JP2000019130A - ガラス容器の欠陥検査装置 - Google Patents
ガラス容器の欠陥検査装置Info
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- JP2000019130A JP2000019130A JP10202878A JP20287898A JP2000019130A JP 2000019130 A JP2000019130 A JP 2000019130A JP 10202878 A JP10202878 A JP 10202878A JP 20287898 A JP20287898 A JP 20287898A JP 2000019130 A JP2000019130 A JP 2000019130A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ガラス容器の胴部の欠陥を自動的に検出し、
検査員の目視検査に頼らずに不良品を排除することを可
能とする。 【解決手段】 ガラス容器の上方から検査光を照射する
光源部と、ガラス容器の側方に設けられその胴部の画像
を取り込むカメラと、カメラで取り込んだ画像を処理す
る画像処理部とを有し、画像処理部は、画像を所定の輝
度Ｖｓ１において２値化しＶｓ１以下の画像を消去する
第１の２値化処理と、該処理を行った画面において、設
定した所定位置を画面端から横方向スキャンし、ガラス
容器エッジ部の外乱光画像を検出するエッジ部外乱光検
出処理と、該外乱光を検出した部分を縦方向に所定の幅
マスクするエッジ部外乱光マスク処理と、該処理を行っ
た画像を所定の輝度Ｖｓ２において２値化し、Ｖｓ２以
下の画像を消去する第２の２値化処理を行い、その処理
画像の面積が所定の値ＳＬ〜ＳＨの範囲にあるかどうか
で欠陥判断を行うガラス容器の欠陥検査装置である。
検査員の目視検査に頼らずに不良品を排除することを可
能とする。 【解決手段】 ガラス容器の上方から検査光を照射する
光源部と、ガラス容器の側方に設けられその胴部の画像
を取り込むカメラと、カメラで取り込んだ画像を処理す
る画像処理部とを有し、画像処理部は、画像を所定の輝
度Ｖｓ１において２値化しＶｓ１以下の画像を消去する
第１の２値化処理と、該処理を行った画面において、設
定した所定位置を画面端から横方向スキャンし、ガラス
容器エッジ部の外乱光画像を検出するエッジ部外乱光検
出処理と、該外乱光を検出した部分を縦方向に所定の幅
マスクするエッジ部外乱光マスク処理と、該処理を行っ
た画像を所定の輝度Ｖｓ２において２値化し、Ｖｓ２以
下の画像を消去する第２の２値化処理を行い、その処理
画像の面積が所定の値ＳＬ〜ＳＨの範囲にあるかどうか
で欠陥判断を行うガラス容器の欠陥検査装置である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コップ、鉢、花
瓶、広口びんなどの口部が大きく開口したガラス容器の
胴部の欠陥、すなわち、容器の胴部の内外面に付着した
ガラス片などの異物や汚れ、ガラス内部の泡、異物、色
ムラなどを検出する装置に関する。
瓶、広口びんなどの口部が大きく開口したガラス容器の
胴部の欠陥、すなわち、容器の胴部の内外面に付着した
ガラス片などの異物や汚れ、ガラス内部の泡、異物、色
ムラなどを検出する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ガラス容器に付着したガラス片な
どの欠陥を検査する装置は、口部や底部を検査するもの
はあったが、胴部について検査するものはなかった。胴
部の検査は、口部を検査する装置の設置位置を下げて胴
部の検査に流用することもあったが、安定した検査を行
うことはできず、結局は目視検査に頼らざるをえなかっ
た。
どの欠陥を検査する装置は、口部や底部を検査するもの
はあったが、胴部について検査するものはなかった。胴
部の検査は、口部を検査する装置の設置位置を下げて胴
部の検査に流用することもあったが、安定した検査を行
うことはできず、結局は目視検査に頼らざるをえなかっ
た。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来、ガラス容器の胴
部の欠陥の検査は、目視に頼らざるをえなかったので、
検査員に過酷な作業を強いることとなり、また、目視に
よってはガラス片の付着したものを完全に排除すること
は困難で、ガラス容器の口切り工程において発生するガ
ラス容器内外の胴部に付着するガラス片により消費者が
怪我をするというクレームが発生していた。本発明は、
このようなガラス容器の胴部の欠陥を自動的に検出し、
検査員の目視検査に頼らずに不良品を排除することを可
能とするためになされたものである。
部の欠陥の検査は、目視に頼らざるをえなかったので、
検査員に過酷な作業を強いることとなり、また、目視に
よってはガラス片の付着したものを完全に排除すること
は困難で、ガラス容器の口切り工程において発生するガ
ラス容器内外の胴部に付着するガラス片により消費者が
怪我をするというクレームが発生していた。本発明は、
このようなガラス容器の胴部の欠陥を自動的に検出し、
検査員の目視検査に頼らずに不良品を排除することを可
能とするためになされたものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、検査対象であ
るガラス容器の上方から検査光を照射する光源部と、前
記ガラス容器の側方に設けられガラス容器の胴部の画像
を取り込むことのできるカメラと、前記カメラで取り込
んだ画像を処理する画像処理部とを有し、該画像処理部
は、前記画像を所定の輝度Ｖｓ１において２値化しＶｓ
１以下の画像を消去する第１の２値化処理と、第１の２
値化処理を行った画面において、設定した所定位置を画
