JP2000133940A - Multilayer printed wiring board - Google Patents

Multilayer printed wiring board

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JP2000133940A
JP2000133940A JP33187899A JP33187899A JP2000133940A JP 2000133940 A JP2000133940 A JP 2000133940A JP 33187899 A JP33187899 A JP 33187899A JP 33187899 A JP33187899 A JP 33187899A JP 2000133940 A JP2000133940 A JP 2000133940A
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JP
Japan
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layer
conductor layer
conductor
wiring board
printed wiring
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Application number
JP33187899A
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Japanese (ja)
Inventor
Motoo Asai
元雄 浅井
Yoji Mori
要二 森
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Publication date
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayer printed wiring board, where a conductor layer and an interlayer resin insulating layer are prevented from separating from each other, and the interlayer resin insulating layer is protected against cracking under conditions such as heat cycles, high temperature, high pressure, and high humidity. SOLUTION: A latticed conductor layer where a roughened layer 5 is formed on a part of its surface is formed on the board of a multilayer printed wiring board. Therefore, the conductor layer is brought into close contact with the interlayer resin insulating layer through the intermediary of the roughened layer 5. Furthermore, an electroplating film is formed on the outer layer of the latticed conductor layer, and a non-electroplating film is formed in the inner layer of the latticed conductor layer. Therefore, the roughened layer on the surface of the conductor layer gets into the interlayer resin insulating layer, and an electroplating film follows the interlayer resin insulating layer even if the interlayer resin insulating layer expands or shrinks attendant on surrounding conditions such as heat cycles, moisture absorption or dryness. Therefore, the conductor layer is prevented from separating from the interlayer insulating film, and the interlayer resin insulating layer is protected against cracking.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
板に関し、特には層間樹脂絶縁層との剥離がなく、また
層間樹脂絶縁層のクラックを抑制できる多層プリント配
線板に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board, and more particularly to a multilayer printed wiring board which does not peel off from an interlayer resin insulating layer and can suppress cracks in the interlayer resin insulating layer.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、多層配線基板の高密度化という要
請から、いわゆるビルドアップ多層配線基板が注目され
ている。このビルドアップ多層配線基板は、例えば特公
平4−55555 号公報に開示されているような方法により
製造される。即ち、コア基板上に、感光性の無電解めっ
き用接着剤からなる絶縁材を塗布し、これを乾燥したの
ち露光現像することにより、バイアホール用開口を有す
る層間絶縁材層を形成する。次いで、この層間絶縁材層
の表面を酸化剤等による処理にて粗化したのち、その粗
化面にめっきレジストを設け、その後、レジスト非形成
部分に無電解めっきを施してバイアホールを含む導体回
路パターンを形成する。そして、このような工程を複数
回繰り返すことにより、多層化したビルドアップ配線基
板が得られるのである。
2. Description of the Related Art In recent years, so-called build-up multilayer wiring boards have been receiving attention due to a demand for higher density of the multilayer wiring boards. This build-up multilayer wiring board is manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Publication No. 4-55555. That is, an insulating material made of a photosensitive adhesive for electroless plating is applied on the core substrate, dried, exposed and developed to form an interlayer insulating material layer having a via hole opening. Next, after roughening the surface of the interlayer insulating material layer by treatment with an oxidizing agent or the like, a plating resist is provided on the roughened surface, and then electroless plating is performed on a portion where no resist is formed, thereby forming a conductor including via holes. Form a circuit pattern. By repeating such a process a plurality of times, a multilayered build-up wiring board can be obtained.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな多層プリント配線板では、コア基材表面や内層に電
源層あるいはグランド層として広い面積をもつ導体層を
形成しておき、この導体層と表面の半田パッドを配線パ
ターンおよびバイアホールにて接続することが一般的な
設計方法であった。
However, in such a multilayer printed wiring board, a conductor layer having a large area as a power supply layer or a ground layer is formed on the surface or inner layer of the core base material, and the conductor layer and the surface of the conductor layer have a large area. It has been a general design method to connect the solder pads through a wiring pattern and via holes.

【0004】ところが、内層に広い面積をもつ導体層を
形成すると、加熱乾燥時に層間樹脂絶縁層中の残留溶剤
が揮発して導体層を押上げて剥離を生じたりする。そこ
で、出願人らは先に特願平7−150457号として電
源層あるいはグランド層を格子状の導体層とすることに
よりこのような剥離を防止することを提案した。
However, when a conductor layer having a large area is formed in the inner layer, the residual solvent in the interlayer resin insulation layer volatilizes during heating and drying, and the conductor layer is pushed up to cause peeling. The applicants have previously proposed in Japanese Patent Application No. Hei 7-150457 that the power supply layer or the ground layer is formed of a grid-like conductor layer to prevent such separation.

【0005】しかしながら、電源層あるいはグランド層
を格子状の導体層としても、導体層の面積が信号層に比
べて大きく、層間樹脂絶縁層との密着性が低いため、ヒ
ートサイクル条件や高温、高圧、多湿条件で導体層と層
間樹脂絶縁層との間で剥離が生じたり、導体層と層間樹
脂絶縁層の熱膨張率の相違により層間樹脂絶縁層にクラ
ックが発生したりするという問題が発生した。
However, even when the power supply layer or the ground layer is a grid-like conductor layer, the conductor layer has a larger area than the signal layer and has low adhesion to the interlayer resin insulation layer. In addition, there is a problem that peeling occurs between the conductor layer and the interlayer resin insulation layer under humid conditions, and cracks occur in the interlayer resin insulation layer due to a difference in thermal expansion coefficient between the conductor layer and the interlayer resin insulation layer. .

【0006】本願発明の目的は、このようなヒートサイ
クル条件や高温、高圧、多湿条件で導体層と層間樹脂絶
縁層との剥離および層間樹脂絶縁層のクラックを防止す
ることにある。
An object of the present invention is to prevent peeling of a conductive layer from an interlayer resin insulating layer and cracking of the interlayer resin insulating layer under such heat cycle conditions, high temperature, high pressure and high humidity conditions.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本願発明は、「基板上に
格子状の導体層が形成され、該導体層上には層間絶縁層
を介して導体回路が形成されてなる多層プリント配線板
において、前記格子状の導体層は、表面の少なくとも一
部に粗化層が形成され、かつ前記格子状の導体層は無電
解めっき膜および電解めっき膜からなることを特徴とす
る多層プリント配線板」である。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a multilayer printed wiring board having a grid-like conductor layer formed on a substrate and a conductor circuit formed on the conductor layer via an interlayer insulating layer. A multilayer printed wiring board, characterized in that a roughened layer is formed on at least a part of the surface of the lattice-shaped conductor layer, and the lattice-shaped conductor layer comprises an electroless plating film and an electrolytic plating film. It is.

【0008】格子状の導体層は、電源層あるいはグラン
ド層として作用するとともに、この導体層上の表面の少
なくとも一部に粗化層が形成されており、導体層は粗化
層を介して層間樹脂絶縁層と密着する。このため、ヒー
トサイクル条件や高温、高圧、高湿度条件でも導体層と
層間樹脂絶縁層との剥離が生じない。
The lattice-shaped conductor layer functions as a power supply layer or a ground layer, and a roughened layer is formed on at least a part of the surface of the conductor layer. Adheres closely to resin insulation layer. Therefore, the conductor layer does not peel off from the interlayer resin insulating layer even under heat cycle conditions, high temperature, high pressure, and high humidity conditions.

【0009】特に、格子状の導体層の側面に粗化層を形
成すると導体層と層間樹脂絶縁層の境界で両者の熱膨張
率差に起因して発生するクラックを抑制することができ
る。また、格子状の導体層は、電源層あるいはグランド
層として作用するため、バイアホールが接続するが、本
願発明では、格子状の導体層表面の粗化層が形成されて
いるため、バイアホールとの密着性に優れる。
In particular, when a roughened layer is formed on the side surface of the lattice-shaped conductor layer, cracks generated at the boundary between the conductor layer and the interlayer resin insulation layer due to the difference in thermal expansion coefficient between the two can be suppressed. In addition, since the grid-like conductor layer acts as a power supply layer or a ground layer, a via hole is connected. However, in the present invention, the roughened layer on the grid-like conductor layer surface is formed. Excellent adhesion.

【0010】また、格子状の導体層としたのは、面状の
導体層とすると導体層が形成される樹脂絶縁層中の残留
溶剤が加熱乾燥中に揮発して導体層を押し上げたり、あ
るいはめっき被膜のもつ応力により面状導体層が膨れる
からである。格子状の場合、導体層が形成されていない
部分が存在しており、この導体層非形成部分から樹脂絶
縁層中の残留溶剤を除去でき、まためっき被膜の応力を
分散させることができるため、導体層に膨れがない。
[0010] Further, the grid-like conductor layer is formed as follows. If the conductor layer is a planar conductor layer, the solvent remaining in the resin insulating layer on which the conductor layer is formed volatilizes during heating and drying, and the conductor layer is pushed up. This is because the planar conductor layer swells due to the stress of the plating film. In the case of the lattice shape, there is a portion where the conductor layer is not formed, and the residual solvent in the resin insulating layer can be removed from the portion where the conductor layer is not formed, and the stress of the plating film can be dispersed. There is no blister in the conductor layer.

