JP2000116634A - 撮影装置及び撮影方法 - Google Patents
撮影装置及び撮影方法Info
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Abstract
スパートプラン)を、それぞれ識別番号を付加した複数
のエレメントに分割してスキャン制御部5に転送する。
スキャン制御部5は、各エレメントで示される検査条件
に従ってスキャン制御を行う。ここで、操作部2を介し
て検査条件の変更が指定されると、対話制御部3は、そ
の変更されたエレメントの識別番号をスキャン制御部5
に転送してスキャン実行を一時停止させる。また、変更
後のエレメントをスキャン制御部5に転送する。スキャ
ン制御部5は、変更後のエレメントに応じたスキャン制
御を、操作部2に設けられているコンファームボタン2
1のオン操作を待って再開する。このように、一連の検
査条件を複数のエレメントに分割して取り扱うことによ
り、スキャン中の検査条件の変更を容易化することがで
きる。
Description
置、X線診断装置、核磁気共鳴装置(MRI装置)、S
PECT装置(Single Photon Emission Computed Tomog
raph)等に設けて好適な撮影装置及び撮影方法に関し、
特に、一連の撮影プログラムを複数の撮影プログラムに
分割して取り扱うことにより、撮影中における撮影条件
の変更を容易に可能とした撮影装置に関する。
置、X線診断装置、核磁気共鳴装置(MRI装置)、S
PECT装置等が知られている。これらの撮影装置は、
撮影に先だってプリセットというかたちで撮影プログラ
ムであるエキスパートプラン(EP)の設定を行うよう
になっている。
肺野部から腹部にかけてのスキャンを行う場合、肺野部
は少ないX線量のスキャンで十分であり、これに対して
腹部は多いX線量でのスキャンを必要とするため、前半
のスキャンは少ないX線量で、後半のスキャンは多いX
線量でスキャンを行うようなエキスパートプランを設定
する。
のスキャンを行う場合に設定されるエキスパートプラン
の一例を示している。この図5の例では、スキャン方法
は「S&Vスキャン→S&Sスキャン→ヘリカルスキャ
ン」の順に実行されるように設定されており、「S&V
スキャン」の場合は、管電圧が100kV、管電流が2
00mA、スライス厚が5mm、焦点サイズがLサイズ
に設定されている。また、「S&Sスキャン」の場合
は、管電圧が120kV、管電流が300mA、スライ
ス厚が3mm、焦点サイズがLサイズに設定されてお
り、「ヘリカルスキャン」の場合は、管電圧が135k
V、管電流が500mA、スライス厚が1mm、焦点サ
イズがSサイズに設定されている。
行い、このスキャンによる画像が再構成され表示された
後に、再度スキャンを行う等のようにスキャンと画像再
構成表示を交互に行うスキャン方法であり、例えばスキ
ャン位置の確認や造影剤が所望の部位に行き渡ったか否
かを確認する場合等に用いられるスキャン方法である。
また、「S&Sスキャン」は、スキャンを連続的に行
い、各スキャンに追従するかたちで画像を再構成して表
示するスキャン優先のスキャン方法であり、「ヘリカル
スキャン」は、被検体の載置された寝台を所定ピッチで
移動させることで、被検体を螺旋状にスキャンし、連続
的な断層像を得るスキャン方法である。
ンが開始されると一纏まりのデータとして架台制御系に
全て転送される。架台制御系は、このエキスパートプラ
ンに基づいて架台回転部を制御することで、例えば肺野
部から腹部にかけてのスキャンを実行するようになって
いる。
スパートプランの一部(或いは全部)を変更したい場合
がある。このような場合、従来のX線CT装置では、一
旦スキャンを中止し、新たにエキスパートプランを設定
し直し、全スキャンをやり直していた。
後に、設定したエキスパートプランの変更の必要が生じ
た場合に、スキャンを中止して全スキャンをやり直して
いたのでは、該中止前にスキャンした画像が全て無駄と
なり、被検体にとっても再度の被曝は好ましいものでは
ない。また、造影剤検査においては、スキャンを中止す
ることで時間的ロスを生じ、スキャンタイミングを外し
てしまう虞がある。
