JP2000121334A

JP2000121334A - リード検査装置

Info

Publication number: JP2000121334A
Application number: JP10303321A
Authority: JP
Inventors: Kazunori Noso; 千典農宗
Original assignee: Nidec Tosok Corp
Current assignee: Nidec Tosok Corp
Priority date: 1998-10-09
Filing date: 1998-10-09
Publication date: 2000-04-28

Abstract

(57)【要約】【課題】幅寸法に関わらず検査することができるリー
ド検査装置を提供する。【解決手段】水平パネル３１に、第１の平面画像用ハ
ーフミラー４２と第２の平面画像用ミラー５１を設け、
第２の平面画像用ミラー５１上に、第２の平面画像用ミ
ラー５１に投影されたＩＣ４の平面画像４１を撮像する
平面画像用ＣＣＤカメラ５３を設ける。左右支持部材６
３，６４に第１の左右斜視画像用ミラー６６，６８を設
け、筐体１５の支持パネル７１に、第２の左右斜視画像
用ハーフミラー８１，８２を有してなる斜視画像用ミラ
ー８３を設ける。ＩＣ４の左右斜視画像６５，６７を、
斜視画像用ミラー８３によって、一つの斜視画像９１に
合成し、斜視画像用ミラー８３上の斜視画像用ＣＣＤカ
メラ９５により撮像する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ガルウィングタイ
プなどのリードを有した電子部品において、各リードに
おける浮き沈み（コプラナリティ）を検査する際に用い
られるリード検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、ＩＣより側方へ延出したガルウィ
ングタイプのリードにおいて、各リードの浮き沈み（コ
プラナリティ）を検査する際には、図８に示すようなＩ
Ｃリード検査装置２０１が用いられていた（特開平１０
−２２７６２２号公報参照）。

【０００３】該ＩＣリード検査装置２０１は、電子部品
としてのＩＣ２１１がトレー２１２に収容された出荷直
前の状態において、各リード２１３ａ〜２１３ｇ，２１
４ａ〜２１４ｇ（図８中には２１３ｇ及び２１４ｇのみ
図示）の浮き沈みが検査できるように構成されており、
図中ＩＣ２１１の右側部を左斜め上方より投影する第１
のミラー２１５と、前記ＩＣ２１１の左側部を右斜め上
方より投影する第２のミラー２１６と、前記ＩＣ２１１
の上部に配置されたカメラ２１７とを備えている。

【０００４】該カメラ２１７には、図９にも示すよう
に、前記ＩＣ２１１を上方より撮像した平面画像２２１
と、前記第１のミラー２１５を介して得られた前記ＩＣ
２１１の右斜視画像２２２と、前記第２のミラー２１５
を介して得られた前記ＩＣ２２１の左斜視画像２２３と
が撮像画角内に収まるように設定されており、撮像画面
２２４内には、中央部に前記平面画像２２１が、また左
側に前記右斜視画像２２２が、さらに右側に前記左斜視
画像２２３が写し出されるように構成されている。そし
て、前記カメラ２１７には、図外の画像処理装置が接続
されており、この画像処理装置によって、ＩＣ２１１の
リード２１３ａ〜２１３ｇ，２１４ａ〜２１４ｇにおけ
る浮き沈み（コプラナリティ）が検査できるように構成
されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＩＣリ
ード検査装置２０１にあっては、撮像画面２２４の中央
部にＩＣ２１１の平面画像２２１が写し出されるように
構成されているとともに、該平面画像２２１の両側に、
左右斜視画像２２２，２２３が写し出されるように構成
されており、両斜視画像２２２，２２３には、ＩＣ２１
１の左右側部のみが写し出されるように、つまりＩＣ２
１１の中心部が写し出されないように設定されている。
このため、幅寸法２４１の狭いＩＣ２１１においては、
各リード２１３ａ〜２１３ｇ，２１４ａ〜２１４ｇが、
当該ＩＣ２１１の中心線２４２側に寄るため、前記左右
斜視画像２２２，２２３に写し出されなくなる恐れが生
じてしまう。また、一枚の画面に、上方からの平面画像
２２１と左右斜視画像２２２，２２３との３つの画像を
写すため、画素分解能が悪くなり精度が低下してしま
う。

