JP2000091110A - 半導体装置およびその製造方法 - Google Patents

半導体装置およびその製造方法

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JP2000091110A
JP2000091110A JP10255192A JP25519298A JP2000091110A JP 2000091110 A JP2000091110 A JP 2000091110A JP 10255192 A JP10255192 A JP 10255192A JP 25519298 A JP25519298 A JP 25519298A JP 2000091110 A JP2000091110 A JP 2000091110A
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JP
Japan
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resistor
trimming resistor
trimming
semiconductor device
semiconductor element
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JP10255192A
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English (en)
Inventor
Toshie Nakagawa
川 とし江 中
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は半導体装置の抵抗のトリミングにか
かるものである。 【解決手段】 本発明は半導体素子11に搭載された抵
抗体15に並列に接続するとともに切断できる第1のト
リミング抵抗12と、この第1のトリミング抵抗12に
直列に接続し半導体素子10に分割した調整電圧を与え
る第2のトリミング抵抗13とを備えたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置およびそ
の製造方法に係り、特に、トリミング抵抗を備えた半導
体装置およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】一般
に半導体装置はFET(Field Effect Transistor)等を
搭載した半導体素子とトリミング抵抗とから構成され、
セラミックス等の基板に搭載している。
【0003】このような半導体装置は小型の携帯電話機
等の制御増幅装置によく使用している。
【0004】この半導体装置はトリミング抵抗を切削等
によりトリミングし、FETのゲート電極等に与える電圧
を加減し、ドレインからソースに流れる電流を適正な値
になるように調整している。
【0005】ところで、このトリミング抵抗は基板に印
刷されたものであるため、嵩張り半導体装置を大きく
し、その結果として携帯電話機等を大型化すると言う問
題があった。
【0006】特に、トリミング抵抗のトリミングにより
電流調整を大きく調整するものにあっては小型化が非常
に困難であると言う問題があった。
【0007】また、トリミング抵抗は切削によりトリミ
ングするものであるため、トリミングを行う毎に抵抗値
が増大する。そのため、トリミング抵抗を電源側に接続
すればゲート電極等に加えられ電圧が順次下げ方向の調
整となり、また、接地側に接続すれば順次上げ方向の調
整となり、半導体素子の電流を的確、かつ、広範囲に調
整することがなかなかできないと言う問題があった。
【0008】そこで本発明は上記問題を解決するために
広範囲に亘り電流が調整できるようにするとともにトリ
ミングする抵抗体等の小型化を図った半導体装置を提供
することを目的とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は半導体
素子に搭載された抵抗体に並列に接続するとともに切断
できる第1のトリミング抵抗と、この第1のトリミング
抵抗に直列に接続し半導体素子に分割した調整電圧を与
える第2のトリミング抵抗とを備えたことを特徴とする
半導体装置を提供するものである。
【0010】また、請求項2の発明は第1のトリミング
抵抗は電源側に接続され、第2のトリミング抵抗は接地
側に接続されたことを特徴とする半導体装置を提供する
ものである。
【0011】さらに、請求項3の発明は第1のトリミン
グ抵抗は接地側に接続され、第2のトリミング抵抗は電
源側に接続されたことを特徴とする半導体装置を提供す
るものである。
【0012】さらに、請求項4の発明は第1のトリミン
グ抵抗は固有抵抗が大きく小ないスペースの部材により
形成したことを特徴とする半導体装置を提供するもので
ある。
【0013】さらにまた、請求項5の発明は半導体素子
に搭載された抵抗体に並列に第1のトリミング抵抗を切
断可能に接続し、この第1のトリミング抵抗に直列に第
2のトリミング抵抗を接続し、第1のトリミング抵抗と
第2のトリミング抵抗との間の分割された調整電圧を半
導体素子に与えることを特徴とする半導体装置の製造方
法を提供するものである。
【0014】さらに、請求項6の発明は第1のトリミン
グ抵抗を電源側に接続し、第2のトリミング抵抗を接地
側に接続し、第1のトリミング抵抗と第2のトリミング
