CN109900932A - 斜针式ict测试夹具及斜针式ict测试夹具中探针的布置方法 - Google Patents

斜针式ict测试夹具及斜针式ict测试夹具中探针的布置方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109900932A
CN109900932A CN201910168082.3A CN201910168082A CN109900932A CN 109900932 A CN109900932 A CN 109900932A CN 201910168082 A CN201910168082 A CN 201910168082A CN 109900932 A CN109900932 A CN 109900932A
Authority
CN
China
Prior art keywords
probe
pin type
oblique
oblique pin
test fixture
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910168082.3A
Other languages
English (en)
Inventor
陈伟军
宋屹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sifo Technology (snd) Co Ltd
Original Assignee
Sifo Technology (snd) Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sifo Technology (snd) Co Ltd filed Critical Sifo Technology (snd) Co Ltd
Priority to CN201910168082.3A priority Critical patent/CN109900932A/zh
Publication of CN109900932A publication Critical patent/CN109900932A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本发明公开了一种斜针式ICT测试夹具及斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法。本发明一种斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法,包括:从CAD文件中获取PCBA上测试点的位置(P:p0,p1,p2,p3….)、元器件的位置(CP)以及长宽高(L/W/H)信息;获取夹具针板尺寸并按照指定间距(如2mm)划分网格(网格中心点集N:n0,n1,n2…);设置测试点P投影到针板上的点P’到选定网格N的最大距离D;遍历测试点集P。本发明的有益效果:通过采用斜针和普通100mil相结合的方式,探针的弹力更大,穿透性更高,从而大幅提高了测试稳定性,另外由于斜针的制作工艺相比25mil探针的制作工业简单,成本也就相对更低,最后该结构相对传统夹具的结构维护难度和成本都更低。

