JP2000019214A - コネクタ端子導通試験装置 - Google Patents
コネクタ端子導通試験装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 一個の試験装置で一回の操作で、一つのワイ
ヤーハーネスに備えられている複数のコネクタを同時に
試験する。 【解決手段】 コネクタ受部に載置された被試験コネク
タの端子と、該コネクタに対向配置された検査部とが嵌
合することにより、回路の導通を試験する試験装置にお
いて、上記コネクタ受部は、被試験コネクタの端子が検
査部と嵌合できる位置に複数個配置され、上記検査部
は、コネクタ受部にそれぞれ対向して複数個配置され、
被試験コネクタの端子に検査部が複数個同時に嵌合す
る。
ヤーハーネスに備えられている複数のコネクタを同時に
試験する。 【解決手段】 コネクタ受部に載置された被試験コネク
タの端子と、該コネクタに対向配置された検査部とが嵌
合することにより、回路の導通を試験する試験装置にお
いて、上記コネクタ受部は、被試験コネクタの端子が検
査部と嵌合できる位置に複数個配置され、上記検査部
は、コネクタ受部にそれぞれ対向して複数個配置され、
被試験コネクタの端子に検査部が複数個同時に嵌合す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はコネクタ端子導通試
験装置に関し、特にワイヤーハーネスにおける素線相互
間等の接続確認試験に使用するコネクタ端子導通試験装
置に関する。
験装置に関し、特にワイヤーハーネスにおける素線相互
間等の接続確認試験に使用するコネクタ端子導通試験装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】自動車、電気機器、パソコン等における
電気配線は、配線作業の省力化と省スペース化等のた
め、複数のコネクタを有するワイヤーハーネスが多用さ
れている。従来、このようなワイヤーハーネスにおける
導通試験は図４に示す方法で行なわれている。図４は導
通試験状態を示す図である。ワイヤーハーネス５は、所
定長さに切断された多数の被覆電線をプラスチックパイ
プあるいはテーピング等によって束ね、その先端導体部
にコネクタ７が取付けられている。導通試験は、試験装
置１６にコネクタ７をそれぞれセットして行なわれる。
試験装置１６は、基板１７と、この基板１７の端部に固
定されたコネクタ受部４と、カムハンドル１８の回動操
作によりコネクタ受部４に対して離接動する検査部６と
より構成されている。ワイヤーハーネス５は、例えば車
種や用途などにより非常に多くの種類があり、またそれ
に応じてコネクタ７の大きさや形状も複雑多岐にわたる
ため、コネクタ７がセットされるコネクタ受部４は、コ
ネクタ７の大きさや形状に応じて個別に設計され準備さ
れている。
電気配線は、配線作業の省力化と省スペース化等のた
め、複数のコネクタを有するワイヤーハーネスが多用さ
れている。従来、このようなワイヤーハーネスにおける
導通試験は図４に示す方法で行なわれている。図４は導
通試験状態を示す図である。ワイヤーハーネス５は、所
定長さに切断された多数の被覆電線をプラスチックパイ
プあるいはテーピング等によって束ね、その先端導体部
にコネクタ７が取付けられている。導通試験は、試験装
置１６にコネクタ７をそれぞれセットして行なわれる。
試験装置１６は、基板１７と、この基板１７の端部に固
定されたコネクタ受部４と、カムハンドル１８の回動操
作によりコネクタ受部４に対して離接動する検査部６と
より構成されている。ワイヤーハーネス５は、例えば車
種や用途などにより非常に多くの種類があり、またそれ
に応じてコネクタ７の大きさや形状も複雑多岐にわたる
ため、コネクタ７がセットされるコネクタ受部４は、コ
ネクタ７の大きさや形状に応じて個別に設計され準備さ
れている。
【０００３】導通試験は次のように行なわれる。一つの
コネクタ７をコネクタ受部４の溝に嵌挿してセットした
後、カムハンドル１８を回動操作して検査部６をコネク
タ受部４に固定されたコネクタ７に接近させる。検査部
６のハウジング内に設けられ、外部端子６ａを有する導
通検知体６ｂがコネクタ７の端子に接触することによ
り、導通の有無が試験される。この導通試験操作をワイ
ヤーハーネス５が有する全てのコネクタ７について、そ
