiliary capacitance (Cst) is connected in parallel to the liquid crystal cell (Clc). This auxiliary capacitance (Cst) is a liquid crystal cell (Clc).
Buffer the charged voltage. Data driver (32)
Supplies a data voltage signal (DVS) to all of the gate lines (GL1 to GLn). Gate driver (34)
Supplies the scanning signal (SCS) to the gate line (GL1).
To GLn) to the gate line (GL)
1 to GLn) are sequentially enabled for each horizontal synchronization period. For this purpose, the gate driver (34) responds to the gate start pulse (GSP) from the control line (CL) and the gate scanning clock (GSC) from the gate clock line (GCL).
6), shift register (36) and gate line (GL)
Level shift (38) connected between 1 to GLn)
It consists of. The shift register (36) outputs the gate start pulse (GSP) from the control line (CL) to any one of the n output terminals (QT1 to QTn). A gate start pulse (GSP) is supplied from the first output terminal (QT1) to the n-th gate in response to the gate scanning clock (GSC).
It is sequentially moved to the output terminal (QTn) side. Also, the shift register (36) has a voltage of 5V corresponding to the logic voltage level.
It operates with an integrated circuit drive voltage having N output terminals (QT1 to QTn) of the level shift register (36)
And n gate lines (GL), and the first and second voltage lines (FVL, SVV).
L) and low and high potential gate voltages (Vgl, Vg
h control switches (39) for switching h)
And The control switch 39 selectively selects one of the low-potential and high-potential gate voltages (Vgl, Vgh) according to the logic state from the output terminal (QT) of the shift register 36. ). Thereby, n scanning signals (SCS)
Has a high potential gate voltage (Vgh). The TFT (CMN) on the gate line (GL) to which the high potential gate voltage (Vgh) is applied starts (Tu
rn-On), and the liquid crystal cell (Clc) applies the data voltage signal (D) during the period when the TFT (CMN) is activated.
VS). Each of the control switches (39) may be opposed to a burper that uses low-potential and high-potential gate voltages (Vgl, Vgh) as operating voltages.

【0013】また、本発明の第1実施例による液晶表示
装置は第1電圧ライン(FVL)に接続された低電位ゲ
ート電圧発生器(40)と、高電位ゲート電圧発生器
(42)とを追加で具備する。低電位ゲート電圧発生器
(40)は電圧レベルが一定に維持される低電位ゲート
電圧(Vgl)を発生して第1電圧ライン(FVL)に
接続されたn個の制御用スイッチ(39)に供給する。
低電位ゲート電圧発生器(40)で発生される低電位ゲ
ート電圧(Vgl)は一定の周期のパルス信号のような
交流信号の形態を有することもある。高電位ゲート電圧
発生器(42)は交流信号のように水平同期信号の周期
毎に一定の形態で変化する高電位ゲート電圧(Vgh)
を発生する。この高電位ゲート電圧(Vgh)は漸進的
に緩やかに変化する立下がり部を有する。高電位ゲート
電圧(Vgh)の立下がり部は線形関数の形態で変化す
るか、指数関数の形態で変化するか、または階段関数の
形態で変化する。このような高電位ゲート電圧(Vg
h)を発生するために、高電位ゲート電圧発生器(4
2)は高電位電圧(VDD)を発生する高電位電圧発生
器(44)と、高電位電圧発生器(44)及び第2電圧
ライン(SVL)の間に接続された電圧調節器(46)
と、電圧調節器(46)のレベル調整タイミングを制御
するためのタイミング制御器(48)で構成される。高
電位電圧発生器(44)は一定の電圧レベルを安定され
るように維持する直流形態の高電位電圧(VDD)を電
圧調節器(46)に供給する。電圧調節器(46)は高
電位電圧(VDD)を第2電圧ライン(SVL)に接続
されたn個の制御用スイッチ(39)側に周期的に伝送
することと併せて高電位電圧(VDD)が遮断される時
に第2電圧ライン(SVL)に供給される電圧が上に言
及された関数形態のいずれか一つの形態で低くなる。第
2電圧ライン(SVL)上の電圧信号の立下がり部を緩
やかに変化させるために、電圧調節器(46)は液晶パ
ネル(30)のゲートライン(GL)に存在する寄生抵
抗(Rp)及び寄生容量(Cp)を利用することもでき
る。タイミング制御器(48)は同期制御ライン(SC
L)からの水平同期信号(HS)とデータクロックライ
ン(DCL)からのデータクロック(DCLK)に応答
して電圧調節器(46)の電圧切り換え時点と電圧調節
時点を決定する。このために、タイミング制御器(4
8)は水平同期信号(HS)によって初期化されること
と併せてデータクロック(DCLK)をカウンターする
カウンター(図示しない)と、このカウンターの出力信
号を論理組み合わせすることで電圧調節器(46)を制
御する論理組み合わせ部(図示しない)で構成されるこ
とがある。
The liquid crystal display according to the first embodiment of the present invention includes a low-potential gate voltage generator (40) connected to the first voltage line (FVL) and a high-potential gate voltage generator (42). Provide additionally. The low-potential gate voltage generator (40) generates a low-potential gate voltage (Vgl) whose voltage level is kept constant, and supplies the low-potential gate voltage (Vgl) to n control switches (39) connected to the first voltage line (FVL). Supply.
The low potential gate voltage (Vgl) generated by the low potential gate voltage generator (40) may have the form of an AC signal such as a pulse signal having a constant period. The high-potential gate voltage generator (42) is a high-potential gate voltage (Vgh) that changes in a constant form every cycle of the horizontal synchronizing signal like an AC signal.
Occurs. This high-potential gate voltage (Vgh) has a falling portion that gradually changes gradually. The falling portion of the high potential gate voltage (Vgh) changes in the form of a linear function, changes in the form of an exponential function, or changes in the form of a step function. Such a high potential gate voltage (Vg
h) to generate a high-potential gate voltage generator (4
2) a high-potential voltage generator (44) for generating a high-potential voltage (VDD); and a voltage regulator (46) connected between the high-potential voltage generator (44) and the second voltage line (SVL).
And a timing controller (48) for controlling the level adjustment timing of the voltage regulator (46). The high-potential voltage generator (44) supplies a high-potential voltage (VDD) in a DC form to the voltage regulator (46) to maintain a constant voltage level in a stable manner. The voltage regulator (46) periodically transmits the high potential voltage (VDD) to the n control switches (39) connected to the second voltage line (SVL), and simultaneously outputs the high potential voltage (VDD). ) Is cut off, the voltage supplied to the second voltage line (SVL) is reduced in any one of the above-mentioned functional forms. In order to gradually change the falling portion of the voltage signal on the second voltage line (SVL), the voltage regulator (46) includes a parasitic resistance (Rp) and a parasitic resistance (Rp) existing on the gate line (GL) of the liquid crystal panel (30). Parasitic capacitance (Cp) can also be used. The timing controller (48) has a synchronous control line (SC).
L) in response to the horizontal synchronizing signal (HS) from the data clock line (DCL) and the data clock (DCLK) from the data clock line (DCL). For this purpose, the timing controller (4)
8) A counter (not shown) for countering the data clock (DCLK) in addition to being initialized by the horizontal synchronizing signal (HS) and a voltage regulator (46) by logically combining the output signal of this counter. May be configured by a logical combination unit (not shown) for controlling

【0014】このように、第2電圧ライン(SVL)上
の高電位ゲート電圧(Vgh)が交流形態で変化するこ
とと併せて緩やかに減少される立下がり部を有するなる
ことで液晶パネル(30)のゲートライン(GL)に供
給されるスキャニング信号(SCS)の立下がり部が緩
やかに変化する。画素(31)に含まれたTFT(CM
N)はゲートライン(GL)からのスキャニング信号
(SCS)の電圧が自分の臨界電圧以下に下がるまで起
動される。この時、液晶セル(Clc)に充電された電
荷がゲートライン(GL)側に流れる供給されたり信号
ライン(SL)からTFT(CMN)を経由するデータ
電圧信号(DVS)によって充分な電荷が液晶セル(C
lc)に充電される。これによって、液晶セル(Cl
c)に充電された電圧は下がらなくなる。ゲートライン
(GL)上のスキャニング信号(SCS)の電圧がTF
T(CMN)の臨界電圧以下まで下がる場合にゲートラ
イン(GL)からゲートライン(GL)での電圧変動量
が最大TFT(CMN)の臨界電圧であるので液晶セル
(Clc)からゲートライン(GL)側に流れる電荷量
は極めて少なくなる。この結果、フィードスルー電圧
(ΔVp)が充分に抑圧される。
As described above, since the high potential gate voltage (Vgh) on the second voltage line (SVL) has a falling portion that is gradually reduced in conjunction with the change in the AC form, the liquid crystal panel (30) ), The falling portion of the scanning signal (SCS) supplied to the gate line (GL) gradually changes. TFT (CM) included in the pixel (31)
N) is activated until the voltage of the scanning signal (SCS) from the gate line (GL) falls below its own critical voltage. At this time, a sufficient charge is supplied to the liquid crystal cell (Clc) by the data voltage signal (DVS) supplied from the signal line (SL) and supplied from the signal line (SL) through the TFT (CMN) or supplied to the gate line (GL). Cell (C
lc). Thereby, the liquid crystal cell (Cl
The voltage charged in c) does not decrease. The voltage of the scanning signal (SCS) on the gate line (GL) is TF
When the voltage drops below the threshold voltage of T (CMN), the amount of voltage fluctuation from the gate line (GL) to the gate line (GL) is the critical voltage of the maximum TFT (CMN). The amount of charge flowing to the ()) side is extremely small. As a result, the feedthrough voltage (ΔVp) is sufficiently suppressed.

【0015】図6は本発明の第2実施例によるアクティ
ブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する。図6
のアクティブマトリックス液晶表示装置では電圧調節器
(46)が液晶パネル(30)のゲートライン(GL)
の寄生抵抗(Rp)及び寄生容量(Cp)を利用して高
電位ゲート電圧(Vgh)の立下がり部とスキャニング
信号(SCS)の立下がり部を指数電位ゲート電圧(V
gh)の立下がり部とスキャニング信号(SCS)の立
下がり部を指数関数形態で変化させる。図6の液晶表示
装置では、液晶パネル(30)上のゲートライン(G
L)を駆動するためのゲートドライバ(34)が含まれ
る。液晶パネル(30)は信号ライン(SL)及びゲー
トライン(GL)との接続に位置する画素(31)を含
む。画素(31)は信号ライン(SL)からのデータ電
圧信号(DVS)に応答して透過光量を調節する液晶セ
ル(Clc)と、ゲートライン(GL)からのスキャニ
ング信号(SCS)に応答して信号ライン(SL)から
液晶セル(Clc)に供給されるデータ電圧信号(DV
S)を切り換えするTFT(CMN)で構成される。ま
た、画素(31)では補助容量(Cst)が液晶セル
(Clc)に並列に接続される。ゲートドライバ(3
4)は制御ライン(CL)からのゲートスタートパルス
(GSP)及びゲートクロックライン(GCL)からの
ゲートスキャニングクロック(GSC)に応答するシフ
トレジスタセル(36A)と、シフトレジスタセル(3
6A)とゲートライン(GL)の間に接続された制御用
のスイッチ(39)で構成される。シフトレジスタセル
(36A)は図7に図示されたようにゲートスキャニン
グクロック(GSC)の上昇エッジでゲートスタートパ
ルス(GSP)を出力端子(QT)側に出力する。制御
用のスイッチ(39)はシフトレジスタセル(36A)
の出力信号の論理状態によって低電位及び高電位ゲート
電圧(Vgl、Vgh)の中のいずれか一つを選択的に
ゲートライン(GL)に供給する。これによって、ゲー
トライン(GL)では低電位ゲート電圧または高電位ゲ
ート電圧(Vgh)を有するスキャニング信号(SC
S)が現れる。これを詳細に説明すると、制御用のスイ
ッチ(39)はシフトレジスタセル(36A)の出力信
号がハイ論理を有する場合に高電位ゲート電圧(Vg
h)がゲートライン(GL)に供給されるようにする一
方、シフトレジスタセル(36A)の出力信号がロー論
理を有する場合に低電位ゲート電圧(Vgl)がゲート
ライン(GL)に供給されるようにする。図7に図示さ
れた″SCSn″は次のゲートラインに供給されるスキ
ャニング信号の波形を現す。
FIG. 6 schematically illustrates an active matrix liquid crystal display according to a second embodiment of the present invention. FIG.
In the active matrix liquid crystal display device, the voltage regulator (46) is connected to the gate line (GL) of the liquid crystal panel (30).
Of the high-potential gate voltage (Vgh) and the falling portion of the scanning signal (SCS) by using the parasitic resistance (Rp) and the parasitic capacitance (Cp).
gh) and the falling portion of the scanning signal (SCS) are changed in an exponential form. In the liquid crystal display device of FIG. 6, a gate line (G
L) is included. The liquid crystal panel (30) includes a pixel (31) located at a connection with the signal line (SL) and the gate line (GL). The pixel (31) responds to the data voltage signal (DVS) from the signal line (SL) to adjust the amount of transmitted light in response to the data voltage signal (DVS), and responds to the scanning signal (SCS) from the gate line (GL). The data voltage signal (DV) supplied to the liquid crystal cell (Clc) from the signal line (SL)
S) is configured by a TFT (CMN) for switching. In the pixel (31), the storage capacitor (Cst) is connected in parallel to the liquid crystal cell (Clc). Gate driver (3
4) a shift register cell (36A) responding to a gate start pulse (GSP) from the control line (CL) and a gate scanning clock (GSC) from the gate clock line (GCL);
6A) and a control switch (39) connected between the gate line (GL). The shift register cell 36A outputs a gate start pulse (GSP) to the output terminal (QT) at the rising edge of the gate scanning clock (GSC) as shown in FIG. The control switch (39) is a shift register cell (36A)
One of the low-potential and high-potential gate voltages (Vgl, Vgh) is selectively supplied to the gate line (GL) according to the logic state of the output signal. Accordingly, the scanning signal (SC) having a low potential gate voltage or a high potential gate voltage (Vgh) is applied to the gate line (GL).
S) appears. More specifically, when the output signal of the shift register cell (36A) has a high logic, the control switch (39) operates at a high potential gate voltage (Vg).
h) is supplied to the gate line (GL), while the low potential gate voltage (Vgl) is supplied to the gate line (GL) when the output signal of the shift register cell (36A) has a low logic. To do. “SCSn” shown in FIG. 7 represents the waveform of the scanning signal supplied to the next gate line.

【0016】また、本発明の第2実施例によるアクティ
ブマトリックス液晶表示装置は第1電圧ライン(FV
L)に接続された低電位ゲート電圧発生器(40)と、
高電位ゲート電圧発生器(42)とを追加で具備する。
低電位ゲート電圧発生器(40)は電圧レベルが一定に
維持されたり周期的に交番される低電位ゲート電圧(V
gl)を第1電圧ライン(FVL)に接続されたn個の
制御用のスイッチ(39)に供給する。高電位ゲート電
圧発生器(42)は図7に図示されたところのように変
化する高電位ゲート電圧(Vgh)を発生する。この高
電位ゲート電圧(Vgh)の立下がり部は指数関数の形
態で緩やかに下がる。このように高電位ゲート電圧(V
gh)を発生するために、高電位ゲート電圧発生器(4
2)が高電位電圧(VDD)を発生する高電位電圧発生
器(44)と、高電位電圧発生器(44)及び第2電圧
ライン(SVL)の間に接続された電圧調節器(46)
で構成される。高電位電圧発生器(44)は一定の電圧
レベルを安定に維持する直流形態の高電位電圧(VD
D)を電圧調節器(46)に供給する。電圧調節器(4
6)は第2電圧ライン(SVL)を高電位電圧発生器
(44)と基底電圧ライン(GVL)に交番的に接続す
ることで第2電圧ライン(SVL)上に図7に示したよ
うな高電位ゲート電圧(Vgh)を発生させる。このた
めに、電圧調節器(46)はゲートスキャニングクロッ
ク(GSC)に応答する2接点制御用スイッチ(50)
を具備する。2接点制御用スイッチ(50)はゲートス
キャニングクロック(GSC)のハイ論理区間では第1
電圧ライン(SVL)を高電位電圧発生器(44)に接
続させることで第2電圧ライン(SVL)及びゲートラ
イン(GL)上に高電位電圧(VDD)が現れるように
する。ゲートスキャニングクロック(GSC)がハイ論
理からロー論理で遷移する場合、2接点制御用スイッチ
(50)は第2電圧ライン(SVL)を基底電圧ライン
(GVL)に接続させることで第2電圧ライン(SV
L)及びゲートライン(GL)上の電圧を高電位電圧レ
ベル(VDD)から指数関数的に降下させる。この時、
第2電圧ライン(SVL)及びゲートライン(GL)上
の電圧が寄生抵抗(Rp)及び寄生容量(Cp)の時定
数によって基底電圧ライン(GVL)側に放電されるこ
とで高電位ゲート電圧(Vgh)とスキャニング信号
(SCS)の立下り部は図7に示したように指数関数の
形態で緩やかに変化する。これによって、画素(31)
に含まれたTFT(CMN)はゲートライン(GL)か
らのスキャニング信号(SCS)の電圧が臨界電圧の以
下に下がるまで起動オン状態が維持される。この時、液
晶セル(Clc)に充電された電荷がゲートライン(G
L)側に流れるが、信号ライン(SL)からTFT(C
MN)を経由するデータ電圧信号(DVS)によって充
分な電荷が液晶セル(Clc)に充電される。この結
果、液晶セル(Clc)に充電された電圧は下がらなく
なる。ゲートライン(GL)上のスキャニング信号(S
CS)の電圧がTFT(CMN)の臨界電圧以下に下が
る場合にゲートライン(GL)での電圧変動量が最大T
FT(CMN)の臨界電圧であるので液晶セル(Cl
c)からゲートライン(GL)側に流れる電荷量は極め
て少なくなる。この結果、フィードスルー電圧(ΔV
p)が充分に抑圧される。更に、画素(31)によって
表示される画点ではフリッカ及び残像が発生しなくな
る。
An active matrix liquid crystal display according to a second embodiment of the present invention includes a first voltage line (FV).
L) a low potential gate voltage generator (40) connected to
A high potential gate voltage generator (42) is additionally provided.
The low-potential gate voltage generator (40) includes a low-potential gate voltage (V) whose voltage level is maintained constant or periodically alternated.
gl) is supplied to n control switches (39) connected to the first voltage line (FVL). The high-potential gate voltage generator (42) generates a high-potential gate voltage (Vgh) that changes as shown in FIG. The falling portion of the high-potential gate voltage (Vgh) gradually decreases in the form of an exponential function. Thus, the high potential gate voltage (V
gh) to generate a high-potential gate voltage generator (4
2) a high-potential voltage generator (44) for generating a high-potential voltage (VDD), and a voltage regulator (46) connected between the high-potential voltage generator (44) and the second voltage line (SVL).
It consists of. The high-potential voltage generator (44) is a DC-type high-potential voltage (VD) for stably maintaining a constant voltage level.
D) to the voltage regulator (46). Voltage regulator (4
6) Alternately connecting the second voltage line (SVL) to the high potential voltage generator (44) and the base voltage line (GVL) so that the second voltage line (SVL) is as shown in FIG. A high potential gate voltage (Vgh) is generated. To this end, the voltage regulator (46) is a two-contact control switch (50) responsive to a gate scanning clock (GSC).
Is provided. The two-contact control switch (50) is the first switch in the high logic section of the gate scanning clock (GSC).
The high potential voltage (VDD) appears on the second voltage line (SVL) and the gate line (GL) by connecting the voltage line (SVL) to the high potential voltage generator (44). When the gate scanning clock (GSC) transitions from a high logic to a low logic, the two-contact control switch (50) connects the second voltage line (SVL) to the base voltage line (GVL), thereby connecting the second voltage line (GVL). SV
L) and the voltage on the gate line (GL) drops exponentially from the high potential voltage level (VDD). At this time,
The voltage on the second voltage line (SVL) and the gate line (GL) is discharged toward the base voltage line (GVL) by the time constant of the parasitic resistance (Rp) and the parasitic capacitance (Cp), so that the high potential gate voltage ( Vgh) and the falling portion of the scanning signal (SCS) gradually change in the form of an exponential function as shown in FIG. Thereby, the pixel (31)
Of the TFT (CMN) is kept on until the voltage of the scanning signal (SCS) from the gate line (GL) falls below the critical voltage. At this time, the charges charged in the liquid crystal cell (Clc) are transferred to the gate line (G
L) flows from the signal line (SL) to the TFT (C
MN), the liquid crystal cell (Clc) is charged with sufficient charge by the data voltage signal (DVS). As a result, the voltage charged in the liquid crystal cell (Clc) does not decrease. The scanning signal (S) on the gate line (GL)
CS) falls below the critical voltage of the TFT (CMN), the amount of voltage fluctuation at the gate line (GL) is T
Since it is the critical voltage of FT (CMN), the liquid crystal cell (Cl
The amount of charge flowing from c) to the gate line (GL) side is extremely small. As a result, the feedthrough voltage (ΔV
p) is sufficiently suppressed. Further, flicker and an afterimage do not occur at the image point displayed by the pixel (31).