【０００６】本発明は、このような従来の課題に鑑みて
なされたものであり、電子部品の幅寸法に関わらず検査
を行うことができるリード検査装置を提供することを目
的とするものである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明のリード検査装置にあっては、電子部品の左側
部及び右側部から延出した複数のリードの各々が、それ
ぞれの延出方向へ向けて延在するリードの検査装置にお
いて、前記電子部品の真上に配置され、該電子部品の上
方より得られる平面画像を側方より認識可能に投影する
第１の平面画像投影手段と、該第１の平面画像投影手段
に投影された前記平面画像を上方より認識可能に投影す
る第２の平面画像投影手段と、該第２の平面画像投影手
段に投影された前記平面画像を撮像する平面画像撮像手
段と、前記電子部品の左斜め上方に配置され、該電子部
品の中心より右側の部位を右斜視画像として認識可能に
投影する第１の右斜視画像投影手段と、前記電子部品の
右斜め上方に配置され、該電子部品の中心より左側の部
位を左斜視画像として認識可能に投影する第１の左斜視
画像投影手段と、前記第１の右斜視画像投影手段に投影
された前記右斜視画像を投影する第２の右斜視画像投影
手段が右側に配置されるとともに、前記第１の左斜視画
像投影手段に投影された前記左斜視画像を投影する第２
の左斜視画像投影手段が左側に配置され、前記第２の右
斜視画像投影手段に投影される前記右斜視画像及び前記
第２の左斜視画像投影手段に投影される前記左斜視画像
を一つの斜視画像に合成して上方より認識可能に投影す
る斜視画像投影手段と、該斜視画像投影手段に投影され
た前記斜視画像を撮像する斜視画像撮像手段とを備えて
いる。

【０００８】すなわち、左右側部から複数のリードが延
出した電子部品は、その上方より得られる平面画像が、
該電子部品の真上に配置された第１の平面画像投影手段
によって側方より認識可能に投影され、該第１の平面画
像投影手段に投影された前記平面画像は、第２の平面画
像投影手段を介して上方より認識可能に投影され、平面
画像撮像手段により撮像される。

【０００９】また、前記電子部品の中心より右側の部位
は、該電子部品の左斜め上方に配置された第１の右斜視
画像投影手段によって右斜視画像として認識可能に投影
され、前記電子部品の中心より左側の部位は、該電子部
品の右斜め上方に配置された第１の左斜視画像投影手段
によって左斜視画像として認識可能に投影される。そし
て、前記第１の右斜視画像投影手段に投影された前記右
斜視画像と、前記第１の左斜視画像投影手段に投影され
た前記左斜視画像とは、右側に配置された第２の右斜視
画像投影手段及び左側に配置された第２の左斜視画像投
影手段を有した斜視画像投影手段によって、一つの斜視
画像に合成されるとともに上方より認識可能に投影さ
れ、この斜視画像は、斜視画像撮像手段により撮像され
る。

【００１０】

【発明の実施の形態】（第１の実施の形態）以下、本発
明の第１の実施の形態を図に従って説明する。図１は、
本実施の形態にかかるリード検査装置としてのＩＣリー
ド検査装置１を示す図であり、トレー２の凹部３に収容
された電子部品としてのＩＣ４のリードを検査している
状態が示されている。

【００１１】このＩＣリード検査装置１は、前記ＩＣ４
の左側部１１及び右側部１２より複数延出するととも
に、それぞれ延出方向へ延在したガルウィングタイプの
左右リード１３ａ〜１３ｇ，１４ａ〜１４ｇ（図１中に
は、左右リード１３ｇ，１４ｇのみ図示）の検査を行う
装置であり、ＩＣリード検査装置１の筐体１５下部に
は、検査対象となるＩＣ４がセットされた状態で、当該
ＩＣ４の真上に開口した検査用開口部１６を有する下面
パネル１７が設けられている。該下面パネル１７には、
前記検査用開口部１６の左右の縁部より上方へ起立した
後、左上方及び右上方へ斜めに延出した左右側壁部１
８，１９が設けられており、両側壁部１８，１９には、
前記ＩＣ４に光りを照射する左右照明２０，２１が設け
られている。

