JP2000068629A - Repair of electrode discontinuity - Google Patents

Repair of electrode discontinuity

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JP2000068629A
JP2000068629A JP23826598A JP23826598A JP2000068629A JP 2000068629 A JP2000068629 A JP 2000068629A JP 23826598 A JP23826598 A JP 23826598A JP 23826598 A JP23826598 A JP 23826598A JP 2000068629 A JP2000068629 A JP 2000068629A
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electrode
conductive paste
repairing
acrylate
paste
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JP23826598A
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Japanese (ja)
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Hisaya Seo
尚也 瀬尾
Fujiko Ide
富士子 井出
Izumi Hikita
いづみ 引田
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Toray Industries Inc
Original Assignee
Toray Industries Inc
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of repairing a discontinued electrode, which coats a paste on a defect part in the electrode and repair the discontinued electrode. SOLUTION: This discontinuity repairing method is a method wherein when a conductive paste is applied on a defect part in an electrode and a continuity of the electrode is restored using the conductive paste in a substrate formed with the electrode using a conductive paste, the restoration of the continuity is achieved by satisfying the relation of 0.01×α<=A<=2×α between the mean grain dismeter A of conductive powder being contained in the conductive paste for resotration and the mean grain diameter αof conductive powder being contained in the conductive paste used for the formation of the electrode.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は電極の断線修復方法
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for repairing a disconnection of an electrode.

【0002】[0002]

【従来の技術】導電性ペーストを用いて電極が形成され
た基板には、その形成過程においてゴミが混入したり、
傷が付いたりした場合、電極が途中で切れてしまう断線
欠陥が生じていた。断線欠陥を修復する方法としては、
例えば特開平9−307217号公報などに記載のよう
に、断線欠陥部に修復用導電ペーストを塗布する方法が
知られている。しかしながら、修復用導電ペーストを断
線欠陥部に塗布した場合、上手く塗れなかったり、塗布
後熱処理したときにクラックが発生するなどの問題があ
った。
2. Description of the Related Art In a substrate on which electrodes are formed by using a conductive paste, dust may be mixed in the formation process,
If the electrode is scratched, a disconnection defect occurs in which the electrode is cut in the middle. As a method of repairing a disconnection defect,
For example, as described in JP-A-9-307217, a method of applying a repairing conductive paste to a disconnection defect is known. However, when the repairing conductive paste is applied to the disconnection defect, there are problems such as poor application and cracking when heat treatment is performed after application.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、基板
上に導電ペーストを用いて形成された電極の断線欠陥
を、簡単に確実に効率よく修復できる電極断線修復方法
を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a method for repairing an electrode disconnection which can easily, reliably and efficiently repair a disconnection defect of an electrode formed on a substrate by using a conductive paste. .

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、導電性
ペーストを用いて電極が形成された基板において、電極
の断線欠陥部に修復用ペーストを用いて修復する場合、
該修復用ペーストに含有される導電性粉末の平均粒子径
Aが、電極を形成するときに用いる導電性ペーストに含
有される導電性粉末の平均粒子径αとの間に以下の関係
を満たすことを特徴とする電極の断線修復方法によって
達成される。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a method for repairing a disconnection defect portion of an electrode using a repair paste on a substrate on which an electrode is formed using a conductive paste.
The average particle diameter A of the conductive powder contained in the repairing paste satisfies the following relationship with the average particle diameter α of the conductive powder contained in the conductive paste used when forming the electrode. This is achieved by a method for repairing disconnection of an electrode characterized by the following.

【0005】0.01×α≦A≦2×α[0005] 0.01 × α ≦ A ≦ 2 × α

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】本発明の導電ペーストは、導電性
粉末と有機成分とを含むものである。発明者等は、上記
のような従来の断線修復方法の問題は、電極の形成に用
いた導電性ペーストに含有される導電性粉末の平均粒子
径と修復用導電ペーストに含有される導電性粉末の平均
粒子径の関係を特定の範囲内にすることにより、解決で
きることを見いだした。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The conductive paste of the present invention contains a conductive powder and an organic component. The inventors have found that the problems of the conventional disconnection repair method as described above are that the average particle diameter of the conductive powder contained in the conductive paste used for forming the electrode and the conductive powder contained in the repairing conductive paste are different. It has been found that the problem can be solved by setting the average particle diameter relationship within a specific range.

【0007】本発明における修復用導電ペーストに含有
される導電性粉末の平均粒子径Aは、電極の形成に用い
た導電性ペーストに含有される導電性粉末の平均粒子径
αとの間に以下の関係を満たすことが必要である。
The average particle size A of the conductive powder contained in the repairing conductive paste according to the present invention is smaller than the average particle size α of the conductive powder contained in the conductive paste used for forming the electrode. It is necessary to satisfy the relationship

【0008】0.01×α≦A≦2×α Aが0.01×αよりも小さいと、ペーストにしたと
き、粒子同士が凝集し均一に粒子が分散したペーストを
得るのが困難になる。その結果、ペーストにムラができ
て断線箇所の電極の端と塗布した箇所との間に段差が生
じやすい。さらに段差が大きいと段差部分に応力が集中
し亀裂、剥がれが生じる。またAが2×αよりも大きく
なると断線欠陥に塗布した時、形成された電極と接する
部分の密着性が悪く、剥離しやすい。さらに電極が薄い
場合、断線箇所の電極の端と塗布した箇所との間に段差
が生じ、誘電体などの膜を積層した時に段差部分に応力
が集中し亀裂、剥がれが生じる。
If A is smaller than 0.01 × α, it becomes difficult to obtain a paste in which the particles are aggregated and the particles are uniformly dispersed. . As a result, unevenness is generated in the paste, and a step is likely to occur between the end of the electrode at the disconnection location and the applied location. Further, when the step is large, stress is concentrated on the step, and cracks and peeling occur. When A is larger than 2 × α, when the coating is applied to the disconnection defect, the adhesiveness of the portion in contact with the formed electrode is poor, and it is easy to peel off. Further, when the electrode is thin, a step is generated between the end of the electrode at the disconnection point and the applied point, and when a film such as a dielectric is laminated, stress concentrates on the step and cracks and peeling occur.

