JP2000131193A - 光モジュールの消光比測定装置 - Google Patents
光モジュールの消光比測定装置Info
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- JP2000131193A JP2000131193A JP10302024A JP30202498A JP2000131193A JP 2000131193 A JP2000131193 A JP 2000131193A JP 10302024 A JP10302024 A JP 10302024A JP 30202498 A JP30202498 A JP 30202498A JP 2000131193 A JP2000131193 A JP 2000131193A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の光モジュールの消光比測定装置では、
サンプリングデータ数を減らすための工夫をしても、偏
光子を回転させるための機構が必要であるために、測定
時間を短縮することには限界がある。 【解決手段】 偏波面保存型光ファイバ１を介して光モ
ジュール２から出力されたレーザ光は、無偏光ビームス
プリッタ６，７で３等分に分割される。そして、それぞ
れのレーザ光は、偏波面（透過軸）の角度が異なるよう
に配置されている偏光子８，９，１０に入射する。光セ
ンサ１１，１２，１３は、偏光子８，９，１０通過した
透過光量を検出する。演算器１５は、各透過光量にもと
づいて消光比を算出する。
サンプリングデータ数を減らすための工夫をしても、偏
光子を回転させるための機構が必要であるために、測定
時間を短縮することには限界がある。 【解決手段】 偏波面保存型光ファイバ１を介して光モ
ジュール２から出力されたレーザ光は、無偏光ビームス
プリッタ６，７で３等分に分割される。そして、それぞ
れのレーザ光は、偏波面（透過軸）の角度が異なるよう
に配置されている偏光子８，９，１０に入射する。光セ
ンサ１１，１２，１３は、偏光子８，９，１０通過した
透過光量を検出する。演算器１５は、各透過光量にもと
づいて消光比を算出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光素子の偏光状態
を測定する光モジュールの消光比測定装置であって、特
に、偏波面保存型光ファイバを用いた光モジュールの偏
光状態を測定するのに適した光モジュールの消光比測定
装置に関する。
を測定する光モジュールの消光比測定装置であって、特
に、偏波面保存型光ファイバを用いた光モジュールの偏
光状態を測定するのに適した光モジュールの消光比測定
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図２は、従来の光モジュールの消光比測
定装置の構成を示す斜視図である。図２に示すように、
光モジュールの消光比測定装置は、偏光状態測定対象で
ある光モジュールに接続された偏波面保存型光ファイバ
おけるファイバ端部２１からのレーザ光が入射されるコ
リメートレンズ２３を有する。コリメートレンズ２３
は、入射されたレーザ光を平行光にする。コリメートレ
ンズ２３からの平行光は偏光子２４に入射する。
定装置の構成を示す斜視図である。図２に示すように、
光モジュールの消光比測定装置は、偏光状態測定対象で
ある光モジュールに接続された偏波面保存型光ファイバ
おけるファイバ端部２１からのレーザ光が入射されるコ
リメートレンズ２３を有する。コリメートレンズ２３
は、入射されたレーザ光を平行光にする。コリメートレ
ンズ２３からの平行光は偏光子２４に入射する。
【０００３】偏光子２４は回転ステージ２６に搭載され
ている。回転ステージ２６は、モータ２７によって、平
行光の入射方向と直交する方向に回転させられる。偏光
子２４を通過したレーザ光は、光センサ２５に入射す
る。
ている。回転ステージ２６は、モータ２７によって、平
行光の入射方向と直交する方向に回転させられる。偏光
子２４を通過したレーザ光は、光センサ２５に入射す
る。
【０００４】次に、図２に示された光モジュールの消光
比測定装置の動作を説明する。偏波面保存型光ファイバ
のファイバ端部２１を介して光モジュールから出射され