面端から横方向スキャンし、ガラス容器エッジ部の外乱
光画像を検出するエッジ部外乱光検出処理と、エッジ部
外乱光を検出した部分を縦方向に所定の幅マスクするエ
ッジ部外乱光マスク処理と、エッジ部外乱光マスク処理
を行った画像を所定の輝度Ｖｓ２において２値化し、Ｖ
ｓ２以下の画像を消去する第２の２値化処理と、第２の
２値化処理を行った画像に対して残った画像に番号を付
けるラベリング処理と、ラベリングした画像の画素数が
所定の値ＳＬ〜ＳＨの範囲にあることを判断する欠陥判
断処理とを行うものであることを特徴とするガラス容器
の欠陥検査装置である。
るガラス容器の上方から検査光を照射する光源部と、前
記ガラス容器の側方に設けられガラス容器の胴部の画像
を取り込むことのできるカメラと、前記カメラで取り込
んだ画像を処理する画像処理部とを有し、該画像処理部
は、前記画像を所定の輝度Ｖｓ１において２値化しＶｓ
１以下の画像を消去する第１の２値化処理と、第１の２
値化処理を行った画面において、設定した所定位置を画
面端から横方向スキャンし、ガラス容器エッジ部の外乱
光画像を検出するエッジ部外乱光検出処理と、エッジ部
外乱光を検出した部分を縦方向に所定の幅マスクするエ
ッジ部外乱光マスク処理と、エッジ部外乱光マスク処理
を行った画像を所定の輝度Ｖｓ２において２値化し、Ｖ
ｓ２以下の画像を消去する第２の２値化処理と、第２の
２値化処理を行った画像に対して残った画像に番号を付
けるラベリング処理と、ラベリングした画像の画素数が
所定の値ＳＬ〜ＳＨの範囲にあることを判断する欠陥判
断処理とを行うものであることを特徴とするガラス容器
の欠陥検査装置である。
【０００５】この装置は、特に胴部に折れ目を有さず、
滑らかな曲線で構成されているガラス容器に適したもの
で、ガラス容器に上方の光源部から検査光を照射し、そ
の反射・屈折光をカメラで受光し、その画像からエッジ
部外乱光を除去した後に、残った画像の輝度と面積で欠
陥の有無を判定するものである。
滑らかな曲線で構成されているガラス容器に適したもの
で、ガラス容器に上方の光源部から検査光を照射し、そ
の反射・屈折光をカメラで受光し、その画像からエッジ
部外乱光を除去した後に、残った画像の輝度と面積で欠
陥の有無を判定するものである。
【０００６】ガラス容器に、付着したガラス片などの欠
陥があると、光源からの光がその欠陥で乱反射や屈折を
おこし、それをカメラで捕らえると、欠陥部分がその他
の部分に対して大きな輝度となっている。したがって、
検査したガラス容器に輝度の大きな部分がある場合に
は、そのガラス容器には欠陥があるのであるが、一般
に、ガラス容器に検査光を照射してその画像を取り込む
と、欠陥以外にも輝度が大きくなる要素、すなわち外乱
光があり、その外乱光を除去しなければ正確な検査をす
ることができない。外乱光の第一はエッジ部外乱光であ
る。これは、ガラス容器の周囲に輝度の大きな部分が生
じるものである。
陥があると、光源からの光がその欠陥で乱反射や屈折を
おこし、それをカメラで捕らえると、欠陥部分がその他
の部分に対して大きな輝度となっている。したがって、
検査したガラス容器に輝度の大きな部分がある場合に
は、そのガラス容器には欠陥があるのであるが、一般
に、ガラス容器に検査光を照射してその画像を取り込む
と、欠陥以外にも輝度が大きくなる要素、すなわち外乱
光があり、その外乱光を除去しなければ正確な検査をす
ることができない。外乱光の第一はエッジ部外乱光であ
る。これは、ガラス容器の周囲に輝度の大きな部分が生
じるものである。
【０００７】このエッジ部外乱光は、画像処理部におい
て次のように取り除かれる。まず、カメラで取り込んだ
画像を所定の輝度Ｖｓ１において２値化しＶｓ１以下の
画像を消去する第１の２値化処理を行う。この処理画面
において、設定した所定位置を画面端から横方向スキャ
ンし、ガラス容器エッジ部の外乱光画像を検出するエッ
ジ部外乱光検出処理を行う。この場合所定位置は通常ガ
ラス容器の高さ方向の中央付近とするが、容器の形状に
より適当な位置を定める。エッジ部外乱光を検出する
と、その部分を縦方向に所定の幅マスクするエッジ部外
乱光マスク処理を行う。これにより、エッジ部外乱光が
マスクされて除去される。
て次のように取り除かれる。まず、カメラで取り込んだ
画像を所定の輝度Ｖｓ１において２値化しＶｓ１以下の
画像を消去する第１の２値化処理を行う。この処理画面
において、設定した所定位置を画面端から横方向スキャ
ンし、ガラス容器エッジ部の外乱光画像を検出するエッ
ジ部外乱光検出処理を行う。この場合所定位置は通常ガ
ラス容器の高さ方向の中央付近とするが、容器の形状に
より適当な位置を定める。エッジ部外乱光を検出する
と、その部分を縦方向に所定の幅マスクするエッジ部外
乱光マスク処理を行う。これにより、エッジ部外乱光が
マスクされて除去される。
【０００８】エッジ部外乱光を除去した画像を所定の輝
度Ｖｓ２において２値化し、Ｖｓ２以下の画像を消去す
る第２の２値化処理を行う。これにより、種々の原因に
よる外乱光を排除する。更に、残った画像に番号を付け
るラベリング処理を行い、ラベリングした画像の画素数
が所定の値ＳＬ〜ＳＨの範囲にあることを判断する欠陥
判断処理を行う。欠陥の大きさは、経験的にＳＬ〜ＳＨ
の所定の大きさであることがほとんどであり、ＳＬ以下
の場合は小さな塵などが付着している場合であり、ＳＨ
より大きい場合は何等かの外乱光である。
度Ｖｓ２において２値化し、Ｖｓ２以下の画像を消去す
る第２の２値化処理を行う。これにより、種々の原因に
よる外乱光を排除する。更に、残った画像に番号を付け
るラベリング処理を行い、ラベリングした画像の画素数
が所定の値ＳＬ〜ＳＨの範囲にあることを判断する欠陥
判断処理を行う。欠陥の大きさは、経験的にＳＬ〜ＳＨ
の所定の大きさであることがほとんどであり、ＳＬ以下
の場合は小さな塵などが付着している場合であり、ＳＨ
