JP4413096B2 - Photosensitive conductive paste - Google Patents

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Description

本発明は、セラミックス基板、ガラス基板、耐熱性樹脂基板に微細の配線パターン等を形成する際に使用される感光性導電ペーストに関するものである。   The present invention relates to a photosensitive conductive paste used when a fine wiring pattern or the like is formed on a ceramic substrate, a glass substrate, or a heat resistant resin substrate.

近年の電気電子機器、特にその回路基板には、小型化、高密度化、高精細化、高信頼性が求められているが、これに伴い、厚膜で微細加工可能な感光性導電ペーストが要求されてきている。
そこで、感光性の有機成分と金属粉末とを必須成分とし、金属粉末全量中10〜100質量%の範囲で粒径0.4μm以下の金属微粒子を含有する感光性導電ペーストが提案されている(特許文献1参照)。
特開2004−54085号公報
In recent years, electrical and electronic devices, particularly circuit boards, are required to be smaller, higher density, higher definition, and higher reliability. It has been requested.
Then, the photosensitive electrically conductive paste which has a photosensitive organic component and metal powder as an essential component, and contains metal microparticles with a particle size of 0.4 micrometer or less in the range of 10-100 mass% in the total amount of metal powder is proposed ( Patent Document 1).
JP 2004-54085 A

従来の感光性導電ペーストは、ある程度の厚膜化と微細加工が可能になるものの、熱処理温度の範囲を広くすることができず、製法の自由度を高めることができないという問題がある。また、金属微粒子が十分に接触しないおそれがあるので、信頼性の向上を図ることができないという大きな問題もある。   Although the conventional photosensitive conductive paste can be thickened and finely processed to some extent, there is a problem that the range of the heat treatment temperature cannot be widened and the degree of freedom of the manufacturing method cannot be increased. In addition, since there is a possibility that the metal fine particles do not contact sufficiently, there is a big problem that the reliability cannot be improved.

本発明は上記に鑑みなされたもので、熱処理温度の範囲を広くすることができ、金属粒子を十分に接触させて信頼性の向上を図ることのできる感光性導電ペーストを提供することを目的としている。   The present invention has been made in view of the above, and it is an object of the present invention to provide a photosensitive conductive paste capable of widening the range of the heat treatment temperature and improving the reliability by sufficiently contacting metal particles. Yes.

本発明においては上記課題を解決するため、紫外線と電子線のいずれか一方の照射により現像液に対して不溶化する第一のバインダーと、この第一のバインダーの熱分解温度よりも50℃以上熱分解温度が高い第二のバインダーと、平均粒径が0.05〜0.5μmの金属粒子とを含み、
第二のバインダーを、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド系樹脂、ポリエーテルイミド系樹脂、及びこれらの前駆体のみから調製するとともに、第一のバインダーに対する第二のバインダーの配合比を金属粒子のタップ空隙率以下とし、
金属粒子のアスペクト比を1.0〜1.5とし、この金属粒子の平均粒径±0.05μmの範囲に含まれる割合を30質量%以上としたことを特徴としている。
In the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, a first binder that is insolubilized in the developer by irradiation with either ultraviolet rays or electron beams, and a heat of 50 ° C. or more than the thermal decomposition temperature of the first binder. A second binder having a high decomposition temperature, and metal particles having an average particle diameter of 0.05 to 0.5 μm,
The second binder is prepared from only a polyimide resin, a polyamideimide resin, a polyetherimide resin, and their precursors, and the mixing ratio of the second binder to the first binder is determined by the tap porosity of the metal particles. And
The aspect ratio of the metal particles is 1.0 to 1.5, and the ratio of the average particle diameter of the metal particles in the range of ± 0.05 μm is 30% by mass or more.

ここで、特許請求の範囲における第一のバインダーは、紫外線(UV)の照射により硬化して現像液に対して不溶化するものでも良いし、電子線(EB)の照射により硬化して現像液に対して不溶化するものでも良い。タップ空隙率とは、金属粒子のタップ密度を金属の真密度で除した値を1から減算した値をいう。感光性導電ペーストは、少なくともコンピュータ、PCカード、携帯電話、携帯端末、カラーテレビのセラミックス基板、ガラス基板、耐熱性樹脂基板、回路基板等に使用される。この感光性導電ペーストには、増感剤、重合禁止剤、レベリング剤、分散剤、増粘剤、沈殿防止剤等が必要に応じて添加される。   Here, the first binder in the claims may be cured by irradiation with ultraviolet rays (UV) and insolubilized in the developer, or cured by irradiation with electron beams (EB) to form the developer. It may be insolubilized. The tap porosity is a value obtained by subtracting from 1 a value obtained by dividing the tap density of the metal particles by the true density of the metal. The photosensitive conductive paste is used at least for computers, PC cards, mobile phones, mobile terminals, color television ceramic substrates, glass substrates, heat resistant resin substrates, circuit boards, and the like. A sensitizer, a polymerization inhibitor, a leveling agent, a dispersant, a thickener, a precipitation inhibitor, and the like are added to this photosensitive conductive paste as necessary.

本発明によれば、熱処理温度の設定範囲を広くすることができ、しかも、金属粒子を十分に接触させて信頼性を向上させることができるという効果がある。また、第二のバインダーの容量を金属粒子のタップ空隙率以下として金属粒子を確実に接触させるので、低抵抗化が可能になる。 According to the present invention, there is an effect that the setting range of the heat treatment temperature can be widened, and the reliability can be improved by sufficiently contacting the metal particles . Moreover, since the capacity | capacitance of a 2nd binder is made into the tap porosity of a metal particle or less and a metal particle is made to contact reliably, resistance reduction is attained.