ンの変更が行われた場合、入力された変更後のエキスパ
ートプランを架台制御系に供給し、架台制御系におい
て、現在設定されているエキスパートプランと、新たに
入力された変更後のエキスパートプランとの差分を検出
して架台制御系内でエキスパートプランの書き換えを行
い、この書き換えたエキスパートプランに基づいて架台
回転部を制御することで、スキャンを中止することなく
エキスパートプランの変更を行うことができるが、新旧
各エキスパートプランの差分検出や新たなエキスパート
プランへの書き換え制御等の面倒かつ大規模な構成を必
要とするため、これは現実的ではない。
のであり、スキャン開始後におけるエキスパートプラン
の変更を容易に可能とすることができ、スキャン開始後
にエキスパートプランの変更の必要が生じた場合に、一
旦スキャンを中止して変更後のエキスパートプランで新
たに全スキャンをやり直す不都合を防止することができ
るような撮影装置及び撮影方法の提供を目的とする。
び撮影方法は、上述の課題を解決するために、一連の撮
影プログラムを、所定の撮影単位毎の分割プログラムに
分割し、この分割プログラムに従って撮影を実行する。
の分割プログラムに分割して取り扱うことを可能とする
ことができ、プログラムの変更も各分割プログラム毎に
部分的に行うことを可能とすることができる。
プログラムの変更を行うためのプログラム変更手段と、
撮影開始後において、前記プログラム変更手段によりプ
ログラムの変更がなされている分割プログラムによる撮
影実行の段階で撮影を一時停止し、該分割プログラムの
変更が完了した段階で、該変更された分割プログラムに
よる撮影を再開する撮影制御手段とを有する。
更がなされた場合において、その変更中の分割プログラ
ムによる撮影の実行に移行する際に撮影を一時停止し、
変更完了を待って撮影を再開することができるため、末
変更の撮影プログラムで撮影が実行される不都合を防止
することができる。
プログラムの変更を行うためのプログラム変更手段と、
撮影開始後において、前記プログラム変更手段によりプ
ログラムの変更がなされている場合は、そのプログラム
変更中の分割プログラムをスキップして、次の分割プロ
グラムによる撮影を実行し、前記分割プログラムの変更
完了後に該変更された分割プログラムによる撮影を実行
する撮影制御手段とを有する。
更がなされた場合において、その変更中の分割プログラ
ムを飛ばして次の分割プログラムによる撮影を実行し、
前記分割プログラムの変更完了後に該変更された分割プ
ログラムによる撮影を実行することができ、撮影動作を
停止することなく一連の撮影を実行することができる。
撮影方法の好ましい実施の形態について図面を参照しな
がら詳細に説明する。本発明に係る撮影装置及び撮影方
法は、図1に示すようなX線CT装置に適用することが
できる。
線CT装置は、図1に示すように被検体の断層像のスキ
ャンを行う架台回転部1と、スキャン方法、管電圧、管
電流、スライス厚、焦点サイズ等のスキャン条件からな
るエキスパートプラン等を入力するための操作部2と、
操作部2の操作に応じたメッセージやエキスパートプラ
ンの数値等を表示部9に表示制御することで当該X線C
T装置の対話操作を可能とする対話制御部3と、操作部
2を介して設定されたエキスパートプランに応じた各部
の制御データを形成するスキャン条件生成部4と、スキ
ャン条件生成部4からの制御データに応じて前記架台回
転部1のスキャン制御を行うスキャン制御部5とを有し
ている。
によりスキャンされた被検体の断層像に対応する収集デ
ータを収集するデータ収集部6と、データ収集部6から
の収集データに対して例えばラマチャンドラン(Ram
achandran)等のコンボリューションフィルタ
によりフィルタリング処理を施すフィルタ処理部7と、
フィルタ処理部7によりフィルタリング処理された収集
データに基づいて、フィルタードバックプロジェクショ
ン法により断層像を再構成する画像再構成部8と、前記
対話制御部3で形成されたメッセージやエキスパートプ
ランの数値等及び画像再構成部8で形成された断層像等
を表示する、例えば陰極線管(CRT)や液晶表示部
(LCD)等の表示部9とを有している。