たレーザ光はコリメートレンズ２３で平行光とされ偏光
子２４に入射する。そして、偏光子２４を通過した光は
光センサ２５に入射し、光センサ２５は入射光量に応じ
た振幅の電気信号を出力する。
比測定装置の動作を説明する。偏波面保存型光ファイバ
のファイバ端部２１を介して光モジュールから出射され
たレーザ光はコリメートレンズ２３で平行光とされ偏光
子２４に入射する。そして、偏光子２４を通過した光は
光センサ２５に入射し、光センサ２５は入射光量に応じ
た振幅の電気信号を出力する。
【０００５】一般に、偏波面保存型光ファイバの出力の
偏光状態は、１８０゜周期を呈する。そこで、偏光子２
４を１８０゜以上回転させて測定が行われる。具体的に
は、回転ステージ２６に搭載された偏光子２４は、モー
タ２７によって１８０゜以上回転させられる。偏光子２
４が回転中の光センサ２５の出力、すなわち、回転中に
偏光子２４を通過したレーザ光の透過光量に応じた信号
は、演算回路（図示せず）でサンプリングされる。そし
て、演算回路は、サンプリングされた各値のうちの最大
値と最小値との比を消光比とする。
偏光状態は、１８０゜周期を呈する。そこで、偏光子２
４を１８０゜以上回転させて測定が行われる。具体的に
は、回転ステージ２６に搭載された偏光子２４は、モー
タ２７によって１８０゜以上回転させられる。偏光子２
４が回転中の光センサ２５の出力、すなわち、回転中に
偏光子２４を通過したレーザ光の透過光量に応じた信号
は、演算回路（図示せず）でサンプリングされる。そし
て、演算回路は、サンプリングされた各値のうちの最大
値と最小値との比を消光比とする。
【０００６】消光比の測定精度を上げるには、サンプリ
ング間隔を狭くする必要がある。しかし、サンプリング
間隔を狭くするほどサンプリングデータ数が増大するの
で、測定時間が長くなる。消光比の測定精度を確保しつ
つサンプリングデータ数を減らす手法として、例えば、
特公平７−９２４２２号公報に記載された方法がある。
その方法では、透過光量が最大になる偏光子２４の角度
と透過光量が最小になる偏光子２４の角度とが９０゜を
なすことを利用する。従って、まず、透過光量が最大ま
たは最小になる角度をサンプリングデータから見いだ
し、透過光量の最大値または最小値を求める。そして、
その位置から偏光子２４を９０゜回転させて透過光量の
最小値または最大値を求める。
ング間隔を狭くする必要がある。しかし、サンプリング
間隔を狭くするほどサンプリングデータ数が増大するの
で、測定時間が長くなる。消光比の測定精度を確保しつ
つサンプリングデータ数を減らす手法として、例えば、
特公平７−９２４２２号公報に記載された方法がある。
その方法では、透過光量が最大になる偏光子２４の角度
と透過光量が最小になる偏光子２４の角度とが９０゜を
なすことを利用する。従って、まず、透過光量が最大ま
たは最小になる角度をサンプリングデータから見いだ
し、透過光量の最大値または最小値を求める。そして、
その位置から偏光子２４を９０゜回転させて透過光量の
最小値または最大値を求める。
【０００７】しかし、そのようにしてサンプリングデー
タ数を減らしても、偏光子２４を回転させるための機械
的機構は必要である。従って、機構が複雑になる。ま
た、偏光子２４を機械的に回転させるために回転速度に
は限度があり、その結果、測定時間の短縮には限界があ
る。
タ数を減らしても、偏光子２４を回転させるための機械
的機構は必要である。従って、機構が複雑になる。ま
た、偏光子２４を機械的に回転させるために回転速度に
は限度があり、その結果、測定時間の短縮には限界があ
る。
【０００８】測定数をさらに減らした消光比の測定方法
として、特開平７−１０３８５２号公報に開示された方
法がある。この方法によれば、被測定物に対して参照偏
光子を４種類の角度に設定し、それぞれについて透過光
量を得る。そして、４つの透過光量を用いて演算によっ
て消光比を求める。しかし、その方法でも、参照偏光子
を４つの角度に回転させる何らかの機械的機構が必要で
ある。
として、特開平７−１０３８５２号公報に開示された方
法がある。この方法によれば、被測定物に対して参照偏
光子を４種類の角度に設定し、それぞれについて透過光
量を得る。そして、４つの透過光量を用いて演算によっ