以下、本発明の好ましい実施の形態を説明すると、本実施形態における感光性導電ペーストは、紫外線の照射により現像液に対して不溶化する光硬化性のバインダー1(第一のバインダー)と、このバインダー1の熱分解温度よりも50℃以上熱分解温度が高い耐熱性のバインダー2(第二のバインダー)と、熱機械分析(TMA)の融着開始温度が300℃以下の金属粒子とを必須成分とし、微細の配線パターン形成の際に焼成等の熱処理が施される。   Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described. The photosensitive conductive paste in the present embodiment includes a photocurable binder 1 (first binder) that is insolubilized in a developer upon irradiation with ultraviolet rays, and the binder. A heat-resistant binder 2 (second binder) having a thermal decomposition temperature higher by 50 ° C. or higher than the thermal decomposition temperature of 1 and metal particles having a fusion start temperature of 300 ° C. or lower in thermomechanical analysis (TMA) And heat treatment such as firing is performed when forming a fine wiring pattern.

バインダー1の分解温度、バインダー2の分解温度、及び熱処理温度は、バインダー1の分解温度<熱処理温度<バインダー2の分解温度の関係に設定される。   The decomposition temperature of the binder 1, the decomposition temperature of the binder 2, and the heat treatment temperature are set such that the decomposition temperature of the binder 1 <the heat treatment temperature <the decomposition temperature of the binder 2.

バインダー1は、水、アルカリ性水溶液、溶剤等により現像することができる紫外線硬化型の樹脂組成物、好ましくは解像度や作業性の観点からアルカリ性水溶液により現像可能な樹脂組成物からなり、焼成等の熱処理時に除去される。このような樹脂組成物からなるバインダー1は、アルカリ可溶性樹脂、不飽和二重結合を有する架橋性モノマー又はオリゴマー、光重合開始剤により調製される。   The binder 1 is made of an ultraviolet curable resin composition that can be developed with water, an alkaline aqueous solution, a solvent, or the like, preferably a resin composition that can be developed with an alkaline aqueous solution from the viewpoint of resolution and workability, and heat treatment such as baking. Sometimes removed. The binder 1 comprising such a resin composition is prepared from an alkali-soluble resin, a crosslinkable monomer or oligomer having an unsaturated double bond, and a photopolymerization initiator.

アルカリ可溶性樹脂としては、例えばカルボン酸のような酸性基とエチレン性不飽和基を有するアクリル系共重合体が最適である。酸性基の成分としては、アクリル酸、メタクリル酸、コハク酸2−メタクリロイルオキシエチル、コハク酸2−アクリロイルオキシエチル、フタル酸2−メタクリロイルオキシエチル、フタル酸2−アクリロイルオキシエチル等があげられる。   As the alkali-soluble resin, for example, an acrylic copolymer having an acidic group such as carboxylic acid and an ethylenically unsaturated group is optimal. Examples of the acidic group component include acrylic acid, methacrylic acid, 2-methacryloyloxyethyl succinate, 2-acryloyloxyethyl succinate, 2-methacryloyloxyethyl phthalate, 2-acryloyloxyethyl phthalate, and the like.

エチレン性不飽和成分としては、メチルアクリレート、メチルメタクリレート、エチルアクリレート、エチルメタクリレート、n−プロピルアクリレート、n−プロピルメタクリレート、イソプロピルアクリレート、イソプロピルメタクリレート、n−ブチルアクリレート、n−ブチルメタクリレート、sec−ブチルアクリレート、sec−ブチルメタクリレート、イソブチルアクリレート、イソブチルメタクリレート、tert−ブチルアクリレート、tert−ブチルメタクリレート、アリルアクリレート、アリルメタクリレート、ベンジルアクリレート、ベンジルメタクリレート、シクロヘキシルアクリレート、シクロヘキシルメタクリレート等があげられる。   As ethylenically unsaturated components, methyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl acrylate, ethyl methacrylate, n-propyl acrylate, n-propyl methacrylate, isopropyl acrylate, isopropyl methacrylate, n-butyl acrylate, n-butyl methacrylate, sec-butyl acrylate , Sec-butyl methacrylate, isobutyl acrylate, isobutyl methacrylate, tert-butyl acrylate, tert-butyl methacrylate, allyl acrylate, allyl methacrylate, benzyl acrylate, benzyl methacrylate, cyclohexyl acrylate, cyclohexyl methacrylate and the like.

なお、アルカリ可溶性樹脂は、アルカリ現像性を損なわない範囲で上記成分と他のモノマーとの種々の共重合体を使用することができる。   As the alkali-soluble resin, various copolymers of the above components and other monomers can be used as long as the alkali developability is not impaired.

不飽和二重結合を有する架橋性モノマーは、少なくとも1のエチレン性不飽和二重結合を有する化合物であり、光照射により光重合開始剤から発生したラジカルで反応し、アルカリ現像液に対する溶解性を低下させてパターンを形成する。   The crosslinkable monomer having an unsaturated double bond is a compound having at least one ethylenically unsaturated double bond, reacts with a radical generated from a photopolymerization initiator by light irradiation, and has a solubility in an alkali developer. Reduce to form a pattern.

