JP2000010812A - マイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 マイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内
蔵した集積回路の検査を効率的に行うためには、内蔵さ
れたカウンタ等の順序回路の出力を代替する検査信号
を、外部より入力する。従来の技術ではこの検査信号用
の端子が通常動作時の端子とは別途必要で、ピン数の増
加からパッケージコストが増大し、端子ピッチの狭小化
によりディップ半田槽が使えない等の課題があった。 【解決手段】 マイクロコンピュータのバス入出力端子
を入力とし、別の単独の端子より透過・保持の制御が可
能なデータ保持回路を設け、前記データ保持回路の出力
を、内蔵回路に対する検査信号とする。よって、マイク
ロコンピュータのバス入出力端子と検査信号の入力端子
とを、同じ端子で共用することができるため、端子ピン
数の増加、端子ピッチの狭小化を抑制し、パッケージの
コストの削減と、生産設備の制限を緩和した集積回路を
提供することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータ用の
ディスプレイ装置などに使用される、マイクロコンピュ
ータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路、及びその検
査方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】コンピュータ用のディスプレイ装置は、
近年、コンピュータの用途の拡大及び性能の向上に応じ
て、表示する解像度及び同期周波数・位相などの種類が
増加しており、こうした各種の表示に対応する必要が出
て来ている。

【０００３】特に陰極線管ディスプレイ（以下、ＣＲＴ
ディスプレイと記す）装置の場合、表示の種類に広範囲
に対応するためには、入力される信号の水平・垂直の各
同期信号等を検出して、水平・垂直の各偏向周波数に同
期した偏向駆動パルス等を出力することはもちろん、Ｃ
ＲＴに特有のピンクッション歪・リニアリティ歪等の画
像歪の補正、あるいはダイナミックフォーカス・ダイナ
ミックコンバーゼンス補正など、表示の種類に応じて最
適に補正する必要がある。

【０００４】これらの同期信号を受け、偏向出力、ある
いは高圧出力などを駆動する偏向制御回路には、従来、
アナログ回路が用いられてきた。しかし、ますます高度
化する表示品質への要求及び、表面が完全に平坦なＣＲ
Ｔ等、ＣＲＴの種類の多様化などにより、よりきめ細か
い正確な制御を行うために、デジタル論理回路を用いた
偏向制御回路も増加しつつある。

【０００５】また、マイクロコンピュータを用いて入力
信号から映像の表示の種類を判断し、それぞれの映像等
に対応した最適な値を偏向制御回路に設定する技術が一
般化しているが、最近では、部品コスト低減及び生産の
合理化のために、マイクロコンピュータと偏向制御回路
を同一パッケージに収めた集積回路も登場してきてい
る。

【０００６】ここでまず、マイクロコンピュータ及び偏
向制御回路を内蔵した集積回路の基本的な動作について
図面を用いて説明する。図７に、マイクロコンピュータ
及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の簡略化されたブ
ロック図を示す。

【０００７】図７において、１はマイクロコンピュー
タ、２は偏向制御回路である。マイクロコンピュータ１
はＣＰＵ１１、ＲＯＭ１２、ＲＡＭ１３、Ｉ／Ｏポート
１４から構成されている一般的なものである。

【０００８】偏向制御回路２は同期発振器（以下ＰＬＬ
と称す）２０、制御レジスタ２１、波形テーブル２３、
カウンタ２４、パルス発生器２５、波形発生器２６、Ｄ
／Ａコンバータ２７から構成されている。

【０００９】３１、３２はそれぞれ複数の外部端子であ
って、外部端子３１はマイクロコンピュータ１の制御バ
ス（アドレスラッチＡＬＥ、リードストローブＲＤＸ、
ライトストローブＷＲＸ等）、外部端子３２は、Ｉ／Ｏ
ポート１４を経由してマイクロコンピュータ１のアドレ
ス・データバスに接続されている。

【００１０】３３は単独の外部端子で、同期信号ＳＹＮ
Ｃの入力端子であり、ＰＬＬ２０の入力及びカウンタ２
４のリセット入力に接続される。ＰＬＬ２０から出力さ
れたクロック信号ＣＬＫは、カウンタ２４、パルス発生
器２５、波形発生器２６にそれぞれ接続されている。

