CN201251619Y - 印刷电路板测试治具改良结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型有关一种印刷电路板测试治具改良结构，其主要由数片测试板所构成，各测试板并设有穿孔以容置依据待测电路板待测接点设置的测试针，各测试针两端凸伸出治具，其在待测电路板端，为与待测电路板的待测接点接触的接触端，而在针床端，则为与针床的弹簧针接触的接触端，各测试针并依据待测接点具有适当的斜率，该针床端的测试板穿孔外缘具有容设测试针定位部的定位孔，且该定位孔深度依据所容置测试针的斜率大小而定，使待测电路板端的测试针具有相同出针长度，具有提高测试治具的稳定性，避免误判的效果。
Description
技术领域
本实用新型隶属印刷电路板测试技术领域，特别指印刷电路板测试治具改良结构。
背景技术
目前，印刷电路板测试治具通常由数片测试板构成，各片测试板则视实际需要以数组固定杆组结合成一体，以实现测针斜率，请参阅图1所示，该治具1包括有数片测试板10，各片测试板10中具有依据待测电路板3的待测接点30设置的测试针11，各测试针11两端凸伸出治具1，其在待测电路板端X，为与待测电路板3的待测接点30接触的接触端，而在针床端Y，则为与针床2的弹簧针20接触的接触端，各测试针11并依据待测电路板3的待测接点30具有适当的斜率(Deflection)，使依据待测接点30原密度布设的待测电路板端X测试针11，经适当斜率调整，而能在针床端Y放大测试针11的间距；此处斜率指测试针11倾斜后增加的距离，斜率的作用在增加测试针11间的距离，因为待测电路板3中的电路可能非常密集，利用针盘斜率来放大针与针间的距离，避免测试针11因过近而电气接触，造成误判。但是由于同一治具使用的测试针11长度均相同，在经过斜率调整后，由于各支测试针11具有不同的倾斜角度，造成各支测试针11的出针长度有长有短并不一致，在测试时不稳定而造成误判。这是现行公用技术存在的最大缺点，这个缺点是业界亟待克服的难题。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型的主要目的在提供一种测试稳定的印刷电路板测试治具改良结构。
为达到上述目的，本实用新型提供一种印刷电路板测试治具改良结构，其主要由数片测试板所构成，各测试板并设有穿孔以容置依据待测电路板的待测接点设置的测试针，各测试针两端凸伸出治具，各测试针在待测电路板端，为与待测电路板的待测接点接触的接触端，而在针床端，则为与针床的弹簧针接触的接触端，各测试针并依据待测电路板的待测接点具有适当的斜率，该各测试针具有定位部，该针床端的测试板穿孔外缘具有容设测试针定位部的定位孔，且该定位孔深度依据所容置测试针的斜率大小而定，使待测电路板端的测试针具有相同出针长度，具有提高测试治具的稳定性，避免误判的效果。
附图说明
图1为公知印刷电路板测试装置组装截面图；
图2为本实用新型印刷电路板测试治具改良结构的组装截面图。
附图标记说明
1 治具
10 测试板 11 测试针
12 穿孔 13 定位部
14 定位孔
2 针床
20 弹簧针
3 待测电路板
30 待测接点
X 待测电路板端
Y 针床端
具体实施方式
为达到本实用新型上述目的的技术手段，列举一个实施例，并配合附图说明如后，可详细了解本实用新型的结构、特征及所达到的功效。
请参阅图2所示，本实用新型治具1主要由数片测试板10所构成，各测试板10并设有穿孔12以容置依据待测电路板3的待测接点30设置的测试针11，各测试针11两端凸伸出治具1，各测试针11在待测电路板端X，为与待测电路板3的待测接点30接触的接触端，而在针床端Y，则为与针床2的弹簧针20接触的接触端，其中，待测电路板端X是治具1靠近待测电路板3的端侧，针床端Y是治具1靠近针床2的端侧；各测试针11并依据待测接点30具有适当的斜率，使依据待测接点30原密度布设的待测电路板端X测试针11，经适当斜率调整，而能在针床端Y放大测试针11的间距。本实用新型改良在于：该测试针11具有定位部13，针床端Y的测试板穿孔12外缘具有容设测试针定位部13的定位孔14，且该定位孔14深度依据所容置测试针11的斜率大小而定，即斜率越大定位孔14深度越大，因为斜率越大，测试针11越倾斜，故需要较深的定位孔14来使得测试针11出针长度一致，使待测电路板端X的测试针11具有相同出针长度，借相同出针长度的测试针11来提高测试治具的稳定性，以避免误判。
以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，并非用于限定本实用新型的范围，只要熟悉此项技艺的人，运用本实用新型说明书及权利要求书所作的等效结构变化，理应包括于本实用新型的专利范围内。
Claims (1)
1、一种印刷电路板测试治具改良结构，其包括数片测试板，该各测试板并设有穿孔，该穿孔容置依据待测电路板的待测接点设置的测试针，该各测试针两端凸伸出该治具，该各测试针在待测电路板端，为与该待测电路板的待测接点接触的接触端，而在针床端，则为与该针床的弹簧针接触的接触端，该各测试针并依据该待测接点具有适当的斜率，其特征在于，该各测试针具有定位部，该针床端的测试板穿孔外缘具有容设该测试针定位部的定位孔，且该定位孔深度依据所容置测试针的斜率大小而定，且在该待测电路板端的该测试针具有相同出针长度。
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2008
- 2008-08-18 CN CNU2008201255987U patent/CN201251619Y/zh not_active Expired - Fee Related
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