具体的には、アリルアクリレート、ベンジルアクリレート、ブトキシエチルアクリレート、ブトキシエチレングリコールアクリレート、シクロヘキシルアクリレート、ジシクロペンタニルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、グリセロールアクリレート、グリシジルアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、2−ヒドロキシプロピルアクリレート、イソボニルアクリレート、イソオクチルアクリレート、ラウリルアクリレート、2−メトキシアクリレート、メトキシエチレングリコールアクリレート、フェノキシエチルアクリレート、ステアリルアクリレート、エチレングリコールジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、1,4−ブタンジオールジアクリレート、1,5−ペンタンジオールジアクリレート、1,6−ヘキサンジオールジアクリレート、1,3−プロパンジオールジアクリレート、1,4−シクロヘキサンジオールジアクリレート、2,2−ジメチロールプロパンジアクリレート、グリセロールジアクリレート、トリプロピレングリコールジアクリレート、グリセロールトリアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、エチレンオキサイド変性ペンタエリスリトールテトラアクリレート、プロピレンオキサイド変性ペンタエリスリトールトリアクリレート、トリエチレングリコールジアクリレート、ポリオキシプロピルトリメチロールプロパントリアクリレート、ブチレングリコールジアクリレート、1,2,4−ブタントリオールトリアクリレート、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオ−ルジアクリレート、1,10−デカンジオールジメチルアクリレート、ペンタエリスリトールヘキサアクリレート及び上記アクリレートをメタクリレートに置き換えたもの、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシプラン、1−ビニル−2−ピロドリン等があげられる。なお、上記架橋性モノマーを2種以上組み合わせても良い。   Specifically, allyl acrylate, benzyl acrylate, butoxyethyl acrylate, butoxyethylene glycol acrylate, cyclohexyl acrylate, dicyclopentanyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, glycerol acrylate, glycidyl acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxypropyl Acrylate, isobornyl acrylate, isooctyl acrylate, lauryl acrylate, 2-methoxy acrylate, methoxyethylene glycol acrylate, phenoxyethyl acrylate, stearyl acrylate, ethylene glycol diacrylate, diethylene glycol diacrylate, 1,4-butanediol diacrylate, 1, 5-Pentanediol Diacryl 1,6-hexanediol diacrylate, 1,3-propanediol diacrylate, 1,4-cyclohexanediol diacrylate, 2,2-dimethylolpropane diacrylate, glycerol diacrylate, tripropylene glycol diacrylate, Glycerol triacrylate, trimethylolpropane triacrylate, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol tetraacrylate, ethylene oxide modified pentaerythritol tetraacrylate, propylene oxide modified pentaerythritol triacrylate, triethylene glycol diacrylate, polyoxypropyltrimethylolpropane triacrylate , Butylene glycol diacrylate, 1,2,4-butane Riol triacrylate, 2,2,4-trimethyl-1,3-pentanediol diacrylate, 1,10-decanediol dimethyl acrylate, pentaerythritol hexaacrylate and the above acrylate replaced with methacrylate, γ-methacryloxypropyl tri Examples include methoxyplan, 1-vinyl-2-pyrodrine and the like. Two or more kinds of the crosslinkable monomers may be combined.

光重合剤は、通常のネガタイプのフォトリソグラフに使用することができるのであれば、特に限定されるものではない。具体的には、ベンゾフェノン、o−ベンゾイル安息香酸メチル、4−ジメチルアミノ安息香酸メチル、4,4−ビス(ジメチルアミン)ベンゾフェノン、4,4−ビス(ジエチルアミン)ベンゾフェノン、α−アミノアセトフェノン、4,4−ジクロロベンゾフェノン、4−ベンゾイル−4−メチルジフェニルケトン、ジベンジルケトン、1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニル−ケトン、フルオレソン、2,2−ジエトキシアセトフェノン、2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、p−t−ブチルジクロロアセトフェノン、チオキサントン、2−メチルチオキサントン、2−クロロチオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン、ジエチルチオキサントン、ベンジルジメチルケタール、ベンジル−メトキシエチルアセタール、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインブチルエーテル、アントラキノン、2−t−ブチルアントラキノン、2−アミルアントラキノン、β−クロロアントラキノン、アントロン、ベンズアントロン、ジベンゾスベロン、メチレンアントロン、4−アジトベンザルアセトフェノン、2,6−ビス(p−アジドベンジリデン)シクロヘキサノン、2,6−ビス(p−アジドベンジリデン)−4−メチルシクロヘキサノン、2−フェニル−1,2ブタジオン−2−(o−メトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−プロパンジオン−2−(o−エトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−プロパンジオン−2−(o−エトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−3−エトキシ−プロパントリオン−2−(o−ベンゾイル)オキシム、ミヒラ−ケトン、2メチル−1〔4−(メチルチオ)フェニル〕−2−モルフォリノプロパン−1−オン、ナフタレンスルフォニルクロライド、キノリンスルフォニルクロライド、N−フェニルチオアクドリン、4,4−アゾビスイソブチロニトリル、ジフェニルジスルフィド、ベンズチアゾールスルフィド、トリフェニルフォスフィン、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルフォスフィンオキサイド、カンファーキノン等であるが、2種以上併用することも可能である。   The photopolymerization agent is not particularly limited as long as it can be used for an ordinary negative photolithograph. Specifically, benzophenone, methyl o-benzoylbenzoate, methyl 4-dimethylaminobenzoate, 4,4-bis (dimethylamine) benzophenone, 4,4-bis (diethylamine) benzophenone, α-aminoacetophenone, 4, 4-dichlorobenzophenone, 4-benzoyl-4-methyldiphenyl ketone, dibenzyl ketone, 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl-ketone, fluoresson, 2,2-diethoxyacetophenone, 2,2-dimethoxy-1,2-diphenyl Ethan-1-one, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one, pt-butyldichloroacetophenone, thioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2-isopropylthioxanthone, diethylthio Xanthone, benzyldimethyl ketal, benzyl-methoxyethyl acetal, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin butyl ether, anthraquinone, 2-t-butylanthraquinone, 2-amylanthraquinone, β-chloroanthraquinone, anthrone, benzanthrone, dibenzosuberone, methylene Anthrone, 4-azitobenzalacetophenone, 2,6-bis (p-azidobenzylidene) cyclohexanone, 2,6-bis (p-azidobenzylidene) -4-methylcyclohexanone, 2-phenyl-1,2-butadion-2- (O-methoxycarbonyl) oxime, 1-phenyl-propanedione-2- (o-ethoxycarbonyl) oxime, 1-phenyl-propanedione-2- (o-ethoxycarbonyl) o Shim, 1-phenyl-3-ethoxy-propanetrione-2- (o-benzoyl) oxime, mihira-ketone, 2methyl-1 [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropan-1-one, naphthalene Sulfonyl chloride, quinoline sulfonyl chloride, N-phenylthioacdrine, 4,4-azobisisobutyronitrile, diphenyl disulfide, benzthiazole sulfide, triphenylphosphine, bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) -phenyl Although it is phosphine oxide, camphorquinone, etc., it is also possible to use 2 or more types together.

