JP2000082731A - クリーンルーム設備 - Google Patents
クリーンルーム設備Info
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- JP2000082731A JP2000082731A JP25147398A JP25147398A JP2000082731A JP 2000082731 A JP2000082731 A JP 2000082731A JP 25147398 A JP25147398 A JP 25147398A JP 25147398 A JP25147398 A JP 25147398A JP 2000082731 A JP2000082731 A JP 2000082731A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】ウェーハを密閉容器から汚染されることなく取
り出し、製造、洗浄等の装置へ受け渡すことのできるク
リーンルーム設備を提供する。 【解決手段】装置室11の入口に沿ってクリーンルーム
10と前記装置室11との間でウェーハWを受け渡しす
るための中間室12を形成し、該中間室12を高清浄度
の設定する。
り出し、製造、洗浄等の装置へ受け渡すことのできるク
リーンルーム設備を提供する。 【解決手段】装置室11の入口に沿ってクリーンルーム
10と前記装置室11との間でウェーハWを受け渡しす
るための中間室12を形成し、該中間室12を高清浄度
の設定する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、クリーンルーム設
備に関するもので、詳しくはウェーハを密閉容器に収容
して移動させることによって、クリーンルーム内の清浄
度を低清浄度(クラス102 程度以上)にしたクリーン
ルーム設備に関するものである。
備に関するもので、詳しくはウェーハを密閉容器に収容
して移動させることによって、クリーンルーム内の清浄
度を低清浄度(クラス102 程度以上)にしたクリーン
ルーム設備に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図2に従来のクリーンルーム設備を示し
ている。このクリーン設備では、クリーンルーム1の天
井にファンフィルタユニット(FFU)2を設置すると
ともに、床をグレーチング床3にし、天井裏空間4の空
気をFFU2によって浄化してクリーンルーム1内に供
給して、該クリーンルーム1内を清浄にしている。そし
て、クリーンルーム1内の空気は、グレーチング床3を
介して床下空間5に排出され、該床下空間5からクリー
ンルーム1を画成する側壁6の外側の循環路空間7を経
て天井裏空間4に循環され、再びFFU2によってクリ
ーンルーム1内に供給される。また、クリーンルーム設
備には製造装置,洗浄装置等の装置を収容する装置室8
が設置され、該装置室8は、クリーンルーム1に臨んで
配置されている。この装置室8を収容する空間9の天井
にもFFU10が設置され、該空間9の雰囲気が清浄度
103 程度に維持されている。
ている。このクリーン設備では、クリーンルーム1の天
井にファンフィルタユニット(FFU)2を設置すると
ともに、床をグレーチング床3にし、天井裏空間4の空
気をFFU2によって浄化してクリーンルーム1内に供
給して、該クリーンルーム1内を清浄にしている。そし
て、クリーンルーム1内の空気は、グレーチング床3を
介して床下空間5に排出され、該床下空間5からクリー
ンルーム1を画成する側壁6の外側の循環路空間7を経
て天井裏空間4に循環され、再びFFU2によってクリ
ーンルーム1内に供給される。また、クリーンルーム設
備には製造装置,洗浄装置等の装置を収容する装置室8
が設置され、該装置室8は、クリーンルーム1に臨んで
配置されている。この装置室8を収容する空間9の天井
にもFFU10が設置され、該空間9の雰囲気が清浄度
103 程度に維持されている。
【0003】そして、クリーンルーム1では、ウェーハ
Wをオープンカセット11に収納して、自走台車(AG
V)12等によって移送を行なっている。このため、ク
リーンルーム1内全体を高清浄度(クラス1程度)に維
持しなくてはならず、ファンフィルタユニット(FF
U)2をクリーンルーム1の天井全体に設置して全面ダ
ウンフローにしている。
Wをオープンカセット11に収納して、自走台車(AG
V)12等によって移送を行なっている。このため、ク
リーンルーム1内全体を高清浄度(クラス1程度)に維
持しなくてはならず、ファンフィルタユニット(FF
U)2をクリーンルーム1の天井全体に設置して全面ダ
