JP2000075048A

JP2000075048A - 残品検出機構

Info

Publication number: JP2000075048A
Application number: JP24556798A
Authority: JP
Inventors: Nobuhiko Kishima; 信彦貴島; Toshiyuki Tezuka; 利之手塚
Original assignee: Ando Electric Co Ltd
Current assignee: Ando Electric Co Ltd
Priority date: 1998-08-31
Filing date: 1998-08-31
Publication date: 2000-03-14

Abstract

(57)【要約】【課題】電子部品の搬送や検査に際して電子部品を複数
収容するパレット等の部品収納部材における残品検出作
業の省力化及びコストダウンを図る。【解決手段】残品検出機構は、部品収納部材１１に設
けられた発光部１２と、吸着ハンド１３に設けられた受
光センサ１４とを備える。発光部１２は、部品収納部材
１１の各デバイス収納部１１ａ毎に設けられ、部品収納
部材１１の背面側に設けられた光源１６の光を表側に透
光する。受光センサ１４は、各デバイス１５を搬出する
吸着ハンド１３の移動に伴って移動し、各デバイス収納
部１１ａの残品を検出する。受光センサ１４は、発光部
１２からの光がデバイス１５に遮られるか否かにより、
デバイス１５の有無を非接触で検知できる。吸着ハンド
１３により受光センサ１４の位置を変えるだけで、デバ
イスの品種の違いにより部品収納部材１１上のデバイス
１５の位置が異なっても容易に対応できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、電気機器や電子
機器等の部品を搬送、検査等の目的で複数収納する部品
収納部材において、該部品収納部材に搬出されなかった
部品があるか否かを検知する残品検出機構に係り、特
に、部品の検査時に測定済みの部品と未測定の部品との
混入を未然に防ぐために部品収納部材上の残品を検出す
るための残品検出機構に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】各種ＩＣやＬＳＩ等の既にパッケージさ
れた電子部品（以下、デバイスと称する）の検査には、
例えば、水平搬送方式ハンドラ等のハンドラやオートハ
ンドラが用いられており、これらのハンドラにおいて、
被測定デバイスは、例えば、デバイス収納トレー、パレ
ット、キャリア等と言われるほぼ板状の部品収納部材に
複数収納された状態で取り扱われる。

【０００３】そして、部品収納部材からの部品の搬出及
び部品収納部材への部品の搬入には、例えば、吸着ハン
ド（Ｐ＆Ｐピックアンドプレス）が用いられている。
上記吸着ハンドは、例えば、搬送元の部品収納部材上及
び搬送先の部品収納部材上等を移動自在とされるととも
に、その下端部がデバイスを真空吸着するようになって
いる。従って、吸着ハンドは、その下端部を搬送元の部
品収納部材に収納されたデバイスに近接させた状態でデ
バイスを吸着し、次いで、搬送先の部品収納部材上に吸
着ハンドが移動し、吸着を解除することにより搬送先の
部品収納部材にデバイスを収納するようになっている。

【０００４】そして、上記ハンドラにおいては、例え
ば、ハンドラ内を循環する部品収納部材（パレット）に
他の部品収納部材（デバイス収納トレイ）からデバイス
が搬入されて、デバイスが検査されるようになっている
とともに、検査終了後、部品収納部材に収納されたデバ
イスが検査結果に基づいて分類されて他の部品収納部材
（デバイス収納トレイ）に移されるようになっている。
そして、デバイスが搬出されて空になった部品収納部材
に検査すべきデバイスが再び搬入されて検査されるよう
になっている。そして、何らかの不都合によりデバイス
が全て搬出されたはずの部品収納部材にデバイスが残っ
ていると、測定済みのデバイスと未測定のデバイスが混
在する等の不都合が生じることになる。

