JP2000062889A - 検査用目盛り付き小型電子部品収納用トレイ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型電子部品の外部端子の変形や欠損による
不良を目視により高精度に且つ迅速に判定することを可
能とし、小型電子部品の生産性及び信頼性を向上できる
小型電子部品収納用トレイの提供。 【解決手段】 板状のトレイ本体の一面に凹状のポケッ
ト（電子部品収納部）２が形成され、該ポケット２内の
一定位置に小型電子部品１ａの本体１ｂを固定するため
のリブがポケット２内に設けられ、該ポケット２の底面
で、かつリブの外周に該リブに固定された小型電子部品
１ａの外部端子１ｃの変形および／または欠損を検査す
るための検査用目盛り５が所定間隔で形成されるととも
に外部端子１ｃの変形および／または欠損の許容範囲を
示すサブ検査用目盛り７が所定間隔で形成されている検
査用目盛り付き小型電子部品収納用トレイ。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、小型電子部品本体
と外部端子からなる小型電子部品を一時的に収納した状
態で運搬するための小型電子部品収納用トレイに係わ
り、詳しくは、板状のトレイ本体に形成された電子部品
収納部にこれに収納された小型電子部品の外部端子の変
形および／または欠損を検査するための検査用目盛りま
たは上記外部端子の変形および／または欠損の許容範囲
を示すサブ検査用目盛りが所定間隔で形成することによ
って小型電子部品の外部端子の変形や欠損による不良を
目視により高精度に且つ迅速に判定することを可能にし
た検査用目盛り付き小型電子部品収納用トレイに関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来の小型電子部品収納用トレイとして
は、図８に示されるようなものが知られている。従来の
小型電子部品収納用トレイ２０は、板状のトレイ本体２
１の上面４に、小型電子部品１ａを効率的に収納するた
めに電子部品収納部としてのポケット２が規則的に形成
されている。上記小型電子部品１ａは、小型電子部品本
体１ｂと該本体１ｂのＩＣ等に電気的接続されるととも
に外部に導出された外部端子１ｃから概略構成されてい
る。

【０００３】また、トレイ本体２１には、図９（Ａ）、
図９（Ｂ）に示すように、小型電子部品１ａがポケット
２内の一定位置に固定されて収納されるよう、小型電子
部品１ａの下面の形状に合わせて位置固定用のリブ３が
設けてあり、このリブ３に小型電子部品本体１ｂの下面
が収納されることにより、外力により変形しやすい外部
端子１ｃや小型電子部品本体１ｂを保護するようになっ
ている。さらに、この小形電子部品収納用トレイ２０
は、積み重ねたとき本体２１の上下面が噛み合う構造と
なっており、小型電子部品を収納した状態にてトレイを
重ね合わせる事が可能である。そして、このトレイ２０
に小型電子部品１ａを収納した状態にて、製造工程中の
搬送や顧客への出荷を行うことにより、電子部品１ａを
外力から保護している。

【０００４】一方、小型電子部品１ａは、様々な製造工
程を経て製造されるが、外部端子１ｃは外力に弱く、変
形する場合がある。この為、出荷前にトレイに収納した
状態で外部端子１ｃの変形を目視により検査（官能検
査）し、不良品を除去した後出荷している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、小型電子部
品１ａの製造工程においては、外部端子１ｃに関し、主
に以下の、ような不良が発生してしまう場合があ
る。 ．小型電子部品１ａの外部端子１ｃの変形 ．小型電子部品１ａの外部端子１ｃの欠損 小型電子部品１ａの製造工程においては、上述のような
不良が発生するため小型電子部品１ａを出荷する前に、
小型電子部品１ａをトレイ２０に収納した状態で目視に
より外部端子１ｃの外観上の良不良を検査し、不良のも
のを除去しているが、従来の小型電子部品収納用トレイ
２０を用いる場合にはしばしば以下のような問題が発生
していた。

【０００６】上述のの外部端子１ｃの変形が生じると
いう不良項目については小型電子部品１ａの隣り合う外
部端子１ｃ同士の間隔を見ることにより、不良を検出し
ているが、近年の小型電子部品の小型化に伴い、外部端
子の幅や間隔が小さくなり、わずかな変形でさえも不良
と判定しなければならない為に、外部端子同士の間隔を
目視により確認するだけでは、誤判定が発生することが
ある。その理由は、従来の小型電子部品収納用トレイ２
０に小型電子部品１ａを収納した場合には、隣り合う外
部端子１ｃ同士の間隔を比較するという曖昧な基準で検
査を行っているためである。また、良否判定が難しい製
品については、トレイ２０より小型電子部品１ａ取り出
し、外部端子１ｃの変化量を測定して判断しなければな
らない為、外部端子１ｃの変形の検出作業の工数がかか
ってしまうという問題がある。