【0009】また本発明における修復用導電ペースト
は、電極の形成に用いた導電ペーストと同一の導電ペー
ストを用いることが好ましい。ここでいう同一の導電ペ
ーストとは、単に導電性粉末の平均粒子径が上記の範囲
内にあるというだけではなく、修復用導電ペーストに含
まれる導電性粉末や有機成分の主要な成分が、電極の形
成に用いた導電ペーストのそれと同一であることを言
う。もちろん、電極の形成に用いた導電ペーストを、そ
のまま修復用導電ペーストとして用いてもかまわない。
同一の導電ペーストを用いることにより、電極と修復用
導電ペーストの密着性がより高くなり、亀裂、剥がれが
生じにくくなる。
The repairing conductive paste in the present invention preferably uses the same conductive paste as the conductive paste used for forming the electrodes. The same conductive paste as referred to herein means that not only the average particle size of the conductive powder is within the above range, but also the main component of the conductive powder and the organic component contained in the repairing conductive paste is an electrode. Is the same as that of the conductive paste used for forming the conductive paste. Of course, the conductive paste used for forming the electrodes may be used as it is as the repairing conductive paste.
By using the same conductive paste, the adhesion between the electrode and the repairing conductive paste is further increased, and cracks and peeling are less likely to occur.

【0010】導電性粉末の形状は、粒状(粒子状)、多
面体状、球状のものが使用できるが、単分散粒子で、凝
集がなく、球状であることが好ましい。この場合、球状
とは球形率が90個数%以上が好ましい。球形率の測定
は、粉末を光学顕微鏡で300倍の倍率にて撮影し、こ
のうち計数可能な粒子を計数し、球形のものの比率を表
した。
The conductive powder may be in the form of particles (particles), polyhedrons, or spheres, but is preferably monodisperse particles, having no aggregation and being spherical. In this case, the spherical shape preferably has a sphericity of 90% by number or more. For the measurement of the sphericity, the powder was photographed with an optical microscope at a magnification of 300 times, and countable particles were counted, and the ratio of spherical particles was represented.

【0011】本発明における修復用導電ペーストに含有
される導電性粉末はAg、Au、Pd、NiおよびPt
の群から選ばれる少なくとも1種を含むものが好まし
く、ガラス基板上に600℃以下の温度で焼き付けでき
る低抵抗の導体粉末が使用される。これらは、単独また
は混合粉末として用いる事ができる。例えばAg(80
−98)−Pd(20−2)、Ag(90−98)−P
d(10−2)−Pt(2−10)、Ag(85−9
8)−Pt(15−2)(以上( )内は重量%を表
す)などの3元系或いは2元系の混合貴金属粉末が用い
られる。
The conductive powder contained in the repairing conductive paste of the present invention is made of Ag, Au, Pd, Ni and Pt.
Preferably, a low-resistance conductor powder that can be baked on a glass substrate at a temperature of 600 ° C. or less is used. These can be used alone or as a mixed powder. For example, Ag (80
-98) -Pd (20-2), Ag (90-98) -P
d (10-2) -Pt (2-10), Ag (85-9)
8) A ternary or binary mixed noble metal powder such as -Pt (15-2) (where the parentheses indicate weight%) are used.

【0012】本発明における修復用導電ペーストは、感
光性導電ペーストである事が望ましい。断線箇所にペー
ストを塗布した後、光を照射することにより固化し、後
工程において取り扱いが容易になるからである。修復用
導電ペーストを感光性にするためには、ペーストに感光
性化合物を含有させればよい。
The repairing conductive paste in the present invention is preferably a photosensitive conductive paste. This is because after application of the paste to the disconnection point, the paste is solidified by irradiating light, and handling in a subsequent step becomes easy. In order to make the repairing conductive paste photosensitive, the paste may contain a photosensitive compound.

【0013】本発明の修復用導電ペーストに使用される
感光性導電ペーストに関しては、感光性化合物の含有率
が有機成分の10重量%以上であることが光に対する感
度の点で好ましい。さらには30重量%以上であること
が好ましい。
With respect to the photosensitive conductive paste used in the repairing conductive paste of the present invention, the content of the photosensitive compound is preferably at least 10% by weight of the organic component from the viewpoint of sensitivity to light. More preferably, it is at least 30% by weight.

【0014】感光性化合物としては、光不溶化型のもの
と光可溶化型のものがあり、光不溶化型のものとして、
(1)分子内に不飽和基などを1つ以上有する官能性の
モノマー、オリゴマーまたはポリマーを含有するもの、
(2)芳香族ジアゾ化合物、芳香族アジド化合物、有機
ハロゲン化合物などの感光性化合物を含有するもの、
(3)ジアゾ系アミンとホルムアルデヒドとの縮合物な
どいわゆるジアゾ樹脂といわれるもの、等がある。
As the photosensitive compound, there are a photo-insolubilizing type and a photo-solubilizing type.
(1) those containing a functional monomer, oligomer or polymer having at least one unsaturated group in the molecule;
(2) those containing photosensitive compounds such as aromatic diazo compounds, aromatic azide compounds, and organic halogen compounds;
(3) So-called diazo resins, such as condensates of diazo-based amines and formaldehyde, and the like.

【0015】また、光可溶型のものとしては、(4)ジ
アゾ化合物の無機塩や有機酸とのコンプレックス、キノ
ンジアゾ類を含有するもの、(5)キノンジアゾ類を適
当なポリマーバインダーと結合させた、例えばフェノー
ル、ノボラック樹脂のナフトキノン1,2−ジアジド−
5−スルフォン酸エステル、等がある。
Examples of the photo-soluble type include (4) a complex of a diazo compound with an inorganic salt or an organic acid, a compound containing a quinonediazo compound, and (5) a quinonediazo compound combined with an appropriate polymer binder. For example, naphthoquinone 1,2-diazide of phenol, novolak resin
5-sulfonic acid ester, and the like.

【0016】本発明においては、上記のすべてを用いる
ことができるが、取り扱いの容易性や品質設計の容易性
においては、上記(1)が好ましい。
In the present invention, all of the above can be used, but the above (1) is preferred in terms of ease of handling and quality design.

