JP2000097844A - バックグランド値安定化用カバー - Google Patents
バックグランド値安定化用カバーInfo
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- JP2000097844A JP2000097844A JP26921298A JP26921298A JP2000097844A JP 2000097844 A JP2000097844 A JP 2000097844A JP 26921298 A JP26921298 A JP 26921298A JP 26921298 A JP26921298 A JP 26921298A JP 2000097844 A JP2000097844 A JP 2000097844A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 発光、蛍光測定用マルチウェルプレートにお
いて、測定時のバックグランド値上昇を防止し、測定結
果の信頼性を高める。 【解決手段】 発光、蛍光測定用マルチウェルプレート
に、カバーをすることにより、マルチウェルプレートの
バックグランド値を安定化させる。
いて、測定時のバックグランド値上昇を防止し、測定結
果の信頼性を高める。 【解決手段】 発光、蛍光測定用マルチウェルプレート
に、カバーをすることにより、マルチウェルプレートの
バックグランド値を安定化させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、臨床検査やバイオ
テクノロジーの分野で主に利用される、化学発光または
蛍光発光を用いたアッセイに使用する測定用のマルチウ
ェルプレートにおいて、測定時に発生するバックグラン
ド値を安定化する方法に関するものである。
テクノロジーの分野で主に利用される、化学発光または
蛍光発光を用いたアッセイに使用する測定用のマルチウ
ェルプレートにおいて、測定時に発生するバックグラン
ド値を安定化する方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、臨床検査やバイオテクノロジーの
分野におけるアッセイにおいて、マルチウェルプレート
を用いた化学発光や蛍光発光を利用したアッセイが多く
実施されるようになった。こうした化学発光や蛍光発光
を用いたアッセイは、従来の酵素標識化合物を用いて基
質の発色反応を用いたＥＬＩＳＡ法に比較し感度が良
く、微量物質の検出に優れた特性を発揮する。また測定
器機の開発により、かって大がかりで高価な測定装置で
あったものが、小型化され、また価格も安くなった。ま
た、大量のサンプルを処理するために、サンプルを１個
づつ測定用のガラスセルで測定するより、マルチウェル
プレートで一度に大量のサンプルを測定することが必要
となり、この市場はここ数年で大きな伸びを示してい
る。
分野におけるアッセイにおいて、マルチウェルプレート
を用いた化学発光や蛍光発光を利用したアッセイが多く
実施されるようになった。こうした化学発光や蛍光発光
を用いたアッセイは、従来の酵素標識化合物を用いて基
質の発色反応を用いたＥＬＩＳＡ法に比較し感度が良
く、微量物質の検出に優れた特性を発揮する。また測定
器機の開発により、かって大がかりで高価な測定装置で
あったものが、小型化され、また価格も安くなった。ま
た、大量のサンプルを処理するために、サンプルを１個
づつ測定用のガラスセルで測定するより、マルチウェル
プレートで一度に大量のサンプルを測定することが必要
となり、この市場はここ数年で大きな伸びを示してい
る。
【０００３】化学発光、蛍光発光を用いたアッセイに用
いられる測定用のマルチウェルプレートは、通常、黒色
や白色の着色された９６ウェルや３８４ウェルのマルチ
ウェルプレートが用いられる。これは特公平３−４０８
１８号公報にも記載されているように、発光、蛍光反射
効率を高めるためと、測定する個々のウェルから出る発
光、蛍光を測定する際に隣接するウェルからの発光、蛍
光の混在を防ぎ正しい測定値を得るためである。現在、
市販されている化学発光、蛍光発光測定用のマルチウェ
ルプレートはほとんがこの着色タイプが用いられてい
る。