【0011】本願発明では、格子状の導体層は無電解め
っき膜および電解めっき膜からなることが必要である。
前記電解めっき膜は、より外層側に、無電解めっき膜
は、より内層側に形成されている(図16)。
In the present invention, it is necessary that the lattice-shaped conductor layer comprises an electroless plating film and an electrolytic plating film.
The electrolytic plating film is formed on the outer layer side, and the electroless plating film is formed on the inner layer side (FIG. 16).

【0012】導体層表面の粗化層が層間樹脂絶縁層に食
い込み、強固に密着するともに、ヒートサイクル時や吸
湿、乾燥により層間樹脂絶縁層が膨張、収縮しても柔ら
かい電解めっき膜が追従するため、ヒートサイクルや吸
湿、乾燥により層間樹脂絶縁層と導体層に剥離が発生せ
ず、また層間樹脂絶縁層にクラックが生じないのであ
る。
The roughened layer on the surface of the conductive layer bites into the interlayer resin insulation layer and firmly adheres thereto, and the soft electrolytic plating film follows even if the interlayer resin insulation layer expands and contracts due to heat cycle, moisture absorption and drying. Therefore, peeling does not occur between the interlayer resin insulating layer and the conductor layer due to heat cycle, moisture absorption, and drying, and no crack occurs in the interlayer resin insulating layer.

【0013】また、比較的硬い無電解めっき膜が絶縁層
側に形成されており、絶縁層との強固に密着する。この
密着は、特に樹脂絶縁層に後述するような粗化面が形成
されている場合には、顕著である。粗化面に硬いめっき
膜がくい込むことにより、ひきはがしの力が加わった場
合でも破壊が金属側で生じにくいからである。
In addition, a relatively hard electroless plating film is formed on the insulating layer side, and firmly adheres to the insulating layer. This adhesion is remarkable especially when a roughened surface as described later is formed on the resin insulating layer. The reason is that the hard plating film penetrates the roughened surface, so that even when a peeling force is applied, destruction hardly occurs on the metal side.

【0014】前記無電解めっき膜の厚さは、1〜5μm
がよい。厚すぎると層間樹脂絶縁層との追従性が低下
し、逆に薄すぎるとピール強度の低下を招き、また電解
めっきを施す場合、抵抗値が大きくなり、めっき膜の厚
さにバラツキが発生してしまうからである。
The thickness of the electroless plating film is 1 to 5 μm.
Is good. If it is too thick, the ability to follow the interlayer resin insulation layer will be reduced, and if it is too thin, the peel strength will decrease.If electrolytic plating is performed, the resistance will increase, and the thickness of the plating film will vary. It is because.

【0015】また、前記電解めっき膜の厚さは、10〜
20μmがよい。厚すぎるとピール強度の低下を招き、
薄すぎると層間樹脂絶縁層との追従性が低下するからで
ある。
Further, the thickness of the electrolytic plating film is 10 to
20 μm is preferred. If it is too thick, the peel strength will decrease,
This is because if it is too thin, the ability to follow the interlayer resin insulating layer is reduced.

【0016】本願発明における格子状の導体層は円形状
の導体非形成部分を有することが望ましい。円形状であ
るため角部がなく、ヒートサイクル時に角部を起点とし
て発生するクラックを抑制できるからである。
In the present invention, it is desirable that the lattice-shaped conductor layer has a circular conductor-free portion. This is because there is no corner portion due to the circular shape, and cracks generated from the corner portion as a starting point during a heat cycle can be suppressed.

【0017】円形状の導体非形成部分を有する格子状の
導体層12としては、図18の(A)〜(C)に示すも
のがよい。図18の(A)では、楕円の導体非形成部分
150を有する。また図18の(B)では、各頂点にア
ールが形成された方形の導体非形成部分151を有す
る。また、図18の(C)では、真円の導体非形成部分
152を有する。
As the lattice-shaped conductor layer 12 having a circular conductor-free portion, those shown in FIGS. 18A to 18C are preferable. In FIG. 18A, an elliptical conductor non-formed portion 150 is provided. In FIG. 18B, there is a rectangular non-conductor-formed portion 151 in which a radius is formed at each vertex. Also, in FIG. 18C, there is a perfectly circular conductor non-forming portion 152.

【0018】本願発明において格子状の導体層表面に形
成される粗化層は、エッチング処理、研磨処理、酸化処
理、酸化還元処理により形成された銅の粗化面又もしく
はめっき被膜により形成された粗化面であることが望ま
しい。
In the present invention, the roughened layer formed on the grid-like conductor layer surface is formed by a roughened surface of copper or a plating film formed by etching, polishing, oxidation, or oxidation-reduction. It is desirable that the surface is a roughened surface.

【0019】特に粗化層は、銅−ニッケル−リンからな
る合金層であることが望ましい。前述したように格子状
の導体層にはバイアホールが接続するため、粗化層は導
電性であることが必要だからである。
In particular, the roughened layer is preferably an alloy layer made of copper-nickel-phosphorus. This is because the via-hole is connected to the lattice-shaped conductor layer as described above, so that the roughened layer needs to be conductive.

【0020】前記合金層の組成は、銅、ニッケル、リン
の割合で、それぞれ90〜96wt%、1〜5wt%、 0.5〜2
wt%であることが望ましい。これらの組成割合のとき
に、針状の構造を有するからである。
The composition of the alloy layer is 90 to 96% by weight, 1 to 5% by weight, 0.5 to 2% by weight of copper, nickel and phosphorus, respectively.
Desirably, it is wt%. This is because these compositions have a needle-like structure at these composition ratios.

【0021】前記酸化処理は、亜塩素酸ナトリウム、水
酸化ナトリウム、リン酸ナトリウムからなる酸化剤の溶
液が望ましい。また、酸化還元処理は、上記酸化処理の
後、水酸化ナトリウムと水素化ホウ素ナトリウムの溶液
に浸漬して行う。
The oxidizing treatment is desirably a solution of an oxidizing agent comprising sodium chlorite, sodium hydroxide and sodium phosphate. Further, the oxidation-reduction treatment is performed by immersing the substrate in a solution of sodium hydroxide and sodium borohydride after the oxidation treatment.

【0022】前記粗化層は、1〜5μmがよい。厚すぎ
ると粗化層自体が損傷、剥離しやすく、薄すぎると密着
性が低下するからである。本発明では、上記層間樹脂絶
縁層として無電解めっき用接着剤を用いることが望まし
い。この無電解めっき用接着剤は、硬化処理された酸あ
るいは酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒子が、酸あるいは
酸化剤に難溶性の未硬化の耐熱性樹脂中に分散されてな
るものが最適である。
Preferably, the roughened layer has a thickness of 1 to 5 μm. If the thickness is too large, the roughened layer itself is easily damaged and peeled off, and if the thickness is too small, the adhesiveness is reduced. In the present invention, it is desirable to use an adhesive for electroless plating as the interlayer resin insulating layer. The most suitable adhesive for electroless plating is one in which heat-resistant resin particles soluble in a cured acid or oxidizing agent are dispersed in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or oxidizing agent. is there.

【0023】酸、酸化剤で処理することにより、耐熱性
樹脂粒子が溶解除去されて、表面に蛸つぼ状のアンカー
からなる粗化面を形成できる。上記無電解めっき用接着
剤において、特に硬化処理された前記耐熱性樹脂粒子と
しては、(イ)平均粒径が10μm以下の耐熱性樹脂粉
末、(ロ)平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末を凝
集させた凝集粒子、(ハ)平均粒径が10μm以下の耐熱
性粉末樹脂粉末と平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉
末との混合物、(ニ)平均粒径が2〜10μmの耐熱性樹
脂粉末の表面に平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末
または無機粉末のいずれか少なくとも1種を付着させて
なる疑似粒子、から選ばれるいずれか少なくとも1種を
用いることが望ましい。これらは、より複雑なアンカー
を形成できるからである。
By treating with an acid or an oxidizing agent, the heat-resistant resin particles are dissolved and removed, and a roughened surface comprising an octopus pot-shaped anchor can be formed on the surface. In the adhesive for electroless plating, particularly as the heat-resistant resin particles subjected to the curing treatment, (a) a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 10 μm or less, and (b) a heat-resistant resin having an average particle diameter of 2 μm or less. Agglomerated particles obtained by aggregating the powder, (c) a mixture of a heat-resistant powder resin powder having an average particle diameter of 10 μm or less and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less, (d) an average particle diameter of 2 to 10 μm It is desirable to use at least one selected from pseudo particles obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder or an inorganic powder having an average particle diameter of 2 μm or less to the surface of the heat-resistant resin powder. This is because they can form more complex anchors.

【0024】次に、本発明にかかるプリント配線板を製
造する一方法について説明する。 (1)まず、コア基板の表面に内層銅パターンを形成し
た配線基板を作製する。
Next, one method of manufacturing a printed wiring board according to the present invention will be described. (1) First, a wiring board having an inner layer copper pattern formed on the surface of a core board is manufactured.

