JP2000022339A - Manufacture of multilayer printed wiring board - Google Patents

Manufacture of multilayer printed wiring board

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JP2000022339A
JP2000022339A JP20269098A JP20269098A JP2000022339A JP 2000022339 A JP2000022339 A JP 2000022339A JP 20269098 A JP20269098 A JP 20269098A JP 20269098 A JP20269098 A JP 20269098A JP 2000022339 A JP2000022339 A JP 2000022339A
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JP
Japan
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layer
roughened
resin
conductor circuit
wiring board
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JP20269098A
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Japanese (ja)
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Tomohiro Nishikawa
智裕 西川
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Ibiden Co Ltd
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Ibiden Co Ltd
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  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent exfoliation of a conductor circuit and interlayer insulating resin, by a method wherein after a roughened layer of a conductor circuit is formed, fluid like water is sprayed against the roughened layer and a roughened surface, and remaining foreign matters are physically eliminated. SOLUTION: A roughened layer 42 of copper - nickel - phosphorus alloy is formed on a conductor circuit 34 surface of a core board 30 and a land surface of a through hole 36. In another case, a roughened layer 42 is formed on the conductor circuit 34 by blackening - reducing treatment and etching treatment using sulfuric acid and hydrogen peroxide. After the roughened layer 42 is formed, rinsing is performed and middle pressure rinsing with 1-5 kgf/cm2 is performed, thereby eliminating dust. After that, hydro-extraction drying is performed, and physical elimination of left foreign matters is made possible. As a result, exfoliation of the conductor circuit 34 and interlayer insulating resin 50 can be prevented, and cracks of a solder resist layer can be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、多層プリント配
線板に関し、特に、基板上に形成された導体回路表面に
粗化層を設けてから樹脂層を形成する多層プリント配線
板の製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board, and more particularly to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board in which a roughened layer is provided on a surface of a conductive circuit formed on a substrate and then a resin layer is formed. It is.

【0002】[0002]

【従来の技術】ビルドアップ多層配線板は、基板上に形
成された金属製の導体回路上面に樹脂層(層間樹脂絶縁
層、ソルダーレジスト層)を形成する際には、両者の密
着性を高めるために、該導体回路表面を粗化することが
行われている。この表面粗化について、例えば、特開平
9−130050号に開示されている。
2. Description of the Related Art When a resin layer (interlayer resin insulation layer, solder resist layer) is formed on the upper surface of a metal conductive circuit formed on a substrate, a build-up multilayer wiring board enhances the adhesion between the two. Therefore, the surface of the conductor circuit is roughened. This surface roughening is disclosed, for example, in JP-A-9-130050.

【0003】係る製造方法においては、ビルドアップ多
層配線板の導体回路の表面に粗化層を無電解めっきで析
出させる、あるいは、エッチング処理により表面に粗化
層を形成させることにより、該表面を粗化する。その
後、層間絶縁樹脂を塗布、露光、現像して、層間導通の
ためのバイアホール開口部を形成させて、UVキュア、
本硬化を経て層間絶縁層を形成する。さらに、その層間
絶縁層に粗化処理を施し、粗化面にパラジウムなどの触
媒を付け、薄い無電解めっき膜を形成し、その膜にドラ
イフィルムにてパターンを形成し、電解めっきで厚付け
したのち、アルカリで剥離除去し、エッチングして導体
回路を作り出させる。これを繰り返すことにより、ビル
ドアップ多層配線板が得られる。
In such a manufacturing method, a roughened layer is deposited on the surface of a conductor circuit of a build-up multilayer wiring board by electroless plating, or the roughened layer is formed on the surface by etching to form a roughened layer on the surface. Roughens. Thereafter, an interlayer insulating resin is applied, exposed, and developed to form a via hole opening for interlayer conduction, and UV curing,
After the main curing, an interlayer insulating layer is formed. Furthermore, roughening treatment is applied to the interlayer insulating layer, a catalyst such as palladium is applied to the roughened surface, a thin electroless plating film is formed, a pattern is formed on the film with a dry film, and the film is thickened by electrolytic plating. After that, it is peeled off with an alkali and etched to form a conductor circuit. By repeating this, a build-up multilayer wiring board is obtained.

【0004】また、このビルドアップ多層配線板の導体
回路を粗化する方法として、導体回路の表面にCu−N
i−Pからなる合金粗化層を無電解めっきで析出させ
る、あるいは、黒化−還元処理等のエッチング処理によ
り、表面に粗化層を形成させる。その粗化層にSnめっ
きによりSn層を形成させることにより、導体回路と層
間絶縁樹脂層との密着を確保するという方法がある。こ
の方法は、ソルダーレジスト層形成にも使用されている
(なお、ソルダーレジスト層の使用の際、Sn層を形成
させない。)
As a method of roughening a conductor circuit of this build-up multilayer wiring board, Cu-N
A roughened layer composed of iP is deposited by electroless plating, or a roughened layer is formed on the surface by an etching process such as a blackening-reducing process. There is a method in which an Sn layer is formed on the roughened layer by Sn plating to ensure adhesion between the conductor circuit and the interlayer insulating resin layer. This method is also used for forming a solder resist layer (note that when a solder resist layer is used, an Sn layer is not formed).

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たように導体回路の表面に粗化層を設けても、層間絶縁
樹脂の本硬化後、または、無電解めっき後の乾燥後に、
該導体回路の粗化層から層間絶縁樹脂層が剥がれること
を完全には防止し得なかった。更に、信頼性試験におい
てソルダーレジスト層にクラックが発生するという問題
も起きている。
However, even if the roughened layer is provided on the surface of the conductor circuit as described above, after the main curing of the interlayer insulating resin or the drying after the electroless plating,
The peeling of the interlayer insulating resin layer from the roughened layer of the conductor circuit could not be completely prevented. Further, there is a problem that cracks occur in the solder resist layer in the reliability test.

【0006】ここで、層間絶縁樹脂層の剥がれは、層間
のショートおよび層間絶縁層上のパターンが断線する原
因となる。また、最外層の配線を保護するソルダーレジ
スト層のクラックは、配線の信頼性が低下する原因とな
る。
Here, the peeling of the interlayer insulating resin layer causes a short circuit between the layers and a disconnection of the pattern on the interlayer insulating layer. Further, cracks in the solder resist layer that protects the outermost wiring may cause a reduction in the reliability of the wiring.

【0007】本発明は、上述した課題を解決するために
なされたものであり、その目的とするところは、導体回
路と層間絶縁樹脂との剥がれを防止し、また、ソルダー
レジスト層のクラックを防止して信頼性を向上させ得る
多層プリント配線板の製造方法を提案することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to prevent peeling between a conductor circuit and an interlayer insulating resin and to prevent cracks in a solder resist layer. It is an object of the present invention to propose a method of manufacturing a multilayer printed wiring board that can improve reliability.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明者は、上述した課
題の発生原因が、導体回路の粗化層の表面、または、粗
化面に0.5μm前後の異物が残留していることにある
との知見を得た。即ち、導体回路の表面上に形成した、
Cu−Ni−Pからなる合金の粗化層の表面、または、
粗化面に0.5μm前後の異物が残留し、その異物が起
点となり、層間絶縁樹脂層との剥がれが発生し、また、
信頼性試験においてソルダーレジスト層にクラックを発
生させる原因であることを知見した。
The inventor of the present invention has found that the cause of the above-mentioned problem is that foreign matter of about 0.5 μm remains on the surface of the roughened layer of the conductor circuit or on the roughened surface. I got the knowledge that there is. That is, formed on the surface of the conductor circuit,
The surface of a roughened layer of an alloy composed of Cu-Ni-P, or
Foreign matter of about 0.5 μm remains on the roughened surface, the foreign matter serves as a starting point, peeling from the interlayer insulating resin layer occurs, and
In the reliability test, it was found that the cause was to cause cracks in the solder resist layer.