【００１２】前記筐体１５には、前記下面パネル１７に
平行した水平パネル３１が、前記下面パネル１７より上
方の部位に設けられており、この水平パネル３１には、
前記下面パネル１７に設けられた前記検査用開口部１６
の真上に中央透孔３２が開設されるとともに、該中央透
孔３２の左右には、左右透孔３３，３４が開設されてい
る。前記水平パネル３１の下面には、積層パネル３５が
積層された状態で固定されており、該積層パネル３５に
は、前記中央透孔３２と一致する部位に、下方へ突出し
た筒状の筒状部３６が形成され、前記左右透孔３３，３
４と一致する部位には左右開口部３７，３８が設けられ
ている。

【００１３】また、前記水平パネル３１には、前記中央
透孔３２の上部に、該中央透孔３２及び前記検査用開口
部１６を介して、前記ＩＣ４の真上より得られる平面画
像４１を、左方より認識可能に投影する第１の平面画像
投影手段としての第１の平面画像用ハーフミラー４２
が、垂線に対して４５度傾斜した状態で固定されてい
る。そして、前記筐体１５には、前記第１の平面画像用
ハーフミラー４２の上部に、平板状の面照明４３が設け
られており、該面照明４３からの光りを、前記第１の平
面画像用ハーフミラー４２を透過して、前記ＩＣ４に照
射できるように構成されている。

【００１４】前記水平パネル３１及び前記積層パネル３
５は、前記筐体１５の左方へ延出するように構成されて
おり、前記筐体１５より左方へ延出した前記水平パネル
３１の部位には、前記第１の平面画像用ハーフミラー４
２に投影された前記平面画像４１を、上方より認識可能
に投影する第２の平面画像投影手段としての第２の平面
画像用ミラー５１が、アングル部材５２によって、垂線
に対して４５度傾斜した状態で固定されている。そし
て、前記第２の平面画像用ミラー５１の真上には、該第
２の平面画像用ミラー５１に投影された前記平面画像４
１を撮像する平面画像撮像手段としての平面画像用ＣＣ
Ｄカメラ５３が設けられている。

【００１５】また、前記筐体１５の上部には、該筐体１
５より左方及び右方へ突出した左右突出部６１，６２が
設けられており、左右突出部６１，６２のそれぞれに
は、Ｌ字状の左右支持部材６３，６４の一端部が支持固
定されている。前記左支持部材６３には、前記水平パネ
ル３１及び前記積層パネル３５に設けられた左透孔３３
及び左開口部３７を介して得られる前記ＩＣ４の中心よ
り右側の部位を右斜視画像６５として認識可能に投影す
る第１の右斜視画像投影手段としての第１の右斜視画像
用ミラー６６が固定されている。前記右支持部材６４に
は、前記水平パネル３１及び前記積層パネル３５に設け
られた右透孔３４及び右開口部３８を介して得られる前
記ＩＣ４の中心より左側の部位を左斜視画像６７とし
て、左斜め上方より認識可能に投影する第１の左斜視画
像投影手段としての第１の左斜視画像用ミラー６８が固
定されている。

【００１６】さらに、前記筐体１５の上部には、支持パ
ネル７１が前記水平パネル３１に平行して設けられてお
り、この支持パネル７１には、前記ＩＣ４の上部に位置
する中央部に、取付穴７２が設けられている。前記支持
パネル７１には、該支持パネル７１に面接される基部７
３と、該基部７３の中央にて上方へ突出された突出部７
４からなるミラー固定部材７５が取り付けられており、
前記突出部７４には、上下に貫通するとともに内部に左
右傾斜面７６，７７が形成された貫通穴７８が設けられ
ている。