【0025】このコア基板への銅パターンの形成は、銅
張積層板1をエッチングして行うか、あるいは、ガラス
エポキシ基板やポリイミド基板、セラミック基板、金属
基板などの基板に無電解めっき用接着剤層を形成し、こ
の接着剤層表面を粗化して粗化面とし、ここに無電解め
っきするか、もしくは全面無電解めっき、めっきレジス
ト形成、電解めっき後、めっきレジスト除去、エッチン
グ処理し、電解めっき膜と無電解めっき膜からなる導体
回路を形成する方法がある。
The copper pattern is formed on the core substrate by etching the copper-clad laminate 1 or by applying an adhesive for electroless plating to a substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, or a metal substrate. After forming a layer, the surface of the adhesive layer is roughened to a roughened surface, and electroless plating is performed on the surface, or the entire surface is subjected to electroless plating, plating resist formation, electrolytic plating, plating resist removal, etching, and electrolytic treatment. There is a method of forming a conductor circuit composed of a plating film and an electroless plating film.

【0026】さらに、上記配線基板の下層導体回路表面
に銅−ニッケル−リンからなる粗化層5を形成する。粗
化層5は、無電解めっきにより形成される。めっき液組
成としては、銅イオン濃度、ニッケルイオン濃度、次亜
リン酸イオン濃度は、それぞれ2.2×10−2〜4.
1×10−2mol/l、2.2×10−3〜4.1×
10−3mol/l、0.20〜0.25mol/lで
あることが望ましい。
Further, a roughened layer 5 made of copper-nickel-phosphorus is formed on the lower conductor circuit surface of the wiring board. The roughened layer 5 is formed by electroless plating. As the plating solution composition, the copper ion concentration, the nickel ion concentration, and the hypophosphite ion concentration are 2.2 × 10−2 to 4. × 4, respectively.
1 × 10−2 mol / l, 2.2 × 10−3 to 4.1 ×
It is preferably 10-3 mol / l and 0.20 to 0.25 mol / l.

【0027】この範囲で析出する被膜の結晶構造は針状
構造になるため、アンカー効果に優れるからである。無
電解めっき浴には上記化合物に加えて錯化剤や添加剤を
加えてもよい。
This is because the crystalline structure of the film deposited in this range has a needle-like structure, and thus has an excellent anchor effect. A complexing agent or an additive may be added to the electroless plating bath in addition to the above compounds.

【0028】粗化層5の形成方法としては、この他に前
述した酸化−還元処理、銅表面を粒界に沿ってエッチン
グして粗化面を形成する方法などがある。なお、コア基
板には、スルーホールが形成され、このスルーホールを
介して表面と裏面の配線層を電気的に接続することがで
きる。
Other methods of forming the roughened layer 5 include the above-described oxidation-reduction treatment and a method of forming a roughened surface by etching the copper surface along grain boundaries. Note that a through hole is formed in the core substrate, and the wiring layer on the front surface and the back surface can be electrically connected through the through hole.

【0029】また、スルーホールおよびコア基板の導体
回路間には樹脂が充填されて、平滑性を確保してもよい
(図1〜図4)。 (2)次に、前記(1)で作製した配線基板の上に、層
間樹脂絶縁層6を形成する。特に本発明では、層間樹脂
絶縁材として前述した無電解めっき用接着剤を用いるこ
とが望ましい(図5)。
The resin may be filled between the through-holes and the conductor circuits of the core substrate to ensure smoothness (FIGS. 1 to 4). (2) Next, the interlayer resin insulating layer 6 is formed on the wiring board manufactured in the above (1). In particular, in the present invention, it is desirable to use the above-described adhesive for electroless plating as an interlayer resin insulating material (FIG. 5).

【0030】(3)形成した無電解めっき用接着剤層を
乾燥した後、必要に応じてバイアホール形成用開口を設
ける。感光性樹脂の場合は、露光,現像してから熱硬化
することにより、また、熱硬化性樹脂の場合は、熱硬化
したのちレーザー加工することにより、前記接着剤層に
バイアホール形成用の開口部を設ける(図6)。
(3) After the formed adhesive layer for electroless plating is dried, openings for forming via holes are provided if necessary. In the case of a photosensitive resin, it is exposed and developed and then thermally cured. In the case of a thermosetting resin, it is thermally cured and then subjected to laser processing, so that an opening for forming a via hole is formed in the adhesive layer. Parts are provided (FIG. 6).

【0031】(4)次に、硬化した前記接着剤層の表面
に存在するエポキシ樹脂粒子を酸あるいは酸化剤によっ
て溶解除去し、接着剤層表面を粗化処理する(図7)。
ここで、上記酸としては、リン酸、塩酸、硫酸、あるい
は蟻酸や酢酸などの有機酸があるが、特に有機酸を用い
ることが望ましい。粗化処理した場合に、バイアホール
から露出する金属導体層を腐食させにくいからである。
(4) Next, the epoxy resin particles present on the surface of the cured adhesive layer are dissolved and removed with an acid or an oxidizing agent to roughen the surface of the adhesive layer (FIG. 7).
Here, examples of the acid include phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid, and it is particularly preferable to use an organic acid. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded.

【0032】一方、上記酸化剤としては、クロム酸、過
マンガン酸塩(過マンガン酸カリウムなど)を用いるこ
とが望ましい。 (5)次に、接着剤層表面を粗化した配線基板に触媒核
を付与する。
On the other hand, it is desirable to use chromic acid or permanganate (such as potassium permanganate) as the oxidizing agent. (5) Next, a catalyst nucleus is applied to the wiring board whose surface of the adhesive layer is roughened.

【0033】触媒核の付与には、貴金属イオンや貴金属
コロイドなどを用いることが望ましく、一般的には、塩
化パラジウムやパラジウムコロイドを使用する。なお、
触媒核を固定するために加熱処理を行うことが望まし
い。このような触媒核としてはパラジウムがよい。
It is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus. Generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. In addition,
It is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core. Palladium is preferred as such a catalyst core.

【0034】(6)次に、無電解めっき用接着剤表面に
無電解めっきを施し、粗化面全面に無電解めっき膜3を
形成する(図8)。無電解めっき膜の厚みは1〜5μ
m、より望ましくは2〜3μmである。
(6) Next, the surface of the adhesive for electroless plating is subjected to electroless plating to form an electroless plating film 3 on the entire roughened surface (FIG. 8). The thickness of the electroless plating film is 1-5μ
m, more preferably 2-3 μm.

【0035】つぎに、無電解めっき膜3上にめっきレジ
スト7を形成する(図9)。めっきレジスト組成物とし
ては、特にクレゾールノボラックやフェノールノボラッ
ク型エポキシ樹脂のアクリレートとイミダゾール硬化剤
からなる組成物を用いることが望ましいが、他に市販品
を使用することもできる。
Next, a plating resist 7 is formed on the electroless plating film 3 (FIG. 9). As the plating resist composition, it is particularly desirable to use a composition comprising an acrylate of a cresol novolak or a phenol novolak type epoxy resin and an imidazole curing agent, but other commercially available products can also be used.

【0036】(7)次に、めっきレジスト非形成部に電
解めっき膜4を形成し、導体回路、ならびにバイアホー
ルを設ける(図10)。ここで、上記無電解めっきとし
ては、銅めっきを用いることが望ましい。
(7) Next, an electrolytic plating film 4 is formed in the portion where the plating resist is not formed, and a conductor circuit and a via hole are provided (FIG. 10). Here, it is desirable to use copper plating as the electroless plating.

【0037】(8)さらに、めっきレジストを除去した
後、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫酸ナトリウム、過
硫酸アンモニウムなどのエッチング液で無電解めっき膜
を溶解除去して、独立した導体回路とする。この時、内
層に形成される格子状の導体層11(グランド層や電源
層)を設ける(図11)。
(8) After the plating resist is removed, the electroless plating film is dissolved and removed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or an etching solution such as sodium persulfate and ammonium persulfate to form an independent conductor circuit. I do. At this time, a grid-like conductor layer 11 (a ground layer or a power supply layer) formed in the inner layer is provided (FIG. 11).

【0038】(9)次に格子状の導体層11、バイアホ
ール、導体パターンの表面に粗化層5を形成する(図1
2)。粗化層5の形成方法としては、エッチング処理、
研磨処理、酸化還元処理、めっき処理がある。酸化還元
処理は、NaOH(10g/l)、NaClO2 (4
0g/l)、Na3 PO4 (6g/l)を酸化浴
(黒化浴)、NaOH(10g/l)、NaBH4
(5g/l)を還元浴とする。
(9) Next, the roughened layer 5 is formed on the surfaces of the grid-shaped conductor layer 11, the via hole, and the conductor pattern (FIG. 1).
2). As a method for forming the roughened layer 5, etching treatment,
There are polishing, oxidation-reduction, and plating. The oxidation-reduction treatment is performed by using NaOH (10 g / l), NaClO2 (4
0 g / l), Na3PO4 (6 g / l) in an oxidation bath (blackening bath), NaOH (10 g / l), NaBH4
(5 g / l) is used as a reducing bath.

