JP2000078373A - 光電変換装置及びそれを用いたイメージセンサモジュール、イメージセンサユニット、画像読取装置 - Google Patents

光電変換装置及びそれを用いたイメージセンサモジュール、イメージセンサユニット、画像読取装置

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JP2000078373A
JP2000078373A JP10246153A JP24615398A JP2000078373A JP 2000078373 A JP2000078373 A JP 2000078373A JP 10246153 A JP10246153 A JP 10246153A JP 24615398 A JP24615398 A JP 24615398A JP 2000078373 A JP2000078373 A JP 2000078373A
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photoelectric conversion
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Hiraki Kozuka
開 小塚
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 解像度切り換え時に、解像度に応じた読み取
り速度を実現し、かつ読み取り速度を速めても、光電変
換信号の出力レベルの低下を防止できるイメージセンサ
モジュール及びイメージセンサモジュールに好適な光電
変換装置を提供する。 【解決手段】 複数の光電変換部を備える光電変換手段
と、前記光電変換手段により変更された画像信号の解像
度を切り換える解像度切り換え手段と、前記解像度切り
換え手段における解像度の切り換えを制御する解像度制
御手段と、前記光電変換手段から出力される光電変換信
号を増幅する増幅手段とを備える光電変換装置におい
て、前記解像度制御手段によって、前記増幅手段の増幅
率を制御することを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、たとえば、ビデオ
カメラ、ディジタルカメラ、ファクシミリ、イメージス
キャナ、ディジタル複写機、あるいはX線撮像装置など
の画像読取装置の画像読み取りを行う1次元及び2次元
の光電変換装置と、光電変換装置を用いたイメージセン
サモジュール、イメージセンサユニットとに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、光電変換装置の分野においては、
CCDの他に各画素にバイポーラトランジスタを増幅素
子として設けたBASIS、各画素にMOSトランジス
タを増幅素子として設けた増幅型の光電変換装置(たと
えば、特開平1−154678号公報)などが提案され
ている。
【0003】このような増幅型の光電変換装置において
は、各画素に用いている増幅素子のバラツキが固定パタ
ーンノイズ(Fixed Pattern Noise:以下、FPNと称
する)となるため、従来、このFPN除去方法に関し
て、さまざまな提案がなされている。
【0004】(従来技術1)FPN除去方法の1つとし
て、光信号(S信号)と暗状態の信号(N信号)の差分
をとることにより、増幅素子のバラツキを補正する方法
が提案されている。FPN補正手法を図11、図12に
示す。図11は光電変換装置を各画素に備える1次元の
光電変換装置の1bit分の回路図、図12はそのタイ
ミングチャートである(テレビジョン学会誌 Vol.
47、No9(1993)pp.1180)。
【0005】図11に示す回路動作、及びFPN除去に
ついて説明する。まず、光信号保持容量CTS101、ノ
イズ信号保持容量CTN102をリセットし、つぎに、セ
ンサであるバイポーラトランジスタ109にベースに光
量に応じた電荷を受光する。そして、受光した電荷の蓄
積が終了した後、ノイズを含む光信号を光信号保持容量
TS101に転送する。
【0006】つづいて、バイポーラトランジスタ109
(センサ)のリセット動作を行い、ノイズ信号をノイズ
信号保持容量CTN102に転送する。そして、再度、セ
ンサのリセット動作を行って蓄積動作にはいる。また、
蓄積動作中にシフトレジスタが走査を開始する。
【0007】まず、最初に光信号共通出力線103及び
ノイズ信号共通出力線104をリセットMOS105、
106を用いてリセットした後、光信号保持容量CTS
01、ノイズ信号保持容量CTN102のデータを、共通
出力線103、104にそれぞれ共通出力線容量CHS
07、共通出力線容量CHN108との容量分割にて出力
する。ここで、共通出力線容量CHS107、CHN108
は各共通出力線の容量であるが、以後、光信号共通出力
線をCHS、ノイズ信号共通出力線をCHNと定義する。そ
の後、再び共通出力線容量CHS107、共通出力線容量
HN108をリセットして、図示しない次の画素の光信
号保持容量CTS、ノイズ信号保持容量C TNのデータを読
み出す。
【0008】この動作を繰り返してすべての画素の信号
を出力する。出力された信号はそれぞれボルテージホロ
ア113、114を介して差動アンプ115に入力され
光電変換装置の出力となる。ここで、チップ内のFPN
は主に各画素のバイポーラトランジスタ109のhFE
どのバラツキに起因するものが主であり、上記のS−N
方式により、画素ごとのhFEバラツキに起因するFPN
を除去することが可能となる。
【0009】なお、ここでいうFPNは暗時の固定パタ
ーンノイズのことであり、以降、FPNは暗時の固定パ
ターンノイズと定義する。
【0010】以下に、従来技術におけるFPN除去につ
いて説明する。
【0011】図11において、光信号共通出力線103
の信号(Sout)、およびノイズ信号共通出力線10
4の信号(Nout)は次式であらわされる。
【0012】Sout=(VS×CTS)+(VCHR×
HS)/(CTS+CHS) Nout=(VN×CTN)+(VCHR×CHN)/(CTN
HN) ここで、 VN:ノイズ信号読み出し時のノイズ信号蓄積容量CTS
の電圧、 VS:光信号読み出し時の光信号蓄積容量CTSの電圧、 である。すなわち、光信号成分の電圧をVSIGとする
と、VS=VSIG+VNとなる。
【0013】(1)、(2)式において、 CHS=CHN=CHS=VN=VCT(暗時) CTS=CTN=CT であるならば、上記の差分信号は Sout−Nout=0 となる。
【0014】また、VSが、所定の光量を受けた場合、
S=VSIG+VNとなることから、V SIG=VSIG+VN
Nから真の光信号成文のみを読み出すことができる。
【0015】従って、仮にVCTが画素ごとにばらついて