【0017】分子内に官能基を有する感光性モノマーの
具体的な例として、メチルアクリレート、エチルアクリ
レート、n−プロピルアクリレート、イソプロピルアク
リレート、n−ブチルアクリレート、sec−ブチルア
クリレート、sec−ブチルアクリレート、イソブチル
アクリレート、tert−ブチルアクリレート、n−ペ
ンチルアクリレート、アリルアクリレート、ベンジルア
クリレート、ブトキシエチルアクリレート、ブトキシト
リエチレングリコールアクリレート、シクロヘキシルア
クリレート、ジシクロペンタニルアクリレート、ジシク
ロペンテニルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリ
レート、グリセロールアクリレート、グリシジルアクリ
レート、ヘプタデカフロロデシルアクリレート、2−ヒ
ドロキシエチルアクリレート、イソボニルアクリレー
ト、2−ヒドロキシプロピルアクリレート、イソデシル
アクリレート、イソオクチルアクリレート、ラウリルア
クリレート、2−メトキシエチルアクリレート、メトキ
シエチレングリコールアクリレート、メトキシジエチレ
ングリコールアクリレート、オクタフロロペンチルアク
リレート、フェノキシエチルアクリレート、ステアリル
アクリレート、トリフロロエチルアクリレート、アリル
化シクロヘキシルジアクリレート、1,4−ブタンジオ
ールジアクリレート、1,3−ブチレングリコールジア
クリレート、エチレングリコールジアクリレート、ジエ
チレングリコールジアクリレート、トリエチレングリコ
ールジアクリレート、ポリエチレングリコールジアクリ
レート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、
ジペンタエリスリトールモノヒドロキシペンタアクリレ
ート、ジトリメチロールプロパンテトラアクリレート、
グリセロールジアクリレート、メトキシ化シクロヘキシ
ルジアクリレート、ネオペンチルグリコールジアクリレ
ート、プロピレングリコールジアクリレート、ポリプロ
ピレングリコールジアクリレート、トリグリセロールジ
アクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレー
ト、アクリルアミド、アミノエチルアクリレートおよび
上記化合物の分子内のアクリレートを一部もしくはすべ
てをメタクリレートに変えたもの、γ−メタクリロキシ
プロピルトリメトキシシラン、1−ビニル−2−ピロリ
ドンなどが挙げられる。
Specific examples of the photosensitive monomer having a functional group in the molecule include methyl acrylate, ethyl acrylate, n-propyl acrylate, isopropyl acrylate, n-butyl acrylate, sec-butyl acrylate, sec-butyl acrylate, isobutyl Acrylate, tert-butyl acrylate, n-pentyl acrylate, allyl acrylate, benzyl acrylate, butoxyethyl acrylate, butoxytriethylene glycol acrylate, cyclohexyl acrylate, dicyclopentanyl acrylate, dicyclopentenyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, glycerol acrylate, Glycidyl acrylate, heptadecafluorodecyl acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate Relate, isobonyl acrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, isodecyl acrylate, isooctyl acrylate, lauryl acrylate, 2-methoxyethyl acrylate, methoxyethylene glycol acrylate, methoxydiethylene glycol acrylate, octafluoropentyl acrylate, phenoxyethyl acrylate, stearyl acrylate, Trifluoroethyl acrylate, allylated cyclohexyl diacrylate, 1,4-butanediol diacrylate, 1,3-butylene glycol diacrylate, ethylene glycol diacrylate, diethylene glycol diacrylate, triethylene glycol diacrylate, polyethylene glycol diacrylate, diglycol Pentaerythritol hex Acrylate,
Dipentaerythritol monohydroxypentaacrylate, ditrimethylolpropanetetraacrylate,
Glycerol diacrylate, methoxylated cyclohexyl diacrylate, neopentyl glycol diacrylate, propylene glycol diacrylate, polypropylene glycol diacrylate, triglycerol diacrylate, trimethylolpropane triacrylate, acrylamide, aminoethyl acrylate and intramolecular acrylates of the above compounds Are partially or entirely changed to methacrylate, γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 1-vinyl-2-pyrrolidone, and the like.

【0018】また、フェニルアクリレート、フェノキシ
エチルアクリレート、ベンジルアクリレート、1−ナフ
チルアクリレート、2−ナフチルアクリレート、ビスフ
ェノールAジアクリレート、ビスフェノールA−エチレ
ンオキサイド付加物のジアクリレート、ビスフェノール
A−プロピレンオキサイド付加物のジアクリレート、1
−ナフチルアクリレート、2−ナフチルアクリレート、
チオフェノールアクリレート、ベンジルメルカプタンア
クリレートなどのアクリレート類、スチレン、p−メチ
ルスチレン、o−メチルスチレン、m−メチルスチレ
ン、α−メチルスチレン、クロロメチルスチレン、ヒド
ロキシメチルスチレンなどのスチレン類、またこれらの
芳香環中の水素原子の一部もしくはすべてを塩素、臭素
原子、ヨウ素あるいはフッ素に置換したしたもの、およ
び上記化合物の分子内のアクリレートの一部もしくはす
べてをメタクリレートに変えたものを用いることができ
る。本発明ではこれらを1種または2種以上使用するこ
とができる。
Also, phenyl acrylate, phenoxyethyl acrylate, benzyl acrylate, 1-naphthyl acrylate, 2-naphthyl acrylate, bisphenol A diacrylate, diacrylate of bisphenol A-ethylene oxide adduct, and diphenol of bisphenol A-propylene oxide adduct Acrylate, 1
-Naphthyl acrylate, 2-naphthyl acrylate,
Acrylates such as thiophenol acrylate and benzyl mercaptan acrylate, styrenes such as styrene, p-methylstyrene, o-methylstyrene, m-methylstyrene, α-methylstyrene, chloromethylstyrene, hydroxymethylstyrene, and fragrances thereof There can be used those obtained by substituting part or all of the hydrogen atoms in the ring with chlorine, bromine atom, iodine or fluorine, and those obtained by substituting part or all of the acrylate in the molecule of the above compound with methacrylate. In the present invention, one or more of these can be used.