【0009】本発明は、上記知見に基づき、導体回路の
粗化層形成後、水切り乾燥を行わず、粗化層および粗化
面へ水などの流体を拭きかけて、残留した異物の物理的
除去を行うことにより前述の問題を解決できるというも
のである。
According to the present invention, based on the above-mentioned knowledge, after forming a roughened layer of a conductor circuit, without draining and drying, a fluid such as water is wiped on the roughened layer and the roughened surface to physically remove the remaining foreign matter. By performing the removal, the above-mentioned problem can be solved.

【0010】使用できる流体は、水に限らず、有機溶剤
(例えば、アセトン)、空気、窒素ガス、炭酸ガスなど
も使用できる。揮発性の有機溶剤を用いる場合には、水
と異なり加熱による乾燥が不要である利点がある。空気
は廉価である長所があり、窒素ガス、炭酸ガスは、化学
的に安定しており、多層プリント配線板の表面を変質さ
せない利点がある。
The fluid that can be used is not limited to water, but may be an organic solvent (for example, acetone), air, nitrogen gas, carbon dioxide gas, or the like. When a volatile organic solvent is used, there is an advantage that drying by heating is unnecessary unlike water. Air has the advantage of being inexpensive, and nitrogen gas and carbon dioxide are chemically stable and have the advantage of not altering the surface of the multilayer printed wiring board.

【0011】ここで、該粗化層を水洗する場合のスプレ
ー圧の適切な範囲は、1〜5kgf/cm2 である。そ
の理由は、スプレー圧が範囲より小さいときは、異物の
除去を完全に行うことが困難であり、また、スプレー圧
が範囲より大きいときは、針状合金が、欠落、破壊さ
れ、上層の層間樹脂絶縁層、ソルダーレジスト層との密
着性が低下してしまうためである。
Here, an appropriate range of the spray pressure for washing the roughened layer with water is 1 to 5 kgf / cm 2 . The reason is that when the spray pressure is lower than the range, it is difficult to completely remove the foreign substances, and when the spray pressure is higher than the range, the needle-shaped alloy is chipped or broken, and the upper interlayer This is because the adhesion to the resin insulating layer and the solder resist layer is reduced.

【0012】なお、従来は、粗化層形成後、水切り乾燥
を経て、層間絶縁樹脂の塗布を行ってきた。ここで、水
切り乾燥を行った際に、粗化層および粗化面に付着した
0.5μm前後の異物も乾燥して固着し、異物と表面と
の密着力が増してしまう。このため、該水切り乾燥後
に、中圧水洗を行っても異物を除去することが困難にな
る。そのため、確実に除去させるため中圧水洗前に水切
り乾燥を実施しないことが望ましい。
Conventionally, after formation of a roughened layer, an interlayer insulating resin has been applied through draining and drying. Here, when draining and drying are performed, foreign matter of about 0.5 μm attached to the roughened layer and the roughened surface is also dried and fixed, and the adhesion between the foreign matter and the surface increases. For this reason, it is difficult to remove foreign matter even if the medium pressure washing is performed after the draining and drying. Therefore, it is desirable not to perform draining and drying before washing with medium pressure in order to ensure removal.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明の製造方法の実施形
態について述べる。本実施形態では、基板上に、絶縁層
もしくは層間絶縁樹脂層として無電解めっき用接着剤層
を形成し、この無電解めっき用接着剤層上に配線パター
ンを設けることが望ましい。この無電解めっき用接着剤
は、硬化処理された酸あるいは酸化剤に可溶性の耐熱性
樹脂粒子が、酸あるいは酸化剤に難溶性の未硬化の耐熱
性樹脂中に分散されてなるものが最適である。性樹脂粒
子が溶解除去されて、表面に蛸つぼ状のアンカーからな
る粗化面を形成できる。
Embodiments of the present invention will be described below. In the present embodiment, it is desirable to form an adhesive layer for electroless plating as an insulating layer or an interlayer insulating resin layer on a substrate, and to provide a wiring pattern on the adhesive layer for electroless plating. The most suitable adhesive for electroless plating is one in which heat-resistant resin particles soluble in a cured acid or oxidizing agent are dispersed in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or oxidizing agent. is there. The conductive resin particles are dissolved and removed, and a roughened surface composed of an octopus pot-shaped anchor can be formed on the surface.

【0014】上記無電解めっき用接着剤において、特に
硬化処理された前記耐熱性樹脂粒子としては、平均粒
径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、平均粒径が2μ
m以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、平均
粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末と平均粒径が2μ
m以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、平均粒径が2〜
10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒径が2μm以
下の耐熱性樹脂粉末または無機粉末のいずれか少なくと
も1種を付着させてなる疑似粒子、平均粒径が0.1
〜0.8μmの耐熱性樹脂粉末と平均粒径が0.8μm
を越え、2μm未満の耐熱性樹脂粉末との混合物、平
均粒径が0.1〜1.0μmの耐熱性樹脂粉末を用いる
ことが望ましい。これらは、より複雑なアンカーを形成
できるからである。
In the above-mentioned adhesive for electroless plating, the heat-resistant resin particles which have been particularly hardened include a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 10 μm or less, and an average particle diameter of 2 μm.
agglomerated particles obtained by aggregating a heat-resistant resin powder having a particle diameter of 2 m or less, and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 to 10 μm and an average particle diameter of 2 μm
m and a mixture with a heat-resistant resin powder having a mean particle size of 2 or less.
Pseudo particles obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder or an inorganic powder having an average particle size of 2 μm or less to the surface of a 10 μm heat-resistant resin powder, and an average particle size of 0.1 μm.
~ 0.8μm heat resistant resin powder and average particle size 0.8μm
It is desirable to use a mixture with a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 0.1 to 1.0 μm. This is because they can form more complex anchors.

【0015】粗化面の探さは、Rmax=0.01〜2
0μmがよい。密着性を確保するためである。特にセミ
アディティブ法では、0.1〜5μmがよい。密着性を
確保しつつ、無電解めっき膜を除去できるからである。
The search for the roughened surface is as follows: Rmax = 0.01 to 2
0 μm is preferred. This is to ensure adhesion. Particularly, in the semi-additive method, the thickness is preferably 0.1 to 5 μm. This is because the electroless plating film can be removed while ensuring adhesion.

【0016】前記酸あるいは酸化剤に難溶牲の耐熱性樹
脂としては、「熱硬化性樹脂および熱可塑性樹脂からな
る樹脂複合体」又は「感光性樹脂および熱可塑性樹脂か
らなる樹脂複合体」からなることが望ましい。前者につ
いては耐熱性が高く、後者についてはバイアホール用の
開口をフォトリソグラフィーにより形成できるからであ
る。
The heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent is selected from a “resin composite composed of a thermosetting resin and a thermoplastic resin” or a “resin composite composed of a photosensitive resin and a thermoplastic resin”. It is desirable to become. This is because the former has high heat resistance, and the latter can form an opening for a via hole by photolithography.

【0017】前記熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹
脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂などを使用でき
る。また、感光化する場合は、メタクリル酸やアクリル
酸などと熱硬化基をアクリル化反応させる。特にエポキ
シ樹脂のアクリレートが最適である。エポキシ樹脂とし
ては、フェノールノボラック型、クレゾールノボラック
型、などのノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタ
ジエン変成した脂環式エポキシ樹脂などを使用すること
ができる。
As the thermosetting resin, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin and the like can be used. In the case of photosensitization, methacrylic acid, acrylic acid, or the like is reacted with a thermosetting group for acrylation. Particularly, acrylate of epoxy resin is most suitable. As the epoxy resin, a novolak type epoxy resin such as a phenol novolak type and a cresol novolak type, and an alicyclic epoxy resin modified with dicyclopentadiene can be used.

