HUE033303T2 - Megterhelt nyomtatott áramköri kártya vizsgálati szerelvénye, és eljárás ennek elõállítására - Google Patents
Megterhelt nyomtatott áramköri kártya vizsgálati szerelvénye, és eljárás ennek elõállítására Download PDFInfo
- Publication number
- HUE033303T2 HUE033303T2 HUE10843524A HUE10843524A HUE033303T2 HU E033303 T2 HUE033303 T2 HU E033303T2 HU E10843524 A HUE10843524 A HU E10843524A HU E10843524 A HUE10843524 A HU E10843524A HU E033303 T2 HUE033303 T2 HU E033303T2
- Authority
- HU
- Hungary
- Prior art keywords
- test
- fixture
- translator
- pins
- circuit board
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31905—Interface with the device under test [DUT], e.g. arrangements between the test head and the DUT, mechanical aspects, fixture
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Claims (5)
- MEOÏËRNSU «CKÉOTi ÁÍMKöRi KÁRTYA VIZSGÁLATI SZSRELVÊMŸÉ, ÉS ll^ÁRÁS MSK gLÓÁLLlTMáRA SZABADALMI IGÉNYPONTOK 1. foegierheít kártya vizsgálati szerelvény (kfod#boarci â âîs) ipÄoilriiiiiöH ÜM elrendezeti (closely spsoed) vizsgálati pontok sokaságának vizsgálatához. amely térbe« viszonylag szélesen elkülönüli (spaced spart}. nagy rugéerelö vizsgálati próbák (1$) elrendezése (array). amelyek ytegédnak (extsnd) egy prébafomezen (prods piaié) kenssÄ és elektromos kaprpííédásra: vannak adaptálva egy kùlso eieklrönskys vizsgálati eiemadház (lesi analyzer); egy jeióiakákitó szsrslvány (ΤΑ| ameiy eitávoildsatóas saiys^ksáik el a aspy rugóéíétö vizsgálati próbák fölött és határos a térben: kőalj vizsgálati pordokkal az áramköri kártyán; a ieiataiakito szerelvény (translator fixture), amelynek van egy foiőlorneze (top plate) (40) áramkört kártya alkotórészek befogadására (receipt} úgy, hogy a ïetôienw felső felelete <41} lényegében határos a vizsgálati pontokkal (test po-ni) egy megiertseit nyomtatott áramköri kártyán (loaded printed circuit ooard) (30), a ]«fotaíakliö szerelvény mnöelkezik továbbá párhuzamos lemezek (42.44,44a. 44b, 44p, 44d, A4e 441) sokaságával a tstölemezaiati; és jelátalakító lök (transtatof pint (46) »okaaáp, amelyék meg vannak támogatva iSuppeffod) a ieiáialakltó szerelvényben sorba állításhoz (alignment) a vizsgálati pofitokkal a (eiáísíakHó szerelvény egyik végénél és a íérbeííiso közeli (closely spaced) vizsgálati pontokkal a jelátalakító szerelvény ellenkező végénél; a jelátalakító tűk szilárd lüket tartalmazpafe apfpíyéknek kielégítő tengelyirányú merevségük (rigidity) van, begy hatékonyan algfitsanak át (translate} vl^gátáti érőkéi (tösi feröós), amelyek e vizsgálati próbák révén vannak alkalmazva a iárbéílleg közeli vizsgálati pöhtpkm, és ahol a vizsgálat! próbák együtlmüködő kapcsolatban (compliant ccncectscn) varrni & jeiätetakMÄ# az emilíelt vlsgáfoit érák és az elektromos vizsgálati telek átalakításához a nyomtatott áramköri kártyán levő terbafcfeg; közeli #^S^^-:P^^:és:-:P=!K^^olá^:=^qt©nócöonj (22) közötte; körsó elektronikus vizsgálati elemzőhöz (test analyzers ahol a téfáfcmez és a jéiétaiokíio sprelvény párhuzamos lemezei sokaságának mufoegylke tartalmaz megfeiaiö vezetölypkákét: (guide hőié) (46), a jelátaíaklto tűk támogatásához a jeíáfoiakító szerelvényben, es ahol a vezetóíyukaK olyan módon vannak elrondezs^. hogya mogfáipogatott Jeiataiakítá Kik oöíesszogei (tilt angjsj minimálisak legyenek.