【0017】図8は本発明の第3実施例によるアクティ
ブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する。図8
のアクティブマトリックス液晶表示装置は電圧調節器
(46)が2接点制御用のスイッチ(50)と基底電圧
ライン(GVL)の間に抵抗(R1)及び容量(C1)
の並列回路とをさらに具備することを除いては図6の液
晶表示装置と同一の回路構成を有する。抵抗(R1)及
び容量(C1)は第2電圧ライン(SVL)及びゲート
ライン(GL)上の電圧が基底電圧ライン(GVL)側
に放電される場合に時定数を増加させる。これによっ
て、第2電圧ライン(SVL)上の高電位ゲート電圧
(Vgh)の立下がり部は図9でのように立上がり部よ
りもっと緩やかになる。これと併せて、ゲートライン
(GL)上のスキャニング信号(SCS)の立下がり部
も図9に示すように立上がり部よりもっと緩やかに変化
する。抵抗(R1)と容量(C1)は必要に応じていず
れか一つだけを使用してもよい。抵抗(R1)と容量
(C1)は必要に応じていずれか一つだけを使用しても
よい。このように高電位ゲート電圧(Vgh)及びスキ
ャニング信号(SCS)の立下がり部を立上がり部より
さらに緩やかに調節することで液晶表示装置はフィード
スルー電圧(ΔVp)を充分に抑制することができるこ
とと併せて応答速度が速くなる。
FIG. 8 schematically illustrates an active matrix liquid crystal display according to a third embodiment of the present invention. FIG.
In the active matrix liquid crystal display device, a voltage regulator (46) includes a resistor (R1) and a capacitance (C1) between a switch (50) for controlling two contacts and a ground voltage line (GVL).
The liquid crystal display device of FIG. 6 has the same circuit configuration except that the liquid crystal display device of FIG. The resistance R1 and the capacitance C1 increase a time constant when the voltage on the second voltage line SVL and the gate line GL is discharged toward the base voltage line GVL. Accordingly, the falling portion of the high-potential gate voltage (Vgh) on the second voltage line (SVL) becomes more gentle than the rising portion as shown in FIG. At the same time, the falling part of the scanning signal (SCS) on the gate line (GL) also changes more gradually than the rising part as shown in FIG. Only one of the resistor (R1) and the capacitor (C1) may be used as necessary. Only one of the resistor (R1) and the capacitor (C1) may be used as necessary. By adjusting the falling portion of the high-potential gate voltage (Vgh) and the scanning signal (SCS) more gently than the rising portion, the liquid crystal display device can sufficiently suppress the feedthrough voltage (ΔVp). At the same time, the response speed increases.

【0018】図10は第4実施例によるアクティブマト
リックス液晶表示装置を概略的に図示する。図10のア
クティブマトリックス液晶表示装置は電圧調節器(4
6)が2接点制御用のスイッチ(50)代わりに高電位
電圧発生器(44)及び第2電圧ライン(SVL)の間
に接続された1接点制御用のスイッチ(52)と、第2
電圧ライン(SVL)及び基底電圧ライン(GVL)の
間に接続されたTFT(MN)とを具備することを除い
ては図6の液晶表示装置と同一な回路構成を有する。1
接点制御用のスイッチ(52)とTFT(MN)はゲー
トスキャニングクロック(GSC)の論理状態によって
相互補完的に起動される。これを詳細に説明すると、1
接点制御用のスイッチ(52)はゲートスキャニングク
ロック(GSC)がハイ論理を維持する期間起動され、
一方にTFT(MN)はTFT(MN)はゲートスキャ
ニングクロック(GSC)がハイ論理を維持する期間起
動される。TFT(MN)はゲートスキャニングクロッ
ク(GSC)によって第2電圧ライン(SVL)及びゲ
ートライン(GL)に放電通路を提供することで高電位
ゲート電圧(Vgh)及びスキャニング信号(GL)の
立下がり部が指数関数的に変化する。また、TFT(M
N)は起動時に現れる抵抗成分及び容量成分によって第
2電圧ライン(SVL)及びゲートライン(GL)上の
電圧が基底電圧ライン(GVL)側に放電される場合に
時定数を増加させる。これによって、基底電圧ライン
(GVL)上の高電位ゲート電圧(Vgh)立下がり部
は図9でのように立上がり部より緩やかになる。これと
併せて、ゲートライン(GL)上のスキャニング信号
(SCS)の立下がり部も図9でのように立上がり部よ
りもっと緩やかに変化する。このように高電位ゲート電
圧(Vgh)及びスキャニング信号(SCS)の立下が
り部が立上がり部よりもっと緩やかに調節されることで
液晶表示装置はフィードスルー電圧(ΔVp)を充分に
抑制することができることと併せて応答速度が速くな
る。TFT(MN)は抵抗成分の抵抗値及び容量成分の
容量が適切に設定されるように適切なチャンネル幅を有
する。更に、TFT(MN)と基底電圧ライン(GV
L)の間には時定数をもう少し増加させるための抵抗及
び/または容量を付加することもできる。
FIG. 10 schematically illustrates an active matrix liquid crystal display according to a fourth embodiment. The active matrix liquid crystal display device shown in FIG.
6) is a switch (52) connected between the high-potential voltage generator (44) and the second voltage line (SVL) instead of the switch (50) for controlling two contacts, and a switch (52) for controlling one contact.
Except for having a TFT (MN) connected between the voltage line (SVL) and the base voltage line (GVL), it has the same circuit configuration as the liquid crystal display of FIG. 1
The switch (52) for contact control and the TFT (MN) are activated complementarily by the logic state of the gate scanning clock (GSC). To explain this in detail, 1
The contact control switch (52) is activated while the gate scanning clock (GSC) maintains the high logic,
On the other hand, the TFT (MN) is activated while the gate scanning clock (GSC) maintains high logic. The TFT (MN) provides a discharge path to the second voltage line (SVL) and the gate line (GL) according to the gate scanning clock (GSC), so that the high potential gate voltage (Vgh) and the falling portion of the scanning signal (GL) are provided. Changes exponentially. In addition, TFT (M
N) increases the time constant when the voltage on the second voltage line (SVL) and the gate line (GL) is discharged toward the base voltage line (GVL) due to the resistance component and the capacitance component appearing at the time of startup. Thus, the falling portion of the high potential gate voltage (Vgh) on the base voltage line (GVL) becomes gentler than the rising portion as shown in FIG. At the same time, the falling part of the scanning signal (SCS) on the gate line (GL) also changes more gradually than the rising part as shown in FIG. As described above, the falling portion of the high potential gate voltage (Vgh) and the scanning signal (SCS) are adjusted more gently than the rising portion, so that the liquid crystal display device can sufficiently suppress the feedthrough voltage (ΔVp). In addition, the response speed increases. The TFT (MN) has an appropriate channel width so that the resistance value of the resistance component and the capacitance of the capacitance component are appropriately set. Further, the TFT (MN) and the base voltage line (GV
During L), a resistor and / or a capacitance for slightly increasing the time constant can be added.

【0019】図11は本発明の第5実施例によるアクテ
ィブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する。図
11のアクティブマトリックス液晶表示装置はTFT
(MN)において抵抗(R2)が第2電圧ライン(SV
L)及び基底電圧ライン(GVL)の間に接続されたこ
とを除いては図10の液晶表示装置と同一な回路構成を
有する。抵抗(R2)は1接点制御用のスイッチ(5
2)がゲートスキャニングクロック(GSC)のハイ論
理状態によって起動される場合に第2電圧ライン(SV
L)及びゲートライン(GL)に充電される電圧の漏泄
を防止する。これとは異なり、1接点制御用のスイッチ
(52)が起動される場合、抵抗(R2)は第2電圧ラ
イン(SVL)及びゲートライン(GL)上の電圧が基
底電圧ライン(GVL)側に放電される時間が長くなる
ことで高電位ゲート電圧(Vgh)及びスキャニング信
号(SCS)の立下がり部が指数関数の形態で変化させ
る。換言すれば、抵抗(R2)は第1接点制御用スイッ
チ(52)が起動される場合に第2電圧ライン(SV
L)及びゲートライン(GL)上の高電位ゲート電圧
(Vgh)の立下がり部は図9でのように立上がり部よ
りもっと緩やかになる。これと併せて、ゲートライン
(GL)上のスキャニング信号(SCS)の立下がり部
も図9でのように立上がり部よりもっと緩やかに変化す
る。このように高電位ゲート電圧(Vgh)及びスキャ
ニング信号(SCS)の立下がり部が立上がり部よりも
っと緩やかに調節されることで液晶表示装置はフィード
スルー電圧(ΔVp)を充分に抑制することができるこ
とと併せて応答速度が速くなる。
FIG. 11 schematically illustrates an active matrix liquid crystal display according to a fifth embodiment of the present invention. The active matrix liquid crystal display device shown in FIG.
(MN), the resistor (R2) is connected to the second voltage line (SV
L) and the same circuit configuration as the liquid crystal display of FIG. 10 except that it is connected between the ground voltage line (GVL). The resistance (R2) is a switch (5
2) is activated by the high logic state of the gate scanning clock (GSC), the second voltage line (SV
L) and the voltage charged in the gate line (GL) is prevented from leaking. When the switch (52) for controlling one contact is activated, the resistance (R2) changes the voltage on the second voltage line (SVL) and the gate line (GL) toward the base voltage line (GVL). As the discharging time becomes longer, the falling portion of the high potential gate voltage (Vgh) and the scanning signal (SCS) changes in the form of an exponential function. In other words, the resistor (R2) is connected to the second voltage line (SV) when the first contact control switch (52) is activated.
L) and the falling portion of the high potential gate voltage (Vgh) on the gate line (GL) become more gentle than the rising portion as shown in FIG. At the same time, the falling part of the scanning signal (SCS) on the gate line (GL) also changes more gradually than the rising part as shown in FIG. As described above, the falling portion of the high potential gate voltage (Vgh) and the scanning signal (SCS) are adjusted more gently than the rising portion, so that the liquid crystal display device can sufficiently suppress the feedthrough voltage (ΔVp). In addition, the response speed increases.

【0020】また、図6、図8、図10及び図11に図
示された第2乃至第5実施例の液晶表示装置ではゲート
スキャニングクロック(GSC)によって電圧調節器
(46)の切り換え動作が制御されることで図5でのタ
イミング制御器(48)が除去される。この結果、図
6、図8、図10及び図11に図示された第2乃至第5
実施例のアクティブマトリックス液晶表示装置では回路
構成が益々簡素化される。これと併せて、図6、図8、
図10及び図11に図示された第2乃至第5実施例の液
晶表示装置ではゲートスキャニングクロック(GSC)
の衝撃係数が50%であることで表現されているが液晶
セルに電圧が充分に充電されることができる範囲内で適
切に調節されることができる。
In the liquid crystal display devices according to the second to fifth embodiments shown in FIGS. 6, 8, 10 and 11, the switching operation of the voltage regulator 46 is controlled by the gate scanning clock (GSC). This eliminates the timing controller (48) in FIG. As a result, the second to fifth illustrated in FIG. 6, FIG. 8, FIG. 10 and FIG.
In the active matrix liquid crystal display device of the embodiment, the circuit configuration is further simplified. In conjunction with this, FIGS.
In the liquid crystal display devices according to the second to fifth embodiments shown in FIGS. 10 and 11, a gate scanning clock (GSC) is used.
Of the liquid crystal cell is 50%, but can be appropriately adjusted within a range where the voltage can be sufficiently charged in the liquid crystal cell.

【0021】図12は本発明の第1乃至第5実施例によ
るアクティブマトリックス液晶表示装置のゲートライン
(GL)及び信号ライン(SL)上に現れるスキャニン
グ信号(SCS)とデータ電圧信号(DVS)を図示す
る。図12に図示されたスキャニング信号(SCS)は
下降エッジでデータ電圧信号(DVS)にほとんど近接
する電圧レベルを有する。これによって、液晶表示装置
はフィードスルー電圧(ΔVp)を充分に抑制すること
ができることと併せて応答速度が速くなる。
FIG. 12 shows a scanning signal (SCS) and a data voltage signal (DVS) appearing on a gate line (GL) and a signal line (SL) of an active matrix liquid crystal display according to the first to fifth embodiments of the present invention. Illustrated. The scanning signal (SCS) illustrated in FIG. 12 has a voltage level almost close to the data voltage signal (DVS) at a falling edge. As a result, the liquid crystal display device can sufficiently suppress the feedthrough voltage (ΔVp), and the response speed increases.