れぞれのコネクタの形状等に応じた試験装置１６に代え
て行なう。
コネクタ７をコネクタ受部４の溝に嵌挿してセットした
後、カムハンドル１８を回動操作して検査部６をコネク
タ受部４に固定されたコネクタ７に接近させる。検査部
６のハウジング内に設けられ、外部端子６ａを有する導
通検知体６ｂがコネクタ７の端子に接触することによ
り、導通の有無が試験される。この導通試験操作をワイ
ヤーハーネス５が有する全てのコネクタ７について、そ
れぞれのコネクタの形状等に応じた試験装置１６に代え
て行なう。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、一つの
ワイヤーハーネスについて備えているコネクタの数だけ
導通試験操作を繰り返すことは、試験工程数の増加につ
ながり、また、新規格のワイヤーハーネスが登場するご
とに試験装置１６を準備しなければならないという問題
がある。一方、試験装置１６を複数個まとめて同時に試
験しようとすると、複数の端子を同時に嵌合することの
精度上の問題がある。すなわち、コネクタ受部４に嵌挿
される一個のコネクタの端子の高さ方向あるいは横方向
の僅かなずれが複数個重なることにより、検査部６との
嵌合精度を維持できなくなる。特に複数の端子を有する
多極構造のコネクタを複数個同時に試験することは困難
である。このため、コネクタ端子導通試験が不十分にな
るという問題がある。
ワイヤーハーネスについて備えているコネクタの数だけ
導通試験操作を繰り返すことは、試験工程数の増加につ
ながり、また、新規格のワイヤーハーネスが登場するご
とに試験装置１６を準備しなければならないという問題
がある。一方、試験装置１６を複数個まとめて同時に試
験しようとすると、複数の端子を同時に嵌合することの
精度上の問題がある。すなわち、コネクタ受部４に嵌挿
される一個のコネクタの端子の高さ方向あるいは横方向
の僅かなずれが複数個重なることにより、検査部６との
嵌合精度を維持できなくなる。特に複数の端子を有する
多極構造のコネクタを複数個同時に試験することは困難
である。このため、コネクタ端子導通試験が不十分にな
るという問題がある。
【０００５】本発明は、このような問題に対処するため
になされたもので、一個の試験装置で一回の操作で、一
つのワイヤーハーネスに備えられている複数のコネクタ
を同時に試験することができるコネクタ端子導通試験装
置を提供することを目的とする。
になされたもので、一個の試験装置で一回の操作で、一
つのワイヤーハーネスに備えられている複数のコネクタ
を同時に試験することができるコネクタ端子導通試験装
置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のコネクタ端子導
通試験装置は、コネクタ受部に嵌挿された被試験コネク
タの端子と、該コネクタに対向配置された検査部とが嵌
合することにより、回路の導通を試験する試験装置にお
いて、上記コネクタ受部は、被試験コネクタの端子が検
査部と嵌合できる位置に複数個配置され、上記検査部
は、コネクタ受部にそれぞれ対向して複数個配置され、
被試験コネクタの端子に検査部が複数個同時に嵌合する
ことを特徴とする。
通試験装置は、コネクタ受部に嵌挿された被試験コネク
タの端子と、該コネクタに対向配置された検査部とが嵌
合することにより、回路の導通を試験する試験装置にお
いて、上記コネクタ受部は、被試験コネクタの端子が検
査部と嵌合できる位置に複数個配置され、上記検査部
は、コネクタ受部にそれぞれ対向して複数個配置され、
被試験コネクタの端子に検査部が複数個同時に嵌合する
ことを特徴とする。
【０００７】また、少なくとも上記複数のコネクタ受部
は、上記被試験コネクタを雄型にした注形法により治具
形成されてなることを特徴とする。
は、上記被試験コネクタを雄型にした注形法により治具
形成されてなることを特徴とする。
【０００８】被試験コネクタの端子に検査部が複数個同
時に嵌合することで、一回の操作で、一つのワイヤーハ
ーネスに備えられている複数のコネクタを同時に試験す
ることができる。また、コネクタ受部が被試験コネクタ
を雄型にした注形法により得られる台座からなることに
より、検査部との嵌合精度を維持することができる。さ
らに、従来の金型を用いる方法、あるいは切削により成
形する方法に比較して、短時間でコネクタ受部を作製す