Description

斜针式ICT测试夹具及斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法
技术领域
本发明涉及ICT测试领域,具体涉及一种斜针式ICT测试夹具及斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法。
背景技术
ICT(In-Circuit Test在线测试)是通过对在线元器件的电性能及电气连接性进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种测试手段。它主要检查PCBA(Printed-Circuit BoardAssembly,印刷电路板组件)单个元器件好坏以及各电路网络的开、短路情况。在整个测试系统在,测试夹具是通过测试探针连接ICT系统和PCBA的一个桥梁,随着时间的推移,PCBA越来越小型化,集成度越来越高,从而导致测试探针的直径越来越小,目前ICT夹具上常用的探针有100/75/50/39mil,这几种探针可以覆盖直径为0.5mm,间距1mm以上的测试点,但是对于小于此规格(如直径0.4mm,间距0.6mm以内)的测试点,市面上有的商家不同的尝试,如使用25mil的探针,但是使用下来发现该探针的本体直径较小,所产生的弹力非常的小(0.5牛顿),无法刺穿测试点上的松香或氧化层导致测试效果较差,其表现为测试误判率较差,进而影响产出效率降低。(参阅图1和图2)
传统技术存在以下技术问题:
使用目前的结构配合25mil探针带来的主要的问题是,由于探针本体直径较小(直径0.2mm),针尖偏软,弹力不足,造成接触不好测试不稳定。另一方面,由于25mil探针制作工艺复杂、成本过高,也导致整个夹具成本偏高。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种斜针式ICT测试夹具,包括:斜针模块和普通探针模块;所述斜针模块的探针是倾斜的,所述普通探针模块的探针对斜针模块的探针施加压力。
一种斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法,包括:
从CAD文件中获取PCBA上测试点的位置(P:p0,p1,p2,p3….)、元器件的位置(CP)以及长宽高(L/W/H)信息;
获取夹具针板尺寸并按照指定间距(如2mm)划分网格(网格中心点集N:n0,n1,n2…);
设置测试点P投影到针板上的点P’到选定网格N的最大距离D;
遍历测试点集P;
以P为圆心,D为半径选择最佳的探针在针板上的放置点N(条件是:P’N之间的距离最短,并确保探针不会碰到附近的元器件);
获取针板网络点集N的位置信息;
根据数控机床能够读取的数控系统G代码文件格式,输出指定格式的加工。
一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现任一项所述方法的步骤。
一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现任一项所述方法的步骤。
一种处理器,所述处理器用于运行程序,其中,所述程序运行时执行任一项所述的方法。
本发明的有益效果:
通过采用斜针和普通100mil相结合的方式,探针的弹力更大,穿透性更高,从而大幅提高了测试稳定性,另外由于斜针的制作工艺相比25mil探针的制作工业简单,成本也就相对更低,最后该结构相对传统夹具的结构维护难度和成本都更低。
附图说明
图1是传统ICT测试示意图。
图2是传统ICT测试时探针布置的示意图。
图3是本发明斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法中的斜针式ICT测试夹具示意图。
图4是本发明斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法中案例的斜针模组的示意图。
图5是本发明斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法中案例的普通探针模块的示意图。
图6是本发明斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法中案例的夹具总装示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明,以使本领域的技术人员可以更好地理解本发明并能予以实施,但所举实施例不作为对本发明的限定。
一种斜针式ICT测试夹具,包括:斜针模块和普通探针模块;所述斜针模块的探针是倾斜的,所述普通探针模块的探针对斜针模块的探针施加压力。
一种斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法,包括:
从CAD文件中获取PCBA上测试点的位置(P:p0,p1,p2,p3….)、元器件的位置(CP)以及长宽高(L/W/H)信息;
获取夹具针板尺寸并按照指定间距(如2mm)划分网格(网格中心点集N:n0,n1,n2…);
设置测试点P投影到针板上的点P’到选定网格N的最大距离D;
遍历测试点集P;
以P为圆心,D为半径选择最佳的探针在针板上的放置点N(条件是:P’N之间的距离最短,并确保探针不会碰到附近的元器件);
获取针板网络点集N的位置信息;
根据数控机床能够读取的数控系统G代码文件格式,输出指定格式的加工。
一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现任一项所述方法的步骤。
一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现任一项所述方法的步骤。
一种处理器,所述处理器用于运行程序,其中,所述程序运行时执行任一项所述的方法。
本发明的有益效果:
通过采用斜针和普通100mil相结合的方式,探针的弹力更大,穿透性更高,从而大幅提高了测试稳定性,另外由于斜针的制作工艺相比25mil探针的制作工业简单,成本也就相对更低,最后该结构相对传统夹具的结构维护难度和成本都更低。
下面介绍本发明的一个具体应用场景:
参阅图3,本发明是通过在传统结构的PCBA和普通探针之间加入一个斜针模块,将PCBA上密集的测试点区域通过倾斜的探针引导到更加宽敞的区域中(针板),从而可以使用普通的100mil探针,这样100mil探针的高弹力可以带来更稳定的测试效果(弹力更大,穿透性更强)
以下为本申请的自动寻找放置斜针位置并输出针板加工文件的方法:
3.2.1准备工作:
3.2.1.1.从CAD文件中获取PCBA上测试点的位置(P:p0,p1,p2,p3….)、元器件的位置(CP)以及长宽高(L/W/H)信息;
3.2.1.2.获取夹具针板尺寸并按照指定间距(如2mm)划分网格(网格中心点集N:n0,n1,n2…);
2.1.3.设置测试点P投影到针板上的点P’到选定网格N的最大距离D;
3.2.2最优针板网络点集N的计算步骤:
3.2.2.1遍历测试点集P;
3.2.2.2以P为圆心,D为半径选择最佳的探针在针板上的放置点N(条件是:P’N之间的距离最短,并确保探针不会碰到附近的元器件);
如果遇到无法满足步骤3.2.2.2的针点N,将由人工干预选择次优点,系统将自动适配其他针点位置;
2.3加工资料的产生步骤:
3.2.3.1获取针板网络点集N的位置信息;
3.2.3.2根据数控机床能够读取的数控系统G代码文件格式,输出指定格式的加工;
通过采用斜针和普通100mil相结合的方式,探针的弹力更大,穿透性更高,从而大幅提高了测试稳定性,另外由于斜针的制作工艺相比25mil探针的制作工业简单,成本也就相对更低,最后该结构相对传统夹具的结构维护难度和成本都更低。
通过本申请的自动计算探针倾斜角度并自动寻找可植100mil探针的位置,最后自动产生加工资料,图4到图6为案例示意图。
以上所述实施例仅是为充分说明本发明而所举的较佳的实施例,本发明的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本发明基础上所作的等同替代或变换,均在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围以权利要求书为准。