に載置された被検体が通過できる程度のガントリ13を
有している。ガントリ13の内周部には、互いに相対向
する位置関係を維持した状態で回転するX線管11及び
X線検出器12が設けられており、このX線管11及び
X線検出器12により寝台14に載置された被検体に対
してX線を曝射して例えばヘリカルスキャン等により断
層像のスキャンを行うようになっている。
ード等の入力装置が接続されると共に、スタートボタン
20及びコンファームボタン21が設けられており、ス
タートボタン20をオン操作することでスキャンの開始
を指定し、コンファームボタン21をオン操作すること
で変更したエキスパートプランを承認するようになって
いる。
を有する当該実施の形態のX線CT装置の動作説明をす
る。
ン動作)当該X線CT装置においては、スキャンに先だ
ってエキスパートプランの設定を行う。このエキスパー
トプランの設定は、操作部2を介して行われるようにな
っており、例えば図2に示すようにスキャン方法、管電
圧、管電流、スライス厚、焦点サイズ等の入力を行う。
この図2は、例えば被検体の肺野部から腹部にかけての
スキャンを行う場合に設定されるエキスパートプランの
例を示しており、スキャン方法は「S&Vスキャン→S
&Sスキャン→ヘリカルスキャン」の順に実行されるよ
うに設定されている。「S&Vスキャン」の場合は、管
電圧が100kV、管電流が200mA、スライス厚が
5mm、焦点サイズがLサイズに設定されている。ま
た、「S&Sスキャン」の場合は、管電圧が120k
V、管電流が300mA、スライス厚が3mm、焦点サ
イズがLサイズに設定されており、「ヘリカルスキャ
ン」の場合は、管電圧が135kV、管電流が500m
A、スライス厚が1mm、焦点サイズがSサイズに設定
されている。
連のエキスパートプランを最小検査単位である「エレメ
ント(或いはボックス:Box)」に分割する。具体的
には、対話制御部3は、前記一連のエキスパートプラン
を、管電圧が100kV、管電流が200mA、スライ
ス厚が5mm、焦点サイズがLサイズの「S&Vスキャ
ン」を行うエレメントと、管電圧が120kV、管電流
が300mA、スライス厚が3mm、焦点サイズがLサ
イズの「S&Sスキャン」を行うエレメントと、管電圧
が135kV、管電流が500mA、スライス厚が1m
m、焦点サイズがSサイズの「ヘリカルスキャン」を行
うエレメントに分割する等のように、例えば各スキャン
方法毎のエレメントに分割する。そして、この各エレメ
ントに、例えば「S&Vスキャン」を行うエレメントは
ID=1、「S&Sスキャン」を行うエレメントはID
=2、「ヘリカルスキャン」を行うエレメントはID=
3等のように、各エレメント毎に識別番号を付加する。
メントを、図2に示すようなエキスパートプランの画像
として表示部9に表示制御する。また、各エレメント毎
に「P」或いは「I」のコマンドを表示する。この
「P」のコマンドは、スキャン停止を示す停止コマンド
であり、「I」のコマンドはスキャン継続(スルー:t
hrough)を示すコマンドである。この図2は、ス
キャン開始前であるため、最初のスキャン方法である
「S&Vスキャン」のエレメントに停止コマンド「P」
が付加されて表示されている。スキャンが開始された際
には、「S&Vスキャン」のエレメントに付加された停
止コマンド「P」が、スキャン継続の「I」のコマンド
に変更表示され、「S&Vスキャン→S&Sスキャン→
ヘリカルスキャン」の順に連続して各スキャン方法によ
るスキャンが行われることとなる。
定が終了すると、対話制御部3は、操作部2のスタート
ボタン20を点灯制御して、操作者に対してスタートボ
タン20のオン操作を促す。そして、このスタートボタ
ン20がオン操作されたタイミングで、まず、全エキス
パートプランのうち、この場合の最初のエレメントであ
る「S&Vスキャン」のエレメントをスキャン条件生成
部4に供給する。スキャン条件生成部4は、このエレメ
ントに対応する各部の制御データを生成し、これらをス
キャン制御部5に供給する。スキャン制御部5は、この
制御データに基づいて、スキャンを行い、このスキャン
による画像が再構成され表示された後に、再度スキャン
を行う等のようにスキャンと画像再構成表示を交互に行