【０００７】また、上述のの外部端子１ｃの欠損が生
じるという不良項目については、小型電子部品１ａの隣
り合う外部端子１ｃの間隔を目視にて比較することで、
小型電子部品１ａの外部端子1ｂの欠損の有無を確認
し、欠損がある場合には、その小型電子部品１ａを除去
している。そのため、外部端子１ｃが連続して欠損する
場合や連続した外部端子１ｃのうち１本が欠損したなど
の場合には、精度よく不良品を検出することが可能であ
るが、小型電子部品１ａのある一辺の最外端の外部端子
１ｃが１本のみ完全に欠損している場合は、発見するこ
とが非常に困難であった。その理由は、小型電子部品１
ａの外部端子１ｃ同士の間隔を目視により確認すること
により外部端子１ｃの欠損を判断しているため、各辺の
最外端に配置された外部端子１ｃは、比較する外部端子
がないため、端子の欠損を見逃しやすくなるためであ
る。

【０００８】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、小型電子部品の外部端子の変形や欠損による不良を
目視により高精度に且つ迅速に判定することを可能と
し、小型電子部品の生産性及び信頼性を向上できる小型
電子部品収納用トレイを提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
小型電子部品本体と該本体に電気的に接続された外部端
子からなる小型電子部品を収納、運搬する小型電子部品
収納用トレイであって、板状のトレイ本体の一面に凹状
の電子部品収納部が形成され、該電子部品収納部にこれ
に収納された小型電子部品の外部端子の変形および／ま
たは欠損を検査するための検査用目盛りが所定間隔で形
成されていることを特徴とする検査用目盛り付き小型電
子部品収納用トレイを上記課題の解決手段とした。

【００１０】また、請求項２記載の発明は、小型電子部
品本体と該本体に電気的に接続された外部端子からなる
小型電子部品を収納、運搬するための小型電子部品収納
用トレイであって、板状のトレイ本体の一面に凹状の電
子部品収納部が形成され、該電子部品収納部にこれに収
納された小型電子部品の外部端子の変形および／または
欠損の許容範囲を示すサブ検査用目盛りが所定間隔で形
成されていることを特徴とする検査用目盛り付き小型電
子部品収納用トレイを上記課題の解決手段とした。

【００１１】また、請求項３記載の発明は、小型電子部
品本体と該本体に電気的に接続された外部端子からなる
小型電子部品を収納、運搬するための小型電子部品収納
用トレイであって、板状のトレイ本体の一面に凹状の電
子部品収納部が形成され、該電子部品収納部内の一定位
置に前記小型電子部品本体を固定するためのリブが前記
電子部品収納部内に設けられ、該電子部品収納部の底面
で、かつリブの外周に該リブに固定された小型電子部品
の外部端子の変形および／または欠損を検査するための
検査用目盛りが所定間隔で形成されるとともに前記外部
端子の変形および／または欠損の許容範囲を示すサブ検
査用目盛りが所定間隔で形成されていることを特徴とす
る検査用目盛り付き小型電子部品収納用トレイを上記課
題の解決手段とした。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の検査用目盛り付き
小型電子部品収納用トレイの実施形態について図面を参
照して詳細に説明する。図１は、本発明の検査用目盛り
付き小型電子部品収納用トレイの第一の実施形態を示す
斜視図である。図２（Ａ）は、図１の検査用目盛り付き
小型電子部品収納用トレイのポケット（電子部品収納
部）と、該ポケット内に収納された小型電子部品の位置
関係を示す拡大平面図であり、図２（Ｂ）は、図２
（Ａ）のＩ−Ｉ線断面図である。第一の実施形態の検査
用目盛り付き小型電子部品収納用トレイ３０は、小型電
子部品本体１ｂと該本体１ｂに電気的に接続された外部
端子１ｃからなる小型電子部品１ａを一時的に収納し運
搬するためのものである。また、小型電子部品ｌａの外
部端子１ｃの変形や欠損等の不良を検査できるようにし
たものである。