なお、紫外線の透過が阻害されるおそれがある場合には、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルフォスフィンオキサイド、あるいは2−メチル−1〔4−(メチルチオ)フェニル〕−2−モルフォリノプロパン−1−オンを使用することが好ましい。さらにこれらに、1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニル−ケトン、又は2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オンを併用すると良い。   When there is a possibility that the transmission of ultraviolet rays may be inhibited, bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) -phenylphosphine oxide or 2-methyl-1 [4- (methylthio) phenyl] -2- Preferably morpholinopropan-1-one is used. Further, 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl-ketone or 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one may be used in combination.

バインダー1は、熱質量分析における5%質量減少温度が200〜350℃の範囲とされる。これは、200℃未満の場合には、金属粒子の融着に基づく高い導電性を得ることが困難になるからである。逆に、350℃を超える場合には、バインダー2の使用範囲が狭くなり、本実施形態の製造方法の実施範囲が狭まるからである。   The binder 1 has a 5% mass reduction temperature in the range of 200 to 350 ° C. in thermal mass spectrometry. This is because when the temperature is lower than 200 ° C., it is difficult to obtain high conductivity based on fusion of metal particles. Conversely, when it exceeds 350 ° C., the use range of the binder 2 is narrowed, and the implementation range of the manufacturing method of the present embodiment is narrowed.

バインダー2は、バインダー1との関係で選択され、配合比(容量)が金属粒子のタップ空隙率以下とされる。このバインダー2は、質量減少温度の差が大きいほど好ましく、この観点からするとポリイミド樹脂、ポリアミドイミド系樹脂、ポリエーテルイミド系樹脂、及びこれらの前駆体が使用される。タップ空隙率とは、金属粒子のタップ密度をその金属の真密度で除した値を1から減算した値をいう。例えば、タップ密度が6.0g/cm3の銀粒子の場合、銀の真密度は10.5g/cm3であるから、タップ空隙率は0.429(=42.9%)となる。 The binder 2 is selected in relation to the binder 1, and the blending ratio (capacity) is set to be equal to or less than the tap porosity of the metal particles. The binder 2 preferably has a larger difference in mass decrease temperature. From this viewpoint, a polyimide resin, a polyamideimide resin, a polyetherimide resin, and a precursor thereof are used. The tap porosity is a value obtained by subtracting from 1 a value obtained by dividing the tap density of metal particles by the true density of the metal. For example, in the case of silver particles having a tap density of 6.0 g / cm 3 , since the true density of silver is 10.5 g / cm 3 , the tap porosity is 0.429 (= 42.9%).

金属粒子は、高い導電率を有する金や銀の粒子が使用され、特に入手の容易性、導電性、耐酸化性に優れる低コストの銀粒子が好適に使用される。この金属粒子は、各種の分散剤により表面処理され、二次凝集の生じないことが好ましい。分散剤は、熱処理工程で分解、揮発するタイプが好ましい。   As the metal particles, gold or silver particles having high conductivity are used, and particularly low-cost silver particles having excellent availability, conductivity, and oxidation resistance are preferably used. The metal particles are preferably surface-treated with various dispersants and do not cause secondary aggregation. The dispersant is preferably of a type that decomposes and volatilizes in the heat treatment step.

金属粒子が銀粒子の場合、この銀粒子は、樹脂等の選択範囲が狭まらないよう平均粒径がレーザ回析法に基づく測定で0.05〜0.5μmの範囲に調整されるとともに、アスペクト比(aspect ratio)が1.0〜1.5の略球形に形成され、平均粒径±0.05μmの範囲に含まれる割合が30質量%以上に設定される。   When the metal particles are silver particles, the silver particles are adjusted to have an average particle diameter of 0.05 to 0.5 μm as measured based on the laser diffraction method so that the selection range of the resin and the like is not narrowed. The aspect ratio (aspect ratio) is formed into a substantially spherical shape of 1.0 to 1.5, and the ratio of the average particle size in the range of ± 0.05 μm is set to 30% by mass or more.

金属粒子の平均粒径が0.05〜0.5μmの範囲なのは、平均粒径が0.05μm未満の場合には、導電性を確保するために添加量を増加する必要があるからである。逆に、平均粒径が0.5μmを超える場合には、光透過率に悪影響を与え、微細なパターンを得ることができなくなるからである。また、金属粒子同士の融着による導通を得るために高温を要するからである。   The reason why the average particle diameter of the metal particles is in the range of 0.05 to 0.5 μm is that when the average particle diameter is less than 0.05 μm, it is necessary to increase the amount of addition in order to ensure conductivity. Conversely, when the average particle diameter exceeds 0.5 μm, the light transmittance is adversely affected and a fine pattern cannot be obtained. Moreover, it is because high temperature is required in order to obtain conduction by fusion of metal particles.

