JP2000124358A - 高周波集積回路 - Google Patents

高周波集積回路

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JP2000124358A JP29035198A JP29035198A JP2000124358A JP 2000124358 A JP2000124358 A JP 2000124358A JP 29035198 A JP29035198 A JP 29035198A JP 29035198 A JP29035198 A JP 29035198A JP 2000124358 A JP2000124358 A JP 2000124358A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 誘電体薄膜を積層して形成した高周波集積回
路に関し、高機能な高周波集積回路を低価格で実現する
ことを目的とする。 【解決手段】 シリコン基板101にMIM型容量10
2、スパイラルインダクタ103、薄膜抵抗104を形
成し、その上に第1のBCB105と、接地導体106
と、第2、第3のBCB107、108を積層して受動
回路を形成し、その上に能動素子111をフリップチッ
プ実装により実装した高周波集積回路で、能動素子を受
動素子と別々に形成するために低価格化が実現できる。
また、比較的低周波で使われる集中定数型受動素子と、
高周波で使われる分布定数型受動素子を、接地導体で分
離でき、高密度に受動素子を配置できるため、受動素子
基板も小型化、低価格化が実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、誘電体薄膜を積層
して形成した高周波集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、誘電体薄膜を積層した集積回路と
しては、1996年IEEE MTT−Sマイクロ波シ
ンポジウムダイジェスト1209頁から1213頁に記
載されたものが知られている。
【0003】図7に従来の誘電体薄膜を積層した集積回
路の構造を示す。601のガリウム砒素基板上に能動素
子としてMESFET602と、受動素子としてMIM
型容量603、抵抗604を半導体プロセスを用いて形
成し、その上にポリィミド605を4層積層し、各層間
や層の上に金属配線を有し、層間をヴィアホール606
で接続する構造を有している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この集積回路では、高
周波の信号を処理するためのトランジスタと同一基板上
に受動素子を形成している。高価な半導体基板上に、低
周波で必要とする集中定数型の受動素子を形成するため
に、高コストとなる。
【0005】本発明は上記課題を解決するものであり、
受動素子部分を安価な基板上に形成し、高価な能動素子
部分の基板面積を最小限に抑えて、能動素子部分を受動
素子とは別に形成することで低コスト化を実現すること
を目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】シリコン基板上に、MI
M型の容量と、スパイラルインダクタと、薄膜抵抗と、
これらを接続する金属配線とを有し、これらの素子の上
部に第1のBCB(ベンソシクロブテン)を積層し、前
記第1のBCBの上面に接地面として金属を積層し、第
2、第3のBCBを積層し、第2、第3のBCB上に金
属配線を有し、前記第1、第2、第3のBCB層間の金
属配線をヴィアホールで接続し、前記第3のBCB上に
金属電極を設け、前記金属電極上にフリップチップ実装
により能動素子を実装した構造を有する。
【0007】これにより、接続による特性劣化がなく、
安価で高機能な高周波集積回路が得られる。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、シリコン基板上に、MIM型の容量と、スパイラル
インダクタと、薄膜抵抗と、これらを接続する金属配線
とを有し、これらの素子の上部に第1のBCB(ベンソ
シクロブテン)を積層し、前記第1のBCBの上面に接
地面として金属を積層し、第2、第3のBCBを積層
し、第2、第3のBCB上に金属配線を有し、前記第
1、第2、第3のBCB層間の金属配線をヴィアホール
で接続し、前記第3のBCB上に金属電極を設け、前記
金属電極上にフリップチップ実装により能動素子を実装
したことを特徴とする高周波集積回路であり、受動素子
を比較的安価な基板上に形成し、能動素子をフリップチ
ップで実装することにより特性劣化することなく、高機
能な高周波集積回路を安価に実現できるという作用を有
する。
【0009】請求項2に記載の発明は、シリコン基板の
裏面に、MIM型容量と、スパイラルインダクタと、薄
膜抵抗を形成し、前記シリコン基板の裏面と表面をヴィ
アホールで接続したことを特徴とする請求項1記載の高
周波集積回路であり、受動素子を接地金属から離すこと
ができ、受動素子の自己共振周波数を高くすることがで
きるという作用を有する。
【0010】請求項3に記載の発明は、シリコン基板に
ヴィアホールを有し、裏面を放熱板の上に実装したこと
を特徴とする請求項1記載の高周波集積回路であり、高
出力のデバイスも実現できるという作用を有する。
【0011】請求項4に記載の発明は、シリコン基板の
代わりに、ガリウム砒素基板またはガラス基板またはセ
ラミック基板または窒化アルミ基板を用いたことを特徴
とする請求項1記載の高周波集積回路であり、どの材料
を使用しても請求項1記載発明と同等の効果が得られる
といる作用を有する。
【0012】請求項5に記載の発明は、BCBの代わり
に有機系材料を用いたことを特徴とする請求項1記載の
高周波集積回路であり、有機系材料を用いても請求項1
記載の発明と同等の効果が得られるという作用を有す
る。
【0013】また、請求項6に記載の発明のように、有
