JP2000002691A - 構造物表面の溶射被膜剥離検出方法及び装置 - Google Patents
構造物表面の溶射被膜剥離検出方法及び装置Info
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Abstract
の送信用探触子３ａを置き、健全部上にＡＥ装置４の受
信用探触子４ａを置く。送信用探触子３ａから発した振
動を受信用探触子４ａを介しＡＥ装置４で受け、周波数
解析装置６でＦＦＴ演算する。剥離部２ａがあると、Ｆ
ＦＴ演算の結果、ピーク周波数の位置が高周波数側にず
れるので、健全部に対し区別することができる。
Description
造物表面に形成されている溶射被膜の剥離を検出するた
めの方法及び装置に関するものである。
向上させるために、通常、金属による溶射被膜が表面に
施工される。
割れ等の欠陥が発生するので、定期的に検査を行う必要
がある。そのため、従来では、カラーチェック（浸色探
傷検）や目視による検査が行われている。
割れはカラーチェックや目視により検出することはでき
るが、剥離の場合、表面欠陥ではないので、カラーチェ
ックでは検出することはできず、大きな剥離ではその膨
らみによってある程度は目視により検出できるものの、
小さな剥離の検出は極めて困難である。
であった溶射被膜の剥離を容易且つ確実に検出すること
ができるような構造物表面の溶射被膜剥離検出方法及び
装置を提供しようとするものである。
決するために、構造物の表面に形成されている溶射被膜
の検査位置を加振し、そのとき構造物を伝搬する振動を
測定して周波数解析を行い、溶射被膜の剥離部を、ピー
ク周波数領域の位置から健全部と区別して、剥離部を検
出する構造物表面の溶射被膜剥離検出方法及び装置とす
る。
と、剥離していない健全部に比して母材まで振動が伝わ
りにくいので、受信した振動の周波数は高い周波数成分
をより多くもっていることになる。したがって、ピーク
周波数の位置から健全部と剥離部とを区別することがで
きる。
を参照して説明する。
般に、構造物（板）を伝搬する波動の固有周期は、板厚
が薄いほど高い。したがって、溶射被膜が剥離していな
ければ母材を含めて振動し、剥離していれば母材まで伝
わりにくくなり、その２つを比べると振動周波数に差が
出てくる。
構造物表面の溶射被膜検出装置の実施の一形態を示すも
ので、ボイラ火炉壁の如き構造物１の表面に形成されて
いる溶射被膜２の検査位置に送信用探触子３ａを当接さ
せるようにする超音波発振器（パルサー）３と、該超音
波発振器３の作動で発生して伝搬される振動を溶射被膜
２の健全部上に配置した受信用探触子４ａを介して受け
るようにしたＡＥ装置４と、該ＡＥ装置４で受けた振動
波形を表示するオシロスコープの如き表示器５と、該表
示器５で表示された波形の周波数をＦＦＴ演算するスペ
クトルラムアナライザ又はパソコンの如き周波数解析装
置６とからなる。なお、２ａは溶射被膜２の剥離部を示
す。又、７はプリアンプの如きアンプを示す。
２の剥離部２ａの有無を検出する場合には、ＡＥ装置４
の受信用探触子４ａを溶射被膜２の健全部上に置き、超
音波発振器３の送信用探触子３ａを、検査個所の上に順
次当接させて行くようにする。なお、この場合、受信用
探触子４ａを置く位置が健全部かどうかは最初は判らな
いので、数個所の予備検査を行う必要がある。超音波発
振器３の作動で溶射被膜２を加振すると、そのとき、構
造物１中を伝搬した振動がＡＥ装置４で受信されて表示
器５にてその振動波形が表示される。次に、その波形の
周波数が周波数解析装置６にてＦＦＴ演算される。かか
るＦＦＴ演算した後の波形は、図２（イ）に示す如く、
剥離部２ａからのものである場合、図２（ロ）に示す如
き健全部からのものである場合に比してピーク周波数領
域が高周波数側にシフトしているので、健全部と剥離部
２ａとを区別することができる。
った剥離部２ａの有無を周波数の高低で判別することが
でき、剥離部２ａの検出を簡単に行うことができる。
の加振を超音波発振器３にて、又、振動受信をＡＥ装置
４で行うようにした場合を示したが、ハンマーで振動を
与えて加速度計で受信するようにしてもよいこと、その
他本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を
加え得ること勿論である。
用いて行った結果について説明する。
の変化による板を伝わる波の周波数の特長をつかむため
に、ＳＵＳ３０４鋼板を用い、板厚をそれぞれ５mm、３
mm、２mm、１mm、０．６mm、０．１mmと変えたときの擬
似ＡＥ波形を測定した。得られた波形は図３（イ）
（ロ）（ハ）（ニ）（ホ）（ヘ）に示す如くであった。
次に、これらにＦＦＴをかけたグラフを図４（イ）
（ロ）（ハ）（ニ）（ホ）（ヘ）に示す。これらから、
図３（イ）（ロ）（ハ）（ニ）（ホ）（ヘ）では板厚に
よる差異は見られなかったが、周波数解析を行った後の
図４（イ）（ロ）（ハ）（ニ）（ホ）（ヘ）では、板厚
が薄くなるにつれて、ピーク周波数領域が高周波数側に
シフトしているということが確認された。
溶射し、且つ人工的に剥離部を作った試験片を用いて擬
似波形を測定した結果を図５（イ）（ロ）（ハ）及び図
６（イ）（ロ）（ハ）に示す。この場合、受信用探触子
は剥離部のない健全部に固定し、送信用探触子からの送
信パルスは１５MHz と５００KHz との２種類を用いて、
図５（イ）（ロ）及び図６（イ）（ロ）に示す如く、異
なる２個所の健全部から送信したときと、図５（ハ）及
び図６（ハ）に示す如く、剥離部から送信したときの結
果を示すものである。次に、これら各波形をＦＦＴにか
けて周波数解析を行ったところ、図７（イ）（ロ）
（ハ）及び図８（イ）（ロ）（ハ）に示す如き結果が得
られた。図５（イ）（ロ）（ハ）及び図６（イ）（ロ）
（ハ）と、図７（イ）（ロ）（ハ）及び図８（イ）
（ロ）（ハ）との比較から、剥離部から送信した場合の
振動数が高くなっていることがわかる。
物の表面に形成されている溶射被膜の検査位置を加振
し、そのとき構造物を伝搬する振動を測定して周波数解
析を行い、溶射被膜の剥離部を、ピーク周波数領域の位
置から健全部と区別して、剥離部を検出する構造物表面
の溶射被膜剥離検出方法と、構造物の表面に形成されて
いる溶射被膜の検査位置に送信用探触子を当接させるよ
うにする超音波発振器と、該超音波発振器の作動により