いたとしても、(1)、(2)式の差分信号は0となる
ためFPNが除去できることになるとしている。
【0016】(従来技術2)さらに、解像度切り換え方
式の光電変換装置については、たとえば、特開平5−2
27362号公報には、新規に解像度制御用のコントロ
ール端子を設け、ユーザが利用条件にあわせて解像度を
切り換えることが可能な密着型イメージセンサが提案さ
れている。図13は、当該公開公報に提案されている密
着型イメージセンサ用集積回路の回路図である。
【0017】この従来技術においては、イメージセンサ
チップにコントロール端子(125)を設け、その端子
にユーザが、ハイレベルまたはローレベルの信号を入力
することにより解像度切り換えを実現している。図13
について概略説明すれば、スタートパルスSIとクロッ
クパルスCLKとにより、シフトレジスタ104が起動
されると、その出力はノアゲート121、アンドゲート
120を通ってチャンネルセレクトスイッチ103に入
力され、これをオンにし、フォトセル101からの信号
を信号ライン107に取り出す。
【0018】ここで、コントロール信号入力端子125
に入力する信号の”H”または、”L”によって、アナ
ログスイッチ110aなどが切り替えられ、画像出力端
子111に16ドット/ミリまたは、8ドット/ミリの
読み取り密度で画像信号が得られる。つまり、センサI
C上のフォトセル101a〜101lは常に全数が動作
しているが、外部に出力画像信号を取り出す際に、コン
トロール信号によって一部を間引いて出力させることが
できるとしている。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術2に開示されている密着型イメージセンサの解
像度切り換え方式においては、画素を読み飛ばすことに
より解像度を切り換えている。そのため、解像度が通常
の場合でも、解像度を半分にした場合でも、双方のクロ
ックレートが同一の場合には、読み出し時間は変わらな
い。
【0020】仮に、受光素子が600dpiの光学解像
度で配置され、高解像度モードで600dpi、低解像
度モードで300dpiの解像度が得られるとすると、
たとえば、600dpi時に6msec/lineの読
み取り速度が得られる場合、300dpi時でも6ms
ec/lineの読み取り速度となり、解像度を落とし
ても読み取り速度が変わらない。すなわち、解像度に応
じた読み取り速度を実現することができないという問題
がある。
【0021】ここで、読み取り速度は、ほぼ容量の蓄積
時間に相当する。そのため、300dpi時の蓄積時間
は600dpi時の蓄積時間の約半分となる。したがっ
て、容量に蓄積する電荷量も少ない。よって、低解像度
の場合に、高解像度の場合と同様の光出力の強さを得る
ためには、読み出しゲインの2倍にする必要がある。
【0022】しかしながら、たとえば、容量分割による
画素加算においては、2画素分割加算を行う場合、読み
出しゲインの比は、 {2CT/(2CT+CH)}/{CT/(CT+CH)} =(CT+CH)/(CT+CH/2)<2 となる。すなわち、読み出しゲインは2未満となる。
【0023】上記の例を一般化すると、N画素分の容量
分割加算により、解像度を1/Nに切り換える場合に
は、蓄積時間が1/Nとなるため、解像度切り換え時に
おいても同様の信号出力を得るためには、N倍の読み出
しゲインが必要となるが、読み出しゲインの比は、 {NCT/(NCT+CH)}/{CT/(CT+CH)} =(CT+CH)/(CT+CH/N)<N となり、N倍の読み出しゲインを得ることはできない。
【0024】(発明の目的)本発明は、解像度切り換え
時に、解像度に応じた読み取り速度を実現し、かつ読み
取り速度を速めても、光電変換信号の出力レベルの低下
を防止できる密着型イメージセンサ、及び密着型イメー
ジセンサに好適な光電変換装置を提供することにある。
【0025】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数の光電変
換部を備える光電変換手段と、前記光電変換手段により
変更された画像信号の解像度を切り換える解像度切り換
え手段と、前記解像度切り換え手段における解像度の切
り換えを制御する解像度制御手段と、前記光電変換手段
から出力される光電変換信号を増幅する増幅手段とを備
える光電変換装置において、前記解像度制御手段によっ
て、前記増幅手段の増幅率を制御することを特徴とす
る。
【0026】また、複数の光電変換部を備える光電変換
手段と、前記光電変換手段からノイズ信号を読み出して
保持するノイズ信号保持手段と、前記光電変換手段から
光信号を読み出して保持する光信号保持手段と、前記ノ
イズ信号保持手段から出力される複数のノイズ信号をノ
イズ信号共通出力線に読み出す第1読み出し手段と、前
記光信号保持手段から出力される複数の光信号を光信号
共通出力線に読み出す第2読み出し手段と、前記第1読
み出し手段及び第2読み出し手段により、前記光電変換
手段により変更された画像信号の解像度を切り換える解
像度切り換え手段と、前記解像度切り換え手段における
解像度の切り換えを制御する解像度制御手段と、前記ノ
イズ信号と前記光信号との差分をとる差分手段と、前記
差分手段から出力される光電変換信号を増幅する増幅手
段とを備える光電変換装置において、前記解像度制御手
段によって、前記増幅手段の増幅率を制御することを特
徴とする。
【0027】さらに、複数の光電変換部を備える光電変
換手段と、前記光電変換手段により変更された画像信号
の解像度を切り換える解像度切り換え手段と、前記解像
度切り換え手段における解像度の切り換えを制御する解
像度制御手段と、前記光電変換手段から出力される光電
変換信号を増幅する増幅手段とを備える光電変換装置を
複数実装して構成するイメージセンサモジュールにおい
て、前記解像度制御手段によって、前記増幅手段の増幅
率を制御することを特徴とする。
【0028】また、複数の光電変換部を備える光電変換
手段と、前記光電変換手段からノイズ信号を読み出して
保持するノイズ信号保持手段と、前記光電変換手段から
光信号を読み出して保持する光信号保持手段と、前記ノ
イズ信号保持手段から出力される複数のノイズ信号をノ
イズ信号共通出力線に読み出す第1読み出し手段と、前
記光信号保持手段から出力される複数の光信号を光信号
共通出力線に読み出す第2読み出し手段と、前記光電変
換手段により変更された画像信号の解像度を切り換える
解像度切り換え手段と、前記解像度切り換え手段におけ
る解像度の切り換えを制御する解像度制御手段と、前記
ノイズ信号と前記光信号との差分をとる差分手段と、前
記差分手段から出力される光電変換信号を増幅する増幅
手段とを備える光電変換装置を複数実装して構成するイ
メージセンサモジュールにおいて、前記解像度制御手段
によって、前記増幅手段の増幅率を制御することを特徴