より大きい場合は何等かの外乱光である。
【０００９】平面形状が多角形状などで、胴部が滑らか
な平面又は曲面のみ構成されておらずに折り目を有する
ガラス容器は、エッジ部外乱光の他に折り目部外乱光が
生じる。折り目部外乱光は、画像処理部において次のよ
うに除去される。
な平面又は曲面のみ構成されておらずに折り目を有する
ガラス容器は、エッジ部外乱光の他に折り目部外乱光が
生じる。折り目部外乱光は、画像処理部において次のよ
うに除去される。
【００１０】カメラで取り込んだ画像を第１の２値化処
理、ガラス容器エッジ部の外乱光画像を検出するエッジ
部外乱光検出処理、エッジ部外乱光を除去するエッジ部
外乱光マスク処理、所定の輝度Ｖｓ２において２値化
し、Ｖｓ２以下の画像を消去する第２の２値化処理を行
い、残った画像に番号を付けるラベリング処理を行うま
では前述の装置の場合と同様である。折り目部外乱光を
除去する場合には、ラベリングした画像の縦横比が所定
の値以上となる折り目部を検出し、その部分をマスクす
る折り目部マスク処理を行う。これにより折り目部外乱
光が除去される。その後は前記の場合と同様に、画像の
画素数が所定の値ＳＬ〜ＳＨの範囲にあることを判断す
る欠陥判断処理を行い、ガラス容器に欠陥があるかどう
かを判断する。
理、ガラス容器エッジ部の外乱光画像を検出するエッジ
部外乱光検出処理、エッジ部外乱光を除去するエッジ部
外乱光マスク処理、所定の輝度Ｖｓ２において２値化
し、Ｖｓ２以下の画像を消去する第２の２値化処理を行
い、残った画像に番号を付けるラベリング処理を行うま
では前述の装置の場合と同様である。折り目部外乱光を
除去する場合には、ラベリングした画像の縦横比が所定
の値以上となる折り目部を検出し、その部分をマスクす
る折り目部マスク処理を行う。これにより折り目部外乱
光が除去される。その後は前記の場合と同様に、画像の
画素数が所定の値ＳＬ〜ＳＨの範囲にあることを判断す
る欠陥判断処理を行い、ガラス容器に欠陥があるかどう
かを判断する。
【００１１】カメラを約９０°ごとに４台設置し、これ
らのカメラを同時に作動させてガラス容器の画像を取り
込むと、ガラス容器の胴部の全周を検査できるだけでな
く、あるカメラの画像においてエッジ部や折り目部の外
乱光を除去するためにマスクした部分を、他のカメラの
画像で検査することができるから、欠陥を見逃すおそれ
がほとんどなくなる。４台のカメラで取り込んだ画像の
うち１つの画像について欠陥が発見されれば、そのガラ
ス容器には欠陥が存在することになる。
らのカメラを同時に作動させてガラス容器の画像を取り
込むと、ガラス容器の胴部の全周を検査できるだけでな
く、あるカメラの画像においてエッジ部や折り目部の外
乱光を除去するためにマスクした部分を、他のカメラの
画像で検査することができるから、欠陥を見逃すおそれ
がほとんどなくなる。４台のカメラで取り込んだ画像の
うち１つの画像について欠陥が発見されれば、そのガラ
ス容器には欠陥が存在することになる。
【００１２】光源部を井桁状に組み合わせた４本の直線
状光源とすると、ガラス容器に対してむら無く光が当た
り、正確な検査を行うことができる。また、平行な向き
の２組の直線状光源の間隔を自在に変更できるようにす
ると、ガラス容器の大きさに応じて光源の間隔を調整
し、好ましい状態で検査光を照射することができる。
状光源とすると、ガラス容器に対してむら無く光が当た
り、正確な検査を行うことができる。また、平行な向き
の２組の直線状光源の間隔を自在に変更できるようにす
ると、ガラス容器の大きさに応じて光源の間隔を調整
し、好ましい状態で検査光を照射することができる。
【００１３】平行な向きの対となる直線状光源の間隔ｗ
を、検査対象であるガラス容器の口径（内径）プラスマ
イナス１０ｍｍ程度とすることにより、カメラで取り込
んだ画像の欠陥の輝度が大きくなり、欠陥を見逃しにく
くなる。
を、検査対象であるガラス容器の口径（内径）プラスマ
イナス１０ｍｍ程度とすることにより、カメラで取り込
んだ画像の欠陥の輝度が大きくなり、欠陥を見逃しにく
くなる。
【００１４】この装置は、検査対象であるガラス容器が
ストレートコンベア上を移動しているときに検査を行う
ようにすることができる。その場合、光源部はストレー
トコンベアの検査を行う位置の真上に設置し、カメラも
その周囲に配置する。ストレートコンベア上で検査する
ことにより、特段の検査テーブルを設ける必要がなくな
り、装置コストが低減される。更に、検査タイミングや
欠陥ガラス容器の排除タイミングを生成し、プッシャー
などの排除装置を作動させる制御装置を設けることで、
全自動で検査を行い、かつ、欠陥製品を自動的に排除す
ることも可能となる。この場合、検査位置の上流側に流
れて来たガラス容器を検知する容器センサを設け、容器
センサの検知信号を受けた制御装置はそのガラス容器が
検査位置に到達するタイミングを算出し、そのタイミン
グに検査信号を画像処理部に送る。また制御部は、画像
処理部が欠陥判断を行った場合に該部から送られる欠陥
信号を受け、検査を受けたガラス容器がプッシャーなど
の排除装置の位置に達する排除タイミングを生成し、そ
のタイミングに排除信号を送って排除装置を作動させ、
欠陥ガラス容器を排除する。
ストレートコンベア上を移動しているときに検査を行う
ようにすることができる。その場合、光源部はストレー
トコンベアの検査を行う位置の真上に設置し、カメラも
その周囲に配置する。ストレートコンベア上で検査する
ことにより、特段の検査テーブルを設ける必要がなくな
り、装置コストが低減される。更に、検査タイミングや
欠陥ガラス容器の排除タイミングを生成し、プッシャー
などの排除装置を作動させる制御装置を設けることで、
全自動で検査を行い、かつ、欠陥製品を自動的に排除す
ることも可能となる。この場合、検査位置の上流側に流