- 2. Az 1. Igénypont Merlníi vizsgálat; szerelvény, amery tartalmaz továbbá egy gravitációs (ubpoweredéoyifo kászöiékei lópooe: device) (98), amely a foiáfoiakiíó szerelvényen belül helyezkedik el vizsgálati jelek elektromos átalakításához (translating) megfob-mti áramköri kártya atköiótéazsködi a vizsgálni próöáífoóz,
- 3. Az. 1 . vagy 2. Igénypont szerinti vizsgálati szerelvény, amely magában ádágtéft (120):: a vizsgálati szerelvényén betűi a íaiáfoíakitó tűk és a vizsgálat! próbák kozott.
- 4. Az 1-3. igénypontok bármelybe szenoil vizsgálati szelvény, ahol a jelátalakító: szerelvény magában foglal továbbá legalább egy erőt (forcé) vak töt; (bind pin) aikeimezva, és/sagy ahol a seíáialakM szoreivérty magában foglalja továbbá térben ejköiöniM (spaced apart) jsiátalákttó forhezsk srSrssIgib ahol a íélátálakitá tök idténednek (extend) a íeíátaSakító (emezekben tevő öregeken keresztek
- 5. A 4. igénypont szerinti vizsgálati szerelvény, ahol legalább egy jelátalakító lemez rondoikezik egy bemélyedéssel (recess) egy felső felületben (top surfooe) ésegy bemélyedéssel a fonák fairkeiben (bottom surface), így alakítva kt egy hálózatot (web), amelynek van r^y örege (bole) egy Jelátalakí tó fö vezetéséhez. ö; A 2: igénypont szerinti vizsgálati szerelvény, ahol ífb^l^-^iij^w^'e^l^yitáÉé^öíékRek van egy rryöínéiöökje (set block) merös live :ffoment agy fenék jelátalakító lemezre a jeiátáisklfö szérelvénybom 7. A: 4; igénypont szerinti vizsgálati szerelvény, ahol a jelátalakító szérelyénynék iégsiább tklt tjeiáfálektlö tűje van együtt huzalozva (wired).
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US28933909P | 2009-12-22 | 2009-12-22 | |
US12/963,322 US8648616B2 (en) | 2009-12-22 | 2010-12-08 | Loaded printed circuit board test fixture and method for manufacturing the same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
HUE033303T2 true HUE033303T2 (hu) | 2017-11-28 |
Family
ID=44150138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
HUE10843524A HUE033303T2 (hu) | 2009-12-22 | 2010-12-20 | Megterhelt nyomtatott áramköri kártya vizsgálati szerelvénye, és eljárás ennek elõállítására |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8648616B2 (hu) |
EP (1) | EP2517030B1 (hu) |
CN (1) | CN102725646B (hu) |
HU (1) | HUE033303T2 (hu) |
MY (1) | MY154575A (hu) |
TW (1) | TWI452300B (hu) |
WO (1) | WO2011087764A1 (hu) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8907694B2 (en) * | 2009-12-17 | 2014-12-09 | Xcerra Corporation | Wiring board for testing loaded printed circuit board |
TWI426366B (zh) * | 2011-01-17 | 2014-02-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 測試點自動查找與優化系統及方法 |
CN103107872B (zh) | 2011-11-09 | 2015-09-23 | 上海贝尔股份有限公司 | 增强下行确认/否定确认信号传输的方法及其装置 |
CN102621431A (zh) * | 2012-04-11 | 2012-08-01 | 游森溢 | 一种混合型测试装置 |
US9470715B2 (en) * | 2013-01-11 | 2016-10-18 | Mpi Corporation | Probe head |
US11067601B2 (en) | 2013-03-08 | 2021-07-20 | Donald DeMille | High accuracy electrical test interconnection device and method for electrical circuit board testing |
US9274166B2 (en) | 2013-08-26 | 2016-03-01 | Fujitsu Limited | Pin verification device and method |
CN103728550A (zh) * | 2013-12-27 | 2014-04-16 | 昆山迈致治具科技有限公司 | 一种pcb板性能检测治具 |
JP5943523B2 (ja) * | 2014-03-03 | 2016-07-05 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 接触型回路パターン検査装置及びその検査方法 |
US10782316B2 (en) | 2017-01-09 | 2020-09-22 | Delta Design, Inc. | Socket side thermal system |