【0039】また、銅−ニッケル−リン合金層による粗
化層5を形成する場合は無電解めっきにより析出させ
る。この合金の無電解めっき液としては、硫酸銅1〜4
0g/l、硫酸ニッケル0.1〜6.0g/l、クエン
酸10〜20g/l、次亜リン酸塩10〜100g/
l、ホウ酸10〜40g/l、界面活性剤0.01〜1
0g/lからなる液組成のめっき浴を用いることが望ま
しい。
When forming the roughened layer 5 of a copper-nickel-phosphorus alloy layer, it is deposited by electroless plating. As an electroless plating solution for this alloy, copper sulfate 1-4
0 g / l, nickel sulfate 0.1-6.0 g / l, citric acid 10-20 g / l, hypophosphite 10-100 g / l
1, boric acid 10 to 40 g / l, surfactant 0.01 to 1
It is desirable to use a plating bath having a liquid composition of 0 g / l.

【0040】(10)次に、この基板上に層間樹脂絶縁
層6として、無電解めっき用接着剤層を形成する(図1
3)。 (11)さらに、(3)〜(8)の工程を繰り返してさ
らに上層の導体回路を設け、半田パッドとして機能する
格子状の導体層とバイアホールを形成する(図14、1
5)。なお、このとき、一方の面には半田バンプを形成
するランド14(ランド140のようにバイアホールに
て構成してもよい)を設けることができる。
(10) Next, an adhesive layer for electroless plating is formed as an interlayer resin insulating layer 6 on this substrate (FIG. 1).
3). (11) Further, the steps (3) to (8) are repeated to provide a further upper conductive circuit, and a grid-like conductive layer functioning as a solder pad and a via hole are formed (FIGS. 14, 1).
5). At this time, a land 14 for forming a solder bump (may be constituted by a via hole like the land 140) can be provided on one surface.

【0041】(12)ついで必要に応じてバイアホー
ル、格子状の導体層、ランド等の表面に粗化層を設ける
(図16)。粗化層の形成方法としては、(9)で説明
したものと同様である。
(12) Then, if necessary, a roughening layer is provided on the surface of via holes, lattice-like conductor layers, lands, etc. (FIG. 16). The method of forming the roughened layer is the same as that described in (9).

【0042】(13)次に、前記(12)の処理を終え
たプリント配線板の両面に、ソルダーレジスト組成物を
塗布する。プリント配線板の両面にソルダーレジスト層
を塗布する際に、前記プリント配線板を垂直に立てた状
態でロールコータの一対の塗布用ロールのロール間に挟
み、下側から上側へ搬送させて基板の両面にソルダーレ
ジスト組成物を同時に塗布することが望ましい。この理
由は、現在のプリント配線板の基本仕様は両面であり、
カーテンコート法(樹脂を滝のように上から下へ流し、
この樹脂の”カーテン”に基板をくぐらせて塗布する方
法)では、片面しか塗布できないからである。ソルダー
レジスト組成物は、粘度を25℃で1〜10Pa・sとするこ
とにより基板を垂直に立てて塗布しても流れず、また転
写も良好である。
(13) Next, a solder resist composition is applied to both surfaces of the printed wiring board after the treatment of the above (12). When applying a solder resist layer to both sides of the printed wiring board, the printed wiring board is sandwiched between a pair of application rolls of a roll coater in a state where the printed wiring board is vertically erected, and is conveyed from the lower side to the upper side and the substrate is It is desirable to apply the solder resist composition on both sides simultaneously. The reason for this is that the current basic specifications of printed wiring boards are both sides,
Curtain coat method (flow resin from top to bottom like a waterfall,
This is because the method of applying a substrate by passing it through a “curtain” of resin can only be applied on one side. By setting the viscosity of the solder resist composition to 1 to 10 Pa · s at 25 ° C., the composition does not flow even when the substrate is applied vertically and the transfer is good.

【0043】(14)次に、ソルダーレジスト組成物の
塗膜を60〜80℃で5〜60分間乾燥し、この塗膜に、開口
部を描画したフォトマスクフィルムを載置して露光、現
像処理することにより、格子状の導体層のうちパッド部
分を露出させた開口部を形成する。また、反対側面には
ランドを露出させる。このようにして開口部を形成した
塗膜を、さらに80℃〜150 ℃で1〜10時間の熱処理によ
り硬化させる。これにより、開口部を有するソルダーレ
ジスト層は導体回路の表面に設けた粗化層と密着する。
(14) Next, the coating film of the solder resist composition is dried at 60 to 80 ° C. for 5 to 60 minutes, and a photomask film having an opening formed thereon is placed on the coating film to expose and develop. By performing the processing, an opening that exposes the pad portion of the grid-like conductor layer is formed. The land is exposed on the opposite side. The coating film in which the openings are formed in this manner is further cured by a heat treatment at 80 ° C. to 150 ° C. for 1 to 10 hours. Thereby, the solder resist layer having the opening is in close contact with the roughened layer provided on the surface of the conductor circuit.

【0044】(15)次に、前記開口部から露出した前
記半田パッド、ランド部上に「ニッケル−金」の金属層
を形成する。 (16)次に、前記開口部から露出した前記半田パッド
部上にはんだ体を供給する。(図17)。はんだ体の供
給方法としては、はんだ転写法や印刷法を用いることが
できる。ここで、はんだ転写法は、プリプレグにはんだ
箔を貼合し、このはんだ箔を開口部分に相当する箇所の
みを残してエッチングすることによりはんだパターンを
形成してはんだキャリアフィルムとし、このはんだキャ
リアフィルムを、基板のソルダーレジスト開口部分にフ
ラックスを塗布した後、はんだパターンがパッドに接触
するように積層し、これを加熱して転写する方法であ
る。一方、印刷法は、パッドに相当する箇所に貫通孔を
設けたメタルマスクを基板に載置し、はんだペーストを
印刷して加熱処理する方法である。
(15) Next, a metal layer of "nickel-gold" is formed on the solder pads and lands exposed from the openings. (16) Next, a solder body is supplied onto the solder pad exposed from the opening. (FIG. 17). As a method of supplying the solder body, a solder transfer method or a printing method can be used. Here, in the solder transfer method, a solder foil is bonded to a prepreg, and the solder foil is etched leaving only a portion corresponding to an opening portion to form a solder pattern to form a solder carrier film. Is applied to a solder resist opening portion of a substrate, and then laminated such that a solder pattern is in contact with a pad, which is heated and transferred. On the other hand, the printing method is a method in which a metal mask provided with a through hole at a position corresponding to a pad is placed on a substrate, and a solder paste is printed and heat-treated.

【0045】以下、実施例に基づいて説明する。Hereinafter, description will be made based on embodiments.

【0046】[0046]

【発明の実施の形態】(実施例1) (1)厚さ0.6mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両
面に18μmの銅箔がラミネートされてなる銅張積層板を
出発材料とした。この銅張積層板の銅箔を常法に従いパ
ターン状にエッチング、穴明け、無電解めっきを施すこ
とにより、基板の両面に内層導体回路2とスルーホール
を形成した。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (Example 1) (1) 0.6 mm thick glass epoxy resin or BT
A starting material was a copper-clad laminate in which 18 μm copper foil was laminated on both sides of a substrate 1 made of (bismaleimide triazine) resin. The copper foil of the copper-clad laminate was etched in a pattern according to a conventional method, drilled, and subjected to electroless plating to form an inner conductor circuit 2 and through holes on both surfaces of the substrate.

【0047】さらに、下層導体回路間、スルーホール内
にビスフェノールF型エポキシ樹脂を充填した。 (2)前記(1)で内層銅パターンを形成した基板を水
洗いし、乾燥した後、その基板を酸性脱脂してソフトエ
ッチングし、次いで、塩化パラジウムと有機酸からなる
触媒溶液で処理して、Pd触媒を付与し、この触媒を活
性化した後、硫酸銅8g/l、硫酸ニッケル 0.6g/
l、クエン酸15g/l、次亜リン酸ナトリウム29g/
l、ホウ酸31g/l、界面活性剤 0.1g/l、pH=9
からなる無電解めっき浴にてめっきを施し、銅導体回路
の全表面にCu−Ni−P合金の厚さ 2.5μmの粗化層5
(凹凸層)を形成した。
Further, bisphenol F type epoxy resin was filled between the lower layer conductor circuits and in the through holes. (2) The substrate on which the inner layer copper pattern is formed in the above (1) is washed with water and dried, and then the substrate is acid-degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid, After applying a Pd catalyst and activating this catalyst, copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate 0.6 g /
l, citric acid 15 g / l, sodium hypophosphite 29 g /
1, boric acid 31 g / l, surfactant 0.1 g / l, pH = 9
Is plated in an electroless plating bath made of Cu-Ni-P alloy on the entire surface of the copper conductor circuit.
(Uneven layer) was formed.