て消光比を求める。しかし、その方法でも、参照偏光子
を４つの角度に回転させる何らかの機械的機構が必要で
ある。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
光モジュールの消光比測定装置では、サンプリングデー
タ数を減らすための工夫をしても、偏光子を回転させる
ための機構が必要であるために、測定時間を短縮するこ
とには限界があるという課題がある。
光モジュールの消光比測定装置では、サンプリングデー
タ数を減らすための工夫をしても、偏光子を回転させる
ための機構が必要であるために、測定時間を短縮するこ
とには限界があるという課題がある。
【００１０】そこで、本発明は、測定機構が簡略化され
るとともに、より高速に測定を完了することができる光
モジュールの消光比測定装置を提供することを目的とす
る。
るとともに、より高速に測定を完了することができる光
モジュールの消光比測定装置を提供することを目的とす
る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明による光モジュー
ルの消光比測定装置は、被測定対象からの光を偏光状態
を保存して等分割する光等分割手段と、光等分割手段か
らの各光を通過させる各偏光子と、各偏光子の透過光量
を測定する各透過光量測定手段と、各透過光量測定手段
が測定した各透過光量から被測定対象の消光比を計算す
る演算手段とを備えたものである。
ルの消光比測定装置は、被測定対象からの光を偏光状態
を保存して等分割する光等分割手段と、光等分割手段か
らの各光を通過させる各偏光子と、各偏光子の透過光量
を測定する各透過光量測定手段と、各透過光量測定手段
が測定した各透過光量から被測定対象の消光比を計算す
る演算手段とを備えたものである。
【００１２】光モジュールの消光比測定装置は、光等分
割手段が入射光を所定比で分岐させる複数の無偏光ビー
ムスプリッタを含む構成であってもよい。また、各透過
光量測定手段が、偏光子の透過光を受光して受光量に応
じた電気信号を出力する受光素子と、受光素子からの電
気信号をディジタル値に変換するＡ−Ｄ変換器とを含
み、演算手段が、Ａ−Ｄ変換器からの各ディジタル値を
用いて消光比を計算する構成であってもよい。
割手段が入射光を所定比で分岐させる複数の無偏光ビー
ムスプリッタを含む構成であってもよい。また、各透過
光量測定手段が、偏光子の透過光を受光して受光量に応
じた電気信号を出力する受光素子と、受光素子からの電
気信号をディジタル値に変換するＡ−Ｄ変換器とを含
み、演算手段が、Ａ−Ｄ変換器からの各ディジタル値を
用いて消光比を計算する構成であってもよい。
【００１３】光モジュールの消光比測定装置は、例えば
偏光子が３個設けられている構成である。そして、第１
〜第３の偏光子の透過軸が任意の基準方向に対して０
゜、４５゜、９０゜になるように第１〜第３の偏光子が
配置されている構成であってもよい。また、２つの無偏
光ビームスプリッタが設けられ、第１の無偏光ビームス
プリッタは入射光を１：２に分岐させて１／３に分岐さ
れた光を第１の偏光子に出射するとともに２／３に分岐
された光を第２の無偏光ビームスプリッタに出射し、第
２の無偏光ビームスプリッタは入射光を１：１に分岐さ
せてそれぞれを第２の偏光子と第３の偏光子に出射する
ように構成されていてもよい。
偏光子が３個設けられている構成である。そして、第１
〜第３の偏光子の透過軸が任意の基準方向に対して０
゜、４５゜、９０゜になるように第１〜第３の偏光子が
配置されている構成であってもよい。また、２つの無偏
光ビームスプリッタが設けられ、第１の無偏光ビームス
プリッタは入射光を１：２に分岐させて１／３に分岐さ
れた光を第１の偏光子に出射するとともに２／３に分岐
された光を第２の無偏光ビームスプリッタに出射し、第
２の無偏光ビームスプリッタは入射光を１：１に分岐さ
せてそれぞれを第２の偏光子と第３の偏光子に出射する
ように構成されていてもよい。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。図１は、本発明による光モジュー
ルの消光比測定装置を示すブロック図である。図１に示
すように、偏光状態測定対象であるレーザダイオードモ
