JP2000058809A - 行タイミング信号が共用される能動画素センサ - Google Patents

行タイミング信号が共用される能動画素センサ

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JP2000058809A JP11209265A JP20926599A JP2000058809A JP 2000058809 A JP2000058809 A JP 2000058809A JP 11209265 A JP11209265 A JP 11209265A JP 20926599 A JP20926599 A JP 20926599A JP 2000058809 A JP2000058809 A JP 2000058809A
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Antonio S Ciccarelli
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 感度が高められた能動画素センサを提供す
る。 【解決手段】 上記画素センサは、センサ内で使用する
信号線の数を削減するとともに、APS装置の利点を維
持しながらCCD装置の感度に近い改良されたバス構造
を用いることによって、感度を高める。APS装置の充
填率および感度は、現在読み出されている行の転送ゲー
トバス23と次に読み出される行のリセットゲート26
に接続し、現在読み出されている行と次に読み出される
行とで信号バスを共有させることによって高くなる。こ
れにより、各画素に個別の信号線コンタクト領域を設け
る必要がなくなり、ある行に対するタイミング信号およ
びバスを次の行のタイミング信号およびバスとして使用
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に固体光セン
サおよび撮像素子に関し、特に能動画素センサ(アクテ
ィブ・ピクセル・センサ:APS)と称する撮像素子に
関する。
【0002】
【従来の技術】能動画素センサ(APS)は、各画素が
光検知手段と、リセット手段と、電荷転送手段と、電荷
−電圧変換手段と、増幅器全体またはその一部とを含む
固体撮像素子である。APS装置は、撮像素子の各線す
なわち行が選択されてから、列選択信号を用いて読み出
される(それぞれ記憶装置のワードおよびビット線に似
ている)ような態様で操作されてきた。従来の装置で
は、ある行の画素内の種々のノードに対する接続または
コンタクトは、それらがある行における同じ電子ノード
であっても、画素ごとに行われている(図1参照)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】各画素にコンタクト領
域が設けられるのだが、このコンタクト領域のためには
金属層が重ならなくてはならないため、コンタクト領域
は一般に大きな画素領域を占める。このため、各画素が
これらのコンタクト領域を含むと、光検出器に使用でき
るはずの領域をコンタクト領域が占有するため、画素の
充填率が低下する。適切なタイミング信号に従ったこれ
らの各構成要素に対する接続は、画素の行全体に走る金
属バスによって行われる。これらの金属バスは光学的に
不透明であり、これらを画素のピッチに収めようとする
ことで光検出器の領域を占有してしまう可能性がある。
このことによっても画素の充填率は低くなる。充填率が
低下すると、センサの感度および飽和信号が低減し、セ
ンサのダイナミックレンジおよび写真速度、さらには高
品質の画像を得るのに重要である性能の尺度に悪影響を
及ぼす。
【0004】解像度が高く、画素の小さいAPS装置を
製作するには、画素の光検出素子でない要素に割当てる
画素領域を最小にするためにサブミクロンのCMOSプ
ロセスを使用する必要がある。本質的に、標準的な電荷
結合素子(CCD)センサと比較して、同じ解像度およ
び感度のAPS装置を実現するには、これより進んだ技
術とよりコストの高いプロセスが必要である。しかし、
CCDセンサと比べて、APS装置には、単一電源での
動作、低消費電力、x−yアドレス指定能力、画像ウィ
ンドウ処理、信号処理エレクトロニクスをチップ上で効
率的に集積できることの利点がある。
【0005】上述の説明より、当該分野においてAPS
装置内の信号バス構造を使用する方法の改善が依然とし
て必要とされていることが明らかであろう。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の問題の
うちのひとつ、またはそれ以上の問題を克服することに
関する。簡単に要約すると、本発明の一局面によると、
能動画素センサは、複数の行および列状に形成される複
数の画素を有するCMOS基板を含む。各画素は、それ
と関連する能動回路素子を有する光検出素子をさらに含
む。上記能動画素センサはさらに、画素の各行と関連す
る少なくとも2つの制御バスを含み、ある行に対する制
御バスの一方は別の行に対する制御バスの一方として動
作する。
【0007】画像センサにCCDの感度とAPS装置の
利点とを与える手法のひとつとして、APS装置の感度
と充填率を改善するというものがある。本発明は、各画
素に個別の単一信号線コンタクト領域を設ける必要性を
なくし、ある行に対するタイミング信号およびバスを次
の行に対するタイミング信号およびバスとして使用する
ことでこれを達成する。
【0008】本発明のこれらのおよび他の局面、目的、
特徴、および利点は、添付の図面を参照し、前掲の特許
請求の範囲および以下の好適な実施形態の詳細な説明を
検討することで、より明確に理解されるであろう。
【0009】コンタクト領域および金属バスに必要な画