とする。
【0029】さらにまた、複数の光電変換部を備える光
電変換手段と、前記光電変換手段により変更された画像
信号の解像度を切り換える解像度切り換え手段と、前記
解像度切り換え手段における解像度の切り換えを制御す
る解像度制御手段と、前記光電変換手段から出力される
光電変換信号を増幅する増幅手段とを備える光電変換装
置を複数実装して構成するイメージセンサモジュールと
光源とを備えたイメージセンサユニットにおいて、前記
解像度制御手段によって、前記増幅手段の増幅率を制御
することを特徴とする。
【0030】また、複数の光電変換部を備える光電変換
手段と、前記光電変換手段からノイズ信号を読み出して
保持するノイズ信号保持手段と、前記光電変換手段から
光信号を読み出して保持する光信号保持手段と、前記ノ
イズ信号保持手段から出力される複数のノイズ信号をノ
イズ信号共通出力線に読み出す第1読み出し手段と、前
記光信号保持手段から出力される複数の光信号を光信号
共通出力線に読み出す第2読み出し手段と、前記光電変
換手段により変更された画像信号の解像度を切り換える
解像度切り換え手段と、前記解像度切り換え手段におけ
る解像度の切り換えを制御する解像度制御手段と、前記
ノイズ信号と前記光信号との差分をとる差分手段と、前
記差分手段から出力される光電変換信号を増幅する増幅
手段とを備える光電変換装置を複数実装して構成するイ
メージセンサモジュールと光源とを備えたイメージセン
サユニットにおいて、前記解像度制御手段によって、前
記増幅手段の増幅率を制御することを特徴とする。
【0031】さらに、本発明の画像読取装置は、上記の
いずれかに記載のイメージセンサユニットと、原稿を走
査する走査回路とを備えたことを特徴とする。
【0032】(作用)本発明においては、4画素(a,
b,c,d)を1ブロックとし、高解像度モードでは、
a,cの画素と、b,dの画素とを駆動する。また、低
解像度モードでは、a+bの画素と、c+dの画素とを
画素加算により読み出す手段を設けているため、同一の
クロックレートを用いても、解像度に応じた読み取りス
ピードを実現する。
【0033】また、上記のように解像度に応じて、読み
取りスピードを速くしても、光電変換信号を増幅する増
幅手段の増幅率を変化することにより、光電変換信号の
出力レベルの低下を防止する。
【0034】
【発明の実施の形態】(実施形態1)図1は本発明の実
施形態1における光電変換装置を用いた密着型イメージ
センサの回路ブロック図、図2は図1における8ビット
分のシフトレジスタと受光素子の回路ブロック図、図4
は図2の動作を示すタイミングチャート、図3は4画素
分の受光素子の等価回路図である。
【0035】図1において、光電変換装置1、1′がマ
ルチ実装され、密着型イメージセンサが形成されてい
る。なお、図1には2チップ分のみを図示しているが、
本実施形態では、たとえば、15チップを1列に配置し
マルチ実装して、密着型イメージセンサを構成してい
る。
【0036】また、各々の光電変換装置1,1’には、
光電変換装置を駆動するクロック(CLK)、スタート
パルス(SP)、解像度切り換え信号(MODE)及び
信号出力(Vout)が共通接続されている。また、ラ
インセンサの読み出しスタート信号SIが当初のイメー
ジセンサチップ1に入力されている。
【0037】また、本実施形態においては、MODE信
号がハイレベルの場合は高解像度モード(たとえば、6
00dpi)、MODE信号がローレベルの場合は低解
像度モード(たとえば、300dpi)の解像度が得ら
れる構成としている。
【0038】さらに、本実施形態の各々の光電変換装置
1、1′はマルチ実装されており、たとえば4bitの
遅延を有するプレシフトレジスタ2、2′、シフトレジ
スタ3、3′、たとえば344ビットの受光素子アレイ
4、4′、タイミング発生回路5、5′、信号出力アン
プブロック6、6′を備えている。ここで、シフトレジ
スタ3、3′は4ビット分のシフトレジスタブロック1
1から構成されている。
【0039】また、受光素子アレイ4、4′で受光され
た画像信号は、シフトレジスタ3,3’のシフト信号に
よってオン/オフするスイッチを介して、信号出力線に
読み出され、信号出力アンプブロック6、6′で増幅さ
れる。そうして、タイミング発生回路5、5′の制御信
号によってスイッチングされて信号出力Voutとして
出力される。
【0040】信号出力アンプブロック6、6′は、解像
度切り換え信号(MODE)と接続されている。信号出
力アンプブロック6、6′は、MODE信号により切り
換えられる解像度に応じて、増幅率を変化させる手段を
備えている。信号出力アンプブロック6、6′の詳細は
後に述べる。
【0041】また、高解像度モード時のスタート信号9
−1、9′−1及び低解像度時のスタート信号9−2、
9′−2をスタート信号切り換え手段10、10′を用
いて選択することにより、次チップスタート信号9、
9′が得られる構成となっている。
【0042】また、次チップスタート信号9、9′は、
各光電変換装置のビットが読み出しを終了する時よりN
ビット前(K−Nビット)時の信号を、シフトレジスタ
3、3′の最終レジスタの手前Nビット部分から次チッ
プのスタート信号として出力する。
【0043】また、クロック信号CLKとスタートパル
ス信号SPにより駆動されるタイミング発生回路5、
5′により、受光素子4、4′を駆動するパルス、及
び、シフトレジスタ3、3′を駆動する駆動パルス7、
7’及び8、8’が生成される。スタートパルス信号S
Pが各イメージセンサチップに共通に接続されているの
は、各イメージセンサチップの動作開始の同期を取るた
めである。
【0044】図2は、8ビット分のシフトレジスタと受
光素子の回路ブロック図である。シフトレジスタは、4
ビットを1ブロックとするシフトレジスタブロック11
から構成されている。シフトレジスタブロック11は、
Φ1同期の1ビットシフトレジスタ12−1〜12−
4、Φ2同期の1ビットシフトレジスタ13−1〜13
−4、及びモード信号を切り替えるアナログスイッチS
11〜S17,S21〜S27で構成されている。
【0045】また、シフトレジスタブロック11は、読
み出しパルス線Φa1〜Φd1で、受光素子a1〜d1
と図示しない信号出力線間の各スイッチ制御端子と接続
されている。
【0046】図3は、図2における受光素子4画素分の
等価回路を示す図面である。図3の各々の受光素子a1
〜d1は、光電変換手段となるホトダイオードPDa〜
PDd、読み出しスイッチM1a〜M1d、信号転送ス
イッチM2a〜M2d、MOSソースホロアM3a〜M
3d、上記光電変換手段をリセットする手段であるリセ
ットスイッチM4a〜M4d、一時的に電荷を蓄積する
蓄積容量Ca〜Cdで構成されている。
【0047】各々の受光素子a1〜d1の信号出力は、