【0018】熱可塑性樹脂としては、ポリエーテルスル
フォン(PES)、ポリスルフォン(PSF)、ポリフ
ェニレンスルフォン(PPS)、ポリフェニレンサルフ
ァイド(PPES)、ポリフェニルエーテル(PP
E)、ポリエーテルイミド(PI)などを使用できる。
熱硬化性樹脂(感光性樹脂)と熱可塑性樹脂の混合割合
は、熱硬化性樹脂(感光性樹脂)/熱可塑性樹脂=95
/5〜50/50がよい。耐熱性を損なうことなく、高
い靭性値を確保できるからである。
As the thermoplastic resin, polyether sulfone (PES), polysulfone (PSF), polyphenylene sulfone (PPS), polyphenylene sulfide (PPES), polyphenyl ether (PP
E), polyetherimide (PI) and the like can be used.
The mixing ratio of the thermosetting resin (photosensitive resin) and the thermoplastic resin is: thermosetting resin (photosensitive resin) / thermoplastic resin = 95
/ 5 to 50/50 is preferred. This is because a high toughness value can be secured without impairing the heat resistance.

【0019】前記耐熱性樹脂粒子の混合重量比は、耐熱
性樹脂マトリックスの固形分に対して5〜50重量%、
望ましくは10〜40重量%がよい。耐熱性樹脂粒子
は、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミン
樹脂)、エポキシ樹脂などがよい。なお、接着剤は、後
述のように組成の異なる2層により構成してもよい。
The mixing weight ratio of the heat-resistant resin particles is 5 to 50% by weight based on the solid content of the heat-resistant resin matrix.
Desirably, the content is 10 to 40% by weight. As the heat-resistant resin particles, amino resin (melamine resin, urea resin, guanamine resin), epoxy resin and the like are preferable. The adhesive may be composed of two layers having different compositions as described later.

【0020】更に詳細に本実施形態の多層プリント配線
板の製造方法について説明する。 (1)まず、コア基板の表面に内層銅パターンを形成し
た配線基板を作製する。このコア基板への銅パターンの
形成は、銅張積層板をエッチングして行うか、あるい
は、ガラスエポキシ基板やポリイミド基板、セラミック
基板、金属基板などの基板に無電解めっき用接着剤層を
形成し、この接着剤層表面を粗化して粗化面とし、ここ
に無電解めっきを施して行う方法がある。
The method for manufacturing the multilayer printed wiring board according to this embodiment will be described in more detail. (1) First, a wiring board having an inner layer copper pattern formed on the surface of a core board is manufactured. The copper pattern is formed on the core substrate by etching a copper-clad laminate, or by forming an adhesive layer for electroless plating on a substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, or a metal substrate. There is a method in which the surface of the adhesive layer is roughened to a roughened surface, and electroless plating is performed on the roughened surface.

【0021】さらに必要に応じて、導体回路表面に粗化
層を形成する。粗化層の形成方法としては、酸化(黒
化)−還元処理、表面をソフトエッチングして粗化面を
形成する方法などがある。なお、コア基板には、スルー
ホールが形成され、このスルーホールを介して表面と裏
面の配線層を電気的に接続できる。
Further, if necessary, a roughening layer is formed on the surface of the conductor circuit. As a method of forming the roughened layer, there is an oxidation (blackening) -reduction treatment, a method of forming a roughened surface by soft etching the surface, or the like. Note that a through-hole is formed in the core substrate, and the wiring layer on the front surface and the back surface can be electrically connected through the through-hole.

【0022】また、スルーホールおよびコア基板の導体
回路間には樹脂を充填することで、平滑性を確保しても
よい。コア基板の導体回路表面、スルーホールのランド
表面には、本実施形態にかかる銅−ニッケル−リン合金
粗化層を形成する。あるいは、黒化−還元処理、硫酸、
過酸化水素などによるエッチング処理を施して、導体回
路に粗化層を形成する。粗化層を形成した後、水洗いの
後、水切り乾燥を行うことなく、1〜5kgf/cm2
で中圧水洗し、ゴミを除去する。その後、水切り乾燥を
行う。該粗化層の洗浄には、有機溶剤(例えば、アセト
ン)、空気、窒素ガス、炭酸ガスなども使用できる。
The resin may be filled between the through-holes and the conductor circuits of the core substrate to ensure smoothness. The copper-nickel-phosphorus alloy roughened layer according to the present embodiment is formed on the surface of the conductor circuit of the core substrate and the land surface of the through hole. Alternatively, blackening-reducing treatment, sulfuric acid,
An etching process using hydrogen peroxide or the like is performed to form a roughened layer on the conductor circuit. After forming the roughened layer, after washing with water, without draining and drying, 1 to 5 kgf / cm 2
And wash with medium pressure to remove dust. Thereafter, draining and drying are performed. For cleaning the roughened layer, an organic solvent (for example, acetone), air, nitrogen gas, carbon dioxide gas or the like can be used.

【0023】(2)次に、前記(1)で作製した配線基
板の上に、層間樹脂絶縁層を形成する。特に本実施形態
では、層間樹脂絶縁材として無電解めっき用接着剤を用
いることが望ましい。
(2) Next, an interlayer resin insulating layer is formed on the wiring board manufactured in the above (1). In particular, in the present embodiment, it is desirable to use an adhesive for electroless plating as an interlayer resin insulating material.

【0024】(3)形成した無電解めっき用接着剤層を
乾燥した後、必要に応じてバイアホール形成用開口を設
ける。感光性樹脂の場合は、露光、現像してから熱硬化
することにより、また、熱硬化性樹脂の場合は、熱硬化
したのちレーザー加工することにより、前記接着剤層に
バイアホール形成用の開口部を設ける。
(3) After the formed adhesive layer for electroless plating is dried, openings for forming via holes are provided if necessary. In the case of a photosensitive resin, by exposing and developing and then thermosetting, and in the case of a thermosetting resin, by thermosetting and then laser processing, an opening for forming a via hole is formed in the adhesive layer. Section is provided.

【0025】(4)次に、硬化した前記接着剤層の表面
に存在するエポキシ樹脂粒子を酸あるいは酸化剤によっ
て溶解除去し、接着剤層表面を粗化処理する。ここで、
上記酸としては、リン酸、塩酸、硫酸、あるいは蟻酸や
酢酸などの有機酸があるが、特に有機酸を用いることが
望ましい。これは、粗化処理した場合に、バイアホール
から露出する金属導体層を腐食させにくいからである。
一方、上記酸化剤としては、クロム酸、過マンガン酸塩
(過マンガン酸カリウムなど)を用いることが望まし
い。
(4) Next, the epoxy resin particles present on the surface of the cured adhesive layer are dissolved and removed with an acid or an oxidizing agent, and the surface of the adhesive layer is roughened. here,
Examples of the acid include phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid, and it is particularly preferable to use an organic acid. This is because, when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded.
On the other hand, it is desirable to use chromic acid and permanganate (such as potassium permanganate) as the oxidizing agent.

【0026】(5)次に、接着剤層表面を粗化した配線
基板に触媒核を付与する。触媒核の付与には、貴金属イ
オンや貴金属コロイドなどを用いることが望ましく、一
般的には、塩化パラジウムやパラジウムコロイドを使用
する。なお、触媒核を固定するために加熱処理を行うこ
とが望ましい。このような触媒核としてはパラジウムが
よい。
(5) Next, a catalyst nucleus is applied to the wiring board whose surface of the adhesive layer is roughened. It is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus, and generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. Note that it is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core. Palladium is preferred as such a catalyst core.

【0027】(6)次に、無電解めっき用接着剤表面に
無電解めっきを施し、粗化面全面に無電解めっき膜を形
成する。無電解めっき膜の厚みは0.5〜5μmであ
る。つぎに、無電解めっき膜上にめっきレジストを形成
する。 (7)めっきレジスト非形成部に5〜20μmの厚みの
電解めっきを施し、導体回路、ならびにバイアホールを
形成する。ここで、上記電解めっきとしては、銅めっき
を用いることが望ましい。
(6) Next, an electroless plating is applied to the surface of the adhesive for electroless plating to form an electroless plating film on the entire roughened surface. The thickness of the electroless plating film is 0.5 to 5 μm. Next, a plating resist is formed on the electroless plating film. (7) Electroplating with a thickness of 5 to 20 μm is applied to the portion where the plating resist is not formed to form a conductor circuit and a via hole. Here, it is desirable to use copper plating as the electrolytic plating.