【００１３】第一の実施形態の検査用目盛り付き小型電
子部品収納用トレイ３０は、板状のトレイ本体２１の一
面に凹状の電子部品収納部としてのポケット２が形成さ
れている。このポケット２内には、該ポケット２内の一
定位置に小型電子部品本体１ｂを固定するためのリブ３
が小型電子部品本体１ｂの下面の形状に合わせて設けら
れている。電子部品本体１ｂはリブ３に収納されること
により、ポケット２内の一定位置に固定される。これに
より、小型電子部品１ａの各々の外部端子１ｃもポケッ
ト２に対して一定位置に固定されることになる。

【００１４】また、ポケット２の底面で、かつリブ３の
外周には、リブ３に固定された小型電子部品１ａの外部
端子１ｃの変形および／または欠損等の不良を検査する
ための検査用目盛り５が形成されている。検査用目盛り
５の延びる方向は、外部端子１ｃに変形や欠損等の不良
がない良好な小型電子部品１ａを基準とし、この小型電
子部品１ａがポケット２内に収納された場合の外部端子
１ｃが延びる方向と同じ方向である。また、このような
検査用目盛り５の間隔は、外部端子１ｃに変形や欠損等
の不良がない良好な小型電子部品１ａの各々の外部端子
１ｃの間隔に合わせて形成されている。従って、小型電
子部品１ａの小型電子部品本体１ｂの下面がポケット２
内のリブ３に収納されることにより、小型電子部品１ａ
の外部端子１ｃはポケット２内の検査用目盛り５に対し
て一定の範囲の位置に設置されることになる。

【００１５】この第一の実施形態でのポケット２内の検
査用目盛り５をより具体的に説明すると、この検査用目
盛り５は、図２（Ａ）又は図３に示すように小型電子部
品本体１ｂの各辺に設けられており、また、良好な小型
電子部品１ａの隣り合う外部端子１ｃ，１ｃの間隔Ｌに
合わせ、外部端子幅Ｗの１／２の位置、つまり良好な外
部端子１ｃの中心に位置しており、且つ良好な外部端子
１ｃの長さ方向に沿って形成されている（外部端子１ｃ
の下側および外部端子１ｃの先端の延長線上にも形成さ
れている）。この為、小型電子部品１ａの外部端子１ｃ
に変形や欠損がない場合は、図２（Ａ）に示すようにポ
ケット２内の検査用目盛り５と外部端子１ｃは、常に位
置関係が一定の状態となり、すなわち、常に検査用目盛
り５は各外部端子１ｃの中心に位置する状態となってお
り、検査用目盛り５の一部と外部端子１ｃが重なるとと
もに外部端子１ｃの延長線上に残り検査用目盛り５を視
認できる。一方、小型電子部品１ａの外部端子に不良が
ある場合は、例えば、図３に示すように変形した外部端
子１ｄは検査用目盛り５の位置からずれており、また、
欠損が生じた外部端子１ｅは検査用目盛り５が欠損のな
い外部端子１ｃ部分よりも露出部分が多くなっているの
で、変形した外部端子１ｄや欠損した外部端子（欠損が
生じた外部端子）１ｅを容易に確認することができるた
め、従来に比べ判断基準が明確になり外部端子に変形や
欠損等がある不良品の検出精度が向上する。

【００１６】第一の実施形態の検査用目盛り付き小型電
子部品収納用トレイ３０によれば、外部端子に変形や欠
陥等のない良好な小型電子部品の外部端子に合わせて形
成した基準となる検査用目盛り５がポケット２内に設け
たことにより、このトレイ３０内に収納された小型電子
部品１ａの電子部品本体１ｂに対してどの位置に外部端
子１ｃが配置されているのか目視により明確にわかるよ
うになっているので、トレイ３０のポケット２内に小型
電子部品１ａを収納した状態で外部端子１ｃの変形や欠
損等の不良を検出する際は、作業者はポケット２内に収
納した小型電子部品１ａの外部端子１ｃとこれに対応す
る検査用目盛り５を比較し、外部端子１ｃが検査用目盛
り５からずれていたり、検査用目盛り５が他の部分より
も多く視認できる部分があるときは、外部端子１ｃに変
形や欠損が生じていることがわかり、よって、外部端子
１ｃの不良を目視にて容易にかつ精度よく検出できる。
また、小型電子部品１ａのある一辺の最外端の外部端子
１ｃに対しても検査用目盛り５が設けられているので、
最外端の外部端子１ｃが完全に欠損していても目視にて
不良を容易にかつ精度よく検出できる。従って、第一の
実施形態の検査用目盛り付き小型電子部品収納用トレイ
３０によれば、上述のような構成としたことにより、隣
合う外部端子同士の間隔を見ることにより不良を検出す
る従来のトレイを用いる場合に比べて判断基準が明確に
なり外部端子に変形や欠損等が生じた不良品の検出精度
が向上する。