【0019】一方、分子内に官能基を有するオリゴマー
やポリマーの例としては、前述のモノマーの内少なくと
も1種類を重合して得られたオリゴマーやポリマーの側
鎖または分子末端に官能基を付加させたものなどを用い
ることができる。アクリル酸アルキルあるいはメタクリ
ル酸アルキルを含むこと、より好ましくは、メタクリル
酸メチルを含むことによって、熱分解性の良好な重合体
を得ることができる。
On the other hand, as an example of an oligomer or polymer having a functional group in the molecule, a functional group is added to a side chain or a molecular terminal of an oligomer or polymer obtained by polymerizing at least one of the aforementioned monomers. Can be used. By containing an alkyl acrylate or an alkyl methacrylate, more preferably by containing methyl methacrylate, a polymer having good thermal decomposability can be obtained.

【0020】好ましい官能基は、エチレン性不飽和基を
有するものである。エチレン性不飽和基としては、ビニ
ル基、アリル基、アクリル基、メタクリル基などがあげ
られる。
Preferred functional groups are those having an ethylenically unsaturated group. Examples of the ethylenically unsaturated group include a vinyl group, an allyl group, an acryl group, and a methacryl group.

【0021】このような官能基をオリゴマーやポリマー
に付加させる方法は、ポリマー中のメルカプト基、アミ
ノ基、水酸基やカルボキシル基に対して、グリシジル基
やイソシアネート基を有するエチレン性不飽和化合物や
アクリル酸クロライド、メタクリル酸クロライドまたは
アリルクロライドを付加反応させて作る方法がある。
A method for adding such a functional group to an oligomer or a polymer is to use an ethylenically unsaturated compound having a glycidyl group or an isocyanate group, an acrylic acid, or a mercapto group, an amino group, a hydroxyl group or a carboxyl group in the polymer. There is a method in which chloride, methacrylic chloride or allyl chloride is added to make an addition reaction.

【0022】グリシジル基を有するエチレン性不飽和化
合物としては、アクリル酸グリシジル、メタクリル酸グ
リシジル、アリルグリシジルエーテル、エチルアクリル
酸グリシジル、クロトニルグリシジルエーテル、クロト
ン酸グリシジルエーテル、イソクロトン酸グリシジルエ
ーテルなどがあげられる。
Examples of the ethylenically unsaturated compound having a glycidyl group include glycidyl acrylate, glycidyl methacrylate, allyl glycidyl ether, glycidyl ethyl acrylate, crotonyl glycidyl ether, glycidyl crotonate, and glycidyl ether isocrotonic acid. .

【0023】イソシアネート基を有するエチレン性不飽
和化合物としては、(メタ)アクリロイルイソシアネー
ト、(メタ)アクリロイルエチルイソシアネート等があ
る。
Examples of the ethylenically unsaturated compound having an isocyanate group include (meth) acryloyl isocyanate and (meth) acryloylethyl isocyanate.

【0024】また、グリシジル基やイソシアネート基を
有するエチレン性不飽和化合物やアクリル酸クロライ
ド、メタクリル酸クロライドまたはアリルクロライド
は、ポリマー中のメルカプト基、アミノ基、水酸基やカ
ルボキシル基に対して0.05〜1モル当量付加させる
ことが好ましい。
The ethylenically unsaturated compound having a glycidyl group or an isocyanate group, acrylic acid chloride, methacrylic acid chloride or allyl chloride is used in an amount of 0.05 to 0.05 to the mercapto group, amino group, hydroxyl group and carboxyl group in the polymer. It is preferable to add one molar equivalent.

【0025】さらにバインダーとして、ポリビニルアル
コール、ポリビニルブチラール、メタクリル酸エステル
重合体、アクリル酸エステル重合体、アクリル酸エステ
ル−メタクリル酸エステル共重合体、α−メチルスチレ
ン重合体、ブチルメタクリレート樹脂などに非感光性の
ポリマーを加えてもよい。
As a binder, non-photosensitive to polyvinyl alcohol, polyvinyl butyral, methacrylate polymer, acrylate polymer, acrylate-methacrylate copolymer, α-methylstyrene polymer, butyl methacrylate resin, etc. A hydrophilic polymer may be added.

【0026】本発明においては、修復用導電ペースト中
にガラスフリットを添加することも好ましい。ガラスフ
リットは導電性粉末をガラス基板上に焼き付ける際にガ
ラス基板との密着性を向上する効果があり、また導電性
粉末を焼結するための焼結助剤として働き、導体抵抗を
下げる効果があるためである。ガラスフリットのガラス
転移温度(Tg)および軟化点(Ts)は、それぞれ4
00〜500℃、450〜550℃であることが好まし
い。好ましくはTgおよびTsがそれぞれ440〜50
0℃、460〜530℃である。Tg、Tsがそれぞれ
400℃、450℃未満では、ポリマーやモノマーなど
の感光性有機化合物が蒸発する前にガラスの焼結が始ま
り、有機化合物の脱バインダーがうまくいかず、焼成後
に残留炭素となり、修復部分の剥がれの原因となり、緻
密かつ低抵抗の導体膜が得られないので好ましくない。
Tg、Tsがそれぞれ500℃、550℃を越えるとガ
ラスフリットでは、600℃以下の温度で焼き付けたと
きに導体膜とガラス基板とで充分な接着強度や緻密な膜
が得られない。
In the present invention, it is preferable to add a glass frit to the repairing conductive paste. The glass frit has the effect of improving the adhesion to the glass substrate when the conductive powder is baked on the glass substrate, and also acts as a sintering aid for sintering the conductive powder and has the effect of lowering the conductor resistance. Because there is. The glass transition temperature (Tg) and softening point (Ts) of the glass frit were 4
The temperature is preferably from 00 to 500 ° C and from 450 to 550 ° C. Preferably, Tg and Ts are each 440 to 50
0 ° C, 460-530 ° C. When Tg and Ts are less than 400 ° C. and 450 ° C., respectively, sintering of the glass starts before the photosensitive organic compound such as a polymer or a monomer evaporates, the debinding of the organic compound does not work well, and the carbon becomes residual carbon after firing. It is not preferable because it causes peeling of the repaired portion and a dense and low-resistance conductor film cannot be obtained.
If Tg and Ts exceed 500 ° C. and 550 ° C., respectively, the glass frit cannot obtain a sufficient adhesive strength or a dense film between the conductive film and the glass substrate when baked at a temperature of 600 ° C. or less.