うように、架台回転部1の回転速度、X線管11の管電
流、管電圧、X線の曝射タイミングを制御すると共に、
寝台14の移動速度等を制御する。
キャン」によりX線検出器12で収集された収集データ
を収集し、これをフィルタ処理部7に供給する。フィル
タ処理部7は、この収集データに所定のコンボリューシ
ョンフィルタを用いてフィルタリング処理を施し、これ
を画像再構成部8に供給する。画像再構成部8は、フィ
ルタ処理部7でフィルタリング処理された収集データに
基づいて、フィルタードバックプロジェクション法によ
り、各スキャン毎の断層像を再構成処理し、これを表示
部9に供給する。これにより、「S&Vスキャン」でス
キャンされた断層像が表示部9に表示されることとな
る。
了すると、対話制御部3は、この場合の次のエレメント
である「S&Sスキャン」のエレメントをスキャン条件
生成部4に供給する。スキャン条件生成部4は、このエ
レメントに対応する各部の制御データを生成し、これら
をスキャン制御部5に供給する。スキャン制御部5は、
この制御データに基づいて、スキャンを連続的に行い、
各スキャンに追従するかたちで画像を再構成して表示す
る等のようにスキャン優先のスキャンを行うように、架
台回転部1の回転速度、X線管11の管電流、管電圧、
X線の曝射タイミングを制御すると共に、寝台14の移
動速度等を制御する。この「S&Sスキャン」により得
られた収集データは、前述の「S&Vスキャン」時と同
様に、画像再構成部8において再構成処理され表示部9
に供給される。これにより、「S&Sスキャン」でスキ
ャンされた断層像が表示部9に表示されることとなる。
了すると、対話制御部3は、この場合の次のエレメント
である「ヘリカルスキャン」のエレメントをスキャン条
件生成部4に供給する。スキャン条件生成部4は、この
エレメントに対応する各部の制御データを生成し、これ
らをスキャン制御部5に供給する。スキャン制御部5
は、この制御データに基づいて、被検体を螺旋状にスキ
ャンするように、架台回転部1の回転速度、X線管11
の管電流、管電圧、X線の曝射タイミングを制御すると
共に、寝台14の移動速度等を制御する。この「ヘリカ
ルスキャン」により得られた収集データは、前述の「S
&Vスキャン」時及び「S&Sスキャン」時と同様に、
画像再構成部8において再構成処理され表示部9に供給
される。これにより、「ヘリカルスキャン」でスキャン
された断層像が表示部9に表示されることとなる。
うなスキャン開始後に、検査条件の変更を行いたい場合
がある。この場合、操作者は、操作部2に接続されてい
る例えばマウス装置を用いて、表示部9上のカーソル
を、変更を希望する数値等上に移動操作しクリック操作
を行う。
ン」の次に行うスキャン方法を変更したい場合には、図
2に示すように現在「S&Sスキャン」と表示されてい
るスキャン方法の表示領域にカーソルを移動操作しクリ
ック操作を行う。対話制御部3は、この操作が行われる
と、現在、「S&Sスキャン」のエレメントに付加され
ているスキャン継続の「I」のコマンドを、図3(a)
に斜線で示すようにスキャン停止を示す「P」の停止コ
マンドに変更表示すると共に、同図(b)に示すように
選択可能な各スキャン方法を一覧表示して、操作者に対
して所望のスキャン方法の選択を促す。
方法のうち、所望のスキャン方法の表示領域にカーソル
を移動操作してクリック操作を行う。このクリック操作
により、例えば図3(b)に斜線で示すように「ヘリカ
ルスキャン」が選択された場合、対話制御部3は、現在
の「S&Sスキャン」を、図3(c)に示すように前記
選択された「ヘリカルスキャン」に変更表示する。これ
により、操作者に対して、スキャン方法が「S&Sスキ
ャン」から「ヘリカルスキャン」に変更されたことを認
識させることができる。
ルスキャン」の管電圧を変更したい場合には、対応する
管電圧の表示領域にカーソルを移動操作しクリック操作
を行う。対話制御部3は、この操作が行われると、予め
用意されている80kV、100kV、110kV・・
・135kV等の管電圧の文字と共に、「その他(ot
her)」の文字を一覧表示して、操作者に対して所望
の管電圧の選択を促す。