【0048】(3)DMDG(ジエチレングリコールジ
メチルエーテル)に溶解したクレゾールノボラック型エ
ポキシ樹脂(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル
化物を70重量部、ポリエーテルスルフォン(PES)30
重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E
4MZ-CN)4重量部、感光性モノマーであるカプロラクト
ン変成トリス(アクロキシエチル)イソシアヌレート
(東亜合成製、商品名:アロニックスM325 )10重量
部、光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学製)5
重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学
製)0.5 重量部、さらにこの混合物に対してエポキシ樹
脂粒子の平均粒径 5.5μmのものを35重量部、平均粒径
0.5μmのものを5重量部を混合した後、NMP(ノル
マルメチルピロリドン)を添加しながら混合し、ホモデ
ィスパー攪拌機で粘度12Pa・sに調整し、続いて3本ロ
ールで混練して感光性接着剤溶液(層間樹脂絶縁材)を
得る。
(3) 70 parts by weight of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in DMDG (diethylene glycol dimethyl ether), polyether sulfone (PES) 30
Parts by weight, imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, trade name: 2E
4MZ-CN) 4 parts by weight, caprolactone-modified tris (acryloxyethyl) isocyanurate (trade name: Aronix M325) manufactured by Toagosei Co., Ltd., a photosensitive monomer, benzophenone (Kanto Chemical) 5 as a photoinitiator
Parts by weight, 0.5 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photosensitizer, and 35 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle size of 5.5 μm with respect to this mixture.
After mixing 5 parts by weight of 0.5 μm, they are mixed while adding NMP (normal methylpyrrolidone), adjusted to a viscosity of 12 Pa · s with a homodisper stirrer, and then kneaded with three rolls to form a photosensitive adhesive. An agent solution (interlayer resin insulating material) is obtained.

【0049】(4)前記(3)で得た感光性接着剤溶液
を、前記(2)の処理を終えた基板の両面に、ロールコ
ータを用いて塗布し、水平状態で20分間放置してから、
60℃で30分間の乾燥を行い、厚さ60μmの接着剤層6を
形成した。
(4) The photosensitive adhesive solution obtained in the above (3) is applied to both surfaces of the substrate after the treatment in the above (2) using a roll coater, and left in a horizontal state for 20 minutes. From
Drying was performed at 60 ° C. for 30 minutes to form an adhesive layer 6 having a thickness of 60 μm.

【0050】(5)前記(4)で接着剤層6を形成した
基板の両面に、バイアホールが描画されたフォトマスク
フィルムを載置し、紫外線を照射して露光した。 (6)露光した基板をDMTG(トリエチレングリジメ
チルエーテル)溶液でスプレー現像することにより、接
着剤層に 100μmφのバイアホールとなる開口を形成し
た。さらに、当該基板を超高圧水銀灯にて3000mJ/cm2
で露光し、 100℃で1時間、その後 150℃で5時間に
て加熱処理することにより、フォトマスクフィルムに相
当する寸法精度に優れ、開口(バイアホール形成用開
口)を有する厚さ50μmの接着剤層を形成した。なお、
バイアホールとなる開口には、粗化層を部分的に露出さ
せる。
(5) A photomask film having via holes drawn thereon was placed on both sides of the substrate on which the adhesive layer 6 was formed in (4) above, and was exposed to ultraviolet rays. (6) The exposed substrate was spray-developed with a DMTG (triethylene glydimethyl ether) solution to form an opening serving as a 100 μmφ via hole in the adhesive layer. Further, the substrate is 3,000 mJ / cm2 using an ultra-high pressure mercury lamp.
Exposure at 100 ° C for 1 hour, and then heat treatment at 150 ° C for 5 hours, resulting in a 50μm thick adhesive with excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film and with openings (openings for forming via holes) An agent layer was formed. In addition,
The roughened layer is partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0051】(7)前記(5)(6)でバイアホール形
成用開口を形成した基板を、クロム酸に2分間浸漬し、
接着剤層表面に存在するエポキシ樹脂粒子を溶解除去し
て、当該接着剤層の表面を粗化し、その後、中和溶液
(シプレイ社製)に浸漬してから水洗した。
(7) The substrate on which the opening for forming a via hole is formed in (5) and (6) is immersed in chromic acid for 2 minutes.
The surface of the adhesive layer was roughened by dissolving and removing the epoxy resin particles present on the surface of the adhesive layer, and then immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and then washed with water.

【0052】(8)前記(7)で粗面化処理(粗化深さ
5μm)を行った基板に対し、パラジウム触媒(アトテ
ック製)を付与することにより、接着剤層およびバイア
ホール用開口の表面に触媒核を付与した。
(8) A palladium catalyst (manufactured by Atotech) is applied to the substrate that has been subjected to the surface roughening treatment (roughening depth: 5 μm) in the above (7), so that the adhesive layer and the opening for the via hole are formed. Catalyst nuclei were provided on the surface.

【0053】(9)以下の組成の無電解銅めっき浴中に
基板を浸漬して、粗面全体に厚さ3μmの無電解銅めっ
き膜3を形成した。 無電解めっき液 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80mg/l PEG 0.1g/l 無電解めっき条件 70℃の液温度で30分 (10)市販の感光性ドライフィルムを無電解銅めっき
膜に張り付け、マスクを載置して、100mJ/cm2
で露光、0.8%炭酸ナトリウムで現像処理し、厚さ
15μmのめっきレジスト7を設けた。
(9) The substrate was immersed in an electroless copper plating bath having the following composition to form an electroless copper plating film 3 having a thickness of 3 μm on the entire rough surface. Electroless plating solution EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.1 g / l Electroless plating conditions 30 at a liquid temperature of 70 ° C. (10) A commercially available photosensitive dry film is stuck on the electroless copper plating film, a mask is placed, and 100 mJ / cm 2
And developed with 0.8% sodium carbonate to provide a plating resist 7 having a thickness of 15 μm.

【0054】(11)ついで、以下の条件で電解銅めっ
きを施し、厚さ15μmの電解銅めっき膜4を形成し
た。 電解めっき液 硫酸銅 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アドテックジャパン製 商品名カパラシドG
L)1ml/l 電解めっき条件 電流密度 1A/dm2 時間 30分 温度 室温 (12)めっきレジスト7を5%KOHで剥離除去した
後、硫酸と過酸化水素混合液でエッチングを行い、無電
解めっき膜3を溶解除去して無電解銅めっき膜3と電解
銅めっき膜4からなる厚さ18μmの内層導体回路(バ
イアホールおよび内層の格子状のグランド層11を含
む)を形成した。
(11) Next, electrolytic copper plating was performed under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 4 having a thickness of 15 μm. Electrolytic plating solution Copper sulfate 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (trade name: Capalaside G, manufactured by Adtech Japan)
L) 1 ml / l Electroplating conditions Current density 1 A / dm2 Time 30 minutes Temperature Room temperature (12) After stripping off the plating resist 7 with 5% KOH, etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, and electroless plating film 3 was dissolved and removed to form an 18 μm-thick inner conductor circuit (including via holes and an inner lattice-like ground layer 11) composed of the electroless copper plating film 3 and the electrolytic copper plating film 4.

【0055】(13)導体回路を形成した基板を、硫酸
銅8g/l、硫酸ニッケル 0.6g/l、クエン酸15g/
l、次亜リン酸ナトリウム29g/l、ホウ酸31g/l、
界面活性剤 0.1g/lからなるpH=9の無電解めっき
液に浸漬し、該導体回路の表面に厚さ3μmの銅−ニッ
ケル−リンからなる粗化層5を形成した。
(13) The substrate on which the conductor circuit was formed was coated with copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate 0.6 g / l, and citric acid 15 g / l.
1, sodium hypophosphite 29 g / l, boric acid 31 g / l,
The surface was immersed in an electroless plating solution having a pH of 9 containing 0.1 g / l of a surfactant to form a roughened layer 5 made of copper-nickel-phosphorus having a thickness of 3 μm on the surface of the conductor circuit.

【0056】粗化層5をEPMA(蛍光X線分析装置)
で分析したところ、Cu98mol%、Ni1.5mo
l%、P0.5mol%の組成比を示した。そしてさら
に、その基板を水洗いし、0.1mol/lホウふっ化スズ−
1.0mol/lチオ尿素液からなる無電解スズ置換めっき浴
に50℃で1時間浸漬し、前記粗化層の表面に厚さ 0.3μ
mのスズ置換めっき層を形成した。
The roughened layer 5 is formed by EPMA (X-ray fluorescence analyzer).
As a result of the analysis, 98 mol% of Cu, 1.5 mol of Ni
The composition ratio was 1% and P was 0.5 mol%. Further, the substrate is washed with water, and 0.1 mol / l tin borofluoride-
Immersion in an electroless tin displacement plating bath consisting of 1.0 mol / l thiourea solution at 50 ° C. for 1 hour, and a thickness of 0.3 μm on the surface of the roughened layer
m of the tin-substituted plating layer was formed.

【0057】(14)(4)〜(13)の工程を繰り返
すことにより、さらに上層に格子状の電源層12および
バイアホール10およびランド14を形成し、その表面
に粗化層5を設けた。但し、粗化層表面はスズ置換めっ
き層を形成しなかった。
(14) By repeating the steps (4) to (13), a grid-like power supply layer 12, via holes 10 and lands 14 are further formed on the upper layer, and the roughened layer 5 is provided on the surface thereof. . However, the tin-substituted plating layer was not formed on the roughened layer surface.