共通信号線14に出力される。そして、信号出力アンプ
ブロック6で増幅されて、出力端子Voutから出力さ
れる。本実施形態において、信号出力アンプブロック6
は、共通出力線14の出力をインピーダンス変換する入
力バッファアンプ6−1と、反転端子に抵抗を並列接続
し、非反転端子から入力バッファアンプ6−1の出力を
入力し増幅するゲインアンプ6−2と、ゲインアンプ6
−2のゲインを可変するゲイン可変手段6−3とを備え
る。
【0048】ゲイン可変手段6−3は、たとえば、アナ
ログスイッチを用いて構成され、リファレンス電圧を備
える。そして、入力される解像度切り換え制御信号(M
ODE)に応じてアナログスイッチが切り換えられる。
それに伴い、ゲインアンプ6−2に接続される抵抗も切
り換えられる。したがって、解像度に応じた電圧がゲイ
ンアンプ6−2の反転端子に入力される。そのため、信
号出力アンプブロック6は、解像度切り換え制御信号
(MODE)、すなわち、解像度に応じたアンプゲイン
を得ることができる。
【0049】以下、本実施形態の動作について説明す
る。図3に示す各受光素子a1〜d1において、ホトダ
イオードPDa〜PDdにて光電変換により生成した光
キャリアは、MOSソースホロアM3a〜M3dで電荷
は電圧に変換され、信号転送パルスΦTにて全画素一致
にて蓄積容量Ca〜Cdに転送される。つづいて、シフ
トレジスタ11から順次ハイとなる読み出しパルスΦa
1〜Φd1によって、順次読み出しスイッチM1a〜M
1dをオン状態にし、共通信号線14に信号電圧が容量
分割として読み出される。
【0050】本実施形態においては、高解像度モード時
には読み出しパルスΦa1〜Φd1は順次オンしていく
が、低解像度モード時には、隣接する2ビット、すなわ
ちシフトレジスタ11から走査するΦa1とΦb1が同
時にオンし、つづいてΦc1とΦd1とが同時にオンす
る構成となる。
【0051】したがって、低解像度モードにおいては2
画素の容量分割加算により、信号電圧を高解像度モード
時より大きくすることが可能となる。なお、上記の容量
分割加算については、たとえば、特開平4−4682号
公報に開示されている。
【0052】つぎに、図2、図3を用いてシフトレジス
タ部の動作を説明する。図2において、MODE信号が
ハイレベルの場合は、S11、S21、S16、S1
7、S26、S27のアナログスイッチがオフ状態とな
り、一方、S12、S13、S14、S15、S22、
S23、S24、S25がオン状態となる。
【0053】したがって、解像度切り換えの無い、通常
のシフトレジスタ動作となり、各受光素子a1〜d1用
の読み出し制御パルスΦa1からΦd2までは時系列的
に順次オン状態となる。なお、図2においては、画像信
号の出力線を図示していないが、制御パルスΦa1から
Φd2による順次ハイとなるのに同期して、各受光素子
a1からd2の受光電荷が信号出力線に出力される。
【0054】つぎに、MODE信号がローレベルの場合
は、S11、S21、S16、S17、S26、S27
のアナログスイッチがオン状態となり、一方、S12、
S13、S14、S15、S22、S23、S24、S
25がオフ状態となる。したがって、シフトレジスタ1
2−1にシフトパルスが入力されると、シフトレジスタ
12−1からΦa1とΦb1とがΦ1同期で出力され、
a1とb1の受光素子の信号を同時に読み出す。
【0055】つづいて、シフトパルスは、アナログスイ
ッチS11を介してシフトレジスタ13−2に入力さ
れ、シフトレジスタ13−2からΦc1とΦd1とがΦ
2同期で出力され、c1、d1の受光素子の信号を同時
に読み出す。低解像度読み出しのモードの場合も、図示
しない出力線に受光素子a1とb1、c1とd1、a2
とb2、c2とd2というように対の受光素子の加算電
荷が順次読み出される。
【0056】このとき、シフトレジスタ13−1及びシ
フトレジスタ12−2は、シフトパルスが入力されない
ため動作しない。同様に、シフトレジスタ12−3から
Φa2とΦb2とがΦ1同期で出力され、a2とb2の
受光素子の信号を同時に読み出し、シフトレジスタ13
−4からΦc2とΦd2とがΦ2同期で出力され、c2
とd2の受光素子の信号を同時に読み出す。
【0057】以上の動作のタイミングチャートを図4に
示す。図4において、クロック信号CLKと、同期信号
Φ1,Φ2が高解像度モードと低解像度モードに共通に
供給され、スタート信号SRがハイとなると共に高解像
度モードと低解像度モードのそれぞれの画像信号出力が
得られる。本図より、同一のクロックレートにおいて、
低解像度モードにおいては、高解像度モード時の2倍の
読み出し速度で読み出すことが可能であることがわか
る。
【0058】つぎに、次チップスタート信号の切り換え
手段について説明する。図1において、プレシフトレジ
スタ2、2′は、たとえば、4ビットの遅延を有するた
め、4ビット前の信号を次チップのスタート信号として
出力しなければならない。したがって、高解像度モード
の場合には、光電変換装置1、1′は、たとえば、それ
ぞれ344ビットの信号を備えるため、341ビット目
のシフトレジスタ信号9−1、9′−1を次チップスタ
ート信号として用いる。
【0059】また、低解像度モードにおいては、2画素
加算信号が1ビットとなるため、光電変換装置1、1′
は等価的に177ビットの信号を出力することになる。
したがって、受光素子換算で337ビット目のシフトレ
ジスタ信号9−2、9′−2を次チップスタート信号と
して用いる。すなわち、次チップスタート信号を切り換
えるスタート信号切り換え手段を設けることにより、解
像度を切り換えても光電変換装置1、1′の継ぎ目の部
分において画素信号は連続性を保つことができる。
【0060】なお、上記実施形態においては、光電変換
装置のビット数を344ビットとしたが、4の倍数のビ
ット数であれば幾つでも構わない。また、解像度も[高
解像モード/低解像モード]が[600dpi/300
dpi]の場合に限らず、例えば、[400dpi/2
00dpi]などの解像度でも構わない。
【0061】さらに、本実施形態は高解像度モードと低
解像度モードの解像度比が2倍の場合を示したが、たと
えば、6画素を1ブロックとし、光電変換装置の画素数
を6の倍数とすることで、[600dpi/200dp
i]の切り換えのように、解像度比を3倍に設定するこ
ともできる。
【0062】また、シフトレジスタ駆動パルスを、2つ
として説明しているが、これに限られるものではなくシ
フトレジスタの構成を変えることにより、たとえば、3
つのシフトレジスタ駆動パルスでは、低解像度が選択さ
れた場合には隣り合う3つの受光素子を加算して読み出
すようにすることもできる。
【0063】つぎに、再び図4を用いて本発明の特徴と
なるゲイン可変手段6−3について説明する。図4にお