【０００５】そこで、従来、図２に示すような残品検出
機構により、デバイスが搬出されて空になっているはず
の部品収納部材に残品があるか否かを検出していた。従
来の残品検出機構においては、図２に示すように、部品
収納部材１の各デバイス収納位置にそれぞれ穴１ａ…が
設けられ、かつ、残品を検出する残品検出装置２側に部
品収納部材の各穴１ａ…に挿入可能な確認用のピン３…
が設けられている。

【０００６】そして、残品検出装置２には、上記ピン３
…と、該ピン３…を支持する支持部材４と、支持部材４
に支持されたピン３…を昇降する昇降手段５…と、ピン
３…の昇降を検知する検知手段６とを有する。そして、
部品収納部材１が空の状態では、各ピン３…が下降した
際に、各ピン３…が部品収納部材１の各穴１ａ…に挿入
され、各ピン３…が大きく下降することになるが、図２
に示すように、部品収納部材１にデバイス７が残ってい
る場合には、デバイスにより穴１ａが塞がれ、ピン３…
が大きく下降できない状態となり、これが検知手段６に
検知されて、残品としてデバイスが残っていることが検
知される。なお、残品検出機構において、穴１ａは必ず
しも必要ではなく、デバイス７の厚みによるピン３の昇
降距離の違いを検知手段６が検知するものとしても良
い。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、この従来の残
品検出機構では、デバイスの品種の違いによるデバイス
の厚みの違いに基づいて、確認用ピンの高さを変更した
り、ピンの昇降を検出する検知手段の位置を調整したり
する必要性が出てくる可能性がある。また、デバイスの
品種の違いによりデバイスの左右幅や前後幅等のサイズ
が違えば、部品収納部材の各デバイスの収納位置が異な
る可能性があり、当然、穴の位置も異なる可能性があ
る。従って、デバイスのサイズが異なる場合には、残品
検出装置のピンの配置等も変えなければならない可能性
がある。

【０００８】すなわち、従来の残品検出機構において
は、複数のピンを用いて、部品収納部材１枚を一括して
確認しているために、デバイスのサイズの違い等に基づ
いて、ピンの配置等を変更するか、ピンの配置の異なる
残品検出装置を用いる必要があり、デバイスの違いによ
り残品検出装置のピンの配置等を変更したり、残品検出
装置自体を交換したりする手間がかかるとともに、ピン
の配置を変更可能な残品検出装置を用いたり、ピンの配
置の異なる残品検出装置を複数用意したりする必要があ
り、コストがかかっていた。またピンによる残品デバイ
スの確認においては、残品デバイスが存在している時、
直接デバイスをピンで押さえつけることとなり、デバイ
スに打痕が残る可能性があった。

【０００９】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、各種サイズの異なるデバイスに対応可能な汎用
性を有するとともに、デバイスに接触することなく、残
品デバイスを検知することができ、また、部品収納部材
一枚を一括して残品検出するものとしなくとも、残品検
出に要する時間を短縮することができる残品検出機構を
提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１記載の
残品検出機構は、部品を複数収納する略板状の部品収納
部材に部品が残っているか否かを検知する残品検出機構
であって、上記部品収納部材に設けられ、かつ、部品が
収納された場合に該部品によって覆われる発光部と、該
発光部の光を検知する受光センサとを備え、上記部品収
納部材の上記発光部上における部品の有無によって異な
る上記受光センサの検知レベルに基づいて上記部品収納
部材に収納された部品の有無を検知することを特徴とす
る。

【００１１】上記構成によれば、部品収納部材に部品が
残っている場合には、発光部が部品により覆われ、発光
部からの光が遮られ、受光センサにおける受光レベルが
低下する。従って、受光センサの検知レベルにより、部
品収納部材に収納される部品の有無を非接触で部品に影
響を与えることなく検知することができ、従来の残品検
出機構のように、部品に打痕が残るようなことがない。