ることができる。
時に嵌合することで、一回の操作で、一つのワイヤーハ
ーネスに備えられている複数のコネクタを同時に試験す
ることができる。また、コネクタ受部が被試験コネクタ
を雄型にした注形法により得られる台座からなることに
より、検査部との嵌合精度を維持することができる。さ
らに、従来の金型を用いる方法、あるいは切削により成
形する方法に比較して、短時間でコネクタ受部を作製す
ることができる。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明のコネクタ端子導通試験装
置を図１および図２により説明する。図１は装置の平面
図であり、図２は一部斜視図である。コネクタ端子導通
試験装置１は、ベースプレート２と、このベースプレー
ト２に対して前進後退する検査部スライドベース３とか
ら構成される。このベースプレート２上には、複数のコ
ネクタ受部４が固定されるとともに、被試験ワイヤハー
ネス５を嵌挿できる面を有している。また、検査部スラ
イドベース３上には、複数の検査部６がそれぞれのコネ
クタ受部４に対向して固定されている。
置を図１および図２により説明する。図１は装置の平面
図であり、図２は一部斜視図である。コネクタ端子導通
試験装置１は、ベースプレート２と、このベースプレー
ト２に対して前進後退する検査部スライドベース３とか
ら構成される。このベースプレート２上には、複数のコ
ネクタ受部４が固定されるとともに、被試験ワイヤハー
ネス５を嵌挿できる面を有している。また、検査部スラ
イドベース３上には、複数の検査部６がそれぞれのコネ
クタ受部４に対向して固定されている。
【００１０】コネクタ端子導通試験は、図２に示すよう
に、イ）ワイヤハーネス５の先端に設けられているコネ
クタ７をコネクタ受部４に嵌挿してセットする、ロ）検
査部スライドベース３をコネクタ受部４方向に前進させ
て、相互に対向する複数のコネクタ７の端子と複数の検
査部６とを嵌合することにより行なわれる。コネクタ７
の端子と複数の検査部６と複数個同時に嵌合させるため
には、コネクタ受部４へのコネクタ７の嵌挿精度と、ベ
ースプレート２と検査部スライドベース３との前進後退
に伴う嵌合精度とが重要となる。コネクタ受部４へのコ
ネクタ７の嵌挿精度を高めるため、本発明に係るコネク
タ受部４は、コネクタ受部４自身を雄型にした注形法に
より治具形成される。
に、イ）ワイヤハーネス５の先端に設けられているコネ
クタ７をコネクタ受部４に嵌挿してセットする、ロ）検
査部スライドベース３をコネクタ受部４方向に前進させ
て、相互に対向する複数のコネクタ７の端子と複数の検
査部６とを嵌合することにより行なわれる。コネクタ７
の端子と複数の検査部６と複数個同時に嵌合させるため
には、コネクタ受部４へのコネクタ７の嵌挿精度と、ベ
ースプレート２と検査部スライドベース３との前進後退
に伴う嵌合精度とが重要となる。コネクタ受部４へのコ
ネクタ７の嵌挿精度を高めるため、本発明に係るコネク
タ受部４は、コネクタ受部４自身を雄型にした注形法に
より治具形成される。
【００１１】コネクタ受部４の作製方法を図３により説
明する。図３はコネクタ受部４の製造工程を示す図であ
る。容器８内に、コネクタ７を保持する（図３
（ａ））。次いで注形樹脂１０を流し込み硬化させる
（図３（ｂ））。容器８より注形された成形体をとりだ
すことによりコネクタ受部４が完成する（図３
（ｃ））。このコネクタ受部４はワイヤハーネスが有す
る複数のコネクタを雄型としてそれぞれ作製される。
明する。図３はコネクタ受部４の製造工程を示す図であ
る。容器８内に、コネクタ７を保持する（図３
（ａ））。次いで注形樹脂１０を流し込み硬化させる
（図３（ｂ））。容器８より注形された成形体をとりだ
すことによりコネクタ受部４が完成する（図３
（ｃ））。このコネクタ受部４はワイヤハーネスが有す
る複数のコネクタを雄型としてそれぞれ作製される。
【００１２】コネクタ受部４は、コネクタ７を所定の精
度で固定できる硬さと、複数個のワイヤハーネスを繰返
し試験操作するためにコネクタ７を脱着できる柔軟さを
有することが必要となる。また、コネクタ受部４の柔軟
さは、検査部６との嵌合時に生じる微小の嵌合ずれを修
正する機能を有する。注形法により治具形成されたコネ
クタ受部４の硬さとしては、ＪＩＳ Ｋ ６３０１に準