ウンフローにしている。
【0004】しかし、このような方式では、FFU2の
設置台数が多くなり、クリーンルーム設備のランニング
コストを増大するという問題があった。この解決策とし
ては、ウェーハWを運ぶ密閉容器(FOUP)を用い
て、即ちFOUP内のみを高清浄度に保つことによっ
て、クリーンルーム内の清浄度を低清浄度にすること、
即ちFFUの台数の削減を実現することが考えられる。
設置台数が多くなり、クリーンルーム設備のランニング
コストを増大するという問題があった。この解決策とし
ては、ウェーハWを運ぶ密閉容器(FOUP)を用い
て、即ちFOUP内のみを高清浄度に保つことによっ
て、クリーンルーム内の清浄度を低清浄度にすること、
即ちFFUの台数の削減を実現することが考えられる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うなクリーン設備では、FOUPをロードポート上で開
成し、移載機によってウェーハをFOUPから取り出
し、そして製造,洗浄等の装置へ移動させる必要があ
り、その際にウェーハがクリーンルーム内の雰囲気に曝
されて汚染される虞がある。
うなクリーン設備では、FOUPをロードポート上で開
成し、移載機によってウェーハをFOUPから取り出
し、そして製造,洗浄等の装置へ移動させる必要があ
り、その際にウェーハがクリーンルーム内の雰囲気に曝
されて汚染される虞がある。
【0006】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、ウェーハを密閉容器から汚染されることなく取
り出し、製造、洗浄等の装置へ受け渡すことのできるク
リーンルーム設備を提供することを目的とする。
もので、ウェーハを密閉容器から汚染されることなく取
り出し、製造、洗浄等の装置へ受け渡すことのできるク
リーンルーム設備を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は前記目的を達成
するために、本発明に係る請求項1のクリーンルーム設
備では、クリーンルーム内に設けた装置室の入口に沿っ
て、クリーンルームと装置室間でウェーハを受け渡しす
るための中間室を形成し、該中間室を高清浄度に設定し
てなることを特徴としている。
するために、本発明に係る請求項1のクリーンルーム設
備では、クリーンルーム内に設けた装置室の入口に沿っ
て、クリーンルームと装置室間でウェーハを受け渡しす
るための中間室を形成し、該中間室を高清浄度に設定し
てなることを特徴としている。
【0008】また、本発明に係る請求項2のクリーンル
ーム設備では、請求項1において、前記中間室の天井に
ファンフィルタユニットを設置し、床に排気孔を形成し
ている。上記請求項1または2の発明によれば、ウェー
ハの受け渡し領域が高清浄度の中間室内であるため、ク
リーンルームが低清浄度であってもウェーハの汚染は防
止される。
ーム設備では、請求項1において、前記中間室の天井に
ファンフィルタユニットを設置し、床に排気孔を形成し
ている。上記請求項1または2の発明によれば、ウェー
ハの受け渡し領域が高清浄度の中間室内であるため、ク
リーンルームが低清浄度であってもウェーハの汚染は防
止される。
【0009】また、本発明に係る請求項3のクリーンル
ーム設備では、請求項1または2において、前記中間室
内の圧力をクリーンルームのそれよりも高く設定してい
る。また、本発明に係る請求項4のクリーンルーム設備
では、請求項1、2または3において、前記床の開口に
ダンパを設置し、該ダンパを開閉させることで、前記中
間室内の圧力を設定させるようにしている。
ーム設備では、請求項1または2において、前記中間室
内の圧力をクリーンルームのそれよりも高く設定してい
る。また、本発明に係る請求項4のクリーンルーム設備
では、請求項1、2または3において、前記床の開口に
ダンパを設置し、該ダンパを開閉させることで、前記中
間室内の圧力を設定させるようにしている。
【0010】さらにまた、本発明に係る請求項5のクリ
ーンルーム設備では、請求項2、3または4において、
前記ファンフィルタユニットのモータの回転を制御して
前記中間室内の圧力を設定させるようにしている。上記
請求項3、4または5の発明によれば、中間室にクリー
ンルームから空気が侵入する虞がなく、中間室は常に高
清浄度に維持される。
ーンルーム設備では、請求項2、3または4において、
前記ファンフィルタユニットのモータの回転を制御して
前記中間室内の圧力を設定させるようにしている。上記
請求項3、4または5の発明によれば、中間室にクリー