【００１１】カウンタ２４の値（ＣＯＵＮＴ）は、現在
の偏向位置を示すアドレスとして用いられるもので、お
おむね８〜１２ビットの幅を有し、出力は波形テーブル
２３及びパルス発生器２５に接続される。

【００１２】パルス発生器２５は、図３に内部ブロック
図を示すとおり、コンパレータ２５１及び２５２、Ｊ−
Ｋ型フリップフロップ２５３から構成される。

【００１３】波形テーブル２３は、カウンタ２４から与
えられるカウント値（ＣＯＵＮＴ）に対応したデータＤ
ＡＴＡを、波形発生器２６に供給するメモリである。こ
の波形データは例えば図５に示すごとく、最終的な出力
波形に対し、一定区間ごとの差分値を記憶するものであ
る。

【００１４】波形発生器２６は、図４に内部ブロック図
を示すとおり、加算器２６１、レジスタ２６２から構成
される。

【００１５】３５、３６はそれぞれ複数の外部端子であ
って、外部端子３５はパルス発生器２５の出力に、外部
端子３６はＤ／Ａコンバータ２６の出力に接続される。

【００１６】なお一般に、偏向制御回路は垂直・水平そ
れぞれの同期信号を入力し、垂直・水平それぞれに応じ
た複数のパルス出力（たとえば水平偏向パルスや垂直ブ
ランキングパルス）、波形出力（たとえば水平・垂直の
ダイナミックフォーカス波形）などを行うものであり、
カウンタ２４、パルス発生器２５、波形発生器２６など
は、通常それぞれ複数の系統を構成し、それぞれ複数の
回路ブロックから構成されるものであるが、図７では説
明の簡単のために適宜省略している。

【００１７】つぎに、図７に示した、マイクロコンピュ
ータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の通常動作を
説明する。

【００１８】最初に、マイクロコンピュータ１は、偏向
制御回路２内の制御レジスタ２１に対して、パルス発生
器２５において発生するパルスの、開始タイミングＳＴ
ＡＲＴ・終了タイミングＳＴＯＰの値を設定する。ま
た、マイクロコンピュータ１は、補正波形を出力するた
めの波形データを、波形テーブル２３に書き込む。

【００１９】外部端子３３からは、同期パルスＳＹＮＣ
が、ＰＬＬ２０の入力およびカウンタ２４のリセット入
力に入力される。ＰＬＬ２０は、同期化されたクロック
信号ＣＬＫを出力し、このＣＬＫはカウンタ２４のクロ
ック入力へ入力される。カウンタ２４は同期パルスによ
り初期化された後、クロック信号ＣＬＫを計数する。カ
ウンタ２４の出力ＣＯＵＮＴは波形テーブル２３、及び
パルス発生器２５に入力される。

【００２０】パルス発生器２５は、カウンタ２４の値Ｃ
ＯＵＮＴと、制御レジスタ２１に設定された開始タイミ
ングＳＴＡＲＴとを比較し、一致すればパルスの出力を
開始し、同様にカウンタ２４の値ＣＯＵＮＴと、制御レ
ジスタ２１に設定された終了タイミングＳＴＯＰとを比
較し、一致すればパルスの出力を終了する。パルス発生
器２５の出力ＰＵＬＳＥは外部端子３５から取り出さ
れ、出力される。この動作の一例を図６のタイミング図
に示す。

【００２１】一方、波形テーブル２３からは、カウンタ
２４の値ＣＯＵＮＴに応じた波形データＤＡＴＡが出力
され、波形発生器２６に供給される。波形発生器２６は
前記波形データを累積加算して、Ｄ／Ａコンバータ２７
に供給する。Ｄ／Ａコンバータ２７の出力は外部端子３
６から、アナログ波形として取り出される。

【００２２】ところで、マイクロコンピュータも偏向制
御回路も、製造時に、回路が正常に動作することを何ら
かの方法で外部から検査する必要がある。マイクロコン
ピュータ１の検査を行う方法は、特開昭６４−１０４０
号公報などに示されており、たとえば外部端子３１から
制御信号を、外部端子３２からアドレス信号及びデータ
信号をＩ／Ｏポート１３に入力することについては開示
されている。それによってＩ／Ｏポート１３を介し、マ
イクロコンピュータの内部バスを直接制御して各種の検
査を行うことができる。

