JP2000075311A - 液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置

Info

Publication number
JP2000075311A
JP2000075311A JP24147598A JP24147598A JP2000075311A JP 2000075311 A JP2000075311 A JP 2000075311A JP 24147598 A JP24147598 A JP 24147598A JP 24147598 A JP24147598 A JP 24147598A JP 2000075311 A JP2000075311 A JP 2000075311A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal line
pixel electrode
liquid crystal
crystal display
display device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24147598A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahito Kenmochi
雅人 劔持
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP24147598A priority Critical patent/JP2000075311A/ja
Publication of JP2000075311A publication Critical patent/JP2000075311A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型且つ高精細化を実現するための構造の微
細化に伴う画素電極及び配線間の近接による画素電極の
パターニング不良を防止し、高精細で良好な表示を得
る。 【解決手段】 画素電極18を膜厚dの第2の層間絶縁
膜30を介して信号線17上方にてパターン形成する場
合、信号線17端部17aのテーパー角をθとすると、
画素電極18と信号線17のテーパー端17bとの水平
距離sが、s≧d・tan2θとなるよう、画素電極1
8をパターン形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、層間絶縁膜を介し
信号線より上方層に画素電極を形成して成る液晶表示装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、液晶表示装置にあっては小型であ
りながら高機能、高精細で良質の画像を得る装置の要求
に伴い構造がより微細化され、信号線及び走査線に囲ま
れた領域にマトリクス状に配列される画素電極を有する
アクティブマトリクス型の液晶表示装置にあっては、画
素電極と配線部とをより近接して形成することが追求さ
れている。この様な微細化された構造において、画素電
極と配線部間でのリークやショートを防止し、且つ開口
率をより向上するため、従来は画素電極を層間絶縁膜を
介して配線部上方に形成し、画素電極端部が配線部の端
部ぎりぎりまで延在するよう形成していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらリークや
ショートを防止するため画素電極を配線部の上方層に形
成し、画素電極を信号線とぎりぎりまで近接すると、フ
ォトリソグラフィ技術により画素電極をパターン形成す
るときに、信号線と隣接する側の画素電極の端部が、規
定のフォトマスク通りに直線状に加工されず、不規則な
ギザギザ状に形成されてしまっていた。そしてこのよう
な画素電極端部におけるパターン不良のため、表示画像
の高精細化が妨げられ表示品位を低下するという問題を
生じていた。
【0004】そこで本発明は上記課題を除去するもの
で、構造の微細化のための画素電極と信号線との近接に
より、画素電極に生じるパターン不良を防止し、小型で
ありながら高精細且つ良好なコントラストを有する表示
品位の高い液晶表示装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するため、画素電極が層間絶縁膜を介し信号線より上方
に形成される第1の電極基板と、第2の電極を有し前記
第1の電極基板と所定の間隙を隔てて対向配置される第
2の電極基板と、前記第1の電極基板及び前記第2の電
極基板間に封入される液晶組成物とを具備する液晶表示
装置において、前記層間絶縁膜の膜厚がdであり前記信
号線の端部のテーパー角がθであるとき、前記画素電極
の端部から前記信号線の最端部迄の水平距離sをs≧d
・tan2θとするものである。
【0006】そして上記構成により、開口率を損なう事
無く且つ、より微細な構造を有する装置において、画素
電極の端部を信号線の端部からの反射光により影響を受
けない程度に離間する事により、画素電極の端部を直線
状にパターン形成可能とし、高精細な表示画像を得られ
る表示品位の高い液晶表示装置を得るものである。
【0007】
【発明の実施の形態】先ず本発明の原理について図1乃
至図3を参照して説明する。本発明は画素電極をパター
ン形成するための感光性のフォトレジストの形成時、層
間絶縁膜を介して画素電極より下層に形成される信号線
からの反射光が、フォトレジストの露光領域を規制する