【0058】(15)一方、DMDGに溶解させた60重
量%のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオ
リゴマー(分子量4000)を 46.67g、メチルエチルケト
ンに溶解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ
樹脂(油化シェル製、エピコート1001)15.0g、イミダ
ゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)1.6
g、感光性モノマーである多価アクリルモノマー(日本
化薬製、商品名:R604 )3g、同じく多価アクリルモ
ノマー(共栄社化学製、商品名:DPE6A ) 1.5g、分散
系消泡剤(サンノプコ社製、商品名:S−65)0.71gを
混合し、さらにこの混合物に対して光開始剤としてのベ
ンゾフェノン(関東化学製)を2g、光増感剤としての
ミヒラーケトン(関東化学製)を0.2 g加えて、粘度を
25℃で 2.0Pa・sに調整したソルダーレジスト組成物を
得た。
(15) On the other hand, 46.67 g of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) in which 60% by weight of a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) dissolved in DMDG was acrylated with 50% of epoxy groups, 15.0 g of 80% by weight bisphenol A epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone, 1.6 imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN) 1.6
g, 3 g of a polyacrylic monomer which is a photosensitive monomer (trade name: R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), 1.5 g of a polyacrylic monomer (trade name: DPE6A, manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.), and a dispersion defoamer (San Nopco) (Trade name: S-65), 0.71 g, and 2 g of benzophenone (Kanto Chemical) as a photoinitiator and 0.2 g of Michler's ketone (Kanto Chemical) as a photosensitizer. In addition, the viscosity
A solder resist composition adjusted to 2.0 Pa · s at 25 ° C. was obtained.

【0059】なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計
器、 DVL-B型)で 60rpmの場合はローターNo.4、6rpm
の場合はローターNo.3によった。 (16)基板にソルダーレジスト組成物を20μmの厚さ
で塗布した。
The viscosity was measured using a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B type) at 60 rpm with a rotor No. 4 and 6 rpm.
In the case of rotor No.3. (16) The solder resist composition was applied to the substrate at a thickness of 20 μm.

【0060】(17)次いで、70℃で20分間、70℃で30
分間の乾燥処理を行った後、1000mJ/cm2 の紫外線で
露光し、DMTG現像処理した。さらに、80℃で1時間、 1
00℃で1時間、 120℃で1時間、 150℃で3時間の条件
で加熱処理し、格子状の導体層の上面、バイアホールお
よびランド部分を開口した(開口径 200μm)ソルダー
レジスト層8(厚み20μm)を形成した。
(17) Next, at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes.
After a drying treatment for 1 minute, the substrate was exposed to ultraviolet light of 1000 mJ / cm 2 and developed by DMTG. 1 hour at 80 ℃
Heat treatment was performed at 00 ° C. for 1 hour, at 120 ° C. for 1 hour, and at 150 ° C. for 3 hours to open the upper surface, via holes and lands of the grid-like conductor layer (opening diameter: 200 μm). (Thickness: 20 μm).

【0061】(18)次に、ソルダーレジスト層を形成
した基板を、塩化ニッケル30g/l、次亜リン酸ナトリ
ウム10g/l、クエン酸ナトリウム10g/lからなるp
H=5の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬して、開
口部に厚さ5μmのニッケルめっき層を形成した。さら
に、その基板を、シアン化金カリウム2g/l、塩化ア
ンモニウム75g/l、クエン酸ナトリウム50g/l、次
亜リン酸ナトリウム10g/lからなる無電解金めっき液
に93℃の条件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層13上
に厚さ0.03μmの金めっき層を形成した。
(18) Next, the substrate on which the solder resist layer was formed was replaced with a nickel chloride 30 g / l, sodium hypophosphite 10 g / l, and sodium citrate 10 g / l
It was immersed in an electroless nickel plating solution of H = 5 for 20 minutes to form a nickel plating layer having a thickness of 5 μm at the opening. Further, the substrate was placed on an electroless gold plating solution comprising 2 g / l of potassium gold cyanide, 75 g / l of ammonium chloride, 50 g / l of sodium citrate, and 10 g / l of sodium hypophosphite at 93 ° C. for 23 seconds. By dipping, a gold plating layer having a thickness of 0.03 μm was formed on the nickel plating layer 13.

【0062】(19)そして、ソルダーレジスト層の開
口部に、はんだペーストを印刷して200℃でリフローす
ることによりはんだバンプ(半田体)9を形成し、はん
だバンプを有するプリント配線板を製造した。
(19) Then, a solder paste was printed in the opening of the solder resist layer and reflowed at 200 ° C. to form a solder bump (solder body) 9 to manufacture a printed wiring board having the solder bump. .

【0063】(実施例2)基本的に実施例1と同様であ
るが、導体回路の粗化をエッチングにより行った。エッ
チング液は、メック社製の「デュラボンド」なる商品名
のものを使用した。
(Example 2) Basically the same as Example 1, but the conductor circuit was roughened by etching. An etching solution having a trade name of "Durabond" manufactured by Mec Co. was used.

【0064】(実施例3) (1)厚さ0.6mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板の両面
に18μmの銅箔がラミネートされてなる銅張積層板を出
発材料とした。この銅張積層板の銅箔を常法に従いパタ
ーン状にエッチングすることにより、基板の両面に内層
銅パターンを形成した。
(Example 3) (1) Glass epoxy resin or BT having a thickness of 0.6 mm
A starting material was a copper-clad laminate in which 18 μm copper foil was laminated on both sides of a substrate made of (bismaleimide triazine) resin. The copper foil of the copper-clad laminate was etched in a pattern according to a conventional method to form inner layer copper patterns on both surfaces of the substrate.

【0065】(2)前記(1)で内層銅パターンを形成
した基板を水洗いし、乾燥した後、その基板を酸性脱脂
してソフトエッチングし、次いで、塩化パラジウムと有
機酸からなる触媒溶液で処理して、Pd触媒を付与し、
この触媒を活性化した後、硫酸銅8g/l、硫酸ニッケ
ル 0.6g/l、クエン酸15g/l、次亜リン酸ナトリウ
ム29g/l、ホウ酸31g/l、界面活性剤 0.1g/l、
pH=9からなる無電解めっき浴にてめっきを施し、銅
導体回路の全表面にCu−Ni−P合金の厚さ 2.5μmの粗
化層(凹凸層)を形成した。
(2) The substrate on which the inner layer copper pattern is formed in the above (1) is washed with water and dried, and then the substrate is acid-degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid. To provide a Pd catalyst,
After activating this catalyst, copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate 0.6 g / l, citric acid 15 g / l, sodium hypophosphite 29 g / l, boric acid 31 g / l, surfactant 0.1 g / l,
Plating was performed in an electroless plating bath having a pH of 9 to form a roughened layer (uneven layer) of Cu-Ni-P alloy having a thickness of 2.5 µm on the entire surface of the copper conductor circuit.

【0066】そしてさらに、その基板を水洗いし、0.1m
ol/lホウふっ化スズ−1.0mol/lチオ尿素液からなる
無電解スズ置換めっき浴に50℃で1時間浸漬し、前記Cu
−Ni−P合金粗化層の表面に厚さ 0.3μmのスズ置換め
っき層を形成した。
Further, the substrate is washed with water and
ol / l tin borofluoride-1.0 mol / l thiourea solution, immersed in an electroless tin displacement plating bath at 50 ° C for 1 hour,
A tin-substituted plating layer having a thickness of 0.3 μm was formed on the surface of the roughened layer of the Ni—P alloy.

【0067】(3)DMDG(ジエチレングリコールジ
メチルエーテル)に溶解したクレゾールノボラック型エ
ポキシ樹脂(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル
化物を70重量部、ポリエーテルスルフォン(PES)30
重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E
4MZ-CN)4重量部、感光性モノマーであるカプロラクト
ン変成トリス(アクロキシエチル)イソシアヌレート
(東亜合成製、商品名:アロニックスM325 )10重量
部、光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学製)5
重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学
製)0.5 重量部、さらにこの混合物に対してエポキシ樹
脂粒子の平均粒径 5.5μmのものを35重量部、平均粒径
0.5μmのものを5重量部を混合した後、NMP(ノル
マルメチルピロリドン)を添加しながら混合し、ホモデ
ィスパー攪拌機で粘度12Pa・sに調整し、続いて3本ロ
ールで混練して感光性接着剤溶液(層間樹脂絶縁材)を
得た。
(3) 70% by weight of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in DMDG (diethylene glycol dimethyl ether), polyether sulfone (PES) 30
Parts by weight, imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, trade name: 2E
4MZ-CN) 4 parts by weight, caprolactone-modified tris (acryloxyethyl) isocyanurate (trade name: Aronix M325) manufactured by Toagosei Co., Ltd., a photosensitive monomer, benzophenone (Kanto Chemical) 5 as a photoinitiator
Parts by weight, 0.5 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photosensitizer, and 35 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle size of 5.5 μm with respect to this mixture.
After mixing 5 parts by weight of 0.5 μm, they are mixed while adding NMP (normal methylpyrrolidone), adjusted to a viscosity of 12 Pa · s with a homodisper stirrer, and then kneaded with three rolls to form a photosensitive adhesive. An agent solution (interlayer resin insulating material) was obtained.