れて来たガラス容器を検知する容器センサを設け、容器
センサの検知信号を受けた制御装置はそのガラス容器が
検査位置に到達するタイミングを算出し、そのタイミン
グに検査信号を画像処理部に送る。また制御部は、画像
処理部が欠陥判断を行った場合に該部から送られる欠陥
信号を受け、検査を受けたガラス容器がプッシャーなど
の排除装置の位置に達する排除タイミングを生成し、そ
のタイミングに排除信号を送って排除装置を作動させ、
欠陥ガラス容器を排除する。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、実施例を表した図面に基づ
いて本発明を詳細に説明する。図１は実施例の検査装置
の概要を示す説明図、図２は光源部の上面図、図３はガ
ラス容器の口径と輝度比の関係を示す説明図、図４はガ
ラス容器とカメラの関係を示す上面図、図５は画像処理
部におけるエッジ部外乱光の除去処理と欠陥判断処理の
アルゴリズムを示すブロック図、図６は図５における画
像処理の説明図、図７は折り目部外乱光の除去処理と欠
陥判断処理のアルゴリズムを示すブロック図、図８は図
７における画像処理の説明図である。
いて本発明を詳細に説明する。図１は実施例の検査装置
の概要を示す説明図、図２は光源部の上面図、図３はガ
ラス容器の口径と輝度比の関係を示す説明図、図４はガ
ラス容器とカメラの関係を示す上面図、図５は画像処理
部におけるエッジ部外乱光の除去処理と欠陥判断処理の
アルゴリズムを示すブロック図、図６は図５における画
像処理の説明図、図７は折り目部外乱光の除去処理と欠
陥判断処理のアルゴリズムを示すブロック図、図８は図
７における画像処理の説明図である。
【００１６】図１の検査装置は、光源部１、４台のカメ
ラ２、３、４、５、画像処理部６、制御部７、容器間隔
調整部８、コンベア速度感知部９、容器センサ１０及び
排除装置１１からなる。検査対象となるガラス容器はコ
ンベア１２上を図１の左から右に流れており、各容器の
間隔は上流側の容器間隔調整部８で所定間隔に調整され
る。容器センサ１０は間隔調整されて流れてきたガラス
容器Ｇを検知し、検知信号を制御部７に送る。検知信号
を受けた制御装置７は、この検知信号とコンベア移動速
度検知機９からの速度信号から、そのガラス容器が検査
位置に到達するタイミングを算出し、そのタイミングに
検査信号を画像処理部６に送る。検査信号を受けた画像
処理部６は、４台のカメラ２、３、４、５の画像を取り
込んで所定の画像処理を行い、欠陥があると判断した場
合には欠陥信号を制御部７に送る。欠陥信号を受けた制
御部７はそのガラス容器がプッシャーなどの排除装置１
１の位置に達する排除タイミングを生成し、そのタイミ
ングに排除装置１１に排除信号を送ってこれを作動さ
せ、欠陥ガラス容器を排除する。
ラ２、３、４、５、画像処理部６、制御部７、容器間隔
調整部８、コンベア速度感知部９、容器センサ１０及び
排除装置１１からなる。検査対象となるガラス容器はコ
ンベア１２上を図１の左から右に流れており、各容器の
間隔は上流側の容器間隔調整部８で所定間隔に調整され
る。容器センサ１０は間隔調整されて流れてきたガラス
容器Ｇを検知し、検知信号を制御部７に送る。検知信号
を受けた制御装置７は、この検知信号とコンベア移動速
度検知機９からの速度信号から、そのガラス容器が検査
位置に到達するタイミングを算出し、そのタイミングに
検査信号を画像処理部６に送る。検査信号を受けた画像
処理部６は、４台のカメラ２、３、４、５の画像を取り
込んで所定の画像処理を行い、欠陥があると判断した場
合には欠陥信号を制御部７に送る。欠陥信号を受けた制
御部７はそのガラス容器がプッシャーなどの排除装置１
１の位置に達する排除タイミングを生成し、そのタイミ
ングに排除装置１１に排除信号を送ってこれを作動さ
せ、欠陥ガラス容器を排除する。
【００１７】光源部１は、図２に示されるように、４本
の直線状光源である直管蛍光燈１４を組み合わせたもの
で、検査位置の真上に設けられている。互いに平行な対
となる直管蛍光燈の間隔ｗは自由に変更できるようにな
っている。直管蛍光燈の間隔ｗと、カメラで取り込んだ
画像の輝度比について、種々のガラス容器について実験
した結果を図３に示す。同図において、横軸はガラス容
器の口径（内径）から直管蛍光燈の間隔ｗ（ｍｍ）をマ
イナスした値、縦軸は輝度比である。このように、直管
蛍光燈の間隔ｗを、検査対象であるガラス容器の口径
（内径）プラスマイナス１０ｍｍ程度とすることで、輝
度比が大きくなることが発見された。したがって、蛍光
燈の間隔ｗをこの範囲に設定することで、カメラで取り
込んだ画像の欠陥の輝度が大きくなり、欠陥を見逃しに
くくなる。４台のカメラの周囲には、なるべく外乱光を
減らすために暗幕１３が設けられている。
の直線状光源である直管蛍光燈１４を組み合わせたもの
で、検査位置の真上に設けられている。互いに平行な対
となる直管蛍光燈の間隔ｗは自由に変更できるようにな
っている。直管蛍光燈の間隔ｗと、カメラで取り込んだ
画像の輝度比について、種々のガラス容器について実験
した結果を図３に示す。同図において、横軸はガラス容
器の口径（内径）から直管蛍光燈の間隔ｗ（ｍｍ）をマ
イナスした値、縦軸は輝度比である。このように、直管
蛍光燈の間隔ｗを、検査対象であるガラス容器の口径
（内径）プラスマイナス１０ｍｍ程度とすることで、輝
度比が大きくなることが発見された。したがって、蛍光
燈の間隔ｗをこの範囲に設定することで、カメラで取り
込んだ画像の欠陥の輝度が大きくなり、欠陥を見逃しに
くくなる。４台のカメラの周囲には、なるべく外乱光を
減らすために暗幕１３が設けられている。
【００１８】次に、胴部に折れ目を有さず、滑らかな曲
線で構成されているガラス容器（円筒形の容器など）に
ついての画像処理を図５、６に基づいて説明する。検査