機系材料として、ポリィミドを用いたことを特徴とする
請求項5記載の高周波集積回路としても、同様の作用を
呈する。
【0014】請求項7に記載の発明は、シリコン基板の
代わりにガラス基板またはセラミック基板または窒化ア
ルミ基板の多層基板を用い、内層にも金属配線を形成
し、ヴィアホールで接続したことを特徴とする請求項1
記載の高周波集積回路であり、受動素子基板をさらに小
型化ができるという作用を有する。
【0015】請求項8に記載の発明は、能動素子として
単体トランジスタを用いたことを特徴とする請求項1記
載の高周波集積回路であり、単体トランジスタを使用す
ることで高周波における動作が可能であるという作用を
有する。
【0016】また、請求項9のように、単体トランジス
タとして、HEMTまたはHBTまたはMESFETま
たはバイポーラトランジスタまたはMOSFETのうち
少なくとも一つを用いたことを特徴とする請求項8記載
の高周波集積回路としても、同様の作用を呈する。
【0017】請求項10に記載の発明は、能動素子とし
て、1チップ内に複数の単体トランジスタを有するもの
を用いたことを特徴とする請求項1記載の高周波集積回
路であり、複数のトランジスタを一度に実装することに
より、実装のコストを低減するとともに、小型化を実現
できるという作用を有する。
【0018】請求項11に記載の発明は、能動素子とし
て、複数の半導体チップを同一基板上にフリップチップ
実装したことを特徴とする請求項1記載の高周波集積回
路であり、異種のトランジスタをモジュール内において
自由に用いることができるという作用を有する。
【0019】請求項12に記載の発明は、シリコン基
板、またはシリコン基板の代わりとして用いたガリウム
砒素基板上に、バイポーラトランジスタまたは電界効果
トランジスタを形成し、低周波の信号を処理する回路を
形成したことを特徴とする請求項1または4記載の高周
波集積回路であり、モジュールの面積を増やさず、電源
回路などの低周波回路を内蔵することができるという作
用を有する。
【0020】請求項13に記載の発明は、請求項1から
12のいずれかに記載の高周波集積回路を用いたことを
特徴とする無線端末装置であり、無線端末装置の小型化
と低価格化を実現するという作用を有する。
【0021】請求項14に記載の発明は、請求項1から
12のいずれかに記載の高周波集積回路を用いたことを
特徴とする無線基地局装置であり、無線基地局装置の小
型化と低価格化を実現するという作用を有する。
【0022】請求項15に記載の発明は、請求項1から
12のいずれかに記載の高周波集積回路を用いたことを
特徴とする無線計測装置であり、無線計測装置の小型化
と低価格化を実現するという作用を有する。
【0023】以下、本発明の実施の形態について、図1
から図6を用いて説明する。 (実施の形態1)図1は、本発明の高周波集積回路にお
ける第1の実施の形態を示したものである。図1におい
て101はシリコン基板、102は窒化珪素を誘電体と
するMIM型容量、103はスパイラルインダクタ、1
04は薄膜抵抗、105は第1のBCB膜、106は第
1のBCB膜上に形成した接地導体層、107、108
は第2、第3のBCB膜、109は分布定数回路を形成
するための金属配線、110はBCB層間を貫くヴィア
ホール、111は能動素子を形成した半導体チップ、1
12はフリップチップ実装の接続部となる金バンプ、1
13は封止樹脂である。
【0024】このような構造とすることで、バイアス回
路などで必要となる容量102、インダクタ103、抵
抗104などの集中定数素子と高周波における整合回路
などで必要となる分布定数回路109を多層に配置する
ことにより、受動回路部分を小型化することができる。
そして、両者の層間には接地導体層106を設けている
ために、アイソレーションが確保できる。
【0025】また、能動素子111を別の基板上に形成
するため、低コスト化が実現できる。
【0026】更に、能動素子を微小な金バンプ112を
用いてフリップチップ実装により実装するため、高周波
における接続部の損失を低減することができる。
【0027】なお、シリコン基板の代わりにガリウム砒
素基板、セラミック基板、ガラス基板などを用いても同
様の効果が得られることは言うまでもない。
【0028】また、BCBの代わりにポリィミドなどの
有機系の材料を使用しても同様の効果が得られることは
言うまでもない。
【0029】また、フリップチップする能動素子111
としては、HEMT、HBT、MESFET、バイポー
ラトランジスタ、MOSFET、ダイオードなどの単体
トランジスタのチップでも、これらの素子が複数集積化
されたチップでもよいが、複数集積化されたチップを用
いることにより、より小型化を実現することができる。
【0030】(実施の形態2)図2は、高周波集積回路
における第2の実施の形態を示し、図2において第1の
実施の形態と異なるのは、シリコン基板の代わりに窒化
アルミ基板201を用い、窒化アルミ基板201にヴィ
アホール114を設け、窒化アルミ基板201を放熱板
116上に実装した点である。
【0031】このように、放熱性に優れた窒化アルミ基
板を用いるとともに、裏面に熱を放熱するために、高出
力アンプなどの放熱性に優れた高周波集積回路が実現で
きる。
【0032】(実施の形態3)図3は、高周波集積回路
における第3の実施の形態を示し、図3において第1の
実施の形態と異なるのは、集中定数素子102、10
3、104をシリコン基板の裏面に形成し、ヴィアホー
ル116を介して表面の回路と接続した点である。
【0033】このように、裏面に形成することで、表面
の接地導体層106との距離をとることができるため、
接地面に対する寄生容量を低減することができ、集中定
数素子の自己共振周波数を高くすることができる。
【0034】(実施の形態4)図4は、高周波集積回路
における第4の実施の形態を示し、図4において第1の
実施の形態と異なる点は、シリコン基板101の代わり