【００１２】また、発光部と受光センサを用いた場合に
は、必ずしも、発光部と受光センサの位置が精密に対応
する必要がなく、有る程度、発光部と受光センサの位置
がずれていても良いので、部品のサイズ等が異なり、部
品収納部材の各部品の収納位置が異なる場合でも対応が
可能である。また、受光センサは、部品に対して非接触
なので、部品の厚みが変わっても、特に受光センサの位
置を変更する必要がない。これらのことから、残品検出
機構を、品種の異なる部品に対応する、より汎用性の高
いものにすることができる。

【００１３】なお、上記部品とは、電気機器や電子機器
で用いられる部品であり、例えば、パッケージされたＩ
Ｃ等の電子部品である。上記部品収納部材とは、例え
ば、オートハンドラ等で使用されるパレット、キャリ
ア、デバイス収納トレイ等である。上記発光部とは、光
を発する部分であるが、発光部自体が光源である必要は
なく、発光部は、光源からの光を透光する透明部材や孔
等の透光可能な部材（部分）、光源からの光を反射する
部材、光を導くことができる光ファイバ等の導光部材等
を用いることができる。また、発光部は、蛍光管や電球
やその他の各種発光体等の光源であっても良い。上記受
光センサとは、フォトトランジスタ、フォトダイオー
ド、ｃｃｄ等の光を検知可能な各種センサを用いること
ができる。また、受光センサの部分からの出力信号は、
検知（受光）レベルを出力するものであっても、受光レ
ベルが適宜のレベルを越えたか否かをオン・オフ信号で
出力するものであっても良い。

【００１４】本発明の請求項２記載の残品検出機構は、
上記請求項１記載の残品検出機構において、各発光部が
上記部品収納部材の各部品を収納する収納位置毎に配置
され、かつ、上記受光センサが部品収納部材上を移動自
在とされることにより、上記受光センサが上記部品収納
部材の各収納位置における部品の有無をそれぞれ検知す
ることを特徴とする。

【００１５】上記構成によれば、部品収納部材の各収納
位置に部品が残っているか否かを部品収納部材上を移動
する受光センサにより検知することができる。そして、
部品収納部材上を受光センサが移動自在なので、部品サ
イズの違い等により部品収納部材上の部品収納位置が異
なっていても、受光センサを移動させることにより対応
させることができる。そして、残品検出機構を、品種の
異なる部品に対応する、より汎用性の高いものにするこ
とができる。なお、受光センサの移動機構は、例えば、
周知のＸＹ座標上を移動させる移動機構を用いることが
できる。

【００１６】本発明の請求項３記載の残品検出機構は、
上記請求項２記載の残品検出機構において、上記部品収
納部材上を移動自在で、かつ、上記部品収納部材の各収
納位置から部品を保持して搬出する部品保持搬送手段が
設けられ、該部品保持搬送手段に上記受光センサが設け
られ、該受光センサが上記部品保持搬送手段に伴って上
記部品収納部材上を移動自在とされていることを特徴と
する。

【００１７】上記構成によれば、受光センサが部品収納
部材上を移動自在な部品保持搬送手段に伴って部品収納
部材上を移動可能となっているので、受光センサを移動
させるための機構を必要とせず、受光センサを部品収納
部材上を移動自在な構成としてもそのためにコストがか
かることがなく、残品検出機構を低コストで実現するこ
とができる。

【００１８】なお、部品保持搬送手段は、基本的に部品
収納部材からの部品の搬出だけではなく、部品収納部材
への部品の搬入にも用いられるものであり、一つの部品
収納部材から他の部品収納部材に部品を移動させるとき
にも用いられるものである。そして、部品保持搬送手段
としては、例えば、真空吸着により部品を吸着できるよ
うになっており、部品収納部材に収納された部品を吸着
して取り出し、そのままＸＹ座標上を移動させられるよ
うになった吸着ハンドが知られている。