【0028】(8)さらに、めっきレジストを除去した
後、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫酸ナトリウム、過
硫酸アンモニウムなどのエッチング液で無電解めっき膜
を溶解除去して、独立した導体回路とする。
(8) After removing the plating resist, the electroless plating film is dissolved and removed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or an etching solution such as sodium persulfate and ammonium persulfate to form an independent conductor circuit. I do.

【0029】(9)ついで、導体回路表面に、本願発明
にかかるポーラス状の銅−ニッケル−リン合金粗化層を
形成した後、上述したように中圧水洗によりゴミの除去
を行う。 (10)次に、この基板上に層間樹脂絶縁層として、無
電解めっき用接着剤層を形成する。
(9) Then, after the porous copper-nickel-phosphorus alloy roughened layer according to the present invention is formed on the surface of the conductor circuit, dust is removed by medium-pressure water washing as described above. (10) Next, an adhesive layer for electroless plating is formed as an interlayer resin insulating layer on the substrate.

【0030】(11)さらに、(3)〜(9)の工程を
繰り返してさらに上層の導体回路を設けて、片面3層の
6層両面多層プリント配線板を得る。 (12)これらの工程により形成された多層プリント配
線板の表面に粗化層を形成した後、前述のように流体を
吹きつけて粗化表面のゴミを除去する。
(11) Further, the steps (3) to (9) are repeated to provide a further upper layer conductive circuit, thereby obtaining a six-layer double-sided multilayer printed wiring board having three layers on one side. (12) After forming a roughened layer on the surface of the multilayer printed wiring board formed by these steps, dust is removed from the roughened surface by spraying a fluid as described above.

【0031】ゴミを除去した後、ソルダーレジスト層を
設ける。ソルダーレジスト層としては、ノボラック型エ
ポキシ樹脂からなる樹脂組成物が望ましい。Pbのマイ
グレーションを防止できるからである。なお、ノボラッ
ク型エポキシ樹脂からなる樹脂組成物は靱性が低いた
め、クラックが発生しやすいことから、本発明の製造方
法は、特に有利である。
After removing dust, a solder resist layer is provided. As the solder resist layer, a resin composition composed of a novolak type epoxy resin is desirable. This is because migration of Pb can be prevented. The production method of the present invention is particularly advantageous because a resin composition composed of a novolak type epoxy resin has low toughness and easily cracks.

【0032】以上の説明は、セミアティティブ法と呼ば
れる方法により形成した例であり、無電解めっき用接着
剤層を粗化した後、触媒核を付与し、めっきレジストを
設け、無電解めっきを行い導体回路を形成する、いわゆ
るフルアディティブ法も使用することが可能である。
The above description is an example of formation by a method called a semi-active method. After roughening an adhesive layer for electroless plating, a catalyst nucleus is provided, a plating resist is provided, and electroless plating is performed. It is also possible to use a so-called full additive method of forming a conductive circuit.

【0033】[0033]

【実施例】以下、本発明の1実施例に係る多層プリント
配線板の製造方法について、図を参照して説明する。こ
こではまず、A.無電解めっき用接着剤、B.層間樹脂
絶縁剤、C.樹脂充填剤、D.ソルダーレジストの調整
について説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to one embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. Here, first, A. Adhesive for electroless plating, B. Interlayer resin insulation, C.I. Resin filler, D.I. The adjustment of the solder resist will be described.

【0034】A.無電解めっき用接着剤調製用の原料組
成物(上層用接着剤) 〔樹脂組成物〕クレゾールノボラック型エポキシ樹脂
(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル化物を80wt
%の濃度でDMDGに溶解させた樹脂液を35重量部、感
光性モノマー(東亜合成製、アロニックスM315 )3.15
重量部、消泡剤(サンノプコ製、S−65)0.5 重量部、
NMP 3.6重量部を攪拌混合して得た。
A. Raw material composition for preparation of adhesive for electroless plating (adhesive for upper layer) [Resin composition] 80 wt% of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (Nippon Kayaku, molecular weight 2500)
35% by weight of a resin solution dissolved in DMDG at a concentration of 3.15% and a photosensitive monomer (Toa Gosei Co., Aronix M315) 3.15
Parts by weight, 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (manufactured by San Nopco, S-65)
3.6 parts by weight of NMP were obtained by stirring and mixing.

【0035】〔樹脂組成物〕ポリエーテルスルフォン
(PES)12重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成製、
ポリマーポール)の平均粒径 1.0μmのものを 7.2重量
部、平均粒径 0.5μmのものを3.09重量部、を混合した
後、さらにNMP30重量部を添加し、ビーズミルで攪拌
混合して得た。
[Resin composition] 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Co., Ltd.)
After mixing 7.2 parts by weight of a polymer pole having an average particle size of 1.0 μm and 3.09 parts by weight of a polymer pole having an average particle size of 0.5 μm, 30 parts by weight of NMP was further added, followed by stirring and mixing with a bead mill.

【0036】〔硬化剤組成物〕イミダゾール硬化剤
(四国化成製、2E4MZ-CN)2重量部、光開始剤(チバガ
イギー製、イルガキュア I−907 )2重量部、光増感
剤(日本化薬製、DETX-S)0.2 重量部、NMP 1.5重量
部を攪拌混合して得た。
[Curing agent composition] 2 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 2 parts by weight of a photoinitiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba-Geigy), and a photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku) , DETX-S) 0.2 parts by weight and NMP 1.5 parts by weight.

【0037】B.層間樹脂絶縁剤調製用の原料組成物
(下層用接着剤) 〔樹脂組成物〕クレゾールノボラック型エポキシ樹脂
(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル化物を80wt
%の濃度でDMDGに溶解させた樹脂液を35重量部、感
光性モノマー(東亜合成製、アロニックスM315 )4重
量部、消泡剤(サンノプコ製、S−65)0.5 重量部、N
MP 3.6重量部を攪拌混合して得た。
B. Raw material composition for preparing interlayer resin insulation agent (adhesive for lower layer) [Resin composition] 80 wt% of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (Nippon Kayaku, molecular weight 2500)
% Of a resin solution dissolved in DMDG at a concentration of 35%, 4 parts by weight of a photosensitive monomer (Alonix M315, manufactured by Toagosei Co., Ltd.), 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco), N
3.6 parts by weight of MP were obtained by stirring and mixing.

【0038】〔樹脂組成物〕ポリエーテルスルフォン
(PES)12重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成製、
ポリマーポール)の平均粒径 0.5μmのものを 14.49重
量部、を混合した後、さらにNMP30重量部を添加し、
ビーズミルで攪拌混合して得た。
[Resin Composition] 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Co., Ltd.)
After mixing 14.49 parts by weight of a polymer pole having an average particle size of 0.5 μm, 30 parts by weight of NMP were further added,
It was obtained by stirring and mixing with a bead mill.

【0039】〔硬化剤組成物〕イミダゾール硬化剤
(四国化成製、2E4MZ-CN)2重量部、光開始剤(チバガ
イギー製、イルガキュア I−907 )2重量部、光増感
剤(日本化薬製、DETX-S)0.2 重量部、NMP1.5 重量
部を攪拌混合して得た。
[Curing Agent Composition] 2 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 2 parts by weight of a photoinitiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba Geigy), and a photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku) , DETX-S) 0.2 parts by weight and NMP 1.5 parts by weight with stirring.