【0022】図13は本発明の第6実施例によるアクテ
ィブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する。図
13のアクティブマトリックス液晶表示装置は第1電圧
ライン(FVL)に接続された低電位ゲート電圧発生器
(40)と、高電位ゲート電圧発生器(42)とを具備
する。低電位ゲート電圧発生器(40)は電圧レベルが
一定に維持される低電位ゲート電圧(Vgl)を第1電
圧ライン(FVL)に接続されたn個の制御用スイッチ
(39)に供給する。高電位ゲート電圧発生器(42)
は図14に図示されたように第1及び第2高電位電圧
(VDD1、VDD2)を交番的に有するパルス状の高
電位ゲート電圧(Vgh)を発生する。このような高電
位ゲート電圧(Vgh)を発生するために、高電位ゲー
ト電圧発生器(42)は第1及び第2高電位電圧(VD
D1、VDD2)を発生する高電位電圧発生器(54)
と、高電位電圧発生器(54)及び第2電圧ライン(S
VL)の間に接続された電圧調節器(56)で構成され
る。高電位電圧発生器(54)で発生される第1高電位
電圧(VDD1)は一定の電圧レベルを安定に維持し
て、第2高電位電圧(VDD2)は低電位ゲート電圧
(Vgl)より高くて第1高電位電圧(VDD1)より
低い電圧レベルを安定に維持する。これら第1及び第2
高電位電圧(VDD1、VDD2)を電圧調節器(5
6)に供給する。電圧調節器(56)は高電位発生器
(54)からの第1及び第2高電位電圧(VDD1、V
DD2)を第2電圧ライン(SVL)側に交番的に供給
することで第2電圧ライン(SVL)上に図14に示し
たような高電位ゲート電圧(Vgh)を発生させる。こ
のために、電圧調節器(56)はゲートスキャニングク
ロック(GSC)に応答する第2制御用スイッチ(5
8)を具備する。第2制御用スイッチ(58)はゲート
スキャニングクロック(GSC)のハイ論理区間で第1
高電位電圧(VDD1)を第2電圧ライン(SVL)に
供給することで第2電圧ライン(SVL)及びゲートラ
イン(GL)上に第1高電位電圧(VDD1)が現れる
ようにする。これとは異なり、ゲートスキャニングクロ
ック(GSC)がロー論理を有する場合、第2制御用ス
イッチ(58)は第2高電位電圧(VDD2)を第2電
圧ライン(SVL)に供給することで第2電圧ライン
(SVL)及びゲートライン(GL)上に第2高電位電
圧(VDD2)が現れるようにする。この結果、高電位
ゲート電圧(Vgh)はゲートスキャニングクロック
(GSC)の周期ごとに第1高電位電圧(VDD1)と
第2高電位電圧(VDD2)を順次有する。
FIG. 13 schematically illustrates an active matrix liquid crystal display according to a sixth embodiment of the present invention. The active matrix liquid crystal display of FIG. 13 includes a low potential gate voltage generator (40) and a high potential gate voltage generator (42) connected to the first voltage line (FVL). The low-potential gate voltage generator (40) supplies a low-potential gate voltage (Vgl) whose voltage level is kept constant to n control switches (39) connected to the first voltage line (FVL). High potential gate voltage generator (42)
Generates a pulse-like high-potential gate voltage (Vgh) having first and second high-potential voltages (VDD1, VDD2) alternately as shown in FIG. In order to generate such a high-potential gate voltage (Vgh), the high-potential gate voltage generator (42) includes first and second high-potential voltages (VDh).
D1, VDD2) high-potential voltage generator (54)
And a high potential voltage generator (54) and a second voltage line (S
VL). The first high potential voltage (VDD1) generated by the high potential voltage generator (54) stably maintains a constant voltage level, and the second high potential voltage (VDD2) is higher than the low potential gate voltage (Vgl). Thus, a voltage level lower than the first high potential voltage (VDD1) is stably maintained. These first and second
The high potential voltages (VDD1, VDD2) are supplied to the voltage regulator (5
6). The voltage regulator (56) controls the first and second high potential voltages (VDD1, V1) from the high potential generator (54).
DD2) is alternately supplied to the second voltage line (SVL) to generate a high-potential gate voltage (Vgh) on the second voltage line (SVL) as shown in FIG. To this end, the voltage regulator (56) has a second control switch (5) responsive to a gate scanning clock (GSC).
8). The second control switch (58) is connected to the first scanning switch in the high logic section of the gate scanning clock (GSC).
By supplying the high potential voltage (VDD1) to the second voltage line (SVL), the first high potential voltage (VDD1) appears on the second voltage line (SVL) and the gate line (GL). Alternatively, when the gate scanning clock (GSC) has a low logic, the second control switch (58) supplies the second high potential voltage (VDD2) to the second voltage line (SVL) to supply the second voltage to the second voltage line (SVL). The second high potential voltage (VDD2) appears on the voltage line (SVL) and the gate line (GL). As a result, the high-potential gate voltage (Vgh) sequentially has the first high-potential voltage (VDD1) and the second high-potential voltage (VDD2) for each cycle of the gate scanning clock (GSC).

【0023】図13のアクティブマトリックス液晶表示
装置では液晶パネル(30)上のゲートライン(GL)
を駆動するためのゲートドライバ(34)が含まれる。
液晶パネル(30)は信号ライン(SL)及びゲートラ
イン(GL)とに接続される画素(31)を含む。画素
(31)は信号ライン(SL)からのデータ電圧信号
(DVS)に応答して透過光量を調節する液晶セル(C
lc)と、ゲートライン(GL)からのスキャニング信
号(SCS)に応答して信号ライン(SL)から液晶セ
ル(Clc)に供給されるデータ電圧信号(DVS)を
切り換えるTFT(CMN)で構成される。また、画素
(31)には補助容量(Cst)が液晶セル(Clc)
に並列に接続される。ゲートドライバ(34)は制御ラ
イン(CL)からのゲートスタートパルス(GSP)及
びゲートクロックライン(GCL)からのゲートスキャ
ニングクロック(GSC)に応答するシフトレジスタセ
ル(36A)と、シフトレジスタセル(36A)とゲー
トライン(GL1)の間に接続された第1制御用スイッ
チ(39)で構成される。シフトレジスタセル(36
A)は図14に図示されたようにゲートスキャニングク
ロック(GSC)の上昇エッジでゲートスタートパルス
(GSP)を出力端子(QT)側に出力する。第1制御
用スイッチ(39)はシフトレジスタセル(36A)の
出力信号の論理状態によって低電位及び高電位ゲート電
圧(Vgl、Vgh)の中いずれか一つを選択的にゲー
トライン(GL)に供給する。これによって、ゲートラ
イン(GL)には低電位ゲート電圧(Vgl)または高
電位ゲート電圧(Vgh)を有するスキャニング信号
(SCS)が現れる。これらを詳細に説明すると、制御
用のスイッチ(39)はシフトレジスタセル(36A)
の出力信号がハイ論理を有する場合に第1及び第2高電
位電圧(VDD1、VDD2)を順次有する高電位ゲー
ト電圧(Vgh)がゲートライン(GL)に供給される
一方、シフトレジスタセル(36A)の出力信号がロー
論理を有する場合には低電位ゲート電圧(Vgl)がゲ
ートライン(GL)に供給される。この結果、ゲートラ
イン(GL)には立下がり部が階段形態に変化する図1
4でのようなスキャニング信号(SCS)が現れる。図
14に図示された″SCSn″は次のゲートラインに供
給されるスキャニング信号の波形を現す。
In the active matrix liquid crystal display of FIG. 13, a gate line (GL) on a liquid crystal panel (30) is provided.
And a gate driver (34) for driving.
The liquid crystal panel (30) includes a pixel (31) connected to the signal line (SL) and the gate line (GL). The pixel (31) adjusts the amount of transmitted light in response to the data voltage signal (DVS) from the signal line (SL).
lc) and a TFT (CMN) for switching a data voltage signal (DVS) supplied to the liquid crystal cell (Clc) from the signal line (SL) in response to a scanning signal (SCS) from the gate line (GL). You. In the pixel (31), a storage capacitor (Cst) has a liquid crystal cell (Clc).
Connected in parallel. The gate driver (34) responds to a gate start pulse (GSP) from the control line (CL) and a gate scanning clock (GSC) from the gate clock line (GCL), and a shift register cell (36A). ) And a first control switch (39) connected between the gate line (GL1). Shift register cell (36
A) outputs the gate start pulse (GSP) to the output terminal (QT) at the rising edge of the gate scanning clock (GSC) as shown in FIG. The first control switch (39) selectively selects one of the low potential and high potential gate voltages (Vgl, Vgh) to the gate line (GL) according to the logic state of the output signal of the shift register cell (36A). Supply. Accordingly, a scanning signal (SCS) having a low potential gate voltage (Vgl) or a high potential gate voltage (Vgh) appears on the gate line (GL). To explain these in detail, the control switch (39) is a shift register cell (36A)
Is high, the high-potential gate voltage (Vgh) having the first and second high-potential voltages (VDD1, VDD2) sequentially is supplied to the gate line (GL), while the shift register cell (36A) If the output signal of ()) has low logic, the low potential gate voltage (Vgl) is supplied to the gate line (GL). As a result, in the gate line (GL), the falling portion changes to a staircase shape as shown in FIG.
A scanning signal (SCS) as at 4 appears. "SCSn" shown in FIG. 14 represents the waveform of the scanning signal supplied to the next gate line.

【0024】このようにスキャニング信号(SCS)の
立下がり部が段階的に変化するために、画素(31)に
含まれたTFT(CMN)はゲートライン(GL)から
のスキャニング信号(SCS)の電圧が臨界電圧以下に
下がるまで起動オン状態を維持する。この時、液晶セル
(Clc)に充電された電荷がゲートライン(GL)側
に流れると同時に、信号ライン(SL)からTFT(C
MN)を経由するデータ電圧信号(DVS)によって充
分な電荷が液晶セル(Clc)に充電される。この結
果、液晶セル(Clc)に充電された電圧は下がらなく
なる。ゲートライン(GL)上のスキャニング信号(S
CS)の電圧がTFT(CMN)の臨界電圧以下に下が
る場合にゲートライン(GL)での電圧変動量が最大T
FT(CMN)の臨界電圧であるので液晶セル(Cl
c)からゲートライン(GL)側に流れる電荷は極めて
少なくなる。この結果、フィードスルー電圧(ΔVp)
は充分に抑圧される。更に、画素(31)によって表示
される画点ではフリッカ及び残像が発生しなくなる。
As described above, since the falling portion of the scanning signal (SCS) changes stepwise, the TFT (CMN) included in the pixel (31) receives the scanning signal (SCS) from the gate line (GL). The start-on state is maintained until the voltage drops below the critical voltage. At this time, the electric charge charged in the liquid crystal cell (Clc) flows to the gate line (GL) side, and at the same time, the TFT (C) is transferred from the signal line (SL).
MN), the liquid crystal cell (Clc) is charged with sufficient charge by the data voltage signal (DVS). As a result, the voltage charged in the liquid crystal cell (Clc) does not decrease. The scanning signal (S) on the gate line (GL)
CS) falls below the critical voltage of the TFT (CMN), the amount of voltage fluctuation at the gate line (GL) is T
Since it is the critical voltage of FT (CMN), the liquid crystal cell (Cl
The charge flowing from c) to the gate line (GL) side is extremely small. As a result, the feedthrough voltage (ΔVp)
Is sufficiently suppressed. Further, flicker and an afterimage do not occur at the image point displayed by the pixel (31).

【0025】この場合、図5に図示された液晶パネル
(30)のゲートライン(GL)上の寄生抵抗(Rp)
及び寄生容量(Cp)は高電位ゲート電圧(Vgh)に
影響を与えなくなる。このような背景から、寄生抵抗
(Rp)及び寄生容量(Cp)が図13に図示されなか
ったことが理解される。図15は本発明の第6実施例に
よるアクティブマトリックス液晶表示装置のゲートライ
ン(GL)及び信号ライン(SL)上に現れるスキャニ
ング信号(SCS)とデータ電圧信号(DVS)を図示
する。図15に図示されたスキャニング信号(SCS)
は下降エッジが階段状に変化することでデータ電圧信号
(DVS)にほとんど近接する電圧レベルを有する。こ
れによって、液晶表示装置はフィードスルー電圧(ΔV
p)を充分に抑圧することができ、併せて応答速度が速
くなる。
In this case, the parasitic resistance (Rp) on the gate line (GL) of the liquid crystal panel (30) shown in FIG.
The parasitic capacitance (Cp) does not affect the high-potential gate voltage (Vgh). From such a background, it is understood that the parasitic resistance (Rp) and the parasitic capacitance (Cp) are not illustrated in FIG. FIG. 15 illustrates a scanning signal (SCS) and a data voltage signal (DVS) appearing on a gate line (GL) and a signal line (SL) of an active matrix liquid crystal display according to a sixth embodiment of the present invention. The scanning signal (SCS) shown in FIG.
Has a voltage level almost close to the data voltage signal (DVS) due to the falling edge changing stepwise. As a result, the liquid crystal display device feeds through the voltage (ΔV
p) can be sufficiently suppressed, and the response speed increases.

【0026】図16は図13に図示された電圧調節器
(56)の他の実施例を詳細に図示する。図16の電圧
調節器(56)は抵抗(R3)を経由して反転端子
(ー)側にゲートスキャニングクロック(GSC)を入
力受ける比較器(60)と、この比較器(60)の出力
信号に相互補完的に応答する第1及び第2トランジスタ
(Q1、Q2)とを具備する。比較器(60)は図17
に図示したようなゲートスキャニングクロック(GS
C)と可変抵抗(VR)からの基準電圧(Vref)を
比較して、その結果によって論理状態が変化する比較信
号を発生する。これを詳細に説明すると、比較器(6
0)はゲートスキャニングクロック(GSC)の電圧が
基準電圧(Vref)より高い場合にロー論理の比較信
号を第1及び第2トランジスタ(Q1、Q2)のベース
端子に供給する一方、ゲートスキャニングクロック(G
SC)の電圧が基準電圧(Vref)より低い場合には
ハイ論理の比較信号を第1及び第2トランジスタ(Q
1、Q2)のベース端子に供給する。この時、可変抵抗
(VR)は図13に図示された第1または第2高電位電
圧(VDD1またはVDD2)と基底電圧(GND)間
の電位差を分圧してその分圧された電圧を基準電圧(V
ref)として比較器(60)の非反転端子(+)に供
給する。第1トランジスタ(Q1)は比較器(60)で
ハイ論理の比較信号が発生されると、図13の高電位電
圧発生器(54)からの第1高電位電圧(VDD1)を
第2電圧ライン(SVL)に供給する。一方に第2トラ
ンジスタ(Q2)は比較器(60)でロー論理の比較信
号が発生されたときに図13の高電位電圧発生器(5
4)からの第2高電位電圧(VDD2)を第2電圧ライ
ン(SVL)に供給する。この結果、第2電圧ライン
(SVL)ではゲートスキャニングクロック(GSC)
とは相反する形態で変化する図17に図示した高電位ゲ
ート電圧(Vgh)が発生する。この高電位ゲート電圧
(Vgh)はゲートスキャニングクロック(GSC)の
論理状態によって第1及び第2高電位電圧(VDD1、
VDD2)を交番される。また、この高電位ゲート電圧
(Vgh)は図13でのシフトレジスタセル(36A)
がゲートスキャニングクロック(GSC)の立下がり部
に応答する場合に使用される。更に、高電位ゲート電圧
(Vgh)は第1及び第2トランジスタ(Q1、Q2)
の位置が変えられた場合または基準電圧(Vref)及
びゲートスキャニングクロック(GSC)が比較器(6
0)の反転及び非反転端子(ー、+)にそれぞれ供給さ
れる場合にゲートスキャニングクロック(GSC)と同
一な形態で変化する。一方、第2電圧ライン(SVL)
と比較器(60)の反転端子(ー)の間に接続された抵
抗(R4)は第2電圧ライン(SVL)上の電圧を比較
器(60)の反転端子(ー)側に帰還させることで高電
位ゲート電圧(Vgh)がゲートスキャニングクロック
(GSC)に対して素早く応答するようにする。
FIG. 16 shows another embodiment of the voltage regulator (56) shown in FIG. 13 in detail. A voltage controller (56) in FIG. 16 includes a comparator (60) that receives a gate scanning clock (GSC) on the inverting terminal (−) side via a resistor (R3), and an output signal of the comparator (60). And first and second transistors (Q1, Q2) responsive to each other in a complementary manner. The comparator (60) is shown in FIG.
The gate scanning clock (GS
C) and a reference voltage (Vref) from the variable resistor (VR), and a comparison signal whose logic state changes according to the result is generated. To explain this in detail, the comparator (6)
0) supplies a low logic comparison signal to the base terminals of the first and second transistors (Q1, Q2) when the voltage of the gate scanning clock (GSC) is higher than the reference voltage (Vref), while the gate scanning clock (GS). G
SC) is lower than the reference voltage (Vref), a high logic comparison signal is sent to the first and second transistors (Qref).
1, Q2). At this time, the variable resistor (VR) divides a potential difference between the first or second high potential voltage (VDD1 or VDD2) and the base voltage (GND) shown in FIG. 13 and uses the divided voltage as a reference voltage. (V
ref) to the non-inverting terminal (+) of the comparator (60). When the comparator (60) generates a high logic comparison signal, the first transistor (Q1) applies the first high potential voltage (VDD1) from the high potential voltage generator (54) of FIG. 13 to the second voltage line. (SVL). On the other hand, the second transistor (Q2) is connected to the high potential voltage generator (5) shown in FIG. 13 when the comparator (60) generates a low logic comparison signal.
The second high potential voltage (VDD2) from 4) is supplied to the second voltage line (SVL). As a result, the gate scanning clock (GSC) is applied to the second voltage line (SVL).
A high-potential gate voltage (Vgh) shown in FIG. The high-potential gate voltage (Vgh) depends on the logic state of the gate scanning clock (GSC) and the first and second high-potential voltages (VDD1, VDD1).
VDD2). The high-potential gate voltage (Vgh) corresponds to the shift register cell (36A) in FIG.
Responds to the falling edge of the gate scanning clock (GSC). Further, the high potential gate voltage (Vgh) is applied to the first and second transistors (Q1, Q2).
Is changed or the reference voltage (Vref) and the gate scanning clock (GSC) are changed by the comparator (6).
When it is supplied to the inverting and non-inverting terminals (−, +) of (0), respectively, it changes in the same manner as the gate scanning clock (GSC). On the other hand, the second voltage line (SVL)
And a resistor (R4) connected between the inverting terminal (-) of the comparator (60) to feed back the voltage on the second voltage line (SVL) to the inverting terminal (-) of the comparator (60). To make the high-potential gate voltage (Vgh) quickly respond to the gate scanning clock (GSC).