に先立って、初期設定により検査対象となるガラス容器
に適切なパラメータの値を設定する。パラメータは、縦
方向マスクのマスク幅ｘ、Ｖｓ１（エッジ部外乱光画像
検出輝度しきい値）、Ｖｓ２（ガラス片画像検出輝度し
きい値）、ＳＬ（ラベリング後画像の画素数（＝面積）
しきい値、このしきい値以下の画像を消去する）、ＳＨ
（ラベリング後画像の画素数しきい値、このしきい値以
上の画像を消去する）などである。
線で構成されているガラス容器（円筒形の容器など）に
ついての画像処理を図５、６に基づいて説明する。検査
に先立って、初期設定により検査対象となるガラス容器
に適切なパラメータの値を設定する。パラメータは、縦
方向マスクのマスク幅ｘ、Ｖｓ１（エッジ部外乱光画像
検出輝度しきい値）、Ｖｓ２（ガラス片画像検出輝度し
きい値）、ＳＬ（ラベリング後画像の画素数（＝面積）
しきい値、このしきい値以下の画像を消去する）、ＳＨ
（ラベリング後画像の画素数しきい値、このしきい値以
上の画像を消去する）などである。
【００１９】カメラで取り込んだ画像は、図６（ａ）に
示されるように、エッジ部外乱光、その他の外乱光、付
着したガラス片などの欠陥の部分が他の部分に対して輝
度が大きく、光っている。この画像の検査範囲１５の内
部領域が検査対象となる。この画像に対して、所定の輝
度Ｖｓ１において２値化しＶｓ１以下の画像を消去する
第１の２値化処理を行う。これにより、Ｖｓ１以下の輝
度の外乱光の画像が除去される。この処理画面（ｂ）に
おいて、設定した所定位置（通常は画面中央に設定）の
横方向スキャンライン１６を画面の両端から横方向スキ
ャンし、ガラス容器エッジ部の外乱光画像を検出するエ
ッジ部外乱光検出処理を行う。これにより、Ａ部分とＢ
部分でエッジ部外乱光が検出されている。エッジ部外乱
光を検出すると、Ａ、Ｂ部分を中心にして所定の幅ｘを
縦方向にマスクするエッジ部外乱光マスク処理を行う。
これにより、エッジ部外乱光がマスクされて除去され
る。エッジ部外乱光を除去した画像を所定の輝度Ｖｓ２
において２値化し、Ｖｓ２以下の輝度の画像を消去する
第２の２値化処理を行う。これにより、種々の原因によ
る外乱光が排除され、（ｃ）の画像となる。更に、残っ
た画像に番号を付ける（Ｒ1、Ｒ2、Ｒ3）ラベリング処
理を行う。次に、ラベリングした画像の画素数（面積）
が所定のしきい値ＳＬ〜ＳＨの範囲にあることを判断す
る欠陥判断処理を行う。欠陥の大きさは、経験的にＳＬ
〜ＳＨの範囲の所定の大きさであることがほとんどであ
り、ＳＬ以下の場合は小さな塵などが付着している場合
であり、ＳＨより大きい場合は何等かの外乱光である。
（ｃ）においては、Ｒ1はＳＬ以下、Ｒ3はＳＨ以上とし
て消去され、Ｒ2がＳＬ〜ＳＨの範囲で欠陥として認識
されている。
示されるように、エッジ部外乱光、その他の外乱光、付
着したガラス片などの欠陥の部分が他の部分に対して輝
度が大きく、光っている。この画像の検査範囲１５の内
部領域が検査対象となる。この画像に対して、所定の輝
度Ｖｓ１において２値化しＶｓ１以下の画像を消去する
第１の２値化処理を行う。これにより、Ｖｓ１以下の輝
度の外乱光の画像が除去される。この処理画面（ｂ）に
おいて、設定した所定位置（通常は画面中央に設定）の
横方向スキャンライン１６を画面の両端から横方向スキ
ャンし、ガラス容器エッジ部の外乱光画像を検出するエ
ッジ部外乱光検出処理を行う。これにより、Ａ部分とＢ
部分でエッジ部外乱光が検出されている。エッジ部外乱
光を検出すると、Ａ、Ｂ部分を中心にして所定の幅ｘを
縦方向にマスクするエッジ部外乱光マスク処理を行う。
これにより、エッジ部外乱光がマスクされて除去され
る。エッジ部外乱光を除去した画像を所定の輝度Ｖｓ２
において２値化し、Ｖｓ２以下の輝度の画像を消去する
第２の２値化処理を行う。これにより、種々の原因によ
る外乱光が排除され、（ｃ）の画像となる。更に、残っ
た画像に番号を付ける（Ｒ1、Ｒ2、Ｒ3）ラベリング処
理を行う。次に、ラベリングした画像の画素数（面積）
が所定のしきい値ＳＬ〜ＳＨの範囲にあることを判断す
る欠陥判断処理を行う。欠陥の大きさは、経験的にＳＬ
〜ＳＨの範囲の所定の大きさであることがほとんどであ
り、ＳＬ以下の場合は小さな塵などが付着している場合
であり、ＳＨより大きい場合は何等かの外乱光である。
（ｃ）においては、Ｒ1はＳＬ以下、Ｒ3はＳＨ以上とし
て消去され、Ｒ2がＳＬ〜ＳＨの範囲で欠陥として認識
されている。
【００２０】次に、胴部に折れ目を有するガラス容器
（多角形状の容器など）についての画像処理を図７、８
に基づいて説明する。折れ目を有するガラス容器につい
ては、エッジ部外乱光に加えて折り目部外乱光が生じる
ので、これを除去しなければならない。なお、エッジ部
外乱光の除去は図５、６の説明と同じであるので、簡略
化のため、図７、８ではエッジ部外乱光がないものとし
て表している。この場合、初期設定する検査パラメータ
は前記の場合に加えてＸ／Ｙ比（Ｖｓ２を越えてラベリ
ングした画像の縦と横の長さの比、この設定値を越える
縦長のものを折り目部と認識する）を設定する必要があ
る。
（多角形状の容器など）についての画像処理を図７、８
に基づいて説明する。折れ目を有するガラス容器につい
ては、エッジ部外乱光に加えて折り目部外乱光が生じる
ので、これを除去しなければならない。なお、エッジ部
外乱光の除去は図５、６の説明と同じであるので、簡略
化のため、図７、８ではエッジ部外乱光がないものとし
て表している。この場合、初期設定する検査パラメータ
は前記の場合に加えてＸ／Ｙ比（Ｖｓ２を越えてラベリ
ングした画像の縦と横の長さの比、この設定値を越える
縦長のものを折り目部と認識する）を設定する必要があ
る。
【００２１】図８において、カメラで取り込んだ画像
（ｄ）には折り目部外乱光をはじめとする外乱光と付着