ジュールなどの光モジュール２に接続された偏波面保存
型光ファイバ２の端部のコネクタ３からのレーザ光４が
入射されるコリメートレンズ５を有する。コリメートレ
ンズ５は、入射されたレーザ光４を平行光にする。コリ
メートレンズ５からの平行光は無偏光ビームスプリッタ
６に入射する。
を参照して説明する。図１は、本発明による光モジュー
ルの消光比測定装置を示すブロック図である。図１に示
すように、偏光状態測定対象であるレーザダイオードモ
ジュールなどの光モジュール２に接続された偏波面保存
型光ファイバ２の端部のコネクタ３からのレーザ光４が
入射されるコリメートレンズ５を有する。コリメートレ
ンズ５は、入射されたレーザ光４を平行光にする。コリ
メートレンズ５からの平行光は無偏光ビームスプリッタ
６に入射する。
【００１５】無偏光ビームスプリッタ６は、入射光を
１：２に分割する。無偏光ビームスプリッタ６で２／３
に分岐されたレーザ光は、無偏光ビームスプリッタ７で
さらに１：１に分割される。従って、無偏光ビームスプ
リッタ６および無偏光ビームスプリッタ７によって、レ
ーザ光４は３等分に分割される。なお、無偏光ビームス
プリッタ６，７はレーザ光のｐ偏光およびｓ偏光に対し
て等しい分割比になっているので、無偏光ビームスプリ
ッタ６，７を通過したレーザ光の偏光状態（消光比およ
び偏光角）は変化しない。
１：２に分割する。無偏光ビームスプリッタ６で２／３
に分岐されたレーザ光は、無偏光ビームスプリッタ７で
さらに１：１に分割される。従って、無偏光ビームスプ
リッタ６および無偏光ビームスプリッタ７によって、レ
ーザ光４は３等分に分割される。なお、無偏光ビームス
プリッタ６，７はレーザ光のｐ偏光およびｓ偏光に対し
て等しい分割比になっているので、無偏光ビームスプリ
ッタ６，７を通過したレーザ光の偏光状態（消光比およ
び偏光角）は変化しない。
【００１６】無偏光ビームスプリッタ６で１／３に分岐
されたレーザ光は、偏光子８に入射する。また、無偏光
ビームスプリッタ７によって１／３に分岐された各レー
ザ光のうちの一方は、偏光子９に入射する。他方は、偏
光子１０に入射する。偏光子８，９，１０として、被測
定対象の光モジュール１より消光比の優れたグランテー
ラプリズム等の偏光素子が用いられている。そして、そ
れぞれ、透過する偏波面（透過軸）の角度が異なるよう
に配置されている。
されたレーザ光は、偏光子８に入射する。また、無偏光
ビームスプリッタ７によって１／３に分岐された各レー
ザ光のうちの一方は、偏光子９に入射する。他方は、偏
光子１０に入射する。偏光子８，９，１０として、被測
定対象の光モジュール１より消光比の優れたグランテー
ラプリズム等の偏光素子が用いられている。そして、そ
れぞれ、透過する偏波面（透過軸）の角度が異なるよう
に配置されている。
【００１７】偏光子８を透過したレーザ光は光センサ１
１で受光され、偏光子９を透過したレーザ光は光センサ
１２で受光され、偏光子１０を透過したレーザ光は光セ
ンサ１３で受光される。そして、各光センサ１１，１
２，１３の受光量に応じた電気信号がＡ−Ｄ変換器１４
に入力される。Ａ−Ｄ変換器１４は、入力した各電気信
号をディジタル信号に変換し演算器１５に出力する。演
算器１５は、３つのディジタル信号にもとづいて消光比
を算出する。
１で受光され、偏光子９を透過したレーザ光は光センサ
１２で受光され、偏光子１０を透過したレーザ光は光セ
ンサ１３で受光される。そして、各光センサ１１，１
２，１３の受光量に応じた電気信号がＡ−Ｄ変換器１４
に入力される。Ａ−Ｄ変換器１４は、入力した各電気信
号をディジタル信号に変換し演算器１５に出力する。演
算器１５は、３つのディジタル信号にもとづいて消光比
を算出する。
【００１８】次に、動作について説明する。偏光子の回
転角度（透過軸の向き）θに対して、偏光子を透過する
光量Ｉ（θ）は、 Ｉ（θ）＝Ａ・ｓｉｎ（θ＋ψ）＋Ｂ ・・・（１） となる。ここで、ψは光軸を中心とした偏光子の角度で
あり、Ａ，Ｂは使用される偏光子特性や透過するレーザ
光パワーに応じた係数である。
転角度（透過軸の向き）θに対して、偏光子を透過する
光量Ｉ（θ）は、 Ｉ（θ）＝Ａ・ｓｉｎ（θ＋ψ）＋Ｂ ・・・（１） となる。ここで、ψは光軸を中心とした偏光子の角度で