うち、所望の管電圧の表示領域にカーソルを移動してク
リック操作を行う。このクリック操作により、例えば1
35kVの管電圧が選択された場合、対話制御部3は、
135kVの文字を対応する表示領域に表示制御する。
これにより、操作者に対して、管電圧が135kVに変
更されたことを認識させることができる。
管電圧が存在しない場合、操作者は、前記「その他(o
ther)」の文字が表示されている表示領域にカーソ
ルを移動操作してクリック操作を行う。対話制御部3
は、この操作が行われると、図3(d)に示すように、
対応する領域にダイアログボックスを表示し、操作者に
対して所望の数値の入力を促す。操作者は、このダイア
ログボックスに対して、テンキー等により所望の管電圧
の数値の入力を行う。これにより、予め用意された管電
圧以外の所望の管電圧の入力も行うことができる。
管電圧の変更と同様に数値の選択操作或いは入力操作で
行うことが可能となっている。また、焦点サイズの変更
は、L、(M)、Sの各サイズの中から所望のサイズを
選択するようになっている。
に、このように変更されたエレメントによるスキャン動
作を図4に示すフローチャートを用いて説明する。この
図4に示すフローチャートは、エキスパートプラン設定
後にスタートボタンがオン操作されスキャンが開始され
ることによりスタートとなりステップS1に進む。
のスキャン条件(エレメント)の変更がなされたか否か
を判別し、NOの場合はエレメントの変更がなされるま
でこのステップS1を繰り返し実行し、YESの場合は
ステップS2に進む。
キスパートプランを各エレメントに分割して取り扱うよ
うになっており、この各エレメントには、それぞれ識別
番号が付されている。このため、エレメントの変更がな
されステップS2に進んだ場合、対話制御部3は、この
変更されたエレメントの識別番号を示すデータをスキャ
ン制御部5に供給してステップS3に進む。ステップS
3では、対話制御部3が、エレメントの変更が完了した
か否かを判別し、YESの場合はステップS6に進み、
NOの場合はステップS4に進む。
中のエレメントの前のエレメントのスキャンが終了した
か否かを判別し、NOの場合は前記ステップS3及び当
該ステップS4を繰り返し実行し、YESの場合はステ
ップS5に進む。ステップS5では、変更中のエレメン
トの前のエレメントのスキャンが終了してしまい、当該
変更中のエレメントの変更が終了していないため、対話
制御部3がスキャン制御部5を介して架台回転部1のス
キャン動作を一時停止制御してステップS3に戻る。
5の動作を説明し直すと、例えば第1番目のエレメント
と第2番目のエレメントがあった場合において、第1番
目のエレメントのスキャン実行中に、第2番目のエレメ
ントの変更がなされても、第1番目のエレメントのスキ
ャン実行中に、第2番目のエレメントの変更が完了し、
後に説明するコンファームボタンがオン操作された場合
は、第1番目のエレメントのスキャンは中止されること
はなく、これに連続して第2番目のエレメントのスキャ
ンが実行されるようになっている(ステップS6以
降)。これに対して、第1番目のエレメントのスキャン
が終了するまでに、第2番目のエレメントの変更操作が
終了していない場合は、第1番目のエレメントのスキャ
ン終了後にスキャンが一時停止され(ステップS5)、
第2番目のエレメントの変更完了待ちとなる(ステップ
S3〜ステップS5)。
スパートプランを各エレメントに分割して取り扱うこと
ではじめて可能となるものである。従って、当該X線C
T装置では、スキャン開始後でも、スキャン(一連のエ
キスパートプランにおける全スキャンの意)を中止する
ことなく検査条件の変更を行うことができるのである。
番目のエレメントがあった場合において、上述の説明で
は、第1番目のエレメントのスキャンが終了するまで
に、第2番目のエレメントの変更操作が終了していない
場合は、第1番目のエレメントのスキャン終了後にスキ
ャンが一時停止されることとしたが、これは、2番目の
エレメントの変更が完了していない場合は、該第2番目
のエレメントによるスキャンを後回しにし(スキップ
し)、第1番目のエレメントのスキャンに続いて第3番