いて、共通出力線14上の信号は、信号出力アンプブロ
ック6にて増幅されるが、信号出力アンプブロック6に
は解像度切り換え信号(MODE)が接続され、MOD
E端子から入力される解像度に応じて、ゲインアンプ6
−2のゲインがゲイン可変手段6−3により変化する構
成となっている。本実施形態においては、アナログスイ
ッチを用いてゲインアンプ6−2のR1〜R3による抵
抗比を変化させるによりゲインを変化させる例を示す。
図4において、高解像度モード時(MODE=Hi)の
時のアンプゲイン、及び低解像度モード時(MODE=
Lo)の時のゲインアンプ6−2のゲインを、それぞれ
600 、G300 とすると、 G600=(R1+R2)/R2 300=(R1+R2//R3)/(R2//R3) となる。
【0064】本実施形態においては、たとえば、 R1=18.0kΩ R2=2.0kΩ R3=4.5kΩ という定数を用いており、従って、 G600=10 G300=14 というアンプゲインを得ることができる。
【0065】一方、本実施形態において、蓄積容量Ca
〜Cdの容量値CTと共通出力線14の容量値CHは、 CT=2.0pF CH=3.0pF という値を用いており、したがって、容量分割比は、 高解像度モード時(MODE=Hi)時 CT/(CT+CH)=2/(2+3)=0.400 低解像度モード時(MODE=Lo)時 2CT/(2CT+CH)=2×2/(2×2+3)=
0.571となる。
【0066】したがって、低解像度モード時と高解像度
モード時のそれぞれにおける、アンプゲイン6−2と容
量分割比との積は、 10×0.4=4 14×0.571=7.994 となり、アンプゲイン6−2と容量分割比との積の比
は、約2倍となるため、クロックレート一定の場合、低
解像度モード時の蓄積時間が高解像度モード時の1/2
となっても、同等の信号レベルを得ることが可能とな
る。
【0067】なお、本実施形態においては、ゲインアン
プ6−2の基準電源側の抵抗を変化させているが、出力
側の抵抗を変化させても構わない。
【0068】また、本実施形態においては、単一のゲイ
ンアンプ6−2のゲインを変化させているが、あらかじ
めゲインの異なる複数のゲインアンプを設け、解像度制
御信号(MODE)によって所望のゲインが得られるよ
うにゲインアンプを選択する構成を用いても構わない。
【0069】本実施形態においては、解像度を600d
pi/300dpiとしているが、本発明は、例えば、
400dpi/200dpiなどの解像度でも良い。
【0070】さらに、本実施形態は高解像度モードと低
解像度モードの解像度比が2倍の場合を示したが、たと
えば、6画素を1ブロックとし、光電変換装置の画素数
を6の倍数とすることで、600dpi/200dpi
の切り換えのように、解像度比を3倍に設定することも
できる。
【0071】また、イメージスキャナや、ファクシミ
リ、電子複写機として、複数の解像度のいずれかを選択
する選択スイッチと、上記密着型イメージセンサを読み
出す方向を主走査方向とし、その主走査方向に垂直な方
向を副走査方向として、機構的に副走査方向にも画像原
稿に対応して走査走査回路と、2次元状の読み取り信号
を得て、この読み取り信号に応じて光学感光体に露光す
る露光装置とを設けることにより、複数の解像度に応じ
て被転写紙に転写することができ、機能的な自由度を増
加することができる。
【0072】(実施形態2)本発明の第2の実施形態に
おける光電変換装置を用いた密着型イメージセンサにつ
いて図5、図6を用いて説明する。図5は、本実施形態
における光電変換装置内の4画素分の受光素子の等価回
路図である。また、図6は、本実施形態におけるにおけ
る信号出力アンプブロック6の等価回路図である。な
お、本実施形態においては、受光素子構成及び信号出力
アンプブロック、リセットスイッチ15以外は実施形態
1と同様の構成としている。
【0073】図5は、図2における受光素子4画素分の
等価回路である。図5において、各々の受光素子a1〜
d1は、光電変換手段となるホトダイオードPDa〜P
Dd、読み出しスイッチM1aS〜M1dS及びM1a
N〜M1dN、光信号転送スイッチM2aS〜M2d
S、ノイズ信号転送スイッチM2aN〜M2dN、MO
SソースホロアM3a〜M3d、上記光電変換手段をリ
セットする手段であるリセットスイッチM4a〜M4
d、一時的に光信号を蓄積する光信号蓄積容量CaS〜
CdS、ノイズ信号を蓄積するノイズ蓄積容量CaN〜
CdNで構成されている。
【0074】また、信号出力アンプブロック6は、光信
号共通出力線14−1及びノイズ信号共通出力線14−
2の出力をインピーダンス変換する入力バッファアンプ
6−1と、2つの入力バッファアンプ6−1の出力の差
をとる差動アンプ6−4と、差動アンプ6−4の出力を
増幅するゲインアンプ6−2と、ゲインアンプ6−2の
ゲインを可変するゲイン可変手段6−3とを備える。ま
た、実施形態1と同様に、解像度切り換え制御信号(M
ODE)が接続されており、解像度に応じたアンプゲイ
ンを得ることができる。
【0075】以下、本実施形態の動作について説明す
る。図5に示す各受光素子a1〜d1において、ホトダ
イオードPDa〜PDdにて光電変換により生成した光
信号出力及びノイズ信号出力は、MOSソースホロアM
3a〜M3dで電荷は電圧に変換され、信号転送パルス
ΦTS及び信号転送パルスΦTNにて全画素一括で蓄積
容量CaS〜CdS及び蓄積容量CaN〜CdNに転送
される。
【0076】つづいて、シフトレジスタ11から順次ハ
イとなる読み出しパルスΦa1〜Φd1によって順次読
み出しスイッチM1aS〜M1dS及びM1aN〜M1
dNをオン状態にし、光信号共通信号線14−1及びノ
イズ信号共通信号線14−2に光信号電圧及びノイズ信
号電圧が読み出される。
【0077】光信号共通信号線14−1及びノイズ信号
共通信号線14−2に出力された各受光素子a1〜d1
の光信号電圧及びノイズ信号電圧は、各々の入力バッフ
ァアンプ6−1によりインピーダンス変換される。そし
て、差動アンプ6−4において、光信号出力電圧からノ
イズ信号出力電圧を差分され、たとえば、5倍に増幅し
た差動出力電圧が出力される。その後、ゲインアンプ6
−2で差動アンプ6−4の出力を、たとえば、4倍に増
幅して出力端子Voutより出力される。また、信号出
力アンプブロック6に接続されている解像度切り換え制
御信号(MODE)により、解像度に応じたアンプゲイ
ンを得ることができる。
【0078】本実施形態においては、各々の受光素子a
1〜d1に光信号蓄積容量CaS、ノイズ信号蓄積容量
CaNを設け、さらにその差分処理を差動アンプ6−4
にて行っているため、各画素に設けたMOSソースホロ
アM3aのしきい値バラツキに起因するFPN抑制する
ことができる。