じて測定されるゴム硬度（Ａコード）にして90°以上あ
ることが好ましい。また柔軟さとしては、ポッティング
用ウレタン樹脂成形体程度の柔軟性を有することが好ま
しい。注形法により得られた成形体の具体例としては、
例えばポリオールとしてクインネート３００６（ゼオン
ライズ社製） 100重量部と、イソシアネートとしてクイ
ンネート２０２５（ゼオンライズ社製） 60 重量部とを
混合撹拌して脱泡後、約 60 ℃で 2〜3 時間硬化させた
成形体を挙げることができる。この成形体は伸びが約 1
30％、引張り強度が約 40kg/cm2である。
度で固定できる硬さと、複数個のワイヤハーネスを繰返
し試験操作するためにコネクタ７を脱着できる柔軟さを
有することが必要となる。また、コネクタ受部４の柔軟
さは、検査部６との嵌合時に生じる微小の嵌合ずれを修
正する機能を有する。注形法により治具形成されたコネ
クタ受部４の硬さとしては、ＪＩＳ Ｋ ６３０１に準
じて測定されるゴム硬度（Ａコード）にして90°以上あ
ることが好ましい。また柔軟さとしては、ポッティング
用ウレタン樹脂成形体程度の柔軟性を有することが好ま
しい。注形法により得られた成形体の具体例としては、
例えばポリオールとしてクインネート３００６（ゼオン
ライズ社製） 100重量部と、イソシアネートとしてクイ
ンネート２０２５（ゼオンライズ社製） 60 重量部とを
混合撹拌して脱泡後、約 60 ℃で 2〜3 時間硬化させた
成形体を挙げることができる。この成形体は伸びが約 1
30％、引張り強度が約 40kg/cm2である。
【００１３】コネクタ受部４はベースプレート２上に被
試験コネクタ７の端子が検査部６と嵌合できる位置に複
数個配置され固定される。固定方法としては、ネジ等に
よる機械的固定方法、あるいは、エポキシ樹脂接着等に
よる化学的固定方法いずれであってもよい。複数個のコ
ネクタ受部４を所定位置に配置した後、そのままの状態
で固定できるエポキシ樹脂接着が本発明に好ましい。な
お、コネクタ受部４の固定時において、コネクタ７の抜
け防止として補強材４ａを同時に固定することが好まし
い。
試験コネクタ７の端子が検査部６と嵌合できる位置に複
数個配置され固定される。固定方法としては、ネジ等に
よる機械的固定方法、あるいは、エポキシ樹脂接着等に
よる化学的固定方法いずれであってもよい。複数個のコ
ネクタ受部４を所定位置に配置した後、そのままの状態
で固定できるエポキシ樹脂接着が本発明に好ましい。な
お、コネクタ受部４の固定時において、コネクタ７の抜
け防止として補強材４ａを同時に固定することが好まし
い。
【００１４】被試験ワイヤハーネス５を載置できる面
は、コネクタ端子導通試験時にワイヤハーネス５を載置
できる広さがあればよい。試験準備時の誤動作や衝撃か
らワイヤハーネス５を守るために、ワイヤハーネス載置
面を弾性体で形成し、かつワイヤハーネスの形状にくり
ぬき成形することが好ましい。具体的には、室温硬化型
シリコーンゴムなどによりワイヤハーネスの形状を雄型
にした注形法により形成することが好ましい。
は、コネクタ端子導通試験時にワイヤハーネス５を載置
できる広さがあればよい。試験準備時の誤動作や衝撃か
らワイヤハーネス５を守るために、ワイヤハーネス載置
面を弾性体で形成し、かつワイヤハーネスの形状にくり
ぬき成形することが好ましい。具体的には、室温硬化型
シリコーンゴムなどによりワイヤハーネスの形状を雄型
にした注形法により形成することが好ましい。
【００１５】検査部６には、図示を省略した複数の導通
検査検知体がコネクタ７側に向かって突設されている。
これらの検知体にはリード線６ａが接続され導通試験装
置の入力端子に接続され、またこれらの検知体は軸方向
に移動可能であるとともに常時検査部６の前進方向に付
勢されている。検査部６は、検査部スライドベース３上
において、コネクタ７の端子と嵌合できる位置に機械的
に調整して配置・固定される。例えば複数の検査部６を
コネクタ７の端子位置に調節して配置した後、検査部押
さえ板１０および押さえピン１０ａ等で固定できる。ま
た、検査部スライドベース３の前進後退に対して検査部
６を固定するための固定部６ｂを設けることが好まし
い。検査部６の他の固定方法としては、コネクタ受部４
にコネクタ７をセットして、コネクタ７の端子に検査部
６を嵌合させ、その状態で検査部スライドベース３に検