いられる測定用のマルチウェルプレートは、通常、黒色
や白色の着色された９６ウェルや３８４ウェルのマルチ
ウェルプレートが用いられる。これは特公平３−４０８
１８号公報にも記載されているように、発光、蛍光反射
効率を高めるためと、測定する個々のウェルから出る発
光、蛍光を測定する際に隣接するウェルからの発光、蛍
光の混在を防ぎ正しい測定値を得るためである。現在、
市販されている化学発光、蛍光発光測定用のマルチウェ
ルプレートはほとんがこの着色タイプが用いられてい
る。
【０００４】しかしながら実際の測定においては、何も
サンプルを入れていないはずのウェルで高い測定値が得
られることが多々ある。これはマルチウェルプレート自
身が持つ、またはマルチウェルプレートに付着した塵埃
から光が出ていることを表している。実際、冷暗所で保
存したしておいたマルチウェルプレートを開封した直後
にバックグランドの発光、蛍光を測定すると、低いバッ
クグランド値が得られるが、測定後、同じマルチウェル
プレートを長時間、蛍光灯下において後再度測定すると
バックグランド値が上昇ことは良く知られている。ま
た、塵埃の多いところで放置したマルチウェルプレート
では特定のウェルの測定値が周りの測定値の２〜１０倍
以上になることがある。
サンプルを入れていないはずのウェルで高い測定値が得
られることが多々ある。これはマルチウェルプレート自
身が持つ、またはマルチウェルプレートに付着した塵埃
から光が出ていることを表している。実際、冷暗所で保
存したしておいたマルチウェルプレートを開封した直後
にバックグランドの発光、蛍光を測定すると、低いバッ
クグランド値が得られるが、測定後、同じマルチウェル
プレートを長時間、蛍光灯下において後再度測定すると
バックグランド値が上昇ことは良く知られている。ま
た、塵埃の多いところで放置したマルチウェルプレート
では特定のウェルの測定値が周りの測定値の２〜１０倍
以上になることがある。
【０００５】多くの場合、マルチウェルプレートをエア
掛けすると測定値は低くなるので、マルチウェルプレー
トに付着した塵埃が光を出しているものと考えられる。
バックグランド値の１０倍の値がエラーで測定されると
なると、化学発光、蛍光発光測定の利点である高感度を
スポイルする事となる。化学発光、蛍光発光の測定は、
前述のように、臨床検査に用いられているので、高バッ
クグランド値が測定結果のエラーを引き出すことになる
と、検査に間違いが生じ、検査の信頼性が無くなるだけ
でなく、被験者にとって多大の不利益を生ずることとな
る。従ってこのバックグランド値をいかに抑えるかは、
感度の高い測定を実施するために重要なポイントとな
る。
掛けすると測定値は低くなるので、マルチウェルプレー
トに付着した塵埃が光を出しているものと考えられる。
バックグランド値の１０倍の値がエラーで測定されると
なると、化学発光、蛍光発光測定の利点である高感度を
スポイルする事となる。化学発光、蛍光発光の測定は、
前述のように、臨床検査に用いられているので、高バッ
クグランド値が測定結果のエラーを引き出すことになる
と、検査に間違いが生じ、検査の信頼性が無くなるだけ
でなく、被験者にとって多大の不利益を生ずることとな
る。従ってこのバックグランド値をいかに抑えるかは、
感度の高い測定を実施するために重要なポイントとな
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、臨床検査や
バイオテクノロジーの分野で主に利用される、化学発光
または蛍光発光を用いたアッセイシステムに使用する測
定用のマルチウェルプレートにおいて、測定時に発生し
測定結果の判定に影響を及ぼすバックグランド値を安定
化するために検討を重ねた結果、本発明にいたった。
バイオテクノロジーの分野で主に利用される、化学発光
または蛍光発光を用いたアッセイシステムに使用する測
定用のマルチウェルプレートにおいて、測定時に発生し
測定結果の判定に影響を及ぼすバックグランド値を安定
化するために検討を重ねた結果、本発明にいたった。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は多数の検体を別
々に収めることの出来る区画からなり、発光測定または
蛍光測定に用いるマルチウェルプレートにおいて着脱可