ンルームから空気が侵入する虞がなく、中間室は常に高
清浄度に維持される。
【0011】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って、本発明の
クリーンルーム設備の好ましい実施の形態について詳説
する。図1は本発明に係るクリーンルーム設備の1実施
の形態を示している。このクリーンルーム設備では、ク
リーンルーム20、製造装置、洗浄装置等を収容する装
置室21および中間室(ミニエンバイロメント)22が
形成されている。中間室22は、装置室21のクリーン
ルーム20側入口に沿って配設されている。そして、ク
リーンルーム20の天井にはファンフィルタユニット
(FFU)23が設置され、該FFU23から噴射され
る清浄空気によってクリーンルーム20内が清浄度10
3 程度に維持される。
クリーンルーム設備の好ましい実施の形態について詳説
する。図1は本発明に係るクリーンルーム設備の1実施
の形態を示している。このクリーンルーム設備では、ク
リーンルーム20、製造装置、洗浄装置等を収容する装
置室21および中間室(ミニエンバイロメント)22が
形成されている。中間室22は、装置室21のクリーン
ルーム20側入口に沿って配設されている。そして、ク
リーンルーム20の天井にはファンフィルタユニット
(FFU)23が設置され、該FFU23から噴射され
る清浄空気によってクリーンルーム20内が清浄度10
3 程度に維持される。
【0012】また、上記中間室22には、その天井22
aにファンフィルタユニット(FFU)24が設置さ
れ、床23には、グレーチング等の開口25が形成され
ている。そして、中間室22内は、FFU24から噴射
される清浄空気によってクリーンルーム20内が清浄度
1程度に維持される。なお、装置室21内は、従来と同
様な手段によって、所定の清浄度に維持されている。
aにファンフィルタユニット(FFU)24が設置さ
れ、床23には、グレーチング等の開口25が形成され
ている。そして、中間室22内は、FFU24から噴射
される清浄空気によってクリーンルーム20内が清浄度
1程度に維持される。なお、装置室21内は、従来と同
様な手段によって、所定の清浄度に維持されている。
【0013】さらに、このクリーンルーム設備では、中
間室22の上記開口25にダンパ26が配設されてい
る。そして、この中間室22内には、移載機27が配置
され、この移載機27に対向したクリーンルーム20内
にはロードポート28が設置されている。さらにまた、
このクリーンルーム設備では、クリーンルーム20、中
間室22および装置室21内に圧力センサ29、30、
31が設置され、それらによって検出された圧力値に基
づき、コントローラ32によって、クリーンルーム2
0、中間室22および装置室21内の圧力が、中間室2
2の圧力>装置室21の圧力>クリーンルーム20の圧
力となるように設定維持される。
間室22の上記開口25にダンパ26が配設されてい
る。そして、この中間室22内には、移載機27が配置
され、この移載機27に対向したクリーンルーム20内
にはロードポート28が設置されている。さらにまた、
このクリーンルーム設備では、クリーンルーム20、中
間室22および装置室21内に圧力センサ29、30、
31が設置され、それらによって検出された圧力値に基
づき、コントローラ32によって、クリーンルーム2
0、中間室22および装置室21内の圧力が、中間室2
2の圧力>装置室21の圧力>クリーンルーム20の圧
力となるように設定維持される。
【0014】以下に、上記1実施の形態のクリーンルー
ム設備に係る動作について説明する。クリーンルーム2
0には、FFU23から清浄空気が供給され、室内が清
浄度103 程度に維持される。FFU23からクリーン
ルーム20内に供給された清浄空気は、グレーチング床
33から床下空間34に排出され、その排気はFFU2
3の天井空間35へ循環され、FFU23によって再度
清浄されてクリーンルーム20に供給される。
ム設備に係る動作について説明する。クリーンルーム2
0には、FFU23から清浄空気が供給され、室内が清
浄度103 程度に維持される。FFU23からクリーン
ルーム20内に供給された清浄空気は、グレーチング床
33から床下空間34に排出され、その排気はFFU2
3の天井空間35へ循環され、FFU23によって再度
清浄されてクリーンルーム20に供給される。
【0015】一方、中間室22には、FFU24によっ
てクリーンルーム20内の空気が清浄されて供給され、
該室内が清浄度1程度に維持される。そして、FFU2
4から中間室22内に供給された清浄空気は、開口2