【0040】C.樹脂充填剤調製用の原料組成物 〔樹脂組成物〕ビスフェノールF型エポキシモノマー
(油化シェル製、分子量310 、YL983U)100重量部、表
面にシランカップリング剤がコーティングされた平均粒
径 1.6μmのSiO2 球状粒子(アドマテック製、CRS 11
01−CE、ここで、最大粒子の大きさは後述する内層銅パ
ターンの厚み(15μm)以下とする) 170重量部、レベ
リング剤(サンノプコ製、ペレノールS4)1.5 重量部
を攪拌混合することにより、その混合物の粘度を23±1
℃で45,000〜49,000cps に調整して得た。 〔硬化剤組成物〕イミダゾール硬化剤(四国化成製、
2E4MZ-CN)6.5 重量部。
C. Raw material composition for resin filler preparation [Resin composition] 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell, molecular weight 310, YL983U), having an average particle diameter of 1.6 μm coated with a silane coupling agent on the surface SiO 2 spherical particles (Admatech, CRS 11
01-CE, where the maximum particle size is 170 parts by weight of the inner layer copper pattern described below (15 μm or less) and 1.5 parts by weight of a leveling agent (manufactured by San Nopco, Perenol S4) by stirring and mixing. The viscosity of the mixture is 23 ± 1
The temperature was adjusted to 45,000-49,000 cps at ℃. [Curing agent composition] Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals,
2E4MZ-CN) 6.5 parts by weight.

【0041】D.ソルダーレジストの原料組成物 DMDGに溶解させた60重量%のクレゾールノボラック
型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエポキシ基50%をアク
リル化した感光性付与のオリゴマー(分子量4000)を 4
6.67g、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%のビ
スフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル製、エピコ
ート1001)15.0g、イミダゾール硬化剤(四国化成製、
2E4MZ-CN)1.6 g、感光性モノマーである多価アクリル
モノマー(日本化薬製、R604 )3g、同じく多価アク
リルモノマー(共栄社化学製、DPE6A ) 1.5g、分散系
消泡剤(サンノプコ社製、S−65)0.71gを混合し、さ
らにこの混合物に対して光開始剤としてのベンゾフェノ
ン(関東化学製)を2g、光増感剤としてのミヒラーケ
トン(関東化学製)を 0.2g加えて、粘度を25℃で2.0P
a・sに調整した。なお、粘度測定は、B型粘度計(東
京計器、 DVL-B型)で 60rpmの場合はローターNo.4、6r
pmの場合はローターNo.3によった。
D. Raw Material Composition of Solder Resist A 60% by weight cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) dissolved in DMDG was sensitized with an oligomer (molecular weight 4000) having a 50% epoxy group acrylated.
6.67 g, 15.0 g of 80 wt% bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone, imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals,
2E4MZ-CN) 1.6 g, photosensitive acrylic monomer (Nippon Kayaku, R604) 3 g, polyvalent acrylic monomer (Kyoeisha Chemical, DPE6A) 1.5 g, dispersion defoamer (Sannopco) , S-65), and 2 g of benzophenone (Kanto Chemical) as a photoinitiator and 0.2 g of Michler's ketone (Kanto Chemical) as a photosensitizer were added to the mixture. 2.0P at 25 ° C
Adjusted to a · s. The viscosity was measured using a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B type) at 60 rpm with rotor No.4 and 6r.
In the case of pm, we used rotor No.3.

【0042】E.プリント配線板の製造 (1) 厚さ1mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビスマ
レイミドトリアジン)樹脂からなる基板30の両面に18
μmの銅箔32がラミネートされている銅張積層板30
Aを出発材料とした(図1(A)参照)。まず、この銅
張積層板30Aをドリル削孔し、無電解めっき処理を施
し、パターン状にエッチングすることにより、基板20
の両面に内層銅パターン34とスルーホール36を形成
した(図1(B)参照)。
E. Manufacture of Printed Wiring Board (1) Both sides of a substrate 30 made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 1 mm
copper-clad laminate 30 on which copper foil 32 of μm is laminated
A was used as a starting material (see FIG. 1A). First, the copper clad laminate 30A is drilled, subjected to an electroless plating process, and etched in a pattern to form a substrate 20A.
(See FIG. 1B).

【0043】(2) 内層銅パターン34およびスルーホー
ル36を形成した基板30を水洗いし、乾燥した後、酸
化浴(黒化浴)として、NaOH(10g/l),NaClO
2 (40g/l), NacPOC(6g/l)、還元浴とし
て、NaOH(10g/l),NaBH4 (6g/l)を用いた酸
化−還元処理により、内層銅パターン34およびスルー
ホール36の表面に粗化層38を設けた(図1(C)参
照)。
(2) The substrate 30 on which the inner layer copper pattern 34 and the through hole 36 are formed is washed with water and dried, and then used as an oxidation bath (blackening bath) as NaOH (10 g / l), NaClO.
2 (40g / l), NacPOC (6g / l), as a reducing bath, NaOH (10g / l), oxidation using NaBH 4 The (6g / l) - by reduction treatment, the inner layer copper pattern 34 and through-holes 36 A roughened layer 38 was provided on the surface (see FIG. 1C).

【0044】(3) Cの樹脂充填剤調製用の原料組成物を
混合混練して樹脂充填剤を得た。 (4) 前記(3) で得た樹脂充填剤40を、調製後24時間以
内に基板の両面にロールコータを用いて塗布することに
より、導体回路(内層銅パターン)34と導体回路34
との間、及び、ススルーホール36内に充填し、70℃,
20分間で乾燥させ、他方の面についても同様にして樹脂
充填剤40を導体回路34間、及び、スルーホール36
内に充填し、70℃,20分間で加熱乾燥させた(図1
(D)参照)。
(3) The raw material composition for preparing the resin filler C was mixed and kneaded to obtain a resin filler. (4) By applying the resin filler 40 obtained in the above (3) to both surfaces of the substrate using a roll coater within 24 hours after preparation, the conductor circuit (inner layer copper pattern) 34 and the conductor circuit 34
At 70 ° C.
After drying for 20 minutes, the resin filler 40 is similarly applied to the other surface between the conductor circuits 34 and through holes 36.
And dried by heating at 70 ° C for 20 minutes (Fig. 1
(D)).

【0045】(5) 前記(4) の処理を終えた基板30の片
面を、#600 のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いた
ベルトサンダー研磨により、内層銅パターン34の表面
やスルーホール36のランド36a表面に樹脂充填剤4
0が残らないように研磨し、次いで、前記ベルトサンダ
ー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を行った。こ
のような一連の研磨を基板の他方の面についても同様に
行った(図2(E)参照)。次いで、100 ℃で1時間、
120 ℃で3時間、 150℃で1時間、 180℃で7時間の加
熱処理を行って樹脂充填剤を硬化した。
(5) The surface of the inner layer copper pattern 34 and the through holes 36 are polished on one side of the substrate 30 after the treatment of the above (4) by belt sanding using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku). Filler 4 on the surface of land 36a
Polishing was performed so that 0 did not remain, and then buffing was performed to remove scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate (see FIG. 2E). Then at 100 ° C for 1 hour,
Heat treatment was performed at 120 ° C. for 3 hours, 150 ° C. for 1 hour, and 180 ° C. for 7 hours to cure the resin filler.

【0046】このようにして、スルーホール36等に充
填された樹脂充填剤40の表層部および内層導体回路3
4上面の粗化層38を除去して基板両面を平滑化し、樹
脂充填剤40と内層導体回路34の側面とが粗化層38
を介して強固に密着し、またスルーホール36の内壁面
と樹脂充填剤40とが粗化層38を介して強固に密着し
た配線基板を得た。即ち、この工程により、樹脂充填剤
40の表面と内層銅パターン34の表面が同一平面とな
る。
In this manner, the surface layer portion of the resin filler 40 filled in the through holes 36 and the like and the inner layer conductor circuit 3
(4) The roughened layer 38 on the upper surface is removed to smooth both surfaces of the substrate, and the resin filler 40 and the side surfaces of the inner conductor circuit 34 are roughened.
To obtain a wiring board in which the inner wall surface of the through-hole 36 and the resin filler 40 are firmly adhered to each other through the roughened layer 38. That is, by this step, the surface of the resin filler 40 and the surface of the inner layer copper pattern 34 are flush with each other.