としてセラミック多層基板301を用いて、その内層に
スパイラルインダクタ203や薄膜抵抗204を形成し
た点である。
【0035】このようにすることで、さらに小型化を図
ることができる。 (実施の形態5)図5は高周波集積回路における第5の
実施の形態を示し、図6は回路例を示したものである。
図5において第1の実施例の形態と異なる点は、シリコ
ン基板101上に低周波信号の処理を行う半導体回路を
形成し、その上に第1、第2、第3のBCB膜105、
107、108を積層し、BCB膜上に、高周波信号の
処理を行う高周波集積回路を形成した点である。
【0036】本実施の形態においては、受動素子だけで
なく、トランジスタ302を半導体プロセスにより、シ
リコン基板101上に形成し、高周波増幅器の電源回路
や、バイアス回路などの低周波回路303をシリコン基
板上に形成し、高周波増幅器の1/4波長型高周波阻止
回路305や、入出力整合回路306などの高周波回路
303をBCBの膜上に分布定数回路を用いて形成し、
能動素子111としてHBTを用いている。
【0037】このように、接地導体106を境として、
これより上層に高周波回路304、接地導体106より
下部に低周波回路303を設けることで、両者のアイソ
レーションを確保しながら、高密度に回路を形成するこ
とができ、小型化を実現することができる。
【0038】また本実施の形態においては、低周波信号
処理回路として、電源回路を例としたが、A/Dコンバ
ータ、ディジタルフィルタ、検波回路などのディジタル
信号処理回路を設けてもよいことは言うまでもない。
【0039】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、シリコン
基板上とシリコン基板上に積層したBCB上に、高密度
に受動回路を形成し、その上に能動素子をフリップチッ
プ実装する構造とすることにより、接続による特性劣化
がなく、高集積度の集積回路を安価に実現できるという
効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態による高周波集積回路の
構造断面図
【図2】本発明の一実施の形態による高周波集積回路の
構造断面図
【図3】本発明の一実施の形態による高周波集積回路の
構造断面図
【図4】本発明の一実施の形態による高周波集積回路の
構造断面図
【図5】本発明の一実施の形態による高周波集積回路の
構造断面図
【図6】本発明の一実施の形態による高周波集積回路の
回路例を示す図
【図7】従来の高周波集積回路の構造断面図
【符号の説明】
101 シリコン基板 102 MIM型容量 103、203 スパイラルインダクタ 104、204 薄膜抵抗 105 第1のBCB膜 106、115 接地導体 107 第2のBCB膜 108 第3のBCB膜 109 金属配線 110 ヴィアホール 111 能動素子 112 金バンプ 113 封止樹脂 114 ヴィアホール 116 放熱板 201 窒化アルミ基板 301 セラミック基板 302 トランジスタ 303 低周波回路 304 高周波回路 305 1/4波長型高周波阻止回路 306 整合回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小倉 洋 神奈川県川崎市多摩区東三田3丁目10番1 号 松下技研株式会社内 Fターム(参考) 5J006 HB01 HB05 HB22 HD08 HD12 JA02 JA03 LA15 LA21 LA25 NA08 PB01 5J067 AA04 AA41 CA91 CA92 FA16 HA02 HA09 HA10 HA11 HA12 HA24 HA25 HA29 HA33 KA12 KA13 KA29 KA42 KA47 KA65 KA68 KS11 KS25 KS27 LS12 MA21 QA02 QA04 QS03 QS04 QS05 QS11 QS12 QS17 TA01

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 シリコン基板上に、MIM型の容量と、
    スパイラルインダクタと、薄膜抵抗と、これらを接続す
    る金属配線とを有し、これらの素子の上部に第1のBC
    B(ベンソシクロブテン)を積層し、前記第1のBCB
    の上面に接地面として金属を積層し、第2、第3のBC
    Bを積層し、第2、第3のBCB上に金属配線を有し、
    前記第1、第2、第3のBCB層間の金属配線をヴィア
    ホールで接続し、前記第3のBCB上に金属電極を設
    け、前記金属電極上にフリップチップ実装により能動素
    子を実装したことを特徴とする高周波集積回路。
  2. 【請求項2】 シリコン基板の裏面に、MIM型容量
    と、スパイラルインダクタと、薄膜抵抗を形成し、前記
    シリコン基板の裏面と表面をヴィアホールで接続したこ
    とを特徴とする請求項1記載の高周波集積回路。
  3. 【請求項3】 シリコン基板にヴィアホールを有し、裏
    面を放熱板の上に実装したことを特徴とする請求項1記
    載の高周波集積回路。
  4. 【請求項4】 シリコン基板の代わりに、ガリウム砒素
    基板またはガラス基板またはセラミック基板または窒化
    アルミ基板を用いたことを特徴とする請求項1記載の高
    周波集積回路。
  5. 【請求項5】 BCBの代わりに有機系材料を用いたこ
    とを特徴とする請求項1記載の高周波集積回路。
  6. 【請求項6】 有機系材料として、ポリィミドを用いた
    ことを特徴とする請求項5記載の高周波集積回路。
  7. 【請求項7】 シリコン基板の代わりにガラス基板また
    はセラミック基板または窒化アルミ基板の多層基板を用
    い、内層にも金属配線を形成し、ヴィアホールで接続し
    たことを特徴とする請求項1記載の高周波集積回路。
  8. 【請求項8】 能動素子として単体トランジスタを用い