査部６を固定・配置することができる。この方法により
自動的に検査部６とコネクタ７の端子とが相互に嵌合で
きる位置に配置・固定される。
検査検知体がコネクタ７側に向かって突設されている。
これらの検知体にはリード線６ａが接続され導通試験装
置の入力端子に接続され、またこれらの検知体は軸方向
に移動可能であるとともに常時検査部６の前進方向に付
勢されている。検査部６は、検査部スライドベース３上
において、コネクタ７の端子と嵌合できる位置に機械的
に調整して配置・固定される。例えば複数の検査部６を
コネクタ７の端子位置に調節して配置した後、検査部押
さえ板１０および押さえピン１０ａ等で固定できる。ま
た、検査部スライドベース３の前進後退に対して検査部
６を固定するための固定部６ｂを設けることが好まし
い。検査部６の他の固定方法としては、コネクタ受部４
にコネクタ７をセットして、コネクタ７の端子に検査部
６を嵌合させ、その状態で検査部スライドベース３に検
査部６を固定・配置することができる。この方法により
自動的に検査部６とコネクタ７の端子とが相互に嵌合で
きる位置に配置・固定される。
【００１６】ベースプレート２に対する検査部スライド
ベース３の前進後退（図１における矢符Ａ方向）は、コ
ネクタ７の端子に検査部６が複数個同時に嵌合できる範
囲であればよい。すなわち、複数個のそれぞれ対応する
コネクタ７の端子と検査部６とが同一ストローク長さを
もって相互に前進後退でき、嵌合できる状態であればよ
い。複数のコネクタ７の端子と対応する複数の検査部６
との距離が相互に同一であれば、例えば複数の検査部６
の嵌合面が同一平面になくとも、コネクタ７の端子と検
査部６とが相互に同時に嵌合できる。また、ベースプレ
ート２と検査部スライドベース３とは、複数個の平行ピ
ン１１を介して前進後退することにより、相互に平行に
前進後退できる。
ベース３の前進後退（図１における矢符Ａ方向）は、コ
ネクタ７の端子に検査部６が複数個同時に嵌合できる範
囲であればよい。すなわち、複数個のそれぞれ対応する
コネクタ７の端子と検査部６とが同一ストローク長さを
もって相互に前進後退でき、嵌合できる状態であればよ
い。複数のコネクタ７の端子と対応する複数の検査部６
との距離が相互に同一であれば、例えば複数の検査部６
の嵌合面が同一平面になくとも、コネクタ７の端子と検
査部６とが相互に同時に嵌合できる。また、ベースプレ
ート２と検査部スライドベース３とは、複数個の平行ピ
ン１１を介して前進後退することにより、相互に平行に
前進後退できる。
【００１７】検査部スライドベース３の前進後退手段
は、手動および自動いずれの方法であってもよい。好ま
しい方法は、図１に示すモータ機構を取り入れた自動手
段がある。図１において、１２はモータ、１３はスイッ
チ、１４はトランスを示す。スイッチ１３を入れること
により、モータ１２が作動し、検査部スライドベース３
が前進後退する。前進後退に際してモータ１２の作動力
が係合部１５を介して検査部スライドベース３に作用す
ることが好ましい。所定の遊び距離を有する矩形係合部
材よりなる係合部１５は、スイッチ１３を入れた直後は
モータ１２の作動力が作用せず、所定時間経過後、矩形
係合部材の対辺にモータ１２の作動力が到達すると検査
部スライドベース３が前進を始めるように設定されてい
る。このように、モータ１２の作動力が係合部１５内に
おいて所定の遊びを有して作用するため、コネクタ７の
端子と検査部６とが嵌合する場合に無理な力がかからず
容易に嵌合できる。また、導通検査検知体などが変形す
るおそれがない。
は、手動および自動いずれの方法であってもよい。好ま
しい方法は、図１に示すモータ機構を取り入れた自動手
段がある。図１において、１２はモータ、１３はスイッ
チ、１４はトランスを示す。スイッチ１３を入れること
により、モータ１２が作動し、検査部スライドベース３
が前進後退する。前進後退に際してモータ１２の作動力
が係合部１５を介して検査部スライドベース３に作用す
ることが好ましい。所定の遊び距離を有する矩形係合部
材よりなる係合部１５は、スイッチ１３を入れた直後は
モータ１２の作動力が作用せず、所定時間経過後、矩形
係合部材の対辺にモータ１２の作動力が到達すると検査
部スライドベース３が前進を始めるように設定されてい
る。このように、モータ１２の作動力が係合部１５内に