【0027】図18を参照すると、液晶パネル(30)
上の信号ライン(SL1乃至SLm)を駆動するデータ
ドライバ(32)と、液晶パネル(30)上のゲートラ
イン(GL1乃至GLn)を駆動するためのゲートドラ
イバ(34)とを具備する第7本発明の実施例によるア
クティブマトリックス液晶表示装置が図示されている。
液晶パネル(30)には信号ライン(SL)及びゲート
ライン(GL)に接続される画素(31)がアクティブ
マトリックス形態で配列される。画素(31)それぞれ
は信号ライン(SL)からのデータ電圧信号(DVS)
に応答して透過光量を調節する液晶セル(Clc)と、
ゲートライン(GL)からのスキャニング信号(SC
S)に応答して信号ライン(SL)から液晶セル(Cl
c)に供給されるデータ電圧信号(DVS)を切り換え
するTFT(CMN)で構成される。また、画素(3
1)それぞれには補助容量(Cst)が液晶セル(Cl
c)に並列に接続される。この補助容量(Cst)は液
晶セル(Clc)に充電された電圧を緩衝する。データ
ドライバ(32)はゲートライン(Gl1乃至GLn)
が順次駆動されることによって信号ライン(SL1乃至
SLm)すべてにデータ電圧信号(DVS)を供給す
る。ゲートドライバ(34)がスキャニング信号(SC
S)をゲートライン(GL1乃至GLm)に順次供給す
ることでゲートライン(GL1乃至GLn)が水平同期
期間ずつ順次使用可能にされる。このために、ゲートド
ライバ(34)は制御ライン(CL)からのゲートスタ
ートパルス(GSP)及びゲートクロックライン(GC
L)からのゲートスキャニングクロック(GSC)に応
答するシフトレジスタ(36)と、シフトレジスタ(3
6)とゲートライン(GL1乃至GLn)の間に接続さ
れたレベルシフト(62)で構成される。シフトレジス
タ(36)は制御ライン(CL)からのゲートスタート
パルス(GSP)をn個の出力端子(QT1乃至QT
n)の内のいずれか一つの出力端子側に出力することと
併せてゲートスキャニングクロック(GSC)に応答し
てゲートスタートパルス(GSP)を第1出力端子(Q
T1)から第n出力端子(QTn)側に順次移動させ
る。また、シフトレジスタ(36)はロジック電圧レベ
ルに該当する5Vを有する集積回路駆動電圧で動作す
る。レベルシフト(62)はシフトレジスタ(36)の
出力信号の電圧レベルをシフトさせることでn個のスキ
ャニング信号(SCS)を発生させる。このために、レ
ベルシフト(62)は第1電圧ライン(FVL)に共通
に接続され、併せてゲートライン(GL1乃至GLn)
それぞれに接続されたn個のPMOSトランジスタ(M
P1乃至MPn)と、第2電圧ライン(SVL)に共通
的に接続されることと併せてゲートライン(GL1乃至
GLn)にそれぞれ接続されたn個のNMOSトランジ
スタ(MN1乃至MNn)とを具備する。
Referring to FIG. 18, a liquid crystal panel (30)
A seventh driver including a data driver (32) for driving the upper signal lines (SL1 to SLm) and a gate driver (34) for driving the gate lines (GL1 to GLn) on the liquid crystal panel (30). 1 illustrates an active matrix liquid crystal display according to an embodiment of the invention.
In the liquid crystal panel 30, pixels 31 connected to the signal lines SL and the gate lines GL are arranged in an active matrix form. Each pixel (31) has a data voltage signal (DVS) from the signal line (SL).
A liquid crystal cell (Clc) that adjusts the amount of transmitted light in response to
Scanning signal (SC) from gate line (GL)
S) in response to the liquid crystal cell (Cl) from the signal line (SL).
c) a TFT (CMN) that switches the data voltage signal (DVS) supplied to c). The pixel (3
1) Each has a storage capacitor (Cst) in the liquid crystal cell (Cl
c) are connected in parallel. This auxiliary capacitance (Cst) buffers the voltage charged in the liquid crystal cell (Clc). The data driver (32) is a gate line (G11 to GLn)
Are sequentially driven to supply a data voltage signal (DVS) to all the signal lines (SL1 to SLm). The gate driver (34) outputs the scanning signal (SC).
S) is sequentially supplied to the gate lines (GL1 to GLm), so that the gate lines (GL1 to GLn) can be sequentially used for each horizontal synchronization period. To this end, the gate driver (34) receives the gate start pulse (GSP) from the control line (CL) and the gate clock line (GC).
L), a shift register (36) responsive to the gate scanning clock (GSC) from the shift register (3).
6) and a level shift (62) connected between the gate lines (GL1 to GLn). The shift register (36) outputs a gate start pulse (GSP) from the control line (CL) to n output terminals (QT1 to QT1).
n), the gate start pulse (GSP) is output to the first output terminal (Q) in response to the gate scanning clock (GSC) in addition to the output to any one of the output terminals.
From T1) to the n-th output terminal (QTn) side. Also, the shift register 36 operates with an integrated circuit driving voltage having 5V corresponding to a logic voltage level. The level shift (62) generates n scanning signals (SCS) by shifting the voltage level of the output signal of the shift register (36). To this end, the level shift (62) is commonly connected to the first voltage line (FVL), and the gate lines (GL1 to GLn).
The n PMOS transistors (M
P1 to MPn) and n NMOS transistors (MN1 to MNn) commonly connected to the second voltage line (SVL) and connected to the gate lines (GL1 to GLn), respectively. .

【0028】第1電圧ライン(FVL)には低電位ゲー
ト電圧発生器(40)で発生された低電位ゲート電圧
(Vgl)が供給される。第1乃至第nPMOSトラン
ジスタ(MP1乃至MPn)はシフトレジスタ(36)
のn個の出力端子(QT1乃至QTn)それぞれに接続
されたゲート電極を有する。同じく、第1乃至第nNM
OSトランジスタ(MN1乃至MNn)もシフトレジス
タ(36)のn個の出力端子(QT1乃至QTn)それ
ぞれ接続されたゲート電極を有する。第1乃至第nPO
MSトランジスタ(MP1乃至MPn)それぞれはシフ
トレジスタ(36)の出力端子上の信号に応答して第1
乃至第nNMOSトランジスタ(MN1乃至MNn)そ
れぞれと相互補完的に起動される。シフトレジスタ(3
6)の出力端子(QT1乃至QTn)からの信号にそれ
ぞれ応答する第1乃至第nNMOSトランジスタ(MN
1乃至MNn)は水平同期期間ずつ順次起動される。こ
れによって、第1乃至第nPMOSトランジスタ(MP
1乃至MPn)は水平同期期間ずつ順次起動される。こ
の結果、第2電圧ライン(SVL)は第1乃至第nゲー
トライン(GL1乃至GLn)に水平同期期間づつ順次
接続される。また、レベルシフト(62)は第2電圧ラ
イン(SVL)と高電位電圧発生器(44)の間に並列
接続されたn個のPMOSトランジスタ(MPn+1乃
至MP2n)と、第2電圧ライン(SVL)と接地ライ
ン(GNDL)の間に接続された放電抵抗(Rd)とを
さらに具備する。これらn個のPMOSトランジスタ
(MPn+1乃至MP2n)は使用可能化ライン(EO
L)上の図19に図示されたゲート出力使用可能化信号
(GOD)に共通に応答して毎水平同期周期の始点から
水平同期周期の半分に該当する期間ずつ同時に起動され
る。これらn個のPMOSトランジスタ(MPn+1乃
至MP2n)が起動されたとき、高電位電圧発生器(4
4)で発生された高電位電圧(VDD)はn個のPMO
Sトランジスタ(MPn+1乃至MP2n)の並列回路
及び第2電圧ライン(SVL)を経由してn個のゲート
ライン(GL1乃至GLn)中のいずれか一つに供給さ
れる。一方、n個のPMOSトランジスタ(MPn+1
乃至MP2n)が起動された時にn個のゲートライン
(GL1乃至GLn)中のいずれか一つのライン上の充
電された電圧が第2電圧ライン(SVL)及び放電抵抗
(Rd)を経由して接地ライン(GNDL)側に放電さ
れる。この時、ゲートライン(GL)上の電圧の放電速
度(即ち、時定数)は放電抵抗(Rd)、ゲートライン
(GL)上の寄生容量(Cc)及び寄生抵抗(Rc)に
よって決定される。これによって、第2電圧ライン(S
VL)では図19に図示されたようにゲートスキャニン
グクロック(GSC)のハイ論理区間(即ち、水平同期
信号の前半周期)では高電位電圧レベル(VDD)を維
持してゲートスキャニングクロック(GSC)のロー論
理区間では高電位電圧レベル(VDD)から指数関数的
に徐々に減少する高電位ゲート電圧(Vgh)が発生す
る。
The low voltage gate voltage (Vgl) generated by the low voltage gate voltage generator (40) is supplied to the first voltage line (FVL). The first to n-th PMOS transistors (MP1 to MPn) are shift registers (36).
Have gate electrodes connected to the respective n output terminals (QT1 to QTn). Similarly, the first to n-th NM
The OS transistors (MN1 to MNn) also have gate electrodes connected to the n output terminals (QT1 to QTn) of the shift register (36). 1st to nth PO
Each of the MS transistors (MP1 to MPn) responds to a signal on an output terminal of the shift register (36) by a first signal.
To the nth NMOS transistors (MN1 to MNn). Shift register (3
6) responding to signals from the output terminals (QT1 to QTn), respectively.
1 to MNn) are sequentially activated for each horizontal synchronization period. As a result, the first to n-th PMOS transistors (MP
1 to MPn) are sequentially activated for each horizontal synchronization period. As a result, the second voltage line (SVL) is sequentially connected to the first to n-th gate lines (GL1 to GLn) for each horizontal synchronization period. The level shift (62) includes n PMOS transistors (MPn + 1 to MP2n) connected in parallel between the second voltage line (SVL) and the high potential voltage generator (44), and the second voltage line (SVL). And a discharge resistor (Rd) connected between the ground line (GNDL). These n PMOS transistors (MPn + 1 to MP2n) are connected to the enable line (EO).
L) In response to the gate output enable signal (GOD) shown in FIG. 19 in common, it is simultaneously activated from the start point of each horizontal synchronization cycle for a period corresponding to half of the horizontal synchronization cycle. When these n PMOS transistors (MPn + 1 to MP2n) are activated, the high potential voltage generator (4
The high potential voltage (VDD) generated in 4) is n PMOs.
The voltage is supplied to one of n gate lines (GL1 to GLn) via a parallel circuit of S transistors (MPn + 1 to MP2n) and a second voltage line (SVL). On the other hand, n PMOS transistors (MPn + 1
To MP2n), the charged voltage on any one of the n gate lines (GL1 to GLn) is grounded via the second voltage line (SVL) and the discharge resistor (Rd). Discharged to the line (GNDL) side. At this time, the discharge speed (ie, time constant) of the voltage on the gate line (GL) is determined by the discharge resistance (Rd), the parasitic capacitance (Cc) and the parasitic resistance (Rc) on the gate line (GL). Thereby, the second voltage line (S
VL), as shown in FIG. 19, in the high logic period of the gate scanning clock (GSC) (that is, the first half cycle of the horizontal synchronizing signal), the high potential voltage level (VDD) is maintained to maintain the gate scanning clock (GSC). In the low logic section, a high-potential gate voltage (Vgh) that decreases exponentially from the high-potential voltage level (VDD) is generated.

【0029】第1乃至第nゲートライン(GL1乃至G
Ln)それぞれは水平同期信号の周期づつ順次に起動さ
れるNMOSトランジスタ(GL1乃至GLn)それぞ
れは、水平同期信号の周期づつ順次に起動されるNMO
Sトランジスタ(GL1乃至GLn)それぞれを経由し
て第2電圧ライン(SVL)上の高電位ゲート電圧(V
gh)を水平同期信号の一周期の間入力し、併せて残り
の期間の間はPMOSトランジスタ(MP1乃至MP
n)を経由して第1電圧ライン(FVL)上の低電位ゲ
ート電圧(Vgl)を入力する。この結果、第1乃至第
nゲートライン(GL1乃至GLn)は図19に図示さ
れたスキャニング信号(SCS1乃至SCSn)の供給
を受ける。スキャニング信号(SCS)はゲートスキャ
ニングクロック(GSC)のハイ論理区間(即ち、水平
同期信号の前半周期)では高電位電圧を維持して、ゲー
トスキャニングクロック(GCS)のロー論理区間(水
平同期信号の後半周期)では高電位電圧から液晶パネル
(30)上のTFT(CMN)の臨界電圧(Vth)に
近接した電圧まで指数関数的に減少する。また、スキャ
ニング信号(SCS)は次の水平同期周期の始点でTF
T(CMN)の臨界電圧より低い電圧(即ち、低電位ゲ
ート電圧(Vgl))に急激に下がる。このように、液
晶パネル(30)のゲートライン(GL)に供給される
スキャニング信号(SCS)の立下がり部が緩やかに変
化することで、画素(31)に含まれたTFT(CM
N)はゲートライン(GL)からのスキャニング信号
(SCS)の電圧が臨界電圧以下に下がるまでに起動さ
れる。この時、液晶セル(Clc)に充電された電荷が
ゲートライン(GL)側に流れるが、信号ライン(S
L)からTFT(CMN)を経由するデータ電圧信号
(DVS)によって充分な電荷が液晶セル(Clc)に
充電される。これによって、液晶セル(Clc)に充電
された電圧は下がらない。ゲートライン(GL)上のス
キャニング信号(SCS)の電圧がTFT(CMN)の
臨界電圧以下に下がる場合にゲートライン(GL)での
電圧変動量が最大TFT(CMN)の臨界電圧であるの
で液晶セル(Clc)からゲートライン(GL)側に流
れる電荷は極めて少なくなる。この結果、フィードスル
ー電圧(ΔVp)が充分に抑圧される。また、前記した
n個のPMOSトランジスタ(MPn+1乃至MP2
n)は高電位電圧発生器(44)から第2電圧ライン
(SVL)側に供給される高電位電圧(VDD)の減殺
量を最小化するために高電位電圧発生器(44)と第2
電圧ライン(SVL)の間の抵抗値を低くさせられる。
従って、n個のPMOSトランジスタ(MPn+1乃至
MP2n)の中nー1個のPMOSトランジスタは除去
することができる。この場合、ゲートドライバ(34)
の回路構成が簡素化される。更に、前記ゲートスタート
パルス(GSP)、ゲートスキャニングクロック(GS
C)及びゲート使用可能化信号(GOE)は図示しない
タイミング制御器で発生される。
The first to n-th gate lines (GL1 to G)
Ln) are sequentially activated by the period of the horizontal synchronization signal. Each of the NMOS transistors (GL1 to GLn) is sequentially activated by the period of the horizontal synchronization signal.
The high potential gate voltage (V) on the second voltage line (SVL) via each of the S transistors (GL1 to GLn)
gh) for one cycle of the horizontal synchronizing signal, and the PMOS transistors (MP1 to MP1) for the remaining period.
n), the low potential gate voltage (Vgl) on the first voltage line (FVL) is input. As a result, the first to n-th gate lines GL1 to GLn receive the scanning signals SCS1 to SCSn shown in FIG. The scanning signal (SCS) maintains a high potential voltage in a high logic section of the gate scanning clock (GSC) (that is, the first half cycle of the horizontal synchronization signal), and maintains a low logic section of the gate scanning clock (GCS) (horizontal synchronization signal). In the latter half period, the voltage decreases exponentially from the high potential voltage to a voltage close to the critical voltage (Vth) of the TFT (CMN) on the liquid crystal panel (30). Also, the scanning signal (SCS) is TF at the start of the next horizontal synchronization cycle.
It drops sharply to a voltage lower than the critical voltage of T (CMN) (that is, a low potential gate voltage (Vgl)). As described above, the falling portion of the scanning signal (SCS) supplied to the gate line (GL) of the liquid crystal panel (30) gradually changes, so that the TFT (CM) included in the pixel (31) is changed.
N) is activated until the voltage of the scanning signal (SCS) from the gate line (GL) falls below the critical voltage. At this time, the charge charged in the liquid crystal cell (Clc) flows to the gate line (GL) side, but the signal line (S
A sufficient charge is charged to the liquid crystal cell (Clc) by the data voltage signal (DVS) from L) through the TFT (CMN). As a result, the voltage charged in the liquid crystal cell (Clc) does not decrease. When the voltage of the scanning signal (SCS) on the gate line (GL) drops below the threshold voltage of the TFT (CMN), the amount of voltage fluctuation on the gate line (GL) is the critical voltage of the TFT (CMN). The charge flowing from the cell (Clc) to the gate line (GL) side is extremely small. As a result, the feedthrough voltage (ΔVp) is sufficiently suppressed. Further, the n PMOS transistors (MPn + 1 to MP2)
n) is a combination of the high-potential voltage generator (44) and the second
The resistance value between the voltage lines (SVL) can be reduced.
Therefore, out of the n PMOS transistors (MPn + 1 to MP2n), n-1 PMOS transistors can be eliminated. In this case, the gate driver (34)
Is simplified. Further, the gate start pulse (GSP) and the gate scanning clock (GS)
C) and the gate enable signal (GOE) are generated by a timing controller (not shown).