フォトマスクより内側を照射することにより、フォトレ
ジスト端部がフォトマスクにより規制される領域とは異
なる余分な領域まで感光してしまい、不規則なギザギザ
状に形成され、ひいては画素電極の端部をギザギザに形
成してしまうのを防止するものである。
【0008】図1に示すように信号線1は、エッチング
によるパターン形成によりその端部1aが基板に対して
ある程度テーパー角を有するよう形成される。ウエット
エッチングではドライエッチングにくらべテーパー角が
緩やかではあるものの、いずれの方法においてもパター
ン形成された信号線の端部1aには45度未満のテーパ
ー角(θ)を生じる。このテーパー角θにより、フォト
レジストの露光形成時に、アルミニウム(Al)、銀
(Ag)、チタン(Ti)等、反射率の高い金属を含む
材料からなる信号線1に露光々L1を照射すると、テー
パー状に形成される信号線の端部1aでは画素電極2方
向への反射光l1を生じる。
【0009】この事から、信号線1上方にてSi02
(酸化シリコン膜)や、SiNx(窒化シリコン膜)又
は樹脂膜等の透明な層間絶縁膜3を介し形成される画素
電極2を、フォトリソグラフィ技術によりパターン形成
するため、感光性のフォトレジスト4をフォトマスク6
により規制し露光々L1を照射すると、フォトレジスト
4は上方から露光々L1を受けるのみでなく、信号線端
部1aからの反射光l1によっても露光される。従っ
て、反射光l1の到達位置が、フォトマスク6より外側
の領域であれば問題を生じないものの、反射光l1がフ
ォトマスク6の被覆領域より内側に達しフォトレジスト
4を露光すると、フォトレジスト4はフォトマスク6と
異なる形状にパターニングされてしまう。
【0010】即ち信号線端部1aと画素電極2の端部2
aをより近接すると、信号線端部1aからの反射光l1
が不規則に画素電極端部2aより内側の領域に達し、フ
ォトレジスト4の端部4aを不規則にギザギザ状にパタ
ーン形成してしまう。従って、このようなパターンを有
するフォトレジスト4を用いて、画素電極2をエッチン
グすると、画素電極端部2aはフォトレジスト端部4a
のギザギザの形状に従い、同様にギザギザ状にパターン
形成されてしまう。
【0011】ここで信号線端部1aからの反射光l1の
軌跡を計算する。層間絶縁膜3の屈折率を無視した場
合、反射光l1は、信号線端部1aのテーパー端7から
x=d・tan2θ(式1)離れた水平距離xまで届
く。従って、画素電極端部2aからテーパー端7迄の水
平距離sが、x=d・tan2θ未満であると、フォト
マスク6によるフォトレジスト4の本来の露光領域
[A]にかかわらず、図2に示す領域[B]は信号線端
部1aからの反射光l1により不規則に露光され、この
領域[B]においてフォトレジスト4はギザギザ状にパ
ターン形成されることになる。
【0012】尚、図3に示すように層間絶縁膜3を研磨
法や塗布膜、またはメルト法等により平坦化した場合、
層間絶縁膜3の膜厚を信号線1上部の膜厚で定義する
と、信号線1の膜厚t分を合わせて計算する事になり、
この場合、反射光l1はx=(d+t)tan2θ(式
2)迄届く事となる。
【0013】そこで本発明は、上述の原理に基づき液晶
表示装置の信号線及び画素電極の間隔を設定するもので
ある。以下本発明の実施の形態を図4乃至図6を参照し
て説明する。10は、アレイ基板11及び対向基板12
間に液晶組成物13を封入してなる対角2.7インチの
透過型の液晶表示装置であり、アレイ基板11のガラス
基板14上には、走査線16及びこの走査線16と交差
する信号線17が形成され、走査線16及び信号線17
に囲まれた領域にはITO(インジウム錫酸化物)から
なる画素電極18がパターン形成され、走査線16及び
信号線17の交点に形成されるTFT(薄膜トランジス
タ)20により駆動される様に成っている。又信号線1
7と画素電極18との間隙は遮光膜21により被覆され
ている。
【0014】アレイ基板11に対向配置される対向基板
12の、ガラス基板22上には、ITOからなる共通電
極37が全面に形成されている。又38a、38bはア
レイ基板11及び対向基板12の対向面に夫々塗布され
るポリイミドから成る配向膜である。
【0015】次にアレイ基板11について詳述する。先
ずガラス基板14上に周知の製造工程により半導体層1
5を島状にパターン形成し、ゲート絶縁膜23を介し走
査線16及びこれと一体のゲート電極24をパターン形
成する。次いでゲート電極24をマスクにしてリン
(P)等をイオン注入し、半導体層15に、チャネル領
域を挟みソース・ドレイン領域を形成する。その後Si
2 (酸化シリコン膜)からなる第1の層間絶縁膜26
を成膜した後、Mo/Al/Mo(モリブデン/アルミ
ニウム/モリブデン)の3層成膜からなる膜厚500n
m、配線幅6μmの信号線17をウエットエッチングを
用いてパターン形成する。これにより信号線17の端部
17aは角度30度のテーパー状に形成される。尚信号
線17と同時に信号線17から延在されるドレイン電極
27、ソース電極28をパターン形成する。ドレイン電
極27及びソース電極28は、図示しないコンタクトホ
ールを介し半導体層15のソース・ドレイン領域に夫々
接続される。
【0016】次にSiO2 (酸化シリコン膜)からなる
第2の層間絶縁膜30を2.5μmの膜厚で成膜した
後、ITOを膜厚100nmに成膜後フォトリソグラフ
ィ技術によりパターン形成し、画素電極18を形成す
る。