【００２３】また偏向制御回路の検査は、動作時と同
様、入力信号を端子から入力し、出力信号を端子から出
力して確認するのが基本的であるが、先に述べたよう
に、表示の種類の増大に対応して動作モードが多岐にわ
たり、また内部には多ビットのカウンタ等順序回路を多
数使用していることから、すべての場合を尽くすには長
大な時間がかかる。そのため内部回路を幾つかのブロッ
クに分割し、検査時には外部から直接一部のブロックに
入出力を行う等の工夫により、検査時間の短縮を行う。

【００２４】ここで、従来の技術によるマイクロコンピ
ュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路及びその検
査方法に関して説明する。

【００２５】図８は、従来の技術によるマイクロコンピ
ュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路のブロック
図である。図８のうち、図７に示したものと同一の符号
を与えたものは、既に説明済みであるので、重ねての説
明を省略する。

【００２６】２２は設定レジスタ、４０、４１、４２、
４３はそれぞれスイッチである。設定レジスタ２２はマ
イクロコンピュータにより設定され、スイッチ４０、４
１、４２、４３を制御するものである。

【００２７】３４は単一の外部端子で、検査時にＰＬＬ
２０に代わってクロック信号ＣＬＫを供給する。スイッ
チ４０は、カウンタ２４、パルス発生器２５、波形発生
器２６に対し、通常時はＰＬＬ２０の出力、検査時は外
部端子３４から入力される検査用のクロックを切り替え
て供給する。

【００２８】３７は複数の外部端子である。５０は検査
バスであり、外部端子３７に接続されている。スイッチ
４１は波形テーブル２３、パルス発生器２５の入力に対
し、通常時はカウンタ２４の出力ＣＯＵＮＴ、検査時は
外部端子３７からの検査バス５０の信号ＴＥＳＴを切り
替えて供給する。

【００２９】スイッチ４２は同様に波形発生器２６の入
力に対し、通常時は波形テーブル２３の出力ＤＡＴＡ、
検査時は外部端子３７からの検査バス５０の信号ＴＥＳ
Ｔを切り替えて供給する。

【００３０】スイッチ４３は、外部端子３５に対し、通
常時はパルス発生器２５の出力ＰＵＬＳＥ、検査時は前
記パルス発生器２５の出力ＰＵＬＳＥ、若しくはカウン
タ２４の出力ＣＯＵＮＴ、若しくは波形発生器２６の出
力ＷＡＶＥを切り替えて供給する。

【００３１】つぎに、検査時の動作について説明する。
検査の対象となる回路ごとに動作が異なるので、個別に
説明する。なお、マイクロコンピュータ自体の検査を行
う方法は既に述べているため省略する。

【００３２】偏向制御回路２の検査を行う場合には、い
ずれの場合にも、マイクロコンピュータ１から制御する
制御レジスタ２１、波形テーブル２３の設定、及びスイ
ッチ４１、スイッチ４２、スイッチ４３の制御を行う設
定レジスタ２２の設定は、外部端子３１及び外部端子３
２を経由し、マイクロコンピュータ１の動作を利用して
行う。

【００３３】カウンタ２４の検査を行う場合、カウンタ
２４の出力ＣＯＵＮＴを外部端子３５に出力するように
スイッチ４３を設定（図７でＴと表示）する。外部端子
３３からは同期パルスＳＹＮＣがカウンタ２４のリセッ
ト入力に、外部端子３４からはクロック信号がカウンタ
２４のクロック入力に入力される。カウンタ２４は同期
パルスＳＹＮＣにより初期化された後、クロック信号Ｃ
ＬＫを計数する。カウンタ２４の出力ＣＯＵＮＴはスイ
ッチ４３を経由して外部端子３４から取り出される。以
上の動作により、カウンタ２４の検査が行われる。