金属粒子のアスペクト比が1.0〜1.5なのは、この範囲からアスペクト比が逸脱すると、光透過率が悪化し、微細なパターンを形成することが困難になるという理由に基づく。このアスペクト比の測定に際しては、金属粒子を適当な分散媒に分散させて顕微鏡等により拡大観察し、個々の粒子の長径と短径を計測し、アスペクト比=長径/短径により算出した値の平均値とする。   The reason why the aspect ratio of the metal particles is 1.0 to 1.5 is based on the reason that when the aspect ratio deviates from this range, the light transmittance deteriorates and it becomes difficult to form a fine pattern. In measuring this aspect ratio, the metal particles are dispersed in a suitable dispersion medium and magnified and observed with a microscope or the like, the major axis and minor axis of each particle are measured, and the aspect ratio is calculated using the ratio of major axis / minor axis. Average value.

金属粒子の粒径バラツキは、平均粒径±0.5μmの範囲に含まれる割合が30質量%以下であるのが好ましい。これは、金属粒子の粒径バラツキが係る範囲を超える場合には、大きな金属粒子間に小さな金属粒子が侵入し、良好な光透過率を得ることが困難になるという理由に基づく。金属粒子の融着開始温度と熱処理温度は、金属粒子の融着開始温度<熱処理温度の関係に設定される。   As for the particle size variation of the metal particles, it is preferable that the ratio included in the range of the average particle size ± 0.5 μm is 30% by mass or less. This is based on the reason that when the particle size variation of the metal particles exceeds the range, small metal particles enter between the large metal particles, and it becomes difficult to obtain good light transmittance. The fusion start temperature of metal particles and the heat treatment temperature are set such that the fusion start temperature of metal particles <the heat treatment temperature.

このような感光性導電ペーストを使用してガラス基板の表面に微細の配線パターンを形成する場合には、先ず、ガラス基板の表面に感光性導電ペーストをスクリーン印刷法等により塗布し、所定の時間加熱して乾燥させ、ネガタイプのマスクを介して露光し、アルカリ水溶液等を現像液として現像する。こうして現像液による現像が終了してパターン形成したら、水洗いを施して乾燥させ、プログラマブルオーブン、電気炉、ベルト炉により焼成して所定の時間保持し、その後、冷却すれば、ガラス基板の表面に完全な微細の配線パターンを形成することができる。   When using such a photosensitive conductive paste to form a fine wiring pattern on the surface of a glass substrate, first, the photosensitive conductive paste is applied to the surface of the glass substrate by a screen printing method or the like, for a predetermined time. It is heated and dried, exposed through a negative type mask, and developed with an alkaline aqueous solution or the like as a developer. When development with the developer is completed and the pattern is formed in this way, it is washed with water and dried, baked in a programmable oven, electric furnace, belt furnace, held for a predetermined time, and then cooled down to completely adhere to the surface of the glass substrate. A fine wiring pattern can be formed.

上記によれば、バインダー1、2の熱分解温度差を50℃以上とするので、熱処理温度の設定範囲を広くすることができ、バインダー1のみを除去する条件をきわめて容易に得ることができる。また、紫外線の照射により硬化させるので、露光現像により線幅20μm以下のファインパターンを得ることができる。また、感光性導電ペーストに耐熱性のバインダー2を配合し、熱処理後も残留させるので、高い信頼性を得ることが可能になる。また、バインダー2の容量を金属粒子のタップ空隙率以下として金属粒子を確実に接触させるので、低抵抗化が可能になる。   According to the above, since the thermal decomposition temperature difference between the binders 1 and 2 is 50 ° C. or more, the setting range of the heat treatment temperature can be widened, and the conditions for removing only the binder 1 can be obtained very easily. Moreover, since it hardens | cures by irradiation of an ultraviolet-ray, a fine pattern with a line | wire width of 20 micrometers or less can be obtained by exposure development. Moreover, since the heat-resistant binder 2 is mix | blended with the photosensitive electrically conductive paste and it remains after heat processing, it becomes possible to obtain high reliability. Moreover, since the capacity | capacitance of the binder 2 is made into the tap porosity of a metal particle or less, and a metal particle is made to contact reliably, resistance reduction is attained.

さらに、金属粒子を銀粒子とし、この銀粒子の平均粒径を0.05〜0.5μmとするので、従来の500℃〜800℃のような高温ではなく、300℃以下の低温の熱処理で銀粒子が融着して導通し、1×105Ω・cm以下の低抵抗を得ることが可能になる。この際、バインダー1が分解除去され、体積減少するので、銀粒子の接触の機会を著しく増加させることができ、これにより高信頼性が大いに期待できる。さらにまた、300℃以下の低温で銀粒子が融着するので、大型かつ高価な加熱装置を何ら必要とせず、昇温や冷却に長時間を要することもない。 Furthermore, since the metal particles are silver particles, and the average particle diameter of the silver particles is 0.05 to 0.5 μm, the heat treatment is performed at a low temperature of 300 ° C. or less instead of the conventional high temperature of 500 ° C. to 800 ° C. Silver particles are fused and conducted, and a low resistance of 1 × 10 5 Ω · cm or less can be obtained. At this time, since the binder 1 is decomposed and removed and the volume is reduced, the chance of contact with the silver particles can be remarkably increased, and thus high reliability can be greatly expected. Furthermore, since the silver particles are fused at a low temperature of 300 ° C. or lower, no large and expensive heating device is required, and a long time is not required for temperature rise or cooling.