したガラス片などの欠陥の部分が他の部分に対して輝度
が大きく、光っている。この画像の検査範囲１５の内部
領域が検査対象となる。この画像に対して、所定の輝度
Ｖｓ２において２値化し、Ｖｓ２以下の輝度の画像を消
去する第２の２値化処理を行う。これにより、種々の原
因による外乱光が排除され、（ｅ）の画像となる。更
に、残った画像に番号を付ける（Ｒ1、Ｒ2、Ｒ3、Ｒ4、
Ｒ5）ラベリング処理を行う。次に、ラベリングした画
像のＸ／Ｙ比（縦横比）が所定の値以上となる折り目部
を検出し、その部分を縦方向にマスクする折り目部マス
ク処理を行う。この場合、Ｒ4、Ｒ5が折り目部と認識さ
れ、Ｙ1、Ｙ2の幅で縦方向にマスクされて消去される。
次に、折り目部が消去された画像（ｆ）に対して、ラベ
リングした画像の画素数（面積）が所定のしきい値ＳＬ
〜ＳＨの範囲にあることを判断する欠陥判断処理を行
う。欠陥の大きさは、経験的にＳＬ〜ＳＨの範囲の所定
の大きさであることがほとんどであり、ＳＬ以下の場合
は小さな塵などが付着している場合であり、ＳＨより大
きい場合は何等かの外乱光である。（ｃ）においては、
Ｒ1はＳＬ以下、Ｒ3はＳＨ以上として消去され、Ｒ2が
ＳＬ〜ＳＨの範囲で欠陥として認識されている。
（ｄ）には折り目部外乱光をはじめとする外乱光と付着
したガラス片などの欠陥の部分が他の部分に対して輝度
が大きく、光っている。この画像の検査範囲１５の内部
領域が検査対象となる。この画像に対して、所定の輝度
Ｖｓ２において２値化し、Ｖｓ２以下の輝度の画像を消
去する第２の２値化処理を行う。これにより、種々の原
因による外乱光が排除され、（ｅ）の画像となる。更
に、残った画像に番号を付ける（Ｒ1、Ｒ2、Ｒ3、Ｒ4、
Ｒ5）ラベリング処理を行う。次に、ラベリングした画
像のＸ／Ｙ比（縦横比）が所定の値以上となる折り目部
を検出し、その部分を縦方向にマスクする折り目部マス
ク処理を行う。この場合、Ｒ4、Ｒ5が折り目部と認識さ
れ、Ｙ1、Ｙ2の幅で縦方向にマスクされて消去される。
次に、折り目部が消去された画像（ｆ）に対して、ラベ
リングした画像の画素数（面積）が所定のしきい値ＳＬ
〜ＳＨの範囲にあることを判断する欠陥判断処理を行
う。欠陥の大きさは、経験的にＳＬ〜ＳＨの範囲の所定
の大きさであることがほとんどであり、ＳＬ以下の場合
は小さな塵などが付着している場合であり、ＳＨより大
きい場合は何等かの外乱光である。（ｃ）においては、
Ｒ1はＳＬ以下、Ｒ3はＳＨ以上として消去され、Ｒ2が
ＳＬ〜ＳＨの範囲で欠陥として認識されている。
【００２２】上記の装置により、ある一定期間のガラス
容器の検査を行い、このうち６２個を排除したが、その
欠陥の内訳は、ガラス片付着＝２３％、白汚れ＝１９
％、泡＝１５％、色筋＝１５％、プレスマーク＝６％、
異物＝２％、埃＝２０％であった。また、この検査で欠
陥なしとされたガラス容器について目視検査を行ったが
欠陥は発見されなかった。
容器の検査を行い、このうち６２個を排除したが、その
欠陥の内訳は、ガラス片付着＝２３％、白汚れ＝１９
％、泡＝１５％、色筋＝１５％、プレスマーク＝６％、
異物＝２％、埃＝２０％であった。また、この検査で欠
陥なしとされたガラス容器について目視検査を行ったが
欠陥は発見されなかった。
【００２３】
【発明の効果】本発明の検査装置は、ガラス片の付着の
ようなガラス容器の胴部の欠陥を自動的に検出し、検査
員の目視検査に頼らずに高精度で不良品を排除すること
を可能としたので、検査員に過酷な作業を強いることな
く、また、検査漏れにより消費者が付着したガラス片で
怪我をすることも防ぐことができる。ガラス片の付着以
外にも、泡、異物汚れなどの欠陥を排除できるので、ガ
ラス容器の外観検査も兼ねるものである。
ようなガラス容器の胴部の欠陥を自動的に検出し、検査
員の目視検査に頼らずに高精度で不良品を排除すること
を可能としたので、検査員に過酷な作業を強いることな
く、また、検査漏れにより消費者が付着したガラス片で
怪我をすることも防ぐことができる。ガラス片の付着以
外にも、泡、異物汚れなどの欠陥を排除できるので、ガ
ラス容器の外観検査も兼ねるものである。
【図１】実施例の検査装置の概要を示す説明図である。
【図２】光源部の上面図である。
【図３】ガラス容器の口径と輝度比の関係を示す説明図
である。
である。
【図４】ガラス容器とカメラの関係を示す上面図であ
る。
る。
【図５】画像処理部におけるエッジ部外乱光の除去処理
と欠陥判断処理のアルゴリズムを示すブロック図であ
る。
と欠陥判断処理のアルゴリズムを示すブロック図であ
る。
【図６】図５における画像処理の説明図である。
【図７】折り目部外乱光の除去処理と欠陥判断処理のア
ルゴリズムを示すブロック図である。
ルゴリズムを示すブロック図である。
【図８】図７における画像処理の説明図である。
１ 光源部 ２ カメラ ３ カメラ ４ カメラ ５ カメラ ６ 画像処理部 ７ 制御部 ８ 容器間隔調整部 ９ コンベア移動速度検知機 １０ 容器センサ １１ 排除装置 １２ コンベア １３ 暗幕 １４ 直管蛍光燈 １５ 検査範囲 １６ スキャンライン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F065 AA12 AA49 AA58 BB08 BB15 BB22 CC00 DD06 DD12 FF04 FF42 FF64 GG16 HH11 JJ03 JJ05 JJ07 MM22 PP15 QQ00 QQ03 QQ04 QQ21 QQ25 QQ37 RR05 SS02 SS13 TT01 TT03 2G051 AA11 AA12 AA21 AA90 AB01 AB02 AB20 BA01 BA02 BA20 CA03 CA04 CA07 CA08 DA06 DA13 EA11 EB01 EB02 ED01 ED07 5B057 BA15 DC04 DC14 5L096 AA07 CA05 CA17 EA43 FA14 FA54 GA10 GA34