【００１９】本発明の請求項４記載の残品検出機構は、
上記請求項３記載の残品検出機構において、上記部品保
持搬送手段に設けられた受光センサが、上記部品保持搬
送手段により部品の搬出が行われる上記部品収納部材の
収納位置に近接し、かつ、上記部品保持搬送手段により
既に部品が搬出された収納位置に設けられた上記発光部
の光を検知できる位置に配置されていることを特徴とす
る。

【００２０】上記構成によれば、上記部品保持搬送手段
に設けられた受光センサが、上記部品保持搬送手段によ
り部品の搬出が行われる収納位置に近接し、かつ、既に
部品が搬出された収納位置に設けられた上記発光部の光
を検知できる位置に配置されているので、部品保持搬送
手段により部品収納部材から部品を搬出しながら、上記
部品収納部材の既に部品が搬出された収納位置に、残品
が無いか否かを検出することができる。

【００２１】すなわち、部品収納部材からの部品の搬出
作業と平衡して同時に残品検出ができるので、部品収納
部材の各収納位置毎に部品の有無を検出するものとして
も、部品の搬出作業中に、大部分の残品検出が行われて
しまうことになる。従って、残品検出作業だけが占める
作業時間は、僅かなものとなり、作業時間の短縮を図る
ことができる。

【００２２】本発明の請求項５記載の残品検出機構は、
上記請求項１〜４のいずれか一つに記載の残品検出機構
において、上記部品収納部材の背面側に光源が配置さ
れ、上記部品収納部材の部品を収納する部品収納位置に
上記部品収納部材の背面側に配置された光源の光を上記
部品収納部材の表面側に透光する透光部が設けられ、該
透光部が上記発光部とされていることを特徴とする。

【００２３】上記構成によれば、発光部が多数有るもの
としても、光源は一つで良く、従って、光源のオン・オ
フを制御する装置も一つで良いので、コストの低減を図
ることができるとともに光源のオン・オフの制御を容易
なものとすることができる。また、消耗品である光源の
メンテナンスを容易なものとすることができる。

【００２４】なお、光源とは、例えば、蛍光管や電球等
であるが、略板状の部品収納部材上に複数設けられた各
収納位置に配置された各透光部（発光部）から略均等に
光を出させるようにするには、光源が面発光するもので
あることが好ましい。また、面発光する光源としては、
例えば、蛍光管と導光板や反射板等を用いた液晶表示装
置用の面状発光装置を用いることができるとともに、複
数の蛍光管からなるものを用いても良い。

【００２５】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態の一
例の残品検出機構を図面を参照して説明する。図１は、
この一例の残品検出機構の概略構成を説明するための概
略図である。なお、この一例の残品検出機構は、例え
ば、オートハンドラにおいて用いられるキャリア、パレ
ット、デバイス収納トレイ等の部品収納部材１１におい
て、残品を検出すために、本発明を応用したものであ
る。

【００２６】図１に示すよに、本発明の残品検出機構
は、部品収納部材１１に設けられた発光部１２と、吸着
ハンド１３に設けられた受光センサ１４とを備えたもの
である。上記部品収納部材１１は、その表面（上面）側
に、縦横に整列された状態に、電子部品であるデバイス
１５を収納するデバイス収納部１１ａ…が配置されてい
る。

【００２７】なお、デバイス収納部１１ａ…は、例え
ば、デバイス１５を収納する部分が図示しない凹部とな
っており、凹部内にデバイス１５を収納できるようにな
っている。また、このデバイス収納部１１ａ…が、部品
を収納する部品収納位置となる。そして、デバイス収納
部１１ａ…の中央部には、それぞれ発光部１２…が設け
られている。

【００２８】該発光部１２…は、それ自体が発光するも
のではなく、後述する光源１６からの光を透光させる孔
となっており、部品収納部材１１の裏面側からの光を表
面側に透光することで、発光部１２…から光が発した状
態となるようになっている。そして、部品収納部材１１
の背面側には、面発光する光源１６が設けられている。
なお、光源１６は、面発光するものが用いられる。ま
た、光源１６は、部品収納部材１１に取り付けられてい
るものとしても良いし、後述する部品収納部材１１から
デバイス１５を搬出する作業を行う場所に光源１６が固
定されているものとしても良い。