以下、本発明に係る感光性導電ペーストの実施例を比較例と共に説明する。
実施例と比較例の感光性導電ペーストをそれぞれ製造するとともに、これらを使用して実施例1〜7のテストパターンと比較例1〜4のテストパターンをそれぞれ作製し、これらに関する解像度、抵抗値、耐剥離性を評価して表1にまとめた。
Examples of the photosensitive conductive paste according to the present invention will be described below together with comparative examples.
While producing the photosensitive electrically conductive paste of an Example and a comparative example, respectively, using these, the test pattern of Examples 1-7 and the test pattern of Comparative Examples 1-4 are each produced, The resolution regarding these, resistance value, The peel resistance was evaluated and summarized in Table 1.

実施例1
先ず、表1に示すバインダー1、バインダー2、銀粒子を溶剤であるメトキシブチルアセテートと共に同表記載の容量比で混合して感光性導電ペーストを調製し、この調製した感光性導電ペーストを厚さ1.1mmのソーダライムガラスにバーコータを用いて塗布し、50℃の熱風乾燥機で30分乾燥させ、厚さ20μmの乾燥塗膜を形成した。
Example 1
First, binder 1, binder 2, and silver particles shown in Table 1 were mixed with methoxybutyl acetate as a solvent at a volume ratio described in the table to prepare a photosensitive conductive paste, and the prepared photosensitive conductive paste was thickened. The coating was applied to 1.1 mm soda lime glass using a bar coater and dried with a hot air dryer at 50 ° C. for 30 minutes to form a dried coating film having a thickness of 20 μm.

表1の「UV」は、スチレン−無水マレイン酸共重合体系のアルカリ可溶性樹脂、架橋性モノマーであるポリエチレングリコールジメタクリレート、光重合開始剤であるビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルフォスフィンオキサイド、及び1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニル−ケトンを、アルカリ可溶性樹脂と架橋性モノマーの合計100質量部に対し、各5質量部添加したものである。また、同表の「PI」は、ポリイミド樹脂〔丸善石油製:商品名BANI−H〕である。   “UV” in Table 1 is an alkali-soluble resin of a styrene-maleic anhydride copolymer system, polyethylene glycol dimethacrylate as a crosslinkable monomer, and bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) -phenyl as a photopolymerization initiator. 5 parts by mass of phosphine oxide and 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl-ketone are added to a total of 100 parts by mass of the alkali-soluble resin and the crosslinkable monomer. “PI” in the table is a polyimide resin [manufactured by Maruzen Petroleum: trade name BANI-H].

次いで、ライン/スペースが10μm/10μm、15μm/15μm、20μm/20μm、30μm/30μm、40μm/40μm、50μm/50μmの領域がそれぞれ20mm□中に形成されたパターン部と、20mm×50mmの透過部を有するガラス製のフォトマスクを乾燥塗膜に密着させ、メタルハライドランプを備えたフレネルレンズ方式の平行光露光機により8000mJ/cm2の積算光量になるようUV露光した。こうしてUV露光したら、1.0質量%の炭酸ナトリウム水溶液で現像し、パターンを形成して中間体を得た。 Next, a pattern part in which regions of 10 μm / 10 μm, 15 μm / 15 μm, 20 μm / 20 μm, 30 μm / 30 μm, 40 μm / 40 μm, and 50 μm / 50 μm are formed in 20 mm □, and a 20 mm × 50 mm transmission part A glass photomask having a thickness of 2 was adhered to the dried coating film, and UV exposure was performed using a Fresnel lens type parallel light exposure machine equipped with a metal halide lamp so as to obtain an integrated light amount of 8000 mJ / cm 2 . After UV exposure in this manner, development was performed with a 1.0% by mass aqueous sodium carbonate solution to form a pattern, thereby obtaining an intermediate.

次いで、熱処理を行うべく、プログラマブルオーブンに中間体をセットして室温から昇温スピード10℃/分で昇温し、表1記載の熱処理温度に到達後、その温度で60分間保持した。60分間保持したら、冷却スピード10℃/分で180℃まで冷却してプログラマブルオーブンから取り出し、室温で放冷してテストパターンを作製した。
なお、表1の「硬化深さ」は、配線パターンであるテストパターンの表面から内部への深さをいい、現像後熱処理前のテストパターン断面の、現像液による侵食が殆どない表層部の厚さを光学顕微鏡で観察等して測定することにより求めることができる。
Next, in order to perform heat treatment, an intermediate was set in a programmable oven, and the temperature was raised from room temperature at a heating rate of 10 ° C./min. After reaching the heat treatment temperature shown in Table 1, the temperature was maintained for 60 minutes. After holding for 60 minutes, it was cooled to 180 ° C. at a cooling speed of 10 ° C./min, taken out from the programmable oven, and allowed to cool at room temperature to prepare a test pattern.
The “cured depth” in Table 1 refers to the depth from the surface of the test pattern, which is a wiring pattern, to the inside, and the thickness of the surface layer portion of the test pattern cross section before development heat treatment and hardly eroded by the developer. The thickness can be obtained by observing with an optical microscope or the like.

実施例2〜7
基本的には実施例1と同様であるが、感光性導電ペーストの銀粒子の平均粒径やアスペクト比を変更したり、UVから光開始剤を除去したり、あるいは5%質量減少温度を変更した。
Examples 2-7
Basically the same as in Example 1, but the average particle size and aspect ratio of the silver particles of the photosensitive conductive paste are changed, the photoinitiator is removed from the UV, or the 5% mass reduction temperature is changed. did.