【0030】図20は図18に図示されたところによる
アクティブマトリックス液晶表示装置の中いずれか一つ
のゲートラインを駆動するためのラインスキャニング回
路を図示する。図20に図示したラインスキャニング回
路は液晶パネル(30)上のゲートライン(GL)を駆
動するためのゲートドライバ(34)を含む。液晶パネ
ル(30)は信号ライン(SL)及びゲートライン(G
L)とに接続される画素(31)を含む。画素(31)
は信号ライン(SL)からのデータ電圧信号(DVS)
に応答して透過光量を調節する液晶セル(Clc)と、
ゲートライン(GL)からのスキャニング信号(SC
S)に応答して信号ライン(SL)から液晶セル(Cl
c)に供給されるデータ電圧信号(DVS)を切り換え
るTFT(CMN)で構成される。また、画素(31)
には補助容量(Cst)が液晶セル(Clc)に並列に
接続される。ゲートドライバ(34)は制御ライン(C
L)からのゲートスタートパルス(GSP)及びゲート
クロックライン(GCL)からのゲートスキャニングク
ロック(GSC)に応答するシフトレジスタセル(36
A)と、シフトレジスタセル(36A)とゲートライン
(GL)の間に接続されたレベルシフトセル(62A)
で構成される。シフトレジスタセル(36A)は図19
に示すゲートスキャニングクロック(GSC)の上昇エ
ッジで図19に示すゲートスタートパルス(GSP)を
出力端子(QT)側に出力させる。レベルシフトセル
(62A)はシフトレジスタセル(36A)の出力信号
の電圧レベルをシフトさせることでスキャニング信号
(SCS)を発生する。このために、レベルシフトセル
(62A)は第1電圧ライン(FVL)と液晶パネル
(30)上のゲートライン(GL)の間に接続された第
1PMOSトランジスタ(MP1)と、第2電圧ライン
(SVL)とゲートライン(GL)の間に接続された第
1NMOSトランジスタ(MN1)とを具備する。
FIG. 20 shows a line scanning circuit for driving any one of the gate lines in the active matrix liquid crystal display device shown in FIG. The line scanning circuit shown in FIG. 20 includes a gate driver (34) for driving a gate line (GL) on the liquid crystal panel (30). The liquid crystal panel (30) has a signal line (SL) and a gate line (G
L). Pixel (31)
Is the data voltage signal (DVS) from the signal line (SL)
A liquid crystal cell (Clc) that adjusts the amount of transmitted light in response to
Scanning signal (SC) from gate line (GL)
S) in response to the liquid crystal cell (Cl) from the signal line (SL).
c) a TFT (CMN) that switches the data voltage signal (DVS) supplied to c). The pixel (31)
Is connected in parallel with a liquid crystal cell (Clc). The gate driver (34) is connected to the control line (C
L) and a shift register cell (36) responsive to a gate start pulse (GSP) from the gate clock line (GCL) and a gate scanning clock (GSC) from the gate clock line (GCL).
A) and a level shift cell (62A) connected between the shift register cell (36A) and the gate line (GL)
It consists of. The shift register cell (36A) is shown in FIG.
The gate start pulse (GSP) shown in FIG. 19 is output to the output terminal (QT) side at the rising edge of the gate scanning clock (GSC) shown in FIG. The level shift cell (62A) generates a scanning signal (SCS) by shifting the voltage level of the output signal of the shift register cell (36A). To this end, the level shift cell (62A) includes a first PMOS transistor (MP1) connected between the first voltage line (FVL) and the gate line (GL) on the liquid crystal panel (30), and a second voltage line ( SVL) and a first NMOS transistor MN1 connected between the gate line GL.

【0031】第1電圧ライン(FVL)には低電位ゲー
ト電圧発生器(40)で発生された低電位ゲート電圧
(Vgl)が供給される。第1PMOSトランジスタ
(MP1)はシフトレジスタセル(36A)の出力端子
(QT)に接続されたゲート電極を有する。同じく、第
1NMOSトランジスタ(MN1)はシフトレジスタセ
ル(36A)の出力端子(QT)に接続されたゲート電
極を有する。第1PMOSトランジスタ(MP1)はシ
フトレジスタセル(36A)の出力端子上の信号に応答
して第1NMOSトランジスタ(MN1)と相互補完的
に起動される。シフトレジスタセル(36A)の出力端
子(QT)からの信号にそれぞれ応答する第1NMOS
トランジスタ(MN1)は任意の水平同期期間に起動さ
れる一方、第1PMOSトランジスタ(MP1)は任意
の水平同期期間を除いては残りフレーム期間に起動され
る。この結果、第2電圧ライン(SVL)は任意の水平
同期期間にだけゲートライン(GL)に接続されるよう
になり、第1電圧ライン(FVL)は任意の水平同期期
間を除いた残りのフレーム期間にゲートライン(GL)
に接続される。
The first voltage line (FVL) is supplied with the low potential gate voltage (Vgl) generated by the low potential gate voltage generator (40). The first PMOS transistor (MP1) has a gate electrode connected to the output terminal (QT) of the shift register cell (36A). Similarly, the first NMOS transistor (MN1) has a gate electrode connected to the output terminal (QT) of the shift register cell (36A). The first PMOS transistor (MP1) is complementarily activated with the first NMOS transistor (MN1) in response to a signal on the output terminal of the shift register cell (36A). A first NMOS responsive to a signal from the output terminal (QT) of the shift register cell (36A)
The transistor (MN1) is activated during an arbitrary horizontal synchronization period, while the first PMOS transistor (MP1) is activated during the remaining frame period except for an arbitrary horizontal synchronization period. As a result, the second voltage line (SVL) is connected to the gate line (GL) only during an arbitrary horizontal synchronization period, and the first voltage line (FVL) is connected to the remaining frame excluding the arbitrary horizontal synchronization period. Gate line (GL) during the period
Connected to.

【0032】また、レベルシフトセル(62A)は高電
位電圧発生器(44)と第2電圧ライン(SVL)の間
に接続された第2PMOSトランジスタ(MP2)と、
第2電圧ライン(SVL)と接地ライン(GNDL)の
間に接続された放電抵抗(Rd)とをさらに具備する。
第2PMOSトランジスタ(MP2)は使用可能化ライ
ン(EOL)からの図18に図示されたゲート出力使用
可能化信号(GOE)に応答して毎水平同期周期の始点
から水平同期周期の半分に該当する期間に起動される。
この第2PMOSトランジスタ(MP2)が起動された
時、高電位電圧発生器(44)は高電位電圧(VDD)
を第2電圧ライン(SVL)を経由してゲートライン
(GL)に供給される。一方、第2PMOSトランジス
タ(MP2)が起動された時にゲートライン(GL)上
に充電された電圧が第2電圧ライン(SVL)及び放電
抵抗(Rd)を経由して接地ライン(GNDL)側に放
電される。この時、ゲートライン(GL)上の電圧の放
電速度(即ち、時定数)は放電抵抗(Rd)、ゲートラ
イン(GL)上の寄生容量(Cp)及び寄生抵抗(R
p)によって決定される。これによって、第2電圧ライ
ン(SVL)には図19に図示されたゲートスキャニン
グクロック(GSC)のハイ論理区間(即ち、水平同期
信号の前半周期)では高電位電圧レベル(VDD)を維
持してゲートスキャニングクロック(GSC)のロー論
理区間では高電位電圧レベル(VDD)から指数関数的
に徐々に減少する高電位ゲート電圧(Vgh)が現れ
る。ゲートライン(GL)は任意の水平同期信号の周期
の間起動される第1NMOSトランジスタ(MN1)を
経由して第2電圧ライン(SVL)上の高電位ゲート電
圧(Vgh)を水平同期信号の周期を除いた残りの期間
の間には第1PMOSトランジスタ(MP1)を経由し
て第1電圧ライン(FVL)上の低電位ゲート電圧(V
gl)を入力する。この結果、ゲートライン(GL)に
は図19に図示されたスキャニング信号(SCS1乃至
SCSn)の中いずれか一つが供給される。スキャニン
グ信号(SCS)はゲートスキャニングクロック(GS
C)のハイ論理区間(即ち、水平同期信号の前半周期)
では高電位電圧を維持して、ゲートスキャニングクロッ
ク(GSC)のロー論理区間では(水平同期信号の後半
周期)では高電位電圧から液晶パネル(30)上のTF
T(CMN)の臨界電圧(Vth)に近接される電圧ま
で指数関数的に減少する。
The level shift cell (62A) includes a second PMOS transistor (MP2) connected between the high potential voltage generator (44) and the second voltage line (SVL);
And a discharge resistor (Rd) connected between the second voltage line (SVL) and the ground line (GNDL).
The second PMOS transistor MP2 corresponds to a half of the horizontal synchronization period from the start of each horizontal synchronization period in response to the gate output enable signal GOE shown in FIG. 18 from the enable line EOL. Fired during the period.
When the second PMOS transistor (MP2) is activated, the high potential voltage generator (44) turns on the high potential voltage (VDD).
Is supplied to the gate line (GL) via the second voltage line (SVL). On the other hand, when the second PMOS transistor (MP2) is activated, the voltage charged on the gate line (GL) is discharged to the ground line (GNDL) through the second voltage line (SVL) and the discharge resistor (Rd). Is done. At this time, the discharge speed (ie, time constant) of the voltage on the gate line (GL) is the discharge resistance (Rd), the parasitic capacitance (Cp) and the parasitic resistance (Rp) on the gate line (GL).
p). Accordingly, the second voltage line (SVL) maintains the high potential voltage level (VDD) in the high logic period (ie, the first half cycle of the horizontal synchronization signal) of the gate scanning clock (GSC) illustrated in FIG. In the low logic section of the gate scanning clock (GSC), a high-potential gate voltage (Vgh) that gradually decreases exponentially from the high-potential voltage level (VDD) appears. The gate line (GL) applies a high-potential gate voltage (Vgh) on the second voltage line (SVL) via the first NMOS transistor (MN1) activated during an arbitrary period of the horizontal synchronization signal to the period of the horizontal synchronization signal. During the rest of the period excluding the above, the low potential gate voltage (V) on the first voltage line (FVL) via the first PMOS transistor (MP1)
gl). As a result, one of the scanning signals (SCS1 to SCSn) shown in FIG. 19 is supplied to the gate line (GL). The scanning signal (SCS) is a gate scanning clock (GS).
C) high logic section (that is, the first half cycle of the horizontal synchronization signal)
In the low logic period of the gate scanning clock (GSC) (in the second half cycle of the horizontal synchronization signal), the high potential voltage is maintained from the high potential voltage to the TF on the liquid crystal panel (30).
It decreases exponentially to a voltage close to the critical voltage (Vth) of T (CMN).

【0033】また、スキャニング信号(SCS)は次の
水平同期周期の始点でTFT(CMN)の臨界電圧より
低い電圧(即ち、低電位ゲート電圧(Vgl))に急激
に下がる。このように、液晶パネル(30)のゲートラ
イン(GL)に供給されるスキャニング信号(SCS)
の立下がり部が緩やかに変化することで、画素(31)
に含まれたTFT(CMN)はゲートライン(GL)か
らのスキャニング信号(SCS)の電圧が自分の臨界電
圧以下で下がるまでに起動される。この時、液晶セル
(Clc)に充電された電荷がゲートライン(GL)側
に流れ信号ライン(SL)からTFT(CMN)を経由
するデータ電圧信号(DVS)によって充分な電荷が液
晶セル(Clc)に充電される。これによって、液晶セ
ル(Clc)に充電された電圧は下がらない。ゲートラ
イン(GL)上のスキャニング信号(SCS)の電圧が
TFT(CMN)の臨界電圧以下に下がる場合にゲート
ライン(GL)での電圧変動量が最大TFT(CMN)
の臨界電圧であるので液晶セル(Clc)からゲートラ
イン(GL)側に流れる電荷量は極めて少なくなる。こ
の結果、フィードスルー電圧(ΔVp)が充分に抑圧さ
れる。
Also, the scanning signal (SCS) drops sharply to a voltage lower than the critical voltage of the TFT (CMN) (ie, a low potential gate voltage (Vgl)) at the start of the next horizontal synchronization cycle. As described above, the scanning signal (SCS) supplied to the gate line (GL) of the liquid crystal panel (30).
The falling portion of the pixel gradually changes, and the pixel (31)
Are activated until the voltage of the scanning signal (SCS) from the gate line (GL) falls below its own threshold voltage. At this time, the charges charged in the liquid crystal cell (Clc) flow to the gate line (GL) side, and sufficient charges are generated from the signal line (SL) by the data voltage signal (DVS) passing through the TFT (CMN). ) Is charged. As a result, the voltage charged in the liquid crystal cell (Clc) does not decrease. When the voltage of the scanning signal (SCS) on the gate line (GL) drops below the critical voltage of the TFT (CMN), the amount of voltage fluctuation on the gate line (GL) becomes the maximum TFT (CMN).
, The amount of charge flowing from the liquid crystal cell (Clc) to the gate line (GL) side is extremely small. As a result, the feedthrough voltage (ΔVp) is sufficiently suppressed.

【0034】図21は本発明の第8実施例によるアクテ
ィブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する。図
21のアクティブマトリックス液晶表示装置は、図18
で第2電圧ライン(SVL)と高電位電圧発生器(4
4)の間に並列に接続されたn個のPMOSトランジス
タ(MPn+1乃至MP2n)とそして第2電圧ライン
(SVL)と接地ライン(GNDL)の間に接続された
放電抵抗(Rd)の代わりに高電位電圧発生器(44)
と第2電圧ライン(SVL)の間に接続された電圧調節
器(64)を有することを除いては図18のアクティブ
マトリックス液晶表示装置と同一な回路構成を有する。
電圧調節器(64)はゲートクロックライン(GCL)
からのゲートスキャニングクロック(GSC)に応答し
て高電位電圧発生器(44)を第2電圧ライン(SV
L)に連結させ、第2電圧ライン(SVL)に放電通路
を提供する。これを詳細に説明すると、電圧調節器(6
4)はゲートスキャニングクロック(GSC)がハイ論
理値を有する期間には高電位発生器(44)からの高電
位電圧(VDD)が第2電圧ライン(SVL)とn個の
NMOSトランジスタ(MN1乃至MNn)の中いずれ
か一つを経由してゲートライン(GL)側に伝送され
る。一方、ゲートスキャニングクロック(GSC)がロ
ー論理値を有する時に電圧調節器(64)は第2電圧ラ
イン(SVL)に放電通路を提供してゲートライン(G
L1乃至GLn)上に充電された電圧が第2電圧ライン
(SVL)及び放電通路を放電されるようにする。この
時、ゲートライン(GL)上の電圧の放電速度(即ち、
時定数)は放電通路の抵抗値、ゲートライン(GL)上
の寄生容量(Cc)及び寄生抵抗(Rc)によって決定
される。結果的に、電圧調節器(64)は図19に図示
されたところのようにゲートスキャニングクロック(G
SC)のハイ論理区間(即ち、水平同期信号の前半周
期)では高電位電圧レベル(VDD)を維持してゲート
スキャニングクロック(GSC)のロー論理区間では高
電位電圧レベル(VDD)から指数関数的に徐々に減少
する高電位ゲート電圧(Vgh)が第2電圧ライン(S
VL)上に現れる。
FIG. 21 schematically illustrates an active matrix liquid crystal display according to an eighth embodiment of the present invention. The active matrix liquid crystal display device shown in FIG.
And the second voltage line (SVL) and the high-potential voltage generator (4
4) instead of the n PMOS transistors (MPn + 1 to MP2n) connected in parallel and the discharge resistor (Rd) connected between the second voltage line (SVL) and the ground line (GNDL). Potential voltage generator (44)
It has the same circuit configuration as the active matrix liquid crystal display of FIG. 18 except that it has a voltage regulator (64) connected between the active matrix liquid crystal display and the second voltage line (SVL).
The voltage regulator (64) is a gate clock line (GCL)
The high-potential voltage generator (44) responds to the gate scanning clock (GSC) from the second voltage line (SV).
L) to provide a discharge path to the second voltage line (SVL). To explain this in detail, the voltage regulator (6)
4) When the gate scanning clock (GSC) has a high logic value, the high potential voltage (VDD) from the high potential generator (44) is applied to the second voltage line (SVL) and n NMOS transistors (MN1 to MN1). MNn) and transmitted to the gate line (GL) side via any one of them. On the other hand, when the gate scanning clock (GSC) has a low logic value, the voltage regulator (64) provides a discharge path to the second voltage line (SVL) to provide a gate line (GSL).
The voltage charged on L1 to GLn is discharged through the second voltage line SVL and the discharge path. At this time, the discharge rate of the voltage on the gate line (GL) (ie,
The time constant is determined by the resistance value of the discharge path, the parasitic capacitance (Cc) and the parasitic resistance (Rc) on the gate line (GL). As a result, the voltage regulator (64) operates the gate scanning clock (G) as shown in FIG.
SC) in the high logic section (that is, the first half cycle of the horizontal synchronization signal), the high potential voltage level (VDD) is maintained, and in the low logic section of the gate scanning clock (GSC), the high potential voltage level (VDD) is exponentially changed from the high potential voltage level (VDD). The high-potential gate voltage (Vgh) gradually decreasing to the second voltage line (S
VL).

【0035】また、第1乃至第nゲートライン(GL1
乃至GLn)それぞれは水平同期信号の周期づつ順次起
動されるNMOSトランジスタ(MN1乃至MNn)を
それぞれ経由して第2電圧ライン(SVL)上の高電位
ゲート電圧(Vgh)を水平同期信号の一周期の間に入
力することと併せて残りの期間の間はPMOSトランジ
スタ(MP1乃至MPn)を経由して第1電圧ライン
(FVL)上の低電位ゲート電圧(Vgl)を入力す
る。この結果、第1乃至第nゲートライン(GL1乃至
GLn)は図18に図示されたスキャニング信号(SC
S1乃至SCSn)の供給を受ける。スキャニング信号
(SCS)はゲートスキャニングクロック(GSC)の
ハイ論理区間(即ち、水平同期信号の前半周期)では高
電位電圧を維持して、ゲートスキャニングクロック(G
CS)のロー論理区間(水平同期信号の後半周期)では
高電位電圧から液晶パネル(30)上のTFT(CM
N)の臨界電圧(Vth)に近接する電圧まで指数関数
的に減少する。また、スキャニング信号(SCS)は次
の水平同期周期の始点でTFT(CMN)の臨界電圧よ
り低い電圧(即ち、低電位ゲート電圧(Vgl))に急
激に下がる。
The first to n-th gate lines (GL1 to GL1)
To GLn) via the NMOS transistors (MN1 to MNn) which are sequentially activated by the period of the horizontal synchronizing signal, respectively. During the remaining period, the low-potential gate voltage (Vgl) on the first voltage line (FVL) is input via the PMOS transistors (MP1 to MPn). As a result, the first to n-th gate lines (GL1 to GLn) are connected to the scanning signal (SC) shown in FIG.
S1 to SCSn). The scanning signal (SCS) maintains a high potential voltage in the high logic section of the gate scanning clock (GSC) (that is, the first half cycle of the horizontal synchronizing signal), and the gate scanning clock (GSC).
In the low logic section of CS) (the latter half cycle of the horizontal synchronizing signal), the TFT (CM) on the liquid crystal panel (30) changes from the high potential voltage.
N) exponentially decreases to a voltage close to the critical voltage (Vth). Also, the scanning signal (SCS) drops sharply to a voltage lower than the critical voltage of the TFT (CMN) (ie, a low potential gate voltage (Vgl)) at the start of the next horizontal synchronization cycle.