【００２９】すなわち、部品収納部材１１からデバイス
１５を搬出する際には、部品収納部材１１が光源１６の
上に配置されるように移動させられるものとしても良
い。このようにすれば、各部品収納部材１１に光源１６
を設ける必要がなく、各部品収納部材１１には、該部品
収納部材１１を上下に貫通した孔である発光部１２…を
設ければ良く、コストの低減を図ることができる。ま
た、光源１６が、面発光するものに限られるものではな
いが、ほぼ板状の部品収納部材１１の全面に分散して存
在する発光部１２…から、ほぼ一様な光を透過させるた
めには、部品収納部材１１の背面のほぼ全体をほぼ一様
に照らすように面発光することが好ましい。

【００３０】上記吸着ハンド１３は、モータによるベル
ト駆動等によって部品収納部材１１上をＸＹ方向に任意
に移動できるとともに上下に昇降できる周知のものであ
る。そして、吸着ハンド１３には、側方に突出した状態
で受光センサ１４が取り付けられている。上記受光セン
サ１４は、その受光部分が下端面側に設けられるととも
に、受光センサ１４として、例えば、フォトトランジス
タを有するものである。

【００３１】そして、受光センサ１４は、部品収納部材
１１の各デバイス収納部１１ａにそれぞれ設けられた発
光部１２からの光を受光した場合に、高い受光レベルの
信号を出力し、上記デバイス収納部１１ａにデバイス１
５が収納されて発光部１２が隠された場合に、低い受光
レベルの信号を出力するようになっている。また、残品
検出機構には、図示しない演算処理部と該演算処理部と
受光センサ１４とを繋ぐアナログ−デジタル変換器及び
インターフェースとを有し、上記受光センサ１４から出
力される信号がインタフェースを介して演算処理部に入
力されるようになっている。そして、演算処理部におい
て、受光センサ１４から入力される受光レベルの高低に
基づいて、部品収納部材１１に残品が有るか否かが判断
されるようになっている。

【００３２】また、演算処理部においては、受光センサ
１４の位置から残品であるデバイスが部品収納部材１１
のどのデバイス収納部１１ａにあるかを判断するものと
しても良い。また、演算処理部は、吸着ハンド１３の移
動と、吸着のオンオフを制御する制御手段を兼ねている
ものとしても良い。

【００３３】また、受光センサ１４の受光部分の中心
と、吸着ハンド１３がデバイスを吸着する部分の中心と
の距離は、部品収納部材１１の互いに隣接するデバイス
収納部１１ａの中心同士の距離とほぼ等しくなってい
る。従って、吸着ハンド１３により、部品収納部材１１
の一つのデバイス収納部１１ａに収納されたデバイス１
５を吸着して搬出する際に、上記デバイス収納部１１ａ
に隣接するデバイス収納部１１ａにおいて、受光センサ
１４がデバイスの有無を検知できるようになっている。

【００３４】そして、吸着ハンド１３により、部品収納
部材１１の各デバイス収納部１１ａに収納されたデバイ
ス１５を順次搬出するものとした場合に、デバイス１５
を搬出する順番を、受光センサ１４が配置される側のデ
バイス収納部１１ａが先に搬出される順番とすることが
好ましい。すなわち、基本的に吸着ハンド１３によりデ
バイス１５が搬出されるデバイス収納部１１ａに隣接
し、かつ、受光センサ１４の位置が対応するデバイス収
納部１１ａが、現在、吸着ハンド１３によりデバイス１
５が搬出されるデバイス収納部１１ａより先にデバイス
１５が搬出された状態となるようにすることが好まし
い。