【0027】ガラスフリットの50〜400℃での熱膨
張係数α50400は、75〜90×10-7/°Kである
ことが好ましい。熱膨張係数がこの範囲でないと、ガラ
ス基板上に焼き付けた導体膜が基板とガラスフリットと
の熱膨張係数の違いによる膜剥がれが冷却時に起こる。
The coefficient of thermal expansion α 50 to 400 at 50 to 400 ° C. of the glass frit is preferably 75 to 90 × 10 −7 / ° K. If the coefficient of thermal expansion is not in this range, the conductor film baked on the glass substrate will be peeled off during cooling due to the difference in the coefficient of thermal expansion between the substrate and the glass frit.

【0028】本発明においては、ガラスフリットの組成
としては、Bi23は30〜95重量%の範囲で配合す
ることが好ましい。30重量%未満の場合は、基板上に
焼き付けた時に、ガラス転移点や軟化点を制御するのに
十分でなく、基板に対する導体膜の接着強度を高めるの
に効果が少ない。また95重量%を越えるとガラスフリ
ットの軟化点が低くなり過ぎてペースト中のバインダー
が蒸発する前にガラスフリットが溶融する。このためペ
ーストの脱バインダ性が悪くなり、導体膜の焼結性が低
下し、また基板との接着強度が低下する。
In the present invention, the composition of the glass frit is preferably such that Bi 2 O 3 is blended in the range of 30 to 95% by weight. When the amount is less than 30% by weight, it is not sufficient to control the glass transition point and the softening point when baked on a substrate, and has little effect in increasing the adhesive strength of the conductive film to the substrate. If it exceeds 95% by weight, the softening point of the glass frit becomes too low, and the glass frit is melted before the binder in the paste evaporates. For this reason, the binder removal property of the paste is deteriorated, the sinterability of the conductor film is reduced, and the adhesive strength with the substrate is reduced.

【0029】さらに、ガラスフリットが、酸化物換算表
記で Bi23 30〜87重量% SiO2 5〜30重量% B23 6〜20重量% ZnO 2〜20重量% の組成を含有することが好ましい。この範囲であると5
50〜600℃で導体膜をガラス基板上に強固に焼き付
けできるガラスフリットが得られる。
Furthermore, the glass frit contains a composition of Bi 2 O 3 30~87 wt% SiO 2 5 to 30 wt% B 2 O 3 having 6 to 20 wt% ZnO 2 to 20% by weight in terms of oxide title Is preferred. Within this range, 5
A glass frit capable of firmly baking a conductive film on a glass substrate at 50 to 600 ° C. is obtained.

【0030】特に、本発明のガラスフリット組成を用い
ると感光性有機成分のゲル化反応を起こしやすいPbO
などを用いずに好ましいガラスフリットを得ることがで
き、ゲル化反応によるペースト粘度上昇などの問題を回
避でき、安定な修復用導電ペーストを得ることができ
る。
In particular, when the glass frit composition of the present invention is used, PbO which is liable to cause a gelling reaction of a photosensitive organic component is obtained.
It is possible to obtain a preferable glass frit without using any of the above, avoid problems such as an increase in paste viscosity due to a gelation reaction, and obtain a stable conductive paste for repair.

【0031】SiO2は5〜30重量%の範囲で配合す
ることが好ましく、5重量%未満の場合は基板上に焼き
付けた時の接着強度の低下やガラスフリットの安定性が
低下する。また30重量%より多くなると耐熱温度が増
加し、600℃以下でガラス基板上に焼き付けが難しく
なる。
The content of SiO 2 is preferably in the range of 5 to 30% by weight, and if it is less than 5% by weight, the adhesive strength when baked on a substrate and the stability of the glass frit are reduced. On the other hand, if it exceeds 30% by weight, the heat-resistant temperature increases, and it becomes difficult to bake on a glass substrate at 600 ° C or lower.

【0032】B23は6〜20重量%の範囲で配合する
ことが好ましい。B23は修復用導電ペーストの電気絶
縁性、接着強度、熱膨張係数などの電気、機械および熱
的特性を損なうことのないように焼き付け温度を550
〜600℃の範囲に制御するために配合される。6重量
%未満では密着強度が低下し、また20重量%を越える
とガラスフリットの安定性が低下する。
It is preferable that B 2 O 3 is blended in the range of 6 to 20% by weight. B 2 O 3 has a baking temperature of 550 so as not to impair the electrical, mechanical and thermal properties of the repairing conductive paste, such as electrical insulation, adhesive strength, and coefficient of thermal expansion.
It is blended to control the temperature in the range of -600 ° C. If it is less than 6% by weight, the adhesion strength will be reduced, and if it exceeds 20% by weight, the stability of the glass frit will be reduced.

【0033】ZnOは2〜20重量%の範囲で配合する
ことが好ましい。2重量%未満では修復用導電ペースト
をガラス基板上に焼き付ける時に、焼き付け温度を制御
する効果が少ない。20重量%を越えるとガラスの耐熱
温度が低くなり過ぎてガラス基板上への焼き付けが難し
くなる。
It is preferable that ZnO is blended in the range of 2 to 20% by weight. When the content is less than 2% by weight, the effect of controlling the baking temperature is small when the repairing conductive paste is baked on a glass substrate. If it exceeds 20% by weight, the heat-resistant temperature of the glass will be too low, and it will be difficult to bake it on a glass substrate.

【0034】ガラスフリット粉末には、銀粉末と反応し
ガラス基板が黄変色する原因やプラズマの放電特性を劣
化させるNa2O、Li2O、K2O、BaO、CaOな
どのアルカリ金属、アルカリ土類金属の酸化物を実質的
に含まないことが好ましい。実質的に含まないとは、
0.5重量%以下、好ましくは、0.1重量%以下であ
る。
The glass frit powder includes alkali metals such as Na 2 O, Li 2 O, K 2 O, BaO, and CaO, which cause the glass substrate to turn yellow by reacting with the silver powder and deteriorate the discharge characteristics of plasma. Preferably, it does not substantially contain an oxide of an earth metal. Substantially not included
It is at most 0.5% by weight, preferably at most 0.1% by weight.