【００３４】パルス発生器２５の検査を行う場合、クロ
ック信号ＣＬＫが外部端子３４から入力されるようにス
イッチ４０を設定（図７でＴと表示）、検査信号バス５
０をパルス発生器２５の入力とするようにスイッチ４１
を設定（図７でＴと表示）、パルス発生器２５の出力を
外部端子３５の出力とするようにスイッチ４３を設定
（図７でＮと表示）する。外部端子３７から入力された
検査信号は、検査信号バス５０ＴＥＳＴ、スイッチ４１
を経由してパルス発生器２５に入力される。パルス発生
器２５の出力ＰＵＬＳＥは、スイッチ４３を経由して外
部端子３５に取り出される。以上の動作により、パルス
発生器２５の検査が行われる。この動作の一例を図１１
に示すが、検査信号は、本来のカウントの順序にこだわ
らず、任意の値を入力することにより、検査時間を短縮
する。

【００３５】波形発生器２６の検査を行う場合、クロッ
ク信号ＣＬＫが外部端子３４から入力されるようにスイ
ッチ４０を設定（図７でＴと表示）、検査信号バス５０
を波形発生器２６の入力とするようにスイッチ４１を設
定（図７でＴと表示）、波形発生器２６の出力を外部端
子３５の出力とするようにスイッチ４３を設定（図７で
Ｔ２と表示）する。外部端子３４からはクロック信号が
波形発生器２６のクロック入力に、外部端子３７からは
検査信号が、検査信号バス５０、スイッチ４２を経由し
て波形発生器２６に入力される。波形発生器２６の出力
ＷＡＶＥは、スイッチ４３を経由して外部端子３５に取
り出される。以上の動作により、波形発生器２６の検査
が行われる。

【００３６】

【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来の技術によるマイクロコンピュータ及び偏向制御回
路を内蔵した集積回路においては、偏向制御回路の検査
を効率的に行うために、検査信号を入力するための外部
端子３７が、通常の機能を実現するための端子とは別途
に必要である。この外部端子３７は、たとえば１２ビッ
ト幅のカウンタの出力を代替するためには、少なくとも
１２個の端子が必要である。

【００３７】パッケージの多ピン化そのものは、現在の
技術で困難ではない。しかし、端子の間隔が狭小化され
ると、コンピュータディスプレイ装置の生産で一般的に
用いられる、従来からのディップ半田槽では対応でき
ず、リフロー半田槽などを必要とするため、生産設備・
地域などが限定される。また逆に、端子の間隔を固定し
てパッケージを大型化すると、材料コストが増大するば
かりでなく、熱ストレスによる破損が起こりやすくなる
などの問題が発生する。

【００３８】従って、従来の技術では、低コスト化を狙
ってわざわざマイクロコンピュータと偏向制御回路を同
一のパッケージに収めても、ピン数が増加することによ
り、生産コスト・材料コストの増大を招き、複合化のメ
リットが得にくいという課題があった。

【００３９】

【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に、本発明におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御
回路を内蔵した集積回路は、バス入出力端子を有するマ
イクロコンピュータと、入力される周期信号により動作
する少なくとも１個の順序回路と、前記順序回路の値に
したがって演算を行った結果を出力する、少なくとも１
個の演算回路を含む偏向制御回路とを、同一のパッケー
ジに内蔵した集積回路であって、前記マイクロコンピュ
ータのバス入出力端子を入力とし、単一の外部端子から
データの透過・保持を制御するデータ保持回路を設け、
前記データ保持回路の出力を、前記演算回路に対する、
前記順序回路の出力を代替する検査信号とすることによ
り、マイクロコンピュータのバス入出力端子と、検査信
号とを、同じ端子で共用したことを特徴とするものであ
る。

【００４０】あるいは、バス入出力端子を有するマイク
ロコンピュータと、入力される周期信号により動作する
少なくとも１個の順序回路と、前記順序回路の値にした
がって演算を行った結果を出力する、少なくとも１個の
演算回路を含む偏向制御回路とを、同一のパッケージに
内蔵した集積回路であって、前記マイクロコンピュータ
から設定を行うレジスタを設け、前記レジスタの出力
を、前記演算回路に対する、前記順序回路の出力を代替
する検査信号とすることにより、マイクロコンピュータ
のバス入出力端子と、検査信号の入力端子とを、同じ端
子で共用したことを特徴とするものである。