Claims (5)

1.一种斜针式ICT测试夹具,其特征在于,包括:斜针模块和普通探针模块;所述斜针模块的探针是倾斜的,所述普通探针模块的探针对斜针模块的探针施加压力。
2.一种斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法,其特征在于,包括:
从CAD文件中获取PCBA上测试点的位置(P:p0,p1,p2,p3….)、元器件的位置(CP)以及长宽高(L/W/H)信息;
获取夹具针板尺寸并按照指定间距(如2mm)划分网格(网格中心点集N:n0,n1,n2…);
设置测试点P投影到针板上的点P’到选定网格N的最大距离D;
遍历测试点集P;
以P为圆心,D为半径选择最佳的探针在针板上的放置点N(条件是:P’N之间的距离最短,并确保探针不会碰到附近的元器件);
获取针板网络点集N的位置信息;
根据数控机床能够读取的数控系统G代码文件格式,输出指定格式的加工。
3.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现权利要求2所述方法的步骤。
4.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求2所述方法的步骤。
5.一种处理器,其特征在于,所述处理器用于运行程序,其中,所述程序运行时执行权利要求2所述的方法。
CN201910168082.3A 2019-03-06 2019-03-06 斜针式ict测试夹具及斜针式ict测试夹具中探针的布置方法 Pending CN109900932A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910168082.3A CN109900932A (zh) 2019-03-06 2019-03-06 斜针式ict测试夹具及斜针式ict测试夹具中探针的布置方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910168082.3A CN109900932A (zh) 2019-03-06 2019-03-06 斜针式ict测试夹具及斜针式ict测试夹具中探针的布置方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109900932A true CN109900932A (zh) 2019-06-18

Family

ID=66946490

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910168082.3A Pending CN109900932A (zh) 2019-03-06 2019-03-06 斜针式ict测试夹具及斜针式ict测试夹具中探针的布置方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109900932A (zh)

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2767593B2 (ja) * 1988-11-11 1998-06-18 東京エレクトロン株式会社 プリント配線基板検査方法および検査装置
JP2001356135A (ja) * 2000-06-13 2001-12-26 Sumitomo Electric Ind Ltd プローブヘッドおよびその製造方法
CN1405573A (zh) * 2001-08-13 2003-03-26 吴志成 提高测试密度的测试方法
CN2735347Y (zh) * 2004-08-09 2005-10-19 自然兴电通科技股份有限公司 印刷电路板测试治具改造结构
EP0840131B1 (en) * 1996-10-29 2005-12-14 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) Loaded-board guided-probe test fixture
CN101680912A (zh) * 2008-09-23 2010-03-24 陈涛 用于测试线路板专用测试机的通用转接装置及通用治具
CN201732131U (zh) * 2010-08-12 2011-02-02 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种新型ict测试治具
CN102384992A (zh) * 2011-07-12 2012-03-21 日月光半导体制造股份有限公司 探针卡及其制作方法
CN102725646A (zh) * 2009-12-22 2012-10-10 特拉华资本构造公司 加载印刷电路板测试固定装置及其制造方法
CN204389642U (zh) * 2015-02-03 2015-06-10 昆山广谦电子有限公司 一种pcb板电性测试治具
CN205643633U (zh) * 2016-05-19 2016-10-12 深圳市华科伟业电路科技有限公司 Pcb板斜针式测试架
CN206848313U (zh) * 2017-04-28 2018-01-05 日本电产理德机器装置(浙江)有限公司 检查夹具及具备该检查夹具的检查装置
CN109283371A (zh) * 2017-07-21 2019-01-29 中华精测科技股份有限公司 探针装置