【0047】(6) 導体回路(内層銅パターン)34を形
成したプリント配線板にアルカリ脱脂してソフトエッチ
ングして、次いで、塩化パラジウウムと有機酸からなる
触媒溶液で処理して、Pd触媒を付与し、この触媒を活
性化した後、硫酸銅3.91×10-2mol/l、硫酸
ニッケル3.75×10-3mol/l、クエン酸ナトリ
ウム7.75×10-2mol/l、次亜リン酸ナトリウ
ム2.27×10-1mol/l、界面活性剤(日信化学
工業製、サーフィール465)1.10×10-4mol
/l、PH=9からなる無電解めっき液に浸漬し、浸漬
後、2分後に、4秒当たり1回に割合で縦振動させて、
導体回路およびスルーホールのランドの表面にCu−N
i−Pからなる針状合金の被覆層と粗化層42を設けた
(図2(F)参照)。さらに、ホウフっ化スズ0.1m
ol/l、チオ尿素1.0mol/l、温度35℃、P
H=1.2の条件でCu−Sn置換反応させ、粗化層の
表面に厚さ0.3μmSn層(図示せず)を設けた。
(6) The printed wiring board on which the conductor circuit (inner layer copper pattern) 34 is formed is alkali-degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid to provide a Pd catalyst. After activating this catalyst, copper sulfate 3.91 × 10 −2 mol / l, nickel sulfate 3.75 × 10 −3 mol / l, sodium citrate 7.75 × 10 −2 mol / l, Sodium hypophosphite 2.27 × 10 -1 mol / l, surfactant (Surfir 465, manufactured by Nissin Chemical Industry) 1.10 × 10 -4 mol
/ L, immersed in an electroless plating solution consisting of PH = 9, and after 2 minutes from the immersion, longitudinally vibrated once every 4 seconds,
Cu-N on the surface of the land of the conductor circuit and through hole
A coating layer of a needle-shaped alloy made of i-P and a roughened layer 42 were provided (see FIG. 2F). Furthermore, tin borofluoride 0.1m
ol / l, thiourea 1.0 mol / l, temperature 35 ° C, P
A Cu—Sn substitution reaction was performed under the condition of H = 1.2, and a 0.3 μm-thick Sn layer (not shown) was provided on the surface of the roughened layer.

【0048】Sn層を設けた導体回路34を有する基板
30の水切り乾燥を行わず、図2(G)に示すように端
面搬送による中圧水洗を通して、導体回路と粗化面にス
プレー圧2kgf/cm2 にて水43を拭きかけて、表
面の異物を除去する。その後、80℃にて水切り乾燥を
行う。
Without draining and drying the substrate 30 having the conductor circuit 34 provided with the Sn layer, as shown in FIG. 2 (G), the conductor circuit and the roughened surface were sprayed with 2 kgf / Water 43 is wiped with cm 2 to remove foreign substances on the surface. Thereafter, draining and drying are performed at 80 ° C.

【0049】(7) Bの層間樹脂絶縁剤調製用の原料組成
物を攪拌混合し、粘度1.5 Pa・sに調整して層間樹脂絶
縁剤(下層用)を得た。次いで、Aの無電解めっき用接
着剤調製用の原料組成物を攪拌混合し、粘度7Pa・sに
調整して無電解めっき用接着剤溶液(上層用)を得た。
(7) The raw material composition for preparing the interlayer resin insulating agent of B was stirred and mixed, and the viscosity was adjusted to 1.5 Pa · s to obtain an interlayer resin insulating agent (for lower layer). Next, the raw material composition for preparing the adhesive for electroless plating of A was stirred and mixed, and the viscosity was adjusted to 7 Pa · s to obtain an adhesive solution for electroless plating (for the upper layer).

【0050】(8) 前記(6) の基板の両面に、前記(7) で
得られた粘度 1.5Pa・sの層間樹脂絶縁剤(下層用)4
4を調製後24時間以内にロールコータで塗布し、水平状
態で20分間放置してから、60℃で30分の乾燥(プリベー
ク)を行い、次いで、前記(7)で得られた粘度7Pa・s
の感光性の接着剤溶液(上層用)46を調製後24時間以
内に塗布し、水平状態で20分間放置してから、60℃で30
分の乾燥(プリベーク)を行い、厚さ35μmの接着剤層
50を形成した(図2(H)参照)。
(8) On both surfaces of the substrate of (6), the interlayer resin insulating material (for lower layer) having a viscosity of 1.5 Pa · s obtained in (7)
4 was coated with a roll coater within 24 hours after preparation, left in a horizontal state for 20 minutes, dried at 60 ° C. for 30 minutes (prebaked), and then the viscosity of 7 Pa · obtained in the above (7) was obtained. s
Of the photosensitive adhesive solution (for upper layer) 46 is applied within 24 hours after preparation, and left in a horizontal state for 20 minutes.
The adhesive layer 50 having a thickness of 35 μm was formed by drying (prebaking) (see FIG. 2H).

【0051】(9) 前記(8) で接着剤層50を形成した基
板の両面に、85μmφの黒円が印刷されたフォトマスク
フィルム(図示せず)を密着させ、超高圧水銀灯により
500mJ/cm2 で露光した。これをDMTG溶液でスプレ
ー現像し、さらに、当該基板を超高圧水銀灯により3000
mJ/cm2 で露光し、100 ℃で1時間、120 ℃で1時間、
その後 150℃で3時間の加熱処理(ポストベーク)をす
ることにより、フォトマスクフィルムに相当する寸法精
度に優れた85μmφの開口(バイアホール形成用開口)
48を有する厚さ35μmの層間樹脂絶縁層(2層構造)
50を形成した(図3(I)。なお、バイアホールとな
る開口48には、スズめっき層(図示せず)を部分的に
露出させた。
(9) A photomask film (not shown) on which a black circle of 85 μmφ is printed is brought into close contact with both surfaces of the substrate on which the adhesive layer 50 has been formed in the above (8), and is brought into contact with an ultrahigh pressure mercury lamp.
Exposure was performed at 500 mJ / cm 2 . This is spray-developed with a DMTG solution, and the substrate is further subjected to an ultra-high pressure mercury lamp for 3000 hours.
Exposure at mJ / cm 2 , 1 hour at 100 ° C, 1 hour at 120 ° C,
After that, a heat treatment (post bake) at 150 ° C. for 3 hours is performed, so that an opening of 85 μmφ with excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film (opening for forming a via hole).
35-μm-thick interlayer resin insulation layer having 48 (two-layer structure)
50 (FIG. 3 (I). The tin plating layer (not shown) was partially exposed in the opening 48 to be a via hole.

【0052】(10)開口48が形成された基板30を、ク
ロム酸に19分間浸漬し、層間樹脂絶縁層50の表面に存
在するエポキシ樹脂粒子を溶解除去することにより、当
該層間樹脂絶縁層50の表面を粗化し(図3(J)参
照)、その後、中和溶液(シプレイ社製)に浸漬してか
ら水洗いした。
(10) The substrate 30 in which the openings 48 are formed is immersed in chromic acid for 19 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulating layer 50, thereby obtaining the interlayer resin insulating layer 50. Was roughened (see FIG. 3 (J)), and then immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and then washed with water.

【0053】さらに、粗面化処理(粗化深さ6μm)し
た該基板30の表面に、パラジウム触媒(アトテック
製)を付与することにより、層間樹脂絶縁層50の表面
およびバイアホール用開口48の内壁面に触媒核(図示
せず)を付けた。
Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate 30 which has been subjected to the surface roughening treatment (roughening depth: 6 μm), the surface of the interlayer resin insulating layer 50 and the opening 48 for the via hole are formed. A catalyst core (not shown) was attached to the inner wall surface.