素領域を縮小しながら、従来のAPS装置の特徴および
利点はすべて維持される。これにより、同じ画素サイズ
に対して飽和信号、充填率、感度が向上し、同じ充填率
に対して画素および装置のサイズが小さくできるという
利点が得られる。
【0010】
【発明の実施の形態】理解しやすくするために、各図面
に共通する同一の要素を示すのに、可能な場合には同一
の参照番号を使用する。
【0011】行信号線は結合が可能であり、それによっ
て一般的にはCMOSベースの画像センサである能動画
素センサ(APS)の充填率を増大できることがわかっ
た。これにより、典型的なAPSの従来の画素設計の概
略図である図1(a)に示される従来の画素10の欠点
に対処できる。本発明の第1の部分は、概念的に以下の
ように説明できる。すなわち、相関二重サンプリングを
行って読み出しノイズおよびオフセットノイズを抑える
ためには、光検出器(PD)14の信号電荷がフローテ
ィング拡散部(FD)12に転送される前に、フローテ
ィング拡散部12をリセットしなくてはならない。従来
は、リセットレベルをサンプル・ホールドする直前に別
個の信号をリセットゲート(RG)16に与えることで
これを行っていたが、リセット信号のサンプル・ホール
ドの直前ではなくそれよりもある適度な時間だけ早くリ
セットを行っても、同じ結果が得られる。信号がリセッ
トゲート16に与えられてからリセットレベルのサンプ
ル・ホールドが取られるまでの時間間隔は、暗電流によ
り飽和信号のヘッドルームを著しく損なわない(すなわ
ちファットゼロを生じない)程度に短くなくてはならな
い。さらに、各行は独自の行選択ゲート(RSG)18
を有し、これは信号トランジスタ19を伴うソースフォ
ロワトランジスタ構成の一部である。図1(a)の従来
装置は、能動画素センサ内の各行において個別のリセッ
トゲートバス15、転送ゲートバス13、行選択バス1
7を使用する。図1(b)は、図1(a)に概略で示さ
れる従来の画素の典型的なレイアウトを示し、転送ゲー
トバス13、行選択ゲートバス17、リセットゲートバ
ス15が画素10内の大きな空間を費やすことが明白で
ある。
【0012】図1の画素を使用するセンサに対する行タ
イミング信号が図2に示され、6行の画像センサの動作
を示している。画像センサ全体はリセット状態から始ま
り、転送ゲート(TG)11およびリセットゲート16
はすべてオンである。各行は、そのそれぞれのリセット
ゲート16と転送ゲート11を連続してオフにすること
により、順次積分をはじめる。ある行がある所望の時間
の間積分すると、その行に対する行選択信号がハイにな
り、リセットゲート16をオンにすることでその行の各
画素10のフローティング拡散部12がリセットされ、
リセットレベルがサンプル・ホールドされ、転送ゲート
11をオンにすることで信号電荷がフローティング拡散
部12に転送されて、信号レベルがサンプル・ホールド
される。その後、その行の行選択信号がローになり、続
いて行2の行選択信号がハイになる。行2に対してもリ
セットゲート16および転送ゲート11について同じタ
イミングが使用される。これがセンサの残りの行、この
場合には6つの行に対して繰り返される。各行が、転送
ゲート11、リセットゲート16、行選択ゲート18の
行タイミング信号の各々に対して個別の金属バスを含む
ことが明らかである。
【0013】本発明の概念は、ある特定のタイプの信号
線を行同士で共有することでセンサ内の信号線を減らせ
るというものである。図3を参照すると、各画素20が
所望の時間の間積分し、選択された行の行選択ゲートバ
ス27がハイになり、リセットゲート26をオンにする
ことで選択された行における各画素20のフローティン
グ拡散部22がリセットされ、リセットレベルがサンプ
ル・ホールドされ、次に転送ゲート21をオンにするこ
とにより信号電荷がフローティング拡散部22に転送さ
れ、信号レベルがサンプル・ホールドされる。その後、
その選択された行に対する行選択信号はローになり、次
に読み出す行に対する行選択信号がハイになる。次に選
択されたこの行についてもリセットゲート26および転
送ゲート21に対して同じタイミングを使用する。これ
を各行について繰り返す。各行が行選択ゲートバス27
については個別のバスを含むことが明らかであるが、行
選択ゲートバス27が隣接する行の転送ゲートバス23
と共有されている。
【0014】これを行うのに最適な方法が2つあり、こ
れらを好適な実施形態として取り上げる。以下、本発明
の2つの例をフローティング拡散部22のリセットから
リセットレベルのサンプル・ホールドまでの時間間隔が
短くなるような順に説明する。図3を参照すると、前に
読み出された行の転送ゲートバス23が現在読み出され
ている行のリセットゲートバスとして使用されている。
この方法では、信号線の総数を減じ、本発明の読み出し
機構において前の行のタイミング信号を使用する。第1
の例では、行nの転送ゲート21が行n+1のリセット
ゲート26として使用される(行nは現在読み出されて
いる行とする)。図4は、信号バスラインを削減するこ
の第1の方法の可能なレイアウトの1つを示す上面図で
あって、異なる行における2つの隣接する画素が示され
ている。第2の行のリセットゲート26が第1の行の転
送ゲートバス23と電気的に接続されていることがわか
る。尚、図5は、本発明の一方法に関するタイミング図
である。
【0015】第2の例は図6に示されており、行nの行
選択ゲートバス37が行n+1のリセットゲート36と
して使用される。このバスアーキテクチャでは、1行あ
たりのバスの数が3から2に削減され、そのため、光検
出器34に割当てることのできる面積を拡大でき、画素
の充填率が高くなる。さらに、ある行の画素内の能動素