能な上部を覆うバックグランド値安定化用カバーであ
る。
々に収めることの出来る区画からなり、発光測定または
蛍光測定に用いるマルチウェルプレートにおいて着脱可
能な上部を覆うバックグランド値安定化用カバーであ
る。
【０００８】
【発明の実施の形態】化学発光、蛍光発光測定系におけ
るバックグランド値の上昇の原因は先に記述したように
２点ある。一つ目はマルチウェルプレート本体が、蛍光
灯下のように光が当たるところで放置した場合、マルチ
ウェルプレート自身が微量ながら光を蓄え、測定時に放
出することである。もう一つは、塵埃がマルチウェルプ
レートに付着し、既に光を蓄えているか、あるいはマル
チウェルプレート付着後、蛍光灯下等で光を蓄積し、測
定時にその光を放出すると考えられる。
るバックグランド値の上昇の原因は先に記述したように
２点ある。一つ目はマルチウェルプレート本体が、蛍光
灯下のように光が当たるところで放置した場合、マルチ
ウェルプレート自身が微量ながら光を蓄え、測定時に放
出することである。もう一つは、塵埃がマルチウェルプ
レートに付着し、既に光を蓄えているか、あるいはマル
チウェルプレート付着後、蛍光灯下等で光を蓄積し、測
定時にその光を放出すると考えられる。
【０００９】従って、マルチウェルプレートをずっと暗
所で保存しておけばバックグランド値が安定化できるこ
とは間違いないが、実際の測定系でマルチウェルプレー
トに溶液を分注したり測定装置にかけたりする必要があ
り、その際に光の下にさらすことは避けられないことで
ある。従って必要以上にマルチウェルプレートを光りに
さらさないことがまず最初のポイントである。また、塵
埃がマルチウェルプレートに入らないようにすることが
二つ目のポイントとなる。これを解決するためには、塵
埃の発生を抑えること、マルチウェルプレートのウェル
内に塵埃を入れないようにすることである。
所で保存しておけばバックグランド値が安定化できるこ
とは間違いないが、実際の測定系でマルチウェルプレー
トに溶液を分注したり測定装置にかけたりする必要があ
り、その際に光の下にさらすことは避けられないことで
ある。従って必要以上にマルチウェルプレートを光りに
さらさないことがまず最初のポイントである。また、塵
埃がマルチウェルプレートに入らないようにすることが
二つ目のポイントとなる。これを解決するためには、塵
埃の発生を抑えること、マルチウェルプレートのウェル
内に塵埃を入れないようにすることである。
【００１０】現実問題として、発光測定や蛍光測定は、
微量の蛋白質や遺伝子、ＤＮＡまたはＲＮＡを測定する
為によく使用される方法で、基本的には、測定対象物は
再使用できない一種の破壊検査であるので、細胞培養や
遺伝子操作のように、空中の塵埃数が制御された部屋で
行われることは比較的少なく、また測定装置そのものも
機械的な可動部を有するため、測定場所から塵埃を取り
除くことには、コストと時間がかかる。従って、塵埃に
よるバックグランド値の上昇を防ぐためには、プレート
検出部への塵埃の付着を防げばよい。塵埃の付着を防ぐ
最も簡単な方法は、カバーをする事である。（図１）カ
バーの形状は色々考えられるが、必要なことはウェルに
塵埃が入らないことであるので、マルチウェルプレート
上面部のみを覆う形態のカバーが使用には最も簡単であ
る。側面にスカート部を設けることも可能である。（図
２）このスカート部は、側面からの塵埃の浸入を防ぐた
めだけでなく、カバーの脱落防止の点からも有効であ
る。またカバーに着色がなされたものは、マルチウェル
プレートの光の吸収を防ぐ意味からもさらに有効なもの
である。さらにカバーは溶液の分注時など必要時に取り
外せる形態のものが良い。
微量の蛋白質や遺伝子、ＤＮＡまたはＲＮＡを測定する
為によく使用される方法で、基本的には、測定対象物は
再使用できない一種の破壊検査であるので、細胞培養や
遺伝子操作のように、空中の塵埃数が制御された部屋で
行われることは比較的少なく、また測定装置そのものも
機械的な可動部を有するため、測定場所から塵埃を取り
除くことには、コストと時間がかかる。従って、塵埃に
よるバックグランド値の上昇を防ぐためには、プレート
検出部への塵埃の付着を防げばよい。塵埃の付着を防ぐ