但し、実施例6においては、厚さ25μmのニッケル箔をエッチング加工して上記パターン部と透過部を有するマスクを作製し、加速電圧200kVのEB照射装置を使用し、照射量を500kGyとして照射した。
また、表1における実施例6の「EB」は、「UV」から光開始剤を除去したものである。同表における実施例7の「UV(2)」は、酸価100(mg・KOH/g)のトリスフェノールメタン型エポキシアクリレートオリゴマーに「UV」と同様の光重合開始剤を添加したものである。
However, in Example 6, a nickel foil having a thickness of 25 μm was etched to produce a mask having the pattern part and the transmission part, and an EB irradiation apparatus with an acceleration voltage of 200 kV was used, and the irradiation dose was 500 kGy. .
In Table 1, “EB” in Example 6 is obtained by removing the photoinitiator from “UV”. “UV (2)” of Example 7 in the same table is obtained by adding a photopolymerization initiator similar to “UV” to a trisphenol methane type epoxy acrylate oligomer having an acid value of 100 (mg · KOH / g). .

比較例1〜4
基本的には実施例1と同様であるが、銀粒子の平均粒径、熱処理温度、融着開始温度、アスペクト比を変更したり、5%質量減少温度を変更した。
表1の「UV(3)」は、酸価100(mg・KOH/g)のフェノールノボラック型エポキシアクリレートオリゴマーに「UV」と同様の光重合開始剤を添加したものである。
Comparative Examples 1-4
Basically the same as in Example 1, but the average particle size of silver particles, the heat treatment temperature, the fusion start temperature, the aspect ratio were changed, and the 5% mass reduction temperature was changed.
“UV (3)” in Table 1 is obtained by adding a photopolymerization initiator similar to “UV” to a phenol novolac epoxy acrylate oligomer having an acid value of 100 (mg · KOH / g).

解像度、抵抗値、耐剥離性の評価
(1)解像度の評価
同一のライン/スペースを有するパターン領域において、断線や短絡のない最小のものとした。
(2)抵抗値の評価
20mm×50mmの透過部により形成されたベタ領域を用い、ロレスタHP〔ダイヤインスルメンツ製:商品名〕により4端針法にて体積抵抗率を測定した。
Evaluation of Resolution, Resistance Value, and Peeling Resistance (1) Evaluation of Resolution In the pattern area having the same line / space, it was set to the minimum without disconnection or short circuit.
(2) Evaluation of Resistance Value Volume resistivity was measured by a four-end needle method using Loresta HP (manufactured by Dia Instruments: trade name) using a solid region formed by a 20 mm × 50 mm transmission part.

(3)耐剥離性の評価
ベタ領域にカッターナイフにより1mmピッチで縦横それぞれ11本の線を引いて格子模様を形成し、この格子模様に粘着テープを貼り付けて剥離し、100個に分断された領域中、粘着テープに粘着した分断片の個数を計測した。この耐剥離性は、初期及び60℃95%RHに1000時間放置後に評価した。
(3) Evaluation of peel resistance A grid pattern is formed by drawing 11 lines each in 1 mm pitch and width and with a cutter knife in a solid area, and an adhesive tape is attached to the grid pattern and peeled, and divided into 100 pieces. In each region, the number of fractions adhered to the adhesive tape was counted. The peel resistance was evaluated at the initial stage and after being left at 60 ° C. and 95% RH for 1000 hours.

Figure 0004413096
Figure 0004413096

結 果
実施例1のテストパターンについては、きわめて良好な解像度、抵抗値、耐剥離性を得ることができた。
実施例2のテストパターンについては、融着開始温度が高く平均粒径が大きい銀粒子を使用したため、抵抗値が僅かに高くなったが、実用上問題になることはなく、良好な解像度、抵抗値、耐剥離性を得ることができた。
実施例3のテストパターンについては、融着開始温度が低く平均粒径が小さい銀粒子を使用したため、抵抗値が低くなり、解像度や耐剥離性も良好であった。
Results For the test pattern of Example 1, extremely good resolution, resistance value, and peel resistance could be obtained.
With respect to the test pattern of Example 2, since silver particles having a high fusion starting temperature and a large average particle diameter were used, the resistance value was slightly increased, but there was no problem in practical use, and good resolution and resistance were obtained. Value and peel resistance could be obtained.
About the test pattern of Example 3, since silver particle | grains with low fusion start temperature and a small average particle diameter were used, resistance value became low and the resolution and peeling resistance were also favorable.

実施例4のテストパターンについては、アスペクト比が大きい銀粒子を使用したため、硬化深さが減少し、解像度が20μmになったが、用途によっては十分な値であり、良好な解像度、抵抗値、耐剥離性が得られた。
実施例5のテストパターンについては、平均粒径が小さい銀粒子を使用したため、硬化深さが減少し、解像度が15μmになったが、用途によっては十分な値であり、良好な解像度、抵抗値、耐剥離性が得られた。
For the test pattern of Example 4, since silver particles having a large aspect ratio were used, the curing depth was reduced and the resolution was 20 μm. However, this was a sufficient value depending on the application, and good resolution, resistance value, Peel resistance was obtained.
For the test pattern of Example 5, since silver particles having a small average particle diameter were used, the curing depth was reduced and the resolution was 15 μm, but this was a sufficient value depending on the application, and good resolution and resistance value. The peel resistance was obtained.

実施例6のテストパターンについては、平均粒径が小さい銀粒子を使用したが、EB照射により全厚さ分の硬さとなり、良好な解像度、抵抗値、耐剥離性が得られた。
実施例7のテストパターンについては、バインダー2として5%質量減少温度が低めのものを使用したが、特に問題はなく、きわめて良好な解像度、抵抗値、耐剥離性を得ることができた。
About the test pattern of Example 6, although the silver particle with a small average particle diameter was used, it became the hardness for the whole thickness by EB irradiation, and the favorable resolution, resistance value, and peeling resistance were obtained.
For the test pattern of Example 7, a binder 2 having a lower 5% mass loss temperature was used, but there was no particular problem, and extremely good resolution, resistance value, and peel resistance could be obtained.