【0035】また、ガラスフリット中にAl23、Ba
O、TiO2、ZrO2などを含有せしめることによって
熱膨張係数、ガラス転移点、軟化点を制御できるが、そ
の量は10重量%未満であることが好ましい。
In the glass frit, Al 2 O 3 , Ba
The thermal expansion coefficient, glass transition point, and softening point can be controlled by incorporating O, TiO 2 , ZrO 2, etc., but the amount is preferably less than 10% by weight.

【0036】感光性導電ペースト中のガラスフリット含
有量としては、1〜4重量%あることが好ましい。より
好ましくは1〜3.5重量%である。ガラスフリットは
電気絶縁性であるので含有量が4重量%を越えると電気
抵抗が増大したりするので好ましくない。また、ガラス
フリットが多くなると10μm以下の薄膜では、導電性
粉末とガラスフリットの熱膨張係数の違いによる膜剥が
れがおこる。また、1重量%未満では、膜とガラス基板
との強固な接着強度が得られにくい。
The content of glass frit in the photosensitive conductive paste is preferably 1 to 4% by weight. More preferably, it is 1 to 3.5% by weight. Since the glass frit is electrically insulating, its content exceeding 4% by weight is not preferable because the electrical resistance increases. Further, when the glass frit increases, in a thin film having a thickness of 10 μm or less, film peeling occurs due to a difference in thermal expansion coefficient between the conductive powder and the glass frit. If it is less than 1% by weight, it is difficult to obtain a strong adhesive strength between the film and the glass substrate.

【0037】本発明に用いられる修復用導電ペースト中
には、必要に応じて光重合開始剤、増感剤、増感助剤、
重合禁止剤、可塑剤、増粘剤、有機溶媒、酸化防止剤、
分散剤、沈殿防止剤などの添加剤成分を加えられる。
In the repairing conductive paste used in the present invention, a photopolymerization initiator, a sensitizer, a sensitizing aid,
Polymerization inhibitor, plasticizer, thickener, organic solvent, antioxidant,
Additive components such as dispersants and suspending agents can be added.

【0038】本発明において、ガラスフリットに加えて
焼結助剤となる金属および/または金属酸化物を添加す
ると、導電性粉末の焼結時に異常粒子成長を回避でき
る、あるいは焼結を遅らせるなどの作用があり、この結
果、導体膜とガラス基板との接着強度をあげるので好ま
しい。そのような酸化物粉末としてCu、Cr、Mo、
AlあるいはNiなどの金属および/または金属酸化物
が使用できる。これらのうちで金属酸化物は電気的に絶
縁物として作用するので添加物の量は少ない方がよく、
3重量%以下である。3重量%を越えると導体膜の電気
抵抗が増加するのでよくない。また、金属酸化物と金属
を併用することも好ましく行われる。
In the present invention, when a metal and / or metal oxide serving as a sintering aid is added in addition to the glass frit, abnormal grain growth can be avoided during sintering of the conductive powder, or sintering can be delayed. This has the effect and, as a result, increases the adhesive strength between the conductor film and the glass substrate, which is preferable. Such oxide powders as Cu, Cr, Mo,
Metals and / or metal oxides such as Al or Ni can be used. Of these, metal oxides act as electrical insulators, so the smaller the amount of additive, the better.
Not more than 3% by weight. If it exceeds 3% by weight, the electric resistance of the conductor film increases, which is not good. It is also preferable to use a metal oxide and a metal together.

【0039】本発明に使用される修復用導電ペーストに
は、溶液の粘度を調整したい場合、有機溶媒を加えてよ
い。このとき使用される有機溶媒としては、メチルセロ
ソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、メチル
エチルケトン、ジオキサン、アセトン、シクロヘキサノ
ン、シクロペンタノン、イソブチルアルコール、イソプ
ロピルアルコール、テトラヒドロフラン、ジメチルスル
フォキシド、γ−ブチロラクトンなどがあげられる。こ
れらの有機溶媒は、単独あるいは2種以上併用して用い
られる。
To adjust the viscosity of the solution, an organic solvent may be added to the repairing conductive paste used in the present invention. Examples of the organic solvent used at this time include methyl cellosolve, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, methyl ethyl ketone, dioxane, acetone, cyclohexanone, cyclopentanone, isobutyl alcohol, isopropyl alcohol, tetrahydrofuran, dimethyl sulfoxide, γ-butyrolactone, and the like. . These organic solvents are used alone or in combination of two or more.

【0040】感光性導電ペーストの好ましい組成として
は、次の範囲で選択するのが良い。 (a)導電性粉末 ;(a)、(b)、(c)の
和に対して84〜94重量% (b)感光性化合物 ;(a)、(b)、(c)の
和に対して15〜5重量% (c)ガラスフリット ;(a)、(b)、(c)の
和に対して1〜4重量% (d)光重合開始剤 ;(b)対して5〜20重量
% 上記においてより好ましくは、(a)、(b)、(c)
の組成が、それぞれ86〜92重量%、11〜7重量
%、1〜3重量%である。この範囲にあると焼成後の導
体膜が低抵抗で、接着強度が高くなるので好ましい。
The preferred composition of the photosensitive conductive paste is preferably selected in the following range. (A) conductive powder; 84 to 94% by weight based on the sum of (a), (b) and (c) (b) photosensitive compound; based on the sum of (a), (b) and (c) (C) glass frit; 1 to 4% by weight based on the sum of (a), (b) and (c); (d) photopolymerization initiator; 5 to 20% by weight relative to (b) % More preferably, (a), (b), (c)
Are 86 to 92% by weight, 11 to 7% by weight, and 1 to 3% by weight, respectively. This range is preferred because the conductor film after firing has a low resistance and a high bonding strength.

【0041】さらに必要に応じて増感剤、光重合促進
剤、可塑剤、分散剤、安定化剤、チキソトロピー剤、沈
殿防止剤を添加し、混合物のスラリーとする。所定の組
成となるように調整されたスラリーはホモジナイザなど
の攪拌機で均質に混合した後、3本ローラや混練機で均
質に分散し、ペーストを作製する。
Further, if necessary, a sensitizer, a photopolymerization accelerator, a plasticizer, a dispersant, a stabilizer, a thixotropic agent, and a precipitation inhibitor are added to form a slurry of the mixture. The slurry adjusted to have a predetermined composition is uniformly mixed with a stirrer such as a homogenizer, and then uniformly dispersed with a three-roller or kneader to produce a paste.