【００３５】次に、上述のような構成を有する残品検出
機構における残品の検出方法を説明する。例えば、部品
収納部材１１（デバイス収納トレイ）には未測定のデバ
イス１５が収納されているものとする。次にデバイス１
５を搬送するために吸着ハンド１３が部品収納部材１１
の上を移動し、搬送するデバイス１５の上へ到達する。
この状態で吸着ハンド１３はデバイス１５を吸着できる
位置まで下降し、デバイス１５を吸着した時点で上昇
し、次いで、デバイス１５の搬送先まで移動する。そし
て、デバイス１５の搬送先において吸着ハンド１３が吸
着を解除して、デバイスを離す。次いで、デバイス１５
を離した吸着ハンド１３が部品収納部材１１上に戻り、
次ぎに搬出すべきデバイス１５の位置に移動し、上述の
ように再び下降してデバイス１５を吸着する。これらの
動作が部品収納部材１１の全てのデバイス１５を搬送す
るまで繰り返される。

【００３６】そして、この一連の動作にあわせて部品収
納部材１１の残品デバイス１５の有無を残品検出機構に
より確認する。すなわち、上述のように吸着ハンド１３
がデバイス１５を吸着できる位置まで下降する際に、吸
着ハンド１３に取り付けられた受光センサ１４も下降す
ることになるとともに、その時点で部品収納部材１１の
下部全面を照らす光源１６に電源が投入され、光源１６
が発光する。そして、吸着ハンド１３がデバイスの吸着
動作を行うと同時に受光センサ１４は吸着ハンド１３が
吸着したデバイス１５の隣の既に、吸着ハンド１３によ
りデバイス１５が搬出されたはずのデバイス収納部１１
ａの上で、受光レベルを信号として演算処理部に出力す
る。そして、受光センサ１４の直下に配置されたデバイ
ス収納部１１ａに残品デバイス１５が存在しなければ発
光部１２から透過する光源１６の光を検出して高い受光
レベルの信号を出力し、その信号が入力された演算処理
部が残品デバイス無しと判断する。

【００３７】一方、残品デバイス１５が存在した場合は
デバイス収納部１１ａの発光部１２から透過する光源１
６の光が残品デバイス１５によって遮られることによ
り、受光センサ１４が低い受光レベルの信号を出力し、
その信号が入力された演算処理部が残品デバイス有りと
判断する。そして、上述のように受光センサ１４による
光の検知が行われている間に、吸着ハンド１３にデバイ
ス１５が吸着され、吸着ハンド１３が上述のように上昇
し、次いで、搬送先まで移動して搬送先にデバイス１５
をおいて戻り、次ぎのデバイス１５を吸着するととも
に、受光センサ１４による上述のような残品デバイス１
５の検出を行うことになる。

【００３８】そして、これらの一連の動作を、吸着ハン
ド１３が部品収納部材１１のデバイス１５を全て搬送す
るまで繰り返す事により、同時に部品収納部材１１上の
残品デバイス１５の検出を全てのデバイス収納部１１ａ
において行うことができる。なお、吸着ハンド１３によ
るデバイス１５の搬出の少なくとも最初の一回において
は、受光センサ１４による残品デバイス１５の検出はで
きない。また、残品デバイス１５の少なくとも最後の一
回の検出においては、既に、全てのデバイス１５の搬出
が終わっているので、受光センサ１４による残品デバイ
ス１５の検出を単独で行う必要がある。

【００３９】このような残品検出機構によれば、受光セ
ンサ１４により非接触で残品デバイス１５を検出できる
ので、残品デバイス１５の検出により残品デバイスに影
響を与えることがない。また、受光センサ１４は、部品
収納部材１１上を移動自在な吸着ハンド１３に取り付け
られているので、部品収納部材１１の任意の位置に受光
センサ１４を配置することができる。従って、デバイス
１５の品種の違い等によりデバイス１５のサイズが異な
り、部品収納部材１１上のデバイス１５の配置が異なっ
ていても、受光センサ１４の受光位置を変えるだけで良
く、容易にデバイス１５の品種の違いに対応することが
できる。