【0054】(11)以下に示す組成の無電解銅めっき水溶
液中に基板を浸漬して、層間樹脂絶縁層50の粗面全体
に厚さ0.6 μmの無電解銅めっき膜52を形成した(図
3(K)参照) 〔無電解めっき水溶液〕 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30 ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.1 g/l 〔無電解めっき条件〕70℃の液温度で30分
(11) The substrate was immersed in an aqueous electroless copper plating solution having the following composition to form an electroless copper plating film 52 having a thickness of 0.6 μm on the entire rough surface of the interlayer resin insulating layer 50 (FIG. 8). 3 (K)) [Aqueous electroless plating solution] EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.1 g / l [None Electroplating conditions] 70 ° C liquid temperature for 30 minutes

【0055】(12)前記(11)で形成した無電解銅めっき膜
52上に市販の感光性ドライフィルムを張り付け、マス
クを載置して、100 mJ/cm2 で露光、0.8 %炭酸ナトリ
ウムで現像処理し、厚さ15μmのめっきレジスト54を
設けた(図3(L)参照)。
(12) A commercially available photosensitive dry film is stuck on the electroless copper plating film 52 formed in the above (11), a mask is placed, and exposure is performed at 100 mJ / cm 2 , and the resultant is exposed to 0.8% sodium carbonate. After development, a plating resist 54 having a thickness of 15 μm was provided (see FIG. 3 (L)).

【0056】(13)ついで、レジスト非形成部分に以下の
条件で電解銅めっきを施し、厚さ15μmの電解銅めっき
膜56を形成した(図4(M)参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製、カパラシドGL) 1 ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1A/dm2 時間 30分 温度 室温
(13) Next, electrolytic copper plating was applied to the non-resist-formed portion under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 56 having a thickness of 15 μm (see FIG. 4 (M)). [Aqueous electrolytic plating solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (Captoside GL, manufactured by Atotech Japan) 1 ml / l [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature

【0057】(14)めっきレジスト54を5%KOHで剥
離除去した後、そのめっきレジスト下の無電解めっき膜
52を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処理して
溶解除去し、無電解銅めっき膜52及び電解銅めっき膜
56からなる厚さ18μmの導体回路58及びバイアホー
ル60を形成した(図4(N)参照)。
(14) After the plating resist 54 is peeled and removed with 5% KOH, the electroless plating film 52 under the plating resist is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide. An 18 μm-thick conductive circuit 58 and a via hole 60 composed of the plating film 52 and the electrolytic copper plating film 56 were formed (see FIG. 4 (N)).

【0058】(15)(6) と同様の処理を行い、Cu-Ni-P か
らなる粗化面62を導体回路58及びバイアホール60
の表面に形成し、さらにその表面にSn置換を行った(図
4(O)参照)
(15) By performing the same processing as in (6), the roughened surface 62 made of Cu-Ni-P is
Was formed on the surface of the substrate, and the surface was further substituted with Sn (see FIG. 4 (O)).

【0059】(16)前記(7) 〜(15)の工程を繰り返すこと
により、さらに上層の層間樹脂絶縁層150上に導体回
路158及びバイアホール160を形成し、該導体回路
158及びバイアホール160上に粗化層162を配設
することで多層配線基板を得た。但し、上側にソルダー
レジスト層の形成される導体回路158及びバイアホー
ル160上に粗化層162は、Sn置換は行わなかった。
(16) By repeating the steps (7) to (15), a conductor circuit 158 and a via hole 160 are further formed on the upper interlayer resin insulation layer 150, and the conductor circuit 158 and the via hole 160 are formed. By providing the roughened layer 162 thereon, a multilayer wiring board was obtained. However, the Sn substitution was not performed on the roughened layer 162 on the conductor circuit 158 and the via hole 160 where the solder resist layer is formed on the upper side.

【0060】(17)前記(16)で得られた多層配線基板30
の両面に、上記ソルダーレジスト組成物70αを20μm
の厚さで塗布した(図5(Q)参照)。次いで、70℃で
20分間、70℃で30分間の乾燥処理を行った後、円パター
ン(マスクパターン)が描画された厚さ5mmのフォトマ
スクフィルム(図示せず)を密着させて載置し、1000mJ
/cm2 の紫外線で露光し、DMTG現像処理した。そしてさ
らに、80℃で1時間、 100℃で1時間、 120℃で1時
間、 150℃で3時間の条件で加熱処理し、はんだパッド
部分(バイアホールとそのランド部分を含む)の開口部
71(開口径 200μm)を有するソルダーレジスト層
(厚み20μm)70を形成した(図5(R)参照)。
(17) The multilayer wiring board 30 obtained in the above (16)
On both sides of the solder resist composition 70α at 20 μm
(See FIG. 5 (Q)). Then at 70 ° C
After performing a drying process at 70 ° C. for 30 minutes for 20 minutes, a 5 mm-thick photomask film (not shown) on which a circular pattern (mask pattern) is drawn is placed in close contact with the substrate, and is placed at 1000 mJ.
/ Cm 2 and exposed to ultraviolet light at a rate of DMTG. Further, heat treatment is performed at 80 ° C. for 1 hour, at 100 ° C. for 1 hour, at 120 ° C. for 1 hour, at 150 ° C. for 3 hours, and the opening 71 of the solder pad portion (including the via hole and its land portion) is heated. A solder resist layer (thickness: 20 μm) 70 (opening diameter: 200 μm) was formed (see FIG. 5 (R)).

【0061】(18)次に、図5(S)に示すようにソルダ
ーレジスト層70を形成した基板を、塩化ニッケル2.
31×10-1mol/l、次亜リン酸ナトリウム2.8
4×10-1mol/l、クエン酸ナトリウム1.55×
10-1mol/lからなるpH=4.5の無電解ニッケ
ルめっき液に20分間浸漬して、開口部71に厚さ5μm
のニッケルめっき層72を形成した。さらに、その基板
を、シアン化金カリウム7.61×10-3mol/l、
塩化アンモニウム1.87×10-1mol/l、クエン
酸ナトリウム1.16×10-1mol/l、次亜リン酸
ナトリウム1.70×10-1mol/lからなる無電解
金めっき液に93℃の条件で23秒間浸漬して、ニッケルめ
っき層上に厚さ0.03μmの金めっき層74を析出させ、
該バイアホール161及び導体回路158上に半田バン
プ75を形成する。
(18) Next, as shown in FIG. 5 (S), the substrate on which the solder resist layer 70 was formed was coated with nickel chloride 2.
31 × 10 −1 mol / l, sodium hypophosphite 2.8
4 × 10 −1 mol / l, sodium citrate 1.55 ×
It was immersed in an electroless nickel plating solution having a pH of 4.5 consisting of 10 -1 mol / l for 20 minutes, and a thickness of 5 μm was formed in the opening 71.
Was formed. Further, the substrate was treated with potassium potassium cyanide (7.61 × 10 −3 mol / l),
Electroless gold plating solution consisting of 1.87 × 10 -1 mol / l ammonium chloride, 1.16 × 10 -1 mol / l sodium citrate, and 1.70 × 10 -1 mol / l sodium hypophosphite Immersion for 23 seconds under the condition of 93 ° C., to deposit a gold plating layer 74 of 0.03 μm thickness on the nickel plating layer,
A solder bump 75 is formed on the via hole 161 and the conductor circuit 158.

【0062】(19)そして、図6に示すようにソルダーレ
ジスト層70の開口部71内の半田バンプ75に、はん
だペーストを印刷して 200℃でリフローすることにより
はんだバンプ(はんだ体)76を形成し、はんだバンプ
を有する多層プリント配線板10を製造した。
(19) Then, as shown in FIG. 6, a solder paste is printed on the solder bump 75 in the opening 71 of the solder resist layer 70 and reflowed at 200 ° C. to form the solder bump (solder body) 76. The multilayer printed wiring board 10 having the formed and solder bumps was manufactured.