【0079】なお、本実施形態においては、蓄積容量の
容量値、ノイズ信号共通出力線14−2の容量値及び光
信号共通出力線14−1の容量値、ゲインアンプ(6−
2)の抵抗値R1、R2、R3については、実施形態1
と同様の定数である、たとえば、R1=18.0KΩ、
R2=2.0KΩ、R3=4.5KΩを用いている。
【0080】また、ゲイン可変手段6−3は、差動アン
プ6−4に用いている抵抗比を変化させるようにを設け
ても構わないが、この場合、ノイズ信号系の抵抗比と光
信号系の抵抗比が、ゲイン可変手段6−3のアナログス
イッチのON抵抗のバラツキの影響を受けるため、結果
としてFPNの増大などの不具合が生じる可能性があ
る。したがって、図6に示すように、差分処理を行った
後のゲインアンプ6−2の部分にゲイン可変手段6−3
を設けるのがより好ましい。
【0081】また、本実施形態において、ゲインアンプ
6−2のゲインを変化させることにより、ゲインアンプ
6−2の動作が不安定になる、もしくは動作が遅くなる
などの不具合が生じる場合は、同様に解像度切り換え制
御信号(MODE)を用いて、たとえば、位相補償容量
値を変化させる、アンプ内の定電流部を変化させるなど
の手段を用いても良い。
【0082】(実施形態3)本発明の第3の実施形態に
おける光電変換装置を用いた密着型イメージセンサにつ
いて図5、図6を用いて説明する。図7は本実施形態に
おける光電変換装置を用いた密着型イメージセンサにお
ける光電変換装置内の信号出力アンプブロックの等価回
路図である。
【0083】本実施形態の光電変換装置においては、信
号出力アンプブロック以外は実施形態2において説明し
た光電変換装置と同様の構成としている。光電変換部な
どの構成は、上記実施形態2と同様のため、説明を省略
する。
【0084】光信号共通出力線14−1の出力及びノイ
ズ信号共通出力線14−2の出力は、入力バッファアン
プ6−1を介してインピーダンス変換される。その後、
差動アンプ6−4で光信号とノイズ信号の差分処理を行
い、たとえば、5倍のゲインで増幅される。そして、差
動アンプ6−4の出力は、ゲイン可変手段6−3に入力
される。
【0085】ここで、ゲイン可変手段6−3は、解像度
切り換え制御信号(MODE)により、差動アンプ6−
4の出力を、ゲインアンプ6−2′を介してゲインアン
プ6−2に入力される信号経路と、差動アンプ6−4の
出力が直接ゲインアンプ6−2に入力される信号経路と
に切り換えることができるスイッチ手段6−5を設けて
いる。このスイッチ手段6−5には、たとえば、MOS
のアナログスイッチなどを用いることができる。
【0086】また、本実施形態において、受光素子(図
示せず)の定数は、実施形態2と同様の値を用い、本実
施形態の差動アンプ6−4のゲインは、たとえば、5
倍、出力部のゲインアンプ6−2のゲインは、たとえ
ば、4倍に設定している。また、中間段のゲインアンプ
6−2′のゲインは、たとえば、1.4倍に設定してい
る。信号出力アンプブロック6のゲインは、高解像度モ
ード時(MODE=Hi)時には、20倍低解像度モー
ド時(MODE=Lo)時には、28倍となる。
【0087】本実施形態は、信号出力アンプブロック6
のゲインを変化させても、アンプ6−2、6−2’の特
性は変化しないため、安定な動作を実現することができ
る。なお、上記実施形態1から3において説明した光電
変換装置においては、解像度を低解像度と高解像度との
2つにしたものを説明したが、3つ以上の解像度を備
え、解像度数に応じた解像度切り換えを行えるものでも
よい。
【0088】たとえば、3つの解像度を備え、それらの
解像度を切り換えるとすれば、シフトレジスタブロック
11の回路構成を変更することにより、1つの受光素子
ずつの出力、2つの受光素子からの加算出力、4つの受
光素子からの加算出力を行えるようになる。そして、解
像度に応じてゲイン可変手段を制御すればよい。
【0089】したがって、シフトレジスタブロック11
の回路構成を換えることにより複数の解像度に対応した
光電変換装置を実現することができる。
【0090】(実施形態4)本実施形態のイメージセン
サについて、図8から図10を用いて説明する。図8は
実施形態1に示した光電変換装置を実装基板上にマルチ
実装したイメージセンサモジュールの平面構造図であ
る。また、図9は本実施形態にかかるイメージセンサモ
ジュールを用いて構成した密着型イメージセンサの断面
図である。さらに、図10は本実施形態の密着型イメー
ジセンサの動作を示すタイミングチャートである。
【0091】図8において、セラミック実装基板32上
に、光電変換装置1−1〜1−15が15チップ分イン
ライン状にマルチ実装することにより、イメージセンサ
モジュールを構成している。各々の光電変換装置1−1
〜1−15は、ボンディングワイヤを介して実装基板3
2上の配線と接続されている。
【0092】本実施形態においては、1チップ目のシフ
トレジスタを動作させるスタート信号SI、15チップ
目のシフトレジスタの次チップスタート信号SO、信号
出力線VOUT、解像度切り換え制御信号(MODE)の
各入力端子のみを図示している。そして、これらの入力
端子は、図1において説明した各々の入出力端子に対応
している。なお、他の入出力端子の説明は省略する。
【0093】図9に示す密着型イメージセンサは、光透
過性の支持体36と、支持体36に赤色、緑色、青色の
光を照射するLED光源35と、原稿からの反射光を集
光し受光素子表面で結像させるレンズアレイ34と、レ
ンズアレイ34により集光された反射光を光電変換する
セラミック基板32上の光電変換装置1と、光電変換装
置1の保護のため、シリコーン樹脂などからなるチップ
コート剤33と、筐体37とを設けている。これらを組
み立てることにより密着型イメージセンサを構成してい
る。
【0094】LED光源35が、赤のみを発光している
とき、光電変換装置1を駆動して赤色情報を読み取り、
つづいて同様に、緑色、及び青色の情報を読み取り、こ
れらの原稿の色情報を画像処理を用いて合成することに
より、カラーフィルタを用いることなくカラー原稿の読
み取りができる。
【0095】本実施形態においては、LED光源35の
点灯開始を制御する信号として、密着型イメージセンサ
の駆動を制御する手段から送信されてくる1チップ目の
スタート信号SIを用い、さらに、LED光源35の点
灯終了を制御する信号として、15チップ目のシフトレ
ジスタの次チップスタート信号SOを用いている。した
がって、実装基板上32のすべての光電変換装置1−1
〜1−15が動作している間のみLED光源35が点灯
していることになる。
【0096】図10は、上記の動作を示すタイミングチ
ャートである。図10において、(1)は、高解像度モ
ード時のLED光源35の動作を示している。また、
(2)は、低解像度モード時のLED光源35の動作を