5,ダンパ26を経て床下空間34に排出される。ま
た、クリーンルーム20内と中間室22内は、圧力セン
サ29,30によって常時または間欠的に圧力が検出さ
れ、その検出値がコントローラ32に入力される。そし
て、コントローラ32は、その検出値に基づいて、中間
室22の圧力>クリーンルーム20の圧力となるよう
に、FFU23の駆動モータの回転数およびダンパ26
の開度を制御する。なお、装置室21の圧力も圧力セン
サ31によって検出され、コントローラ32によって、
中間室22の圧力>装置室21の圧力>クリーンルーム
20の圧力となるように、例えば該装置室21に設置し
たFFUの回転数を制御することによって設定される。
てクリーンルーム20内の空気が清浄されて供給され、
該室内が清浄度1程度に維持される。そして、FFU2
4から中間室22内に供給された清浄空気は、開口2
5,ダンパ26を経て床下空間34に排出される。ま
た、クリーンルーム20内と中間室22内は、圧力セン
サ29,30によって常時または間欠的に圧力が検出さ
れ、その検出値がコントローラ32に入力される。そし
て、コントローラ32は、その検出値に基づいて、中間
室22の圧力>クリーンルーム20の圧力となるよう
に、FFU23の駆動モータの回転数およびダンパ26
の開度を制御する。なお、装置室21の圧力も圧力セン
サ31によって検出され、コントローラ32によって、
中間室22の圧力>装置室21の圧力>クリーンルーム
20の圧力となるように、例えば該装置室21に設置し
たFFUの回転数を制御することによって設定される。
【0016】このような環境にあるクリーンルーム設備
において、ウェーハWは、密閉容器(FOUP)36内
に収容された状態で、自走台車(AGV)37によっ
て、ロードポート28まで搬送され、該ロードポート2
8上に移載される。そして、密閉容器36の蓋36aが
開けられ、内部のがウェーハWは移載機27によって取
り出され、装置室21内の製造装置、洗浄装置等へ受け
渡される。
において、ウェーハWは、密閉容器(FOUP)36内
に収容された状態で、自走台車(AGV)37によっ
て、ロードポート28まで搬送され、該ロードポート2
8上に移載される。そして、密閉容器36の蓋36aが
開けられ、内部のがウェーハWは移載機27によって取
り出され、装置室21内の製造装置、洗浄装置等へ受け
渡される。
【0017】その際、ウェーハWはクリーンルーム20
の雰囲気に曝されることなく、高清浄度の密閉容器36
から高清浄度の中間室22に移送されるので、ウェーハ
Wが汚染されることはない。なお、上記実施の形態で
は、ダンパ26の開度を調整することにより流出する空
気量を調節し、中間室22内の圧力をコントロールする
ようにしているが、ダンパ26の代わりに、またはダン
パ26に加えて、FFU24のモータの回転数を制御す
ることによって、空気の供給量を増減させて中間室22
内の圧力をコントロールしてもよい。
の雰囲気に曝されることなく、高清浄度の密閉容器36
から高清浄度の中間室22に移送されるので、ウェーハ
Wが汚染されることはない。なお、上記実施の形態で
は、ダンパ26の開度を調整することにより流出する空
気量を調節し、中間室22内の圧力をコントロールする
ようにしているが、ダンパ26の代わりに、またはダン
パ26に加えて、FFU24のモータの回転数を制御す
ることによって、空気の供給量を増減させて中間室22
内の圧力をコントロールしてもよい。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るクリ
ーンルーム設備では、装置室とクリーンルームとの間に
高清浄空間を形成しているので、高清浄度の密閉容器に
収容されているウェーハはクリーンルームの雰囲気に曝
されることなく、装置室の製造装置,洗浄装置等の装置
に受け渡すことができる。したがって、クリーンルーム
は清浄度103 程度でよく、クリーンルームの天井に設
置するFFUの数が少なくて済むので、ランニングコス
ト等の低減が図れる。
ーンルーム設備では、装置室とクリーンルームとの間に
高清浄空間を形成しているので、高清浄度の密閉容器に
収容されているウェーハはクリーンルームの雰囲気に曝
されることなく、装置室の製造装置,洗浄装置等の装置
に受け渡すことができる。したがって、クリーンルーム
は清浄度103 程度でよく、クリーンルームの天井に設
置するFFUの数が少なくて済むので、ランニングコス
ト等の低減が図れる。
【0019】また、本発明に係るクリーンルーム設備で
は、中間室内の圧力をクリーンルームのそれよりも高く
設定しているので、クリーンルームからの低清浄度の空