    たことを特徴とする請求項1記載の高周波集積回路。
  9. 【請求項9】 単体トランジスタとして、HEMTまた
    はHBTまたはMESFETまたはバイポーラトランジ
    スタまたはMOSFETのうち少なくとも一つを用いた
    ことを特徴とする請求項8記載の高周波集積回路。
  10. 【請求項10】 能動素子として、1チップ内に複数の
    単体トランジスタを有するものを用いたことを特徴とす
    る請求項1記載の高周波集積回路。
  11. 【請求項11】 能動素子として、複数の半導体チップ
    を同一基板上にフリップチップ実装したことを特徴とす
    る請求項1記載の高周波集積回路。
  12. 【請求項12】 シリコン基板、またはシリコン基板の
    代わりとして用いたガリウム砒素基板上に、バイポーラ
    トランジスタまたは電界効果トランジスタを形成し、低
    周波の信号を処理する回路を形成したことを特徴とする
    請求項1または4記載の高周波集積回路。
  13. 【請求項13】 請求項1から12のいずれかに記載の
    高周波集積回路を用いたことを特徴とする無線端末装
    置。
  14. 【請求項14】 請求項1から12のいずれかに記載の
    高周波集積回路を用いたことを特徴とする無線基地局装
    置。
  15. 【請求項15】 請求項1から12のいずれかに記載の
    高周波集積回路を用いたことを特徴とする無線計測装
    置。
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Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003007379A1 (fr) * 2001-07-12 2003-01-23 Hitachi, Ltd. Composant de circuit electronique
US6933601B2 (en) 2001-07-12 2005-08-23 Hitachi, Ltd. Semiconductor connection substrate
US7157794B2 (en) * 2002-04-03 2007-01-02 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor device that suppresses variations in high frequency characteristics of circuit elements
KR100828244B1 (ko) * 2000-09-14 2008-05-07 소니 가부시끼 가이샤 고주파 모듈 장치 및 그 제조 방법
WO2011053981A3 (en) * 2009-11-02 2011-09-09 Transphorm Inc. Package configurations for low emi circuits
US8289065B2 (en) 2008-09-23 2012-10-16 Transphorm Inc. Inductive load power switching circuits
US8508281B2 (en) 2008-02-12 2013-08-13 Transphorm Inc. Bridge circuits and their components
JP2013187352A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体装置およびその製造方法
WO2013188694A1 (en) * 2012-06-14 2013-12-19 Skyworks Solutions, Inc. Process-compensated hbt power amplifier bias circuits and methods
US8624662B2 (en) 2010-02-05 2014-01-07 Transphorm Inc. Semiconductor electronic components and circuits
US8648643B2 (en) 2012-02-24 2014-02-11 Transphorm Inc. Semiconductor power modules and devices
US8786327B2 (en) 2011-02-28 2014-07-22 Transphorm Inc. Electronic components with reactive filters
US8803246B2 (en) 2012-07-16 2014-08-12 Transphorm Inc. Semiconductor electronic components with integrated current limiters
US8816497B2 (en) 2010-01-08 2014-08-26 Transphorm Inc. Electronic devices and components for high efficiency power circuits
CN104576764A (zh) * 2013-10-29 2015-04-29 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种集成无源器件及其制造方法
US9041472B2 (en) 2012-06-14 2015-05-26 Skyworks Solutions, Inc. Power amplifier modules including related systems, devices, and methods
US9059076B2 (en) 2013-04-01 2015-06-16 Transphorm Inc. Gate drivers for circuits based on semiconductor devices