あり、Ａ，Ｂは使用される偏光子特性や透過するレーザ
光パワーに応じた係数である。
【００１９】それぞれの偏光子８，９，１０を通過する
レーザ光のパワーは同一とされているので、偏光子８，
９，１０の特性が同じであれば、各偏光子８，９，１０
についてＡ，Ｂは同じ値になる。θは既知であるから、
偏光子８，９，１０を透過した光量から（１）式のＡ，
Ｂを求めることができる。
レーザ光のパワーは同一とされているので、偏光子８，
９，１０の特性が同じであれば、各偏光子８，９，１０
についてＡ，Ｂは同じ値になる。θは既知であるから、
偏光子８，９，１０を透過した光量から（１）式のＡ，
Ｂを求めることができる。
【００２０】消光比ＰＥＲは、 ＰＥＲ＝１０ｌｏｇ（（Ｂ−Ａ）／（Ｂ＋Ａ）） ［ｄＢ］ ・・・（２） で求めることができる。
【００２１】偏波面保存型光ファイバ１から出射され、
コリメートレンズ４および無偏光ビームスプリッタ６，
７を通って偏光子８，９，１０を通過したレーザ光の透
過光量は、光センサ１１，１２，１３で検出される。そ
して、Ａ−Ｄ変換器１４は、光センサ１１，１２，１３
から入力される透過光量に応じたアナログ値をディジタ
ル値に変換して演算器１５に対して出力する。演算器１
５は、３つのディジタル値から（１）式を用いてＡ，Ｂ
を算出する。さらに、（２）式を用いて消光比ＰＥＲを
算出する。
コリメートレンズ４および無偏光ビームスプリッタ６，
７を通って偏光子８，９，１０を通過したレーザ光の透
過光量は、光センサ１１，１２，１３で検出される。そ
して、Ａ−Ｄ変換器１４は、光センサ１１，１２，１３
から入力される透過光量に応じたアナログ値をディジタ
ル値に変換して演算器１５に対して出力する。演算器１
５は、３つのディジタル値から（１）式を用いてＡ，Ｂ
を算出する。さらに、（２）式を用いて消光比ＰＥＲを
算出する。
【００２２】なお、偏光子８，９，１０の透過軸をある
基準方向に対して０゜，４５゜，９０゜となるように配
置すれば、上記のＡ，Ｂは、 Ｂ＝（Ｉ（０゜）＋Ｉ（９０゜））／２ Ａ＝√［（Ｉ（０゜）−Ｂ）×（Ｉ（０゜）−Ｂ）＋
（Ｉ（４５゜）−Ｂ）×（Ｉ（４５゜）−Ｂ）］ で計算される。従って、そのように配置すれば、演算器
１５における計算が簡略化される。なお、計算簡略化の
ために他の角度の組み合わせを用いてもよい。
基準方向に対して０゜，４５゜，９０゜となるように配
置すれば、上記のＡ，Ｂは、 Ｂ＝（Ｉ（０゜）＋Ｉ（９０゜））／２ Ａ＝√［（Ｉ（０゜）−Ｂ）×（Ｉ（０゜）−Ｂ）＋
（Ｉ（４５゜）−Ｂ）×（Ｉ（４５゜）−Ｂ）］ で計算される。従って、そのように配置すれば、演算器
１５における計算が簡略化される。なお、計算簡略化の
ために他の角度の組み合わせを用いてもよい。
【００２３】以上のように、この実施の形態によれば、
偏波面保存型光ファイバ１を介して光モジュール２から
出力されたレーザ光を３等分に分割し、それぞれのレー
ザ光を、偏波面（透過軸）の角度が異なるように配置さ
れている偏光子に入射させ、偏光子を通過したレーザ光
の透過光量にもとづいて消光比を算出する。よって、偏
光子を回転させるための要素を用いる必要はない。その
結果、測定装置の構成が簡素になるとともに、偏光子を
回転させるための時間がないので測定時間が短縮され
る。
偏波面保存型光ファイバ１を介して光モジュール２から
出力されたレーザ光を３等分に分割し、それぞれのレー
ザ光を、偏波面（透過軸）の角度が異なるように配置さ
れている偏光子に入射させ、偏光子を通過したレーザ光
の透過光量にもとづいて消光比を算出する。よって、偏
光子を回転させるための要素を用いる必要はない。その
結果、測定装置の構成が簡素になるとともに、偏光子を
回転させるための時間がないので測定時間が短縮され
る。
【００２４】なお、上記の実施の形態では、レーザ光４
を３分割したが、測定精度をさらに向上させるために、
レーザ光４を４光路以上に分割し、４個以上の偏光子お
よび光センサを使用してもよい。
を３分割したが、測定精度をさらに向上させるために、
レーザ光４を４光路以上に分割し、４個以上の偏光子お
よび光センサを使用してもよい。
【００２５】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、光モジ