子またはバスから次の行のリセットゲートまでの経路が
短く、ポリシリコンで形成できるため、効果的で特別な
内部配線層を設けることとなり、充填率がさらに高くな
る。
【0016】別の例を図7に概略的に、さらに図8にそ
のレイアウトを上面図で示す。この例では、リセットゲ
ートバス45を共通とすることにより信号線の数を削減
できる。これは、任意の行の1つをリセットする際にす
べてのフローティング拡散部を継続的にリセットでき、
装置の動作に影響を及ぼさないということを利用してい
るため、バスとコンタクト領域の数を削減する効果的な
手段を提供するものである。したがって、任意の1つの
行のリセットゲートバス45は他の任意の行の1つまた
はそれ以上と共通とすることができる。さらに、より厳
密には、任意の画素の1つまたは画素群に対するリセッ
トゲート46は、リセットゲート46に印加された信号
を他の画素または画素群と共有することができる。これ
によっても、1行あたりのコンタクト領域およびバスの
数が削減され、画素の充填率が高くなる。その他の構造
はこれまでの実施形態に示されるものと類似しており、
光検出器44が入射光から電子対を形成し、転送される
までこれらの電子対を信号電荷として蓄積し、転送ゲー
ト41が蓄積された電荷をフローティング拡散部42に
転送し、拡散部42は信号トランジスタ49へのセンス
ノード入力として動作する。
【0017】バスおよびコンタクト領域の数を削減する
さらに別の手段を図10に示す。この例では、ある行の
行選択ゲート58が次に読み出す行の転送ゲート51と
同じ信号バス上にある。この手法では、転送ゲート51
とリセットゲート56の動作の順序を逆にしている。光
検出器信号レベルが、フローティング拡散部52のリセ
ットおよびリセットレベルのサンプル・ホールド前に、
転送され、サンプル・ホールドされる。この態様では、
画素オフセット相殺が行われるが、相関二重サンプリン
グ(CDS)を行うことはできない。したがって、ショ
ット雑音は大きくなる。この例でも、1行あたりのバス
の数は3から2へ削減される。そのタイミング図を図9
に示す。
【0018】ここで開示した具体例は本発明を説明する
ために用いた具体的な実施形態に過ぎず、他の実施形態
も可能であることを理解されたい。
【図面の簡単な説明】
【図1】 (a)は従来の画素設計の概略図であり、
(b)は(a)に示される従来の画素設計の典型的なレ
イアウトを示す上面図である。
【図2】 図1(a)および(b)に示される画素に関
するタイミング図である。
【図3】 本発明の好適な実施形態の概略図である。
【図4】 本発明の一実施形態のレイアウトを示す上面
図である。
【図5】 本発明の一方法に関するタイミング図であ
る。
【図6】 本発明の別の好適な実施形態の概略図であ
る。
【図7】 本発明の別の好適な実施形態の概略図であ
る。
【図8】 本発明の図7に示される好適な実施形態のレ
イアウトを示す上面図である。
【図9】 図10に示される本発明の実施形態のタイミ
ング図である。
【図10】 本発明の別の実施形態の概略図である。
【符号の説明】
10,20,30,40,50 画素、11,21,3
1,41,51 転送ゲート、12,22,32,4
2,52 フローティング拡散部、13,23,33,
43 転送ゲートバス、14,24,34,44,54
光検出器、15,45,55 リセットゲートバス、
16,26,36,46,56 リセットゲート、1
7,27,37,47,57 行選択ゲートバス、1
8,28,38,48,58 行選択ゲート、19,2
9,39,49,59 信号トランジスタ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 能動画素センサであって、 複数の行および列状に形成された複数の画素を有するC
    MOS基板を含み、 前記画素の各々はさらに光検出器であって、この光検出
    器とそれと関連する能動回路素子を有する光検出器を備
    え、 前記能動画素センサは、画素の各行と関連する少なくと
    も2つの制御バスをさらに含み、 任意の1行に対する前記制御バスのうちの1つが別の行
    に対する制御バスの1つとして動作することを特徴とす
    る能動画素センサ。
  2. 【請求項2】 能動画素センサであって、 複数の行および列状に形成される複数の画素であって、
    前記画素の各々が、この画素と関連する少なくとも1つ
    の能動回路素子を有するとともに、入射光から電子を生
    成できる光検出器を有する複数の画素を備える半導体基
    板と、 前記画素の行を順次読み出すための手段と、 少なくとも2つの信号バスであって、その各々が画素に
    おける異なる機能を制御するように画素の各行と関連す
    る信号バスと、 第1の行の前記信号バスのうちの1つを第2の行の前記
    信号バスの1つに順次接続するバス構造と、を含み、前
    記第2の行が前記第1の行の後に順次読み出されること
    を特徴とする能動画素センサ。
  3. 【請求項3】 能動画素センサであって、 複数の行および列状に形成される複数の画素を備える半
    導体基板を含み、 前記画素の各々は、光検出素子と、前記光検出素子に隣
    接する第1の側面を有する転送ゲートと、前記転送ゲー
    トの前記第1の側面に対向する第2の側面に隣接する電
    荷検知領域と、該画素に関連するとともに前記電荷検知
    領域に結合される少なくとも1つの能動回路素子とを有
    し、前記能動画素センサはさらに、 前記画素の行を順次読み出すための手段と、 画素の各行と関連する少なくとも2つの信号バスと、 現在読み出されている第1の行の信号バスの1つを、次