US10739382B2 (en) * | 2018-09-18 | 2020-08-11 | Keysight Technologies, Inc. | Testing apparatus having a configurable probe fixture |
CN109900932A (zh) * | 2019-03-06 | 2019-06-18 | 苏州世纪福智能装备股份有限公司 | 斜针式ict测试夹具及斜针式ict测试夹具中探针的布置方法 |
CN110034057A (zh) * | 2019-04-26 | 2019-07-19 | 德淮半导体有限公司 | 用于定位探针的装置、卡盘装置及方法 |
US11818842B1 (en) * | 2020-03-06 | 2023-11-14 | Amazon Technologies, Inc. | Configurable circuit board for abstracting third-party controls |
US11221360B1 (en) | 2020-06-12 | 2022-01-11 | Lat Enterprises, Inc. | Multiple circuit board tester |
CN111896859B (zh) * | 2020-06-16 | 2023-06-06 | 北京航天时代光电科技有限公司 | 一种批量多品种电路板测试工装 |
CN113970707B (zh) * | 2020-07-24 | 2024-01-30 | 北京机械设备研究所 | 一种用于电源模块的信号管脚测试装置及方法 |
EP4364197A1 (en) | 2021-06-30 | 2024-05-08 | Delta Design, Inc. | Temperature control system including contactor assembly |
EP4124868A1 (de) * | 2021-07-30 | 2023-02-01 | Continental Automotive Technologies GmbH | Vorrichtung und verfahren zur prüfung von elektrischen steuergeräten mit einem trägerrahmen zur aufnahme des zu prüfenden steuergeräts sowie einer zwischenleiterplatte |
WO2023154488A1 (en) * | 2022-02-10 | 2023-08-17 | Keithley Instruments, Llc | Solderless high current, high voltage, high bandwidth test fixture |
CN117330801B (zh) * | 2023-10-19 | 2024-02-20 | 深圳市兆兴博拓科技股份有限公司 | 电路板测试装置、调试方法及调试系统 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5032787A (en) | 1989-11-03 | 1991-07-16 | Everett/Charles Contact Products, Inc. | Electrical test probe having rotational control of the probe shaft |
US5187671A (en) | 1990-08-24 | 1993-02-16 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Automated interconnect routing system |
ATE140542T1 (de) * | 1991-04-11 | 1996-08-15 | Methode Electronics Inc | Gerät zum elektronischen testen von gedruckten leiterplatten oder ähnlichem |
US5216361A (en) | 1991-07-10 | 1993-06-01 | Schlumberger Technologies, Inc. | Modular board test system having wireless receiver |
US20050062492A1 (en) * | 2001-08-03 | 2005-03-24 | Beaman Brian Samuel | High density integrated circuit apparatus, test probe and methods of use thereof |
US5633598A (en) | 1993-06-23 | 1997-05-27 | Everett Charles Technologies, Inc. | Translator fixture with module for expanding test points |
US5493230A (en) | 1994-02-25 | 1996-02-20 | Everett Charles Technologies, Inc. | Retention of test probes in translator fixtures |
DE4406538A1 (de) * | 1994-02-28 | 1995-08-31 | Mania Gmbh | Leiterplatten-Prüfeinrichtung mit Prüfadapter und Verfahren zum Einstellen desselben |
US5663655A (en) | 1995-09-22 | 1997-09-02 | Everett Charles Technologies, Inc. | ESD protection for universal grid type test fixtures |
US5898314A (en) | 1996-02-26 | 1999-04-27 | Delaware Capital Formation, Inc. | Translator fixture with force applying blind pins |
US5818248A (en) | 1996-07-29 | 1998-10-06 | Delaware Capital Formation, Inc | Loaded board test fixture with integral translator fixture for testing closely spaced test sites |
US5945838A (en) * | 1997-06-26 | 1999-08-31 | Star Technology Group, Inc. | Apparatus for testing circuit boards |
US6194908B1 (en) * | 1997-06-26 | 2001-02-27 | Delaware Capital Formation, Inc. | Test fixture for testing backplanes or populated circuit boards |
JP3186667B2 (ja) * | 1997-10-07 | 2001-07-11 | 日本電気株式会社 | 検査用端子位置決定装置、検査用端子位置決定方法および検査用端子位置決定用プログラムを記録した記録媒体 |
US6414504B2 (en) * | 1999-05-20 | 2002-07-02 | Delaware Capital Formation, Inc. | Coaxial tilt pin fixture for testing high frequency circuit boards |