【００１７】次に、本発明の検査用目盛り付き小型電子
部品収納用トレイの第二の実施形態について説明する。
図４は、第二の実施形態の検査用目盛り付き小型電子部
品収納用トレイのポケット（電子部品収納部）２と、該
ポケット２内に収納された小型電子部品１ａの位置関係
を示す拡大平面図である。第二の実施形態の検査用目盛
り付き小型電子部品収納用トレイが、第一の実施形態の
検査用目盛り付き小型電子部品収納用トレイと異なると
ころは、リブ３に固定された小型電子部品１ａの外部端
子１ｃの変形および／または欠損の許容範囲を示すサブ
検査用目盛り７が検査用目盛り５の両側にそれぞれ設け
られている点である。サブ検査用目盛り７は、ポケット
２の底面で、かつリブ３の外周に所定間隔で形成されて
いる。このサブ検査用目盛り７の延びる方向は、外部端
子１ｃに変形や欠損等の不良がない良好な小型電子部品
１ａがポケット２内に収納された場合の外部端子１ｃが
延びる方向と同じ方向に設けられた検査用目盛り５と平
行な方向である。

【００１８】上述のような第二の実施形態の検査用目盛
り付き小型電子部品収納用トレイでは、ポケット２内に
収納された小型電子部品１ａの外部端子１ｃに生じた変
形が許容範囲内にある場合は、図４又は図５に示すよう
に外部端子１ｃはこれに対応する検査用目盛り５の両側
に設けられたサブ検査用目盛り７，７の間に位置する状
態となっている。一方、小型電子部品１ａの外部端子に
生じた不良が許容範囲外である場合は、例えば、図５に
示すように許容範囲外の変形が生じた外部端子１ｄはサ
ブ検査用目盛り７，７間からはみ出しているので、変形
した外部端子１ｄを容易に確認することができるため、
第一の実施形態よりも検出精度が向上する。なお、図５
中、符号Ｓは、外部端子の変形の許容範囲を示してい
る。欠損した外部端子１ｅの検出については、第１の実
施形態と同様に容易に行うことができる。

【００１９】第二の実施形態の検査用目盛り付き小型電
子部品収納用トレイにあっては、特に、外部端子１ｃの
変形及び／または欠損の許容範囲を示すサブ検査用目盛
り７が検査用目盛り５の両側に設けられているので、外
部端子１ｂが変形した際の許容範囲が明確に分かるよう
になっており、ポケット２内に小型電子部品１ａを収納
した状態で外部端子１ｃの変形を検出する際は、作業者
はポケット２内に収納した小型電子部品１ａの外部端子
１ｃとこれに対応する検査用目盛り５の両側のサブ検査
用目盛り７，７を比較し、外部端子１ｃがサブ検査用目
盛り７，７間からのはみ出しの有無を確認することによ
り容易に外部端子１ｃの変形を検出でき、また、外部端
子１ｃの欠損については第一の実施形態と同様に容易に
検出できるので、外部端子に変形や欠損等が生じた不良
品の検出精度がより向上する。

【００２０】次に、本発明の検査用目盛り付き小型電子
部品収納用トレイの第三の実施形態について説明する。
図６は、第三の実施形態の検査用目盛り付き小型電子部
品収納用トレイのポケット（電子部品収納部）２と、該
ポケット２内に収納された小型電子部品１ａの位置関係
を示す拡大平面図である。第三の実施形態の検査用目盛
り付き小型電子部品収納用トレイが、第二の実施形態の
検査用目盛り付き小型電子部品収納用トレイと異なると
ころは、検査用目盛り５及びこれの両側に設けられたサ
ブ検査用目盛り７，７の形成位置および延びる方向が異
なる点である。第三の実施形態での検査用目盛り５は、
外部端子１ｃに変形や欠損等の不良がない良好な小型電
子部品１ａを基準とし、この小型電子部品１ａがポケッ
ト２内に収納された場合の外部端子１ｃの先端がくる位
置で、該外部端子１ｃの長さ方向に直交する方向に形成
されている。従って、小型電子部品１ａの小型電子部品
本体１ｂの下面がポケット２内のリブ３に収納されるこ
とにより、小型電子部品１ａの外部端子１ｃはポケット
２内の検査用目盛り５に対して一定の範囲の位置に設置
されることになる。

