JP2000057990A5 - - Google Patents
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Description
上記課題を解決するために成された本発明に係る質量分析計は、イオン源にて生成されマスフィルタを通過したイオン流を受け、該イオン流の強度に応じた信号を出力する検出器を備える質量分析計において、所定の測定条件の下で一定量の標準試料の質量分析を行なうべく質量分析計の各部を制御する調整手段と、前記調整手段による前記標準試料の質量分析の間に前記検出器が出力する信号の強度及び該強度の揺らぎに基づいて前記検出器の劣化状態を判定する判定手段と、を備えることを特徴としている。
本発明に係る質量分析計では、質量分析計の調整時に調整手段が、調整のために予め定められた分析条件の下で一定量の標準試料の質量分析を行なうべく質量分析計の各部を制御し、その間に判定手段が、検出器の出力信号の強度と揺らぎの両方を調べ、これに基づいて検出器の劣化状態を判定する。すなわち、判定手段は、出力信号強度と揺らぎとの間の比率が出力信号の低下に伴って変化したかどうかを見ることにより、その出力信号の低下が検出器の増幅率の低下によるものか、その他の原因によるものかを判定するのである。なお、本発明において、出力信号の強度の揺らぎを示す変数としては、例えば出力信号の強度分布の標準偏差、強度分布のピーク幅（例えば、ピーク高さの１／２の高さにおけるピーク幅）等を利用すればよい。
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