おいて所定の遊びを有して作用するため、コネクタ７の
端子と検査部６とが嵌合する場合に無理な力がかからず
容易に嵌合できる。また、導通検査検知体などが変形す
るおそれがない。
【００１８】本発明のコネクタ端子導通試験装置を用い
た導通試験は、次のようになされる。供試ワイヤハーネ
ス５がベースプレート２のワイヤハーネス５載置面に載
置され、コネクタ受部４にコネクタ７がセットされる。
コネクタ受部４はコネクタ７を雄型として成形されてい
るので、コネクタ受部４の形状に合致したコネクタのみ
がセットされるので、誤動作を防ぐことができる。次い
で、供試ワイヤハーネス５に対応した複数の検査部６が
それぞれ配置・固定されている検査部スライドベース３
のスイッチを前進方向に入れる。その結果、検査部スラ
イドベース３がベースプレート２方向に前進移動するこ
とにより、相互に対向する複数のコネクタ７の端子と複
数の検査部６とが嵌合する。嵌合した状態でコネクタ端
子導通試験を行なう。試験終了後は、検査部スライドベ
ース３のスイッチを後退方向に入れることにより、検査
部スライドベース３がベースプレート２より後退し、コ
ネクタ端子導通試験が終了する。
た導通試験は、次のようになされる。供試ワイヤハーネ
ス５がベースプレート２のワイヤハーネス５載置面に載
置され、コネクタ受部４にコネクタ７がセットされる。
コネクタ受部４はコネクタ７を雄型として成形されてい
るので、コネクタ受部４の形状に合致したコネクタのみ
がセットされるので、誤動作を防ぐことができる。次い
で、供試ワイヤハーネス５に対応した複数の検査部６が
それぞれ配置・固定されている検査部スライドベース３
のスイッチを前進方向に入れる。その結果、検査部スラ
イドベース３がベースプレート２方向に前進移動するこ
とにより、相互に対向する複数のコネクタ７の端子と複
数の検査部６とが嵌合する。嵌合した状態でコネクタ端
子導通試験を行なう。試験終了後は、検査部スライドベ
ース３のスイッチを後退方向に入れることにより、検査
部スライドベース３がベースプレート２より後退し、コ
ネクタ端子導通試験が終了する。
【００１９】なお、試験終了後、コネクタ受部４にセッ
トされている複数のコネクタ７を同時にコネクタ受部４
より脱離させることのできる手段を設けることが好まし
い。脱離させる手段としては、検査部スライドベース３
の後退に連動してコネクタ受部４の底面より突出する突
出しピン等を設けることなどがある。
トされている複数のコネクタ７を同時にコネクタ受部４
より脱離させることのできる手段を設けることが好まし
い。脱離させる手段としては、検査部スライドベース３
の後退に連動してコネクタ受部４の底面より突出する突
出しピン等を設けることなどがある。
【００２０】
【発明の効果】本発明のコネクタ端子導通試験装置は、
複数個の被試験コネクタの端子に検査部が複数個同時に
嵌合するので、一つのワイヤーハーネスに備えられてい
る複数のコネクタを同時に試験することができる。その
結果、コネクタ端子導通試験工数を大幅に短縮すること
ができる。
複数個の被試験コネクタの端子に検査部が複数個同時に
嵌合するので、一つのワイヤーハーネスに備えられてい
る複数のコネクタを同時に試験することができる。その
結果、コネクタ端子導通試験工数を大幅に短縮すること
ができる。
【００２１】また、コネクタ受部は、被試験コネクタを
雄型にした注形法により治具形成されてなるので、コネ
クタ受部の精度を高めることができ、さらに、複数個配
置したときの微小な嵌合ずれを吸収補正することがで
き、複数個のコネクタの端子を同時に試験することがで
きる。
雄型にした注形法により治具形成されてなるので、コネ
クタ受部の精度を高めることができ、さらに、複数個配
置したときの微小な嵌合ずれを吸収補正することがで
き、複数個のコネクタの端子を同時に試験することがで
きる。
【図１】コネクタ端子導通試験装置の平面図である。
【図２】コネクタ端子導通試験装置の一部斜視図であ
る。
る。
【図３】コネクタ受部の製造工程を示す図である。
【図４】従来の導通試験状態を示す図である。
１ コネクタ端子導通試験装置 ２ ベースプレート ３ 検査部スライドベース ４ コネクタ受部 ５ ワイヤハーネス ６ 検査部 ７ コネクタ ８ 容器 ９ 注形樹脂 １０ 検査部押さえ板 １１ 平行ピン １２ モータ １３ スイッチ １４ トランス １５ 係合部