【００２１】第三の実施形態での検査用サブ目盛り７
は、上述のような検査用目盛り５の両側で、かつ該検査
用目盛り５と平行な方向に形成されている。この為、小
型電子部品１ａの外部端子１ｃに変形や欠損がない場合
は、図６及び図７に示すようにポケット２内の検査用目
盛り５と外部端子１ｃは、常に位置関係が一定の状態と
なり、すなわち、常に検査用目盛り５は各外部端子１ｃ
の先端に位置する状態となっている。一方、小型電子部
品１ａの外部端子に不良がある場合は、例えば、図７に
示すように外部端子の長さ方向の変形が生じた外部端子
１ｆはサブ検査用目盛り７，７間から外れており、ま
た、欠損が生じた外部端子１ｆはサブ検査用目盛り７お
よび／または検査用目盛り５が欠損のない外部端子１ｃ
部分よりも露出部分が多くなっているので、変形や欠損
した外部端子（欠損が生じた外部端子）１ｆを容易に確
認することができるため、従来に比べ判断基準が明確に
なり外部端子に変形や欠損等がある不良品の検出精度が
向上する。 図７中、符号Ｔは、外部端子の長さ方向の
変形の許容範囲を示している。

【００２２】第三の実施形態の検査用目盛り付き小型電
子部品収納用トレイによれば、外部端子に変形や欠陥等
のない良好な小型電子部品の外部端子に合わせて形成し
た基準となる検査用目盛り５とこれの両側のサブ検査用
目盛り７がポケット２内に設けたことにより、このトレ
イ３０内に収納された小型電子部品１ａの電子部品本体
１ｂに対してどの位置に外部端子１ｃが配置されている
のか目視により明確にわかるようになっているので、ト
レイ３０のポケット２内に小型電子部品１ａを収納した
状態で外部端子１ｃの長さ方向の変形や、欠損等の不良
を検出する際は、作業者はポケット２内に収納した小型
電子部品１ａの外部端子１ｃとこれに対応する検査用目
盛り５の両側のサブ検査用目盛り７，７を比較し、外部
端子１ｃがサブ検査用目盛り７，７間からずれていた
り、検査用目盛り５やサブ検査用目盛り７が他の部分よ
りも多く視認できる部分があるときは、外部端子１ｃに
長さ方向の変形や、欠損が生じていることがわかり、よ
って、外部端子１ｃの不良を目視にて容易にかつ精度よ
く検出できる。従って、第三の実施形態の検査用目盛り
付き小型電子部品収納用トレイによれば、上述のような
構成としたことにより、隣合う外部端子同士の間隔を見
ることにより不良を検出する従来のトレイを用いる場合
に比べて判断基準が明確になり外部端子に長さ方向変形
や、欠損等が生じた不良品の検出精度が向上する。

【００２３】

【発明の効果】以上説明したように本発明の検査用目盛
り付き小型電子部品収納用トレイによれば、トレイ本体
の一面に凹状の電子部品収納部が形成され、該電子部品
収納部にこれに収納された小型電子部品の外部端子の変
形および／または欠損を検査するための検査用目盛りお
よび／または上記外部端子の変形および／または欠損の
許容範囲を示すサブ検査用目盛りが所定間隔で形成され
たことにより、外部端子の変形状態や外部端子の欠損等
の不良を判断する為の基準が明確になる為、小型電子部
品をトレイに収納した状態で行う外部端子の変形に関す
る目視検査において検査精度が向上する。また、本発明
の検査用目盛り付き小型電子部品収納用トレイによれ
ば、電子部品収納部内に外部端子の不良を判断するため
の基準となる検査用目盛りおよび／またはサブ検査用目
盛りを設けた為に、従来行われていた、良否判定の不明
確な製品をトレイ本体より取り出して測定器で外部端子
の変化量を測定するという作業が不要となるので、小型
電子部品の外部端子の検査工数が低減できる。従って、
本発明の検査用目盛り付き小型電子部品収納用トレイに
よれば、小型電子部品の外部端子の変形や欠損による不
良を目視により高精度に且つ迅速に判定することを可能
とし、小型電子部品の生産性及び信頼性を向上できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の検査用目盛り付き小型電子部品収納
用トレイの第一の実施形態を示す斜視図である。