【００４１】この構成により、外部より検査信号を入力
することが出来るため、外部端子のピン数を減らし、パ
ッケージのコストを削減した集積回路を提供することが
できる。

【００４２】

【発明の実施の形態】（実施の形態１）図１は、本発明
の第一の実施例におけるマイクロコンピュータ及び偏向
制御回路を内蔵した集積回路のブロック図である。

【００４３】図１において、同一の符号のものは、図８
に示した従来の技術におけるマイクロコンピュータ及び
偏向制御回路を内蔵した集積回路のブロック図と全く同
じものであり、説明を省略する。

【００４４】図７における従来の技術におけるマイクロ
コンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路と異
なるのは、外部端子３１と、検査信号バス５０との間に
データ保持回路５１（以下データラッチと称す）を設け
たことである。これにより、従来の技術における、マイ
クロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路
で必要であった、外部端子３７を削除している。

【００４５】また、３８は単独の外部端子であって、デ
ータラッチ５１の動作を制御するホールド制御信号ＨＯ
ＬＤが入力される。

【００４６】次に、図１を用い、本発明の好適な実施例
におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵
した集積回路の検査時の動作を説明する。

【００４７】マイクロコンピュータ１の検査を行う場合
は、図８に示した従来の技術によるマイクロコンピュー
タ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路と同一である。

【００４８】偏向制御回路２の検査を行う場合には、い
ずれの場合にも、マイクロコンピュータ１から制御する
制御レジスタ２１、波形テーブル２３の設定、及びスイ
ッチ４１、スイッチ４２、スイッチ４３の制御を行う設
定レジスタ２２の設定は、外部端子３１及び外部端子３
２を経由し、マイクロコンピュータ１の動作を利用して
行う。

【００４９】カウンタ２４の検査を行う場合は、図７に
示した従来の技術によるマイクロコンピュータ及び偏向
制御回路を内蔵した集積回路と同一である。

【００５０】パルス発生器２５の検査を行う場合、まず
外部端子３８からホールド制御信号ＨＯＬＤを制御し
て、データラッチ５１の出力を保持状態とし、外部端子
３１、外部端子３２から、マイクロコンピュータ１の動
作を利用して制御レジスタ２１に値を設定する。同様
に、クロック信号ＣＬＫが外部端子３４から入力される
ようにスイッチ４０を設定（図１でＴと表示）、検査信
号バス５０ＴＥＳＴをパルス発生器２５の入力とするよ
うにスイッチ４１を設定（図１でＴと表示）、パルス発
生器２５の出力を外部端子３５の出力とするようにスイ
ッチ４３をそれぞれ設定（図１でＮと表示）する。

【００５１】次に、外部端子３８からのホールド制御信
号ＨＯＬＤを制御して、データラッチ５１の出力を通過
状態とする。外部端子３２から入力された検査信号は、
データラッチ５１、検査信号バス５０ＴＥＳＴ、スイッ
チ４１を経由してパルス発生器２５に入力される。パル
ス発生器２５の出力ＰＵＬＳＥは、スイッチ４３を経由
して外部端子３５に取り出される。この動作の一例を図
９に示すが、マイクロコンピュータ１を経由して設定す
る制御レジスタの値と、データラッチ５１を経由して与
えられる検査信号とが、同じ外部端子３２から交互に与
えられ、またホールド制御信号ＨＯＬＤが切り替わる以
外は、図１１に示した従来の技術によるマイクロコンピ
ュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の動作と同
じである。以上の動作により、パルス発生器２５の検査
が行われる。

【００５２】波形発生器２６の検査を行う場合、まず外
部端子３８からのホールド制御信号ＨＯＬＤを制御し
て、データラッチ５１の出力を保持状態とする。外部端
子３１、外部端子３２からマイクロコンピュータ１の動
作を利用して、クロック信号ＣＬＫが外部端子３４から
入力されるようにスイッチ４０を設定（図１でＴと表
示）、検査バス５０の入力を波形発生器２６の入力とす
るようにスイッチ４２を設定（図１でＴと表示）、波形
発生器２６の出力を外部端子３５の出力とするようにス
イッチ４３を設定（図１でＴ２と表示）する。