【００４０】また、上述のように吸着ハンド１３による
デバイス１５の搬出と、受光センサ１４による残品デバ
イス１５の検出とを同時に行うものとした場合には、デ
バイス１５の品種の違いによる部品収納部材１１上の配
置の違いに対応して、吸着ハンド１３の移動経路が設定
され、受光センサ１４は、設定された移動経路に沿って
吸着ハンド１３とともに移動するので、受光センサ１４
の移動経路を新たに設定する必要がない。

【００４１】また、受光センサ１４の位置と発光部１２
の位置が多少ずれても、発光部１２からの光を受光セン
サ１４により検知することができるので、部品収納部材
１１上のデバイス１５の収納位置が多少ずれても、吸着
ハンド１３の吸着位置と受光センサ１４の受光位置との
間隔を変更する必要がない。なお、吸着ハンド１３の吸
着位置と受光センサ１４の受光位置との間隔を変更でき
るように、吸着ハンド１３に受光センサ１４を取り付け
るものとしても良い。

【００４２】以上のことから、この一例の残品検出機構
によれば、デバイスの品種が異なることにより、部品収
納部材上のデバイスの収納位置が異なるものとなって
も、設定を変えたり、残品検出機能の一部の装置を変え
たりする必要がなく、設定の変更や装置の変更にかかる
手間がなく、省力化することができるとともに、異なる
装置を用意する必要がないので、コストの低減を図るこ
とができる。すなわち、デバイスの品種の違いに関係な
く同一の機構で残品検出が可能となる。

【００４３】また、上述のように、デバイス１５の搬出
と残品の検出を同時に行うことができるので、たとえ、
部品収納部材１１上の各デバイス収納部１１ａにおける
残品の検出を一箇所ずつ行うものとしても、残品検出の
ためだけに取られる作業時間を僅かなものとすることが
できる。従って、部品収納部材１１におけるデバイス１
５の搬出作業及び残品検出作業の時間の短縮を図ること
ができる。なお、一つの部品収納部材１１からのデバイ
スの搬出を行う吸着ハンド１３及び受光センサ１４は一
つに限られるものではなく、複数有っても良い。

【００４４】

【発明の効果】本発明の請求項１記載の残品検出機構に
よれば、部品収納部材に部品が残っている場合には、発
光部が部品により覆われ、発光部からの光が遮られ、受
光センサにおける受光レベルが低下する。従って、受光
センサの検知レベルにより、部品収納部材に収納される
部品の有無を非接触で部品に影響を与えることなく検知
することができ、従来の残品検出機構のように、部品に
打痕が残るようなことがない。

【００４５】また、発光部と受光センサを用いた場合に
は、必ずしも、発光部と受光センサの位置が精密に対応
する必要がなく、有る程度、発光部と受光センサの位置
がずれていても良いので、部品のサイズ等が異なり、部
品収納部材の各部品の収納位置が異なる場合でも対応が
可能である。また、受光センサは、部品に対して非接触
なので、部品の厚みが変わっても、特に受光センサの位
置を変更する必要がない。これらのことから、残品検出
機構を、品種の異なる部品に対応する、より汎用性の高
いものにすることができる。

【００４６】本発明の請求項２記載の残品検出機構によ
れば、部品収納部材の各収納位置に部品が残っているか
否かを部品収納部材上を移動する受光センサにより検知
することができる。そして、部品収納部材上を受光セン
サが移動自在なので、部品サイズの違い等により部品収
納部材上の部品収納位置が異なっていても、受光センサ
を移動させることにより対応させることができる。そし
て、残品検出機構を、品種の異なる部品に対応する、よ
り汎用性の高いものにすることができる。