【0068】(4)前記感光性接着剤溶液を、前記基板
の両面に、ロールコータを用いて塗布し、水平状態で20
分間放置してから、60℃で30分間の乾燥を行い、厚さ60
μmの接着剤層を形成した。
(4) The photosensitive adhesive solution is applied to both sides of the substrate by using a roll coater, and is applied in a horizontal state.
After drying for 30 minutes at 60 ° C,
A μm adhesive layer was formed.

【0069】(5)接着剤層を形成した基板の両面に、
バイアホールが描画されたフォトマスクフィルムを載置
し、紫外線を照射して露光した。 (6)露光した基板をDMTG(トリエチレングリジメ
チルエーテル)溶液でスプレー現像することにより、接
着剤層に 100μmφのバイアホールとなる開口を形成し
た。さらに、当該基板を超高圧水銀灯にて3000mJ/cm2
で露光し、 100℃で1時間、その後 150℃で5時間に
て加熱処理することにより、フォトマスクフィルムに相
当する寸法精度に優れた開口(バイアホール形成用開
口)を有する厚さ50μmの接着剤層を形成した。なお、
バイアホールとなる開口には、スズめっき層を部分的に
露出させる。
(5) On both sides of the substrate on which the adhesive layer is formed,
A photomask film on which a via hole was drawn was placed and exposed to ultraviolet light. (6) The exposed substrate was spray-developed with a DMTG (triethylene glydimethyl ether) solution to form an opening serving as a 100 μmφ via hole in the adhesive layer. Further, the substrate is 3,000 mJ / cm2 using an ultra-high pressure mercury lamp.
Exposure and heat treatment at 100 ° C for 1 hour and then at 150 ° C for 5 hours, resulting in a 50μm thick adhesive with openings with excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film (via hole forming openings) An agent layer was formed. In addition,
The tin plating layer is partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0070】(7)バイアホール形成用開口を形成した
基板を、クロム酸に2分間浸漬し、接着剤層表面に存在
するエポキシ樹脂粒子を溶解除去して、当該接着剤層の
表面を粗化し、その後、中和溶液(シプレイ社製)に浸
漬してから水洗いした。
(7) The substrate in which the opening for forming the via hole is formed is immersed in chromic acid for 2 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the adhesive layer, thereby roughening the surface of the adhesive layer. Then, it was immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and washed with water.

【0071】(8)粗面化処理(粗化深さ20μm)を行
った基板に対し、パラジウム触媒(アトテック製)を付
与することにより、接着剤層およびバイアホール用開口
の表面に触媒核を付与した。
(8) By applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the substrate subjected to the surface roughening treatment (roughening depth: 20 μm), catalyst nuclei are formed on the surface of the adhesive layer and the opening for the via hole. Granted.

【0072】(9)DMDGに溶解させた60重量%のク
レゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエ
ポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー
(分子量4000)を 46.67g、メチルエチルケトンに溶解
させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油
化シェル製、エピコート1001)15.0g、イミダゾール硬
化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)1.6 g、感光性
モノマーである多価アクリルモノマー(日本化薬製、商
品名:R604 )3g、同じく多価アクリルモノマー(共
栄社化学製、商品名:DPE6A )1.5 gを混合し、混合液
Aを調製した。
(9) 46.67 g of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylated 50% of an epoxy group of a 60% by weight cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) dissolved in DMDG, and added to methyl ethyl ketone. 15.0 g of dissolved 80% by weight bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001), 1.6 g of imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN), polyvalent acrylic as a photosensitive monomer A mixed solution A was prepared by mixing 3 g of a monomer (manufactured by Nippon Kayaku, trade name: R604) and 1.5 g of a polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical, trade name: DPE6A).

【0073】一方で、光開始剤としてのベンゾフェノン
(関東化学製)2g、光増感剤としてのミヒラーケトン
(関東化学製)0.2 gを40℃に加温した3gのDMDG
に溶解させて混合液Bを調製した。
On the other hand, 2 g of benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photoinitiator and 0.2 g of Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photosensitizer were heated at 40 ° C. to 3 g of DMDG.
To prepare a mixed solution B.

【0074】上記混合液Aと上記混合液Bを混合攪拌し
て液状レジスト組成物を得た。 (10)上記(8)で触媒核付与の処理を終えた基板の
両面に、上記液状レジスト組成物をロールコーターを用
いて塗布し、60℃で30分の乾燥を行い、厚さ30μmのレ
ジスト層を形成した。
The mixture A and the mixture B were mixed and stirred to obtain a liquid resist composition. (10) The liquid resist composition is applied on both sides of the substrate, which has been subjected to the catalyst nucleation treatment in (8) above, using a roll coater, and dried at 60 ° C. for 30 minutes to obtain a resist having a thickness of 30 μm. A layer was formed.

【0075】(11)前記レジスト層にパターンが描画
されたマスクを積層し、紫外線を照射して露光した。 (12)前記(11)で露光した後、レジスト層をDM
TGで溶解現像し、基板上に導体回路パターン部の抜け
ためっきレジストを形成し、さらに、これを超高圧水銀
灯にて6000mJ/cm2 で露光した。そしてさらに、この
めっきレジストを、 100℃で1時間、その後、 150℃で
3時間にて加熱処理することにより、前記接着剤層の上
に形成した永久レジストとする。
(11) A mask on which a pattern was drawn was laminated on the resist layer, and the resist layer was exposed to ultraviolet rays. (12) After the exposure in (11), the resist layer is
It was dissolved and developed with TG to form a plating resist on the substrate where the conductor circuit pattern was removed, and this was further exposed to 6000 mJ / cm 2 with an ultra-high pressure mercury lamp. Further, the plating resist is subjected to a heat treatment at 100 ° C. for 1 hour and then at 150 ° C. for 3 hours to obtain a permanent resist formed on the adhesive layer.

【0076】(13)永久レジストを形成した基板に、
予め、めっき前処理(具体的には硫酸処理等および触媒
核の活性化)を施し、その後、硫酸銅 8.6mM、トリエ
タノールアミン0.15M、ホルムアルデヒド0.02M、ビピ
ルジル少量からなる無電解銅めっき浴による銅めっきを
行い、レジスト非形成部に厚さ15μm程度の無電解銅め
っきを析出させて、銅パターン、バイアホール、格子状
のグランド層を形成することにより、アディティブ法に
よる導体層を形成した。
(13) On the substrate on which the permanent resist is formed,
A plating pretreatment (specifically, sulfuric acid treatment or the like and activation of the catalyst nucleus) is performed in advance, and then an electroless copper plating bath composed of 8.6 mM of copper sulfate, 0.15 M of triethanolamine, 0.02 M of formaldehyde, and a small amount of bipyridyl is used. Copper plating was performed, and electroless copper plating having a thickness of about 15 μm was deposited on the non-resist-formed portion to form a copper pattern, via holes, and a grid-like ground layer, thereby forming a conductor layer by an additive method.

【0077】(14)さらに(2)〜(13)までの工
程を繰り返して、バイアホール、格子状の電源層、ラン
ドからなる導体層を設けた。ついで、硫酸銅8g/l、
硫酸ニッケル 0.6g/l、クエン酸15g/l、次亜リン
酸ナトリウム29g/l、ホウ酸31g/l、界面活性剤
0.1g/l、pH=9からなる無電解めっき浴にてめっ
きを施し、バイアホール、ランド、格子状の電源層の全
表面にCu−Ni−P合金の厚さ 2.5μmの粗化層(凹凸
層)を形成した。
(14) The steps (2) to (13) were further repeated to provide a via layer, a grid-like power supply layer, and a conductor layer composed of lands. Then, copper sulfate 8 g / l,
Nickel sulfate 0.6g / l, citric acid 15g / l, sodium hypophosphite 29g / l, boric acid 31g / l, surfactant
Plating is performed in an electroless plating bath composed of 0.1 g / l and pH = 9, and a 2.5 μm-thick roughened layer of Cu—Ni—P alloy is formed on all surfaces of via holes, lands, and a grid-like power supply layer. An uneven layer was formed.

【0078】(15)一方、DMDGに溶解させた60重
量%のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオ
リゴマー(分子量4000)を 46.67g、メチルエチルケト
ンに溶解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ
樹脂(油化シェル製、エピコート1001)15.0g、イミダ
ゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)1.6
g、感光性モノマーである多価アクリルモノマー(日本
化薬製、商品名:R604 )3g、同じく多価アクリルモ
ノマー(共栄社化学製、商品名:DPE6A ) 1.5g、分散
系消泡剤(サンノプコ社製、商品名:S−65)0.71gを
混合し、さらにこの混合物に対して光開始剤としてのベ
ンゾフェノン(関東化学製)を2g、光増感剤としての
ミヒラーケトン(関東化学製)を0.2 g加えて、粘度を
25℃で 2.0Pa・sに調整したソルダーレジスト組成物を
得た。
(15) On the other hand, 46.67 g of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylizing 50% of an epoxy group of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) of 60% by weight dissolved in DMDG, 15.0 g of 80% by weight bisphenol A epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone, 1.6 imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN) 1.6
g, 3 g of a polyacrylic monomer which is a photosensitive monomer (trade name: R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), 1.5 g of a polyacrylic monomer (trade name: DPE6A, manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.), and a dispersion defoamer (San Nopco) (Trade name: S-65), 0.71 g, and 2 g of benzophenone (Kanto Chemical) as a photoinitiator and 0.2 g of Michler's ketone (Kanto Chemical) as a photosensitizer. In addition, the viscosity
A solder resist composition adjusted to 2.0 Pa · s at 25 ° C. was obtained.