【0063】(比較例)基本的に実施例と同様である
が、層間絶縁樹脂層の下層となる導体回路に粗化層を形
成してから、Sn層形成後に水切り乾燥を行い、中圧水
洗を行わなかった。同様に、ソルダーレジスト層の下層
となる導体回路に粗化層を形成してから、水切り乾燥を
行い、中圧水洗を行わなかった。以上、実施例および比
較例で製造されたプリント配線板について、層間樹脂絶
縁層の剥離の有無を確認し、また、HAST試験を行っ
た。HAST試験の条件は、温度130℃、相対湿度8
5%、印加電圧1.8V、200時間、即ち、高温高湿
度下で電位の印加を継続した。実施例では、層間樹脂絶
縁層58及び層間樹脂絶縁層158の剥離は観察されな
かったが、比較例では一部のバイアホールにハロー現象
(剥離)が確認された。また、実施例のソルダーレジス
ト層70には、クラックは発生しなかったが、比較例で
はクラックが発生した。
(Comparative Example) Basically the same as the example, except that after forming a roughened layer on a conductor circuit as a lower layer of the interlayer insulating resin layer, the Sn layer was formed, and then drained and dried, and washed with medium pressure water. Did not do. Similarly, after forming a roughened layer on a conductor circuit which is a lower layer of the solder resist layer, draining and drying were performed, and intermediate pressure washing was not performed. As described above, with respect to the printed wiring boards manufactured in the examples and the comparative examples, the presence or absence of peeling of the interlayer resin insulating layer was confirmed, and a HAST test was performed. The conditions of the HAST test were as follows: temperature 130 ° C., relative humidity 8
The application of the potential was continued at 5% and an applied voltage of 1.8 V for 200 hours, that is, at high temperature and high humidity. In the example, no peeling of the interlayer resin insulating layer 58 and the interlayer resin insulating layer 158 was observed, but in the comparative example, a halo phenomenon (peeling) was confirmed in some via holes. In addition, no crack occurred in the solder resist layer 70 of the example, but cracks occurred in the comparative example.

【0064】[0064]

【発明の効果】以上のように本発明も多層プリント配線
板の製造方法によれば、導体回路の粗化層の表面の異物
を除去してあるため、導体回路と層間絶縁樹脂との剥が
れを防止し、また、ソルダーレジスト層でのクラックの
発生を防止して信頼性を向上させることができる。
As described above, according to the present invention, according to the method of manufacturing a multilayer printed wiring board, since the foreign matter on the surface of the roughened layer of the conductive circuit is removed, the peeling between the conductive circuit and the interlayer insulating resin is prevented. In addition, reliability can be improved by preventing the occurrence of cracks in the solder resist layer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1(A)、図1(B)、図1(C)、図1
(D)は、本発明の1実施例に係る多層プリント配線板
の製造方法の工程図である。
1 (A), 1 (B), 1 (C), 1
(D) is a step diagram of the method for producing a multilayer printed wiring board according to one embodiment of the present invention.

【図2】図2(E)、図2(F)、図2(G)、図2
(H)は、本発明の1実施例に係る多層プリント配線板
の製造方法の工程図である。
FIG. 2 (E), FIG. 2 (F), FIG. 2 (G), FIG.
(H) is a process drawing of a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to one example of the present invention.

【図3】図3(I)、図3(J)、図3(K)、図3
(L)は、本発明の1実施例に係る多層プリント配線板
の製造方法の工程図である。
FIG. 3 (I), FIG. 3 (J), FIG. 3 (K), FIG.
(L) is a step diagram of the method for producing the multilayer printed wiring board according to one embodiment of the present invention.

【図4】図4(M)、図4(N)、図4(O)、図4
(P)は、本発明の1実施例に係る多層プリント配線板
の製造方法の工程図である。
FIGS. 4 (M), 4 (N), 4 (O), 4
(P) is a process drawing of a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to one example of the present invention.

【図5】図5(Q)、図5(R)、図5(S)は、本発
明の1実施例に係る多層プリント配線板の製造方法の工
程図である。
FIGS. 5 (Q), 5 (R), and 5 (S) are process diagrams of a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to one embodiment of the present invention.

【図6】本発明の1実施例に係る製造方法による多層プ
リント配線板の断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view of a multilayer printed wiring board according to a manufacturing method according to one embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

30 コア基板 34 導体層 36 スルーホール 42 粗化層 50 層間樹脂絶縁層 54 レジスト 56 電解銅めっき膜(金属層) 60 バイアホール 62 粗化層 70 ソルダーレジスト層 75 半田パッド 150 層間樹脂絶縁層 158 導体回路 160 バイアホール 162 粗化層 Reference Signs List 30 core substrate 34 conductive layer 36 through hole 42 roughened layer 50 interlayer resin insulating layer 54 resist 56 electrolytic copper plating film (metal layer) 60 via hole 62 roughened layer 70 solder resist layer 75 solder pad 150 interlayer resin insulating layer 158 conductor Circuit 160 Via hole 162 Rough layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E343 AA02 AA12 BB15 BB24 BB52 BB71 CC23 CC32 CC50 DD33 DD43 EE04 EE15 EE52 GG04 5E346 AA02 AA06 AA12 AA15 AA16 AA17 AA43 BB01 BB16 CC08 CC40 CC41 CC43 CC51 DD03 DD22 DD33 DD44 DD47 EE33 EE38 EE39 FF02 FF12 FF15 GG01 GG15 GG16 GG17 GG18 GG22 GG23 GG25 GG27 GG28 HH08 HH11  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5E343 AA02 AA12 BB15 BB24 BB52 BB71 CC23 CC32 CC50 DD33 DD43 EE04 EE15 EE52 GG04 5E346 AA02 AA06 AA12 AA15 AA16 AA17 AA43 BB01 BB16 CC08 CC40 CC41 CC43 DD33 DD33 DD EE39 FF02 FF12 FF15 GG01 GG15 GG16 GG17 GG18 GG22 GG23 GG25 GG27 GG28 HH08 HH11

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に形成された導体回路表面に粗化
層を設け、該当粗化層表面に流体を吹きつけ洗浄し、つ
いで層間絶縁層を形成することを特徴とする多層プリン
ト配線基板の製造方法。
1. A multilayer printed wiring board, comprising: providing a roughened layer on a surface of a conductive circuit formed on a substrate; spraying a fluid on the surface of the roughened layer for cleaning; and forming an interlayer insulating layer. Manufacturing method.
【請求項2】 基板上に形成された半田パッドとなる導
体表面に粗化層を設け、該当粗化表面に流体を吹きつけ
て洗浄し、ついでソルダーレジスト層を形成することを
特徴とする多層プリント配線基板の製造方法。
2. A multilayer, comprising: providing a roughened layer on a surface of a conductor which is to be a solder pad formed on a substrate; washing the surface by spraying a fluid on the roughened surface; and then forming a solder resist layer. A method for manufacturing a printed wiring board.
【請求項3】 前記流体は、水、有機溶剤、空気、窒素
ガス、炭酸ガスから選ばれる少なくとも1種以上である
請求項1または2に記載の多層プリント配線板の製造方
法。
3. The method according to claim 1, wherein the fluid is at least one selected from water, an organic solvent, air, nitrogen gas, and carbon dioxide gas.
【請求項4】 前記粗化表面に流体を1〜5kgf/c
2 のスプレー圧で吹きつける請求項1または2に記載
の多層プリント配線板の製造方法。
4. A fluid is applied to the roughened surface at 1 to 5 kgf / c.
method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 1 or 2 blowing a spray pressure of m 2.
【請求項5】 前記粗化層は、導体回路に無電解めっき
で析出させることにより、あるいは、導体回路表面をエ
ッチングにより形成される請求項1または2に記載の多
層プリント配線板の製造方法。
5. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the roughening layer is formed by depositing the conductor circuit by electroless plating or by etching the surface of the conductor circuit.
【請求項6】 前記粗化層は、導体回路にCu−Ni−
Pからなる合金粗化層を無電解めっきで析出させること
により形成される請求項1または2に記載の多層プリン
ト配線板の製造方法。
6. The roughening layer is formed by adding Cu—Ni—
The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the method is formed by depositing a roughened alloy layer made of P by electroless plating.
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