    に読み出される第2の行と関連する信号バスの1つに接
    続するバス構造と、を含むことを特徴とする能動画素セ
    ンサ。
JP11209265A 1998-07-28 1999-07-23 行タイミング信号が共用される能動画素センサ Pending JP2000058809A (ja)

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US09/124,206 1998-07-28
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TW (1) TW424400B (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002016243A (ja) * 2000-04-28 2002-01-18 Hynix Semiconductor Inc Cmosイメージセンサー及びその製造方法
JP2002190585A (ja) * 2000-12-20 2002-07-05 Nec Corp Mos型イメージセンサ
JP2006148513A (ja) * 2004-11-19 2006-06-08 Canon Inc 固体撮像装置及び同固体撮像装置を用いたカメラ
US7557846B2 (en) 2004-04-27 2009-07-07 Fujitsu Microelectronics Limited Solid-state image sensor including common transistors between pixels

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6977684B1 (en) * 1998-04-30 2005-12-20 Canon Kabushiki Kaisha Arrangement of circuits in pixels, each circuit shared by a plurality of pixels, in image sensing apparatus
US7410482B2 (en) * 1998-09-04 2008-08-12 Boston Scientific-Scimed, Inc. Detachable aneurysm neck bridge
US7015964B1 (en) * 1998-11-02 2006-03-21 Canon Kabushiki Kaisha Solid-state image pickup device and method of resetting the same
US6657665B1 (en) * 1998-12-31 2003-12-02 Eastman Kodak Company Active Pixel Sensor with wired floating diffusions and shared amplifier
JP4337177B2 (ja) * 1999-07-09 2009-09-30 ソニー株式会社 固体撮像素子およびその駆動方法
JP4296638B2 (ja) * 1999-07-12 2009-07-15 ソニー株式会社 固体撮像素子およびカメラシステム
KR100359770B1 (ko) * 2000-03-02 2002-11-04 주식회사 하이닉스반도체 씨모스 이미지 센서의 액티브 픽셀 회로
US7129979B1 (en) * 2000-04-28 2006-10-31 Eastman Kodak Company Image sensor pixel for global electronic shuttering
JP3792628B2 (ja) * 2002-09-02 2006-07-05 富士通株式会社 固体撮像装置及び画像読み出し方法
JP3720014B2 (ja) * 2002-11-01 2005-11-24 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 固体撮像装置
TWI229539B (en) * 2003-02-27 2005-03-11 Elecvision Inc Small image sensing device and image sensing element thereof
US7369168B2 (en) * 2003-07-29 2008-05-06 Micron Technology, Inc. Circuit for an active pixel sensor
US7542085B2 (en) * 2003-11-26 2009-06-02 Aptina Imaging Corporation Image sensor with a capacitive storage node linked to transfer gate
US7616855B2 (en) * 2004-11-15 2009-11-10 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Integrated waveguide and method for designing integrated waveguide
US20060169870A1 (en) * 2005-02-01 2006-08-03 Silsby Christopher D Image sensor with embedded optical element
KR100674963B1 (ko) * 2005-03-09 2007-01-26 삼성전자주식회사 컬럼간 아날로그 신호 합을 이용하여 서브 샘플링을 지원하는 고체 촬상 소자 및 방법