気が中間室に流入する虞がなく、中間室を常に高清浄度
に維持することができ、製品の信頼度が保障される。
は、中間室内の圧力をクリーンルームのそれよりも高く
設定しているので、クリーンルームからの低清浄度の空
気が中間室に流入する虞がなく、中間室を常に高清浄度
に維持することができ、製品の信頼度が保障される。
【図1】本発明に係るクリーンルーム設備の一実施の形
態を示した構成図である。
態を示した構成図である。
【図2】従来のクリーンルーム設備を示した構成図であ
る。
る。
20…クリーンルーム 21…装置室 22…中間室 23、24…ファンフィルタユニット(FFU) 25…開口 26…ダンパ 27…移載機 28…ロードポート 29、30、31…圧力センサ 32…コントローラ 33…グレーチング床 36…密閉容器(FOUP) 36a…蓋 37…自走台車(AGV)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 加藤 浩二 東京都千代田区内神田1丁目1番14号 日 立プラント建設株式会社内 (72)発明者 平田 順太 東京都千代田区内神田1丁目1番14号 日 立プラント建設株式会社内 (72)発明者 鈴木 道夫 東京都千代田区内神田1丁目1番14号 日 立プラント建設株式会社内 (72)発明者 小林 義明 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内 Fターム(参考) 3L058 BF01 BF08 5F031 BB05 CC12 CC13 CC18 EE01 LL01 LL05 LL10
Claims (5)
- 【請求項1】クリーンルーム内に設けられた装置室の入
口に沿って、前記クリーンルームと装置室間でウェーハ
を受け渡しするための中間室を形成し、該中間室を高清
浄度に設定してなることを特徴とするクリーンルーム設
備。 - 【請求項2】前記中間室の天井にファンフィルタユニッ
トを設置し、床に排気孔を形成したことを特徴とする請
求項1に記載のクリーンルーム設備。 - 【請求項3】前記中間室内の圧力を前記クリーンルーム
の圧力よりも高く設定していることを特徴とする請求項
1または2に記載のクリーンルーム設備。 - 【請求項4】前記床の開口にダンパを設置し、該ダンパ
を開閉させることで、前記中間室内の圧力を設定させる
ようにしたことを特徴とする請求項1、2または3に記
載のクリーンルーム設備。 - 【請求項5】前記ファンフィルタユニットのモータの回
転を制御して前記中間室内の圧力を設定させるようにし
たことを特徴とする請求項2、3または4に記載のクリ
ーンルーム設備。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25147398A JP2000082731A (ja) | 1998-09-04 | 1998-09-04 | クリーンルーム設備 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25147398A JP2000082731A (ja) | 1998-09-04 | 1998-09-04 | クリーンルーム設備 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000082731A true JP2000082731A (ja) | 2000-03-21 |
Family
ID=17223347
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25147398A Pending JP2000082731A (ja) | 1998-09-04 | 1998-09-04 | クリーンルーム設備 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000082731A (ja) |
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---|---|---|---|---|
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-
1998
- 1998-09-04 JP JP25147398A patent/JP2000082731A/ja active Pending
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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