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2767593B2 (ja) * 1988-11-11 1998-06-18 東京エレクトロン株式会社 プリント配線基板検査方法および検査装置
EP0840131B1 (en) * 1996-10-29 2005-12-14 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) Loaded-board guided-probe test fixture
JP2001356135A (ja) * 2000-06-13 2001-12-26 Sumitomo Electric Ind Ltd プローブヘッドおよびその製造方法
CN1405573A (zh) * 2001-08-13 2003-03-26 吴志成 提高测试密度的测试方法
CN2735347Y (zh) * 2004-08-09 2005-10-19 自然兴电通科技股份有限公司 印刷电路板测试治具改造结构
CN101680912A (zh) * 2008-09-23 2010-03-24 陈涛 用于测试线路板专用测试机的通用转接装置及通用治具
CN102725646A (zh) * 2009-12-22 2012-10-10 特拉华资本构造公司 加载印刷电路板测试固定装置及其制造方法
CN201732131U (zh) * 2010-08-12 2011-02-02 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种新型ict测试治具
CN102384992A (zh) * 2011-07-12 2012-03-21 日月光半导体制造股份有限公司 探针卡及其制作方法
CN204389642U (zh) * 2015-02-03 2015-06-10 昆山广谦电子有限公司 一种pcb板电性测试治具
CN205643633U (zh) * 2016-05-19 2016-10-12 深圳市华科伟业电路科技有限公司 Pcb板斜针式测试架
CN206848313U (zh) * 2017-04-28 2018-01-05 日本电产理德机器装置(浙江)有限公司 检查夹具及具备该检查夹具的检查装置
CN109283371A (zh) * 2017-07-21 2019-01-29 中华精测科技股份有限公司 探针装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
韩雷等: "针床式测试仪的测试可靠性研究", 《仪器仪表学报》 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102682166B (zh) Smt设备快速制程系统及方法
CN100541502C (zh) 一种具有检错功能的pcb仿真系统及其实现方法
CN101697003B (zh) 一种短路检测方法和短路检测装置
CN201392350Y (zh) 一种抗干扰异步修调晶圆测试用探针卡
CN101510520B (zh) 一种抗干扰异步修调晶圆测试方法
CN201812014U (zh) 集成电路开短路自动测试系统
CN103954905B (zh) 数字电路故障检测电路及利用该电路测试故障的方法
CN110222381A (zh) 用于pcb装配的动态安装指引文件生成方法、系统、介质及终端
CN102929755A (zh) 一种cpu模块地址和数据总线的故障检测方法
CN109741310A (zh) Pcb板的图像处理方法、系统及存储介质
CN108878306A (zh) 一种多工位集成电路熔丝修调测试系统及其修调方法
CN102435928B (zh) 晶圆测试装置及对应的晶圆测试方法
CN205620509U (zh) 一种双功能电路维修测试仪
CN109900932A (zh) 斜针式ict测试夹具及斜针式ict测试夹具中探针的布置方法
CN113705143B (zh) 一种自动化仿真系统和自动化仿真方法
CN107346128A (zh) 用于锁控板的自动化测试方法和系统
CN100361122C (zh) Ict测试用转换pcb的自动设计方法
CN101216301A (zh) 不合格焊盘间距检测装置及方法
CN109739525A (zh) 一种pcb拼板芯片程序烧写装置
CN208655575U (zh) 一种多工位集成电路熔丝修调测试系统
CN206116354U (zh) 一种探针卡
CN102943767B (zh) 散热风扇的电路检测结构及检测方法
CN101196943A (zh) 测试点查错方法
CN113609577B (zh) 一种汽车电器原理检查方法
CN102262170B (zh) 电路板测试装置及实现插座与线插头位置自适应的方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20190618