CN201780311U - Pcb电测试复合夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种PCB电测试复合夹具,包括:下模板、相对下模板开合平行设于其上方的上模板,该上模板与下模板上分别设有上针盘与下针盘,所述上、下针盘均包括针板及设于针板上的数个测试探针,其中设于上模板上的上针盘为直针针盘。本实用新型的PCB电测试复合夹具,其上模板上的上针盘改用制作直针针盘方式,该直针针盘的针板只需厚度为3mm的板材2片及钻孔一次,与现有的复合夹具相比节省了6片厚度为1mm的板材及6次钻孔的时间,从而有效降低了其成本及提高了钻孔效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种夹具,尤其涉及一种PCB电测试复合夹具。
背景技术
传统制作的PCB测试复合夹具受夹具的架构限制,其上、下模板都需要钻制使用撒针针盘。一个复合撒针针盘需要厚度为3mm的板材2pcs、1mm的板材6pcs及7条钻带钻孔7次。这样不但耗用较多的板材,且钻孔时间较长,不利于提高生产效率。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种PCB电测试复合夹具,其上模板上的针盘改用制作直针针盘方式,有效节省了板材耗用,且缩短钻孔时间,从而降低成本、提高了钻孔效率。
为实现上述目的,本实用新型提供一种PCB电测试复合夹具,包括:下模板、相对下模板开合平行设于其上方的上模板,该上模板与下模板上分别设有上针盘与下针盘,所述上、下针盘均包括针板及设于针板上的数个测试探针,其中设于上模板上的上针盘为直针针盘。
所述上、下针盘的数个测试探针分别对应待测PCB上下表面上的测试点阵列排布设置。
还包括设于上模板上方的天板及设于下模板下方的底板,上模板通过数个连接柱连接固定在该天板下方,下模板通过数个支撑柱固定支撑于该底板上方。
所述直针针盘的针板由两片厚度为3mm的板材制成。
本实用新型的有益效果是:本实用新型的PCB电测试复合夹具,其上模板上的上针盘改用制作直针针盘方式,该直针针盘的针板只需厚度为3mm的板材2片及钻孔一次,与现有的复合夹具相比节省了6片厚度为1mm的板材及6次钻孔的时间,从而有效降低了其成本及提高了钻孔效率。
为了能更进一步了解本实用新型的特征以及技术内容,请参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本实用新型加以限制。
附图说明
下面结合附图,通过对本实用新型的具体实施方式详细描述,将使本实用新型的技术方案及其他有益效果显而易见。
附图中,
图1为本实用新型的PCB电测试复合夹具的正视结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型优选实施例进行详细描述。
如图1所示,本实用新型的PCB电测试复合夹具,包括:下模板2、上模板4,下模板2与上模板4上分别设有下、上针盘22、42,还包括底板1及相对设于底板1上方的天板3,该下模板2设于底板1上方,上模板4则设于天板3下方。
所述下模板2通过数个支撑柱12固定设于底板1上,上模板4通过数个连接柱32固定连接在天板3下方,并平行于下模板2,可通过天板3推拉上模板4带动其相对于下模板2开合。该上、下模板4、2上分别设有上、下针盘42、22,该上、下针盘42、22均包括针板及设于针板上的数个测试探针,其中上、下针盘42、22上的数个测试探针分别对应待测PCB上下表面上的数个测试点而阵列排布,且测试探针可根据不同PCB要求调整其数量及安装位置。特别地,其中上模板4上的上针盘42采用直针针盘,对PCB电测试时以直针方式进行接触测试,该种直针针盘的针板只需要厚度为3mm的板材两片,进行钻孔一次即可,这样可节省材料及缩短钻孔时间,提高了效率。
本实用新型安装于测试设备上使用,电测试时,将待测PCB平放于下模板2上方,该待测PCB的下表面上的测试点与下针盘22的测试探针接触定位,而后启动测试设备使天板3推动上模板4下降至待测PCB上,其上针盘42的测试探针与待测PCB上表面的测试点抵触定位,测试探针相对待测PCB的另一端通过导线连接至测试仪,从而开始对待测PCB进行电测试。
综上所述,本实用新型的PCB电测试复合夹具,其上模板上的上针盘改用制作直针针盘方式,该直针针盘的针板只需厚度为3mm的板材2片及钻孔一次,与现有的复合夹具相比节省了6片厚度为1mm的板材及6次钻孔的时间,从而有效降低了其成本及提高了钻孔效率。
以上所述,对于本领域的普通技术人员来说,可以根据本实用新型的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形,而所有这些改变和变形都应属于本实用新型后附的权利要求的保护范围。
Claims (4)
1.一种PCB电测试复合夹具,其特征在于,包括:下模板、相对下模板开合平行设于其上方的上模板,该上模板与下模板上分别设有上针盘与下针盘,所述上、下针盘均包括针板及设于针板上的数个测试探针,其中设于上模板上的上针盘为直针针盘。
2.根据权利要求1所述的PCB电测试复合夹具,其特征在于,所述上、下针盘的数个测试探针分别对应待测PCB上下表面上的测试点阵列排布设置。
3.根据权利要求1所述的PCB电测试复合夹具,其特征在于,还包括设于上模板上方的天板及设于下模板下方的底板,上模板通过数个连接柱连接固定在该天板下方,下模板通过数个支撑柱固定支撑于该底板上方。
4.根据权利要求1所述的PCB电测试复合夹具,其特征在于,所述直针针盘的针板由两片厚度为3mm的板材制成。
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Cited By (3)
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CN102426272A (zh) * | 2011-10-19 | 2012-04-25 | 昆山迈致治具科技有限公司 | 电路板功能测试治具 |
CN102768293A (zh) * | 2012-07-24 | 2012-11-07 | 上海交通大学 | 一种有机电致发光器件测量夹具 |
CN105783755A (zh) * | 2016-03-15 | 2016-07-20 | 成都秦川科技发展有限公司 | 光学检测装置 |
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2010
- 2010-08-19 CN CN2010202984498U patent/CN201780311U/zh not_active Expired - Lifetime
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GR01 | Patent grant | ||
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