ュールの消光比測定装置を、被測定対象からの光を偏光
状態を保存して等分割する光等分割手段と、光等分割手
段からの各光を通過させる各偏光子と、各偏光子の透過
光量を測定する各透過光量測定手段と、各透過光量測定
手段が測定した各透過光量から被測定対象の消光比を計
算する演算手段とを備えた構成にしたので、測定機構が
簡略化されるとともに、より高速に測定を完了すること
ができる効果がある。
ュールの消光比測定装置を、被測定対象からの光を偏光
状態を保存して等分割する光等分割手段と、光等分割手
段からの各光を通過させる各偏光子と、各偏光子の透過
光量を測定する各透過光量測定手段と、各透過光量測定
手段が測定した各透過光量から被測定対象の消光比を計
算する演算手段とを備えた構成にしたので、測定機構が
簡略化されるとともに、より高速に測定を完了すること
ができる効果がある。
【図１】 本発明による光モジュールの消光比測定装置
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】 従来の光モジュールの消光比測定装置の構成
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
１ 偏波面保存型光ファイバ ２ 光モジュール ３ コネクタ ４ レーザ光 ５ コリメートレンズ ６，７ 無偏光ビームスプリッタ ８，９，１０ 偏光子 １１，１２，１３ 光センサ １４ Ａ−Ｄ変換器 １５ 演算器
Claims (6)
- 【請求項１】 被測定対象からの光を偏光状態を保存し
て等分割する光等分割手段と、 前記光等分割手段からの各光を通過させる各偏光子と、 前記各偏光子の透過光量を測定する各透過光量測定手段
と、 前記各透過光量測定手段が測定した各透過光量から被測
定対象の消光比を計算する演算手段とを備えた光モジュ
ールの消光比測定装置。 - 【請求項２】 光等分割手段は、それぞれが入射光を所
定比で分岐させる複数の無偏光ビームスプリッタを含む
請求項１記載の光モジュールの消光比測定装置。 - 【請求項３】 各透過光量測定手段は、偏光子の透過光
を受光して受光量に応じた電気信号を出力する受光素子
と、受光素子からの電気信号をディジタル値に変換する
Ａ−Ｄ変換器とを含み、 演算手段は、前記Ａ−Ｄ変換器からの各ディジタル値を
用いて消光比を計算する請求項２記載の光モジュールの
消光比測定装置。 - 【請求項４】 偏光子は３個設けられている請求項３記
載の光モジュールの消光比測定装置。 - 【請求項５】 第１〜第３の偏光子の透過軸が任意の基
準方向に対して０゜、４５゜、９０゜になるように第１
〜第３の偏光子が配置されている請求項４記載の光モジ
ュールの消光比測定装置。 - 【請求項６】 ２つの無偏光ビームスプリッタが設けら
れ、 第１の無偏光ビームスプリッタは、入射光を１：２に分
岐させて、１／３に分岐された光を第１の偏光子に出射
するとともに２／３に分岐された光を第２の無偏光ビー
ムスプリッタに出射し、 第２の無偏光ビームスプリッタは、入射光を１：１に分
岐させてそれぞれを第２の偏光子と第３の偏光子に出射
する請求項４または請求項５記載の光モジュールの消光
比測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10302024A JP2000131193A (ja) | 1998-10-23 | 1998-10-23 | 光モジュールの消光比測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10302024A JP2000131193A (ja) | 1998-10-23 | 1998-10-23 | 光モジュールの消光比測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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1998
- 1998-10-23 JP JP10302024A patent/JP2000131193A/ja active Pending
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