【0017】ここで画素電極18のパターン形成時、フ
ォトマスク31を用いフォトレジスト32を露光々L2
で露光する際、第2の層間絶縁膜30の膜厚が2.5μ
mであり、信号線17のテーパー角が30度である事か
ら、前述の(式1)により信号線端部17aからの反射
光l2が到達する水平距離xは、x=2.5×tan
(2×30)=4.3μmとなる。即ち、信号線17の
テーパー状の端部17aのテーパー端17bから画素電
極18の端部18a迄の水平距離が、4.3μm未満の
領域にあっては、信号線17のテーパー状の端部17a
からの反射光l2によりフォトレジスト32が不規則に
露光され、端部32aにギザギザを生じてしまう。この
ため、フォトレジスト32が信号線17からの反射光l
2の影響を受けないよう、信号線17のテーパー端17
bから画素電極18の端部18a迄の水平距離sを、
4.5μmに設定してフォトレジスト32を形成する。
これによりフォトレジスト32の端部32aは信号線端
部17aからの反射光l2の影響を受ける事無く直線状
に形成される。このフォトレジスト32をマスクにし
て、ITOをパターン形成し端部18aが直線状の画素
電極18を得る。
【0018】次いで第3の層間絶縁膜34を成膜後、信
号線17のテーパー端17bから画素電極18の端部1
8a迄の間隙上部にMo(モリブデン)からなる膜厚1
00nmの遮光膜21をパターン形成する。
【0019】この様にして成るアレイ基板11及び対向
基板12を配向膜38a、38bが向かい合うように対
向して組み立て、液晶セル注入後封止して液晶表示装置
10を完成する。
【0020】この様に構成すれば、信号線17のテーパ
ー端17bから画素電極18の端部18a迄の水平距離
sが4.5μmと、信号線端部17aからの反射光l2
の到達水平距離4.3μmより広く設定されているの
で、フォトレジスト32は、信号線端部17aからの反
射光l2の影響を受ける事無く、フォトマスクに規制さ
れる形状に沿ってパターニングされ、その端部32aは
ギザギザを生じる事無く直線状に形成される。従って、
画素電極18も端部18aが直線状の良好なパターンを
得られ、高精細な表示画像を得られる。しかも、信号線
17のテーパー端17bから画素電極端部18a迄の間
隙は、遮光膜21により被覆されており、光抜けを生じ
る事無く、良好なコントラストを保持出来、表示品位を
低下する事無く、小型且つ開口率の高い液晶表示装置の
実現を図れる。
【0021】尚本発明は上記実施の形態に限られるもの
でなく、その趣旨を変えない範囲での変更は可能であっ
て、例えば、信号線の材質や厚さあるいは端部のテーパ
ー角等任意であるし、層間絶縁膜の材質や厚さ、あるい
は画素電極の材質や厚さ等も限定されない。そして信号
線及び画素電極間の水平距離sも開口率を低下させず且
つs≧d・tan2θの範囲であれば良い。又TFTの
構造もゲート電極上方に半導体層を設ける等任意であ
る。更に、信号線及び画素電極間の間隙に設けられる遮
光部材の材質も樹脂等非導電性の物質であっても良い
し、又その形成位置も、図7に示す第1変形例のよう
に、信号線17と画素電極18との間にて、第2の層間
絶縁膜30上に遮光膜40を形成し、第4の層間絶縁膜
41を介し画素電極18を形成したり、あるいは図8に
示す第2の変形例のようにゲート電極(図示せず)上の
第1の層間絶縁膜26の上に遮光膜42を形成し、第5
の層間絶縁膜43を介し、信号線17をパターン形成す
る等限定されない。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、小
型且つ高精細を得ると共に良好な開口率を保持する液晶
表示装置において、画素電極を信号線からの反射光によ
る影響を受けない程度に信号線から離間してパターン形
成する事により、画素電極端部に生じるパターン不良を
防止出来、小型でありながら高精細、高コントラストで
良好な表示品位を有する液晶表示装置の実現が可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理を説明するものであり、信号線の
テーパー状の端部による反射光の到達水平距離を示す概
略説明図である。
【図2】本発明の原理を説明するものであり、信号線の
テーパー状の端部からの反射光によるフォトレジストの
露光を示す概略説明図である。
【図3】本発明の原理を説明するものであり、層間絶縁
膜を平坦化した場合の信号線のテーパー状の端部による
反射光の到達水平距離を示す概略説明図である。
【図4】本発明の実施の形態のアレイ基板を示す概略平
面図である。
【図5】本発明の実施の形態の図4のA−A´線から見
た概略断面図である。
【図6】本発明の実施の形態の信号線及び画素電極間の
水平距離を示す概略説明図である。
【図7】第1の変形例の遮光膜の形成位置を示す概略説
明図である。
【図8】第2の変形例の遮光膜の形成位置を示す概略説
明図である。
【符号の説明】
10…液晶表示装置 11…アレイ基板 12…対向基板 13…液晶組成物 14…ガラス基板 16…走査線 17…信号線 17a…端部 17b…テーパー端 18…画素電極 18a…端部 21…遮光膜 30…第2の層間絶縁膜 31…フォトマスク 32…フォトレジスト
フロントページの続き Fターム(参考) 2H090 HA04 HB03X HC01 HC11 HC12 HC14 HC18 HD05 LA04 2H092 JA26 JA29 JA38 JA42 JA44 JB12 JB23 JB32 JB51 KA05 KA07 KA16 KA18 KB14 KB23 KB25 MA05 MA08 MA13 MA17 MA35 MA37 MA41 NA01 NA25 NA27 PA06