【００５３】つぎに、外部端子３８からのホールド制御
信号を制御して、データラッチ５１の出力を通過状態と
する。外部端子３４からはクロック信号ＣＬＫが波形発
生器２６のクロック入力に、外部端子３２からは検査信
号が、検査信号バス５０ＴＥＳＴ、スイッチ４２を経由
して波形発生器２６に入力される。波形発生器２６の出
力ＷＡＶＥは、スイッチ４３を経由して外部端子３５に
取り出される。以上の動作により、波形発生器２６の検
査が行われる。

【００５４】以上のように、本発明の第一の実施例によ
るマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集
積回路の好適な実施例においては、マイクロコンピュー
タ１のアドレス・データバスと、検査信号バス５０との
間にデータラッチ５１を設置したことにより、従来の技
術において必要であった、検査信号バス５０のための外
部端子３７が不要となり、パッケージのピン数を削減す
ることが可能となったため、コストの削減を行うことが
できる。

【００５５】（実施の形態２）図２は、本発明の第二の
実施例におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路
を内蔵した集積回路のブロック図である。

【００５６】図２において、同一の符号のものは、図１
に示した本発明の第一の実施例におけるマイクロコンピ
ュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路のブロック
図と全く同じものであり、説明を省略する。

【００５７】図１における本発明の第一の実施例におけ
るマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集
積回路と異なるのは、図１のデータラッチ５１に替え
て、マイクロコンピュータ１により制御されるテストレ
ジスタ５２を設け、検査バス５０をテストレジスタ５２
の出力に接続したことである。これにより、本発明の第
一の実施例における、マイクロコンピュータ及び偏向制
御回路を内蔵した集積回路の特徴に加え、さらに外部端
子３８を不要としている。

【００５８】つぎに、図２を用い、本発明の第二の実施
例におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内
蔵した集積回路の検査時の動作を説明する。なお、第一
の実施例と異なるところは、データラッチをテストレジ
スタ５２に替えた部分のみであるから、説明の簡単のた
めに、パルス発生器２５の検査を代表として説明し、そ
の他の説明を省略する。

【００５９】パルス発生器２５の検査を行う場合、外部
端子３１、外部端子３２から、マイクロコンピュータ１
の動作を利用して制御レジスタ２１に値を設定する。同
様に、クロック信号ＣＬＫが外部端子３４から入力され
るようにスイッチ４０を設定（図２でＴと表示）、検査
信号バス５０ＴＥＳＴをパルス発生器２５の入力とする
ようにスイッチ４１を設定（図２でＴと表示）、パルス
発生器２５の出力を外部端子３５の出力とするようにス
イッチ４３をそれぞれ設定（図２でＮと表示）する。
次に、外部端子３１、外部端子３２から、マイクロコン
ピュータ１の動作を利用してテストレジスタ５２に最初
の検査信号を設定する。検査信号は、検査信号バス５０
ＴＥＳＴ、スイッチ４１を経由してパルス発生器２５に
入力される。パルス発生器２５の出力ＰＵＬＳＥは、ス
イッチ４３を経由して外部端子３５に取り出される。以
上の動作により、パルス発生器２５の検査が行われる。
この動作を図１０に示す。本発明の第一の実施例と異な
るのは、検査信号をマイクロコンピュータ１の動作によ
り設定するため、制御がやや複雑になっている点である
が、本質的には大差ない。

【００６０】波形発生器２６の検査を行う場合、外部端
子３１、外部端子３２からマイクロコンピュータ１の動
作を利用して、クロック信号ＣＬＫが外部端子３４から
入力されるようにスイッチ４０を設定（図１でＴと表
示）、検査バス５０の入力を波形発生器２６の入力とす
るようにスイッチ４２を設定（図１でＴと表示）、波形
発生器２６の出力を外部端子３５の出力とするようにス
イッチ４３を設定（図１でＴ２と表示）する。