【0036】このように、液晶パネル(30)のゲート
ライン(GL)に供給されるスキャニング信号(SC
S)の立下がり部が緩やかに変化することで、画素(3
1)に含まれたTFT(CMN)はゲートライン(G
L)からのスキャニング信号(SCS)の電圧が臨界電
圧以下に下がるまでに起動される。この時、液晶セル
(Clc)に充電された電荷がゲートライン(GL)側
に流れるが、信号ライン(SL)からTFT(CMN)
を経由するデータ電圧信号(DVS)によって充分な電
荷が液晶セル(Clc)に充電される。これによって、
液晶セル(Clc)に充電された電圧は下がらなくな
る。ゲートライン(GL)上のスキャニング信号(SC
S)の電圧がTFT(CMN)の臨界電圧以下に下がる
場合にゲートライン(GL)での電圧変動量が最大TF
T(CMN)の臨界電圧であるので液晶セル(Clc)
からゲートライン(GL)側に流れる電荷量は極めて少
なくなる。この結果、フィードスルー電圧(ΔVp)が
充分に抑圧される。
As described above, the scanning signal (SC) supplied to the gate line (GL) of the liquid crystal panel (30).
Since the falling portion of S) changes gradually, the pixel (3)
The TFT (CMN) included in 1) is a gate line (G
It is activated until the voltage of the scanning signal (SCS) from L) falls below the critical voltage. At this time, the electric charge charged in the liquid crystal cell (Clc) flows to the gate line (GL) side, but the charge is transferred from the signal line (SL) to the TFT (CMN).
The liquid crystal cell (Clc) is charged with a sufficient charge by the data voltage signal (DVS) passing through. by this,
The voltage charged in the liquid crystal cell (Clc) does not decrease. The scanning signal (SC) on the gate line (GL)
When the voltage of S) falls below the critical voltage of the TFT (CMN), the amount of voltage fluctuation at the gate line (GL) is the maximum TF.
Liquid crystal cell (Clc) because it is the critical voltage of T (CMN)
The amount of charge flowing from the gate line (GL) to the gate line (GL) becomes extremely small. As a result, the feedthrough voltage (ΔVp) is sufficiently suppressed.

【0037】図22aは本発明によるアクティブマトリ
ックス液晶表示装置によって提供されたスキャニング信
号の波形を現し、図22bは従来のアクティブマトリッ
クス液晶表示装置で提供されるスキャニング信号を現
す。図22aのスキャニング信号は図22bのスキャニ
ング信号とは異なり指数関数的に減少する下降エッジを
有する。これによって、本発明によるアクティブマトリ
ックス液晶表示装置はTFT(CMN)がターンオフさ
れるときのTFT(CMN)のゲート電極とソース電極
間の電位差が小さくなる。従って、TFT(CMN)が
ターンオフされるときに液晶セルから放電される電荷が
著しく減少する。この結果、フィードスルー電圧(ΔV
p)が小さくなって、更にフリッカが著しく減少する。
図23aは本発明によるアクティブマトリックス液晶表
示装置はTFT(CMN)が起動されるときの電流変化
を、そして図23bは従来のアクティブマトリックス液
晶表示装置はTFT(CMN)が起動されるときの電流
変化をそれぞれ現す。図23a及び図23bは本発明に
よるアクティブマトリックス液晶表示装置は従来の液晶
表示装置に比べて過渡雑音成分を大きく抑制されること
を示している。
FIG. 22A shows a waveform of a scanning signal provided by an active matrix liquid crystal display according to the present invention, and FIG. 22B shows a scanning signal provided by a conventional active matrix liquid crystal display. The scanning signal of FIG. 22a differs from the scanning signal of FIG. 22b in that it has an exponentially decreasing falling edge. Accordingly, in the active matrix liquid crystal display according to the present invention, the potential difference between the gate electrode and the source electrode of the TFT (CMN) when the TFT (CMN) is turned off is reduced. Therefore, the charge discharged from the liquid crystal cell when the TFT (CMN) is turned off is significantly reduced. As a result, the feedthrough voltage (ΔV
p) is reduced and flicker is significantly reduced.
FIG. 23a shows the current change when the TFT (CMN) is activated in the active matrix liquid crystal display device according to the present invention, and FIG. 23b shows the current change when the TFT (CMN) is activated in the conventional active matrix liquid crystal display device. Respectively. FIGS. 23A and 23B show that the active matrix liquid crystal display device according to the present invention can greatly suppress the transient noise component as compared with the conventional liquid crystal display device.

【0038】図24は図20に図示された電圧調節器
(64)の実施例を詳細に図示するものである。図24
において、電圧調節器(64)は高電位電圧ライン(V
DDL)と接地ライン(GNDL)の間に直列接続され
た第1及び第2抵抗(R1、R2)と、第1ノード(N
1)と第2電圧ライン(SVL)の間に接続された第3
抵抗(R3)とを具備する。第1及び第2抵抗(R1、
R2)は高電位電圧ライン(VDDL)上の高電位電圧
(VDD)を分圧してその分圧された電圧が第1ノード
(N1)上に現れるようにする。第3抵抗(R3)は第
1ノード(N1)と第2電圧ライン(SVL)の間に電
流量を制限する。電圧調節器(64)は高電位電圧ライ
ン(VDDL)、第1及び第2ノード(N1、N2)の
間に接続された第1トランジスタ(TR1)と、第2抵
抗(R2)と接地ライン(GNDL)の間に接続された
第2トランジスタ(TR2)とをさらに具備する。第1
トランジスタ(TR1)は第2ノード(N1)上の電圧
に応答して高電位電圧ライン(VDDL)上の高電位電
圧(VDD)を第1ノード(N1)側に選択的に伝送す
る。
FIG. 24 illustrates an embodiment of the voltage regulator (64) shown in FIG. 20 in detail. FIG.
In the voltage regulator (64), the high potential voltage line (V
DDL) and a first resistor (R1, R2) connected in series between a ground line (GNDL) and a first node (N
1) and a third voltage connected between the second voltage line (SVL).
A resistor (R3). First and second resistors (R1,
R2) divides the high-potential voltage (VDD) on the high-potential voltage line (VDDL) so that the divided voltage appears on the first node (N1). The third resistor (R3) limits the amount of current between the first node (N1) and the second voltage line (SVL). The voltage regulator (64) includes a high potential voltage line (VDDL), a first transistor (TR1) connected between the first and second nodes (N1, N2), a second resistor (R2), and a ground line ( And a second transistor (TR2) connected between the first and second transistors (GNDL). First
The transistor (TR1) selectively transmits the high potential voltage (VDD) on the high potential voltage line (VDDL) to the first node (N1) in response to the voltage on the second node (N1).

【0039】これを詳細に説明すると、第1トランジス
タ(TR1)は第2ノード(N2)上の電圧が臨界電圧
(即ち、0.7V)以下の時に起動されて第1ノード
(N1)上の電圧が高電位電圧レベルを維持する。第2
ノード(N2)上の電圧が臨界電圧以上である場合、第
1トランジスタ(TR1)はターンオフされて高電位電
圧ライン(VDDL)と第1ノード(N1)を開放させ
る。このために、第1トランジスタ(TR1)としては
P形ジョンショントランジスタが使用される。第2ノー
ド(N2)上の電圧は第4ノード(N4)に接続された
ベースを有する第3トランジスタ(TR3)によって変
化する。第3トランジスタ(TR3)は第4ノード(N
4)からのゲートスキャニングクロック(GSC)がハ
イ論理値を有する時に起動されて高電位電圧ライン(V
DDL)から第4抵抗(R4)、第2ノード(N2)、
第5抵抗(R5)、自分のコレクター及びエミッタを経
由して接地ライン(GNDL)に至る電流通路を形成す
る。この場合、第2ノード(N2)にはトランジスタ
(TR)の臨界電圧より低い電圧が現れる。これとは異
なって、第4ノード(N4)上のゲートスキャニングク
ロック(GSC)がロー論理を有する場合に第3トラン
ジスタ(TR3)はターンオフされて第2ノード(N
2)の電圧が高電位電圧レベルを維持する。一方、第2
トランジスタ(TR2)は第3ノード(N3)上の電圧
に応答して第2抵抗(R2)を接地ラインに選択的に接
続させる。この時、第2電圧ライン(SVL)上の高電
位ゲート電圧(Vgh)は第3抵抗(R3)、第1ノー
ド(N1)第2抵抗(R2)予備トランジスタ(TR
2)のコレクター及びエミッタを経由して接地ライン
(GNDL)側に放電される。
More specifically, the first transistor TR1 is activated when the voltage on the second node N2 is lower than the threshold voltage (ie, 0.7V), and the first transistor TR1 is turned on when the voltage on the first node N1 is lower than 0.7V. The voltage maintains the high potential voltage level. Second
When the voltage on the node (N2) is higher than the threshold voltage, the first transistor (TR1) is turned off to open the high potential voltage line (VDDL) and the first node (N1). For this purpose, a P-type junction transistor is used as the first transistor (TR1). The voltage on the second node (N2) is changed by a third transistor (TR3) having a base connected to the fourth node (N4). The third transistor (TR3) is connected to the fourth node (N
4) is activated when the gate scanning clock (GSC) from the high potential voltage line (V
DDL) to the fourth resistor (R4), the second node (N2),
A current path is formed to the ground line (GNDL) via the fifth resistor (R5), its own collector and emitter. In this case, a voltage lower than the threshold voltage of the transistor TR appears at the second node N2. Alternatively, when the gate scanning clock (GSC) on the fourth node (N4) has a low logic, the third transistor (TR3) is turned off and the second transistor (TR3) is turned off.
The voltage of 2) maintains the high potential voltage level. On the other hand, the second
The transistor TR2 selectively connects the second resistor R2 to the ground line in response to a voltage on the third node N3. At this time, the high potential gate voltage (Vgh) on the second voltage line (SVL) is equal to the third resistor (R3), the first node (N1), the second resistor (R2), and the spare transistor (TR).
It is discharged to the ground line (GNDL) side via the collector and the emitter of 2).

【0040】一方、第3ノード(N3)上の電圧が臨界
電圧より低い場合に、第2トランジスタ(TR2)はタ
ーンオフされて第2抵抗(R2)と接地ライン(GND
L)が開放される。このために、N形ジョンショントラ
ンジスタ(TR)が第2トランジスタ(TR)で使用さ
れる。第3ノード(N3)上の電圧は第4ノード(N
4)に接続されたベースを有する第4トランジスタ(T
R4)の動作状態によって変化する。第4トランジスタ
(TR4)は第4ノード(N4)からのゲートスキャニ
ングクロック(GSC)がハイ論理値を有する時に起動
されて第3ノード(N3)を接地ライン(GNDL)に
接続させる。これによって、第3ノード(N3)では接
地電圧(GND)が現れる。これとは異なって、第4ノ
ード(N4)上のゲートスキャニングクロック(GS
C)がハイ論理値を有する場合に第4トランジスタ(T
R4)はターンオフされて第3ノード(N3)と接地ラ
イン(GNDL)が開放される。
On the other hand, if the voltage on the third node N3 is lower than the threshold voltage, the second transistor TR2 is turned off, and the second resistor R2 and the ground line GND are turned off.
L) is released. For this purpose, an N-type junction transistor (TR) is used in the second transistor (TR). The voltage on the third node (N3) is
4) having a base connected to the fourth transistor (T)
It changes depending on the operation state of R4). The fourth transistor TR4 is activated when the gate scanning clock GSC from the fourth node N4 has a high logic value, and connects the third node N3 to the ground line GNDL. Accordingly, the ground voltage (GND) appears at the third node (N3). In contrast, the gate scanning clock (GS) on the fourth node (N4) is different.
C) has a high logic value, the fourth transistor (T
R4) is turned off, and the third node N3 and the ground line GNDL are opened.

【0041】この時、高電位電圧ライン(VDDL)上
の高電位電圧(VDD)が第6抵抗(R6)を経由して
第3ノード(N3)に充電される。従って、第3ノード
(N3)では高電位電圧(VDD)が現れる。結果的
に、第2ノード(N2)上の電圧と第3ノード(N3)
上の電圧が同一な形態で変化する。これら第2及び第3
ノード(N2、N3)上の電圧が同一な形態で変化する
ことで第1及び第2トランジスタ(TR1、TR2)が
相互補完的に駆動される。換言すれば、第1トランジス
タ(TR1)はゲートスキャニングクロック(GSC)
のハイの論理区間に、第2トランジスタ(TR2)はゲ
ートスキャニングクロック(GSC)のロー論理区間に
それぞれ起動される。これによって、第1ノード(N
2)及び第2電圧ライン(SVL)上の電圧はゲートス
キャニングクロック(GSC)のハイ論理区間では高電
位電圧(VDD)を、ゲートスキャニングクロック(G
SC)のロー論理区間では高電位電圧レベル(VDD)
から分圧された電圧レベルまで指数関数的に減少させ
る。この結果、第2電圧ライン(svl)には図18に
示した波形を有する高電位ゲート電圧(Vgh)が現れ
る。ゲートスキャニングクロック(GSC)はゲートク
ロックライン(GCL)から第7抵抗(R7)を経由し
て第4ノード(N4)に供給される。第7抵抗(R7)
はゲートクロックライン(GCL)から第4ノード(N
4)側に流れる電流を制限する。第2及び第3抵抗(R
2、R3)は第2トランジスタ(TR2)が起動された
時に図20に図示されたゲートライン(GL)上の寄生
容量(Cp)及び寄生抵抗(Rp)と共にゲートライン
(GL)上の電圧の放電速度を決定する。
At this time, the high potential voltage (VDD) on the high potential voltage line (VDDL) is charged to the third node (N3) via the sixth resistor (R6). Therefore, a high potential voltage (VDD) appears at the third node (N3). As a result, the voltage on the second node (N2) and the third node (N3)
The upper voltage varies in the same manner. These second and third
When the voltages on the nodes (N2, N3) change in the same manner, the first and second transistors (TR1, TR2) are driven complementarily. In other words, the first transistor (TR1) is connected to the gate scanning clock (GSC)
, The second transistor TR2 is activated during the low logic period of the gate scanning clock GSC. Thereby, the first node (N
2) and the voltage on the second voltage line (SVL) is a high potential voltage (VDD) during the high logic period of the gate scanning clock (GSC), and the gate scanning clock (G
SC) in the low logic section, the high potential voltage level (VDD)
Exponentially down to the divided voltage level. As a result, a high potential gate voltage (Vgh) having the waveform shown in FIG. 18 appears on the second voltage line (svl). The gate scanning clock (GSC) is supplied from the gate clock line (GCL) to the fourth node (N4) via the seventh resistor (R7). Seventh resistor (R7)
Is from the gate clock line (GCL) to the fourth node (N
4) Limit the current flowing to the side. The second and third resistors (R
2, R3) is the voltage of the voltage on the gate line (GL) together with the parasitic capacitance (Cp) and the parasitic resistance (Rp) on the gate line (GL) shown in FIG. 20 when the second transistor (TR2) is activated. Determine the discharge rate.

【0042】図25は本発明によるTAB形液晶表示装
置を概略的に図示する。図25のTAB形液晶表示装置
で、液晶パネル(30)は上部ガラス基板(30A)と
下部ガラス基板(30B)の間に密封された液晶層(3
0C)で構成される。この液晶パネル(30)はFPC
(Flexible Printed Circuit)フィルム(66)によ
ってPCB(Printed Circuit Board)モジュール
(68)に接続される。PCBモジュール(68)はP
CB(70)の上面に搭載された制御回路部(72)、
低電位及び高電位ゲート電圧発生器(40、42)を有
する。FPCフィルム(66)は下部ガラス基板(30
B)のペッド領域に接続された一段部とPCB(70)
の底面の縁に接続された他段部を有する。また、FPC
フィルム(66)の中間にはデータドライバ(32)及
び/またはゲートドライバ(34)が接地される。デー
タドライバ(32)及び/ゲートドライバ(34)はF
PCフィルム(66)によって液晶パネル(30)及び
PCBモジュール(68)に接続される。このようなF
PCフィルム(66)は液晶パネル(30)をデータド
ライバ(32)及び/またはゲートドライバ(34)に
電気的に連結する第1導電層パターン(67A)と、デ
ータドライバ(32)及び/またはゲートドライバ(3
4)をPCBモジュール(68)に電気的に連結する第
2導電層パターン(67B)を有する。これら第1及び
第2導電層パターン(67A、67B)は両端部が露出
されるように第1及び第2保護フィルム(69A、69
B)によって包まれる。
FIG. 25 schematically illustrates a TAB type liquid crystal display device according to the present invention. In the TAB type liquid crystal display device of FIG. 25, a liquid crystal panel (30) has a liquid crystal layer (3) sealed between an upper glass substrate (30A) and a lower glass substrate (30B).
0C). This liquid crystal panel (30) is an FPC
(Flexible Printed Circuit) film (66) connected to PCB (Printed Circuit Board) module (68). PCB module (68) is P
A control circuit unit (72) mounted on the upper surface of the CB (70),
It has low and high potential gate voltage generators (40, 42). The FPC film (66) has a lower glass substrate (30
B) One step connected to the pad area and PCB (70)
It has another step connected to the edge of the bottom surface of. Also, FPC
The data driver (32) and / or the gate driver (34) are grounded in the middle of the film (66). Data driver (32) and / or gate driver (34)
The liquid crystal panel (30) and the PCB module (68) are connected by the PC film (66). Such F
The PC film (66) includes a first conductive layer pattern (67A) for electrically connecting the liquid crystal panel (30) to the data driver (32) and / or the gate driver (34), and the data driver (32) and / or the gate. Driver (3
4) has a second conductive layer pattern (67B) for electrically connecting the second conductive layer to the PCB module (68). These first and second conductive layer patterns (67A, 67B) have the first and second protective films (69A, 69) exposed at both ends.
B) wrapped.