目のエレメントのスキャンを実行するようにしてもよ
い。
ことなく、一連のエキスパートプランによる全スキャン
を実行可能とすることができる。この場合、データの連
続性が取れなくなることが懸念されるが、各スキャン毎
に得られたデータをメモリ上で各エレメント順に並ぶよ
うに(物理的或いは論理的いずれも可)書き込みアドレ
スを制御することによりデータの連続性を確保すること
ができる。
テップS6に進むと、このステップS6において、対話
制御部3が、この変更されたエレメントをスキャン制御
部5に転送してステップS7に進む。対話制御部3は、
エレメントの変更が完了すると、操作部2に設けられて
いるコンファームボタン21を点灯(或いは点滅)制御
して、操作者に対して変更されたエレメントの承認を促
すようになっており、操作者は、変更されたエレメント
で良い場合には、このコンファームボタン21をオン操
作する。ステップS7では、対話制御部3が、このコン
ファームボタン21がオン操作されたか否かを判別して
おり、コンファームボタン21がオン操作されない場合
はコンファームボタン21がオン操作されるまで当該ス
テップS7を繰り返し実行し、コンファームボタン21
がオン操作された場合はステップS8に進む。
にスキャンが一時停止している場合には、対話制御部3
が、図3(a)〜(d)を用いて説明した停止コマンド
「P」を削除するように表示部9を制御しステップS9
に進む。ステップS9では、スキャン制御部5が、対話
制御部3からスキャン条件生成部4を介して転送された
変更後のエレメントに基づいて架台回転部1を制御する
ことで、スキャンを再開しステップS10に進む。ステ
ップS10では、対話制御部3が、一連のエキスパート
プランによる全スキャンを終了したか否かを判別し、N
Oの場合はステップS1に戻り前記ステップS1〜当該
ステップS10の各ルーチンを繰り返し実行し、YES
の場合はそのままこの図4に示すフローチャートの全ル
ーチンを終了する。
の形態のX線CT装置は、一連の検査条件プログラムで
あるエキスパートプランを、複数のエレメント(最小検
査単位)に分割して取り扱うことにより、簡単な構成で
各エレメント毎に検査条件に変更を可能とすることがで
きるため、エキスパートプランの変更を容易に実行可能
とすることができる。このため、スキャン開始後にエキ
スパートプランの変更を行う場合に、全エキスパートプ
ランによる一連のスキャンを中止して該変更を行うよう
な不都合を防止することができる。従って、最適な検査
を最小の時間で実行可能とすることができる。
れるようになっており、スキャン実行時において、対応
するエレメントの変更が完了していない場合は、一連の
エキスパートプランによるスキャンを、そのエレメント
のスキャンの段階で一旦停止し、変更完了を待ってスキ
ャンを再開するようになっているため、末変更の検査条
件でスキャンが実行される不都合を防止することができ
る。
る撮影装置及び撮影方法をX線CT装置に適用すること
としたが、これは、所望の物体の撮影が可能なものであ
れば工業用のX線CT装置の他、X線診断装置、核磁気
共鳴装置(MRI装置)、SPECT装置(Single Phot
on Emission Computed Tomograph)等の他の撮影装置に
適用してもよく、この他、本発明に係る技術的思想を逸
脱しない範囲であれば、この実施の形態以外であって
も、設計等に応じた種々の変更が可能であることは勿論
である。
撮影開始後における撮影プログラムを簡単な構成で容易
に変更可能とすることができる。このため、撮影開始後
に撮影プログラムの変更の必要が生じた場合に、一旦撮
影を中止して変更後の撮影プログラムで新たに全撮影を
やり直す不都合を防止することができる。従って、最適
な撮影を最小の時間で実行可能とすることができる。
れるようになっており、撮影実行時において、対応する
分割プログラムの変更が完了していない場合は、一連の
撮影プログラムによる撮影を、その分割プログラムによ
る撮影の段階で一旦停止し、変更完了を待って撮影を再
開するようになっているため、末変更の撮影プログラム
で撮影が実行される不都合を防止することができる。
割プログラムの変更が完了していない場合は、そのプロ