【００６１】次に、外部端子３１、外部端子３２から、
マイクロコンピュータ１の動作を利用してテストレジス
タ５２に最初の検査信号を設定する。外部端子３４から
はクロック信号ＣＬＫが波形発生器２６のクロック入力
に、外部端子３２からは検査信号が、検査信号バス５０
ＴＥＳＴ、スイッチ４２を経由して波形発生器２６に入
力される。波形発生器２６の出力ＷＡＶＥは、スイッチ
４３を経由して外部端子３５に取り出される。以上の動
作により、波形発生器２６の検査が行われる。

【００６２】以上のように、本発明によるマイクロコン
ピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の第二の
実施例においては、マイクロコンピュータ１により設定
を行うテストレジスタを設けたことにより、従来の技術
において必要であった、検査信号バス５０のための外部
端子３７が不要となり、パッケージのピン数を削減する
ことが可能となったため、コストの削減を行うことがで
きる。また、第二の実施例の場合は、データラッチの状
態を制御する外部端子３８も不要である。

【００６３】

【発明の効果】以上述べたように、本発明のマイクロコ
ンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路は、実
施の形態１のごとく、マイクロコンピュータのバス入出
力端子を入力とし、外部端子からデータの透過・保持を
制御するデータ保持回路を設けるか、あるいは実施の形
態２のごとく、マイクロコンピュータから設定を行うレ
ジスタを設けることにより、マイクロコンピュータのバ
ス入出力端子と、検査信号の入力端子とを、同じ端子で
共用したことから、偏向制御回路の試験に必要な外部か
らの検査信号を、外部端子を別に設けることなく入力す
ることができる。

【００６４】この構成により、パッケージのピン数を減
らすことが可能になり、材料コストを低減できるだけで
はなく、ごく一般的な設備であるディップ半田槽での生
産に対応できることから、トータルコストの大幅な低減
を可能にするという優れた効果を奏する集積回路を提供
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一の実施例におけるマイクロコンピ
ュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路のブロック
図

【図２】本発明の第二の実施例におけるマイクロコンピ
ュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路のブロック
図

【図３】パルス発生器の内部構成を示すブロック図

【図４】波形発生器の内部構成を示すブロック図

【図５】波形テーブルのデータと波形発生器の出力の関
係を示す図

【図６】パルス発生器の通常動作を示すタイミング図

【図７】マイクロコンピュータと偏向制御回路とを内蔵
した集積回路の基本構成を示すブロック図

【図８】従来の技術によるマイクロコンピュータと偏向
制御回路とを内蔵した集積回路の一例を示すブロック図

【図９】本発明の第一の実施例におけるパルス発生器の
検査タイミング図

【図１０】本発明の第二の実施例におけるパルス発生器
の検査タイミング図

【図１１】従来の技術におけるパルス発生器の検査タイ
ミング図

【符号の説明】

１ マイクロコンピュータ ２ 偏向制御回路 ２４ カウンタ ２５ パルス発生器 ３２ 外部端子 ５１ データラッチ ５２ テストレジスタ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 バス入出力端子を有するマイクロコンピ
   ュータと、入力される周期信号により動作する少なくと
   も１個の順序回路と、前記順序回路の値にしたがって演
   算を行った結果を出力する、少なくとも１個の演算回路
   を含む偏向制御回路とを、同一のパッケージに内蔵した
   集積回路であって、前記マイクロコンピュータのバス入
   出力端子を入力とし、外部端子からデータの透過・保持
   を制御するデータ保持回路を設け、前記データ保持回路
   の出力を、前記演算回路に対する、前記順序回路の出力
   を代替する検査信号とすることにより、マイクロコンピ
   ュータのバス入出力端子と、検査信号の入力端子とを、
   同じ端子で共用したことを特徴とするマイクロコンピュ
   ータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路。
2. 【請求項２】 バス入出力端子を有するマイクロコンピ
   ュータと、入力される周期信号により動作する少なくと
   も１個の順序回路と、前記順序回路の値にしたがって演
   算を行った結果を出力する、少なくとも１個の演算回路
   を含む偏向制御回路とを、同一のパッケージに内蔵した
   集積回路であって、前記マイクロコンピュータから設定
   を行うレジスタを設け、前記レジスタの出力を、前記演
   算回路に対する、前記順序回路の出力を代替する検査信
   号とすることを特徴とするマイクロコンピュータ及び偏
   向制御回路を内蔵した集積回路。