CN2735347Y - 印刷电路板测试治具改造结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及的一种印刷电路板测试治具改造结构，其主要包括有数片测试板，各片测试板中具有依据待测印刷电路板测试接点设置的测试针，各测试针二端凸伸出治具。其于待测电路板端，做为与待测电路板待测接点接触，而于针床端，则作为与针床的弹簧针接触，各测试针并依据待测电路接点具有适当的斜率，该针床端上测试针与测试针之间为等距布设，具有在不改变原测试针间距下，增加测试针布设密度。本实用新型解决了该业界亟待克服的难题，其结构简单，成本低廉，便于推广和应用。
Description
技术领域：
本实用新型涉及印刷电路板测试技术领域，特别是涉及印刷电路板测试治具改造结构，其具有在不改变原测试针间距下，可以增加测试针布设密度。
背景技术：
现有技术中，印刷电路板测试治具通常都具有数片测试板，各片测试板则视实际需要以数组固定杆组结合成一体，以实现测针斜率，参见图1所示，该治具(1)包括有数片测试板(10)，各片测试板(10)中具有依据待测印刷电路板测试接点设置的测试针(11)，各测试针(11)二端凸伸出治具(1)，其于待测电路板端(X)，做为与待测电路板(3)待测接点(30)接触，而于针床端(Y)，则做为与针床(2)的弹簧针(20)接触，各测试针(11)并依据待测电路接点具有适当的斜率，使依据待测接点(30)原密度布设的待测电路板端(X)测的测试针(11)，经适当的斜率调整，使针床端(Y)放大测试针(11)间距。现有技术中针床端(Y)的测试针布设为等矩阵布设，参见图2所示，各相邻测试针(11)的间距均为A，但对角间距则为C(且C必然大于A)。此种测试针的布设在印刷电路板电路布局越来越精密的现代，已渐不敷所求，越是精密的电路布局需要越是精密的测试针布设，现行解决的方式是缩减测试针与测试针之间的间距，来达成增加单位面积测试针的数量，如图所示，原测试针(11)对角间设置另组测试针(11’)，但此组增设的测试针(11’)与原测试针(11)的间距为B，且B必然小於A(亦有直接在各相邻测试针间增设一组测试针，其间距仅有A/2，须使用小型测试针方能实施)，虽然此种结构增加了单位面积测试针的设置数量，但缩小的间距使得制作须较严谨的精密度要求，且间距越小、针型越小其制作费用越高，间距小亦会产生相邻测试针电气接触的缺点。此即为现有技术存有最大之缺失，此缺失乃成为该业界亟待克服的难题。
发明内容：
本实用新型的目的是提供一种印刷电路板测试治具改造结构，以弥补现有技术中存在的不足。
本实用新型是按如下的方式来实现的：一种印刷电路板测试治具改造结构，主要包括有数片测试板，各片测试板中具有依据待测印刷电路板测试接点设置日测试针，各测试针二端凸伸出治具，其于待测电路板端，做为与待测电路板待测接点接触，而于针床端，则做为与针床的弹簧针接触，各测试针并依据待测电路接点具有道当的斜率，该治具针床端上测试针与测试针之间为等距布设，具有在不改变原测试针间距下，增加单位面积测试针布设密度。
本实用新型印刷电路板测试治具改造结构积极效果是：由于采用了本设计方案，该治具针床端(Y)上测试针(11)与测试针(11)间为等距布设，其具有在不改变原测试针(11)间距下，增加单位面积测试针(11)布设密度，解决了该业界亟待克服的难题，其结构简单，成本低廉，便于推广和应用。
附图说明：
图1为印刷电路板测试治具组立剖面图。
图2为现有技术中治具针床端测试针布设图。
图3为本实用新型治具针床端测试针布设图。
图中，
(1)治具
(10)测试板
(11)(11’)测试针
(2)针床
(20)弹簧针
(3)待测电路板
(30)待测接点
(X)待测电路板端
(Y)针床端
(A)(B)(C)间距
下面结合附图对本实用新型做进一步说明。
具体实施方式：
如图1、图3所示，本实用新型印刷电路板测试治具改造结构的实施例中，治具(1)包括有数片测试板(10)，各片测试板(10)中具有依据待测印刷电路板测试点设置的测试针(11)，各测试针(11)二端凸伸出治具(1)，其于待测电路板端(X)，作为与待测电路板(3)的待测接点(30)接触，而于治具针床端(Y)，则做为与针床(2)的弹簧针(20)接触，各测试针(11)并依据待测接点(30)具有适当的斜率，使依据待测接点(30)原密度布设的待测电路板端(X)测试针(11)，经适当斜率调整，而能在针床端(Y)放大测试针(11)间距。
如图2、图3所示，各测试针(11)间距为A，但是由于图2中的现有技术中，对角测试针间距为C，且C大于A，故整体单位面积在本实施例中测试针密度(图3所示)明显较现有技术中(图2所示)测试针为大，且在相同间距布设情况下，故本实施例具有在不改变原测试针(11)间距下，增加单位面积测试针(11)布设密度，对于布局较精密的印刷电路板特别具有其实用性。
如此而达到本实用新型印刷电路板测试治具改造结构的目的。
Claims (1)
1.一种印刷电路板测试治具改造结构，其主要包括有数片测试板，各片测试板中具有依据待测印刷电路板测试接点设置的测试针，各测试针二端凸伸出治具，其于待测电路板端，做为与待测电路板待测接点接触，而于针床端，则做为与针床的弹簧针接触，各测试针并依据待测接点具有适当的斜率，其特征在于：该治具针床端上各相邻测试针与测试针间为等距布设。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 200420084895 CN2735347Y (zh) | 2004-08-09 | 2004-08-09 | 印刷电路板测试治具改造结构 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 200420084895 CN2735347Y (zh) | 2004-08-09 | 2004-08-09 | 印刷电路板测试治具改造结构 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN2735347Y true CN2735347Y (zh) | 2005-10-19 |
Family
ID=35265221
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN 200420084895 Expired - Lifetime CN2735347Y (zh) | 2004-08-09 | 2004-08-09 | 印刷电路板测试治具改造结构 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN2735347Y (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108459255A (zh) * | 2017-02-16 | 2018-08-28 | 豪威科技股份有限公司 | 用于细间距封装测试的测试座 |
| CN109900932A (zh) * | 2019-03-06 | 2019-06-18 | 苏州世纪福智能装备股份有限公司 | 斜针式ict测试夹具及斜针式ict测试夹具中探针的布置方法 |
-
2004
- 2004-08-09 CN CN 200420084895 patent/CN2735347Y/zh not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108459255A (zh) * | 2017-02-16 | 2018-08-28 | 豪威科技股份有限公司 | 用于细间距封装测试的测试座 |
| CN109900932A (zh) * | 2019-03-06 | 2019-06-18 | 苏州世纪福智能装备股份有限公司 | 斜针式ict测试夹具及斜针式ict测试夹具中探针的布置方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| C17 | Cessation of patent right | ||
| CX01 | Expiry of patent term |
Expiration termination date: 20140809 Granted publication date: 20051019 |