【0043】図26は本発明によるCOG(Chips On
Glass)形液晶表示装置を概略的に図示する。図26
のCOG形液晶表示装置は、上部ガラス基板(30A)
と下部ガラス基板(30B)の間に密封された液晶層
(30C)とを具備する。この液晶パネル(30)はF
PC(Flexible Printed Circuit)フィルム(66)
によってPCB(Printed Circuit Board)モジュー
ル(68)に接続される。PCBモジュール(68)は
PCB(70)の上面に搭載された制御回路部(7
2)、低電位及び高電位ゲート電圧発生器(40、4
2)を有する。また、下部ガラス基板(30B)のペッ
ド領域にはデータドライバ(32)及び/またはゲート
ドライバ(34)が載せられている。これらデータドラ
イバ(32)及び/ゲートドライバ(34)はFPCフ
ィルム(66)によって液晶パネル(30)及びPCB
モジュール(68)に接続される。FPCフィルム(6
6)はデータドライバ(32)及びゲートドライバ(3
4)が載せられたPCBモジュール(68)に接続させ
る。このために、FPCフィルム(66)は下部ガラス
基板(30B)のペッド領域に接続された一段部とPC
B(70)の底面の縁に接続された他段部を有する。こ
のようなFPCフィルム(66)はデータドライバ(3
2)及び/またはゲートドライバ(34)が搭載された
液晶パネル(30)とPCBモジュール(68)を電気
的に接続する導電層パターン(67)を有する。導電層
パターン(67)は端部が露出するように保護フィルム
(69)によって包まれる。
FIG. 26 shows a COG (Chips On) according to the present invention.
1 schematically illustrates a (Glass) type liquid crystal display device. FIG.
COG type liquid crystal display device has an upper glass substrate (30A)
And a liquid crystal layer (30C) sealed between the lower glass substrate (30B). This liquid crystal panel (30)
PC (Flexible Printed Circuit) film (66)
Connected to a PCB (Printed Circuit Board) module (68). The PCB module (68) includes a control circuit (7) mounted on the upper surface of the PCB (70).
2) low and high potential gate voltage generators (40, 4
2). The data driver (32) and / or the gate driver (34) are mounted on the pedestal area of the lower glass substrate (30B). These data driver (32) and / or gate driver (34) are connected to the liquid crystal panel (30) and the PCB by the FPC film (66).
Connected to module (68). FPC film (6
6) is a data driver (32) and a gate driver (3)
4) is connected to the PCB module (68) on which is mounted. To this end, the FPC film (66) is connected to the one-step portion connected to the pedestal area of the lower glass substrate (30B) by the PC.
It has another step connected to the edge of the bottom surface of B (70). Such an FPC film (66) is provided with a data driver (3).
2) and / or a conductive layer pattern (67) for electrically connecting the liquid crystal panel (30) on which the gate driver (34) is mounted and the PCB module (68). The conductive layer pattern (67) is wrapped by the protective film (69) so that the end is exposed.

【0044】本発明に開示された低電位ゲート電圧発生
器と高電位ゲート電圧発生器はPCBモジュールに位置
し、電圧制御器はLCDモジュール上に多様な形態で配
置させることができる。まず、電圧制御器がPCBモジ
ュールに配置されることができる。換言すれば、電圧制
御器、高電位ゲート電圧発生器及び低電位ゲート電圧発
生器すべてがPCBモジュール上に形成される。このよ
うな回路構造は図1に図示された通常のゲートドライバ
ICにしてゲートパルスの立下がり部をスムーズ(Smoo
th)にすることができる。従って、本発明の目的はゲー
トドライバICを変形せずに達成される。次に、電圧制
御器はゲートドライバIC内に載せられている。ゲート
ドライバIC内に載せられた電圧制御器は図18のよう
に高電位ゲート電圧発生器とバパーの間に接続してもよ
い。異なる方法で、ゲートドライバIC内に含まれた電
圧制御器は図5及び図21のように一つの高電位電圧発
生器と多数のバパーの間に接続してもよい。電圧制御器
を含むゲートドライバICはPCBは電圧制御器がPC
Bモジュール上に配置された場合に比べてLCDモジュ
ールの部品数を減少させることができ、更に部品のコス
トを低減することができる。
The low-potential gate voltage generator and the high-potential gate voltage generator disclosed in the present invention are located in the PCB module, and the voltage controller can be arranged in various forms on the LCD module. First, a voltage controller can be located on the PCB module. In other words, the voltage controller, the high-potential gate voltage generator and the low-potential gate voltage generator are all formed on the PCB module. Such a circuit structure is similar to that of the normal gate driver IC shown in FIG.
th). Therefore, the object of the present invention is achieved without modifying the gate driver IC. Next, the voltage controller is mounted in the gate driver IC. The voltage controller mounted in the gate driver IC may be connected between the high-potential gate voltage generator and the vapor as shown in FIG. In a different manner, the voltage controller included in the gate driver IC may be connected between one high-potential voltage generator and multiple bumpers as shown in FIGS. The gate driver IC including the voltage controller is PCB and the voltage controller is PC
The number of components of the LCD module can be reduced as compared with the case where the components are arranged on the B module, and the cost of components can be further reduced.

【0045】[0045]

【発明の効果】上述したように、本発明によるアクティ
ブマトリックス液晶表示装置は、ゲートドライバのレベ
ルシフトに高電位ゲート電圧を交流形態で供給すること
でスキャニング信号の立下がり部が線形、指数または階
段関数の中のいずれか一つの形態で変化する。これによ
って、本発明によるアクティブマトリックス液晶表示装
置ではフィードスルー電圧(ΔVp)を充分に抑圧し、
さらにフリッカ及び残像の発生を抑制する。さらに、本
発明によるアクティブマトリックス液晶表示装置では回
路構成が極めて簡素化される。
As described above, in the active matrix liquid crystal display device according to the present invention, the falling portion of the scanning signal is linear, exponential, or staircase by supplying a high potential gate voltage to the gate driver level shift in an AC form. It changes in any one of the functions. Thus, in the active matrix liquid crystal display device according to the present invention, the feedthrough voltage (ΔVp) is sufficiently suppressed,
Further, generation of flicker and afterimages is suppressed. Further, in the active matrix liquid crystal display device according to the present invention, the circuit configuration is extremely simplified.

【0046】また、本発明によるアクティブマトリック
ス液晶表示装置は、高電位ゲート電圧の立下がり部が立
上がり部より緩やかに変化することでゲートラインに供
給されるスキャニング信号の立下がり部が立上がり部よ
り緩やかに変化する。これによって、本発明によるアク
ティブマトリックス液晶表示装置では、フリッカ及び残
像が発生しなくなることは勿論であり、さらに応答速度
が早くなる。
In the active matrix liquid crystal display device according to the present invention, the falling portion of the high-potential gate voltage changes more gently than the rising portion, so that the falling portion of the scanning signal supplied to the gate line is more gradual than the rising portion. Changes to As a result, in the active matrix liquid crystal display device according to the present invention, it is needless to say that flicker and afterimages do not occur, and the response speed is further increased.

【0047】以上説明した内容を通して当業者であれば
本発明の技術思想を一脱しない範囲で多様な変更及び修
正が可能であることが分かる。従って、本発明の技術的
な範囲は明細書の詳細な説明に記載された内容に限らず
特許請求の範囲によって定めなければならない。
From the above description, it will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications can be made without departing from the technical idea of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention is not limited to the contents described in the detailed description of the specification, but must be defined by the claims.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 図1は通常の液晶表示装置を概略的に図示す
る図面である。
FIG. 1 is a diagram schematically illustrating a conventional liquid crystal display device.

【図2】 図2は立下がり部が緩やかに変化するスキャ
ニング信号の波形を図示する図面である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a waveform of a scanning signal whose falling portion changes gradually.

【図3】 図3は図2bに図示されたスキャニング信号
を利用する従来の液晶表示装置を図示する図面である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a conventional liquid crystal display device using a scanning signal illustrated in FIG. 2B.

【図4】 図4は通常の液晶表示装置の構造を図示する
図面である。
FIG. 4 is a view illustrating a structure of a general liquid crystal display device.

【図5】 図5は本発明による第1実施例によるアクテ
ィブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する図面
である。
FIG. 5 is a diagram schematically illustrating an active matrix liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention.

【図6】 図6は本発明による第2実施例によるアクテ
ィブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する図面
である。
FIG. 6 is a diagram schematically illustrating an active matrix liquid crystal display according to a second embodiment of the present invention.

【図7】 図7は図6に図示された重要部分に対する出
力波形図である。
FIG. 7 is an output waveform diagram for an important part shown in FIG. 6;

【図8】 図8は本発明による第3実施例によるアクテ
ィブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する図面
である。
FIG. 8 is a diagram schematically illustrating an active matrix liquid crystal display according to a third embodiment of the present invention.

【図9】 図9は図8に図示された重要部分に対する出
力波形図である。
FIG. 9 is an output waveform diagram for an important part shown in FIG. 8;

【図10】 図10は本発明による第4実施例によるア
クティブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する
図面である。
FIG. 10 is a diagram schematically illustrating an active matrix liquid crystal display according to a fourth embodiment of the present invention.

【図11】 図11は本発明による第5実施例によるア
クティブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する
図面である。
FIG. 11 is a diagram schematically illustrating an active matrix liquid crystal display according to a fifth embodiment of the present invention.

【図12】 図12は本発明の第1乃至第5実施例によ
る液晶表示装置のゲートライン及び信号ライン上でそれ
ぞれ現すスキャニング信号及びデータ電圧信号の波形図
である。
FIG. 12 is a waveform diagram of a scanning signal and a data voltage signal appearing on a gate line and a signal line of a liquid crystal display according to the first to fifth embodiments of the present invention, respectively.

【図13】 図13は本発明による第6実施例によるア
クティブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する
図面である。
FIG. 13 is a diagram schematically illustrating an active matrix liquid crystal display according to a sixth embodiment of the present invention.

【図14】 図14は図13に図示された重要部分に対
する出力波形図である。
FIG. 14 is an output waveform diagram for an important part shown in FIG.

【図15】 図15は図13に図示された液晶パネルの
ゲートライン及び信号ライン上で現すスキャニング信号
及びデータ電圧信号の波形図である。
FIG. 15 is a waveform diagram of a scanning signal and a data voltage signal appearing on a gate line and a signal line of the liquid crystal panel shown in FIG.

【図16】 図16は図13に図示された電圧調節器の
異なる実施例を図示する図面である。
FIG. 16 is a view illustrating another embodiment of the voltage regulator illustrated in FIG. 13;

【図17】 図17は図16に図示された電圧調節器の
入力及び出力波形図である。
FIG. 17 is an input and output waveform diagram of the voltage regulator shown in FIG. 16;

【図18】 図18は本発明による第7実施例によるア
クティブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する
図面である。
FIG. 18 is a diagram schematically illustrating an active matrix liquid crystal display according to a seventh embodiment of the present invention.

【図19】 図19は図18に図示された重要部分に対
する出力波形図である。
FIG. 19 is an output waveform diagram for an important part shown in FIG. 18;

【図20】 図20は図18に図示された液晶表示装置
の中一つのゲートラインを駆動するためのラインスキャ
ニング回路を図示する図面である。
20 is a diagram illustrating a line scanning circuit for driving one gate line in the liquid crystal display device illustrated in FIG. 18;

【図21】 図21は本発明による第8実施例によるア
クティブマトリックス液晶表示装置を概略的に図示する
図面である。
FIG. 21 is a view schematically illustrating an active matrix liquid crystal display according to an eighth embodiment of the present invention.

【図22】 図22は本発明aおよび従来のbアクティ
ブマトリックス液晶表示装置によるスキャニング信号の
波形図である。
FIG. 22 is a waveform diagram of a scanning signal according to the present invention a and a conventional b active matrix liquid crystal display device.

【図23】 図23は本発明aおよび従来bのアクティ
ブマトリックス液晶表示装置によってTFT(CMN)
が起動される時の電流変化を図示する図面である。
FIG. 23 shows a TFT (CMN) using an active matrix liquid crystal display device according to the present invention a and the conventional b).
5 is a diagram illustrating a change in current when the device is activated.

【図24】 図24は図21に図示された電圧調節器を
詳細に図示する図面である。
FIG. 24 is a diagram illustrating the voltage regulator shown in FIG. 21 in detail.

【図25】 図25は本発明によるタップ形液晶表示装
置を図示する図面である。
FIG. 25 is a view illustrating a tap-type liquid crystal display device according to the present invention.

【図26】 図26は本発明によるCOG形液晶表示装
置を図示する図面である。
FIG. 26 is a view illustrating a COG type liquid crystal display device according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10:液晶パネル 11、31:画素 12、32:データドライバ 14、34:ゲートド
ライバ 3、16、36:シフトレジスタ 11 8、38、62:レベルシフト 5、6、9、19:インバータ 20:スキャニングド
ライバセル 22:積分器 30A:上部ガラス基
板 30B:下部ガラス基板 30C:液晶層 36A:シフトレジスタセル 39、58:制御用ス
イッチ 40:低電位ゲート電圧発生器 42:高電位ゲート電
圧発生器 44、54:高電位電圧発生器 46、56、64:電
圧調節器 48:タイミング制御器 50:2接点制御用ス
イッチ 52:1接点制御用スイッチ 60:比較器 62A:レベルシフトセル 66:FPCフィルム 67、67A、67B:導電層パターン 68:PCBモジュール 69、69A、69
B:保護フィルム 70:PCB 72:制御回路部 SL、SL1乃至SLm:信号ライン GL、GL1乃至GLm:ゲートライン Clc:液晶セル CMN:薄膜トランジ
スタ(TFT) CL:制御ライン GCL:ゲートクロッ
クライン FVL:第1電圧ライン SVL:第2電圧ライ
ン Cst:補助容量 MP1乃至MPn、MPn+1乃至MP2n:PMOS
トランジスタ MN1乃至MNn:NMOSトランジスタ Rp、Rc:寄生抵抗 Cp、Cc:寄生容量 SCL:同期制御ライン DCL:データクロッ
クライン GVL:基底電圧ライン Q1、Q2:トランジ
スタ VR:可変抵抗 GNDL:接地ライン
10: Liquid crystal panel 11, 31: Pixel 12, 32: Data driver 14, 34: Gate driver 3, 16, 36: Shift register 118, 38, 62: Level shift 5, 6, 9, 19: Inverter 20: Scanning Driver cell 22: Integrator 30A: Upper glass substrate 30B: Lower glass substrate 30C: Liquid crystal layer 36A: Shift register cell 39, 58: Control switch 40: Low potential gate voltage generator 42: High potential gate voltage generator 44, 54: high-potential voltage generator 46, 56, 64: voltage regulator 48: timing controller 50: switch for 2-contact control 52: switch for 1-contact control 60: comparator 62A: level shift cell 66: FPC film 67, 67A, 67B: Conductive layer pattern 68: PCB module 69, 69A, 69
B: Protective film 70: PCB 72: Control circuit section SL, SL1 to SLm: Signal line GL, GL1 to GLm: Gate line Clc: Liquid crystal cell CMN: Thin film transistor (TFT) CL: Control line GCL: Gate clock line FVL: First One voltage line SVL: Second voltage line Cst: Auxiliary capacitance MP1 to MPn, MPn + 1 to MP2n: PMOS
Transistors MN1 to MNn: NMOS transistors Rp, Rc: parasitic resistance Cp, Cc: parasitic capacitance SCL: synchronization control line DCL: data clock line GVL: base voltage line Q1, Q2: transistor VR: variable resistance GNDL: ground line