US7214920B2 (en) * 2005-05-06 2007-05-08 Micron Technology, Inc. Pixel with spatially varying metal route positions
US7432491B2 (en) * 2005-05-06 2008-10-07 Micron Technology, Inc. Pixel with spatially varying sensor positions
US7342213B2 (en) * 2005-06-01 2008-03-11 Eastman Kodak Company CMOS APS shared amplifier pixel with symmetrical field effect transistor placement
KR100723487B1 (ko) * 2005-06-08 2007-06-04 삼성전자주식회사 이미지 센서에서 효율적인 금속 배선의 픽셀 회로 및 구동방법
KR100718781B1 (ko) * 2005-06-15 2007-05-16 매그나칩 반도체 유한회사 콤팩트 픽셀 레이아웃을 갖는 cmos 이미지 센서
JP4486015B2 (ja) * 2005-09-13 2010-06-23 パナソニック株式会社 固体撮像装置
JP4807253B2 (ja) * 2006-12-28 2011-11-02 株式会社デンソー 画像データ生成装置及び受光デバイス
US8130300B2 (en) * 2007-12-20 2012-03-06 Aptina Imaging Corporation Imager method and apparatus having combined select signals
US8077236B2 (en) 2008-03-20 2011-12-13 Aptina Imaging Corporation Method and apparatus providing reduced metal routing in imagers
JP5458582B2 (ja) 2009-01-28 2014-04-02 ソニー株式会社 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器
JP5404112B2 (ja) * 2009-03-12 2014-01-29 キヤノン株式会社 固体撮像素子、その駆動方法及び撮像システム
ITUD20110149A1 (it) 2011-09-29 2013-03-30 Monica Vatteroni Dispositivo fotorilevatore per sensori elettro-ottici a dinamica di luce variabile
US9526468B2 (en) 2014-09-09 2016-12-27 General Electric Company Multiple frame acquisition for exposure control in X-ray medical imagers

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06334920A (ja) 1993-03-23 1994-12-02 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> 固体撮像素子とその駆動方法
US5471515A (en) 1994-01-28 1995-11-28 California Institute Of Technology Active pixel sensor with intra-pixel charge transfer
DE69424805T2 (de) 1994-07-27 2000-12-07 1294339 Ontario Inc Bildwandlersystem
US5625210A (en) 1995-04-13 1997-04-29 Eastman Kodak Company Active pixel sensor integrated with a pinned photodiode
EP0809394B1 (en) 1996-05-22 2008-02-13 Eastman Kodak Company Active pixel sensor with switched supply row select

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002016243A (ja) * 2000-04-28 2002-01-18 Hynix Semiconductor Inc Cmosイメージセンサー及びその製造方法
JP2002190585A (ja) * 2000-12-20 2002-07-05 Nec Corp Mos型イメージセンサ
US7557846B2 (en) 2004-04-27 2009-07-07 Fujitsu Microelectronics Limited Solid-state image sensor including common transistors between pixels
JP2006148513A (ja) * 2004-11-19 2006-06-08 Canon Inc 固体撮像装置及び同固体撮像装置を用いたカメラ
JP4669264B2 (ja) * 2004-11-19 2011-04-13 キヤノン株式会社 固体撮像装置及びそれを用いたカメラ

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