【００１７】該貫通穴７８の前記左傾斜面７６には、前
記第１の左斜視画像用ミラー６８に投影された前記左斜
視画像６７を投影する第２の左斜視画像投影手段として
の第２の左斜視画像用ハーフミラー８１の上部が接着さ
れており、前記右傾斜面７７には、前記第１の右斜視画
像用ミラー６６に投影された前記右斜視画像６５を投影
する第２の右斜視画像投影手段としての第２の右斜視画
像用ハーフミラー８２の上部が接着されている。前記第
２の左斜視画像用ハーフミラー８１の下縁と、前記第２
の右斜視画像用ハーフミラー８２の下縁とは、前記支持
パネル７１の前記取付穴７２を挿通するとともに、前記
ＩＣ４の中心線Ｃ上にて接合されており、前記第２の左
斜視画像用ハーフミラー８１は、前記ＩＣ４の中心線Ｃ
より左側に配置された状態で固定されるとともに、前記
第２の右斜視画像用ハーフミラー８２は、前記ＩＣ４の
中心線Ｃより右側に配置された状態で固定されている。
これら第２の左斜視画像用ハーフミラー８１と第２の右
斜視画像用ハーフミラー８２とによって、前記ミラー固
定部材７５には、斜視画像投影手段としての斜視画像用
ミラー８３が形成されている。

【００１８】これにより、前記第１の左斜視画像用ミラ
ー６８に投影された前記左斜視画像６７は、前記第２の
右斜視画像用ハーフミラー８２の下部を透過して、前記
第２の左斜視画像用ハーフミラー８１に投影される一
方、前記第１の右斜視画像用ミラー６６に投影された前
記右斜視画像６５は、前記第２の左斜視画像用ハーフミ
ラー８１の下部を透過して、前記第２の右斜視画像用ハ
ーフミラー８２に投影されるように構成されている。ま
た、前記第２の左斜視画像用ハーフミラー８１に投影さ
れる前記左斜視画像６７と、前記第２の右斜視画像用ハ
ーフミラー８２に投影される前記右斜視画像６５とは、
前記第２の左右斜視画像用ハーフミラー８１，８２から
なる前記斜視画像用ミラー８３によって、一つの斜視画
像９１に合成され、上方より認識可能に投影されるよう
に構成されている。

【００１９】前記斜視画像用ミラー８３の真上には、斜
視画像撮像手段としての斜視画像用ＣＣＤカメラ９５が
設けられており、前記斜視画像用ミラー８３により合成
されるとともに投影された前記斜視画像９１は、前記斜
視画像用ＣＣＤカメラ９５によって撮像されるように構
成されている。

【００２０】そして、前記平面画像用ＣＣＤカメラ５３
及び前記斜視画像用ＣＣＤカメラ９５には、図外の画像
処理装置が接続されており、該画像処理装置には、前記
各カメラ５３，９５にて得られた画像データが送られる
ように構成されている。この画像処理装置は、前記画像
データに含まれる前記各画像４１，６５，６７を処理す
るとともに、それぞれに対応する各リード１３ａ〜１３
ｇ，１４ａ〜１４ｇの長さの関係に基づき、各リード１
３ａ〜１３ｇ，１４ａ〜１４ｇの検査を行うように構成
されている。

【００２１】以上の構成にかかる本実施の形態におい
て、トレー２の凹部３に収容されたＩＣ４は、その上方
より得られる平面画像４１が、セットされたＩＣ４の真
上に配置された第１の平面画像用ハーフミラー４２によ
って左方より認識可能に投影される。そして、該第１の
平面画像用ハーフミラー４２に投影された前記平面画像
４１は、第２の平面画像用ミラー５１を介して上方より
認識可能に投影され、該第２の平面画像用ミラー５１に
投影された前記平面画像４１は、図２に示すように、平
面画像用ＣＣＤカメラ５３により撮像される。これによ
り、平面画像用ＣＣＤカメラ５３によって前記ＩＣ４の
平面画像４１を得ることができるので、前記ＩＣ４の上
面に印刷された文字やマークからなる印刷部９７の検査
や、パッケージの傷や割れの検査を行うことができる。