Claims (6)
- 【請求項１】 検査対象であるガラス容器の上方から検
査光を照射する光源部と、前記ガラス容器の側方に設け
られガラス容器の胴部の画像を取り込むことのできるカ
メラと、前記カメラで取り込んだ画像を処理する画像処
理部とを有し、該画像処理部は、前記画像を所定の輝度
Ｖｓ１において２値化しＶｓ１以下の画像を消去する第
１の２値化処理と、第１の２値化処理を行った画面にお
いて、設定した所定位置を画面端から横方向スキャン
し、ガラス容器エッジ部の外乱光画像を検出するエッジ
部外乱光検出処理と、エッジ部外乱光を検出した部分を
縦方向に所定の幅マスクするエッジ部外乱光マスク処理
と、エッジ部外乱光マスク処理を行った画像を所定の輝
度Ｖｓ２において２値化し、Ｖｓ２以下の画像を消去す
る第２の２値化処理と、第２の２値化処理を行った画像
に対して残った画像に番号を付けるラベリング処理と、
ラベリングした画像の画素数が所定の値ＳＬ〜ＳＨの範
囲にあることを判断する欠陥判断処理とを行うものであ
ることを特徴とするガラス容器の欠陥検査装置 - 【請求項２】 検査対象であるガラス容器の上方から検
査光を照射する光源部と、前記ガラス容器の側方に設け
られガラス容器の胴部の画像を取り込むことのできるカ
メラと、前記カメラで取り込んだ画像を処理する画像処
理部とを有し、該画像処理部は、前記画像を所定の輝度
Ｖｓ１において２値化しＶｓ１以下の画像を消去する第
１の２値化処理と、第１の２値化処理を行った画面にお
いて、画面端から設定した所定の範囲を横方向スキャン
し、ガラス容器エッジ部の外乱光画像を検出するエッジ
部外乱光検出処理と、エッジ部外乱光を検出した部分を
縦方向に所定の幅マスクするエッジ部外乱光マスク処理
と、エッジ部外乱光マスク処理を行った画像を所定の輝
度Ｖｓ２において２値化し、Ｖｓ２以下の画像を消去す
る第２の２値化処理と、第２の２値化処理を行った画像
に対して残った画像に番号を付けるラベリング処理と、
ラベリングした画像の縦横比が所定の値以上となる折り
目部を検出し、その部分を縦方向にマスクする折り目部
マスク処理と、折り目部マスク処理を行った画像の画素
数が所定の値ＳＬ〜ＳＨの範囲にあることを判断する欠
陥判断処理とを行うものであることを特徴とするガラス
容器の欠陥検査装置 - 【請求項３】 請求項１又は２の検査装置において、カ
メラを約９０°ごとに４台設置し、これらのカメラを同
時に作動させてガラス容器の画像を取り込むことを特徴
とするガラス容器の欠陥検査装置 - 【請求項４】 請求項１、２又は３の検査装置におい
て、光源部を井桁状に組み合わせた４本の直線状光源と
し、かつ、平行な向きの２組の直線状光源の間隔を変更
自在としたことを特徴とするガラス容器の欠陥検査装置 - 【請求項５】 請求項４の検査装置において、平行な向
きの２組の直線状光源の間隔を、検査対象であるガラス
容器の口径（内径）プラスマイナス１０ｍｍとしたこと
を特徴とするガラス容器の欠陥検査装置 - 【請求項６】 請求項１〜５の何れかの検査装置におい
て、検査対象であるガラス容器がストレートコンベア上
を移動しているときに検査を行うように光源部及びカメ
ラを配置し、更に、ガラス容器を検知する前記コンベア
の上流側の容器センサからの信号を受け、検査タイミン
グを生成し検査信号を画像処理装置に送ると共に、画像
処理部が欠陥判断を行った場合に該部から送られる欠陥
信号を受け、排除タイミングを生成し、プッシャーなど
の排除装置を作動させる制御部を設けたことを特徴とす
るガラス容器の欠陥検査装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20287898A JP3241666B2 (ja) | 1998-07-03 | 1998-07-03 | ガラス容器の欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20287898A JP3241666B2 (ja) | 1998-07-03 | 1998-07-03 | ガラス容器の欠陥検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000019130A true JP2000019130A (ja) | 2000-01-21 |
| JP3241666B2 JP3241666B2 (ja) | 2001-12-25 |
Family
ID=16464706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20287898A Expired - Fee Related JP3241666B2 (ja) | 1998-07-03 | 1998-07-03 | ガラス容器の欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3241666B2 (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001273092A (ja) * | 2000-03-28 | 2001-10-05 | Seiko Epson Corp | 指示位置検出システム、プレゼンテーションシステムおよび情報記憶媒体 |
| FR2821429A1 (fr) * | 2001-02-27 | 2002-08-30 | Emhart Glass Sa | Machine de controle de recipients de verre |
| WO2004036199A1 (ja) * | 2002-10-18 | 2004-04-29 | Kirin Techno-System Corporation | ガラス壜の口部検査装置 |