【0079】なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計
器、 DVL-B型)で 60rpmの場合はローターNo.4、6rpm
の場合はローターNo.3によった。 (16)基板を、垂直に立てた状態でロールコーターの
一対の塗布用ロール間に挟み、ソルダーレジスト組成物
を20μmの厚さで塗布した。
The viscosity was measured with a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B type) at 60 rpm and rotor No. 4 and 6 rpm.
In the case of rotor No.3. (16) The substrate was sandwiched between a pair of application rolls of a roll coater in a vertically standing state, and the solder resist composition was applied to a thickness of 20 μm.

【0080】(17)次いで、70℃で20分間、70℃で30
分間の乾燥処理を行った後、1000mJ/cm2 の紫外線で
露光し、DMTG現像処理した。さらに、80℃で1時間、 1
00℃で1時間、 120℃で1時間、 150℃で3時間の条件
で加熱処理し、バイアホール、ランド、格子状の電源層
の上面の一部が開口した(開口径 200μm)ソルダーレ
ジスト層(厚み20μm)を形成した。
(17) Next, at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes.
After a drying treatment for 1 minute, the substrate was exposed to ultraviolet light of 1000 mJ / cm 2 and developed by DMTG. 1 hour at 80 ℃
Heat treatment under the conditions of 1 hour at 00 ° C, 1 hour at 120 ° C, and 3 hours at 150 ° C, and a part of the upper surface of the via hole, land, and grid-like power supply layer is opened (opening diameter: 200 µm). (Thickness: 20 μm).

【0081】(18)次に、ソルダーレジスト層を形成
した基板を、塩化ニッケル30g/l、次亜リン酸ナトリ
ウム10g/l、クエン酸ナトリウム10g/lからなるp
H=5の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬して、開
口部に厚さ5μmのニッケルめっき層を形成した。さら
に、その基板を、シアン化金カリウム2g/l、塩化ア
ンモニウム75g/l、クエン酸ナトリウム50g/l、次
亜リン酸ナトリウム10g/lからなる無電解金めっき液
に93℃の条件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層上に
厚さ0.03μmの金めっき層を形成した。
(18) Next, the substrate on which the solder resist layer was formed was washed with a nickel chloride 30 g / l, sodium hypophosphite 10 g / l, sodium citrate 10 g / l
It was immersed in an electroless nickel plating solution of H = 5 for 20 minutes to form a nickel plating layer having a thickness of 5 μm at the opening. Further, the substrate was placed on an electroless gold plating solution comprising 2 g / l of potassium gold cyanide, 75 g / l of ammonium chloride, 50 g / l of sodium citrate, and 10 g / l of sodium hypophosphite at 93 ° C. for 23 seconds. By dipping, a gold plating layer having a thickness of 0.03 μm was formed on the nickel plating layer.

【0082】(19)そして、ソルダーレジスト層の開
口部に、はんだペーストを印刷して200℃でリフローす
ることによりはんだバンプを形成し、はんだバンプを有
するプリント配線板を製造した。
(19) Solder paste was printed on the opening of the solder resist layer and reflowed at 200 ° C. to form solder bumps, thereby producing a printed wiring board having solder bumps.

【0083】(実施例4)実施例1と同様であるが、コ
ア基板に図18の(C)に示す格子パターンをグランド
層として設け、(12)においては、格子状のグランド
層を設けず、信号層を形成した。グランド層には図18
(C)に示すようにバイアホール接続部16が形成され
る。
(Embodiment 4) Similar to Embodiment 1, except that the grid pattern shown in FIG. 18C is provided as a ground layer on the core substrate, and the grid-like ground layer is not provided in (12). A signal layer was formed. Fig. 18 shows the ground layer.
As shown in (C), via-hole connection portions 16 are formed.

【0084】(比較例)実施例1と同様であるが、格子
状の導体層11の表面を粗化しなかった。実施例、比較
例で製造されたプリント配線板につき、ICチップを実
装し、−55℃で15分、常温10分、125℃で15
分でヒートサイクル試験を1000回、および2000
回実施した。
(Comparative Example) The same as in Example 1, except that the surface of the grid-like conductor layer 11 was not roughened. An IC chip is mounted on the printed wiring boards manufactured in Examples and Comparative Examples, and is mounted at −55 ° C. for 15 minutes, normal temperature for 10 minutes, and 125 ° C. for 15 minutes.
1000 heat cycle tests per minute, and 2000
Times.

【0085】さらに、湿度100%、温度121℃、2
気圧の条件(PCT 試験:pressure cooker test)で200
時間放置した。実施例、比較例について層間樹脂絶縁層
の剥離、クラックの発生の有無を顕微鏡で確認した。結
果を表1に示す。
Further, the humidity was 100%, the temperature was 121 ° C.,
200 at atmospheric pressure (PCT test: pressure cooker test)
Left for hours. With respect to Examples and Comparative Examples, the presence or absence of peeling and cracking of the interlayer resin insulating layer was confirmed by a microscope. Table 1 shows the results.

【0086】無電解めっき膜と電解めっき膜からなる導
体層の方が無電解めっき膜のみからなる導体層よりもク
ラックは発生しにくい。
Cracks are less likely to occur in the conductor layer composed of the electroless plating film and the electrolytic plating film than in the conductor layer composed only of the electroless plating film.

【0087】[0087]

【表1】 [Table 1]

【0088】[0088]

【発明の効果】以上説明したように本発明のプリント配
線板によれば、電源層およびグランド層として作用する
格子状の導体層の表面に粗化層が形成されており、層間
樹脂絶縁層との剥離がなく、導体層を無電解めっき膜と
電解めっき膜の2層構造とすることによりクラックを抑
制できる。
As described above, according to the printed wiring board of the present invention, the roughened layer is formed on the surface of the lattice-shaped conductor layer acting as the power supply layer and the ground layer, and the roughened layer is formed on the interlayer resin insulation layer. Cracks can be suppressed by forming the conductor layer into a two-layer structure of an electroless plating film and an electrolytic plating film without peeling.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIG. 1 is a manufacturing process diagram of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図2】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIG. 2 is a manufacturing process diagram of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図3】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIG. 3 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図4】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIG. 4 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図5】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIG. 5 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図6】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIG. 6 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図7】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIG. 7 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図8】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIG. 8 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図9】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIG. 9 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図10】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工
程図である。
FIG. 10 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図11】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工
程図である。
FIG. 11 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図12】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工
程図である。
FIG. 12 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図13】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工
程図である。
FIG. 13 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図14】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工
程図である。
FIG. 14 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図15】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工
程図である。
FIG. 15 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図16】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工
程図である。
FIG. 16 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図17】 発明にかかる多層プリント配線板の製造工
程図である。
FIG. 17 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図18】 (A)〜(C)は、円形状の導体非形成部
分を有する格子状導体層を表す模式図。
FIGS. 18A to 18C are schematic diagrams showing a grid-like conductor layer having a circular conductor-free portion.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 内層導体回路 3 無電解銅めっき膜 4 電解銅めっき膜 5 粗化層 6 層間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層) 7 めっきレジスト 8 ソルダーレジスト 9、90 半田体(半田バンプ) 10 半田パッド 11 内層のグランド層 12 電源層 14 ランド 140 ランド(バイアホール) 150 楕円状の導体非形成部分 151 頂点にアールが設けられた導体非形成部分 152 真円状の導体非形成部分 16 バイアホール接続部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Inner-layer conductor circuit 3 Electroless copper plating film 4 Electrolytic copper plating film 5 Roughening layer 6 Interlayer resin insulation layer (adhesive layer for electroless plating) 7 Plating resist 8 Solder resist 9, 90 Solder body (Solder bump) DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Solder pad 11 Inner-layer ground layer 12 Power supply layer 14 Land 140 Land (via hole) 150 Elliptical conductor non-forming part 151 Conductor non-forming part where apex is provided at the apex 152 True circular conductor non-forming part 16 via Hall connection

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に格子状の導体層が形成され、該
導体層上には層間絶縁層を介して導体回路が形成されて
なる多層プリント配線板において、 前記格子状の導体層は、表面の少なくとも一部に粗化層
が形成され、かつ前記格子状の導体層は無電解めっき膜
および電解めっき膜からなることを特徴とする多層プリ
ント配線板。
1. A multilayer printed wiring board having a lattice-shaped conductor layer formed on a substrate and a conductor circuit formed on the conductor layer via an interlayer insulating layer, wherein the lattice-shaped conductor layer comprises: A multilayer printed wiring board, wherein a roughened layer is formed on at least a part of the surface, and the lattice-shaped conductor layer comprises an electroless plating film and an electrolytic plating film.
【請求項2】 前記格子状の導体層は円形状の導体非形
成部分を有する請求項1に記載の多層プリント配線板。
2. The multilayer printed circuit board according to claim 1, wherein the lattice-shaped conductor layer has a circular conductor-free portion.
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