【００２２】また、前記ＩＣ４の中心線Ｃより右側の部
位は、図１に示したように、該ＩＣ４の左斜め上方に配
置された第１の右斜視画像用ミラー６６によって右斜視
画像６５として認識可能に投影され、前記ＩＣ４の中心
線Ｃより左側の部位は、該ＩＣ４の右斜め上方に配置さ
れた第１の左斜視画像用ミラー６８によって左斜視画像
６７として認識可能に投影される。そして、前記第１の
右斜視画像用ミラー６８に投影された前記右斜視画像６
５と、前記第１の左斜視画像用ミラー６８に投影された
前記左斜視画像６７とは、前記ＩＣ４の中心線Ｃより右
側に配置された第２の右斜視画像用ハーフミラー８２及
び左側に配置された第２の左斜視画像用ハーフミラー８
１を有してなる斜視画像用ミラー８３によって、一つの
斜視画像９１に合成されるとともに上方より認識可能に
投影され、この斜視画像９１は、図３に示すように、斜
視画像用ＣＣＤカメラ９５により撮像される。

【００２３】このため、撮像画面の中央部にＩＣ４の平
面画像４１が写し出されるとともに、該平面画像４１の
左右側部に左右斜視画像６５，６７が分割して写し出さ
れるように構成され、両斜視画像６５，６７に、ＩＣ４
の中心部が写し出されず、左右の幅寸法の狭いＩＣ４に
おいて、左右側部１１，１２から延出した各リード１３
ａ〜１３ｇ，１４ａ〜１４ｇが左右斜視画像６５，６７
の画角から外れてしまい、両斜視画像６５，６７に写し
出されなくなる恐れのある従来と比較して、左右の幅寸
法の狭いＩＣ４であっても、左右側部１１，１２から延
出する各リード１３ａ〜１３ｇ，１４ａ〜１４ｇを、左
右斜視画像６５，６７に確実に写し出すことができる。
したがって、幅寸法の狭い小型のＩＣ４であっても、各
リード１３ａ〜１３ｇ，１４ａ〜１４ｇの検査を確実に
行うことができる。

【００２４】また、前記平面画像４１を得る平面画像用
ＣＣＤカメラ５３と、前記左右斜視画像６５，６７を得
る斜視画像用ＣＣＤカメラ９５とは、独立して設けられ
ており、各々の倍率調整を独立して行うことができるの
で、前述した幅寸法の狭い小型のＩＣ４を検査する際
に、前記斜視画像用ＣＣＤカメラ９５における倍率を大
きく設定することにより、写し出されるＩＣ４の画像を
拡大することができる。そして、ＩＣ４の平面画像４１
と左右斜視画像６５，６７とが一枚の画面に写し出され
るように構成され、総ての画像４１，６５，６７が一台
のカメラの画角に収まるようにしなければならなかった
従来と比較して、撮像される各画像４１，６５，６７
を、各カメラ５３，９５における画角一杯まで拡大する
ことができる。これにより、画素分解能を高めることが
でき、検査精度を向上させることができる。よって、小
型のＩＣ４における検査時の信頼性を高めることができ
る。

【００２５】さらに、前記平面画像４１を得る平面画像
用ＣＣＤカメラ５３と、前記左右斜視画像６５，６７を
得る斜視画像用ＣＣＤカメラ９５とにおける各々のピン
ト調整を独立的に行うことができるとともに、前記両斜
視画像６５，６７が通過する光路距離は等しくなるよう
に設定できるので、前記各画像４１，６５，６７が一台
のカメラによって得られる場合と比較して、各画像４
１，６５，６７におけるピント合わせを容易に行うこと
ができる。

【００２６】加えて、前記平面画像４１は、第１の平面
画像用ハーフミラー４２と第２の平面画像用ミラー６６
とによる二回の反射を経て得られており、前記左右斜視
画像６５，６７も、第１の左右斜視画像用ミラー６６，
６８と第２の左右斜視画像用ハーフミラー８１，８２と
による二回の反射を経て得られている。このため、図２
及び図３に示したように、各カメラ５３，９５の各画像
４１，９１より得られるＩＣ４の向きを同一にすること
ができ、検査の容易性を向上させることができる。