最も簡単な方法は、カバーをする事である。（図１）カ
バーの形状は色々考えられるが、必要なことはウェルに
塵埃が入らないことであるので、マルチウェルプレート
上面部のみを覆う形態のカバーが使用には最も簡単であ
る。側面にスカート部を設けることも可能である。（図
２）このスカート部は、側面からの塵埃の浸入を防ぐた
めだけでなく、カバーの脱落防止の点からも有効であ
る。またカバーに着色がなされたものは、マルチウェル
プレートの光の吸収を防ぐ意味からもさらに有効なもの
である。さらにカバーは溶液の分注時など必要時に取り
外せる形態のものが良い。
【００１１】さらに、カバーの材質はポリスチレン、ポ
リプロピレンなどのプラスチック樹脂だけでなくアルミ
や銅などの金属、ゴムなども使用できる。ゴムを使用す
る場合は、プレートに隙間無くカバーすることが可能で
あるばかりでなく、ウェルの上部に当たる部分にスリッ
トやピンホール予め入れておけば、カバーを外すことな
くゴムの伸縮性を利用し、スリット、ピンホールよりデ
ィスペンサーチップや金属チューブにより溶液を分注す
る事が可能となる。（図３−１）また分注のノズルに注
射針を用いれば、ゴムにスリットやピンホールを入れず
とも分注が可能となる。（図３−２） 以上、バックグランド値を安定させるためのカバーにつ
いて述べてきたが、次に実施例と比較例で発明の効果を
示す。
リプロピレンなどのプラスチック樹脂だけでなくアルミ
や銅などの金属、ゴムなども使用できる。ゴムを使用す
る場合は、プレートに隙間無くカバーすることが可能で
あるばかりでなく、ウェルの上部に当たる部分にスリッ
トやピンホール予め入れておけば、カバーを外すことな
くゴムの伸縮性を利用し、スリット、ピンホールよりデ
ィスペンサーチップや金属チューブにより溶液を分注す
る事が可能となる。（図３−１）また分注のノズルに注
射針を用いれば、ゴムにスリットやピンホールを入れず
とも分注が可能となる。（図３−２） 以上、バックグランド値を安定させるためのカバーにつ
いて述べてきたが、次に実施例と比較例で発明の効果を
示す。
【００１２】
【実施例】（実施例）市販の蛍光測定用黒色９６マルチ
ウェルプレート（住友ベークライト製、ＭＳ−８４９６
Ｋ）を開封直後、蛍光測定装置（日本モレキュラーデバ
イス社製、ｆ−ｍａｘ蛍光マイクロプレートリーダー）
で溶液や試薬を入れず、プレートそのものを蛍光の発光
値を求めた。バックグランド値を求めたプレートに、新
規作成したプレート上部及び側面にスカート部を持つポ
リスチレン製のカバーを作製し、カバーをかけた状態
で、２時間実験室内に放置した。放置後、蛍光測定装置
でバックグランド値を求めた。
ウェルプレート（住友ベークライト製、ＭＳ−８４９６
Ｋ）を開封直後、蛍光測定装置（日本モレキュラーデバ
イス社製、ｆ−ｍａｘ蛍光マイクロプレートリーダー）
で溶液や試薬を入れず、プレートそのものを蛍光の発光
値を求めた。バックグランド値を求めたプレートに、新
規作成したプレート上部及び側面にスカート部を持つポ
リスチレン製のカバーを作製し、カバーをかけた状態
で、２時間実験室内に放置した。放置後、蛍光測定装置
でバックグランド値を求めた。
【００１３】（比較例）市販の蛍光測定用黒色９６マル
チウェルプレート（住友ベークライト製、ＭＳ−８４９
６Ｋ）を実施例同様にまず蛍光バックグランド値測定、
その後、カバーをせずウェルの上部を開放した状態で、
実施例と同じく２時間実験室内に放置し蛍光測定を行っ
た。実施例と比較例とは同時に放置を行い、測定後、コ
ンプレッサーの圧縮空気でプレートのゴミを吹き飛ばし
た後、もう一度バックグランド値を測定した。９６ウェ
ルの平均値を下表に示す。
チウェルプレート（住友ベークライト製、ＭＳ−８４９
６Ｋ）を実施例同様にまず蛍光バックグランド値測定、
その後、カバーをせずウェルの上部を開放した状態で、
実施例と同じく２時間実験室内に放置し蛍光測定を行っ
た。実施例と比較例とは同時に放置を行い、測定後、コ
ンプレッサーの圧縮空気でプレートのゴミを吹き飛ばし
た後、もう一度バックグランド値を測定した。９６ウェ
ルの平均値を下表に示す。
【００１４】 初期値値 放置後 エア掛け後 実施例 ０．１７０ ０．１６８ ０．１６９ 比較例 ０．１６８ ０．２８２ ０．１７１