示している。本図に示すように、一定周波数の駆動クロ
ックを用いて、高解像度モードから低解像度モードに解
像度を切り換えた場合には、各々のLED光源35の点
灯期間、及びスタート信号SI〜次チップスタート信号
SOまでの期間は約1/2になる。そのため、光信号の
出力レベルも低下する。
【0097】しかしながら、実施形態1〜3に示すよう
に、本発明の光電変換装置はゲイン切り換え手段6−3
(図6など)を備えているため、解像度によらず、ほぼ
一定の信号出力を得ることができる。
【0098】さらに、上記のように構成した光電変換装
置において、解像度切り換え制御信号(MODE)によ
って解像度切り換えを行う場合、解像度に応じてLED
光源35の点灯期間を自動的に制御することができる。
そのため、LED光源35の点灯制御が簡便となる。加
えて、たとえば密着型イメージセンサの出力をA/D変
換装置などを用いて信号処理を行う場合においても、A
/D変換装置の入力レンジを解像度によらず一定で使用
することができるため、非常に使用しやすい密着型イメ
ージセンサを提供することができる。
【0099】また、本実施形態は、光源切り換え型カラ
ー密着型イメージセンサを例として示したが、光源切り
換え型に限らず、白黒の密着型イメージセンサなどに適
用できることはいうまでもない。
【0100】さらに、本発明は、密着型イメージセンサ
に限らず、光電変換装置と光源を含むイメージセンサユ
ニットをたとえばイメージスキャナ、ファクシミリまた
は電子複写機などの画像読みとり装置に用いることがで
きる。
【0101】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光電変換
装置は、解像度に応じた読み取り速度が得られる。その
ため、本発明の光電変換装置を用いたイメージスキャナ
や、ファクシミリ、電子複写機などに用いることによ
り、高画質、通常画質などの被転写紙に要求される画質
に応じて出力することができ、機能上の自由度を増加で
きる。
【0102】また、本発明の光電変換装置は、解像度に
よらずに、光電変換信号の出力レベルを一定にすること
ができる。そのため、たとえば、本発明の光電変換装置
を用いた画像読取装置は、光電変換信号の出力レベルと
低下を防止するための手段などを設ける必要がない。し
たがって、本発明の画像読取装置は、システムコストの
低減したものとなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態1における光電変換装置及び
密着型イメージセンサの回路ブロック図である。
【図2】本発明の実施形態1における8ビット分のシフ
トレジスタと受光素子の回路ブロック図である。
【図3】本発明の実施形態1におけるシフトレジスタと
受光素子との回路動作を示すタイミングチャートであ
る。
【図4】本発明の実施形態1における受光素子の等価回
路図(4画素分)である。
【図5】本発明の実施形態2における光電変換装置の受
光素子の回路ブロック図である。
【図6】本発明の実施形態2における信号出力アンプブ
ロック回路ブロック図である。
【図7】本発明の実施形態3における光電変換装置の信
号出力アンプブロックの回路ブロック図である。
【図8】本発明の実施形態4における密着型イメージセ
ンサのイメージセンサモジュール部の平面図である。
【図9】本発明の実施形態4における密着型イメージセ
ンサの断面図である。
【図10】本発明の実施形態4における密着型イメージ
センサの光源のタイミングチャートである。
【図11】従来技術1の光電変換装置の等価回路図であ
る。
【図12】従来技術1の光電変換装置のタイミングチャ
ートである。
【図13】従来技術2における密着型イメージセンサ用
集積回路の回路図である。
【符号の説明】
1、1′ 光電交換装置 2、2′ プレシフトレジスタ 3、3′ シフトレジスタ 4、4′ 受光素子アレイ 5、5′ タイミング発生回路 6、6′ 信号出力アンプブロック 6−1 入力バッファアンプ 6−2、6−2 ゲインアンプ 6−3 ゲイン可変手段 6−4 差動アンプ 6−5 スイッチ手段 7、7′ シフトレジスタ駆動パルス(Φ1) 8、8′ シフトレジスタ駆動パルス(Φ2) 9、9′ 次チップスタート信号線 9−1、9−1′ 高解像モード時スタート信号線 9−2、9−2′ 低解像モード時スタート信号線 10、10′ スタート信号切り替え手段 11 シフトレジスタブロック(4ビット分) 12−1〜12−4′ Φ1同期1ビットシフトレジス
タ 13−1〜13−4′ Φ2同期1ビットシフトレジス
タ 14 共通信号線 14−1、103 光信号共通信号線 14−2、104 ノイズ信号共通信号線 15 共通信号線リセットスイッチ 15−1、105 光信号共通信号線リセットスイッチ 15−2、106 ノイズ信号共通信号線リセットスイッ
チ 32 セラミック基板 33 チップコート剤 34 レンズアレイ 35 LED光源 36 支持体 37 筐体 101 信号保持容量CTS 102 ノイズ保持容量CTN 107 CHS光信号共通信号線容量 108 CHNノイズ信号共通信号線容量 109 バイポーラトランジスタ 113、114 ボルテージホロア 115 差動アンプ a1〜d2 受光素子 Φa1〜Φd2 a1〜d2読み出しパルス M1a〜M1d 読み出しスイッチ M4a〜M4d リセットスイッチ PDa〜PDd ホトダイオード
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4M118 AA05 AB01 AB10 BA04 CA03 CA09 DB01 DD09 DD10 DD12 FA08 GA03 GA04 GD02 HA21 HA24 5C024 AA01 AA11 BA01 CA00 FA01 FA02 FA11 GA11 GA31 HA10 HA18 5C051 AA01 BA02 DB15 DE13 DE17 5C072 AA01 BA11 BA16 EA04 FB15 FB30 TA04 UA05

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の光電変換部を備える光電変換手段
    と、前記光電変換手段により変更された画像信号の解像
    度を切り換える解像度切り換え手段と、前記解像度切り
    換え手段における解像度の切り換えを制御する解像度制
    御手段と、前記光電変換手段から出力される光電変換信
    号を増幅する増幅手段とを備える光電変換装置におい
    て、 前記解像度制御手段によって、前記増幅手段の増幅率を
    制御することを特徴とする光電変換装置。
  2. 【請求項2】 前記増幅手段は、増幅率を変化させるゲ
    イン可変手段を備え、前記ゲイン可変手段を前記解像度