これに対し、比較例1のテストパターンについては、融着開始温度が320℃で平均粒径の大きい銀粒子を使用したため、280℃の熱処理では十分な導通性を得ることができなかった。
比較例2のテストパターンについては、比較例1と同様の材料を使用し、熱処理温度を350℃と高く設定することにより、実用レベルの抵抗値を得た。しかしながら、係る熱処理温度では樹脂基材の使用、他部品、絶縁膜等との併用は略不可能であり、用途が非常に限定されるという問題が生じた。
On the other hand, for the test pattern of Comparative Example 1, silver particles having a fusion start temperature of 320 ° C. and a large average particle diameter were used, so that sufficient electrical conductivity could not be obtained by heat treatment at 280 ° C.
About the test pattern of the comparative example 2, the same material as the comparative example 1 was used, and the heat processing temperature was set as high as 350 degreeC, and the resistance value of the practical level was obtained. However, at such a heat treatment temperature, use of a resin base material, combined use with other parts, an insulating film, etc. is almost impossible, resulting in a problem that the application is very limited.

比較例3のテストパターンについては、融着開始温度が非常に高い銀粒子を使用したため、280℃の熱処理では十分な導通性を得ることができなかった。
比較例4のテストパターンについては、比較例3と同様の材料を使用し、熱処理温度を450℃と高く設定することにより、実用レベルの抵抗値を得た。しかしながら、係る熱処理温度では樹脂基材の使用、他部品、絶縁膜等との併用は略不可能であり、用途が非常に限定されるという問題が生じ、しかも、きわめて劣悪な耐剥離性しか得られなかった。
For the test pattern of Comparative Example 3, since silver particles having a very high fusion start temperature were used, sufficient electrical conductivity could not be obtained by heat treatment at 280 ° C.
About the test pattern of the comparative example 4, the same material as the comparative example 3 was used, and the heat processing temperature was set as high as 450 degreeC, and the resistance value of the practical level was obtained. However, use of a resin base material, combined use with other parts, insulating films, etc. is almost impossible at such a heat treatment temperature, resulting in a problem that the application is very limited, and only extremely poor peeling resistance is obtained. I couldn't.

Claims (1)

紫外線と電子線のいずれか一方の照射により現像液に対して不溶化する第一のバインダーと、この第一のバインダーの熱分解温度よりも50℃以上熱分解温度が高い第二のバインダーと、平均粒径が0.05〜0.5μmの金属粒子とを含み、
第二のバインダーを、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド系樹脂、ポリエーテルイミド系樹脂、及びこれらの前駆体のみから調製するとともに、第一のバインダーに対する第二のバインダーの配合比を金属粒子のタップ空隙率以下とし、
金属粒子のアスペクト比を1.0〜1.5とし、この金属粒子の平均粒径±0.05μmの範囲に含まれる割合を30質量%以上としたことを特徴とする感光性導電ペースト。
A first binder that is insolubilized in the developer by irradiation with either ultraviolet light or electron beam, a second binder that has a thermal decomposition temperature higher by 50 ° C. or more than the thermal decomposition temperature of the first binder, and an average Metal particles having a particle size of 0.05 to 0.5 μm,
The second binder is prepared from only a polyimide resin, a polyamideimide resin, a polyetherimide resin, and their precursors, and the mixing ratio of the second binder to the first binder is determined by the tap porosity of the metal particles. And
A photosensitive conductive paste characterized in that the aspect ratio of the metal particles is 1.0 to 1.5, and the ratio of the average particle diameter of the metal particles included in the range of ± 0.05 μm is 30% by mass or more.
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5298956B2 (en) * 2009-03-02 2013-09-25 日立化成株式会社 Photosensitive resin composition, and photosensitive element, solder resist, and printed wiring board using the same
JP5916482B2 (en) * 2012-03-30 2016-05-11 太陽ホールディングス株式会社 Photosensitive conductive paste and conductive circuit

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10126037A (en) * 1996-10-23 1998-05-15 Shin Etsu Polymer Co Ltd Manufacture of flexible printed wiring board
JPH11329060A (en) * 1998-05-08 1999-11-30 Sekisui Finechem Co Ltd Conductive corpuscle, anisotropic conductive adhesive and conductive connection structure
JPH11339558A (en) * 1998-05-26 1999-12-10 Sekisui Chem Co Ltd Anisotropic conductive adhesive and conductive connection structural body
JP2003249332A (en) * 1999-05-07 2003-09-05 Ibiden Co Ltd Hot plate and conductive paste
JP2002232142A (en) * 2001-01-30 2002-08-16 Kyocera Corp Multilayer wiring board and its producing method
JP4779134B2 (en) * 2001-02-13 2011-09-28 Dowaエレクトロニクス株式会社 Conductive filler for conductive paste and method for producing the same
JP2002280709A (en) * 2001-03-16 2002-09-27 Mitsuboshi Belting Ltd Method of manufacturing ceramic circuit board and board thereby
KR100856905B1 (en) * 2001-06-28 2008-09-05 파레렉 인코포레이션 Low temperature method and compositions for producing electrical conductors
JP3753989B2 (en) * 2002-02-14 2006-03-08 三ツ星ベルト株式会社 Method for manufacturing thick film circuit board using copper conductor paste
JP2004054085A (en) * 2002-07-23 2004-02-19 Toray Ind Inc Photosensitive conducttor paste

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