Claims (2)
- 【請求項１】 コネクタ受部に嵌挿された被試験コネク
タの端子と、該コネクタに対向配置された検査部とが嵌
合することにより、回路の導通を試験するコネクタ端子
導通試験装置において、 前記コネクタ受部は、前記被試験コネクタの端子が前記
検査部と嵌合できる位置に複数個配置され、 前記検査部は、前記コネクタ受部にそれぞれ対向して複
数個配置され、前記被試験コネクタの端子に前記検査部
が複数個同時に嵌合することを特徴とするコネクタ端子
導通試験装置。 - 【請求項２】 少なくとも前記複数のコネクタ受部は、
前記被試験コネクタを雄型にした注形法により治具形成
されてなることを特徴とする請求項１記載のコネクタ端
子導通試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10185910A JP2000019214A (ja) | 1998-07-01 | 1998-07-01 | コネクタ端子導通試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10185910A JP2000019214A (ja) | 1998-07-01 | 1998-07-01 | コネクタ端子導通試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000019214A true JP2000019214A (ja) | 2000-01-21 |
Family
ID=16179028
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10185910A Pending JP2000019214A (ja) | 1998-07-01 | 1998-07-01 | コネクタ端子導通試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000019214A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100351106B1 (ko) * | 2000-12-20 | 2002-09-05 | 경신공업 주식회사 | 자동차용 와이어링 하네스의 조립 및 회로검사 지그 |
| JP2016156710A (ja) * | 2015-02-25 | 2016-09-01 | 古河電気工業株式会社 | 導通検査システムおよび導通検査方法 |
| KR102390953B1 (ko) * | 2021-09-13 | 2022-04-26 | 주식회사 세원전자 | 전선 단자를 위치 고정시키는 커넥터의 조립 불량을 검사하는 장치 |
| JP7477430B2 (ja) | 2020-11-16 | 2024-05-01 | 矢崎総業株式会社 | 部品装着誘導装置 |
-
1998
- 1998-07-01 JP JP10185910A patent/JP2000019214A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100351106B1 (ko) * | 2000-12-20 | 2002-09-05 | 경신공업 주식회사 | 자동차용 와이어링 하네스의 조립 및 회로검사 지그 |
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| JP7477430B2 (ja) | 2020-11-16 | 2024-05-01 | 矢崎総業株式会社 | 部品装着誘導装置 |
| KR102390953B1 (ko) * | 2021-09-13 | 2022-04-26 | 주식회사 세원전자 | 전선 단자를 위치 고정시키는 커넥터의 조립 불량을 검사하는 장치 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040309 |
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| A02 | Decision of refusal |
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