【００１５】表から明らかなように、カバーを用いた実
施例ではバックグランド値は殆ど変化しなかったが、比
較例では０．２８２と高い値を示している。比較例では
全体に高くなったといううより、異常に高い値を示すウ
ェルが存在しそれにより平均値が高くなっている。例え
ば、実施例の放置後で９６ウェルの最大値は０．２２０
であるが、比較例では１．１５１と平均値の４倍以上の
値を示すウェルが複数存在する。この値は通常であれば
測定値に十分匹敵する値であり、比較例の場合測定結果
を見誤る可能性が高いと考えられる。
施例ではバックグランド値は殆ど変化しなかったが、比
較例では０．２８２と高い値を示している。比較例では
全体に高くなったといううより、異常に高い値を示すウ
ェルが存在しそれにより平均値が高くなっている。例え
ば、実施例の放置後で９６ウェルの最大値は０．２２０
であるが、比較例では１．１５１と平均値の４倍以上の
値を示すウェルが複数存在する。この値は通常であれば
測定値に十分匹敵する値であり、比較例の場合測定結果
を見誤る可能性が高いと考えられる。
【００１６】
【発明の効果】本発明のように、マルチウェルプレート
に簡単なカバーをすることにより、塵埃制御のための大
がかりな設備を必要とせず、発光、蛍光測定用マルチウ
ェルプレートのバックグランド値の上昇を防ぐことがで
き、安定した測定が可能となり、測定結果の信頼性を高
めるものである。
に簡単なカバーをすることにより、塵埃制御のための大
がかりな設備を必要とせず、発光、蛍光測定用マルチウ
ェルプレートのバックグランド値の上昇を防ぐことがで
き、安定した測定が可能となり、測定結果の信頼性を高
めるものである。
【図１】本発明における発光、蛍光測定用マルチウェル
プレートとカバーを示す。（１）は斜視図、（２）は側
面図を示す。
プレートとカバーを示す。（１）は斜視図、（２）は側
面図を示す。
【図２】本発明における発光、蛍光測定用マルチウェル
プレートとスカート部付きカバーを示す。（１）は斜視
図、（２）は側面図を示す。
プレートとスカート部付きカバーを示す。（１）は斜視
図、（２）は側面図を示す。
【図３】本発明におけるスリット付きゴム製カバー装着
状態の断面図（１）と分注用ディスペンサーチップをス
リットからプレートに差し入れ、分注している状態の断
面図（２）を示す。
状態の断面図（１）と分注用ディスペンサーチップをス
リットからプレートに差し入れ、分注している状態の断
面図（２）を示す。
【図４】本発明におけるゴム製カバー装着状態で分注用
注射針をゴム製カバーを貫通してプレートに差し入れ、
分注している状態の断面図を示す。
注射針をゴム製カバーを貫通してプレートに差し入れ、
分注している状態の断面図を示す。
１１ カバー １２ 発光、蛍光測定用マルチウェルプレート １３ スカート付きカバー １４ スカート部 １５ ゴム製カバー １６ スリット １７ 分注用ディスペンサーチップ １８ 分注用注射針
Claims (3)
- 【請求項１】多数の検体を別々に収めることの出来る区
画からなり、発光測定または蛍光測定に用いるマルチウ
ェルプレートにおいて着脱可能な上部を覆うバックグラ
ンド値安定化用カバー。 - 【請求項２】該カバーがプラスチック樹脂、ゴム、金属
からなる請求項１記載のバックグランド値安定化用カバ
ー。 - 【請求項３】カバーが着色されており、遮光性を有する
請求項１又は２記載のバックグランド値安定化用カバ
ー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26921298A JP2000097844A (ja) | 1998-09-24 | 1998-09-24 | バックグランド値安定化用カバー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26921298A JP2000097844A (ja) | 1998-09-24 | 1998-09-24 | バックグランド値安定化用カバー |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000097844A true JP2000097844A (ja) | 2000-04-07 |
Family