【0042】ペーストの粘度は導電性粉末、有機溶媒、
ガラスフリットの組成・種類、可塑剤、チキソトロピー
剤、沈殿防止剤および有機のレベリング剤などの添加割
合によって適宜調整されるが、その範囲は3rpmにお
いて、5千〜15万cps(センチ・ポイズ)である。
The paste has a viscosity of a conductive powder, an organic solvent,
The composition and type of the glass frit, the addition ratio of the plasticizer, the thixotropic agent, the suspending agent, the organic leveling agent and the like are appropriately adjusted, and the range is 5,000 to 150,000 cps (centipoise) at 3 rpm. is there.

【0043】電極の修復方法は電極の断線欠陥部に修復
用導電ペーストを塗布することによって行われる。その
塗布方法については特に限定されないが (イ)針の先に修復用導電ペーストを付ける (ロ)注射器、ディスペンサーなどを使用し、修復用導
電ペーストを入れた容器からノズルの先に一定量ペース
トを送り出す方法が、簡便で確実に断線欠陥箇所にペー
ストを塗布できるので好ましい。
The electrode is repaired by applying a repairing conductive paste to the disconnection defect portion of the electrode. There is no particular limitation on the method of application. (A) Attaching the conductive paste for repair to the tip of the needle (B) Using a syringe, dispenser, etc., apply a certain amount of paste from the container containing the conductive paste for repair to the tip of the nozzle. The feeding method is preferable because the paste can be easily and reliably applied to the disconnection defect portion.

【0044】次に塗布膜を空気中で焼成する。基板全体
を焼成炉に入れても良いが、ペースト塗布部を局所的に
加熱するのがより簡単で好ましい。加熱方法としては、
ブロアーなどで熱風を吹き付けたり、赤外線を照射して
も良い。また、レーザーを用いてペースト塗布部に集光
させ加熱しても良い。
Next, the coating film is fired in the air. Although the entire substrate may be placed in a firing furnace, it is easier and preferable to locally heat the paste application section. As the heating method,
Hot air may be blown with a blower or infrared rays may be applied. Alternatively, the light may be focused on the paste application section using a laser and heated.

【0045】[0045]

【実施例】以下の実施例で、本発明を具体的に説明す
る。以下に示すA〜Hの材料およびa〜dの手順で電極
の断線欠陥部を修復し、評価した。下記の実施例におい
て、濃度は特に断らない限り全て重量%で表す。
The present invention will be described in detail with reference to the following examples. The disconnection defect of the electrode was repaired and evaluated by the following materials A to H and a to d shown below. In the following examples, all concentrations are expressed by weight% unless otherwise specified.

【0046】実施例1〜7 導電性粉末、およびガラスフリットの粒度分布(平均粒
子径、比表面積、等)は、Leed&Northrup
社のマイクロトラック粒度分析計(9320−HRA)
を用いて測定した。
Examples 1 to 7 The particle size distribution (average particle size, specific surface area, etc.) of the conductive powder and the glass frit was determined by the method of Lead & Northrup.
Microtrac Particle Size Analyzer (9320-HRA)
It measured using.

【0047】A.導電性粉末 Ag粉末;単分散粒状を表1に示す割合(重量部)で添
加した。
A. Conductive powder Ag powder; monodispersed granules were added in proportions (parts by weight) shown in Table 1.

【0048】B.感光性ポリマー(以下、ポリマーと略
す) 40モル%のメタクリル酸(MAA)、30モル%のメ
チルメタクリレート(MMA)及び30モル%のスチレ
ン(St)からなる共重合体にMAAに対して0.4当
量のグリシジルメタクリレート(GMA)を付加反応さ
せたポリマーを表1に示す割合(重量部)で添加した。
B. Photosensitive polymer (hereinafter abbreviated as polymer) A copolymer composed of 40 mol% of methacrylic acid (MAA), 30 mol% of methyl methacrylate (MMA) and 30 mol% of styrene (St) has a content of 0.1% based on MAA. A polymer obtained by addition reaction of 4 equivalents of glycidyl methacrylate (GMA) was added at a ratio (parts by weight) shown in Table 1.

【0049】C.感光性モノマー(以下モノマーと略
す) トリメチロールプロパントリアクリレートを表1に示す
割合(重量部)で添加した。
C. Photosensitive monomer (hereinafter abbreviated as monomer) Trimethylolpropane triacrylate was added in the ratio (parts by weight) shown in Table 1.

【0050】D.ガラスフリット 成分(重量%)酸化ビスマス(46.2)、二酸化珪素
(27.1)、酸化硼素(11.8)、酸化亜鉛(2.
6)、酸化ナトリウム(4.7)、酸化アルミニウム
(2.8)、酸化ジルコニウム(4.8)、平均粒子径
0.9μm、90%粒子径1.7μm、トップサイズ
3.3μm、ガラス転移点;461℃、軟化点;513
℃、50〜400℃の熱膨張係数(α50400);82
×10-7/゜Kのガラスフリットを表1に示す割合(重
量部)で添加した。
D. Glass frit component (% by weight) bismuth oxide (46.2), silicon dioxide (27.1), boron oxide (11.8), zinc oxide (2.
6), sodium oxide (4.7), aluminum oxide (2.8), zirconium oxide (4.8), average particle diameter 0.9 μm, 90% particle diameter 1.7 μm, top size 3.3 μm, glass transition Point: 461 ° C., softening point: 513
° C., the thermal expansion coefficient of 50~400 ℃ (α 50 ~ 400) ; 82
A glass frit of × 10 -7 / ゜ K was added in the ratio (parts by weight) shown in Table 1.

【0051】E.溶媒 γ−ブチロラクトン F.光重合開始剤 2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2
−モルフォリノ−1−プロパノンと2,4−ジエチルチ
オキサントンをポリマーとモノマーとの総和に対して2
0%添加した。
E. Solvent γ-butyrolactone F. Photopolymerization initiator 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2
Morpholino-1-propanone and 2,4-diethylthioxanthone are added to the sum of
0% was added.

【0052】G.可塑剤 ジブチルフタレート(DBP)をポリマーの10%添加
した。
G. Plasticizer Dibutyl phthalate (DBP) was added at 10% of the polymer.