発生して伝搬される振動を溶射被膜の健全部上に配置し
た受信用探触子を介して受けるようにしたＡＥ装置と、
該ＡＥ装置で受けた信号の周波数を解析する周波数解析
装置とからなる構成を有する構造物表面の溶射被膜剥離
検出装置としてあるので、従来では、目視でも困難であ
った剥離の有無を周波数の高低で判別することができ、
剥離部の検出作業を簡単に行うことができる、という優
れた効果を発揮する。
実施の一形態を示す概要図である。
すもので、（イ）は剥離部から送信した場合の結果を示
す図、（ロ）は健全部から送信した場合の結果を示す図
である。
行った予備試験の結果を示すもので、（イ）（ロ）
（ハ）（ニ）（ホ）（ヘ）は板厚を５mm、３mm、２mm、
１mm、０．６mm、０．１mmと変化させたときの擬似ＡＥ
波形図である。
で、（イ）（ロ）（ハ）（ニ）（ホ）（ヘ）はそれぞれ
図３（イ）（ロ）（ハ）（ニ）（ホ）（ヘ）に示す波形
の解析結果を示す図である。
定した擬似ＡＥ波形を示すもので、（イ）は健全部から
送信した場合の波形を示す図、（ロ）は（イ）とは異な
る位置の健全部から送信した場合の波形を示す図、
（ハ）は剥離部から送信した場合の波形を示す図であ
る。
測定した擬似ＡＥ波形を示すもので、（イ）は健全部か
ら送信した場合の波形を示す図、（ロ）は（イ）とは異
なる位置の健全部から送信した場合の波形を示す図、
（ハ）は剥離部から送信した場合の波形を示す図であ
る。
で、（イ）（ロ）（ハ）はそれぞれ図５（イ）（ロ）
（ハ）に示す波形の解析結果を示す図である。
で、（イ）（ロ）（ハ）はそれぞれ図６（イ）（ロ）
（ハ）に示す波形の解析結果を示す図である。
Claims (2)
- 【請求項１】 構造物の表面に形成されている溶射被膜
の検査位置を加振し、そのとき構造物を伝搬する振動を
測定して周波数解析を行い、溶射被膜の剥離部を、ピー
ク周波数領域の位置から健全部と区別して、剥離部を検
出することを特徴とする構造物表面の溶射被膜剥離検出
方法。 - 【請求項２】 構造物の表面に形成されている溶射被膜
の検査位置に送信用探触子を当接させるようにする超音
波発振器と、該超音波発振器の作動により発生して伝搬
される振動を溶射被膜の健全部上に配置した受信用探触
子を介して受けるようにしたＡＥ装置と、該ＡＥ装置で
受けた信号の周波数を解析する周波数解析装置とからな
る構成を有することを特徴とする構造物表面の溶射被膜
剥離検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17002598A JP3956486B2 (ja) | 1998-06-17 | 1998-06-17 | 構造物表面の溶射被膜剥離検出方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17002598A JP3956486B2 (ja) | 1998-06-17 | 1998-06-17 | 構造物表面の溶射被膜剥離検出方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000002691A true JP2000002691A (ja) | 2000-01-07 |
| JP3956486B2 JP3956486B2 (ja) | 2007-08-08 |
Family
ID=15897215
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17002598A Expired - Lifetime JP3956486B2 (ja) | 1998-06-17 | 1998-06-17 | 構造物表面の溶射被膜剥離検出方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3956486B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7341758B2 (en) * | 2003-04-24 | 2008-03-11 | General Electric Company | Method for preparing and ultrasonically testing a thermal-spray coated article |
| JP2011141236A (ja) * | 2010-01-08 | 2011-07-21 | Ihi Inspection & Instrumentation Co Ltd | 減衰材の肉厚算出方法及びその装置 |
| DE102015101117A1 (de) * | 2015-01-27 | 2016-07-28 | Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft | Verfahren zur Überprüfung von Schichteigenschaften einer thermischen Spritzschicht auf einem Substrat |
| WO2018168218A1 (ja) * | 2017-03-17 | 2018-09-20 | 株式会社東芝 | センサ接着状態判定システム、センサ接着状態判定装置及びセンサ接着状態判定方法 |
-
1998
- 1998-06-17 JP JP17002598A patent/JP3956486B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
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| WO2018168218A1 (ja) * | 2017-03-17 | 2018-09-20 | 株式会社東芝 | センサ接着状態判定システム、センサ接着状態判定装置及びセンサ接着状態判定方法 |
| JP2018155661A (ja) * | 2017-03-17 | 2018-10-04 | 株式会社東芝 | センサ接着状態判定システム、センサ接着状態判定装置及びセンサ接着状態判定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3956486B2 (ja) | 2007-08-08 |
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