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 画素電極が層間絶縁膜を介し信号線より
    上方に形成される第1の電極基板と、第2の電極を有し
    前記第1の電極基板と所定の間隙を隔てて対向配置され
    る第2の電極基板と、前記第1の電極基板及び前記第2
    の電極基板間に封入される液晶組成物とを具備する液晶
    表示装置において、 前記層間絶縁膜の膜厚がdであり前記信号線の端部のテ
    ーパー角がθであるとき、前記画素電極の端部から前記
    信号線の最端部迄の水平距離sをs≧d・tan2θと
    する事を特徴とする液晶表示装置。
  2. 【請求項2】 画素電極の端部から信号線の最端部迄の
    間隙に遮光部材を設ける事を特徴とする請求項1に記載
    の液晶表示装置。
  3. 【請求項3】 遮光部材が、画素電極より上方の層に形
    成される事を特徴とする請求項2に記載の液晶表示装
    置。
  4. 【請求項4】 遮光部材が、画素電極及び信号線の間の
    層に形成される事を特徴とする請求項2に記載の液晶表
    示装置。
  5. 【請求項5】 遮光部材が、信号線より下方の層に形成
    される事を特徴とする請求項2に記載の液晶表示装置。
JP24147598A 1998-08-27 1998-08-27 液晶表示装置 Pending JP2000075311A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24147598A JP2000075311A (ja) 1998-08-27 1998-08-27 液晶表示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24147598A JP2000075311A (ja) 1998-08-27 1998-08-27 液晶表示装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000075311A true JP2000075311A (ja) 2000-03-14

Family

ID=17074876

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24147598A Pending JP2000075311A (ja) 1998-08-27 1998-08-27 液晶表示装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000075311A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100722725B1 (ko) 누설전류를 감소시키기 위한 tft를 포함하는 lcd장치
JP3908552B2 (ja) 液晶表示装置及びその製造方法
JP5101580B2 (ja) 液晶表示装置用基板及びそれを用いた液晶表示装置
KR100190023B1 (ko) 박막트랜지스터-액정표시장치 및 그 제조방법
US7615336B2 (en) Method of fabricating a display device by using a stepped halftone mask to form a three-step photoresist pattern on a material layer for etching and ashing
JP3503685B2 (ja) 液晶表示装置及びその製造方法
US6822708B2 (en) Liquid crystal display device
KR100976931B1 (ko) 박막 트랜지스터의 제조방법
JP3097841B2 (ja) フォトマスク及びアクティブ素子アレイ基板の製造方法
US6391499B1 (en) Light exposure mask and method of manufacturing the same
JP2000066235A (ja) 液晶表示装置およびその製造方法
JP4019080B2 (ja) 液晶表示装置の製造方法
JP2001142077A (ja) 液晶表示装置
JPH08171101A (ja) 液晶表示装置の製造方法
JPH03105324A (ja) マトリクス型液晶表示基板の製造方法
JPH09230379A (ja) 液晶表示装置とその製造方法
JP2000075311A (ja) 液晶表示装置
KR20010109681A (ko) 프린지 필드 구동 액정 표시장치의 제조방법
KR101271527B1 (ko) 박막트랜지스터 액정표시장치 및 그 제조방법
JPH1138437A (ja) 液晶表示装置及びその製造方法
JP2008032855A (ja) 液晶表示装置
KR960008737B1 (ko) 자기 정합을 이용한 박막트랜지스터
JP3247084B2 (ja) アクティブ素子アレイ基板及びその製造方法
KR20020027731A (ko) 액정표시장치용 어레이기판과 그 제조방법
KR100205520B1 (ko) 박막트랜지스터 어레이 기판 및 그 제조방법