【0053】H.増粘剤 酢酸2−(2−ブトキシエトキシ)エチルに溶解させた
SiO2(濃度15%)をポリマーに対して4%添加し
た。
H. SiO 2 dissolved in the thickener 2- (2-butoxyethoxy) ethyl acetate (concentration 15%) was added 4% relative to the polymer.

【0054】a.有機ビヒクルの作製 溶媒及びポリマーを混合し、攪拌しながら60℃まで加
熱し全てのポリマーを均質に溶解させた。ついで溶液を
室温まで冷却する。
A. Preparation of Organic Vehicle The solvent and the polymer were mixed and heated to 60 ° C. with stirring to dissolve all the polymers homogeneously. Then the solution is cooled to room temperature.

【0055】b.ペースト作製 上記の有機ビヒクルに導電性粉末、ガラスフリット、モ
ノマー、光重合開始剤、可塑剤、増粘剤および溶媒を所
定の組成となるように添加し、3本ローラで混合・分散
してペーストを作製した。
B. Preparation of paste Add conductive powder, glass frit, monomer, photopolymerization initiator, plasticizer, thickener and solvent to the above organic vehicle so as to have a predetermined composition, and mix and disperse with three rollers to paste. Was prepared.

【0056】c.修復 上記のペーストを、先端の形状が平坦に形成された針に
ペーストを付着して電極の断線欠陥部に接触させて塗布
した。その後、塗布したペーストにYAGレーザーを照
射し、該ペーストの焼成を行った。
C. Restoration The above paste was applied by attaching the paste to a needle having a flat tip and making contact with a disconnection defect of the electrode. Thereafter, the applied paste was irradiated with a YAG laser to sinter the paste.

【0057】d.評価 修復後の電極について、修復箇所の段差、亀裂、剥離に
ついて調べた。いずれも、段差はなく、剥離も生じてい
ない。
D. Evaluation The repaired electrode was examined for steps, cracks, and peeling at the repaired location. In each case, there was no step and no peeling occurred.

【0058】比較例1〜3 上記の実施例において表2に示すようなAg粉末を用い
た以外は上記の実施例と同じ条件にてペーストを作製
し、電極の断線欠陥部を修復した。
Comparative Examples 1 to 3 Pastes were prepared under the same conditions as in the above Examples except that Ag powders as shown in Table 2 were used, and the disconnection defects of the electrodes were repaired.

【0059】修復後の電極について、実施例と同様にし
て修復箇所の段差、剥離について調べた。一部では修復
箇所に剥離が生じていた。また、いずれの場合も、段差
が生じており、誘電体層を積層した場合、修復箇所に亀
裂が発生した。
The repaired electrode was examined for steps and peeling at the repaired portion in the same manner as in the example. In some cases, peeling occurred at the repaired part. In each case, a step was generated, and when the dielectric layers were laminated, cracks occurred at the repaired portions.

【0060】[0060]

【表1】 [Table 1]

【0061】[0061]

【表2】 [Table 2]

【0062】[0062]

【発明の効果】高精細で、微細パターンを有する電極の
断線欠陥部を、剥がれたり段差が生じることなく、確実
に修復できる。
According to the present invention, a disconnection defect of an electrode having a high definition and a fine pattern can be surely repaired without peeling or a step.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5C012 AA09 5E343 BB23 BB25 BB44 BB48 BB49 BB72 BB76 BB77 ER51 GG08 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5C012 AA09 5E343 BB23 BB25 BB44 BB48 BB49 BB72 BB76 BB77 ER51 GG08

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】導電ペーストを用いて電極が形成された基
板において、電極の断線欠陥部に修復用導電ペーストを
用いて修復するに際して、該修復用導電ペーストに含有
される導電性粉末の平均粒子径Aが、電極の形成に用い
た導電ペーストに含有される導電性粉末の平均粒子径α
との間に以下の関係を満たすことを特徴とする電極断線
修復方法。 0.01×α≦A≦2×α
1. An average particle size of conductive powder contained in a repairing conductive paste when repairing a disconnection defect portion of an electrode using a repairing conductive paste on a substrate on which an electrode is formed using the conductive paste. The diameter A is the average particle diameter α of the conductive powder contained in the conductive paste used for forming the electrode.
And an electrode disconnection repairing method characterized by satisfying the following relationship. 0.01 × α ≦ A ≦ 2 × α
【請求項2】修復用導電ペーストが、Ag、Au、P
d、NiおよびPtの群から選ばれる少なくとも1種を
含有する導電性粉末を含むものである請求項1に記載の
電極断線修復方法。
2. The repairing conductive paste is made of Ag, Au, P
2. The electrode disconnection repairing method according to claim 1, comprising a conductive powder containing at least one selected from the group consisting of d, Ni and Pt.
【請求項3】修復用導電ペーストが感光性導電ペースト
であることを特徴とする請求項1または2に記載の電極
断線修復方法。
3. The method according to claim 1, wherein the repairing conductive paste is a photosensitive conductive paste.
【請求項4】修復用導電ペーストがガラスフリットを含
有することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載
の電極断線修復方法。
4. The method according to claim 1, wherein the repairing conductive paste contains glass frit.
【請求項5】修復用導電ペーストとして、電極の形成に
用いた導電性ペーストと同一の導電ペーストを使用する
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の電極
断線修復方法。
5. The method according to claim 1, wherein the same conductive paste as that used for forming the electrode is used as the repairing conductive paste.
【請求項6】電極がディスプレイ用電極であることを特
徴とする請求項1〜6記載の電極断線修復方法。
6. The method according to claim 1, wherein the electrode is a display electrode.
【請求項7】電極がプラズマディスプレイ用電極である
ことを特徴とする請求項1〜6記載の電極断線修復方
法。
7. The method according to claim 1, wherein the electrode is an electrode for a plasma display.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7042547B2 (en) * 2003-05-15 2006-05-09 Au Optronics Corp. Method of repairing pit defect and salient defect of electrode pattern
JP2010027660A (en) * 2008-07-15 2010-02-04 Micronics Japan Co Ltd Method and apparatus for repairing wire of circuit board
JP2019212394A (en) * 2018-05-31 2019-12-12 横浜ゴム株式会社 Conductive paste and solar cell

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