ID=17469243
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26921298A Pending JP2000097844A (ja) | 1998-09-24 | 1998-09-24 | バックグランド値安定化用カバー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000097844A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020064164A (ko) * | 2001-01-31 | 2002-08-07 | 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼 | 액체이송기와 반응용기 |
| WO2005095929A1 (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | マスキング部材、光測定方法、光測定用キット及び光測定用容器 |
| JP2007248063A (ja) * | 2006-03-13 | 2007-09-27 | Hitachi Ltd | 光検出装置 |
| KR100864096B1 (ko) * | 2001-04-07 | 2008-10-16 | (주)바이오니아 | 일회용 생화학 시료 보관용기 |
| US7586615B2 (en) | 2004-08-26 | 2009-09-08 | Fujifilm Corporation | Measuring unit |
| WO2010038628A1 (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-08 | Obata Toru | ゲル粒子生成器具及びこれを用いたゲル粒子測定装置 |
| JP2014513794A (ja) * | 2011-04-22 | 2014-06-05 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ルミネセンス検出方法 |
| JP2015136318A (ja) * | 2014-01-22 | 2015-07-30 | 国立大学法人 筑波大学 | 細胞培養用デバイス |
| JP2020118600A (ja) * | 2019-01-25 | 2020-08-06 | 株式会社日立製作所 | 発光計測装置、発光計測システム及び発光計測方法 |
-
1998
- 1998-09-24 JP JP26921298A patent/JP2000097844A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPWO2005095929A1 (ja) * | 2004-03-30 | 2008-02-21 | 浜松ホトニクス株式会社 | マスキング部材、光測定方法、光測定用キット及び光測定用容器 |
| JP4627529B2 (ja) * | 2004-03-30 | 2011-02-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | マスキング部材、光測定方法、光測定用キット及び光測定用容器 |
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| JP2007248063A (ja) * | 2006-03-13 | 2007-09-27 | Hitachi Ltd | 光検出装置 |
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| JP2020118600A (ja) * | 2019-01-25 | 2020-08-06 | 株式会社日立製作所 | 発光計測装置、発光計測システム及び発光計測方法 |
| JP7107860B2 (ja) | 2019-01-25 | 2022-07-27 | 株式会社日立製作所 | 発光計測装置、発光計測システム及び発光計測方法 |
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