【００２７】一方、図４は、前記平面画像用ＣＣＤカメ
ラ５３及び前記斜視画像用ＣＣＤカメラ９５が接続され
た図外の画像処理装置における検査処理の動作を示すフ
ローチャートであり、前記各カメラ５３，９５より各画
像データが送られてきた際には、前記検査処理がメイン
ルーチンより呼び出される。すると、ステップＳ１に
て、図２に示した平面画像４１、及び図３に示したよう
左右斜視画像６５，６７において、各リード１３ａ〜１
３ｇ，１４ａ〜１４ｇの先端位置を認識（テンプレート
マッチング）した後、各画像４１，６５，６７における
各リード１３ａ〜１３ｇ，１４ａ〜１４ｇの先端を結ぶ
直線近似を行うとともに、それぞれの画像４１，６５，
６７において、近似直線１０１〜１０４を想定する（Ｓ
２）。

【００２８】そして、平面画像４１における近似直線１
０１，１０２から各リード１３ａ〜１３ｇ，１４ａ〜１
４ｇの先端までの平面長さと、各斜視画像６５，６７に
おける近似直線１０３，１０４から当該斜視画像６５，
６７における各リード１３ａ〜１３ｇ，１４ａ〜１４ｇ
の先端までの左右斜視長さとを、それぞれ対応するリー
ド同士にて比較し、具体的には、平面画像４１の左リー
ド１３ａと左斜視画像６７における左リード１３ａ、平
面画像４１の右リード１４ａと右斜視画像６５における
右リード１４ａを順次比較し、前記平面長さと左右いず
れかの斜視長さとの差が許容誤差範囲外であるか否かを
判断する（Ｓ３）。このとき、許容誤差範囲内である場
合には、異常無しと判定し（Ｓ４）、メインルーチンへ
戻る一方、許容誤差範囲を越えていた場合には、ステッ
プＳ５へ移行する。

【００２９】該ステップＳ５では、左右いずれかの斜視
長さが、前記平面長さより長いか否かを判断し、長い場
合、例えば、右斜視画像６５の右リード１４ｅにおける
右斜視長さが、平面画像４１の右リード１４ｅにおける
平面長さより長い場合には、右リード１４ｅが、上方に
浮いていると判断して（Ｓ６）、メインルーチンへ戻
る。また、左右いずれかの斜視長さが前記平面長さより
短い場合、例えば、左斜視画像６７の左リード１３ｇに
おける左斜視長さが、平面画像４１の左リード１３ｇに
おける平面長さより短い場合には、左リード１３ｇが、
下方に沈んでいると判断して（Ｓ７）、メインルーチン
へ戻る。

【００３０】このように、ＩＣ４上部の平面画像用ＣＣ
Ｄカメラ５３からの平面画像４１と、ＩＣ４の斜め上方
から得た斜視画像用ＣＣＤカメラ９５からの左右斜視画
像６５，６７とによって、ＩＣ４の各リード１３ａ〜１
３ｇ，１４ａ〜１４ｇにおける浮き沈み（コプラナリテ
ィ）を検査することができるので、前記ＩＣ４がトレー
２の凹部３に収容された出荷直前の段階において、前記
各リード１３ａ〜１３ｇ，１４ａ〜１４ｇの検査を行う
ことができる。よって、前記ＩＣ４をトレー２に収容す
る際に生じた前記各リード１３ａ〜１３ｇ，１４ａ〜１
４ｇの曲がりをも検査することができる。

【００３１】なお、本実施の形態にあっては、ＩＣ４の
各リード１３ａ〜１３ｇ，１４ａ〜１４ｇを検査する場
合を例に挙げて説明したが、ラダー抵抗等の他の電子部
品におけるリードの検査に用いても良い。

【００３２】また、本実施の形態では、第１の右斜視画
像用ミラー６６及び第２の右斜視画像用ハーフミラー８
２と、第１の左斜視画像用ミラー６８及び第２の左斜視
画像用ハーフミラー８１とを対向して設け、左右側部１
１，１２から左右リード１３ａ〜１３ｇ，１４ａ〜１４
ｇが延出したＩＣ４の検査を行う場合についてのみ説明
したが、これに限定されるものではない。