グラム変更中の分割プログラムをスキップして、次の分
割プログラムによる撮影を実行するようになっているた
め、一連の撮影動作を停止することなく実行可能とする
ことができる。
実施の形態のX線CT装置のブロック図である。
パートプランと、これを形成する各エレメントの一例を
示す図である。
件の変更動作を説明するための図である。
更時におけるスキャン動作を説明するためのフローチャ
ートである。
例を示す図である。
キャン条件生成部、5…スキャン制御部、6…データ収
集部、7…フィルタ処理部、8…画像再構成部、9…表
示部、11…X線管、12…X線検出器、13…ガント
リ、14…寝台、20…スタートボタン、21…コンフ
ァームボタン
Claims (4)
- 【請求項1】 一連の撮影プログラムを、所定の撮影単
位毎の分割プログラムに分割し、この分割プログラムに
従って撮影を実行する撮影装置。 - 【請求項2】 前記分割プログラムの変更を行うための
プログラム変更手段と、 撮影開始後において、前記プログラム変更手段によりプ
ログラムの変更がなされている分割プログラムによる撮
影実行の段階で撮影を一時停止し、該分割プログラムの
変更が完了した段階で、該変更された分割プログラムに
よる撮影を再開する撮影制御手段とを有することを特徴
とする請求項1記載の撮影装置。 - 【請求項3】 前記分割プログラムの変更を行うための
プログラム変更手段と、 撮影開始後において、前記プログラム変更手段によりプ
ログラムの変更がなされている場合は、そのプログラム
変更中の分割プログラムをスキップして、次の分割プロ
グラムによる撮影を実行し、前記分割プログラムの変更
完了後に該変更された分割プログラムによる撮影を実行
する撮影制御手段とを有することを特徴とする請求項1
記載の撮影装置。 - 【請求項4】 一連の撮影プログラムを、所定の撮影単
位毎の分割プログラムに分割し、この分割プログラムに
従って順に撮影を実行する撮影方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29558698A JP4313866B2 (ja) | 1998-10-16 | 1998-10-16 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP29558698A JP4313866B2 (ja) | 1998-10-16 | 1998-10-16 | X線ct装置 |
Publications (3)
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JP2000116634A5 JP2000116634A5 (ja) | 2005-12-02 |
JP4313866B2 JP4313866B2 (ja) | 2009-08-12 |
Family
ID=17822555
Family Applications (1)
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JP (1) | JP4313866B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2006311941A (ja) * | 2005-05-09 | 2006-11-16 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | スキャン制御方法およびx線ct装置 |
US7139368B2 (en) | 2004-11-15 | 2006-11-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray CT apparatus |
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-
1998
- 1998-10-16 JP JP29558698A patent/JP4313866B2/ja not_active Expired - Lifetime
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