US9209176B2 (en) 2011-12-07 2015-12-08 Transphorm Inc. Semiconductor modules and methods of forming the same
US9537425B2 (en) 2013-07-09 2017-01-03 Transphorm Inc. Multilevel inverters and their components
US9543940B2 (en) 2014-07-03 2017-01-10 Transphorm Inc. Switching circuits having ferrite beads
US9590494B1 (en) 2014-07-17 2017-03-07 Transphorm Inc. Bridgeless power factor correction circuits
US10200030B2 (en) 2015-03-13 2019-02-05 Transphorm Inc. Paralleling of switching devices for high power circuits
US10319648B2 (en) 2017-04-17 2019-06-11 Transphorm Inc. Conditions for burn-in of high power semiconductors
US11984423B2 (en) 2011-09-02 2024-05-14 Skyworks Solutions, Inc. Radio frequency transmission line with finish plating on conductive layer

Cited By (61)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100828244B1 (ko) * 2000-09-14 2008-05-07 소니 가부시끼 가이샤 고주파 모듈 장치 및 그 제조 방법
WO2003007379A1 (fr) * 2001-07-12 2003-01-23 Hitachi, Ltd. Composant de circuit electronique
US6933601B2 (en) 2001-07-12 2005-08-23 Hitachi, Ltd. Semiconductor connection substrate
US7586755B2 (en) 2001-07-12 2009-09-08 Hitachi, Ltd. Electronic circuit component
US7157794B2 (en) * 2002-04-03 2007-01-02 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor device that suppresses variations in high frequency characteristics of circuit elements
US7545036B2 (en) 2002-04-03 2009-06-09 Oki Semiconductor Co., Ltd. Semiconductor device that suppresses variations in high frequency characteristics of circuit elements
US9899998B2 (en) 2008-02-12 2018-02-20 Transphorm Inc. Bridge circuits and their components
US8912839B2 (en) 2008-02-12 2014-12-16 Transphorm Inc. Bridge circuits and their components
US8508281B2 (en) 2008-02-12 2013-08-13 Transphorm Inc. Bridge circuits and their components
US8289065B2 (en) 2008-09-23 2012-10-16 Transphorm Inc. Inductive load power switching circuits
US8816751B2 (en) 2008-09-23 2014-08-26 Transphorm Inc. Inductive load power switching circuits
US8493129B2 (en) 2008-09-23 2013-07-23 Transphorm Inc. Inductive load power switching circuits
US8531232B2 (en) 2008-09-23 2013-09-10 Transphorm Inc. Inductive load power switching circuits
US9690314B2 (en) 2008-09-23 2017-06-27 Transphorm Inc. Inductive load power switching circuits
WO2011053981A3 (en) * 2009-11-02 2011-09-09 Transphorm Inc. Package configurations for low emi circuits
US8592974B2 (en) 2009-11-02 2013-11-26 Transphorm Inc. Package configurations for low EMI circuits
US8455931B2 (en) 2009-11-02 2013-06-04 Transphorm Inc. Package configurations for low EMI circuits
US8890314B2 (en) 2009-11-02 2014-11-18 Transphorm, Inc. Package configurations for low EMI circuits