| JP2010230431A (ja) * | 2009-03-26 | 2010-10-14 | Kirin Brewery Co Ltd | 検査装置 |
| WO2012035656A1 (ja) | 2010-09-17 | 2012-03-22 | 東洋ガラス株式会社 | ガラス製品のゴブ検査装置 |
| JP2014228466A (ja) * | 2013-05-24 | 2014-12-08 | サントリーホールディングス株式会社 | 検査装置および検査方法 |
| KR20150015379A (ko) * | 2013-07-31 | 2015-02-10 | 신포니아 테크놀로지 가부시끼가이샤 | 부품 피더 |
| CN104338684A (zh) * | 2013-07-31 | 2015-02-11 | 昕芙旎雅有限公司 | 送料器用速度检测装置以及送料器 |
| CN109738434A (zh) * | 2018-12-03 | 2019-05-10 | 珠海迈超智能装备有限公司 | 一种玻璃检测设备 |
| JP2021038950A (ja) * | 2019-08-30 | 2021-03-11 | アサヒビール株式会社 | 検査装置 |
| CN113538420A (zh) * | 2021-09-07 | 2021-10-22 | 深圳新视智科技术有限公司 | 基于双摄像和多光源的缺陷检测方法及系统 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112540088B (zh) * | 2020-12-04 | 2021-10-01 | 华擎智能科技(苏州)有限公司 | 一种缺陷检测设备 |
-
1998
- 1998-07-03 JP JP20287898A patent/JP3241666B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001273092A (ja) * | 2000-03-28 | 2001-10-05 | Seiko Epson Corp | 指示位置検出システム、プレゼンテーションシステムおよび情報記憶媒体 |
| FR2821429A1 (fr) * | 2001-02-27 | 2002-08-30 | Emhart Glass Sa | Machine de controle de recipients de verre |
| GB2376069A (en) * | 2001-02-27 | 2002-12-04 | Emhart Glass Sa | Glass container inspection machine |
| GB2376069B (en) * | 2001-02-27 | 2004-11-03 | Emhart Glass Sa | Glass container inspection machine |
| WO2004036199A1 (ja) * | 2002-10-18 | 2004-04-29 | Kirin Techno-System Corporation | ガラス壜の口部検査装置 |
| JP2010230431A (ja) * | 2009-03-26 | 2010-10-14 | Kirin Brewery Co Ltd | 検査装置 |
| US9019365B2 (en) | 2010-09-17 | 2015-04-28 | Toyo Seikan Group Holdings, Ltd. | Gob inspection system for glass product |
| WO2012035656A1 (ja) | 2010-09-17 | 2012-03-22 | 東洋ガラス株式会社 | ガラス製品のゴブ検査装置 |
| JP2014228466A (ja) * | 2013-05-24 | 2014-12-08 | サントリーホールディングス株式会社 | 検査装置および検査方法 |
| KR20150015379A (ko) * | 2013-07-31 | 2015-02-10 | 신포니아 테크놀로지 가부시끼가이샤 | 부품 피더 |
| JP2015030567A (ja) * | 2013-07-31 | 2015-02-16 | シンフォニアテクノロジー株式会社 | パーツフィーダ |
| CN104338684A (zh) * | 2013-07-31 | 2015-02-11 | 昕芙旎雅有限公司 | 送料器用速度检测装置以及送料器 |
| TWI620701B (zh) * | 2013-07-31 | 2018-04-11 | Sinfonia Technology Co Ltd | Component feeder |
| KR102196116B1 (ko) * | 2013-07-31 | 2020-12-30 | 신포니아 테크놀로지 가부시끼가이샤 | 부품 피더 |
| CN109738434A (zh) * | 2018-12-03 | 2019-05-10 | 珠海迈超智能装备有限公司 | 一种玻璃检测设备 |
| JP2021038950A (ja) * | 2019-08-30 | 2021-03-11 | アサヒビール株式会社 | 検査装置 |
| CN113538420A (zh) * | 2021-09-07 | 2021-10-22 | 深圳新视智科技术有限公司 | 基于双摄像和多光源的缺陷检测方法及系统 |
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| JP3241666B2 (ja) | 2001-12-25 |
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