【００３３】（第２の実施の形態）すなわち、前記第１
の右斜視画像用ミラー６６と第１の左斜視画像用ミラー
６８に直交して、第１の前斜視画像用ミラーと第１の後
斜視画像用ミラーとを、さらに設けるとともに、図５に
示すように、前記第２の右斜視画像用ハーフミラー８２
及び第２の左斜視画像用ハーフミラー８１を三角板状に
形成し、かつ両ハーフミラー８１，８２の間に、三角板
状の第２の前斜視画像用ハーフミラー１２１及び第２の
後斜視画像用ハーフミラー１２２を設け、前記斜視画像
用のＣＣＤカメラ９５の下部に、下方へ突出するピラミ
ッド形状の斜視画像用ミラー１２３を形成する。

【００３４】これにより、図６及び図７に示すように、
四辺より左リード１３１ａ〜１３１ｅ、右リード１３２
ａ〜１３２ｅ、前リード１３３ａ〜１３３ｅ、及び後リ
ード１３４ａ〜１３４ｅが延出したＩＣ１３５における
平面画像１４１と、左右斜視画像１４２，１４３及び前
後斜視画像１４４，１４５からなる斜視画像１４６とを
得ることができ、本ＩＣ１３５の検査を行うことも可能
となる。

【００３５】

【発明の効果】以上説明したように本発明のリード検査
装置にあっては、電子部品の上方より得られる平面画像
を平面画像撮像手段により撮像することができる。ま
た、前記電子部品の左斜め上方より得られる当該電子部
品の中心より右側の部位の右斜視画像と、電子部品の右
斜め上方より得られる該電子部品の中心より左側の部位
の左斜視画像とを、右側に配置された第２の右斜視画像
投影手段及び左側に配置された第２の左斜視画像投影手
段を有した斜視画像投影手段によって一つの斜視画像に
合成した後、斜視画像撮像手段により撮像することがで
きる。

【００３６】このため、撮像画面の中央部に電子部品の
平面画像が写し出されるとともに、該平面画像の両側に
左右斜視画像が分割して写し出されるように構成され、
両斜視画像に、電子部品の中心部が写し出されず、左右
の幅寸法の狭い電子部品において、左右側部から延出し
たリードが左右斜視画像の画角から外れてしまい、両斜
視画像に写し出されなくなる恐れのある従来と比較し
て、左右の幅寸法の狭い電子部品であっても、左右側部
から延出するリードを、左右斜視画像に確実に写し出す
ことができる。したがって、幅寸法の狭い小型の電子部
品であっても、リードの検査を行うことができる。

【００３７】また、前記平面画像と前記左右斜視画像と
を、前記平面画像撮像手段と前記斜視画像投影手段とに
分けて撮像することができるので、電子部品の平面画像
と左右斜視画像とが一枚の画面に写し出されるように構
成され、総ての画像が画角に収まるようにしなければな
らなかった従来と比較して、撮像される各々の画像を、
各撮像手段における画角一杯まで拡大することができ
る。これにより、画素分解能を高めることができ、検査
精度を向上させることができる。

【００３８】そして、前記平面画像撮像手段で撮像され
た前記平面画像と、前記斜視画像撮像手段にて撮像され
た前記斜視画像とにおける互いに対応するリードの長さ
の関係に基づき、各リードの検査、具体的には、前記平
面画像にて得られた複数のリードの長さが同じであっ
て、前記斜視画像にて得られた各リードの長さに変化が
ある場合、長さの変化が確認されたリードが、他のリー
ドの配列位置より上下方向にずれていることを認識する
ことができる。さらに、長さの変化が確認されたリード
にあっては、当該リードの長さと他のリードの長さとの
比較に基づき、当該リードが上下のいずれかにずれてい
る、つまり、リードが浮いているか沈んでいるかを確認
することができる。