US8138529B2 (en) 2009-11-02 2012-03-20 Transphorm Inc. Package configurations for low EMI circuits
US9190295B2 (en) 2009-11-02 2015-11-17 Transphorm Inc. Package configurations for low EMI circuits
US9401341B2 (en) 2010-01-08 2016-07-26 Transphorm Inc. Electronic devices and components for high efficiency power circuits
US8816497B2 (en) 2010-01-08 2014-08-26 Transphorm Inc. Electronic devices and components for high efficiency power circuits
US8624662B2 (en) 2010-02-05 2014-01-07 Transphorm Inc. Semiconductor electronic components and circuits
US9293458B2 (en) 2010-02-05 2016-03-22 Transphorm Inc. Semiconductor electronic components and circuits
US8786327B2 (en) 2011-02-28 2014-07-22 Transphorm Inc. Electronic components with reactive filters
US9041435B2 (en) 2011-02-28 2015-05-26 Transphorm Inc. Method of forming electronic components with reactive filters
US11984423B2 (en) 2011-09-02 2024-05-14 Skyworks Solutions, Inc. Radio frequency transmission line with finish plating on conductive layer
US9209176B2 (en) 2011-12-07 2015-12-08 Transphorm Inc. Semiconductor modules and methods of forming the same
US9818686B2 (en) 2011-12-07 2017-11-14 Transphorm Inc. Semiconductor modules and methods of forming the same
US8648643B2 (en) 2012-02-24 2014-02-11 Transphorm Inc. Semiconductor power modules and devices
US9741702B2 (en) 2012-02-24 2017-08-22 Transphorm Inc. Semiconductor power modules and devices
US9224721B2 (en) 2012-02-24 2015-12-29 Transphorm Inc. Semiconductor power modules and devices
US8952750B2 (en) 2012-02-24 2015-02-10 Transphorm Inc. Semiconductor power modules and devices
JP2013187352A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体装置およびその製造方法
US9692357B2 (en) 2012-06-14 2017-06-27 Skyworks Solutions, Inc. Power amplifier modules with bifet and harmonic termination and related systems, devices, and methods
US9755592B2 (en) 2012-06-14 2017-09-05 Skyworks Solutions, Inc. Power amplifier modules including tantalum nitride terminated through wafer via and related systems, devices, and methods
US9419567B2 (en) 2012-06-14 2016-08-16 Skyworks Solutions, Inc. Process-compensated HBT power amplifier bias circuits and methods
US9847755B2 (en) 2012-06-14 2017-12-19 Skyworks Solutions, Inc. Power amplifier modules with harmonic termination circuit and related systems, devices, and methods
US9520835B2 (en) 2012-06-14 2016-12-13 Skyworks Solutions, Inc. Power amplifier modules including bipolar transistor with grading and related systems, devices, and methods
US11451199B2 (en) 2012-06-14 2022-09-20 Skyworks Solutions, Inc. Power amplifier systems with control interface and bias circuit