    制御手段によって制御することを特徴とする請求項1記
    載の光電変換装置。
  3. 【請求項3】前記複数の解像度は、第1の解像度と第2
    の解像度とであることを特徴とする請求項1に記載の光
    電変換装置。
  4. 【請求項4】 前記第1の解像度のときの前記増幅率を
    G1とし、前記第2の解像度のときの前記増幅率をG2
    とした場合に、 G2>G1であることを特徴とする請求項1記載の光電
    変換装置。
  5. 【請求項5】 複数の光電変換部を備える光電変換手段
    と、前記光電変換手段からノイズ信号を読み出して保持
    するノイズ信号保持手段と、前記光電変換手段から光信
    号を読み出して保持する光信号保持手段と、前記ノイズ
    信号保持手段から出力される複数のノイズ信号をノイズ
    信号共通出力線に読み出す第1読み出し手段と、前記光
    信号保持手段から出力される複数の光信号を光信号共通
    出力線に読み出す第2読み出し手段と、前記第1読み出
    し手段及び第2読み出し手段により、前記光電変換手段
    により変更された画像信号の解像度を切り換える解像度
    切り換え手段と、前記解像度切り換え手段における解像
    度の切り換えを制御する解像度制御手段と、前記ノイズ
    信号と前記光信号との差分をとる差分手段と、前記差分
    手段から出力される光電変換信号を増幅する増幅手段と
    を備える光電変換装置において、 前記解像度制御手段によって、前記増幅手段の増幅率を
    制御することを特徴とする光電変換装置。
  6. 【請求項6】 前記増幅手段は、増幅率を変化させるゲ
    イン可変手段を備え、前記ゲイン可変手段を前記解像度
    制御手段によって制御することを特徴とする請求項5記
    載の光電変換装置。
  7. 【請求項7】前記複数の解像度は、第1の解像度と第2
    の解像度とであることを特徴とする請求項5に記載の光
    電変換装置。
  8. 【請求項8】 前記第1の解像度のときの前記増幅率を
    G1とし、前記第2の解像度のときの前記増幅率をG2
    とした場合に、 G2>G1であることを特徴とする請求項5記載の光電
    変換装置。
  9. 【請求項9】 前記ノイズ信号保持手段は容量値CTN
    容量を備え、前記光信号保持手段は容量値CTSの容量を
    備え、かつ、CTN≒CTS≒CTであり、 前記ノイズ信号共通出力線は容量値CHNの寄生容量を備
    え、前記光信号共通出力線は容量値CHSの寄生容量を
    備え、かつ、CHN≒CHS≒CHであり、 さらに、前記第1の解像度のときの前記増幅率をG1と
    し、前記第2の解像度のときの前記増幅率をG2とした
    場合、 G2/G1=(N×CT+CH)/(CT+CH) であることを特徴とする請求項5記載の光電変換装置。
  10. 【請求項10】 複数の光電変換部を備える光電変換手
    段と、前記光電変換手段により変更された画像信号の解
    像度を切り換える解像度切り換え手段と、前記解像度切
    り換え手段における解像度の切り換えを制御する解像度
    制御手段と、前記光電変換手段から出力される光電変換
    信号を増幅する増幅手段とを備える光電変換装置を複数
    実装して構成するイメージセンサモジュールにおいて、 前記解像度制御手段によって、前記増幅手段の増幅率を
    制御することを特徴とするイメージセンサモジュール。
  11. 【請求項11】 複数の光電変換部を備える光電変換手
    段と、前記光電変換手段からノイズ信号を読み出して保
    持するノイズ信号保持手段と、前記光電変換手段から光
    信号を読み出して保持する光信号保持手段と、前記ノイ
    ズ信号保持手段から出力される複数のノイズ信号をノイ
    ズ信号共通出力線に読み出す第1読み出し手段と、前記
    光信号保持手段から出力される複数の光信号を光信号共
    通出力線に読み出す第2読み出し手段と、前記光電変換
    手段により変更された画像信号の解像度を切り換える解
    像度切り換え手段と、前記解像度切り換え手段における
    解像度の切り換えを制御する解像度制御手段と、前記ノ
    イズ信号と前記光信号との差分をとる差分手段と、前記
    差分手段から出力される光電変換信号を増幅する増幅手
    段とを備える光電変換装置を複数実装して構成するイメ
    ージセンサモジュールにおいて、前記解像度制御手段に
    よって、前記増幅手段の増幅率を制御することを特徴と
    するイメージセンサモジュール。
  12. 【請求項12】 複数の光電変換部を備える光電変換手
    段と、前記光電変換手段により変更された画像信号の解
    像度を切り換える解像度切り換え手段と、前記解像度切
    り換え手段における解像度の切り換えを制御する解像度
    制御手段と、前記光電変換手段から出力される光電変換
    信号を増幅する増幅手段とを備える光電変換装置を複数
    実装して構成するイメージセンサモジュールと光源とを
    備えたイメージセンサユニットにおいて、前記解像度制
    御手段によって、前記増幅手段の増幅率を制御すること
    を特徴とするイメージセンサユニット。
  13. 【請求項13】 複数の光電変換部を備える光電変換手
    段と、前記光電変換手段からノイズ信号を読み出して保
    持するノイズ信号保持手段と、前記光電変換手段から光
    信号を読み出して保持する光信号保持手段と、前記ノイ
    ズ信号保持手段から出力される複数のノイズ信号をノイ
    ズ信号共通出力線に読み出す第1読み出し手段と、前記
    光信号保持手段から出力される複数の光信号を光信号共
    通出力線に読み出す第2読み出し手段と、前記光電変換
    手段により変更された画像信号の解像度を切り換える解
    像度切り換え手段と、前記解像度切り換え手段における
    解像度の切り換えを制御する解像度制御手段と、前記ノ
    イズ信号と前記光信号との差分をとる差分手段と、前記
    差分手段から出力される光電変換信号を増幅する増幅手
    段とを備える光電変換装置を複数実装して構成するイメ
    ージセンサモジュールと光源とを備えたイメージセンサ
    ユニットにおいて、 前記解像度制御手段によって、前記増幅手段の増幅率を
    制御することを特徴とするイメージセンサユニット。
  14. 【請求項14】請求項12または請求項13のいずれか
    に記載のイメージセンサユニットと、原稿を走査する走
    査回路とを備えたことを特徴とする画像読取装置。
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