US6870382B2 (en) * | 2002-05-03 | 2005-03-22 | Texas Instruments Incorporated | System and method for evaluating the planarity and parallelism of an array of probe tips |
US7059046B2 (en) * | 2002-06-24 | 2006-06-13 | Delaware Capital Formation, Inc. | Method for producing a captive wired test fixture and fixture therefor |
US6825679B2 (en) * | 2002-07-19 | 2004-11-30 | Agilent Technologies, Inc. | Electrically conductive structure and method for implementing circuit changes on printed circuit boards |
US6839883B2 (en) * | 2002-08-08 | 2005-01-04 | Agilent Technologies, Inc. | Determining support locations in a wireless fixture of a printed circuit assembly tester |
US6894479B2 (en) * | 2002-08-26 | 2005-05-17 | Agilent Technologies, Inc. | Connector cable and method for probing vacuum-sealable electronic nodes of an electrical testing device |
US7307426B2 (en) * | 2005-07-12 | 2007-12-11 | Agilent Technologies, Inc. | Methods and apparatus for unpowered testing of open connections on power and ground nodes of circuit devices |
WO2007057944A1 (ja) * | 2005-11-15 | 2007-05-24 | Advantest Corporation | 電子部品試験装置及び電子部品試験装置へのパフォーマンスボードの装着方法 |
JP2008103610A (ja) * | 2006-10-20 | 2008-05-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路の配線構造およびその設計方法と設計装置 |
TWI317427B (en) * | 2007-02-15 | 2009-11-21 | Chipmos Technologies Inc | Probe head module for multi-site probing |
-
2010
- 2010-12-08 US US12/963,322 patent/US8648616B2/en active Active
- 2010-12-20 WO PCT/US2010/061376 patent/WO2011087764A1/en active Application Filing
- 2010-12-20 CN CN201080058667.7A patent/CN102725646B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2010-12-20 HU HUE10843524A patent/HUE033303T2/hu unknown
- 2010-12-20 EP EP10843524.9A patent/EP2517030B1/en not_active Not-in-force
- 2010-12-20 MY MYPI2012002701A patent/MY154575A/en unknown
- 2010-12-20 TW TW099144733A patent/TWI452300B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2517030A1 (en) | 2012-10-31 |
US20110148448A1 (en) | 2011-06-23 |
TW201135241A (en) | 2011-10-16 |
TWI452300B (zh) | 2014-09-11 |
CN102725646A (zh) | 2012-10-10 |
WO2011087764A1 (en) | 2011-07-21 |
MY154575A (en) | 2015-06-30 |
CN102725646B (zh) | 2015-06-10 |
US8648616B2 (en) | 2014-02-11 |
EP2517030A4 (en) | 2014-08-27 |
EP2517030B1 (en) | 2017-04-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
HUE033303T2 (hu) | Megterhelt nyomtatott áramköri kártya vizsgálati szerelvénye, és eljárás ennek elõállítására | |
US5818248A (en) | Loaded board test fixture with integral translator fixture for testing closely spaced test sites | |
EP0840131B1 (en) | Loaded-board guided-probe test fixture | |
EP0840130B1 (en) | Standard- and limited-access hybrid test fixture | |
US4724383A (en) | PC board test fixture | |
US6194908B1 (en) | Test fixture for testing backplanes or populated circuit boards | |
HUE030545T2 (hu) | Huzalozási szerelõlap megterhelt nyomtatott áramkör szerelõlap vizsgálatához | |
US6191601B1 (en) | Test fixture for matched impedance testing | |
US6407565B1 (en) | Loaded-board, guided-probe test fixture | |
EP0943924A2 (en) | Loaded-board, guided-probe test fixture | |
CN107202948A (zh) | 高测试密度的电路测试板 | |
CN205353305U (zh) | 电路板钻孔检测装置 | |
US20030234656A1 (en) | Wireless test fixture adapter for printed circuit assembly tester | |
CN107728041A (zh) | 一种电子线路板电性能检测装置 | |
CN207067178U (zh) | 一种集成电路测试治具和集成电路测试装置 |