US10116274B2 (en) 2012-06-14 2018-10-30 Skyworks Solutions, Inc. Process-compensated HBT power amplifier bias circuits and methods
US9887668B2 (en) 2012-06-14 2018-02-06 Skyworks Solutions, Inc. Power amplifier modules with power amplifier and transmission line and related systems, devices, and methods
US10090812B2 (en) 2012-06-14 2018-10-02 Skyworks Solutions, Inc. Power amplifier modules with bonding pads and related systems, devices, and methods
US9660584B2 (en) 2012-06-14 2017-05-23 Skyworks Solutions, Inc. Power amplifier modules including wire bond pad and related systems, devices, and methods
US9041472B2 (en) 2012-06-14 2015-05-26 Skyworks Solutions, Inc. Power amplifier modules including related systems, devices, and methods
US10771024B2 (en) 2012-06-14 2020-09-08 Skyworks Solutions, Inc. Power amplifier modules including transistor with grading and semiconductor resistor
WO2013188694A1 (en) * 2012-06-14 2013-12-19 Skyworks Solutions, Inc. Process-compensated hbt power amplifier bias circuits and methods
US8803246B2 (en) 2012-07-16 2014-08-12 Transphorm Inc. Semiconductor electronic components with integrated current limiters
US9171910B2 (en) 2012-07-16 2015-10-27 Transphorm Inc. Semiconductor electronic components with integrated current limiters
US9443849B2 (en) 2012-07-16 2016-09-13 Transphorm Inc. Semiconductor electronic components with integrated current limiters
US9362903B2 (en) 2013-04-01 2016-06-07 Transphorm Inc. Gate drivers for circuits based on semiconductor devices
US9059076B2 (en) 2013-04-01 2015-06-16 Transphorm Inc. Gate drivers for circuits based on semiconductor devices
US9537425B2 (en) 2013-07-09 2017-01-03 Transphorm Inc. Multilevel inverters and their components
CN104576764A (zh) * 2013-10-29 2015-04-29 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种集成无源器件及其制造方法
US9991884B2 (en) 2014-07-03 2018-06-05 Transphorm Inc. Switching circuits having ferrite beads
US9660640B2 (en) 2014-07-03 2017-05-23 Transphorm Inc. Switching circuits having ferrite beads
US9543940B2 (en) 2014-07-03 2017-01-10 Transphorm Inc. Switching circuits having ferrite beads
US9590494B1 (en) 2014-07-17 2017-03-07 Transphorm Inc. Bridgeless power factor correction circuits
US10063138B1 (en) 2014-07-17 2018-08-28 Transphorm Inc. Bridgeless power factor correction circuits
US10200030B2 (en) 2015-03-13 2019-02-05 Transphorm Inc. Paralleling of switching devices for high power circuits
US10319648B2 (en) 2017-04-17 2019-06-11 Transphorm Inc. Conditions for burn-in of high power semiconductors

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