抵抗との間の分割された調整電圧を半導体素子に与えこ
とを特徴とする半導体装置の製造方法を提供するもので
ある。
【0015】さらに、請求項7の発明は第1のトリミン
グ抵抗を接地側に接続し、第2のトリミング抵抗を電源
側に接続し、第1のトリミング抵抗と第2のトリミング
抵抗との間の分割された調整電圧を半導体素子に与える
ことを特徴とする半導体装置の製造方法を提供するもの
である。
【0016】
【発明の実施の形態】以下本発明半導体装置の第1の実
施の形態を図1、図2および図3を参照しながら説明す
る。
【0017】本発明半導体装置10は図1に示すように
FET(Field Effect Transistor)等を搭載した半導体
素子11と第1のトリミング抵抗12および第2のトリ
ミング抵抗13等とから構成され、セラミックス等の基
板14に搭載している。
【0018】この半導体素子11は図2、図3に示すよ
うにドレイン電極11D、ソース電極11Sおよびゲート
電極11Gが備えられ、ドレイン電極11Dを電源側Vdd
に接続し、ソース電極11Sを接地側Veに接続してい
る。
【0019】この半導体素子11には半導体にイオン注
入することにより4KΩ程度の抵抗値を有する抵抗体1
5が搭載され、ゲート電極11Gに接続している。
【0020】この抵抗体15には高抵抗物質を混入し4
KΩ程度の抵抗値を有する比較的に小さい部材から成
り、かつ、切断可能な印刷部材により構成した第1のト
リミング抵抗12が接続され、一端を制御電源側Vpに接
続し、他端をゲート電極10Gに接続している。
【0021】この第1のトリミング抵抗12には2KΩ
程度の抵抗値を有する切削可能な比較的に大きな印刷部
材から構成した第2のトリミング抵抗13が直列に接続
され、一端をゲート電極11Gに接続し、他端を接地側V
に接続している。
【0022】このように構成された半導体装置10は第
1のトリミング抵抗12を切断等し、かつ、第2のトリ
ミング抵抗13を切削することによりトリミングされ、
その抵抗値を適宜選択する。この選択された抵抗値によ
り電源電圧を調整しながら分割しこの分割した電圧を半
導体素子11のゲート電極11Gに与える。
【0023】ゲート電極11Gに調整した分割電圧が与
えられると、ドレイン電極11Dからソース電極11Sに
流れる電流を最適な値に調整し携帯電話機等の制御増幅
装置を的確に制御する。
【0024】この分割電圧の調整を図2、図3によりさ
らに具体例により説明する。
【0025】図1に示す状態では半導体素子11のゲー
ト11Gには第1のトリミング抵抗12および抵抗15
の並列回路と第2のトリミング抵抗13とにより電源電
圧を1/2に分割した電圧を加えている。このときのドレ
イン電極11Dからソース電極11Sに流れる電流が図示
しない測定器により測定され、その値が大きいか小さい
かを判断する。
【0026】電流の値が所望の値より大きい場合には第
2のトリミング抵抗13が切削により順次トリミングさ
れ、その抵抗値を大きくし分割電圧を高めゲート電極1
1Gに与える。これによりドレイン電極11Dからソース
電極11Sに流れる電流値を下げ最適な値に調整する。
【0027】また、電流が小さい場合には図3に示すよ
うに第1のトリミング抵抗12が切断され、ゲート電極
11Gの分割電圧を1/3に低下させる。これによりドレイ
ン電極11Dからソース電極11Sに流れる電流を大きく
する。
【0028】この切断後第2のトリミング抵抗13が順
次トリミングされ抵抗値を順次増大させ電流を下げ所望
の電流値まで調整する。
【0029】このように第1のトリミング抵抗12の切
断および第2のトリミング抵抗13のトリミング等によ
り、ゲート電極11Gに加える電圧の幅を上下に拡大し
て調整し、半導体素子11のドレイン11Dからソース
11Sに流れる電流を所望の電流値に調整する。
【0030】上記第1の実施の形態では基本的な動作を
説明したが実際に使用するときには抵抗体15、第1の
トリミング抵抗12、第2のトリミング抵抗13の抵抗
は半導体素子11の容量、特性、使用目的等のにより適
宜の値に選定し、トリミング、調整等を容易にできるよ
うにする。
【0031】また、第1の実施の形態ではトリミングは
第1のトリミング抵抗12を切断等し、第2のトリミン
グ抵抗13を切削等したが第1のトリミング抵抗12を
切削し、かつ、切断するようにすると調整が多少複雑に
なるが種々の分割電圧をゲート電極11Gに加える調整
電流を微細に調整することができる。
【0032】図4、図5は第1の実施の形態を変形した
第2の実施の形態を示すものである。
【0033】この形態は第2のトリミング抵抗13は制
御電源側Vpとゲート電極11Gとに接続され、抵抗体1
5と第1のトリミング抵抗12とがゲート電極11Gと
接地側Veとに接続され、ゲート電極11Gに加える分割
電圧を第1の実施の形態と逆に第2のトリミング抵抗1
3のトリミングにより順次下げ、また、第1のトリミン
グ抵抗12の切断により分割電圧を上げてから順次下げ
るような調整を行うことをしてもよい。
【0034】このような構成によっても半導体素子11
のドレイン11Dからソース11Sに流れる電流を広範囲
に希望通りの値に調整することができる。
【0035】また、この電流調整には第1のトリミング
抵抗12を小さくしたので基板14、すなわち、携帯電
話機等の構成部品が小さくすることができる。
【0036】
【発明の効果】請求項1の発明は半導体素子に搭載され