【図２】 （Ａ）は、図１の検査用目盛り付き小型電子
部品収納用トレイのポケット（電子部品収納部）と、該
ポケット内に収納された小型電子部品の位置関係を示す
拡大平面図であり、（Ｂ）は、（Ａ）のＩ−Ｉ線断面図
である。

【図３】 図１の第一の実施形態の検査用目盛り付き小
型電子部品収納用トレイの作用効果を説明するための外
部端子と検査用目盛りの位置関係を示す拡大図である。

【図４】 本発明の検査用目盛り付き小型電子部品収納
用トレイの第二の実施形態のポケット（電子部品収納
部）と、該ポケット内に収納された小型電子部品の位置
関係を示す拡大平面図である。

【図５】 第二の実施形態の検査用目盛り付き小型電子
部品収納用トレイの作用効果を説明するための外部端子
と検査用目盛りの位置関係を示す拡大図である。

【図６】 本発明の検査用目盛り付き小型電子部品収納
用トレイの第三の実施形態のポケット（電子部品収納
部）と、該ポケット内に収納された小型電子部品の位置
関係を示す拡大平面図である。

【図７】 第三の実施形態の検査用目盛り付き小型電子
部品収納用トレイの作用効果を説明するための外部端子
と検査用目盛りの位置関係を示す拡大図である。

【図８】 従来の小型電子部品収納用トレイを示す斜視
図である。

【図９】 （Ａ）は従来の小型電子部品収納用トレイの
ポケットと、該ポケット内に収納された小型電子部品の
位置関係を示す拡大平面図であり、（Ｂ）は、（Ａ）の
ＩＩ−ＩＩ線断面図である。

【符号の説明】

１ａ・・・小型電子部品、１ｂ・・・小型電子部品本
体、１ｃ・・・外部端子、２・・・ポケット（電子部品
収納部）、３・・・リブ、４・・・上面、５・・・検査
用目盛り、７・・・サブ検査用目盛り、３０・・・検査
用目盛り付き小型電子部品収納用トレイ。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 小型電子部品本体と該本体に電気的に接
   続された外部端子からなる小型電子部品を収納、運搬す
   る小型電子部品収納用トレイであって、 板状のトレイ本体の一面に凹状の電子部品収納部が形成
   され、該電子部品収納部にこれに収納された小型電子部
   品の外部端子の変形および／または欠損を検査するため
   の検査用目盛りが所定間隔で形成されていることを特徴
   とする検査用目盛り付き小型電子部品収納用トレイ。
2. 【請求項２】 小型電子部品本体と該本体に電気的に接
   続された外部端子からなる小型電子部品を収納、運搬す
   るための小型電子部品収納用トレイであって、 板状のトレイ本体の一面に凹状の電子部品収納部が形成
   され、該電子部品収納部にこれに収納された小型電子部
   品の外部端子の変形および／または欠損の許容範囲を示
   すサブ検査用目盛りが所定間隔で形成されていることを
   特徴とする検査用目盛り付き小型電子部品収納用トレ
   イ。
3. 【請求項３】 小型電子部品本体と該本体に電気的に接
   続された外部端子からなる小型電子部品を収納、運搬す
   るための小型電子部品収納用トレイであって、 板状のトレイ本体の一面に凹状の電子部品収納部が形成
   され、該電子部品収納部内の一定位置に前記小型電子部
   品本体を固定するためのリブが前記電子部品収納部内に
   設けられ、該電子部品収納部の底面で、かつリブの外周
   に該リブに固定された小型電子部品の外部端子の変形お
   よび／または欠損を検査するための検査用目盛りが所定
   間隔で形成されるとともに前記外部端子の変形および／
   または欠損の許容範囲を示すサブ検査用目盛りが所定間
   隔で形成されていることを特徴とする検査用目盛り付き
   小型電子部品収納用トレイ。