【００４７】本発明の請求項３記載の残品検出機構によ
れば、受光センサが部品収納部材上を移動自在な部品保
持搬送手段に伴って部品収納部材上を移動可能となって
いるので、受光センサを移動させるための機構を必要と
せず、受光センサを部品収納部材上を移動自在な構成と
してもそのためにコストがかかることがなく、残品検出
機構を低コストで実現することができる。

【００４８】本発明の請求項４記載の残品検出機構によ
れば、上記部品保持搬送手段に設けられた受光センサ
が、上記部品保持手段により部品の搬出が行われる収納
位置に近接し、かつ、既に部品が搬出された収納位置に
設けられた上記発光部の光を検知できる位置に配置され
ているので、部品保持搬送手段により部品収納部材から
部品を搬出しながら、上記部品収納部材の既に部品が搬
出された収納位置に、残品が無いか否かを検出すること
ができる。

【００４９】すなわち、部品収納部材からの部品の搬出
作業と平衡して同時に残品検出ができるので、部品収納
部材の各収納位置毎に部品の有無を検出するものとして
も、部品の搬出作業中に、大部分の残品検出が行われて
しまうことになる。従って、残品検出作業だけが占める
作業時間は、僅かなものとなり、作業時間の短縮を図る
ことができる。

【００５０】本発明の請求項５記載の残品検出機構によ
れば、発光部が多数有るものとしても、光源は一つで良
く、従って、光源のオン・オフを制御する装置も一つで
良いので、コストの低減を図ることができるとともに光
源のオン・オフの制御を容易なものとすることができ
る。また、消耗品である光源のメンテナンスを容易なも
のとすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態の一例の残品検出機構を説
明するための概略斜視図である。

【図２】従来の残品検出機構を説明するための概略斜視
図である。

【符号の説明】

１１部品収納部材１１ａデバイス収納部（部品収納位置）１２発光部（透光部）１３吸着ハンド（部品保持搬送手段）１４受光センサ１５デバイス（部品）１６光源

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】部品を複数収納する略板状の部品収納部
材に部品が残っているか否かを検知する残品検出機構で
あって、上記部品収納部材に設けられ、かつ、部品が収納された
場合に該部品によって覆われる発光部と、該発光部の光
を検知する受光センサとを備え、上記部品収納部材の上
記発光部上における部品の有無によって異なる上記受光
センサの検知レベルに基づいて上記部品収納部材に収納
された部品の有無を検知することを特徴とする残品検出
機構。
【請求項２】上記請求項１記載の残品検出機構におい
て、各発光部が上記部品収納部材の各部品を収納する収
納位置毎に配置され、かつ、上記受光センサが部品収納
部材上を移動自在とされることにより、上記受光センサ
が上記部品収納部材の各収納位置における部品の有無を
それぞれ検知することを特徴とする残品検出機構。
【請求項３】上記請求項２記載の残品検出機構におい
て、上記部品収納部材上を移動自在で、かつ、上記部品
収納部材の各収納位置から部品を保持して搬出する部品
保持搬送手段が設けられ、該部品保持搬送手段に上記受
光センサが設けられ、該受光センサが上記部品保持搬送
手段に伴って上記部品収納部材上を移動自在とされてい
ることを特徴とする残品検出機構。
【請求項４】上記請求項３記載の残品検出機構におい
て、上記部品保持搬送手段に設けられた受光センサが、
上記部品保持搬送手段により部品の搬出が行われる上記
部品収納部材の収納位置に近接し、かつ、上記部品保持
搬送手段により既に部品が搬出された収納位置に設けら
れた上記発光部の光を検知できる位置に配置されている
ことを特徴とする残品検出機構。
【請求項５】上記請求項１〜４のいずれか一つに記載
の残品検出機構において、上記部品収納部材の背面側に
光源が配置され、上記部品収納部材の部品を収納する部
品収納位置に上記部品収納部材の背面側に配置された光
源の光を上記部品収納部材の表面側に透光する透光部が
設けられ、該透光部が上記発光部とされていることを特
徴とする残品検出機構。