た抵抗体に並列に接続するとともに切断できる第1のト
リミング抵抗と、この第1のトリミング抵抗に直列に接
続し半導体素子に分割した調整電圧を与える第2のトリ
ミング抵抗とを備えたから半導体素子に種々な値の分割
電圧を与えることができる。
【0037】また、請求項2の発明は第1のトリミング
抵抗は電源側に接続され、第2のトリミング抵抗は接地
側に接続されたから分割電圧の調整幅を拡大ですること
ができる。
【0038】さらに、請求項3の発明は第1のトリミン
グ抵抗は接地側に接続され、第2のトリミング抵抗は電
源側に接続されたから分割電圧の調整幅を拡大でするこ
とができる。
【0039】さらに、請求項4の発明は第1のトリミン
グ抵抗は固有抵抗が大きく小ないスペースの部材により
形成したから半導体装置の小型化を図ることができる。
【0040】さらにまた、請求項5の発明は半導体素子
に搭載された抵抗体に並列に第1のトリミング抵抗を切
断可能に接続し、この第1のトリミング抵抗に直列に第
2のトリミング抵抗を接続し、第1のトリミング抵抗と
第2のトリミング抵抗との間の分割された調整電圧を半
導体素子に与えるようにしたから半導体素子に種々な値
の分割電圧を与えるものを製造することができる。
【0041】さらに、請求項6の発明は第1のトリミン
グ抵抗を電源側に接続し、第2のトリミング抵抗を接地
側に接続し、第1のトリミング抵抗と第2のトリミング
抵抗との間の分割された調整電圧を半導体素子に与えよ
うにしたから分割電圧の調整幅を拡大でするものを製造
することができる。
【0042】さらに、請求項7の発明は第1のトリミン
グ抵抗を接地側に接続し、第2のトリミング抵抗を電源
側に接続し、第1のトリミング抵抗と第2のトリミング
抵抗との間の分割された調整電圧を半導体素子に与える
ようにしたから分割電圧の調整幅を拡大でするものを製
造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明半導体装置の配置例の概要を示す説明
図。
【図2】本発明半導体装置の第1の実施の形態を示す説
明図。
【図3】図2の他の実施の形態を示す説明図。
【図4】本発明半導体装置の第2の実施の形態を示す説
明図。
【図5】図4の他の実施の形態を示す説明図。
【符号の説明】
10 半導体装置 11 抵抗、 12 第1のトリミング抵抗 13 第2のトリミング抵抗 14 基板 15 抵抗体

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体素子に搭載された抵抗体に並列に接
    続するとともに切断できる第1のトリミング抵抗と、 この第1のトリミング抵抗に直列に接続し半導体素子に
    分割した調整電圧を与える第2のトリミング抵抗と、 を備えたことを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】第1のトリミング抵抗は電源側に接続さ
    れ、 第2のトリミング抵抗は接地側に接続され、 たことを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】第1のトリミング抵抗は接地側に接続さ
    れ、 第2のトリミング抵抗は電源側に接続され、 たことを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】第1のトリミング抵抗は固有抵抗が大きく
    小ないスペースの部材により形成したことを特徴とする
    請求項1、2または3記載の半導体装置。
  5. 【請求項5】半導体素子に搭載された抵抗体に並列に第
    1のトリミング抵抗を切断可能に接続し、 この第1のトリミング抵抗に直列に第2のトリミング抵
    抗を接続し、 第1のトリミング抵抗と第2のトリミング抵抗との間の
    分割された調整電圧を半導体素子に与える、ことを特徴
    とする半導体装置の製造方法。
  6. 【請求項6】第1のトリミング抵抗を電源側に接続し、 第2のトリミング抵抗を接地側に接続し、 第1のトリミング抵抗と第2のトリミング抵抗との間の
    分割された調整電圧を半導体素子に与え、 ことを特徴とする請求項5記載の半導体装置の製造方
    法。
  7. 【請求項7】第1のトリミング抵抗を接地側に接続し、 第2のトリミング抵抗を電源側に接続し、 第1のトリミング抵抗と第2のトリミング抵抗との間の
    分割された調整電圧を半導体素子に与える、 ことを特徴とする請求項5記載の半導体装置の製造方
    法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010245248A (ja) * 2009-04-06 2010-10-28 Denso Corp 半導体装置およびその製造方法
US11145558B2 (en) 2019-03-27 2021-10-12 Fuji Electric Co., Ltd. Manufacturing method of semiconductor module

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JP2010245248A (ja) * 2009-04-06 2010-10-28 Denso Corp 半導体装置およびその製造方法
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