【００３９】また、前記平面画像撮像手段は、電子部品
上方からの平面画像を得るため、電子部品の上面に印刷
された文字やマークの検査や、パッケージの傷や割れの
検査も同時に行うことができる。

【００４０】加えて、前記右斜視画像を、前記電子部品
の左斜め上方に配置された第１の右斜視画像投影手段に
より得るとともに、前記左斜視画像を、前記電子部品の
右斜め上方に配置された第１の左斜視画像投影手段によ
り得るように構成されているため、前記電子部品が凹部
に収容された状態で、前記電子部品の左右側部に起立壁
が近接して存在する場合であっても、該起立壁の影響を
受けることなく、前記両斜視画像を確実に得ることがで
きる。よって、電子部品が、トレーの凹部に収容された
出荷直前の段階における検査に適したリード検査装置と
なり得る。

【００４１】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態を示す図である。

【図２】同実施の形態における平面画像用ＣＣＤカメラ
で得られた平面画像を示す図である。

【図３】同実施の形態における斜視画像用ＣＣＤカメラ
で得られた斜視画像を示す図である。

【図４】同実施の形態における画像処理装置の動作を示
すフローチャートである。

【図５】第２の実施の形態を示す平面図である。

【図６】同実施の形態における平面画像用ＣＣＤカメラ
で得られた平面画像を示す図である。

【図７】同実施の形態における斜視画像用ＣＣＤカメラ
で得られた斜視画像を示す図である。

【図８】従来のＩＣリード検査装置を示す模式図であ
る。

【図９】同従来例におけるカメラで得られた画像を示す
図である。

【符号の説明】

１ＩＣリード検査装置（リード検査装置）２トレー３凹部４ＩＣ（電子部品）１３ａ〜１３ｇ左リード１４ａ〜１４ｇ右リード４１平面画像４２第１の平面画像用ハーフミラー（第１の平面画
像投影手段）５１第２の平面画像用ミラー（第２の平面画像投影
手段）５３平面画像用ＣＣＤカメラ（平面画像撮像手段）６５右斜視画像６６第１の右斜視画像用ミラー（第１の右斜視画像
投影手段）６７左斜視画像６８第１の左斜視画像用ミラー（第１の左斜視画像
投影手段）８１第２の左斜視画像用ハーフミラー（第２の左斜
視画像投影手段）８２第２の右斜視画像用ハーフミラー（第２の右斜
視画像投影手段）８３斜視画像用ミラー（斜視画像投影手段）９１斜視画像９５斜視画像用ＣＣＤカメラ（斜視画像撮像手段）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】電子部品の左側部及び右側部から延出し
た複数のリードの各々が、それぞれの延出方向へ向けて
延在するリードの検査装置において、前記電子部品の真上に配置され、該電子部品の上方より
得られる平面画像を側方より認識可能に投影する第１の
平面画像投影手段と、該第１の平面画像投影手段に投影された前記平面画像を
上方より認識可能に投影する第２の平面画像投影手段
と、該第２の平面画像投影手段に投影された前記平面画像を
撮像する平面画像撮像手段と、前記電子部品の左斜め上方に配置され、該電子部品の中
心より右側の部位を右斜視画像として認識可能に投影す
る第１の右斜視画像投影手段と、前記電子部品の右斜め上方に配置され、該電子部品の中
心より左側の部位を左斜視画像として認識可能に投影す
る第１の左斜視画像投影手段と、前記第１の右斜視画像投影手段に投影された前記右斜視
画像を投影する第２の右斜視画像投影手段が右側に配置
されるとともに、前記第１の左斜視画像投影手段に投影
された前記左斜視画像を投影する第２の左斜視画像投影
手段が左側に配置され、前記第２の右斜視画像投影手段
に投影される前記右斜視画像及び前記第２の左斜視画像
投影手段に投影される前記左斜視画像を一つの斜視画像
に合成して上方より認識可能に投影する斜視画像投影手
段と、該斜視画像投影手段に投影された前記斜視画像を撮像す
る斜視画像撮像手段と、を備えたことを特徴とするリード検査装置。