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ゲート電極及び第1電極と画素電極に接続
された第2電極を有するスイッチトランジスタをそれぞ
れ含むこととともにマトリックス形態で配列された多数
の画素と;前記多数のトランジスタの中の一つに対応す
る前記第1電極にそれぞれ接続された多数のデータ信号
ラインと;前記多数のトランジスタの中の一つに対応す
る前記ゲート電極に接続された多数のゲート信号ライン
と;前記多数のゲート信号ラインと接続されて、第1及
び第2電圧を入力して、前記ゲート信号ラインが順次的
に駆動するように前記第1及び第2電圧の中のいずれか
の一つを出力するゲートドライバとを具備する液晶表示
装置において;前記第1電圧が連続されたゲート信号ラ
インが活性化される前に変化することを特徴とするアク
ティブマトリックス液晶表示装置。
A plurality of pixels arranged in a matrix and including switch transistors each having a gate electrode and a second electrode connected to the first electrode and the pixel electrode; and one of the plurality of transistors. A plurality of data signal lines respectively connected to the first electrode corresponding to the plurality of transistors; a plurality of gate signal lines connected to the gate electrode corresponding to one of the plurality of transistors; A gate driver connected to a line, receiving first and second voltages, and outputting one of the first and second voltages so that the gate signal lines are sequentially driven; An active matrix, wherein the first voltage changes before the continuous gate signal line is activated. The liquid crystal display device.
【請求項2】前記第1電圧は前記連続されたゲート信号
ラインが活性化される前に降下することを特徴とする請
求項1記載のアクティブマトリックス液晶表示装置。
2. The active matrix liquid crystal display according to claim 1, wherein the first voltage drops before the continuous gate signal line is activated.
【請求項3】前記第1電圧は指数関数関数的に降下する
ことを特徴とする請求項1記載のアクティブマトリック
ス液晶表示装置。
3. The active matrix liquid crystal display device according to claim 1, wherein said first voltage drops exponentially.
【請求項4】前記第1電圧が線形的に降下することを特
徴とする請求項1記載のアクティブマトリックス液晶表
示装置。
4. The active matrix liquid crystal display device according to claim 1, wherein said first voltage drops linearly.
【請求項5】前記第1電圧が階段状に降下することを特
徴とする請求項1記載のアクティブマトリックス液晶表
示装置。
5. The active matrix liquid crystal display device according to claim 1, wherein said first voltage drops stepwise.
【請求項6】前記第1電圧の最小値が前記第2電圧の最
大値より高いことを特徴とする請求項1記載のアクティ
ブマトリックス液晶表示装置。
6. The active matrix liquid crystal display device according to claim 1, wherein a minimum value of said first voltage is higher than a maximum value of said second voltage.
【請求項7】前記ゲートドライバは、前記ゲートライン
それぞれに供給されるスキャニング信号を発生するシフ
トレジスタと、前記第1及び第2電圧を利用して前記シ
フトレジスタからのスキャニング信号それぞれの電圧レ
ベルをシフトさせるレベルシフトと、前記レベルシフト
に供給される第1電圧を前記スキャニング信号が使用不
可能にされる前に変化させる電圧調節器とを具備するこ
とを特徴とする請求項1記載のアクティブマトリックス
液晶表示装置。
7. The gate driver includes: a shift register that generates a scanning signal supplied to each of the gate lines; and a voltage level of each of the scanning signals from the shift register using the first and second voltages. 2. The active matrix according to claim 1, further comprising a level shifter for shifting, and a voltage regulator for changing a first voltage supplied to the level shifter before the scanning signal is disabled. Liquid crystal display.
【請求項8】前記電圧調節器は、前記スキャニング信号
が使用不可能にされる前に前記レベルシフトに供給され
る前記第1電圧を遮断するためのスイッチと、前記スイ
ッチによって前記スキャニング信号が遮断される間前記
レベルシフトに提供される放電通路とを具備することを
特徴とする請求項7記載のアクティブマトリックス液晶
表示装置。
8. The voltage regulator includes a switch for cutting off the first voltage supplied to the level shift before the scanning signal is disabled, and the scanning signal is cut off by the switch. 8. The active matrix liquid crystal display device according to claim 7, further comprising: a discharge path provided to the level shift during the operation.
【請求項9】前記スイッチが前記シフトレジスタととも
にゲートスキャンクロックに応答することを特徴とする
請求項8記載のアクティブマトリックス液晶表示装置。
9. The active matrix liquid crystal display device according to claim 8, wherein said switch responds to a gate scan clock together with said shift register.
【請求項10】前記スイッチを制御するためのタイミン
グ制御器とを追加で具備することを特徴とする請求項8
記載のアクティブマトリックス液晶表示装置。
10. The apparatus according to claim 8, further comprising a timing controller for controlling said switch.
An active matrix liquid crystal display device as described in the above.
【請求項11】前記電圧調節器が、第1電圧を入力する
ための入力端子と、前記入力端子と前記レベルシフトの
入力端子の間に接続された第1抵抗と、前記レベルシフ
トの入力端子と基底電圧ラインの間に直列接続された第
2抵抗及び第1制御用のスイッチと、前記第1抵抗と並
列接続されて前記第1制御用のスイッチと相互補完的に
駆動される第2制御用のスイッチとを具備することを特
徴とする請求項7記載のアクティブマトリックス液晶表
示装置。
11. An input terminal for inputting a first voltage, a first resistor connected between the input terminal and the input terminal for the level shift, and an input terminal for the level shift. A second resistor and a first control switch connected in series between the first resistor and a ground voltage line; and a second control connected in parallel with the first resistor and driven complementarily to the first control switch. 8. An active matrix liquid crystal display device according to claim 7, further comprising a switch for use in said active matrix liquid crystal display device.
【請求項12】前記シフトレジスタ及び前記レベルシフ
トが一つの集積回路のチップで製作されたことを特徴と
する請求項7記載のアクティブマトリックス液晶表示装
置。
12. The active matrix liquid crystal display device according to claim 7, wherein said shift register and said level shift are manufactured by one integrated circuit chip.
【請求項13】前記シフトレジスタ、前記レベルシフト
及び前記電圧調節器が一つの集積回路のチップで製作さ
れたことを特徴とする請求項7記載のアクティブマトリ
ックス液晶表示装置。
13. The active matrix liquid crystal display device according to claim 7, wherein said shift register, said level shifter, and said voltage regulator are manufactured on one integrated circuit chip.
【請求項14】ゲートライン及び信号ラインとの交差点
に位置することと併せて前記ゲートライン及び前記信号
ラインに接続された薄膜トランジスタを有する画素と、
前記ゲートラインに接続されることと併せてシフトレジ
スタを有するゲートドライバとを具備する液晶表示装置
を駆動する方法において、第1電圧と周期的に変化する
第2電圧を入力する段階と;スイッチ素子を経由して前
記ゲートラインに前記第2電圧を供給する段階と;前記
スイッチを経由して前記ゲートラインに前記第1電圧を
供給する段階を含めて;前記スイッチ素子が前記シフト
レジスタによって制御され、併せて第2電圧の最小値が
前記第1電圧の最大値より高いことを特徴とするアクテ
ィブマトリックス液晶表示装置の駆動方法。
14. A pixel having a thin film transistor connected to the gate line and the signal line in addition to being located at an intersection of the gate line and the signal line;
A method of driving a liquid crystal display device including a gate driver having a shift register in addition to being connected to the gate line, inputting a second voltage that changes periodically with a first voltage; Supplying the second voltage to the gate line via the switch; supplying the first voltage to the gate line via the switch; and controlling the switch element by the shift register. And a driving method of the active matrix liquid crystal display device, wherein a minimum value of the second voltage is higher than a maximum value of the first voltage.
【請求項15】前記第1電圧は前記ゲートラインに接続
された前記薄膜トランジスタが起動される期間の間前記
ゲートラインに供給されることを特徴とする請求項14
記載のアクティブマトリックス液晶表示装置の駆動方
法。
15. The device of claim 14, wherein the first voltage is supplied to the gate line during a period in which the thin film transistor connected to the gate line is activated.
The driving method of the active matrix liquid crystal display device described in the above.
【請求項16】前記シフトレジスタはロジック電圧レベ
ルに該当する駆動電圧で動作することを特徴とする請求
項14記載のアクティブマトリックス液晶表示装置の駆
動方法。
16. The method of claim 14, wherein the shift register operates at a driving voltage corresponding to a logic voltage level.
JP26476299A 1998-09-19 1999-09-20 Active matrix liquid crystal display Expired - Lifetime JP4259691B2 (en)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR19980038842 1998-09-19
KR1019990029144A KR100700415B1 (en) 1998-09-19 1999-07-19 Active Matrix Liquid Crystal Display
KR1999-29144 1999-07-19
KR1998-38842 1999-07-19

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007168308A Division JP4764856B2 (en) 1998-09-19 2007-06-27 Active matrix liquid crystal display

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000137247A true JP2000137247A (en) 2000-05-16
JP4259691B2 JP4259691B2 (en) 2009-04-30

Family

ID=26634133

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26476299A Expired - Lifetime JP4259691B2 (en) 1998-09-19 1999-09-20 Active matrix liquid crystal display
JP2007168308A Expired - Lifetime JP4764856B2 (en) 1998-09-19 2007-06-27 Active matrix liquid crystal display

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007168308A Expired - Lifetime JP4764856B2 (en) 1998-09-19 2007-06-27 Active matrix liquid crystal display

Country Status (5)

Country Link
JP (2) JP4259691B2 (en)
KR (1) KR100700415B1 (en)
DE (1) DE19944724B4 (en)
FR (1) FR2783629B1 (en)
GB (1) GB2341714B (en)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020057039A (en) * 2000-12-30 2002-07-11 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 Liquid crystal display device and driving method thereof
JP2004110036A (en) * 2002-09-17 2004-04-08 Samsung Electronics Co Ltd Liquid crystal display and its driving method
JP2004341353A (en) * 2003-05-16 2004-12-02 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd Active matrix type display device
JP2006126781A (en) * 2004-10-01 2006-05-18 Rohm Co Ltd Power supply method, power source circuit, display device, and portable equipment
JP2007052291A (en) * 2005-08-18 2007-03-01 Sony Corp Display device
JP2007199721A (en) * 2006-01-26 2007-08-09 Samsung Electronics Co Ltd Driving apparatus for display device and display device having same
US7304622B2 (en) 2002-12-27 2007-12-04 Sanyo Electric Co., Ltd. Gate driver for an active matrix liquid crystal display device
JP2008129576A (en) * 2006-11-23 2008-06-05 Lg Phillips Lcd Co Ltd Liquid crystal display device and driving method thereof
CN100412630C (en) * 2002-07-11 2008-08-20 精工爱普生株式会社 Electrooptical apparatus, driving device and method for electrooptical apparatus, and electronic equipment
JP2008197279A (en) * 2007-02-09 2008-08-28 Eastman Kodak Co Active matrix display device
JP2010282078A (en) * 2009-06-05 2010-12-16 Fujitsu Semiconductor Ltd Voltage adjustment circuit and display device driving circuit
US8179385B2 (en) 2002-09-17 2012-05-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal display
US8411006B2 (en) 2005-11-04 2013-04-02 Sharp Kabushiki Kaisha Display device including scan signal line driving circuits connected via signal wiring

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001272654A (en) 2000-03-28 2001-10-05 Sanyo Electric Co Ltd Active matrix type liquid crystal display device
KR100799375B1 (en) * 2001-10-10 2008-01-31 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Liquid crystal display device
US7050036B2 (en) * 2001-12-12 2006-05-23 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Shift register with a built in level shifter
KR100864921B1 (en) 2002-01-14 2008-10-22 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus and method for transfering data
JP3659250B2 (en) 2002-07-11 2005-06-15 セイコーエプソン株式会社 Electro-optical device, driving device for electro-optical device, driving method for electro-optical device, and electronic apparatus
KR100898787B1 (en) * 2002-11-11 2009-05-20 엘지디스플레이 주식회사 Liquid crystal display and driving method thereof
KR100922788B1 (en) * 2003-02-19 2009-10-21 엘지디스플레이 주식회사 Liquid Crystal Display and Driving Method Thereof
TWI251183B (en) * 2003-05-16 2006-03-11 Toshiba Matsushita Display Tec Active matrix display device
KR100969625B1 (en) * 2003-10-07 2010-07-14 엘지디스플레이 주식회사 Scan voltage generation apparatus and liquid crystal display using the same
KR101007684B1 (en) * 2003-12-11 2011-01-13 엘지디스플레이 주식회사 Liquid crystal display and driving method thereof
JP4297103B2 (en) 2005-02-17 2009-07-15 セイコーエプソン株式会社 ELECTRO-OPTICAL DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND ELECTRONIC DEVICE
KR101146382B1 (en) 2005-06-28 2012-05-17 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus And Method For Controlling Gate Voltage Of Liquid Crystal Display
KR101232051B1 (en) * 2006-06-29 2013-02-12 엘지디스플레이 주식회사 Circuit for generating gate pulse modulation signal
KR101289943B1 (en) * 2006-12-29 2013-07-26 엘지디스플레이 주식회사 Liquid crystal display device and driving method thereof
CN101312016B (en) * 2007-05-22 2010-05-26 北京京东方光电科技有限公司 Multilevel electrical level drive apparatus
KR101605435B1 (en) 2009-12-14 2016-03-23 삼성디스플레이 주식회사 Display panel
KR101117738B1 (en) 2010-03-10 2012-02-27 삼성모바일디스플레이주식회사 Display device
US8519934B2 (en) * 2010-04-09 2013-08-27 Au Optronics Corporation Linear control output for gate driver
US9466252B2 (en) * 2013-09-10 2016-10-11 Innolux Corporation Partial scanning gate driver and liquid crystal display using the same
KR102175790B1 (en) * 2014-06-30 2020-11-09 엘지디스플레이 주식회사 Driving circuit for liquid crystal display device and method for driving the same
DE202014007117U1 (en) 2014-09-05 2015-12-09 Oerlikon Leybold Vacuum Gmbh claw pump

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4020979B2 (en) * 1992-05-14 2007-12-12 セイコーエプソン株式会社 Liquid crystal display element drive circuit
GB2213304A (en) * 1987-12-07 1989-08-09 Philips Electronic Associated Active matrix address display systems
JPH01219827A (en) * 1988-02-29 1989-09-01 Toshiba Corp Active matrix type liquid crystal display device
JPH02272490A (en) * 1989-04-14 1990-11-07 Hitachi Ltd Liquid crystal display device and power source unit for liquid crystal display device
JPH02302723A (en) * 1989-05-17 1990-12-14 Casio Comput Co Ltd Driving system for liquid crystal display device
JP3339696B2 (en) * 1991-02-20 2002-10-28 株式会社東芝 Liquid crystal display
TW200572B (en) * 1991-03-20 1993-02-21 Seiko Epson Corp
JPH06180564A (en) * 1992-05-14 1994-06-28 Toshiba Corp Liquid crystal display device
JPH063647A (en) * 1992-06-18 1994-01-14 Sony Corp Drive method for active matrix type liquid crystal display device
JPH06110035A (en) * 1992-09-28 1994-04-22 Seiko Epson Corp Driving method for liquid crystal display device
JPH07140441A (en) * 1993-06-25 1995-06-02 Hosiden Corp Method for driving active matrix liquid crystal display element
JPH07134572A (en) * 1993-11-11 1995-05-23 Nec Corp Driving circuit for active matrix liquid crystal display device
JP2894229B2 (en) * 1995-01-13 1999-05-24 株式会社デンソー Matrix type liquid crystal display
JPH09171170A (en) * 1995-12-20 1997-06-30 Denso Corp Matrix type liquid crystal display device
JPH1184342A (en) * 1997-09-04 1999-03-26 Sharp Corp Liquid crystal display device and driving method therefor

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020057039A (en) * 2000-12-30 2002-07-11 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 Liquid crystal display device and driving method thereof
CN100412630C (en) * 2002-07-11 2008-08-20 精工爱普生株式会社 Electrooptical apparatus, driving device and method for electrooptical apparatus, and electronic equipment
US8179385B2 (en) 2002-09-17 2012-05-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal display
JP4644421B2 (en) * 2002-09-17 2011-03-02 三星電子株式会社 Liquid crystal display device and driving method thereof
JP2004110036A (en) * 2002-09-17 2004-04-08 Samsung Electronics Co Ltd Liquid crystal display and its driving method
US7304622B2 (en) 2002-12-27 2007-12-04 Sanyo Electric Co., Ltd. Gate driver for an active matrix liquid crystal display device
JP2004341353A (en) * 2003-05-16 2004-12-02 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd Active matrix type display device
JP2006126781A (en) * 2004-10-01 2006-05-18 Rohm Co Ltd Power supply method, power source circuit, display device, and portable equipment
JP2007052291A (en) * 2005-08-18 2007-03-01 Sony Corp Display device
US8411006B2 (en) 2005-11-04 2013-04-02 Sharp Kabushiki Kaisha Display device including scan signal line driving circuits connected via signal wiring
JP2007199721A (en) * 2006-01-26 2007-08-09 Samsung Electronics Co Ltd Driving apparatus for display device and display device having same
US8184079B2 (en) 2006-01-26 2012-05-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Display device having reduced flicker
JP2008129576A (en) * 2006-11-23 2008-06-05 Lg Phillips Lcd Co Ltd Liquid crystal display device and driving method thereof
JP2008197279A (en) * 2007-02-09 2008-08-28 Eastman Kodak Co Active matrix display device
JP2010282078A (en) * 2009-06-05 2010-12-16 Fujitsu Semiconductor Ltd Voltage adjustment circuit and display device driving circuit
US8593447B2 (en) 2009-06-05 2013-11-26 Spansion Llc Voltage adjustment circuit and display device driving circuit
US9846321B2 (en) 2009-06-05 2017-12-19 Cypress Semiconductor Corporation Voltage adjustment circuit and display device driving circuit

Also Published As

Publication number Publication date
GB2341714B (en) 2000-11-29
JP2007304613A (en) 2007-11-22
KR20000022668A (en) 2000-04-25
GB9922112D0 (en) 1999-11-17
JP4259691B2 (en) 2009-04-30
JP4764856B2 (en) 2011-09-07
FR2783629B1 (en) 2004-03-05
DE19944724A1 (en) 2000-08-03
DE19944724B4 (en) 2012-07-26
KR100700415B1 (en) 2007-03-27
GB2341714A (en) 2000-03-22
FR2783629A1 (en) 2000-03-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4764856B2 (en) Active matrix liquid crystal display
US6421038B1 (en) Active matrix liquid crystal display
US7586477B2 (en) Active matrix liquid crystal display
US20060038764A1 (en) Source driver, electro-optic device, and driving method
JP4632113B2 (en) Driving voltage generating circuit and method for liquid crystal display device
US8558823B2 (en) Liquid crystal display and gate modulation method thereof
JP4510530B2 (en) Liquid crystal display device and driving method thereof
KR20030015033A (en) Power of sequence for apparatus and driving for method thereof
JP2006338139A (en) Reference clock generation circuit, power supply circuit, driving circuit and electrooptical device
KR20080011896A (en) Gate on voltage generation circuit and gate off voltage generation circuit and liquid crystal display having the same
JP4644421B2 (en) Liquid crystal display device and driving method thereof
JP2005037834A (en) Power supply circuit, display driver, and voltage supply method
KR20050039185A (en) Liquid crystal display and driving method thereof
KR20080056812A (en) Liquid crystal display
US11721270B2 (en) Gate driver and display device including the same
KR100188109B1 (en) Off voltage generating circuit to be controlled off voltage level
US8354985B2 (en) Driving apparatus, liquid crystal display having the same and driving method thereof
KR20010057819A (en) Circuit for Compensating a Charging Characteristic of Liquid Crystal Panel
KR0180271B1 (en) Liquid crystal display device
KR20070109165A (en) Liquid crystal display and driving method thereof
JP2001272959A (en) Liquid crystal display device
KR100421486B1 (en) Gate high voltage generation apparatus
KR101234389B1 (en) Apparatus and method for providing power of liquid crystal display
CN116758871A (en) Driving method and driving circuit thereof
KR100604268B1 (en) Active Matrix Liquid Crystal Display And Driving Method Thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040602

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060607

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060711

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20061011

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20061016

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061221

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070227

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070528

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20070703

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20071005

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090203

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120220

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4259691

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130220

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140220

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term